JPH0441568Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本考案はハロゲン電球のフイラメント構体の改
良に関し、特に小容量の両口形ハロゲン電球のフ
イラメント構体の改良に関する。

［従来の技術］ 一般に両端に封止部を有する両口形ハロゲン電
球のフイラメントと前記封止部に封着した導電箔
の接続は500W〜1500Wの中、大容量形の電球の
場合、第１図に示すように、フイラメント１１の
端部のタングステン線を直線状１２に成形し、そ
の先端に導電箔１３を溶接するようにしている。
そして、小容量形の電球の出現に伴い、フイラメ
ントに用いるタングステン線の線径が小さくな
り、前記した構造では溶接作業が困難であるばか
りでなく、該溶接部の機械的強度が弱く、更に、
線径が小さいため点灯中のハロゲンサイクルによ
り侵食されやすく早期に断線する欠点があつた。

そこで、前記小容量両口形ハロゲン電球の場合
第２図に示すように、フイラメント２１とその端
部の導電箔に接続する脚部２２とを分離した構造
とし、その脚部を独立した部品としてフイラメン
ト内径より太いタングステン棒２３をフイラメン
ト端部に挿入してカシメ付けるようにしたり、第
３図に示すように、タングステン芯棒３１にタン
グステン線３２を捲付けて脚部３３を形成し、こ
れをフイラメント３４のピツチに沿つてネジ込み
固定するようにしている。そしてフイラメント接
続部の機械的強度を充分なものとしている。

［考案が解決しようとする問題点］ しかしながら、一般にハロゲン電球のフイラメ
ント構体はその構造に基因して点灯中に固有の温
度分布を形成する。すなわち、前記フイラメント
構体上の高温部から低温部に至る温度勾配が生じ
る中で、電球製造中に少量残存する酸素、水分、
酸化物等の影響により封入するハロゲンに最も侵
され易い温度を持つ部分がフイラメント構体上に
存在する。

そして、前記両口形ハロゲン電球のフイラメン
ト構体のうち、点灯中高温となるフイラメントか
ら低温部の脚部に至る温度勾配の中で、ハロゲン
に最も侵され易い温度がフイラメント末端部から
脚部先端部付近に存在するため、前記した構造と
することにより機械的強度は改善されるとしても
前記したハロゲンによる侵蝕作用が伴う化学現象
によつて、当該部分の断線等が生じ短寿命となる
欠点がある。

［考案の構成及び作用］ 本考案は上記の点に鑑みなされたもので、フイ
ラメント構体のフイラメントと脚部の接続部を改
良することにより、高温で動作するフイラメント
部から低温の脚部に至る温度勾配を緩和するよう
にし、フイラメント接続部の機械的強度を維持し
かつ化学現象により生じる断線等を防止すること
を目的とする。

第４図及び第５図は、本考案の構成を説明する
に当り前提となる従来例を示すものであつて、例
えば、245V−150W両口形ハロゲン電球のフイラ
メント端部と導電箔に接続した脚部を示す図であ
り、第６図は横軸に第５図と対応する位置を、縦
軸にその温度を示すものである。図中１１は、内
径0.8mmφで巻回された二重コイルフイラメント
の端部に非巻回部１２を介して巻回部１３を形成
してなるタングステンフイラメントであり、１４
は一端を導電箔（図示せず）に接続した0.4mmφ
のタングステン芯棒１５に線径0.2mmφのタング
ステン線１６を芯棒の端部全長にわたりコイル状
に巻付けた脚部を示す。そして、第５図に示すよ
うに、フイラメント１１の端部に挿入し、固定し
て接続することによりフイラメント構体を構成す
る。

このようにして構成したフイラメント構体を内
径６mmφ、内容積１c.c.の直管状石英管内に封着
し、その内部に10μｇの臭素の水素化合物よりな
るハロゲン化物及び80％のアルゴンと20％の窒素
の混合不活性ガスを2400torr封入した電球を作成
した。そして、少量の酸化物等を残存させ試作
し、一定時間点灯した後その温度を測定したとこ
ろ、第６図に示すような温度勾配を有することが
わかつた。

即ち、第５図中のＡ部分（フイラメント末端部
から脚部先端付近）に最も侵され易い温度条件を
有することが推定される。

［実施例］ そこで、本考案の一実施例について説明する。
第７図中２１は、二重コイルフイラメントの端部
に非巻回部２２を介して巻回部２３を形成してな
るタングステンフイラメントであり、２４は一端
を導電箔（図示せず）に接続したタングステン芯
棒２５の先端部及びその先端部より所定長突出し
てタングステン線２６をコイル状に巻付けた脚部
を示す。そして、フイラメント２１の端部に挿入
し、固定して接続することによりフイラメント構
体を構成する。

図に示すように、このフイラメント構体の接続
部であるＢ部は、タングステン芯棒にタングステ
ンコイルを巻付けたのみの構造とし、該部分にタ
ングステンフイラメントの先端巻回部を螺合する
ことにより構成している。

第８図は、第６図と同様に、第７図に示すフイ
ラメント構体の温度勾配を示す図であり、図中実
線は本考案に係る電球を、点線は従来の電球の温
度勾配を示すものである。

図から明らかなように、フイラメント構体の内
封入するハロゲンにより最も侵され易い温度とな
る部分は、従来のＡ部付近からＢ部に移動し、Ｂ
部の温度はより高温の安定した温度になつている
ことが分かる。

次に本考案に係る電球の実験例を従来電球と比
較して説明する。

第５図に示すような構造を有する電球と、第７
図に示す本考案に係る電球とを1000時間点灯した
後、そのフイラメント接続部のハロゲンによる侵
蝕状況を観察するため該接続部の20倍の拡大写真
を比較したところ、従来のものはＡ部付近に針状
結晶が認められたのに対して、本考案のものはそ
の針状結晶はＢ部あるいはＢ部より導電箔側に認
められた。

このことは、前記した接続部の改良によりフイ
ラメント構体上最も侵され易い温度分布を有する
部分が温度勾配の緩和によつて、寿命延長上有利
な位置に移動したことを実証するものである。

又、小さな針状結晶が発生してもＡ部が侵蝕さ
れはじめると、その針状結晶の成長によつてピツ
チの短絡や隣接するターンのマイグレーシヨン現
象により、小容量形電球では寿命短縮の原因とな
る。しかし、これがＢ部に移動することによりフ
イラメントに比較して十分太いコイルや十分太い
芯棒から構成されているために直接的な寿命短縮
の原因とはならない。

［考案の効果］ 以上の説明から明らかなように、本考案に係る
両口形ハロゲン電球は、比較的簡単な構成により
寿命期間中を通して、フイラメント構体の接続部
がハロゲンにより侵蝕される恐れがなく、長寿命
の電球を得ることができ、特に入力が小さい小容
量形電球に最適である。

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第３図は従来電球のフイラメント構
体の一部を示す側面図、第４図は従来のフイラメ
ント構体の接続部の要部を示す側面図、第５図は
第４図と同様な一部縦断側面図、第６図は第５図
のフイラメント構体の温度勾配を示す図、第７図
は本考案に係るハロゲン電球のフイラメント構体
の接続部の要部を示す一部縦断側面図、第８図は
第７図のフイラメント構体の温度勾配を示す図で
ある。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 直管形電球の端部に封着部を形成し、管軸上に
   フイラメント構体を張架し前記封着部に埋設した
   導電箔にその端部を接続してなる管球内に、少な
   くともハロゲンを封入してなるハロゲン電球にお
   いて、前記フイラメント構体はタングステンフイ
   ラメントとタングステン芯棒よりなる脚部とで構
   成され、導電箔の内端部に接続した芯棒の他端先
   端部にタングステンコイルを巻回し、かつ該コイ
   ル部は心棒の先端部より所定長突出するように巻
   回され、前記フイラメントの端部は非巻回部を介
   して先端巻回部を形成し、該巻回部を前記脚部の
   先端コイル部に螺合することにより、接続部を形
   成してなる両口形ハロゲン電球。