JPH0441562Y2 - - Google Patents

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JPH0441562Y2
JPH0441562Y2 JP9849386U JP9849386U JPH0441562Y2 JP H0441562 Y2 JPH0441562 Y2 JP H0441562Y2 JP 9849386 U JP9849386 U JP 9849386U JP 9849386 U JP9849386 U JP 9849386U JP H0441562 Y2 JPH0441562 Y2 JP H0441562Y2
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JP
Japan
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image
sample
sample image
electron microscope
photographing
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、電子顕微鏡つなぎ写真を作成するに
適した電子顕微鏡つなぎ写真撮影装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to an electron microscope continuous photographing apparatus suitable for creating electron microscope continuous photographs.

[従来技術] 電子顕微鏡によるつなぎ写真撮影装置では、例
えば蛍光板に予め低倍率の試料像を表示し、表示
された試料像によつて撮影視野(範囲)や、その
視野をいくつに分割するか決定し、その後、試料
を1コマ分移動させては順次撮影して一枚のつな
ぎ写真を作成している。
[Prior art] In a continuous photographic device using an electron microscope, for example, a sample image at low magnification is displayed in advance on a fluorescent screen, and the displayed sample image determines the field of view (range) to be photographed and how many divisions the field of view should be divided into. After that, the sample is moved one frame and photographed sequentially to create a single linked photograph.

[考案が解決しようとする問題点] ところで、このように構成された従来装置で
は、蛍光板に表示された試料像のみによつて概略
の撮影範囲や、分割する視野数を決めていたた
め、つなぎ写真の全体像を正確に把握できず、従
つて、一枚のつなぎ写真を作成した場合に、特徴
のある部分が写真の中心よりずれたり、興味のあ
る特徴部分がつなぎ部分となつてしまい、質の良
いつなぎ写真を作成することができなかつた。
[Problems that the invention aims to solve] By the way, with the conventional device configured in this way, the approximate photographing range and the number of divided fields of view were determined only by the sample image displayed on the fluorescent screen, so Therefore, when creating a single stitched photo, the characteristic parts may be offset from the center of the photo, or the interesting features may become the stitched sections, resulting in poor quality. I was unable to create a good stitching photo.

本考案は以上の欠点に鑑みなされたもので、予
めつなぎ写真の全体像を把握して質の良いつなぎ
写真を作成することができる電子顕微鏡つなぎ写
真撮影装置を提供することを目的としている。
The present invention has been developed in view of the above-mentioned drawbacks, and an object of the present invention is to provide an electron microscope continuous photographing device that can grasp the overall image of a continuous photograph in advance and create high-quality continuous photographs.

[問題点を解決するための手段] そのために本考案のつなぎ写真撮影装置は、電
子顕微鏡によつて得られる試料像を分割し、該分
割された各像を視野移動手段によつて移動させる
ことにより順次撮影し、得られた各像をつなぎ合
わせることによつて一枚の試料像を作成する電子
顕微鏡つなぎ写真撮影装置において、前記試料像
を表示する表示手段と、該表示手段に表示される
試料像につなぎ写真撮影する際のつなぎ部を表わ
す格子像を重畳させて表示するための手段とを備
えたことを特徴としている。
[Means for solving the problem] To this end, the continuous photographic device of the present invention divides a sample image obtained by an electron microscope and moves each divided image by a field of view moving means. In an electron microscope stitching photographing device that creates a single specimen image by sequentially photographing images and joining the obtained images, a display means for displaying the specimen image; The present invention is characterized by comprising means for superimposing and displaying a lattice image representing a joint portion when photographing a sample image in a superimposed manner.

[実施例] 以下、図面に基づき本考案の実施例を説明す
る。
[Example] Hereinafter, an example of the present invention will be described based on the drawings.

第1図は本考案の一実施例を説明するためのブ
ロツク図である。図中、1は電子顕微鏡の試料ス
テージ、2は試料、3は電子ビーム、4はステー
ジを駆動制御するステージ制御回路、5は電子ビ
ーム3を試料2に照射して得られる透過試料像を
撮影する撮像管、6はビデオアンプ、7は透過試
料像を表示する陰極線管、8はコンピユータ等で
構成された制御部、9はキーボード等の条件入力
装置である。
FIG. 1 is a block diagram for explaining one embodiment of the present invention. In the figure, 1 is the sample stage of the electron microscope, 2 is the sample, 3 is the electron beam, 4 is the stage control circuit that drives and controls the stage, and 5 is the image of the transmitted sample obtained by irradiating the sample 2 with the electron beam 3. 6 is a video amplifier, 7 is a cathode ray tube for displaying a transmitted sample image, 8 is a control unit composed of a computer, etc., and 9 is a condition input device such as a keyboard.

以上の様に構成された装置において、先ず条件
入力装置9(又は電子顕微鏡本体の倍率調整ツマ
ミ)によつて観察倍率を低倍率(例えば100倍)
にすると、制御部8は図示しない電子顕微鏡の電
子レンズ系に制御信号Sを出力して電子レンズ系
を制御する。この制御によつて、試料2の低倍率
試料像は撮像管5によつて撮影され、該撮像管5
よりのビデオ信号はビデオアンプ6を介して陰極
線管7に供給されるため、陰極線管7には第2図
に示すような低倍率の透過試料像Aが表示され
る。この透過試料像Aによつて、つなぎ写真を作
成する視野を決める。
In the apparatus configured as described above, first, the observation magnification is set to a low magnification (for example, 100x) using the condition input device 9 (or the magnification adjustment knob on the electron microscope main body).
Then, the control section 8 outputs a control signal S to an electron lens system of an electron microscope (not shown) to control the electron lens system. By this control, a low magnification sample image of the sample 2 is taken by the image pickup tube 5, and the image pickup tube 5
Since the video signal is supplied to the cathode ray tube 7 via the video amplifier 6, the cathode ray tube 7 displays a low magnification transmitted sample image A as shown in FIG. Using this transmitted sample image A, the field of view for creating a stitched photograph is determined.

次に、陰極線管7に表示された低倍率の透過試
料像Aに基づいて、フイルムサイズ等を考慮し
て、透過試料像Aを何分割するかを決定し、条件
入力装置9により分割する数を入力する。この操
作によつて制御部8は、ビデオアンプ6へつなぎ
写真撮影する際のつなぎ部分を表わす格子像を表
示するための信号を出力する。ビデオアンプ6
は、該撮像管5よりのビデオ信号と前記した制御
部8よりの格子像を表示するための信号を陰極線
管7に出力する。従つて、陰極線管7には、第3
図に示すように透過試料像Aにつなぎ写真撮影を
する際のつなぎ部を表わす格子像Bが重畳されて
表示される。そのため、陰極線管7に表示された
像を見て、特徴のある部分に格子像Bが重畳され
て表示されている場合には、特徴のある部分が写
真のつなぎ部分に当ることとなるため、特徴のあ
る部分に格子像が重畳しないように試料を移動す
る。
Next, based on the low magnification transmitted sample image A displayed on the cathode ray tube 7, it is determined how many divisions the transmitted sample image A should be divided by taking into consideration the film size, etc., and the number of divisions is determined using the condition input device 9. Enter. As a result of this operation, the control section 8 outputs a signal to the video amplifier 6 for displaying a grid image representing a joint portion when taking a joint photograph. video amplifier 6
outputs the video signal from the image pickup tube 5 and the signal for displaying the grating image from the control section 8 to the cathode ray tube 7 . Therefore, the cathode ray tube 7 has a third
As shown in the figure, a lattice image B representing a joint portion when photographing a transmitted sample image A is superimposed and displayed. Therefore, when looking at the image displayed on the cathode ray tube 7, if the lattice image B is displayed superimposed on a characteristic part, the characteristic part corresponds to the connecting part of the photograph. Move the sample so that the grating image does not overlap with the characteristic part.

このようにして、つなぎ写真を作成する視野と
分割する数を決めた後、制御部8の指令に基づい
て、ステージ制御回路4により、試料ステージ1
を写真撮影開始点に設定し、電子ビーム3を試料
2に照射して得られる透過試料像を、図示しない
写真撮影装置にて写真撮影する。次に、ステージ
制御回路4により試料ステージ1を1コマ分移動
させては順次撮影する。従つて、このような装置
では、陰極線管7に透過試料像Aと共に格子像B
を重畳して表示しているため、つなぎ写真の全体
像を正確に把握できると共に、特徴のある部分が
つなぎ部分に当ることが極力防止されるため、品
質の良いつなぎ写真を作成することができる。
In this way, after determining the field of view and the number of divisions for creating a stitched photo, the stage control circuit 4 controls the sample stage 1 based on the command from the control unit 8.
is set as a photographing starting point, and a transmitted sample image obtained by irradiating the electron beam 3 onto the sample 2 is photographed using a photographing device (not shown). Next, the stage control circuit 4 moves the sample stage 1 by one frame and images are taken sequentially. Therefore, in such an apparatus, the cathode ray tube 7 displays the transmitted sample image A as well as the grating image B.
Since the images are superimposed and displayed, it is possible to accurately grasp the overall image of the stitched photo, and since it is possible to prevent distinctive parts from colliding with the stitched parts, it is possible to create high-quality stitched photos. .

尚、上記実施例は例示であり変型が可能であ
る。上記実施例装置では、透過試料像Aに格子像
Bを重畳させて表示するようにしたが、撮影が終
了したら格子像内を輝度を変えて表示して撮影終
了区画を表示するようにしても良い。
It should be noted that the above embodiments are merely illustrative, and modifications are possible. In the apparatus of the above embodiment, the grid image B is superimposed and displayed on the transmitted sample image A, but when the imaging is completed, the inside of the grid image may be displayed with the brightness changed to display the imaging end section. good.

[考案の効果] 以上詳述したように本考案によれば、表示装置
に試料像を表示すると共に該試料像に重畳してつ
なぎ部を表わす格子像を重畳させて表示するよう
にしたため、一枚のつなぎ写真を作成する場合
に、特徴のある部分が格子像の中心よりずれた
り、又、特徴のある部分がつなぎ部分に位置して
いる場合には、試料を移動させて修正できるた
め、質の良いつなぎ写真を作成することができる
電子顕微鏡つなぎ写真撮影装置が提供される。
[Effects of the invention] As detailed above, according to the invention, the sample image is displayed on the display device, and the grid image representing the joint is superimposed on the sample image. When creating a series of stitched photographs, if a characteristic part is shifted from the center of the grid image, or if a characteristic part is located in the stitched part, you can correct it by moving the sample. An electron microscope continuous photographing device capable of producing high quality continuous photographs is provided.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本考案の一実施例を説明するためのブ
ロツク図、第2図及び第3図は本考案を説明する
ための図である。 1……試料ステージ、2……試料、3……電子
ビーム、4……ステージ制御回路、5……撮像
管、6……ビデオアンプ、7……陰極線管、8…
…制御部、9……条件入力装置。
FIG. 1 is a block diagram for explaining an embodiment of the present invention, and FIGS. 2 and 3 are diagrams for explaining the present invention. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Sample stage, 2... Sample, 3... Electron beam, 4... Stage control circuit, 5... Image pickup tube, 6... Video amplifier, 7... Cathode ray tube, 8...
...Control unit, 9...Condition input device.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 電子顕微鏡によつて得られる試料像を分割し、
該分割された各像を視野移動手段によつて移動さ
せることにより順次撮影し、得られた各像をつな
ぎ合わせることによつて一枚の試料像を作成する
電子顕微鏡つなぎ写真撮影装置において、前記試
料像を表示する表示手段と、該表示手段に表示さ
れる試料像につなぎ写真撮影する際のつなぎ部を
表わす格子像を重畳させて表示するための手段と
を備えたことを特徴とする電子顕微鏡つなぎ写真
撮影装置。
Divide the sample image obtained by an electron microscope,
In the electron microscope stitching photographing apparatus, which sequentially photographs each of the divided images by moving them by a field of view moving means, and creates a single specimen image by stitching together the obtained images. An electronic device comprising: a display means for displaying a sample image; and a means for displaying a grid image representing a connecting part when photographing is superimposed on the sample image displayed on the display means. A photographic device connected to a microscope.
JP9849386U 1986-06-27 1986-06-27 Expired JPH0441562Y2 (en)

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JPS634056U JPS634056U (en) 1988-01-12
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JP4596881B2 (en) * 2004-10-26 2010-12-15 株式会社日立ハイテクノロジーズ Transmission electron microscope equipment
JP5066056B2 (en) * 2008-10-31 2012-11-07 株式会社日立ハイテクノロジーズ Sample observation method and electron microscope

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JPS634056U (en) 1988-01-12

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