JPH0438480A - Up and down adaptor for printed wiring board inspecting machine - Google Patents

Up and down adaptor for printed wiring board inspecting machine

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JPH0438480A
JPH0438480A JP2145864A JP14586490A JPH0438480A JP H0438480 A JPH0438480 A JP H0438480A JP 2145864 A JP2145864 A JP 2145864A JP 14586490 A JP14586490 A JP 14586490A JP H0438480 A JPH0438480 A JP H0438480A
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JP
Japan
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board
adapter
grid
base
printed wiring
Prior art date
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Application number
JP2145864A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazuaki Takano
和明 高野
Toshiyuki Okubo
大久保 利幸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Araco Co Ltd
Kyoei Sangyo KK
Original Assignee
Araco Co Ltd
Kyoei Sangyo KK
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Publication date
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Publication of JPH0438480A publication Critical patent/JPH0438480A/en
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Abstract

PURPOSE:To easily and accurately perform inspection of a highly densified fine printed wiring board for double-side mounting by arranging a pin support board between a base and a board member. CONSTITUTION:A movable fine adjustment board 7 is provided to a board member 5 constituting off-grid adaptors in order to finely adjust the positional relation between the surface pattern of a printed wiring board 3 to be inspected and adaptor pins 10 and the wiring board 30 is set through the board guide pins 9 provided to the board 7 and the fine adjustment board 7 is finely moved in an arbitrary horizontal direction to carry out fine adjustment and the adaptor pins 10 are brought into contact with the inspection point of the under surface of the wiring board 30 to inspect the wiring state of the printed wiring board. When the board is held between two upper and lower sets of off-grid adaptors, the pin support board 4 between the board 5 and a base 3 are guided by the extremely fine pins 10 and the accuracy of the leading end position thereof is improved and, therefore, the patterns of both surfaces of the board wherein inspection points are highly densified and made fine are easily inspected and inspection can be accurately performed.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、汎用型のプリント配線板検査機に使用するオ
フグリッドアダプタに関するものであり、特に、検査機
のフィクスチャに植え込まれたコンタクトプローブの配
設位置に対応させて穿設した貫通孔を有するベースと、
このベースと平行に配置されたボードメンバと、ベース
とボードメンバ間に挿通され、先端部が被検査プリント
配線板の検査ポイントと接触し、基端部が検査機のコン
タクトプローブに接触するアダプタピンとを備えた、プ
リント配線板両面同時検査用のオフグリッドアダプタに
関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to an off-grid adapter used in a general-purpose printed wiring board inspection machine, and in particular, to an off-grid adapter used in a general-purpose printed wiring board inspection machine, and in particular, to an off-grid adapter used in a general-purpose printed wiring board inspection machine. a base having a through hole drilled to correspond to the location of the probe;
A board member placed parallel to this base, an adapter pin inserted between the base and the board member, the tip of which contacts the inspection point of the printed wiring board to be inspected, and the base end of which contacts the contact probe of the inspection machine. The present invention relates to an off-grid adapter for simultaneous inspection of both sides of a printed wiring board.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来より検査ポイントが2.54mm格子等の格子上に
存在するプリント配線板の布線状態の電気的な導通・絶
縁不良・断線を検査する汎用型のプリント配線板検査機
が提案されている。この検査機では、格子外に検査ポイ
ントがあるプリント配線板をも検査するために、オフグ
リッドアダプタを用いて実現している。
Conventionally, a general-purpose printed wiring board inspection machine has been proposed that inspects the wiring state of a printed wiring board whose inspection points are located on a grid such as a 2.54 mm grid for electrical continuity, poor insulation, and disconnection. This inspection machine uses an off-grid adapter to inspect printed wiring boards that have inspection points outside the grid.

被検査プリント配線板の片面側にビンやコンタクトプロ
ーブ等を当てて検査する、いわゆる片面検査ですむプリ
ント配線板(以下基板という)の場合は、基板の大小に
合わせて用意されている数種類のミニオフグリッドアダ
プタを選択することにより検査することが可能である。
In the case of printed wiring boards (hereinafter referred to as boards) that can be inspected by applying a bottle or contact probe to one side of the printed wiring board to be inspected (hereinafter referred to as a board), there are several types of mini-offs available depending on the size of the board. It is possible to inspect by selecting a grid adapter.

又両面実装用の基板を両面同時に検査する場合、被検査
基板の下面側のみをアダプタピンを備えたオフグリッド
アダプタを用いて検査し、上面側を被検査基板の検査ポ
イントに通電するスプリングコンタクトプローブを植え
込んだビンボードを用いて検査している。
When testing both sides of a double-sided board at the same time, use an off-grid adapter with an adapter pin to test only the bottom side of the board to be tested, and use a spring contact probe to energize the top side to the test points on the board to be tested. The test is carried out using a bin board with seeds planted in it.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

両面実装用基板の検査ポイントは、高密度化、微細化さ
れる傾向にあるが、この場合基板の検査ポイントに接触
するアダプタピンの太さを細くしなければ検査に対応で
きない。しかしながら、アダプタピンのロッド部の径を
細くしただけでは、その分アダプタピンの曲げ強度が低
下するため、検査ポイントが高密度化、微細化した基板
の検査に対応できない;検査ポイントとアダプタピンと
の接触が不安定になって基板における布線状態の電気的
な検査を容易にして的確に行なうことができない;等の
問題点があった。
Inspection points on double-sided mounting boards tend to be more dense and miniaturized, but in this case, the adapter pins that come into contact with the inspection points on the board must be made thinner to support inspection. However, simply reducing the diameter of the rod part of the adapter pin will reduce the bending strength of the adapter pin, which cannot support the inspection of boards with higher density and finer inspection points; There have been problems such as the contact becomes unstable and the electrical inspection of the wiring state on the board cannot be easily and accurately performed.

又従来の技術で述べた手段によって両面実装用の基板の
検査を行う場合、基板の上面側と下面側を異なる検査治
具を用いて行うため、検査機へのセット、リセットが面
倒である;検査治具を安価に提供できない;検査コスト
が比較的高いものになる;等の問題点を有していた。
Furthermore, when inspecting a board for double-sided mounting using the means described in the prior art, different inspection jigs are used for the top and bottom sides of the board, making it troublesome to set and reset on the inspection machine; There have been problems such as the inability to provide inspection jigs at a low price and the relatively high inspection costs.

本発明は、従来の技術の有するこのような問題点に鑑み
てなされたものであり、その目的とするところは、高密
度化、微細化された両面実装用の基板の検査に対応でき
るとともに、検査を容易かつ的確に行うことができる基
板検査機用アダプタ上下タイプを提供することにある。
The present invention has been made in view of the problems of the conventional technology, and its purpose is to be able to handle the inspection of high-density and miniaturized double-sided mounting boards, and to It is an object of the present invention to provide a top and bottom type adapter for a board inspection machine that allows inspection to be carried out easily and accurately.

本発明の他の目的は、両面実装用の基板を検査する検査
機へのセット、リセットが簡単であり、又この種の検査
を低廉に行うことができる基板検査機用アダプタ上下タ
イプを提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a top and bottom type adapter for a board inspection machine that is easy to set and reset on an inspection machine that inspects double-sided mounting boards, and that can perform this type of inspection at low cost. There is a particular thing.

本発明のもう一つ他の目的は、基板の下面側及び上面側
の両面の検査ポイントに対してアダプタピンの位置を微
調整でき、しかも最適な検査位置への調整を簡単に行え
る基板検査機用アダプタ上下タイプを提供することにあ
る。
Another object of the present invention is to provide a board inspection machine that can finely adjust the position of adapter pins for inspection points on both the bottom and top sides of a board, and that can easily adjust the position to the optimum inspection position. Our goal is to provide upper and lower types of adapters.

本発明の更に他の目的は、基板の大きさに応じてオフグ
リッドアダプタを適宜選択して変えることができ、その
操作も簡単であるため、ランニングコストの低減化が図
れる基板検査機用アダプタ上下タイプを提供することに
ある。
Still another object of the present invention is to provide a top and bottom adapter for a board inspection machine that can reduce running costs because off-grid adapters can be selected and changed as appropriate depending on the size of the board, and the operation is simple. The purpose is to provide type.

[課題を解決するための手段〕 本発明は、検査機のフィクスチャに格子状に植え込まれ
ているコンタクトプローブの配設位置に対応させて穿設
した貫通孔を有するベースと、該ベースと平行に配置さ
れ、かつ該ベース上に立設した支柱を介してこのベース
に固定されているボードメンバと、前記ベースとボード
メンバ間に挿通され、先端部が被検査プリント配線板の
検査ポイントと接触し、基端部が検査機のコンタクトプ
ローブに接触するアダプタピンと、前記ベースとボード
メンバとの間に配設した、前記アダプタピンのたわみを
矯正するピンサポートボードを備えた第1のオフグリッ
ドアダプタと第2のオフグリッドアダプタとより構成さ
れ、前記第1のオフグリッドアダプタを構成している前
記ボードメンバが、被検査プリント配線板の表面パター
ンと前記アダプタピンとの位置関係を微調整するため可
動する微調ボードを含んで構成され、該微調ボードに、
被検査プリント配線板をセットする時に被検査プリント
配線板の位置出しに用いる基板ガイドビンを突設し、前
記微調ボードを水平方向の任意の方向へ微動させ得る微
調手段を設け、前記第1のオフグリッドアダプタと前記
第2のオフグリッドアダプタにおける各アダプタピンを
それぞれ被検査プリント配線板の下面と上面の検査ポイ
ントに接触させてプリント配線板の布線状態の検査を行
うことを特徴とするプリント配線板検査機用アダプタ上
下タイプである。
[Means for Solving the Problems] The present invention provides a base having through-holes formed in correspondence with the arrangement positions of contact probes implanted in a grid pattern in a fixture of an inspection machine; A board member that is arranged in parallel and is fixed to the base via a support that is erected on the base, and a board member that is inserted between the base and the board member and whose tip end is connected to the inspection point of the printed wiring board to be inspected. a first off-grid comprising an adapter pin that contacts and whose base end contacts a contact probe of an inspection machine; and a pin support board disposed between the base and the board member that corrects deflection of the adapter pin. The board member, which is composed of an adapter and a second off-grid adapter and constitutes the first off-grid adapter, finely adjusts the positional relationship between the surface pattern of the printed wiring board to be inspected and the adapter pin. The structure includes a movable fine adjustment board, and the fine adjustment board has a
A board guide bin used for positioning the printed wiring board to be inspected when setting the printed wiring board to be inspected is provided protrudingly, and a fine adjustment means for finely moving the fine adjustment board in any horizontal direction is provided, and the first The wiring condition of the printed wiring board is inspected by bringing each adapter pin of the off-grid adapter and the second off-grid adapter into contact with the inspection points on the lower surface and the upper surface of the printed wiring board to be inspected, respectively. This is a top and bottom type adapter for wiring board inspection machines.

そして、上記第1のオフグリッドアダプタと第2のオフ
グリッドアダプタの各ベースは、上記アダプタピンの基
端部を案内するストックメッシェボードを含んで構成さ
れ、上記ベースと上記ボードメンバと上記アダプタピン
とでアダプタユニットを構成していることが好ましい。
Each base of the first off-grid adapter and the second off-grid adapter includes a stock mesh board that guides the base end of the adapter pin, and the base, the board member, and the adapter Preferably, the adapter unit and the pin constitute an adapter unit.

[実施例] 実施例について図面を参照して説明する。[Example] Examples will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明を構成する第1のオフグリッドアダプタ
を適用して構成した下側のオフグリッドアダプタの一実
施例を示す斜視図、第2図は本発明を構成する第2のオ
フグリッドアダプタを適用して構成した上側のオフグリ
ッドアダプタの一実施例を示す斜視図、第3図は本発明
に係るアダプタの要部断面略図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a lower off-grid adapter constructed by applying a first off-grid adapter constituting the present invention, and FIG. 2 is a perspective view showing an embodiment of a lower off-grid adapter constituting the present invention. FIG. 3 is a perspective view showing an embodiment of an upper off-grid adapter constructed by applying the adapter, and FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of the main part of the adapter according to the present invention.

本発明に係る基板検査機用アダプタ上下タイプは、第1
のオフグリッドアダプタAと第2のオフグリッドアダプ
タBとより構成され、この第1のオフグリッドアダプタ
Aと第2のオフグリッドアダプタBにおける各アダプタ
ピン10.60を被検査基板30の両面の検査ポイント
に接触させて、基板30の布線状態の検査を行う。この
場合、第1図に示した第1のオフグリッドアダプタと第
2図に示した第2のオフグリッドアダプタを被検査基板
の寸法に対応して作成して準備しておき、検査時にその
被検査基板に適合した治具を用いて検査を実行する。
The upper and lower type adapter for a board inspection machine according to the present invention is the first
The adapter pins 10.60 of the first off-grid adapter A and the second off-grid adapter B are used to inspect both surfaces of the substrate to be inspected 30. The wiring condition of the board 30 is inspected by touching the point. In this case, the first off-grid adapter shown in FIG. 1 and the second off-grid adapter shown in FIG. Inspection is performed using a jig that is compatible with the inspection board.

又上下のオフグリッドアダプタは、押圧時に全体が上下
動するように構成されている。従って、コンタクトプロ
ーブ、アダプタピンの接触がオフグリッドアダプタに使
用される各ボードや基板の板厚公差に影響されず、基板
の検査ポイントに最適荷重で接触するよう構成され、安
定した検査が可能である。
Further, the upper and lower off-grid adapters are configured so that the entirety moves up and down when pressed. Therefore, the contact between the contact probe and the adapter pin is not affected by the thickness tolerance of each board or substrate used in the off-grid adapter, and is configured to contact the inspection point of the board with the optimum load, enabling stable inspection. be.

さて、前記第1のオフグリッドアダプタAは、検査機の
フィクスチャ1に2.54mm等格子状に植え込まれて
いるスプリングコンタクトプローブ20の配設位置に対
応させて穿設した貫通孔3Cを有するベース3と、この
ベース3と平行に配置され、かつベース3上に立設した
支柱21でベース3に固定されているボードメンバ5と
、前記ベース3とボードメンバ5の間に挿通され、先端
部が被検査基板30の検査ポイントと接触し、基端部が
検査機のコンタクトプローブ20に接触するアダプタピ
ンlOと、前記ベース3とボードメンバ5との開に配設
され、前記アダプタピン10のたわみを矯正するピンサ
ポートボード4とを具備している。
Now, the first off-grid adapter A has through-holes 3C drilled corresponding to the installation positions of the spring contact probes 20 implanted in the fixture 1 of the inspection machine in a grid pattern of 2.54 mm. a base 3 having a base 3; a board member 5 arranged parallel to the base 3 and fixed to the base 3 by a support 21 erected on the base 3; and a board member 5 inserted between the base 3 and the board member 5, An adapter pin IO whose distal end contacts the inspection point of the board to be inspected 30 and whose proximal end contacts the contact probe 20 of the inspection machine; 10 and a pin support board 4 for correcting the deflection of the pin.

前記フィクスチャ1には、既述のようにコンタクトプロ
ーブ20が格子状に植え込まれており、この各コンタク
トプローブ20はスイッチング回路と一対−で接続され
ている。
As described above, contact probes 20 are implanted in the fixture 1 in a grid pattern, and each contact probe 20 is connected to a switching circuit in pairs.

前記第1のオフグリッドアダプタAは、プローブガード
プレート2にセットされる。このプローブガードプレー
ト2は、絶縁板により形成され、前記フィラスチャ1上
に取り付けられてスプリング32(第3図参照)により
上下動する。そして、プローブガードプレート2には、
前記フィクスチャ1のコンタクトプローブ20と同位置
に貫通孔2aが穿設され、コンタクトプローブ20をガ
ードしている。又このプローブガードプレート2には、
前記第1のオフグリッドアダプタAを固定するためのク
ランプ手段11と後述の自動基板厚調整用取手14等が
取り付けられている。
The first off-grid adapter A is set on the probe guard plate 2. The probe guard plate 2 is formed of an insulating plate, is mounted on the fissure 1, and is moved up and down by a spring 32 (see FIG. 3). And on the probe guard plate 2,
A through hole 2a is bored at the same position as the contact probe 20 of the fixture 1, and guards the contact probe 20. Also, this probe guard plate 2 has
A clamping means 11 for fixing the first off-grid adapter A, a handle 14 for automatic board thickness adjustment described below, and the like are attached.

前記ベース3は、絶縁板により形成されたメツシュボー
ド3Aと、このメツシュボード3A上に位置するストッ
クメツシュボード3Bとより構成されている。前記アダ
プタピン1oの基端部を案内するため、前記メツシュボ
ード3Aには、フィクスチャ1のコンタクトプローブ2
0と略同ピツチに貫通孔が穿設され、その貫通孔3Cに
前記アダプタピン10が1水死挿入される。このメツシ
ュボード3Aは支柱21、(X−Y)微調手段13等で
前記ボードメンバ5(の専用ボード6)に固定される。
The base 3 includes a mesh board 3A formed of an insulating plate, and a stock mesh board 3B located on the mesh board 3A. In order to guide the base end of the adapter pin 1o, the mesh board 3A is provided with a contact probe 2 of the fixture 1.
A through hole is formed at approximately the same pitch as 0, and the adapter pin 10 is inserted into the through hole 3C. This mesh board 3A is fixed to (the dedicated board 6 of) the board member 5 using the pillars 21, (X-Y) fine adjustment means 13, and the like.

同様に前記ストックメツシュボード3Bにおける前記コ
ンタクトプローブ20と同じ位置にも貫通孔3Cが穿設
されている。又このストックメツシュボード3Bは1m
mmm下の比較的薄い板で形成されている。そして前記
ベース3と前記ボードメンバ5と前記アダプタピン10
とでアダプタユニットを構成し、このアダプタユニット
を被検査基板ごとに取り外し交換して検査を行う。又第
5図に示すように、前記ストックメツシュボード3Bと
前記ボードメンバ5と前記アダプタピン10とでアダプ
タユニットの本体部の形態を保持したまま保管すること
が可能に形成される。尚前記ストックメツシュボード3
Bは、支柱21等でボードメンバ5と固定されている。
Similarly, a through hole 3C is also bored in the stock mesh board 3B at the same position as the contact probe 20. Also, this stock mesh board 3B is 1m
It is made of a relatively thin plate with a thickness of less than mm. and the base 3, the board member 5, and the adapter pin 10.
This constitutes an adapter unit, and this adapter unit is removed and replaced for each board to be inspected for inspection. Further, as shown in FIG. 5, the stock mesh board 3B, the board member 5, and the adapter pin 10 are formed so that the adapter unit can be stored while maintaining its main body shape. In addition, the stock mesh board 3
B is fixed to the board member 5 with a support 21 or the like.

前記ピンサポートボード4は、前記メツシュボード3A
と専用ボード6間における前言己アダプタピンのたわみ
を矯正するため配置され、前記アダプタピン10挿通用
のビン挿通孔4aが形成されている。しかして、前記ア
ダプタピン10のロッド部の径が非常に細(なってもビ
ンのたわみは矯正される。この挿通孔4aの位置は、前
記ボードメンバ5を構成している専用ボード6の貫通孔
の位置に一致していることが好ましい(多少ずれていて
も良い)。尚、このピンサポートボード4を複数枚層状
に配してもよいことは勿論である。
The pin support board 4 is the mesh board 3A.
The pin insertion hole 4a is arranged to correct the deflection of the adapter pin between the dedicated board 6 and the dedicated board 6, and a pin insertion hole 4a for inserting the adapter pin 10 is formed therein. Therefore, even if the diameter of the rod portion of the adapter pin 10 is very small, the deflection of the bottle can be corrected. It is preferable that the pin support board 4 corresponds to the position of the hole (it may be slightly deviated).It goes without saying that a plurality of pin support boards 4 may be arranged in a layered manner.

前記ボードメンバ5は、専用ボード6と、微調ボード7
とビンガイドボード8とより構成されている。このうち
、専用ボード6には、被検査基板30の検査ポイントと
同じ位置に貫通孔6aが穿設されており(第4図参照)
、アクリル材等の透明なボードにより形成される。前記
貫通孔6aには前記アダプタピン1oが1水死挿入され
ている。かくして、前記アダプタピン10は、前記ピン
サポートボード4の挿通孔4aと前記ストックメツシュ
ボード3Bとメツシュボード3Aの貫通孔3cに挿通さ
れる。又前記微調ボード7は、被検査基板の表面パター
ンと前記アダプタピン10との位置関係を微調整するた
めのものであり、後述の微調手段13を操作することに
より可動する。この微調ボード7は微調手段13に固定
され、被検査基板をセットする時に被検査基板を位置精
度よくセットするための基板ガイドビン9が突設してい
る。更に、前記ピンガイドボード8には、前記専用ボー
ド6と同様に被検査基板の検査ポイントと同位置に貫通
孔8aが穿設されている。
The board member 5 includes a dedicated board 6 and a fine adjustment board 7.
and a bin guide board 8. Among these, the dedicated board 6 has a through hole 6a bored at the same position as the inspection point of the board to be inspected 30 (see Fig. 4).
, made of a transparent board such as acrylic material. One adapter pin 1o is inserted into the through hole 6a. Thus, the adapter pin 10 is inserted through the insertion hole 4a of the pin support board 4 and the through hole 3c of the stock mesh board 3B and mesh board 3A. The fine adjustment board 7 is for finely adjusting the positional relationship between the surface pattern of the substrate to be inspected and the adapter pin 10, and is movable by operating a fine adjustment means 13, which will be described later. The fine adjustment board 7 is fixed to the fine adjustment means 13, and is provided with a protruding board guide bin 9 for setting the board to be tested with high positional accuracy when setting the board to be tested. Further, in the pin guide board 8, like the dedicated board 6, a through hole 8a is bored at the same position as the inspection point of the board to be inspected.

このビンガイドボード8は、前記アダプタピン10の先
端位置精度を出すために用いるためのものであるととも
に、前記アダプタピン10が抜は出さないようストッパ
の役目を果たしている。尚ボードメンバ5は、アダプタ
ピン10を全て挿入した後、専用ボード6、微調ボード
7、ピンガイドボード8を順次セットすることにより形
成される。
This bin guide board 8 is used to provide precision in the position of the tip of the adapter pin 10, and also serves as a stopper to prevent the adapter pin 10 from being pulled out. The board member 5 is formed by inserting all the adapter pins 10 and then sequentially setting the dedicated board 6, fine adjustment board 7, and pin guide board 8.

前記基板ガイド、ビン9は、基板30の隅部に形成され
た係止用小孔30aに挿入係止される。尚基板30の下
面のパターンとアダプタピン10との位置関係を微調整
する必要がない場合は、前記基板ガイドビン9は前記ピ
ンガイドボード8に固定され、又微調整する必要がある
場合は、前記基板ガイドビン9は微調ボード7に固定す
る。
The board guide and bottle 9 are inserted and locked into small locking holes 30a formed at the corners of the board 30. If there is no need to finely adjust the positional relationship between the pattern on the bottom surface of the substrate 30 and the adapter pins 10, the substrate guide bin 9 is fixed to the pin guide board 8, and if fine adjustment is necessary, The board guide bin 9 is fixed to the fine adjustment board 7.

前記アダプタピンlOは、被検査基板30の検査ポイン
トと前記フィクスチャ1に使用されるコンタクトプロー
ブ20とを電気的に接続するためリジッドなビンとして
形成されており、第1のオフグリッドアダプタAを分解
することにより、恒久的な利用が可能である。また前記
アダプタピン10がロッド径φ0.6mm以下の細いア
ダプタピンでは、ロッド部に絶縁コーティングを施しで
あるため、他のアダプタピンとの接触による短絡が全(
なく、組立てが非常に簡単である。
The adapter pin lO is formed as a rigid pin for electrically connecting the inspection point of the substrate to be inspected 30 and the contact probe 20 used in the fixture 1, and connects the first off-grid adapter A. By disassembling it, it can be used permanently. In addition, when the adapter pin 10 is thin with a rod diameter of 0.6 mm or less, the rod portion is coated with an insulating coating, so short circuits due to contact with other adapter pins are completely prevented (
It is very easy to assemble.

符号13は前記微調ボード7を水平方向(第1図におけ
るX−Y方向)の任意の方向へ微動させ得る微調手段で
あり、この微調手段13を操作し、前記微調ボード7を
可動せしめて被検査基板30の検査ポイントと第1のオ
フグリッドアダプタAのアダプタピン10との位置関係
を微調整する。この微調手段13を操作することにより
、被検査基板30の上面側と下面側の両面とも微調整す
ることが可能となる。符号12は、第1のオフグリッド
アダプタAを前記プローブガードプレート2上にセット
するとき、位置決めに用いるビンで、前記プローブガー
ドプレート2に固定されている。又符号14は、前記プ
ローブガードプレート2上に取付けられた自動基板厚調
整用取手であり、被検査基板30をコンタクトプローブ
の最適なストロークで加圧するために、被検査基板30
の板厚によって加圧ストロークを自動的に調整する機構
が内蔵されている。この自動基板厚調整用取手14の加
圧ストロークの調整は、第2のオフグリッドアダプタB
における取手64を自動基板厚調整用取手14に押圧す
ることにより行なわれる。又この自動基板厚調整用取手
14で前記プローブガードプレート2を持ち上げること
が可能である。
Reference numeral 13 denotes a fine adjustment means that can finely move the fine adjustment board 7 in any direction in the horizontal direction (X-Y direction in FIG. 1). The positional relationship between the inspection points on the inspection board 30 and the adapter pins 10 of the first off-grid adapter A is finely adjusted. By operating this fine adjustment means 13, it becomes possible to finely adjust both the upper surface side and the lower surface side of the substrate to be inspected 30. Reference numeral 12 denotes a bin used for positioning when setting the first off-grid adapter A on the probe guard plate 2, and is fixed to the probe guard plate 2. Reference numeral 14 is a handle for automatic substrate thickness adjustment attached to the probe guard plate 2, and is used to press the substrate 30 to be inspected with the optimum stroke of the contact probe.
It has a built-in mechanism that automatically adjusts the pressurizing stroke depending on the plate thickness. Adjustment of the pressure stroke of this automatic board thickness adjustment handle 14 is performed using the second off-grid adapter B.
This is done by pressing the handle 64 in the automatic substrate thickness adjustment handle 14. Further, it is possible to lift the probe guard plate 2 with this handle 14 for automatic substrate thickness adjustment.

第1のオフグリッドアダプタAは上記の如く構成されて
おり、クランプ手段11のトグルクランプ11Aを用い
て前記メツシュボード3Aに着脱自在に取付けられる。
The first off-grid adapter A is constructed as described above, and is detachably attached to the mesh board 3A using the toggle clamp 11A of the clamping means 11.

次に、被検査基板30の上面側に配設される第2のオフ
グリッドアダプタBについて説明すると、第2のオフグ
リッドアダプタBが、検査機のフィクスチャ51に格子
状に植え込まれているコンタクトプローブ70の配設位
置に対応させて穿設した貫通孔53cを有するベース5
3と、このベース53と平行に配置され、かつベース5
3上に立設した支柱71を介してこのベースに固定され
ているボードメンバ55と、前記ベース53とボードメ
ンバ55間に挿通され、先端部が被検査基板30の検査
ポイントと接触し、基端部が検査機のコンタクトプロー
ブ70に接触するアダプタピン60と、前記ベース53
とボードメンバ55との間に配設した、前記アダプタピ
ン60のたわみを矯正するピンサポートボード54を具
備している点;前記ベース53がメツシュボード53A
とストックメツシュボード53Bとより構成され、この
ベース53と前記ボードメンバ55と前記アダプタピン
60とでアダプタユニットを構成している点は前記第1
のオフグリッドアダプタAと同じであるが、前記ボード
メンバ55が専用ボード56とピンガイドボード58よ
り構成されて微調ボードを含んでいない点:基板ガイド
ビンを有していない点が前記第1のオフグリッドアダプ
タAの構成と異なる。符号52はプローブガードプレー
ト、61はクランプ手段、62はパイロットビンである
。又64はプローブガードプレート52に取り付けられ
た取手であり、前記自動基板厚調整用取手14に当接し
、取手14と協働して下側のブローブガードプレート2
を水平に押し下げる。この取手64はプローブガードプ
レート52を持ち運ぶ際にも用いられる。
Next, the second off-grid adapter B arranged on the upper surface side of the substrate to be inspected 30 will be explained. The second off-grid adapter B is implanted in the fixture 51 of the inspection machine in a grid pattern. A base 5 having a through hole 53c drilled corresponding to the location of the contact probe 70.
3 and is arranged parallel to this base 53, and the base 5
A board member 55 is fixed to this base via a support 71 erected on the base 3, and is inserted between the base 53 and the board member 55, and its tip comes into contact with the inspection point of the board 30 to be inspected. an adapter pin 60 whose end contacts the contact probe 70 of the inspection machine; and the base 53.
The base 53 is provided with a pin support board 54 arranged between the mesh board 53A and the board member 55 to correct the deflection of the adapter pin 60;
and a stock mesh board 53B, and this base 53, the board member 55, and the adapter pin 60 constitute an adapter unit.
It is the same as the off-grid adapter A in the above, except that the board member 55 is composed of a dedicated board 56 and a pin guide board 58 and does not include a fine adjustment board; it does not have a board guide bin. The configuration is different from that of off-grid adapter A. Reference numeral 52 is a probe guard plate, 61 is a clamping means, and 62 is a pilot bin. Further, 64 is a handle attached to the probe guard plate 52, which comes into contact with the automatic substrate thickness adjustment handle 14 and cooperates with the handle 14 to adjust the lower probe guard plate 2.
Press down horizontally. This handle 64 is also used when carrying the probe guard plate 52.

しかして、第1のオフグリッドアダプタAと第2のオフ
グリッドアダプタBとをセットして基板の検査をする際
、被検査基板の検査ポイントにアダプタピンの先端部は
最適荷重で接触しかつ上下のオフグリッドアダプタが平
行に上下動するよう、被検査基板の厚みに応じて、押圧
したときにオフグリッドアダプタの沈み量を自動的に調
整する。従って、被検査基板の厚みによっていちいちオ
フグリッドアダプタの沈み量を調整する必要が無く、作
業性が極めてよい。
Therefore, when the first off-grid adapter A and the second off-grid adapter B are set and the board is inspected, the tip of the adapter pin contacts the inspection point of the board to be tested with the optimum load, and The amount of depression of the off-grid adapter when pressed is automatically adjusted according to the thickness of the board to be inspected so that the off-grid adapter moves up and down in parallel. Therefore, there is no need to adjust the amount of sinking of the off-grid adapter depending on the thickness of the substrate to be inspected, and workability is extremely high.

更に、片面検査基板、両面同時検査基板にかかわらず、
このオフグリッドアダプタのみで基板の検査が可能であ
る。即ち、このオフグリッドアダプタは、下側のみにセ
ットして使用したり、下側と上側の両側にセットして使
用できるものでもある。
Furthermore, regardless of whether the board is single-sided or double-sided simultaneously,
Board inspection is possible with just this off-grid adapter. That is, this off-grid adapter can be used by setting it only on the lower side, or it can be used by setting it on both the lower side and the upper side.

[発明の効果] 本発明は、上述のとおり構成されているので次に記載す
る効果を奏する。
[Effects of the Invention] Since the present invention is configured as described above, it produces the following effects.

請求項1のアダプタを用いると、ボードメンバとベース
との間にピンサポートボードを配設しであるため、アダ
プタピンとして極めて細いものを使用することができ、
更にアダプタピンは、ボードメンバによってガイドされ
、アダプタピンの先端位置精度が良くなるため、検査ポ
イントが高密度化、微細化した基板のパターンの検査が
容易であり、しかも検査を的確に行なうことができる。
When the adapter according to claim 1 is used, since the pin support board is disposed between the board member and the base, extremely thin adapter pins can be used.
Furthermore, the adapter pin is guided by the board member, which improves the precision of the tip position of the adapter pin, making it easy to inspect patterns on boards where the inspection points are becoming denser and finer, and moreover, inspection can be performed accurately. can.

そして、上下のオフグリッドアダプタとも、そのセット
、リセットを検査機のクランプ機構を利用して簡単に行
なえるため、作業性が非常によい。
Both the upper and lower off-grid adapters can be easily set and reset using the clamp mechanism of the inspection machine, resulting in very good workability.

さらに被検査基板の下面、上面のパターンに応じて上下
のオフグリッドアダプタを両方とも微調整することがで
きるため、パターンの位置ずれに対して非常に有効であ
る。
Furthermore, both the upper and lower off-grid adapters can be finely adjusted according to the patterns on the lower and upper surfaces of the substrate to be inspected, which is very effective against misalignment of the patterns.

又被検査基板に対しては、ボードメンバに穴加工を施す
ことだけで上下のオフグリッドアダプタとも組み立てる
ことができ、ランニングコストを非常に安くすることが
可能となるとともに、上下のオフグリッドアダプタの製
作時間の短縮化が図れる。
In addition, the board to be inspected can be assembled with the upper and lower off-grid adapters by simply drilling holes in the board member, making it possible to significantly reduce running costs and making it easier to assemble the upper and lower off-grid adapters. Production time can be shortened.

請求項2のアダプタを用いると、メツシュボードと分離
可能にストックメツシュボードを設けであるため、アダ
プタ保管時にアダプタ全体を分解することなく保管する
ことができ、又再検査に用いるときも、再び組み立てす
る部分が殆んどないため、再検査時に組立準備の時間を
あまり必要としない。
When the adapter of claim 2 is used, since the stock mesh board is provided so as to be separable from the mesh board, the adapter can be stored without disassembling the entire adapter, and can be reassembled when used for re-inspection. Since there are almost no parts, it does not require much time to prepare for assembly during re-inspection.

そして、上下のオフグリッドアダプタに使用されるアダ
プタピンは全(同じものを使用できるため、上下のオフ
グリッドアダプタに使用するアダプタピンを使いわける
必要がなく、組立て時の取扱いも簡単である。
Since all the adapter pins used for the upper and lower off-grid adapters can be the same, there is no need to use different adapter pins for the upper and lower off-grid adapters, and handling during assembly is easy.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明を構成する第1のオフグリッドアダプタ
を適用して構成した下側のオフグリッドアダプタの一実
施例を示す斜視図、第2図は本発明を構成する第2のオ
フグリッドアダプタを適用して構成した上側のオフグリ
ッドアダプタの一実施例を示す斜視図、第3図は本発明
に係るアダプタの要部断面略図、第4図は第1のオフグ
リッドアダプタの要部断面拡大略図、第5図は第1のオ
フグリッドアダプタのアダプタユニットを示す断面略図
、第6図は第2のオフグリッドアダプタの要部断面拡大
略図、第7図は第2のオフグリッドアダプタのアダプタ
ユニットを示す断面略図である。 1.51・・・・フィクスチャ 2.52・・・プローブガードプレート3.53 ・・
ペース 4.54 ・・ピンサポートボード 5.55 ・・・ボードメンバ 7・・・微調ボード 9・・・・基板ガイドビン 0.60・・・・アダプタピン 1,61・・・・クランプ手段 2.62・・・・パイロットビン 3・・・・微調手段 1.71・・・・支柱
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a lower off-grid adapter constructed by applying a first off-grid adapter constituting the present invention, and FIG. 2 is a perspective view showing an embodiment of a lower off-grid adapter constituting the present invention. A perspective view showing an example of an upper off-grid adapter configured by applying the adapter, FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of the main part of the adapter according to the present invention, and FIG. 4 is a cross-section of the main part of the first off-grid adapter. An enlarged schematic diagram, FIG. 5 is a schematic cross-sectional diagram showing the adapter unit of the first off-grid adapter, FIG. 6 is an enlarged schematic cross-sectional diagram of the main part of the second off-grid adapter, and FIG. 7 is an adapter of the second off-grid adapter. It is a cross-sectional schematic diagram showing a unit. 1.51... Fixture 2.52... Probe guard plate 3.53...
Pace 4.54 ... Pin support board 5.55 ... Board member 7 ... Fine adjustment board 9 ... Board guide bin 0.60 ... Adapter pin 1, 61 ... Clamping means 2 .62... Pilot bin 3... Fine adjustment means 1.71... Support

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)検査機のフィクスチャに格子状に植え込まれてい
るコンタクトプローブの配設位置に対応させて穿設した
貫通孔を有するベースと、該ベースと平行に配置され、
かつ該ベース 上に立設した支柱を介してこのベースに固定されている
ボードメンバと、 前記ベースとボードメンバ間に挿通され、 先端部が被検査プリント配線板の検査ポイントと接触し
、基端部が検査機のコンタクトプローブに接触するアダ
プタピンと、 前記ベースとボードメンバとの間に配設し た、前記アダプタピンのたわみを矯正するピンサポート
ボードを備えた第1のオフグリッドアダプタと第2のオ
フグリッドアダプタとより構成され、 前記第1のオフグリッドアダプタを構成し ている前記ボードメンバが、被検査プリント配線板の表
面パターンと前記アダプタピンとの位置関係を微調整す
るため可動する微調ボードを含んで構成され、 該微調ボードに、被検査プリント配線板を セットする時に被検査プリント配線板の位置出しに用い
る基板ガイドピンを突設し、 前記微調ボードを水平方向の任意の方向へ 微動させ得る微調手段を設け、前記第1のオフグリッド
アダプタと前記第2のオフグリッドアダプタにおける各
アダプタピンをそれぞれ被検査プリント配線板の下面と
上面の検査ポイントに接触させてプリント配線板の布線
状態の検査を行うことを特徴とするプリント配線板検査
機用アダプタ上下タイプ。
(1) a base having through holes drilled in correspondence with the arrangement positions of contact probes implanted in a grid pattern in a fixture of an inspection machine, and arranged parallel to the base;
and a board member fixed to the base via a support erected on the base; the board member is inserted between the base and the board member, the tip end contacts the inspection point of the printed wiring board to be inspected, and the base end a first off-grid adapter and a second off-grid adapter, each comprising an adapter pin whose portion contacts a contact probe of an inspection machine; and a pin support board disposed between the base and the board member to correct deflection of the adapter pin; an off-grid adapter, wherein the board member constituting the first off-grid adapter includes a fine adjustment board that moves to finely adjust the positional relationship between the surface pattern of the printed wiring board to be inspected and the adapter pin. The fine adjustment board has board guide pins protruding thereon for use in positioning the printed wiring board to be inspected when setting the printed wiring board to be inspected, and the fine adjustment board is slightly moved in any horizontal direction. A fine adjustment means is provided to adjust the wiring condition of the printed wiring board by bringing each adapter pin of the first off-grid adapter and the second off-grid adapter into contact with the inspection points on the lower surface and the upper surface of the printed wiring board to be inspected, respectively. A top and bottom type adapter for printed wiring board inspection machines, which is characterized by its ability to perform inspections.
(2)前記第1のオフグリッドアダプタと第2のオフグ
リッドアダプタの各ベースが、前記アダプタピンの基端
部を案内するストックメッシュボードを含んで構成され
、前記ベースと前記ボードメンバと前記アダプタピンと
でアダプタユニットを構成している請求項1記載のプリ
ント配線板検査機用アダプタ上下タイプ。
(2) Each base of the first off-grid adapter and the second off-grid adapter includes a stock mesh board that guides the base end of the adapter pin, and the base, the board member, and the adapter 2. The vertical type adapter for a printed wiring board inspection machine according to claim 1, wherein the pin constitutes an adapter unit.
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