JPH0435940B2 - - Google Patents

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JPH0435940B2
JPH0435940B2 JP56102569A JP10256981A JPH0435940B2 JP H0435940 B2 JPH0435940 B2 JP H0435940B2 JP 56102569 A JP56102569 A JP 56102569A JP 10256981 A JP10256981 A JP 10256981A JP H0435940 B2 JPH0435940 B2 JP H0435940B2
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JP
Japan
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interface
switch module
test
highway
switch
Prior art date
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Application number
JP56102569A
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Japanese (ja)
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JPS583452A (en
Inventor
Hisao Kono
Yukio Ozawa
Mitsutoshi Ayano
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS583452A publication Critical patent/JPS583452A/en
Publication of JPH0435940B2 publication Critical patent/JPH0435940B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22Arrangements for supervision, monitoring or testing
    • H04M3/24Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation
    • H04M3/244Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation for multiplex systems

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はデイジタル交換機、さらに詳しくいえ
ば、2重化されたスイツチ・モジユールと2重化
されない回線対応部のインタフエース共通部とを
有するデイジタル交換機に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a digital exchange, and more particularly, to a digital exchange having a duplex switch module and a common interface section of a non-duplex line correspondence section.

デイイジタル交換機において、スイツチ・モジ
ユールの障害に対処するため、これを2重化し、
一方を現用、他方を予備とし、現用のスイツチ・
モジユールに障害が発生すると直ちに予備のスイ
ツチ・モジユールを現用に切替え、交換機の動作
に支障を生じないようにし、かつ交換機の信頼性
を高めることが行なわれている。
In a digital switching system, in order to deal with failures in the switch module, this is duplicated.
One is used as a working switch and the other as a backup.
When a failure occurs in a module, a spare switch module is immediately switched to the active one to prevent any trouble in the operation of the exchange and to improve the reliability of the exchange.

一方、デイジタル交換機において、対応するハ
イウエイの特定のタイム・スロツトを試験用に割
り当て、対をなすハイウエイの下り側に上記試験
用タイム・スロツトに試験用データを送出し、上
り側のハイウエイの試験用タイム・スロツトに折
返し、送出した試験用データと折返して受信され
たデータとを照合して通話路の試験を行なうこと
が行なわれている。
On the other hand, in the digital exchange, a specific time slot of the corresponding highway is assigned for testing, test data is sent to the above test time slot on the downbound side of the paired highway, and test data is sent to the upstream highway test time slot. The communication path is tested by checking the test data sent back at the time slot and the data received back.

上記のようにスイツチ・モジユールを2重化し
た交換機に、従来の考え方に従つて上記のような
折返し試験を行なう場合、現用系側の試験のみな
ので、予備系の正常性、あるいは障害切分け等で
問題がある。
When performing the loopback test as described above on a switch with dual switch modules as described above, according to the conventional concept, only the active system side is tested, so it is difficult to check the normality of the standby system or troubleshooting problems. There is a problem with this.

第1図は、2重化したスイツチ・モジユールと
2重化されない回線対応部のインタフエース共通
部を有するデイジタル交換機の構成を示す図であ
る。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a digital exchange having a common interface section of a duplex switch module and a non-duplex line correspondence section.

図において、SHC0〜SHCi〜はそれぞれ回線対
応部のインタフエース共通部、SM0,SMiはそれ
ぞれスイツチ・モジユールであり、両者は同一の
構成を有し、2重化されており、一方が現用とし
て使用され、他方は予備として待機し、現用スイ
ツチ・モジユールが障害となれば、予備用が現用
に切替えられる。
In the figure, SHC 0 to SHC i are respectively interface common parts of the line corresponding parts, and SM 0 and SM i are switch modules, respectively, and both have the same configuration and are duplicated. is used as the active switch module, while the other one stands by as a standby, and if the active switch module becomes a failure, the standby switch module is switched to the active switch module.

回線対応部のインタフエース共通部SHC0
SHCi等はそれぞれスイツチ・モジユールSM0
SM1とインタフエース・ハイウエイにより接続さ
れる。インタフエース共通部は同様に構成され同
様に動作するのでSHC0について説明する。
Interface common part of line correspondence part SHC 0 ~
SHC i etc. are switch modules SM 0 ,
Connected to SM 1 by an interface highway. Since the interface common parts are configured similarly and operate similarly, SHC 0 will be explained.

電話機あるいは回線から送られてくるデイジタ
ル化された信号は、回線対応部LINE0〜LINEo
おいて多重化されてインタフエース共通部SHC0
に入り、さらにマルチプレクサMPXにおいて上
りハイウエイFW−HW0に多重化され、2つに分
流し、それぞれドライバDを経てインタフエー
ス・ハイウエイである上りハイウエイFW−
HW00およびFW−HW10を経て、それぞれスイツ
チ・モジユールSM0およびSM1に達する。
Digitized signals sent from telephones or lines are multiplexed in the line corresponding parts LINE 0 to LINE o and sent to the interface common part SHC 0 .
It is further multiplexed into the up-highway FW-HW 0 at the multiplexer MPX, divided into two, and each passes through the driver D to the up-highway FW-HW which is the interface highway.
Via HW 00 and FW-HW 10 , the switch modules SM 0 and SM 1 are reached, respectively.

スイツチ・モジユールSM0,SM1において、後
述するように、それぞれ交換が行なわれ、それぞ
れからインタフエース・ハイウエイである下りハ
イウエイBW−HW00およびBW−HW10を経て出
力され、この出力は、インタフエース共通部
SHC0において、それぞれレシーバRで受信さ
れ、ルート・セレクタRSELに入る。
Switch modules SM 0 and SM 1 exchange each other as described later, and are outputted from each via downbound highways BW-HW 00 and BW-HW 10 , which are interface highways. Ace common area
At SHC 0 , each is received at receiver R and enters root selector RSEL.

ルート・セレクタRSELは現用のスイツチ・モ
ジユールの信号受信配分装置SRDの出力により
制御されるルート・フリツプフロツプR−FFに
より制御される。すなわち、スイツチ・モジユー
ルSM0が現用ならば、ルート・フリツプフロツプ
R−FFは、現用スイツチ・モジユールSM0の信
号受信配分装置SRDの出力によりセツトされ、
“1”を出力し、これによりルート・セレクタ
RSELを制御して、現用スイツチ・モジユール
SM0よりの下りインタフエース・ハイウエイBW
−HW00を選択して、これをインタフエース共通
部SHC0の下りハイウエイBW−HW0に接続す
る。この際、予備用のスイツチ・モジユールSM1
からの下りインタフエース・ハイウエイBW−
HW10のデータは捨てられる。
The root selector RSEL is controlled by a root flip-flop R-FF which is controlled by the output of the signal reception distribution device SRD of the current switch module. That is, if the switch module SM 0 is in use, the root flip-flop R-FF is set by the output of the signal reception distribution device SRD of the active switch module SM 0 ;
Outputs “1”, which causes the root selector
Control the RSEL to control the current switch module
Downbound interface highway BW from SM 0
- Select HW 00 and connect it to the downbound highway BW-HW 0 of the interface common section SHC 0 . At this time, use the spare switch module SM 1.
Downbound Interface Highway BW−
HW 10 data will be discarded.

なお、この際、スイツチ・モジユールSM1が現
用、スイツチ・モジユールSM0が予備用に切替え
られると、現用となつたスイツチ・モジユール
SM1の信号受信配分装置SRDから上記ルート・
フリツプフロツプR−FFに信号が与えられ、こ
れをリセツトする。そうするとルート・フリツプ
フロツプR−FFの出力は“0”となり、この出
力“0”によりルート・セレクタRSELは入力を
切替え、現用となつたスイツチ・モジユールSM1
よりの下りのインタフエース・ハイウエイBW−
HW10を選択して、インタフエース共通部SHC0
の下りハイウエイBW−HW0に接続する。
At this time, if switch module SM 1 is switched to the active one and switch module SM 0 is switched to the spare one, the switch module that has become the active one
From the signal reception distribution device SRD of SM 1 to the above route
A signal is applied to flip-flop R-FF to reset it. Then, the output of the root flip-flop R-FF becomes "0", and this output "0" causes the root selector RSEL to switch the input, and the currently used switch module SM 1
Lower Interface Highway BW−
Select HW 10 and interface common section SHC 0
Connect to downbound highway BW-HW 0 .

インタフエース共通部SHC0においては、その
下りハイウエイBW−HW0の信号をデマルチプ
レクサDMPXにより対応する回線対応部
(LINE0〜LINEo)に至るハイウエイに分離し、
各回線対応部(LINE0〜LINEo)において、さら
に着信電話機あるいは回線に分離する。
In the interface common section SHC 0 , the signal of the downward highway BW-HW 0 is separated into highways leading to the corresponding line corresponding section (LINE 0 to LINE o ) by a demultiplexer DMPX,
In each line corresponding section (LINE 0 to LINE o ), the call is further separated into incoming telephones or lines.

スイツチ・モジユールSM0およびSM1はそれぞ
れ同一の構成を有するので、スイツチ・モジユー
ルSM0について説明する。
Since switch modules SM 0 and SM 1 each have the same configuration, switch module SM 0 will be explained.

スイツチ・モジユールSM0はマルチプレクサ
MPX0〜MPXo、デマルチプレクサDMPX0
DMPXo、フオワード時間スイツチTSWF0
TSWFo、バツクワード時間スイツチTSWB0
TSWBo、空間スイツチSSW、信号受信配分装置
SRD等を具備する。2個のスイツチ・モジユー
ルSM0およびSM1は共通のプロセツサMPRによ
つて制御される。
Switch Module SM 0 is a multiplexer
MPX 0 ~ MPX o , demultiplexer DMPX 0 ~
DMPX o , forward time switch TSWF 0 ~
TSWF o , backward time switch TSWB 0 ~
TSWB o , spatial switch SSW, signal reception distribution device
Equipped with SRD etc. The two switch modules SM 0 and SM 1 are controlled by a common processor MPR.

なお、公知のように、時間スイツチTSWF0
TSWFo、TSWB0〜TSWBoにおける通話路保持
メモリおよび空間スイツチSSWのゲツト制御メ
モリは信号受信分配装置SRDよりの信号により
制御され、必要とする通話路(通話チヤネル)が
設定される。
As is well known, the time switch TSWF 0 ~
The communication path holding memories in TSWF o and TSWB 0 to TSWB o and the get control memory of the spatial switch SSW are controlled by signals from the signal reception and distribution device SRD, and a necessary communication path (speech channel) is set.

インタフエース共通部SHC0〜SHCiよりの上り
インタフエース・ハイウエイFW−HW00〜FW−
HW0iはマルチプレクサMPX0で多重化されフオ
ワード時間スイツチTSWF0に入力する。上記以
外のインタフエース共通部においても、SHC0
SHCiと同様に、相当数例えばi+1個ずつ纏め
られ、その上りインタフエース・ハイウエイがマ
ルチプレクサMPX1〜MPXoに入力する。マルチ
プレクサMPX0において多重化された信号はフオ
ワード時間スイツチTSWF0において必要なタイ
ム・スロツト変換が行なわれジヤツクタ・ハイウ
エイを経て空間スイツチSSWに入力し、ここで
ハイウエイ間の変換が行なわれ、バツクワード時
間スイツチTSWB0〜TSWBoに入力し、さらに
タイム・スロツトの変換が行なわれて、デマルチ
プレクサDMPX0〜DMPXoに送られて、ここで
所要のインタフエース共通部SHC0〜SHCiに至る
下りインタフエース・ハイウエイBW−HW00
BW−HW0iに分離される。
Interface common section SHC 0 ~ Upbound interface highway FW-HW 00 ~FW- from SHC i
HW 0i is multiplexed by multiplexer MPX 0 and input to forward time switch TSWF 0 . SHC 0 to
Similar to SHC i , a considerable number, for example, i+1, are grouped together, and their upstream interface highways are input to multiplexers MPX 1 to MPX o . The multiplexed signal in the multiplexer MPX 0 undergoes the necessary time slot conversion in the forward time switch TSWF 0 and is input to the spatial switch SSW via the jack highway, where the conversion between the highways is performed and the backward time switch TSWF 0 is applied. It is input to TSWB 0 to TSWB o , is further subjected to time slot conversion, and sent to demultiplexers DMPX 0 to DMPX o , where it is sent to the required interface common part SHC 0 to SHC i .・Highway BW−HW 00 ~
Separated into BW−HW 0i .

他のマルチプレクサ(MPX1〜MPXo)への入
力も上記と同様に処理される。
Inputs to the other multiplexers (MPX 1 to MPX o ) are processed in the same way as above.

既に述べたように、インタフエース・ハイウエ
イ(上記のFW−HW00〜等およびBW−HW00
等)の特定のタイム・スロツトを試験用に割当
て、上記試験用タイム・スロツトに挿入した試験
用データを折返し、送出したデータと折返し受信
したデータとを比較照合して試験を行なうが、こ
の場合、第1図において、従来の考え方によりイ
ンタフエース共通部SHC0における上りおよび下
りハイウエイFW−HW0およびBW−HW0を選
び、試験用タイム・スロツトにのせて下りハイウ
エイに送出された試験用データと上りハイウエイ
に折返された試験用データとの一致を検出して試
験用データが伝送された径路の正常性を試験する
場合、現用系からの試験しかできないため、予備
系バツクワード時間スイツチ、特にインタフエー
ス部の試験が行なえないので、障害切分け、また
系の再構成等に問題があつた。
As already mentioned, interface highways (FW-HW 00 ~ etc. and BW-HW 00 ~ etc. above)
etc.) for testing, the test data inserted into the test time slot is looped back, and the test is performed by comparing the sent data with the data received back. , in Fig. 1, the up and down highways FW-HW 0 and BW-HW 0 in the interface common section SHC 0 are selected according to the conventional concept, and the test data is sent to the down highway in the test time slot. When testing the normality of the path through which the test data was transmitted by detecting a match between the test data and the test data returned to the up-bound highway, testing can only be performed from the active system, so the backup system backward time switch, especially the interface Since testing of the ace section could not be conducted, there were problems in fault isolation and system reconfiguration.

さらに、この点について詳しく説明する。第1
図に示すように、インタフエース共通部SHC0
おいて、試験用データは下りハイウエイBW−
HW0より上りハイウエイFW−HW0へ折返しル
ートRRを経て折返すものとする。スイツチ・モ
ジユールSM0およびSM1において、それぞれ、空
間スイツチSSWよりバツクワード時間スイツチ
TSWB0に到るジヤンクタ・ハイウエイにインサ
ータIを、またフオワード時間スイツチTSWF0
より空間スイツチSSWに到るジヤンクタ・ハイ
ウエイにドロツパDRを設置し、信号受信配分装
置SRDから送られる試験用データをインサータ
Iよりバツクワード時間スイツチTSWB0へ送出
し、フオワード時間スイツチTSWF0からの上記
折返された試験用データを同じくドロツパをDR
を経て信号受信配分装置SRDに取出して、両者
を比較照合し得るよう構成する。
Further, this point will be explained in detail. 1st
As shown in the figure, in the interface common area SHC 0 , the test data is transferred to the downbound highway BW-
It is assumed that the route returns from HW 0 to the upbound highway FW-HW 0 via the return route RR. In switch modules SM 0 and SM 1 , a backward time switch is selected from the spatial switch SSW, respectively.
Inserter I on Jankuta Highway leading to TSWB 0 and forward time switch TSWF 0
Dropper DR is installed on the junker highway leading to the spatial switch SSW, and the test data sent from the signal reception distribution device SRD is sent from the inserter I to the backward time switch TSWB 0 , and the above loopback from the forward time switch TSWF 0 is performed. The same test data was also used as a DR.
The configuration is such that the signal is taken out to the signal reception distribution device SRD via , and the two can be compared and verified.

折返し試験に当つては、現用スイツチ・モジユ
ール、例えばSM0において、特定のパターンAの
試験用データA(ハイウエイの1つのタイム・ス
ロツトには普通8ビツトをのせるので、この試験
用データも8ビツト構成である。)を信号受信分
配装置SRDからインサータIに送出して、ある
タイム・スロツトに挿入し、バツクワード時間ス
イツチTSWB0に入力させる。該時間スイツチ
TSWB0においてタイム・スロツトの入れ替えを
行なつて、上記挿入された試験用データをインタ
フエース・ハイウエイBW−HW00の試験用に割
当てられた特定のタイム・スロツトTS0にのせる
ようにする。
For the loopback test, test data A of a specific pattern A (normally 8 bits are placed in one time slot of the highway, so this test data is also 8 ) is sent from the signal reception distribution device SRD to the inserter I, inserted into a certain time slot, and inputted into the backward time switch TSWB0 . the time switch
At TSWB 0 , the time slots are exchanged so that the inserted test data is placed in the specific time slot TS 0 allocated for the test of the interface highway BW-HW 00 .

この試験用データは、ルート・セレクタRSEL
を経て、下りハイウエイBW−HW0の試験用タ
イム・スロツトTS0に現れる。この試験用データ
は試験用タイム・スロツトTS0において有効とな
る折返しルートRRを経て上りハイウエイFW−
HW0に折返され、タイム・スロツトTS0にのせ
られ、2分岐し、その一方は、現用スイツチ・モ
ジユールSM0に到る上りインタフエース・ハイウ
エイFW−HW00より、マルチプレクサMPX0
フオワード時間スイツチTSWF0、ジヤンクシヨ
ン・ハイウエイを経てドロツパDRに達し、ここ
こで抽出されて信号受信分配装置SRDに受信さ
れる。それからさらにプロセツサMPRに送られ、
ここで試験用データとして先に送出された特定の
パターンAと比較照合される。
This test data is based on the route selector RSEL
After that, it appears at the test time slot TS 0 on the downbound highway BW-HW 0 . This test data is transferred to the upbound highway FW-
It is looped back to HW 0 , placed on time slot TS 0 , and branches into two branches, one of which is connected to the multiplexer MPX 0 ,
The signal reaches the dropper DR via the forward time switch TSWF 0 and the juncture highway, where it is extracted and received by the signal reception and distribution device SRD. It is then further sent to the processor MPR,
Here, it is compared with the specific pattern A sent out earlier as test data.

なお、他方は予備のスイツチ・モジユールSM1
に到る上りインタフエース・ハイウエイFW−
HW10より予備のスイツチ・モジユールSM1に入
力し、予備のフオワード時間スイツチTSWF0
通過し、現用スイツチ・モジユールSM0における
と全く同様な比較照合が行なわれる。
The other one is a spare switch module SM 1 .
Upbound interface/highway FW-
It is input from HW 10 to the spare switch module SM 1 , passes through the spare forward time switch TSWF 0 , and is compared and matched exactly as in the working switch module SM 0 .

上記の従来の折返し試験方式では、試験用デー
タの伝送される現用系(SM0)のバツクワード時
間スイツチTSWB0とフオワード時間スイツチ
TSWF0ならびにインタフエース共通部SHC0
含む径路の正常性、および現用系(SM0)のバツ
クワード時間スイツチTSWB0と予備系(SM1
のフオワード時間スイツチTSWF0ならびにイン
タフエース共通部SHC0を含む系路の正常性は試
験されるが、試験用データの伝送されない予備系
(SM1)のバツクワード時間スイツチTSWB0
試験はできない。なお異常を検出しても異常個所
がどのインタフエース・ハイウエイにあるのか、
インタフエース共通部(SHC0〜SHCi等)にある
のか、何れのスイツチ・モジユール(SM0
SM1)にあるのか、何れの時間スイツチ
(TSWF0…TSWB0…等)にあるのか、およその
見当はつくとしても高い硬度で判定及び確認する
ことは困難であつた。
In the conventional loopback test method described above, the backward time switch TSWB 0 and the forward time switch TSWB 0 of the working system (SM 0 ) where test data is transmitted are
The normality of the path including TSWF 0 and interface common part SHC 0 , and the backward time switch TSWB 0 of the active system (SM 0 ) and the backup system (SM 1 )
The normality of the system including the forward time switch TSWF 0 and the interface common section SHC 0 is tested, but the backward time switch TSWB 0 of the standby system (SM 1 ) where test data is not transmitted cannot be tested. Even if an abnormality is detected, it is difficult to know which interface/highway the abnormality is located on.
Which switch module ( SM 0 ,
SM 1 ) or which time switch (TSWF 0 ... TSWB 0 ..., etc.) it is located at, even if one could roughly guess, it was difficult to judge and confirm with high hardness.

従来の方式においては、現用スイツチ・モジユ
ールよりの下りのインタフエース・ハイウエイ
(BW−HW00〜等)上に送られる試験用データの
みを、下りハイウエイBW−HW0〜等において
現用および予備スイツチ・モジユールの両方に折
返した。これは、交換機の稼働中に、試験のため
とはいえ、動作が安定しているとは必ずしも言え
ない予備機を現用に切替えることを避けたこと、
および予備スイツチ・モジユールよりの下りのイ
ンタフエース・ハイウエイ(BW−HW10〜等)
上に送られるデータは総べてルート・セレクタ
RSELにおいて阻止されるため、下りハイウエイ
BW−HW0〜等から折り返すことが困難であつ
たことによるものである。
In the conventional method, only the test data sent from the working switch module to the downbound interface highway (BW-HW 00 ~, etc.) is sent to the working and standby switch modules on the downbound highway BW-HW 0 ~ etc. Both modules were folded back. This is to avoid switching back-up equipment, which cannot necessarily be said to be operating stably, to current use, even if it is for testing purposes, while the exchange is in operation.
and the downbound interface highway from the spare switch module (BW-HW 10 etc.)
All data sent above is route selector
Downbound highways are blocked at RSEL.
This is because it was difficult to turn back from BW−HW 0 .

本発明は、従来の方式の上記の欠点を除き、か
つ、折返し試験のために予備機を現用に切替える
ことなく、しかも上記の困難に打克つて、上記し
た現用および予備として切替可能な2重化された
スイツチ・モジユールを持つデイジタル交換機に
おいて、現用および予備スイツチ・モジユールの
両方から送られる試験データをともに折り返し可
能に構成し、多くの障害情報を得ることを可能と
し、これ等から従来に比してさらに高い確度を以
つて障害個所を判定し、保守の簡単化、容易化を
図ることを目的とする。
The present invention eliminates the above-mentioned drawbacks of the conventional system and eliminates the need to switch the standby unit to the working unit for repeat testing, and overcomes the above-mentioned difficulties. A digital switch with a standardized switch module is configured to be able to return test data sent from both the active and standby switch modules, making it possible to obtain a large amount of fault information. The purpose is to determine the location of the failure with even higher accuracy and to simplify and facilitate maintenance.

本発明によれば、上記の目的は、2重化された
スイツチ・モジユールと、2重化されない回線対
応部のインタフエース共通部と、上記スイツチ・
モジユールのそれぞれと上記インタフエース共通
部とを接続するインタフエース・ハイウエイとを
有し、上記インタフエース・ハイウエイの特定タ
イム・スロツトを折返し試験用タイム・スロツト
として割当て、スイツチ・モジユールから上記タ
イム・スロツトに送られた試験用データを上記イ
ンタフエース共通部において折返して試験を行な
う構成のデイジタル交換機において、 平常は現用スイツチ・モジユールから上記試験
用タイム・スロツトに試験データを送出させて該
試験データと折返されたデータとを照合し、照合
の結果異常を検出した時は、現用スイツチ・モジ
ユールから上記試験用タイム・スロツトに予備ス
イツチ・モジユールからの上記試験用タイム・ス
ロツトを選択させる指示データを送出させると共
に予備スイツチ・モジユールから試験データを送
出させて該試験データと折返されたデータとを照
合する手段を設け、 またインタフエース共通部には、現用スイツ
チ・モジユールからのインタフエース・ハイウエ
イの試験用タイム・スロツトの内容が上記指示デ
ータであるか否かを判別する判別手段と、 上記判別手段により上記指示データでないと判
別した場合には現用スイツチ・モジユールからの
インタフエース・ハイウエイの試験用タイム・ス
ロツトの内容を現用及び予備スイツチ・モジユー
ルへのインタフエース・ハイウエイに折返し、 上記判別手段により上記指示データであると判
別した場合には、予備スイツチ・モジユールから
のインタフエース・ハイウエイの試験用タイム・
スロツトの内容を現用及び予備スイツチ・モジユ
ールへのインタフエース・ハイウエイに折返すよ
う切替える折返し手段とを設けた ことを特徴とするデイジタル交換機によつて達成
される。
According to the present invention, the above object is achieved by providing a duplexed switch module, an interface common part of a non-duplexed line corresponding part, and a switch module.
It has an interface highway that connects each of the modules and the above-mentioned interface common part, and allocates a specific time slot of the above-mentioned interface highway as a return test time slot, and allows the switch module to use the above-mentioned time slot. In a digital exchange configured to perform a test by looping back the test data sent to the above interface common section, normally the test data is sent from the working switch module to the above test time slot and looped back with the test data. If an abnormality is detected as a result of the comparison, the current switch module sends instruction data to the test time slot from the backup switch module to select the test time slot. At the same time, a means for transmitting test data from the spare switch module and comparing the test data with the returned data is provided, and the interface common section also includes a timer for testing the interface highway from the working switch module.・Discrimination means for determining whether or not the content of the slot is the above-mentioned instruction data; and if the above-mentioned discrimination means determines that the content is not the above-mentioned instruction data, a time slot for testing the interface highway from the current switch module; The content is returned to the interface highway to the working and standby switch modules, and if it is determined by the above discrimination means to be the above instruction data, the test time of the interface highway from the standby switch module is returned.
and folding means for switching the contents of the slots back to the interface highway to the active and standby switch modules.

次に本発明を図面について説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.

本発明は第1図に示す回線対応部のインタフエ
ース共通部SHC0〜SHCi〜が2重化されておらず
スイツチ・モジユールSM0,SM1が2重化構成の
デイジタル交換機に実施するものであつて、第2
図に本発明を実施することが可能な回線対応部の
インタフエース共通部の構成の一例を示す。
The present invention is implemented in a digital exchange in which the interface common parts SHC 0 to SHC i of the line corresponding parts shown in FIG. And the second
The figure shows an example of the configuration of an interface common part of a line corresponding part in which the present invention can be implemented.

第2図において、MPX,DMPX,RSEL,R
−FF,D,Rは第1図と同一のものを示す。な
お、SELはセレクタ、Gはゲート、PMはパター
ン・マツチヤ、REG1,REG2はレジスタ、RSル
ート・セレクタである。入力端TS0は試験用タイ
ム・スロツトTS0中入力が与えられ、これによ
り、セレクタSELが制御され、レジスタREG1
よびREG2が活性化される。
In Figure 2, MPX, DMPX, RSEL, R
-FF, D, and R are the same as in FIG. Note that SEL is a selector, G is a gate, PM is a pattern matcher, REG 1 and REG 2 are registers, and RS route selector. The input terminal TS0 is supplied with an input during the test time slot TS0 , thereby controlling the selector SEL and activating the registers REG1 and REG2 .

いま、スイツチ・モジユールSM0が現用とすれ
ば、前記のようにルート・フリツプフロツプR−
FFはセツトされ、ルート・セレクタRSELは現
用スイツチ・モジユールSM0よりの下りインタフ
エース・ハイウエイBW−HW00を選択し、下り
ハイウエイBW−HW0に接続された状態にある。
試験用タイム・スロツトTS0以外の時点において
は入力端TS0に入力が与えられていないので、セ
レクタSELはマルチプレクサMPXよりの上りハ
イウエイFW−HW0を選択して、2個のドライバ
Dに接続する。
If the switch module SM 0 is currently in use, the root flip-flop R-
FF is set, the route selector RSEL selects the down interface highway BW-HW 00 from the working switch module SM 0 , and is connected to the down highway BW-HW 0 .
Since no input is given to the input end TS 0 at times other than the test time slot TS 0 , the selector SEL selects the upstream highway FW-HW 0 from the multiplexer MPX and connects it to the two drivers D. do.

従つて、回線対応部(LINE0〜LINEo)から送
られてくる信号は、前記と同様に、マルチプレク
サMPXで上りハイウエイFW−HW0に多重化さ
れ、セレクタSELを経て現用および予備スイツ
チ・モジユールSM0,SM1へ到る上りインタフエ
ース・ハイウエイFW−HW00およびFW−HW10
に分岐して各スイツチ・モジユールSM0,SM1
入力する。
Therefore, the signals sent from the line corresponding parts (LINE 0 to LINE o ) are multiplexed to the uplink highway FW-HW 0 by the multiplexer MPX, and sent to the working and standby switch modules via the selector SEL, as described above. Upbound interface highways FW-HW 00 and FW-HW 10 to SM 0 and SM 1
and input to each switch module SM 0 and SM 1 .

現用および予備スイツチ・モジユールSM0
SM1において交換された出力は、下りインタフエ
ース・ハイウエイBW−HW00およびBW−HW10
に出力するが、ルート・セレクタRSELは、現用
スイツチ・モジユールSM0よりの下りインタフエ
ース・ハイウエイBW−HW00よりの信号のみを
通過させて、予備スイツチ・モジユールSM1より
の下りインタフエース・ハイウエイBW−HW10
よりの信号を阻止する。
Working and spare switch module SM 0 ,
The outputs exchanged in SM 1 are the downstream interface highway BW-HW 00 and BW-HW 10
However, the route selector RSEL passes only the signal from the down interface highway BW-HW 00 from the working switch module SM 0 , and outputs the signal from the down interface highway BW-HW 00 from the backup switch module SM 1 . BW−HW 10
Blocking signals from other sources.

上記のようにして、ルート・セレクタRSELの
出側にある下りハイウエイBW−HW0に送られ
た信号は、デマルチプレクサDMWPXで分離さ
れ、所定の回線対応部(LINE0〜LINEo)に送ら
れる。
As described above, the signal sent to the downbound highway BW-HW 0 on the output side of the route selector RSEL is separated by the demultiplexer DMWPX and sent to a predetermined line corresponding section (LINE 0 to LINE o ). .

ここに現用スイツチ・モジユールからの指示に
より予備スイツチ・モジユールから送られてくる
試験用データを現用および予備スイツチ・モジユ
ールの両方に折返すよう切替可能な折返し手段と
しては、ルート・セレクタRS、レジスタREG1
REG2、パターン・マツチヤPMおよびゲートG
から構成される。
Here, the return means that can be switched to return the test data sent from the standby switch module to both the active and standby switch modules according to instructions from the active switch module include a route selector RS and a register REG. 1 ,
REG 2 , pattern matcher PM and gate G
It consists of

前述の現用スイツチ・モジユールSM0から送ら
れた試験用データ(パターンA)の折返しは、次
のようにして行われる。
The test data (pattern A) sent from the above-mentioned working switch module SM 0 is returned as follows.

前記したように、現用スイツチ・モジユール
SM0よりの下りインタフエース・ハイウエイBW
−HW00の試験用タイム・スロツトTS0にのつて
送られた試験用データはルート・セレクタRSEL
を通り、下りハイウエイBW−HW0に送られる。
試験用タイム・スロツトTS0の時刻において、入
力端TS0に信号が与えられると、レジスタREG1
が活性化され、下りハイウエイBW−HW0上の、
当該時刻(タイム・スロツトTS0)の試験用デー
タ(パターンA)がレジスタREG1に格納され
る。このときは、レジスタREG1の内容は、パタ
ーン・マツチヤPMの比較対象とは異るので、パ
ターン・マツチヤPMは出力を送出せず、ゲート
GはレジスタREG1の内容を通過させて出力する
よう制御される。次のタイム・スロツトTS0にお
いて、セレクタSELが活性化されると、レジスタ
REG1の内容、すなわち、試験用データ(パター
ンA)がゲートGおよびセレクタSELを経て、現
用および予備スイツチ・モジユールSM0,SM1
の上りインタフエース・ハイウエイFW−HW00
およびFW−HW10にそれぞれ送出される。この
ようにして、既に、第1図について説明した試験
用データの折返しが行なわれる。
As mentioned above, the current switch module
Downbound interface highway BW from SM 0
- The test data sent in test time slot TS 0 of HW 00 is route selector RSEL.
and is sent to the downbound highway BW-HW 0 .
When a signal is applied to the input terminal TS 0 at the time of the test time slot TS 0 , the register REG 1
is activated, and on the downbound highway BW−HW 0 ,
The test data (pattern A) at the relevant time (time slot TS 0 ) is stored in the register REG 1 . At this time, the contents of register REG 1 are different from the comparison target of pattern matcher PM, so pattern matcher PM does not send out an output, and gate G passes the contents of register REG 1 and outputs it. controlled. At the next time slot TS 0 , when selector SEL is activated, register
The contents of REG 1 , that is, the test data (pattern A) pass through gate G and selector SEL to the working and standby switch modules SM 0 and SM 1 on the uplink interface highway FW-HW 00.
and FW-HW 10 , respectively. In this way, the test data has already been folded back as described with reference to FIG.

上記折返し試験において異常が検出されれば、
本発明により、上記とは代つて予備スイツチ・モ
ジユールSM1より、その下りインタフエース・ハ
イウエイBW−HW10に試験用データを送り、こ
の試験用データを現用および予備スイツチ・モジ
ユールSM0およびSM1に折返すことにより試験を
行なう。
If an abnormality is detected in the above return test,
According to the present invention, instead of the above, test data is sent from the standby switch module SM 1 to its downbound interface highway BW-HW 10 , and this test data is sent to the working and standby switch modules SM 0 and SM 1. The test shall be carried out by returning to the office.

第1図について説明したように、上記の従来の
折返し試験において、プロセツサMPRが異常を
検出すれば、プロセツサMPRは、予備スイツ
チ・モジユールSM1に対して、試験用タイムスロ
ツトTS0に試験用データの送出を指示し、また現
用スイツチ・モジユールSM0に同じく試験用タイ
ム・スロツトTS0に特定のパターンの指示用デー
タ(パターンB)の送出を指示する。これによ
り、第1図において説明したのと同様に上記試験
用および指示用データが下りインタフエース・ハ
イウエイBW−HW10およびBW−HW00にそれぞ
れ送出される。
As explained with reference to FIG. 1, in the conventional loopback test described above, if the processor MPR detects an abnormality, the processor MPR transfers the test data to the test time slot TS 0 for the backup switch module SM 1 . It also instructs the current switch module SM0 to transmit a specific pattern of instruction data (pattern B) to the test time slot TS0 . As a result, the test and instruction data are sent to the down interface highways BW-HW 10 and BW-HW 00 , respectively, in the same manner as described in FIG.

さて、第2図において、ルート・セレクタRS
は、ルート・フリツプフロツプR−FFの出力に
より制御され、ルート・セレクタRSELとは逆
に、現用スイツチ・モジユールよりの下りインタ
フエース・ハイウエイ上の信号を阻止し、予備ス
イツチ・モジユールよりの下りインタフエース・
ハイウエイ上の信号を通過させる。すなわち、こ
の場合、予備スイツチ・モジユールSM1よりの下
りインタフエース・ハイウエイBW−HW10の信
号を通過させ、レジスタREG2に送る。
Now, in Figure 2, the root selector RS
is controlled by the output of the root flip-flop R-FF and, contrary to the root selector RSEL, blocks signals on the downbound interface highway from the working switch module and blocks signals on the downbound interface highway from the standby switch module.・
Pass traffic lights on the highway. That is, in this case, the signal from the downlink interface highway BW-HW 10 from the backup switch module SM 1 is passed through and sent to the register REG 2 .

試験用タイムスロツトTS0の時刻において、入
力端TS0に入力が与えられるとレジスタREG2
活性化され、予備スイツチ・モジユールSM1より
の下りインタフエース・ハイウエイBW−HW10
の試験用タイム・スロツトTS0にのせられてる試
験用データ(パターンA)がレジスタREG2にラ
ツチされる。
At the time of the test time slot TS 0 , when an input is applied to the input terminal TS 0 , the register REG 2 is activated, and the downlink interface highway BW-HW 10 from the backup switch module SM 1 is activated.
The test data (pattern A) placed in the test time slot TS0 is latched into the register REG2 .

この時、現用スイツチ・モジユールSM0からの
下りインタフエース・ハイウエイBW−HW00
試験用タイム・スロツトTS0にのせられて送出さ
れた特定のパターンの指示用データ(パターン
B)は前記と同様にレジスタREG1にラツチされ
る。この内容(パターンBのデータ)はパター
ン・マツチヤPMに送られ、パターン・マツチヤ
PMにおいて比較照合され、パターンBであるこ
とが識別されるとゲートGに信号が送られ、これ
によりゲートGはレジスタREG1の内容の信号の
通過を阻止し、レジスタREG2の内容の信号の通
過させるよう切替えられる。次の試験用タイム・
スロツトTS0においてセレクタSELが切替えられ
ると、レジスタREG2の内容、すなわち予備スイ
ツチ・モジユールSM1よりの下りインタフエー
ス・ハイウエイBW−HW10から送られた試験用
データが、セレクタSELを経て現用および予備ス
イツチ・モジユールSM0,SM1への上りインタフ
エース・ハイウエイFW−HW00およびFW−
HW10に送られる。指示用データは試験用データ
とは異なるパターンとする。なお、指示用データ
は特定パターンのものに限らない。例えば特定の
ビツト位置のビツトを割当てておいてもよい。
At this time, the specific pattern of instruction data (pattern B) sent from the working switch module SM 0 to the test time slot TS 0 of the down interface highway BW-HW 00 is the same as above. is latched into register REG 1 . This content (pattern B data) is sent to the pattern matchmaker PM, and the pattern matcher
When it is compared and verified in PM and it is identified as pattern B, a signal is sent to gate G, which blocks the passage of the signal with the contents of register REG 1 and blocks the passage of the signal with the contents of register REG 2 . Switched to pass. Next exam time/
When the selector SEL is switched in the slot TS 0 , the contents of the register REG 2 , that is, the test data sent from the downlink interface highway BW-HW 10 from the backup switch module SM 1 are transferred to the current and Upstream interface highway FW to spare switch modules SM 0 and SM 1 - HW 00 and FW -
Sent to HW 10 . The instruction data shall have a different pattern from the test data. Note that the instruction data is not limited to a specific pattern. For example, bits at specific bit positions may be assigned.

この折返された試験用データは、上記と同様
に、現用および予備スイツチ・モジユールSM0
SM1のそれぞれにおいて、ドロツパDRで抽出さ
れ信号受信配分装置SRDに達し、さらにプロセ
ツサMPRに送られ、送出した試験用データと受
信したデータとの照合が行なわれ、上記試験用デ
ータの伝送された径路の正常性が検出される。
This returned test data is used for the current and backup switch modules SM 0 ,
In each SM 1 , the data is extracted by the dropper DR, reaches the signal reception distribution device SRD, and is further sent to the processor MPR, where the transmitted test data is compared with the received data, and the transmitted test data is Path health is detected.

上記の本発明のデイジタル交換機における折返
し試験方法を要約すれば、まず、現用スイツチ・
モジユールSM0よりの下りのインタフエース・ハ
イウエイ(BW−HW00)を経て送られた試験用
データをインタフエース共通部SHC0において、
現用スイツチ・モジユールSM0および予備スイツ
チ・モジユールSM1への上りインタフエース・ハ
イウエイ(FW−HW00)および(FW−HW10
の両方に折返して、それぞれの径路の正常性を検
出し、少くとも一方に異常を検出すれば、さら
に、予備スイツチ・モジユールを現用に切替える
ことなく、予備スイツチ・モジユールSM1よりの
下りインタフエース・ハイウエイ(BW−HW10
を経て試験用データを送り、これを上記と同様に
現用スイツチ・モジユールSM0および予備スイツ
チ・モジユールSM1への上りインタフエース・ハ
イウエイ(FW−HW00)および(FW−HW10
の両方に折返し、それぞれの径路の正常性を検出
する。
To summarize the loopback test method for the digital switch of the present invention described above, first,
The test data sent via the downbound interface highway (BW-HW 00 ) from module SM 0 is sent to the interface common section SHC 0 .
Inbound interface highways (FW -HW 00 ) and (FW-HW 10 ) to working switch module SM 0 and standby switch module SM 1
If the normality of each path is detected, and an abnormality is detected in at least one of the・Highway (BW-HW 10 )
The test data is sent via the uplink interface highway (FW-HW 00 ) and (FW-HW 10 ) to the working switch module SM 0 and standby switch module SM 1 in the same way as above.
The normality of each route is detected.

上記の、試験用データを現用系から送出し現用
系および予備系で受信させて行なう折返し試験に
おいて、 (a) 試験用データが現用系および予備系の両方で
正常に受信されれば、現用系のバツクワード時
間スイツチTSWB0、フオワード時間スイツチ
TSWF0およびインタフエース共通部SHC0
正常、(予備系はフオワード時間スイツチ
TSWF0のみ正常)と判断。
In the loopback test described above, in which test data is sent from the working system and received by the working system and the protection system, (a) If the test data is successfully received by both the working system and the protection system, the working system Backward time switch TSWB 0 , forward time switch
TSWF 0 and interface common section SHC 0 are normal (protection system is forward time switch
Only TSWF 0 is normal).

(b) 試験用データが現用系あるいは予備系の一方
のみで正常に受信されれば、正常に受信されな
かつた系のフオワード時間スイツチが不良と判
断。
(b) If the test data is normally received on only one of the active system or the backup system, it is determined that the forward time switch of the system that was not properly received is defective.

(c) 試験用データが両系とも正常に受信されなけ
れば、現用系のバツクワード時間スイツチ、イ
ンタフエース共通部、あるいは現用および予備
の両系のそれぞれのフオワード時間スイツチの
不良と判断される。
(c) If the test data is not received normally on both systems, it is determined that the working system's backward time switch, the interface common section, or the respective forward time switches of both the working and standby systems are defective.

さらに上記の試験用データを予備系から送出
して現用系および予備系で受信させて行なう折
返し試験において、 (d) 試験用データが現用系および予備系の両方で
正常に受信されれば、予備系のバツクワード時
間スイツチTSWB0およびインタフエース共通
部SHC0は正常と判断。
Furthermore, in the loopback test in which the above test data is sent from the backup system and received by the working system and the backup system, (d) If the test data is successfully received by both the working system and the backup system, then the backup System backward time switch TSWB 0 and interface common section SHC 0 are determined to be normal.

(e) 上記(b)と同様。(e) Same as (b) above.

(f) 試験用データが両系ともに正常に受信されな
ければ予備系のバツクワード時間スイツチ、イ
ンタフエース共通部、あるいは現用および予備
の両系のそれぞれのフオワード時間スイツチの
不良と判断される。
(f) If the test data is not received normally on both systems, it is determined that the backup system's backward time switch, the interface common section, or the respective forward time switches of both the active and backup systems are defective.

さらに、プロセツサMPRは上記の試験の結
果得られた情報をプログラムにより処理し、イ
ンタフエース共通部、スイツチ・モジユール、
フオワード時間スイツチ、バツクワード時間ス
イツチ等何れの個所に障害があるかを判別す
る。
Furthermore, the processor MPR processes the information obtained as a result of the above tests using a program, and
Determine which location, such as the forward time switch or the backward time switch, is at fault.

本発明は、上記実施例に限定されるものではな
く、その技術的範囲で種々の変形が可能である。
2重化されていない回線対応部のインタフエース
共通部と2重化されたスイツチ・モジユールを有
するデイジタル交換機において、従来は現用スイ
ツチ・モジユールから試験データを送出し、上記
のインタフエース共通部で現用および予備スイツ
チ・モジユールの両方に折返し、折返し試験を行
なつていたが、上記インタフエース共通部と2重
化されたスイツチ・モジユールとの間のインタフ
エース部の正常、異常に関する情報は既述のよう
に少く、上記試験結果から障害個所の推定は行う
ことができたが高い確度を以て判別することは不
可能であつた。本発明によれば、従来の上記折返
し試験の他に、さらに予備のスイツチ・モジユー
ルから試験用データを送出して上記と同様の折返
し試験を行なうようにしたので、上記インタフエ
ース部その他における正常、異常に関する情報が
多く得られ、これにより従来方式に比して高い確
度で障害個所を別し得られ、この種の交換機の保
守を簡単化、容易化することができる効果があ
る。さらに稼働中の交換機において、動作が安定
しているとは必ずしも言えない予備スイツチ・モ
ジユールを現用に切替えずに試験が可能であるの
で、この試験に際し、交換機の動作に悪影響を及
ぼさない利点がある。
The present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made within the technical scope thereof.
Conventionally, in digital exchanges that have an interface common part of the non-duplicated line compatible part and a duplicated switch module, test data is sent from the active switch module and used in the interface common part mentioned above. A loopback test was conducted on both the switch module and the backup switch module, but the information regarding normality and abnormality of the interface section between the common interface section and the duplicated switch module is as described above. Although it was possible to estimate the location of the failure from the above test results, it was not possible to identify it with a high degree of accuracy. According to the present invention, in addition to the above-mentioned conventional loopback test, a loopback test similar to the above is performed by sending test data from a spare switch module, so that normality at the interface section and other parts can be determined. A large amount of information regarding the abnormality can be obtained, which makes it possible to isolate the location of the failure with higher accuracy than in the conventional method, and has the effect of simplifying and facilitating the maintenance of this type of exchange. Furthermore, since it is possible to test a switching equipment that is in operation without switching over to the active switch module, which cannot necessarily be said to operate stably, this test has the advantage that it does not adversely affect the operation of the switching equipment. .

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明の実施が可能なスイツチ・モ
ジユールを2重化した従来のデイジタル交換機の
一例の接続構成図、第2図は本発明を実施するた
めの回線対応部のインタフエース共通部の一例の
接続図である。 SHC0〜SHCi……回線対応部のインタフエース
共通部、SM0,SM1……2重化されたスイツチ・
モジユール、MPR……プロセツサ、MPX,
MPX0〜MPXo……マルチプレクサ、DMPX,
DMPX0〜DMPXo……デマルチプレクサ、D…
…ドライバ、R……レシーバ、RSEL……ルー
ト・セレクタ、R−FF……ルート・フリツプフ
ロツプ、TSWF0〜TSWFo……フオワード時間ス
イツチ、TSWB0〜TSWBo……バツクワード時
間スイツチ、SSW……空間スイツチ、SRD……
信号受信分配装置、DR……ドロツパ、I……イ
ンサータ、REG1,REG2……レジスタ、RS……
ルート・セレクタ、SEL……セレクタ、G……ゲ
ート、PM……パターン・マツチヤ。
FIG. 1 is a connection configuration diagram of an example of a conventional digital exchange with dual switch modules capable of implementing the present invention, and FIG. 2 is a common interface section of a line corresponding section for implementing the present invention. It is a connection diagram of an example. SHC 0 ~ SHC i ...Interface common part of the line support section, SM 0 , SM 1 ...Duplicated switch
Module, MPR...Processor, MPX,
MPX 0 ~ MPX o ……Multiplexer, DMPX,
DMPX 0 ~ DMPX o ...Demultiplexer, D...
...Driver, R...Receiver, RSEL...Root selector, R-FF...Root flip-flop, TSWF 0 to TSWF o ...Forward time switch, TSWB 0 to TSWB o ...Backward time switch, SSW...Space Switch, SRD...
Signal reception distribution device, DR...Dropper, I...Inserter, REG 1 , REG 2 ...Register, RS...
Route selector, SEL...selector, G...gate, PM...pattern matsutiya.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 2重化されたスイツチ・モジユールと、2重
化されない回線対応部のインタフエース共通部
と、上記スイツチ・モジユールのそれぞれと上記
インタフエース共通部とを接続するインタフエー
ス・ハイウエイとを有し、上記インタフエース・
ハイウエイの特定タイム・スロツトを折返し試験
用タイム・スロツトとして割当て、スイツチ・モ
ジユールから上記タイム・スロツトに送られた試
験用データを上記インタフエース共通部において
折返して試験を行なう構成のデイジタル交換機に
おいて、 平常は現用スイツチ・モジユールから上記試験
用タイム・スロツトに試験データを送出させて該
試験データと折返されたデータとを照合し、照合
の結果異常を検出した時は、現用スイツチ・モジ
ユールから上記試験用タイム・スロツトに予備ス
イツチ・モジユールからの上記試験用タイム・ス
ロツトを選択させる指示データを送出させると共
に予備スイツチ・モジユールから試験データを送
出させて該試験データと折返されたデータとを照
合する手段を設け、 またインタフエース共通部には、現用スイツ
チ・モジユールからのインタフエース・ハイウエ
イの試験用タイム・スロツトの内容が上記指示デ
ータであるか否かを判別する判別手段と、 上記判別手段により上記指示データでないと判
別した場合には現用スイツチ・モジユールからの
インタフエース・ハイウエイの試験用タイム・ス
ロツトの内容を現用及び予備スイツチ・モジユー
ルへのインタフエース・ハイウエイに折返し、 上記判別手段により上記指示データであると判
別した場合には、予備スイツチ・モジユールから
のインタフエース・ハイウエイの試験用タイム・
スロツトの内容を現用及び予備スイツチ・モジユ
ールへのインタフエース・ハイウエイに折返すよ
う切替える折返し手段とを設けた ことを特徴とするデイジタル交換機。
[Scope of Claims] 1. A duplexed switch module, an interface common part of a non-duplicated line corresponding part, and an interface that connects each of the switch modules and the interface common part. The above-mentioned interface/
In a digital switch that is configured to allocate a specific time slot on the highway as a loopback test time slot, and perform a test by looping back the test data sent from the switch module to the above time slot at the above interface common section, The test data is sent from the current switch module to the above test time slot, and the test data is compared with the returned data. If an abnormality is detected as a result of the comparison, the test data is sent from the current switch module to the above test time slot. Means for causing the time slot to transmit instruction data from the backup switch module to select the test time slot, and for causing the backup switch module to transmit test data and comparing the test data with the returned data. In addition, the interface common part is provided with a determining means for determining whether or not the contents of the interface highway test time slot from the current switch module correspond to the above instruction data; If it is determined that it is not data, the content of the test time slot of the interface highway from the working switch module is returned to the interface highway to the working and standby switch modules, and the above-mentioned instruction data is determined by the above-mentioned discrimination means. If it is determined that there is an interface highway test time from the spare switch module.
1. A digital switch, characterized in that it is provided with return means for switching the contents of the slot back to the interface highway to the active and standby switch modules.
JP56102569A 1981-06-30 1981-06-30 Folding test system Granted JPS583452A (en)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS552113A (en) * 1978-06-19 1980-01-09 Japan Styrene Paper Corp Method and metal member for securing heattinsulating board

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