JPH04352158A - Production of electrophotographic sensitive body - Google Patents

Production of electrophotographic sensitive body

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JPH04352158A
JPH04352158A JP15372091A JP15372091A JPH04352158A JP H04352158 A JPH04352158 A JP H04352158A JP 15372091 A JP15372091 A JP 15372091A JP 15372091 A JP15372091 A JP 15372091A JP H04352158 A JPH04352158 A JP H04352158A
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photoconductive layer
atoms
layer
substrate
electrophotographic photoreceptor
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Hirokazu Otoshi
大利 博和
Tatsuji Okamura
竜次 岡村
Tetsuya Takei
武井 哲也
▲高▼井 康好
Yasuyoshi Takai
Hiroyuki Katagiri
宏之 片桐
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Abstract

PURPOSE:To inexpensively and stably produce a non-single crystalline silicon sensitive body free from surface cloudiness and having slight unevenness in electrification ability such as electrostatic charge-ability, sensitivity and halftone without causing environmental pollution. CONSTITUTION:An electric conductive substrate 101 is machined, washed with water 121 and brought into contact with pure water 131 and a first photoconductive layer of non-single crystalline SiC:H in which carbon is largely distributed in the lower part, a second photoconductive layer of non-single crystalline Si:H and a surface layer consisting of Si, C, H and F are laminated on the substrate 101 by plasma CVD.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、導電性基体上にシリコ
ンを母体とする光受容部層を形成した電子写真感光体の
製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor in which a light-receiving layer made of silicon is formed on a conductive substrate.

【0002】本発明は、電子写真複写機、レーザービー
ムプリンター、LEDプリンター、液晶プリンター、レ
ーザー製版機等、電子写真技術応用分野に広く用いるこ
とができる電子写真感光体の製造方法に関する。
The present invention relates to a method for producing an electrophotographic photoreceptor that can be widely used in electrophotographic application fields such as electrophotographic copying machines, laser beam printers, LED printers, liquid crystal printers, and laser plate making machines.

【0003】0003

【従来の技術】従来、電子写真感光体に用いるものとし
て、非単結晶堆積膜、例えば水素及び(または)ハロゲ
ン(例えば弗素、塩素等)で補償されたアモルファスシ
リコン等のアモルファス堆積膜が提案され、その幾つか
は実用に付されている。こうした堆積膜の形成方法とし
て従来、、スパッタリング法、熱により原料ガスを分解
する方法(熱CVD法)、光により原料ガスを分解する
方法(光CVD法)、プラズマにより原料ガスを分解す
る方法(プラズマCVD法)等、多数の方法が知られて
いる。中でも、プラズマCVD法、すなわち、原料ガス
を直流、高周波またはマイクロ波グロー放電等によって
分解し、基体上に薄膜状に堆積膜を形成する方法は、電
子写真用アモルファスシリコン堆積膜の形成方法に最適
であり、現在実用化が非常に進んでいる。こうした例が
例えば特開昭54−86341号公報に記載されている
Conventionally, non-single crystal deposited films, such as amorphous deposited films such as amorphous silicon compensated with hydrogen and/or halogen (for example, fluorine, chlorine, etc.), have been proposed for use in electrophotographic photoreceptors. , some of which have been put into practical use. Conventional methods for forming such deposited films include sputtering, a method of decomposing source gas with heat (thermal CVD method), a method of decomposing source gas with light (photoCVD method), and a method of decomposing source gas with plasma ( Many methods are known, such as plasma CVD (plasma CVD). Among them, the plasma CVD method, in which a raw material gas is decomposed by direct current, high frequency, or microwave glow discharge, and a thin film is formed on a substrate, is the most suitable method for forming amorphous silicon deposited films for electrophotography. , and its practical application is currently very advanced. Such an example is described in, for example, Japanese Unexamined Patent Publication No. 54-86341.

【0004】このアモルファスシリコン感光体は、無公
害であり、高画質、高耐久といった特徴があり、現在実
用に付されているアモルファスシリコン感光体も、十分
にその特徴を現わしているものである。しかしながら、
アモルファスシリコン感光体が今後、ますます普及して
いくためにはさらにコストダウン、さらに電気特性のア
ップ、さらに高耐久が望まれている。
[0004] This amorphous silicon photoreceptor has the characteristics of being non-polluting, high image quality, and highly durable, and the amorphous silicon photoreceptor currently in practical use fully exhibits these characteristics. . however,
In order for amorphous silicon photoreceptors to become more widespread in the future, further cost reduction, further improvement in electrical properties, and even higher durability are desired.

【0005】また、近年では地球規模の環境汚染が問題
になってきており、環境汚染につながる物はもちろんの
こと、製造段階での使用についても早急に改善しなけれ
ばならなくなっている。アモルファスシリコン感光体自
身は無公害であるが、それを製造する段階において感光
体の基体部分であるシリンダーの洗浄から、製造後の梱
包までこうした点から再検討をおこなう必要が生じてき
ている。
[0005] Furthermore, in recent years, environmental pollution has become a problem on a global scale, and there is an urgent need to improve not only the products that lead to environmental pollution, but also the use of products at the manufacturing stage. Although the amorphous silicon photoreceptor itself is non-polluting, it has become necessary to reconsider everything from cleaning the cylinder, which is the base portion of the photoreceptor, to packaging after manufacturing.

【0006】こうした点から従来のアモルファスシリコ
ン感光体を洗浄する方法について見直してみる。アモル
ファスシリコン感光体を作製する際、膜を作製する前の
基体の洗浄については、従来から注意が必要であること
が知られている。アモルファスシリコン感光体を堆積す
るための基体としては、帯電、露光、現像、転写、クリ
ーニングといった電子写真プロセスに耐え、また画質を
落さないために常に位置精度を高く保つため、金属を使
用する場合が多い。そのため、特に加工性、寸法安定性
などの優れているアルミニウム合金が広く採用されてい
る。一般にこれら基体の加工時には、切削油等の油系物
質を使い旋盤加工される。そのため、加工後の基体には
必ず油系物質の残査があり、さらには加工時の切削粉、
空気中の粉塵等が付着している。洗浄が不十分でこれら
の残査が残っていると、欠陥の無い均一な堆積膜が形成
できなかったり、十分な電気特性が得られず、特に長時
間使ったとき画像不良を引き起こしてしまうといった問
題点が知られている。従って、電子写真感光体を製造す
る際には、細心の注意を払い基体を十分に洗浄すること
が必要である。
From this point of view, the conventional method of cleaning an amorphous silicon photoreceptor will be reviewed. It has been known that when manufacturing an amorphous silicon photoreceptor, care must be taken in cleaning the substrate before forming a film. When using metal as a substrate for depositing an amorphous silicon photoreceptor, it can withstand electrophotographic processes such as charging, exposure, development, transfer, and cleaning, and also maintains high positional accuracy to avoid deterioration of image quality. There are many. For this reason, aluminum alloys, which have particularly excellent workability and dimensional stability, are widely used. Generally, when processing these substrates, lathe processing is performed using an oil-based substance such as cutting oil. Therefore, there is always a residue of oil-based substances on the substrate after processing, and there is also cutting powder during processing.
Dust, etc. in the air is attached. If these residues remain due to insufficient cleaning, it may not be possible to form a uniform deposited film with no defects, it may not be possible to obtain sufficient electrical characteristics, and it may cause image defects, especially when used for a long time. Problems are known. Therefore, when manufacturing an electrophotographic photoreceptor, it is necessary to pay close attention and thoroughly clean the substrate.

【0007】こうした中で、例えば特開昭61−171
798号公報には電子写真感光体の基体の加工方法に関
する技術が記載されている。該公報には、特定の成分に
よる切削油を使用し、基体を切削することにより良好な
品質のアモルファスシリコン等の電子写真感光体を得る
技術が開示されている。また該公報中には切削後、基体
をトリエタン(トリクロルエタン:C2 H3 Cl3
 )で洗浄することが記載されている。このような方法
により洗浄された基体を用いて作製された感光体はある
程度の特性が得られ、特に大きな問題もなく現在広く使
用されるようになっているがトリクロルエタンの様な有
機溶剤は、人体のみならず地域環境に悪影響を与えるこ
とから、その使用を避けなければならないものである。
Under these circumstances, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 171-1989
No. 798 describes a technique related to a method of processing a substrate of an electrophotographic photoreceptor. This publication discloses a technique for obtaining an electrophotographic photoreceptor of good quality such as amorphous silicon by cutting a substrate using a cutting oil with specific components. The publication also states that after cutting, the substrate is treated with triethane (trichloroethane: C2 H3 Cl3
). Photoreceptors manufactured using substrates cleaned by this method have certain characteristics and are now widely used without any major problems, but organic solvents such as trichloroethane Its use must be avoided because it has a negative impact not only on the human body but also on the local environment.

【0008】この問題を解決すべく、近年では前述の洗
浄に替わって水系による基体の洗浄方法がいくつか提案
されている。
In order to solve this problem, several aqueous cleaning methods have been proposed in recent years to replace the above-mentioned cleaning method.

【0009】例えば、特開昭63−264764号公報
には、水ジェットにより基体表面を粗面化する技術が開
示されている。
For example, Japanese Unexamined Patent Publication No. 63-264764 discloses a technique for roughening the surface of a substrate using a water jet.

【0010】また、特開平1−130159号公報には
、水ジェットにより電子写真用の基体を洗浄する技術が
開示されている。該公報には感光体の例として、セレン
、有機光導電体と同時にアモルファスシリコンが挙げら
れており、アモルファスシリコン感光体にも、当技術が
応用できることが示唆されている。しかしながら該公報
には実際に行なった時の問題点について、特にプラズマ
CVD法特有の問題点については全く触れられていない
のが実情である。
Furthermore, Japanese Patent Laid-Open No. 1-130159 discloses a technique for cleaning an electrophotographic substrate using a water jet. This publication mentions amorphous silicon as well as selenium and an organic photoconductor as examples of photoconductors, and suggests that the present technology can be applied to amorphous silicon photoconductors as well. However, the actual situation is that this publication does not mention at all the problems encountered in actual implementation, particularly the problems unique to the plasma CVD method.

【0011】また一方、アモルファスシリコン感光体の
高品質化の検討も層構成の検討をおこなうことにより着
実に進歩している。
On the other hand, studies on improving the quality of amorphous silicon photoreceptors are steadily progressing by studying the layer structure.

【0012】例えば、特開昭54−145540号公報
には、炭素を化学修飾物質として0.1〜30原子%含
むアモルファスシリコンを電子写真感光体の光導電層と
して使用すると、暗抵抗が高く、光感度の良好な優れた
電子写真特性を示すことが示されている。
For example, Japanese Patent Laid-Open No. 54-145540 discloses that when amorphous silicon containing 0.1 to 30 atom % of carbon as a chemical modifier is used as a photoconductive layer of an electrophotographic photoreceptor, the dark resistance is high; It has been shown to exhibit excellent electrophotographic properties with good photosensitivity.

【0013】また、特開昭57−119357号公報に
は、アモルファスシリコン中に炭素原子を基体側に多く
分布させることによってすぐれた特性の電子写真感光体
が得られることが開示されている。
Furthermore, Japanese Patent Laid-Open No. 57-119357 discloses that an electrophotographic photoreceptor with excellent characteristics can be obtained by distributing more carbon atoms toward the substrate side in amorphous silicon.

【0014】こうした技術により、電子写真感光体の性
能は改善されてきているがまだまだ改善の余地が残って
いるのが現状である。
Although the performance of electrophotographic photoreceptors has been improved by these techniques, there is still room for improvement.

【0015】こうした状況のなかで高画質、高耐久、無
公害といった点から従来持っている問題点を次に列挙す
る。
Under these circumstances, conventional problems in terms of high image quality, high durability, and non-pollution are listed below.

【0016】まず第1にポチと呼ばれる黒点状あるいは
白点状の画像欠陥の低減は大きく望まれている問題点の
1つである。現在では、高画質の要求から従来あまり問
題にされなかった微小な大きさのポチの低減までが望ま
れるようになってきている。このポチの原因についての
解析も日々進んでおり、いくつかの知見が得られるよう
になっている。ポチの原因はほとんどがアモルファスシ
リコン膜を堆積している時に発生するダスト等が原因で
ある球状突起と呼ばれる異常成長によるものである。さ
らにそれ以外に耐久を続けていくにしたがって増えてく
る耐久ポチというものもあり、これはトナーの飛散や紙
粉が分離帯電器へ混入することが原因である。こうした
いくつかの原因から起こる画像欠陥を減らすために感光
体を製造する者としては、堆積膜形成装置内のクリーン
度のアップはもちろんのこと、堆積膜を形成する方法の
改良や製法面からアモルファスシリコン感光体の耐圧の
アップ等の対策をおこなっていかなければならない。ま
た、近年の電子写真複写機には、より高画質、高機能が
望まれていることから、写真などのハーフトーンを含む
原稿を忠実に再現できることも必要不可欠になっている
。そのため電子写真感光体には、特にハーフトーンのむ
らの低減が切望されている。特に近年普及してきたフル
カラー複写機においては、このむらは色の微妙なむらと
なり、視覚的に明らかに認識されるものとなるため、大
きな問題となっている。
First of all, reduction of image defects in the form of black dots or white dots called spots is one of the problems that is highly desired. Nowadays, due to the demand for high image quality, there is a desire to reduce the small size of spots, which has not been a problem in the past. Analysis of the cause of this spot is progressing day by day, and some new knowledge is being obtained. Most of the spots are caused by abnormal growth called spherical protrusions caused by dust generated during the deposition of the amorphous silicon film. Furthermore, there are also durability spots that increase as the durability continues, and this is caused by toner scattering and paper dust entering the separation charger. In order to reduce image defects caused by these various causes, those who manufacture photoreceptors must not only improve the cleanliness of the deposited film forming equipment, but also improve the method of forming deposited films and reduce the number of amorphous films from the production process. Measures must be taken to increase the voltage resistance of the silicon photoreceptor. Furthermore, in recent years, electrophotographic copying machines are desired to have higher image quality and higher functionality, so it is also essential that they be able to faithfully reproduce documents containing halftones, such as photographs. Therefore, in electrophotographic photoreceptors, it is particularly desired to reduce unevenness in halftones. Particularly in full-color copying machines that have become popular in recent years, this unevenness becomes a subtle unevenness in color that is clearly recognized visually, and is therefore a big problem.

【0017】またさらには電子写真感光体には、高画質
、高感度を維持し、あらゆる環境下で大幅に耐久性能を
伸ばすことが望まれている。アモルファスシリコン感光
体の最も得意とするこの耐久特性は、複写機本体の寿命
がくるまで交換する必要がないことから、感光体を消耗
品と見るのではなく、複写機の部品の1部とみなし、感
光体の交換といったメンテナンスから開放される可能性
が見え始めている。そこで、更なる新製品には複写機本
体と同レベルの、もしくはそれ以上の耐久性が要求され
るようになってきており、耐久性も更に大幅に伸ばすこ
とが望まれている。こうした要求のなかで従来では高帯
電能と画像流れの防止を高いレベルで両立し、あらゆる
環境下での耐久性を大幅に伸ばすことが難しく、まだ不
十分であった。
Furthermore, it is desired that electrophotographic photoreceptors maintain high image quality and high sensitivity and have significantly increased durability under all environments. This durable property, which is the best feature of amorphous silicon photoreceptors, means that there is no need to replace them until the end of the lifespan of the copying machine itself, so the photoreceptor is not considered a consumable item, but rather a part of the copying machine. We are beginning to see the possibility of being free from maintenance such as replacing photoreceptors. Therefore, new products are required to have durability equal to or higher than that of the copying machine itself, and it is desired that the durability be further increased significantly. In response to these demands, it has been difficult to achieve both high charging performance and prevention of image blurring at a high level, and to significantly extend durability in all environments, and this has not been sufficient.

【0018】こうした問題点について導電性基体の洗浄
等の工程から電子写真感光体を製造する工程まですべて
を見直し、トータルの検討が必要になっているのが現状
である。
[0018] In order to solve these problems, it is currently necessary to review and comprehensively consider everything from the process of cleaning the conductive substrate to the process of manufacturing the electrophotographic photoreceptor.

【0019】[0019]

【発明が解決しようとする課題】本発明は上記の点に鑑
み成されたものであって、上述のごときシリコン原子を
母体とする材料で構成された従来の光受容層を有する電
子写真感光体における諸問題を解決し、電気特性が非常
に優れ、画像欠陥を非常に低減した感光体を安価に歩留
まり良く供給することを目的とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above points, and provides an electrophotographic photoreceptor having a conventional photoreceptive layer made of a material containing silicon atoms as described above. The purpose of this invention is to provide a photoreceptor with excellent electrical characteristics and extremely reduced image defects at low cost and with a high yield.

【0020】すなわち、本発明の目的は有機溶媒を製造
工程で用いず、従って環境保全にすぐれ、しかも製造し
た電子写真感光体の外観不良での歩留まりを大幅に上げ
、画像欠陥、ハーフトーンむら等の特性に特に優れ、使
用環境を選ばない電子写真感光体を低コストで製造する
方法を提供することにある。
That is, an object of the present invention is to avoid the use of organic solvents in the manufacturing process, which is therefore environmentally friendly, and to significantly increase the yield of manufactured electrophotographic photoreceptors with poor appearance, thereby eliminating image defects, halftone unevenness, etc. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor at a low cost that has particularly excellent properties and can be used in any environment.

【0021】本発明の他の目的は、導電性基体上に設け
られる層と導電性基体との間や積層される層の各層間に
おける密着性に優れ、均一で品質の高いシリコン原子を
母体とする材料で構成された光受容層を有する電子写真
感光体を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide excellent adhesion between a layer provided on a conductive substrate and the conductive substrate as well as between each of the laminated layers, and to use uniform and high quality silicon atoms as a base material. An object of the present invention is to provide an electrophotographic photoreceptor having a photoreceptive layer made of a material.

【0022】本発明のさらに他の目的は、電子写真感光
体として適用させた場合、静電像形成のための帯電処理
の際の電荷保持能力が充分であり、解像度の高い高品質
画像を容易に得ることができる、電子写真法にきわめて
有効に適用され得る優れた電子写真特性を示す、通常の
シリコン原子を母体とする材料で構成された光受容層を
有する電子写真感光体を製造する方法を提供することに
ある。
Still another object of the present invention is that when applied as an electrophotographic photoreceptor, it has sufficient charge retention ability during charging processing for electrostatic image formation, and can easily produce high-quality images with high resolution. A method for producing an electrophotographic photoreceptor having a photoreceptor layer composed of a common silicon-based material, which exhibits excellent electrophotographic properties that can be obtained in the electrophotography process and can be applied very effectively to electrophotography. Our goal is to provide the following.

【0023】[0023]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、従来の堆
積膜形成方法における上述の問題点を克服すべく、生産
性とコストダウンの点、また環境保護の立場から鋭意検
討をおこなった結果、上記目的を達成できたものである
[Means for Solving the Problems] In order to overcome the above-mentioned problems in conventional deposited film forming methods, the present inventors have conducted intensive studies from the viewpoint of productivity and cost reduction, as well as from the standpoint of environmental protection. As a result, the above objectives were achieved.

【0024】本発明は該知見に基づいて完成せしめたも
のであり、その骨子とするところは、(a)導電性基体
の表面を所定の精度で切削する工程、(b)切削後の基
体表面を水で洗浄する工程、(c)洗浄した基体表面を
純水に接触させて基体表面を清浄化する工程、(d)清
浄化した基体表面に、全層にわたって炭素原子および水
素原子を含有すると共に前記炭素原子の含有量が層厚方
向に不均一でかつ前記導電性基体側において高く分布し
てなるシリコン原子と炭素を母体とする非単結晶材料で
構成された第1の光導電層をプラズマCVD法により形
成する工程、(e)前記形成した第1の光導電層上にシ
リコン原子を母体とする第2の光導電層をプラズマCV
D法より形成する工程、(f)前記形成した第2の光導
電層上にシリコン原子を母体とし炭素原子および水素原
子を含有した表面層をプラズマCDV法により形成する
工程、により電子写真感光体を製造するもので、前記第
1の光導電層中の炭素原子の含有量が前記導電性基体と
の界面において0.5〜50原子%、前記第2の光導電
層との界面又は界面近傍において実質的に0%であり、
前記光導電層中の水素原子の含有量が1〜40原子%で
あること、前記表面層中の炭素原子の含有量が40〜9
0原子%であり、かつハロゲンを含み、該ハロゲン原子
の含有量が20原子%以下、かつ水素原子とハロゲン原
子の含有量の和が30〜70原子%であること、前記第
1の光導電層中にハロゲンを含有すること、前記第1の
光導電層中のハロゲンが、前記第2の光導電層との界面
、または界面近傍において最大値を有するように分布す
ることを含む。
The present invention has been completed based on this knowledge, and its main points are (a) cutting the surface of a conductive substrate with a predetermined precision; and (b) cutting the surface of the substrate after cutting. (c) contacting the cleaned substrate surface with pure water to clean the substrate surface; (d) the cleaned substrate surface contains carbon atoms and hydrogen atoms throughout the entire layer; and a first photoconductive layer made of a non-single crystal material containing silicon atoms and carbon, in which the carbon atom content is non-uniform in the layer thickness direction and highly distributed on the conductive substrate side. (e) forming a second photoconductive layer containing silicon atoms as a matrix on the first photoconductive layer formed by plasma CVD;
(f) forming a surface layer containing silicon atoms as a matrix and containing carbon atoms and hydrogen atoms on the second photoconductive layer formed by the plasma CDV method; wherein the content of carbon atoms in the first photoconductive layer is 0.5 to 50 atomic % at the interface with the conductive substrate, and at or near the interface with the second photoconductive layer. is essentially 0% in
The content of hydrogen atoms in the photoconductive layer is 1 to 40 at%, and the content of carbon atoms in the surface layer is 40 to 9.
0 atom % and contains a halogen, the content of the halogen atom is 20 atom % or less, and the sum of the content of hydrogen atoms and halogen atoms is 30 to 70 atom %, the first photoconductive This includes containing halogen in the layer, and distributing the halogen in the first photoconductive layer so that it has a maximum value at or near the interface with the second photoconductive layer.

【0025】以下、アルミニウム合金製シリンダーを導
電性基体として用いて、本発明の電子写真感光体の製造
方法により電子写真感光体を実際に形成する手順の一例
を、図1に示す導電性基体の前処理装置、及び図2(a
)、(b)に示すマイクロ波CVD法による堆積膜形成
装置を用いて説明する。
An example of the procedure for actually forming an electrophotographic photoreceptor according to the method of manufacturing an electrophotographic photoreceptor of the present invention using an aluminum alloy cylinder as a conductive substrate will be described below. Pretreatment device, and Figure 2 (a
), (b) will be explained using the deposited film forming apparatus using the microwave CVD method.

【0026】図1において、精密切削用にエアダンパー
付旋盤(PNEUMOPRECLSION INC.製
)に、ダイヤモンドバイト(商品名:ミラクルバイト、
東京ダイヤモンド製)を、シリンダー中心角に対して5
°の角のすくい角を得るようにセットする。次に、この
旋盤の回転フランジに、基体を真空チャックし、付設し
たノズルから白燈油噴霧、同じく付設した真空ノズルか
ら切り粉の吸引を併用しつつ、周速1000m /mi
n 、送り速度0.01mm/Rの条件で外形が108
mmとなるように鏡面切削を施す。切削が終了した基体
は、基体前処理装置により基体表面の処理を行う。図1
に示す基体前処理装置は、処理部102と基体搬送機構
103よりなっている。処理部102は、基体投入台1
11、基体洗浄槽121、純水接触槽131、乾燥槽1
41、基体搬出台151よりなっている。洗浄槽121
、純水接触槽131とも液の温度を一定に保つための温
度調節装置(図示せず)が付いている。搬送機構103
は、搬送レール165と搬送アーム161よりなり、搬
送アーム161は、レール165上を移動する移動機構
162、導電性基体101を保持するチャッキング機構
163及びチャッキング機構163を上下させるための
エアーシリンダー164よりなっている。切削後、投入
台111上に置かれた導電性基体101は、搬送機構1
03により洗浄槽121に搬送される。洗浄槽121中
の界面活性剤水溶液によりなる洗浄液122中で超音波
処理されることにより表面に付着している切削油及び切
り粉の洗浄が行なわれる。次に導電性基体101は、搬
送機構103により純水接触槽131へ運ばれ、25℃
の温度に保たれた抵抗率17.5MΩ−cmの純水をノ
ズル132から50Kg・f/cm2の圧力で吹き付け
られる。純水接触工程の終わった導電性基体101は搬
送機構103により乾燥槽141へ移動され、ノズル1
42から高温の高圧空気を吹き付けられ乾燥される。乾
燥工程の終了した導電性基体101は、搬送機構103
により搬出台151に運ばれる。
In FIG. 1, a diamond cutting tool (product name: Miracle Bit,
(manufactured by Tokyo Diamond) to the center angle of the cylinder.
Set to obtain a rake angle of °. Next, the base body was vacuum chucked on the rotating flange of this lathe, and white kerosene was sprayed from an attached nozzle, while cutting chips were sucked from the same attached vacuum nozzle at a circumferential speed of 1000 m/mi.
n, the outer diameter is 108 at a feed rate of 0.01 mm/R.
Perform mirror cutting to obtain a diameter of mm. After cutting, the surface of the substrate is processed by a substrate pretreatment device. Figure 1
The substrate preprocessing apparatus shown in FIG. 1 includes a processing section 102 and a substrate transport mechanism 103. The processing unit 102 includes a substrate loading table 1
11, Substrate cleaning tank 121, pure water contact tank 131, drying tank 1
41, and a substrate unloading table 151. Cleaning tank 121
Both the pure water contact tank 131 are equipped with a temperature control device (not shown) for keeping the temperature of the liquid constant. Transport mechanism 103
consists of a transport rail 165 and a transport arm 161, and the transport arm 161 includes a moving mechanism 162 that moves on the rail 165, a chucking mechanism 163 that holds the conductive substrate 101, and an air cylinder that moves the chucking mechanism 163 up and down. It consists of 164. After cutting, the conductive substrate 101 placed on the input table 111 is transferred to the transport mechanism 1
03 to the cleaning tank 121. Cutting oil and chips adhering to the surface are cleaned by ultrasonic treatment in a cleaning liquid 122 made of an aqueous surfactant solution in a cleaning tank 121. Next, the conductive substrate 101 is transported to a pure water contact tank 131 by a transport mechanism 103, and is heated to a temperature of 25°C.
Pure water with a resistivity of 17.5 MΩ-cm maintained at a temperature of 17.5 MΩ-cm is sprayed from the nozzle 132 at a pressure of 50 Kg·f/cm 2 . The conductive substrate 101 that has undergone the pure water contact step is moved to the drying tank 141 by the conveyance mechanism 103, and is placed in the nozzle 1.
It is dried by blowing high-temperature, high-pressure air from 42. The conductive substrate 101 after the drying process is transferred to the transport mechanism 103
It is carried to the unloading table 151 by.

【0027】次にこれらの切削加工及び前処理の終了し
た導電性基体表面に図2(a)、(b)に示すマイクロ
波プラズマCVD法による光導電部材堆積膜の形成装置
により、アモルファスシリコンを主体とした堆積膜を形
成する。図2(a)、(b)において、201は反応容
器であり、真空気密化構造を成している。又、202は
、マイクロ波電力を反応容器201内に効率よく透過し
、かつ真空気密を保持し得るような材料(例えば石英ガ
ラス、アルミナセラミックス等)で形成されたマイクロ
波導入誘電体窓である。203はマイクロ波電力の伝送
を行う導波管であり、マイクロ波電源から反応容器近傍
までの矩形の部分と、反応容器に挿入された円筒形の部
分からなっている。導波管203はスタブチューナー(
図示せず)、アイソレーター(図示せず)とともにマイ
クロ波電源(図示せず)に接触されている。誘電体窓2
02は反応容器内の雰囲気を保持するために導波管20
3の円筒形の開口部分で反応容器の内壁に気密封止され
ている。204は、一端が反応容器201に開口し、他
端が排気装置(図示せず)に連通している排気管である
。206は導電性基体205により囲まれた放電空間を
示す。電源211はバイアス印加用電極212に直流電
圧を印加するための直流電源(バイアス電源)であり、
電極212に電気的に接続されている。
Next, amorphous silicon is deposited on the surface of the conductive substrate after these cutting processes and pretreatments using the apparatus for forming a photoconductive member deposited film by the microwave plasma CVD method shown in FIGS. 2(a) and 2(b). Forms a mainly deposited film. In FIGS. 2(a) and 2(b), 201 is a reaction vessel, which has a vacuum-tight structure. Further, 202 is a microwave introduction dielectric window made of a material (for example, quartz glass, alumina ceramics, etc.) that can efficiently transmit microwave power into the reaction vessel 201 and maintain vacuum tightness. . A waveguide 203 transmits microwave power, and consists of a rectangular portion extending from the microwave power source to the vicinity of the reaction vessel, and a cylindrical portion inserted into the reaction vessel. The waveguide 203 is a stub tuner (
(not shown), an isolator (not shown) and a microwave power source (not shown). Dielectric window 2
02 is a waveguide 20 to maintain the atmosphere inside the reaction vessel.
The cylindrical opening of No. 3 is hermetically sealed to the inner wall of the reaction vessel. 204 is an exhaust pipe whose one end opens into the reaction vessel 201 and whose other end communicates with an exhaust device (not shown). 206 indicates a discharge space surrounded by the conductive substrate 205. The power supply 211 is a DC power supply (bias power supply) for applying a DC voltage to the bias application electrode 212,
It is electrically connected to electrode 212.

【0028】こうした堆積膜形成装置を使用した電子写
真感光体の製造は以下のようにして行う。まず真空ポン
プ(図示せず)により排気管204を介して、反応容器
201内を排気し、反応容器201内の圧力を1×10
−7Torr以下に調整する。ついでヒーター207に
より、基体205の温度を所定の温度に加熱保持する。 その後、原料ガスを不図示のガス導入手段を介して、ア
モルファスシリコンの原料ガスとしてシランガス、ドー
ピングガスとしてジボランガス、希釈ガスとしてヘリウ
ムガス等の原料ガスを反応容器201内に導入する。そ
れと同時併行的にマイクロ波電源(図示せず)により周
波数2.45GHz のマイクロ波を発生させ、これを
導波管203を通じ、誘電体窓202を介して反応容器
201内に導入する。更に放電空間206中のバイアス
電極212に電気的に接続された直流電源211により
バイアス電極212に基体205に対して直流電圧を印
加する。 かくして導電性基体205により囲まれた放電空間20
6に於て、原料ガスはマイクロ波のエネルギーにより励
起されて解離し、更にバイアス電極212と基体205
の間の電界により定常的に導電性基体205上にイオン
衝撃を受ながら、基体205表面に堆積膜が形成される
。この時、導電性基体205が設置された回転軸209
をモーター210により回転させ、導電性基体205を
基体母線方向中心軸の回りに回転させることにより、導
電性基体205全周に渡って均一に堆積膜層を形成する
Manufacturing of an electrophotographic photoreceptor using such a deposited film forming apparatus is carried out as follows. First, the inside of the reaction container 201 is evacuated by a vacuum pump (not shown) through the exhaust pipe 204, and the pressure inside the reaction container 201 is reduced to 1×10
Adjust to -7 Torr or less. Next, the temperature of the base 205 is heated and maintained at a predetermined temperature by the heater 207. Thereafter, raw material gases such as silane gas as a raw material gas for amorphous silicon, diborane gas as a doping gas, and helium gas as a diluent gas are introduced into the reaction vessel 201 through a gas introducing means (not shown). At the same time, microwaves with a frequency of 2.45 GHz are generated by a microwave power source (not shown) and introduced into the reaction vessel 201 through the waveguide 203 and the dielectric window 202. Furthermore, a DC voltage is applied to the bias electrode 212 with respect to the base body 205 by a DC power supply 211 electrically connected to the bias electrode 212 in the discharge space 206 . Thus, the discharge space 20 surrounded by the conductive substrate 205
In step 6, the raw material gas is excited and dissociated by microwave energy, and is further connected to the bias electrode 212 and the substrate 205.
A deposited film is formed on the surface of the conductive substrate 205 while receiving constant ion bombardment on the conductive substrate 205 due to the electric field between the two electrodes. At this time, the rotating shaft 209 on which the conductive base 205 is installed
is rotated by a motor 210, and the conductive substrate 205 is rotated around the central axis in the direction of the substrate generatrix, thereby forming a deposited film layer uniformly over the entire circumference of the conductive substrate 205.

【0029】こうした製造装置により例えば表2に示さ
れるような条件により、図5に示すように本発明の必須
用件である第1の光導電層502、第2の光導電層50
3、および表面層504からなる光受容部材を作製する
ことができる。なお、501は基体である。
By using such a manufacturing apparatus and under the conditions shown in Table 2, for example, the first photoconductive layer 502 and the second photoconductive layer 50, which are essential requirements of the present invention, are formed as shown in FIG.
3 and a surface layer 504 can be produced. Note that 501 is a base body.

【0030】こうした手順に従って、連続して電子写真
感光体の作製が効率よくおこなわれるものである。
[0030] By following these procedures, electrophotographic photoreceptors can be produced continuously and efficiently.

【0031】本発明において、洗浄工程に使用される洗
浄液は、水または水に界面活性剤を添加したものが望ま
しい。洗浄工程で用いられる界面活性剤は、陰イオン界
面活性剤、陽イオン界面活性剤、非イオン界面活性剤、
両性界面活性剤、またはそれらの混合したもの等、いず
れのものでもよい。またさらにトリポリリン酸ナトリウ
ム等の添加剤を添加しても本発明は有効である。
In the present invention, the cleaning liquid used in the cleaning step is preferably water or water with a surfactant added thereto. Surfactants used in the cleaning process include anionic surfactants, cationic surfactants, nonionic surfactants,
Any amphoteric surfactant or a mixture thereof may be used. The present invention is also effective even if additives such as sodium tripolyphosphate are added.

【0032】本発明の洗浄工程で用いられる水の温度は
、高すぎると導電性基体表面に酸化膜が発生してしまい
、堆積膜の剥れ等の原因となる。又、低すぎると洗浄効
果が小さく、さらに本発明の効果が充分得られない。 この為、水の温度としては、10℃以上、90℃以下、
好ましくは20℃以上、75℃以下、最適には30℃以
上、55℃以下が本発明には適している。
If the temperature of the water used in the cleaning step of the present invention is too high, an oxide film will be formed on the surface of the conductive substrate, causing the deposited film to peel off. On the other hand, if it is too low, the cleaning effect will be small and the effects of the present invention will not be sufficiently obtained. For this reason, the water temperature should be 10℃ or higher and 90℃ or lower.
Preferably, a temperature of 20°C or higher and 75°C or lower, optimally 30°C or higher and 55°C or lower, is suitable for the present invention.

【0033】本発明において洗浄工程に超音波を用いる
ことは本発明の効果を十分に出す上で重要である。超音
波の周波数は、好ましくは100Hz以上、10MHz
 以下、更に好ましくは1KHz 以上、5MHz 以
下、最適には10KHz 以上100kHz 以下が効
果的である。超音波の出力は、好ましくは10W 以上
、100kW以下、更に好ましくは100W 以上、1
0kW以下が効果的である。
[0033] In the present invention, it is important to use ultrasonic waves in the cleaning step in order to obtain the full effect of the present invention. The frequency of the ultrasonic wave is preferably 100Hz or more, 10MHz
Below, more preferably 1 KHz or more and 5 MHz or less, most preferably 10 KHz or more and 100 kHz or less is effective. The output of the ultrasonic wave is preferably 10 W or more and 100 kW or less, more preferably 100 W or more, 1
0kW or less is effective.

【0034】本発明の純水接触工程に使用される水の水
質は、非常に重要あり半導体グレードの純水、特に超L
SIグレードの超純水が望ましい。具体的には、水温2
5℃の時の抵抗率として、1MΩ−cm以上、好ましく
は4MΩ−cm 以上、最適には10MΩ−cm以上が
本発明には適している。微粒子量としては、0.2μm
 以上が1ミリリットル中に100000個以下、好ま
しくは10000個以下、最適には1000個以下が本
発明には適している。微生物量としては、総生菌数が1
ミリリットル中に1000個以下、好ましくは100個
以下、最適には10個以下が本発明には適している。有
機物量(TOC)は、1リットル中に100mg以下、
好ましくは10mg以下、最適には2mg以下が本発明
には適している。
The quality of the water used in the pure water contacting step of the present invention is very important.
SI grade ultrapure water is preferred. Specifically, water temperature 2
A resistivity at 5° C. of 1 MΩ-cm or more, preferably 4 MΩ-cm or more, and optimally 10 MΩ-cm or more is suitable for the present invention. The amount of fine particles is 0.2 μm
It is suitable for the present invention that the number of the above particles per milliliter is 100,000 or less, preferably 10,000 or less, and optimally 1,000 or less. As for the amount of microorganisms, the total number of viable bacteria is 1
Less than 1000, preferably less than 100, optimally less than 10 are suitable for the present invention in a milliliter. The amount of organic matter (TOC) is 100 mg or less per liter,
Preferably 10 mg or less, optimally 2 mg or less are suitable for the present invention.

【0035】上記の水質の水を得る方法としては、活性
炭法、蒸留法、イオン交換法、フィルター濾過法、逆浸
透法、紫外線殺菌法等があるが、これらの方法を複数組
み合わせて用い、要求される水質まで高めることが望ま
しい。
Methods for obtaining water with the above-mentioned quality include activated carbon method, distillation method, ion exchange method, filter filtration method, reverse osmosis method, and ultraviolet sterilization method. It is desirable to improve the water quality to the level that is expected.

【0036】導電性基体表面に純水を接触させるときは
、水圧を掛けて吹き付けることが望ましい。吹き付ける
際の水の圧力は、弱すぎると本発明の効果が小さいもの
となり、強すぎると得られた電子写真感光体の画像上、
特にハーフトーンの画像上で梨肌状に模様が発生してし
まう。この為、水の圧力としては、2Kg・f/cm2
  以上、300Kg・f/cm2以下、好ましくは1
0Kg・f/cm2以上、200Kg・f/cm2以下
、最適には20Kg・f/cm2以上、150Kg・f
/cm2以下が本発明には適している。但し、本発明に
於ける圧力単位Kg・f/cm2は、重力キログラム毎
平方センチメートルを意味し、1Kg・f/cm2は9
8066.5Paと等しい。本発明の純水を吹き付ける
方法には、ポンプにより高圧化した水をノズルから吹き
付ける方法、または、ポンプで汲み上げた水を高圧空気
とノズルの手前で混合して、空気の圧力により吹きつけ
る方法等がある。
When bringing pure water into contact with the surface of the conductive substrate, it is desirable to spray it under water pressure. If the water pressure during spraying is too weak, the effect of the present invention will be small, and if it is too strong, the resulting image on the electrophotographic photoreceptor will be affected.
Particularly, pear-like patterns appear on halftone images. Therefore, the water pressure is 2Kg・f/cm2
above, 300Kg・f/cm2 or less, preferably 1
0Kg・f/cm2 or more, 200Kg・f/cm2 or less, optimally 20Kg・f/cm2 or more, 150Kg・f
/cm2 or less is suitable for the present invention. However, the pressure unit Kg・f/cm2 in the present invention means gravitational kilogram per square centimeter, and 1Kg・f/cm2 is 9
It is equal to 8066.5Pa. The method of spraying pure water of the present invention includes a method of spraying high-pressure water using a pump from a nozzle, or a method of mixing pumped water with high-pressure air in front of the nozzle and spraying using the air pressure. There is.

【0037】本発明の純水の流量としては、発明の効果
と、経済性から、導電性基体1本当り1リットル/mi
n 以上、200リットル/min 以下、好ましくは
2リットル/min 以上、100リットル/min 
以下、最適には5リットル/min 以上、50リット
ル/min 以下が本発明には適している。
[0037] The flow rate of pure water in the present invention is 1 liter/mi per conductive substrate in view of the effects of the invention and economic efficiency.
n or more and 200 liters/min or less, preferably 2 liters/min or more and 100 liters/min
Below, the optimum speed is 5 liters/min or more and 50 liters/min or less suitable for the present invention.

【0038】本発明の純水の温度は、高すぎると導電性
基体上に酸化膜が発生してしまい堆積膜の剥れ等の原因
となり、さらに本発明の効果が充分に得られない。また
、低すぎるとやはり本発明の効果が充分得られない。 このため、純水の温度としては、5℃以上、90℃以下
、好ましくは10℃以上、55℃以下、最適には15℃
以上、40℃以下が本発明には適している。
If the temperature of the pure water of the present invention is too high, an oxide film will be formed on the conductive substrate, causing peeling of the deposited film, and furthermore, the effects of the present invention will not be sufficiently obtained. Moreover, if it is too low, the effects of the present invention cannot be obtained sufficiently. Therefore, the temperature of pure water should be 5°C or higher and 90°C or lower, preferably 10°C or higher and 55°C or lower, and optimally 15°C.
As mentioned above, a temperature of 40° C. or lower is suitable for the present invention.

【0039】水接触処理の処理時間は、長すぎると導電
性基体上に酸化膜が発生してしまい、短すぎると本発明
の効果が小さいため、10秒以上、30分以下、好まし
くは20秒以上、20分以下、最適には30秒以上、1
0分以下が本発明には適している。
The treatment time of the water contact treatment is 10 seconds or more and 30 minutes or less, preferably 20 seconds, because if it is too long, an oxide film will be generated on the conductive substrate, and if it is too short, the effect of the present invention will be small. or more, less than 20 minutes, optimally more than 30 seconds, 1
A time of 0 minutes or less is suitable for the present invention.

【0040】本発明において、堆積膜形成時の基体表面
の酸化皮膜等の影響を取り除くために、堆積膜形成の直
前に基体表面の切削を行なうことは重要なことである。 切削から水接触処理までの時間は、長すぎると基体表面
に再び酸化膜が発生してしまい、短すぎると工程が安定
しないため、1分以上、16時間以下、好ましくは2分
以上、8時間以下、最適には3分以上、4時間以下が本
発明には適している。水接触処理から堆積膜形成装置へ
投入までの時間は、長すぎると本発明の効果が小さくな
ってしまい、短すぎると工程が安定しないため、1分以
上、8時間以下、好ましくは2分以上、4時間以下、最
適には3分以上、2時間以下が本発明には適している。
In the present invention, it is important to cut the surface of the substrate immediately before forming the deposited film in order to eliminate the influence of an oxide film on the surface of the substrate during the formation of the deposited film. The time from cutting to water contact treatment is 1 minute or more and 16 hours or less, preferably 2 minutes or more and 8 hours, because if it is too long, an oxide film will form on the substrate surface again, and if it is too short, the process will not be stable. Hereinafter, a time of 3 minutes or more and 4 hours or less is most suitable for the present invention. If the time from water contact treatment to input into the deposited film forming apparatus is too long, the effect of the present invention will be reduced, and if it is too short, the process will not be stable, so it is 1 minute or more and 8 hours or less, preferably 2 minutes or more. , 4 hours or less, optimally 3 minutes or more and 2 hours or less are suitable for the present invention.

【0041】本発明で用いられる導電性基体としては、
例えば、Al、Cr、Mo、Au、In、Nb、Te、
V、Ti、Pt、Pd、Fe等の金属、およびこれらの
合金、例えばステンレス等が挙げられる。また、ポリエ
ステル、ポリエチレン、ポリカーボネート、セルロース
アセテート、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリス
チレン、ポリアミド等の合成樹脂のフィルムまたはシー
ト、ガラス、セラミック等の電気絶縁性導電性基体の少
なくとも光受容層を形成する側の表面を導電処理した基
体も用いることができるものであるが、機械的強度等か
ら金属が好ましい。
[0041] The conductive substrate used in the present invention includes:
For example, Al, Cr, Mo, Au, In, Nb, Te,
Examples include metals such as V, Ti, Pt, Pd, and Fe, and alloys thereof, such as stainless steel. In addition, at least the side forming the photoreceptive layer of an electrically insulating and conductive substrate such as a film or sheet of synthetic resin such as polyester, polyethylene, polycarbonate, cellulose acetate, polypropylene, polyvinyl chloride, polystyrene, or polyamide, glass, or ceramic, etc. Although a substrate whose surface has been subjected to conductive treatment can also be used, metal is preferable from the viewpoint of mechanical strength and the like.

【0042】本発明では、導電性基体を所定の精度で切
削した後、表面の形状について加工をおこなっても有効
である。例えばレーザー光等の可干渉性光を用いて像記
録を行う場合には、可視画像において現われる干渉縞模
様による画像不良を解消するために、導電性基体表面に
凹凸を設けてもよい。導電性基体表面に設けられる凹凸
は、特開昭60−168156号公報、同60−178
457号公報、同60−225854号公報等に記載さ
れた公知の方法により作製される。又、レーザー光など
の可干渉光を用いた場合の干渉縞模様による画像不良を
解消する別の方法として、導電性基体表面に複数の球状
痕跡窪みによる凹凸形状を設けてもよい。即ち、導電性
基体の表面が電子写真用感光体に要求される解像力より
も微少な凹凸を有し、しかも該凹凸は、複数の球状痕跡
窪みによるものである。導電性基体表面に設けられる複
数の球状痕跡窪みによる凹凸は、特開昭61−2315
61号公報に記載された公知の方法により作製される。
In the present invention, it is also effective to process the surface shape after cutting the conductive substrate with a predetermined precision. For example, when recording an image using coherent light such as a laser beam, irregularities may be provided on the surface of the conductive substrate in order to eliminate image defects due to interference fringe patterns that appear in visible images. The unevenness provided on the surface of the conductive substrate is described in Japanese Patent Application Laid-open Nos. 60-168156 and 60-178.
It is produced by a known method described in JP-A No. 457, JP-A No. 60-225854, and the like. Further, as another method for eliminating image defects caused by interference fringe patterns when coherent light such as laser light is used, an uneven shape formed by a plurality of spherical trace depressions may be provided on the surface of the conductive substrate. That is, the surface of the conductive substrate has irregularities that are finer than the resolving power required for an electrophotographic photoreceptor, and the irregularities are caused by a plurality of spherical trace depressions. The unevenness caused by a plurality of spherical trace depressions provided on the surface of a conductive substrate is described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-2315.
It is produced by a known method described in Japanese Patent No. 61.

【0043】本発明における第1の光導電層は、導電性
基体側より、構成要素としてシリコン原子と炭素原子、
水素原子を含む非結晶性シリコンカーバイドnc−Si
C(H)から成る光導電層により構成され、所望の光導
電特性、特に電荷保持特性、電荷発生特性、電荷輸送特
性を有する。前記光導電層に含有される炭素原子は分布
を成し、該分布が前記導電性基体の表面に各々平行な面
内では実質的に均一であり、層の厚み方向には不均一で
あって、膜厚方行の各点において前記導電性基体側の含
有率が高く、前記表面層側の含有率が低く分布している
。炭素原子の含有量としては、前記導電性基体の設けて
ある側の表面又は表面近傍で0.5%以下であれば前述
の導電性基体との密着性及び、電荷の注入阻止の機能が
悪化し、さらに静電容量の減少による帯電能向上の効果
が無くなる。また50%以上では残留電位が発生してし
まう。このため、実用的には0.5〜50原子%、好ま
しくは1〜40原子%であり、最適には1〜30原子%
とされるのが好ましい。なお、ここで原子%は原子の個
数を基準とした百分率を表わす。また、本発明において
光導電層中に水素原子が含有されることが必要であるが
、これはシリコン原子の未結合手を補償し、層品質の向
上、特に光導電性および電荷保持特性を向上させるため
に必須不可欠であるからである。特に炭素原子が含有さ
れた場合、その膜質を維持するために、より多くの水素
原子が必要となるため、炭素含有量にしたがって含有さ
れる水素量が調整されることが望ましい。よって、導電
性基体の設けてある側の表面の水素原子の含有量は望ま
しくは1〜40原子%、より好ましくは5〜35原子%
、最適には10〜30原子%とされるのが好ましい。
The first photoconductive layer in the present invention includes silicon atoms, carbon atoms, and silicon atoms as constituent elements from the conductive substrate side.
Amorphous silicon carbide nc-Si containing hydrogen atoms
It is composed of a photoconductive layer made of C(H) and has desired photoconductive properties, particularly charge retention properties, charge generation properties, and charge transport properties. The carbon atoms contained in the photoconductive layer have a distribution, and the distribution is substantially uniform in each plane parallel to the surface of the conductive substrate, and is non-uniform in the thickness direction of the layer. , at each point in the film thickness direction, the content on the conductive substrate side is high and the content on the surface layer side is low. If the content of carbon atoms is 0.5% or less on the surface or near the surface on which the conductive substrate is provided, the adhesion with the conductive substrate and the function of preventing charge injection will deteriorate. Furthermore, the effect of improving charging ability due to a decrease in capacitance is lost. Moreover, if it exceeds 50%, a residual potential will occur. Therefore, it is practically 0.5 to 50 atom%, preferably 1 to 40 atom%, and optimally 1 to 30 atom%.
It is preferable that Note that atomic % here represents a percentage based on the number of atoms. In addition, in the present invention, it is necessary for the photoconductive layer to contain hydrogen atoms, which compensate for the dangling bonds of silicon atoms and improve the layer quality, especially photoconductivity and charge retention properties. This is because it is essential for achieving this goal. In particular, when carbon atoms are contained, more hydrogen atoms are required to maintain the film quality, so it is desirable to adjust the amount of hydrogen contained according to the carbon content. Therefore, the content of hydrogen atoms on the surface on which the conductive substrate is provided is preferably 1 to 40 at%, more preferably 5 to 35 at%.
, most preferably 10 to 30 atom %.

【0044】本発明において、第1の光導電層は真空堆
積膜形成方法によって、所望の特性が得られるように適
宜成膜パラメーターの数値条件が設定されて作製される
。具体的には、グロー放電法(低周波CVD法、高周波
CVD法またはマイクロ波CVD法等の交流放電CVD
法、あるいは直流放電CVD法等)、によって、形成す
ることができる。グロー放電法によってnc−SiC:
H光導電層を形成するには、基本的にはシリコン原子(
Si)を供給し得るSi供給用の原料ガスと、炭素原子
(C)を供給し得るC供給用の原料ガスと、水素原子(
H)を供給し得るH供給用の原料ガスとを、内部が減圧
にし得る反応容器内に所望の割合のガス状態で導入して
、該反応容器内にグロー放電を生起させ、あらかじめ所
定の位置に設置されている所定の導電性基体表面上にn
c−SiC:Hからなる層を形成すればよい。
In the present invention, the first photoconductive layer is produced by a vacuum deposition film forming method, with numerical conditions of film forming parameters set appropriately so as to obtain desired characteristics. Specifically, glow discharge method (AC discharge CVD method such as low frequency CVD method, high frequency CVD method or microwave CVD method)
method, direct current discharge CVD method, etc.). nc-SiC by glow discharge method:
To form the H photoconductive layer, basically silicon atoms (
A raw material gas for Si supply that can supply Si), a raw material gas for C supply that can supply carbon atoms (C), and a raw material gas for C supply that can supply carbon atoms (C), and hydrogen atoms (
A raw material gas for H supply that can supply H) is introduced in a desired ratio gas state into a reaction vessel whose interior can be reduced in pressure, a glow discharge is generated in the reaction vessel, and a glow discharge is caused in advance at a predetermined position. n on the surface of a predetermined conductive substrate placed on
A layer made of c-SiC:H may be formed.

【0045】本発明において第1の光導電層の層厚は所
望の電子写真特性が得られること及び経済的効果等の点
から適宜所望にしたがって決定され、一般的には5〜5
0μm 、より好ましくは10〜40μm 、最適には
20〜30μm とするのが望ましい。
In the present invention, the layer thickness of the first photoconductive layer is determined as desired from the viewpoint of obtaining desired electrophotographic properties and economical effects, and is generally 5 to 5.
It is desirable that the thickness be 0 μm, more preferably 10 to 40 μm, and optimally 20 to 30 μm.

【0046】本発明において第2の光導電層は、構成要
素としてシリコン原子と水素原子を含む非結晶シリコン
nc−Si:Hから成り、所望の光導電特性、特に電荷
発生特性、電荷輸送特性を有する。本発明の第2の光導
電層は、長波長の光の吸収を高め感度を向上さすために
、また、帯電極性と逆極性のキャリアの走行性が第1の
光導電層より良いことから、ゴーストを軽減する目的の
ために設けられる。
In the present invention, the second photoconductive layer is made of amorphous silicon nc-Si:H containing silicon atoms and hydrogen atoms as constituent elements, and has desired photoconductive properties, particularly charge generation properties and charge transport properties. have The second photoconductive layer of the present invention is used in order to increase the absorption of long wavelength light and improve sensitivity, and because the mobility of carriers with opposite polarity to the charged polarity is better than that of the first photoconductive layer. This is provided for the purpose of reducing ghosting.

【0047】本発明において、第2の光導電層は真空堆
積膜形成方法によって、所望特性が得られるように適宜
成膜パラメーターの数値条件が設定されて作製される。 具体的には、グロー放電法(低周波CVD法、高周波C
VD法またはマイクロ波CVD法等の交流放電CVD法
、あるいは直流放電CVD法等)によって形成すること
ができる。グロー放電法によってnc−Si:H光導電
層を形成するには、基本的にはシリコン原子(Si)を
供給し得るSi供給用の原料ガスと、水素原子(H)を
供給し得るH供給用の原料ガスとを、内部を減圧にし得
る反応容器内に所望のガス状態で導入して、該反応容器
内にグロー放電を生起させ、あらかじめ所定の位置に設
置されてある所定の導電性基体表面上にnc−Si:H
からなる層を形成すればよい。本発明において、第2の
光導電層の層厚は所望の電子写真特性が得られること及
び経済的効果等の点から適宜所望にしたがって決定され
、光導電層については、好ましくは0.5〜15μm 
、より好ましくは1〜10μm 、最適には1〜5μm
 とされるのが望ましい。
In the present invention, the second photoconductive layer is produced by a vacuum deposition film forming method, with numerical conditions of film forming parameters set appropriately so as to obtain desired characteristics. Specifically, glow discharge method (low frequency CVD method, high frequency C
It can be formed by a VD method, an AC discharge CVD method such as a microwave CVD method, a DC discharge CVD method, etc.). In order to form an nc-Si:H photoconductive layer by the glow discharge method, basically a raw material gas for supplying Si that can supply silicon atoms (Si) and an H supply that can supply hydrogen atoms (H) are required. A raw material gas for use is introduced in a desired gas state into a reaction vessel whose interior can be reduced in pressure to generate a glow discharge in the reaction vessel, and a predetermined conductive substrate previously installed at a predetermined position is nc-Si:H on the surface
What is necessary is to form a layer consisting of. In the present invention, the layer thickness of the second photoconductive layer is determined as desired from the viewpoints of obtaining desired electrophotographic properties and economical effects, and the thickness of the second photoconductive layer is preferably 0.5 to 0.5. 15μm
, more preferably 1 to 10 μm, optimally 1 to 5 μm
It is desirable that this is done.

【0048】本発明の目的を達成し得る特性を有するn
c−SiC:Hから成る光導電層を形成するには、導電
性基体の温度、反応容器内のガス圧を所望にしたがって
、適宜設定する必要がある。
[0048] n having the characteristics capable of achieving the object of the present invention
In order to form a photoconductive layer made of c-SiC:H, it is necessary to appropriately set the temperature of the conductive substrate and the gas pressure in the reaction vessel as desired.

【0049】上記第1及び第2の光導電層を作製するた
めに本発明において使用されるSi供給用ガスとなり得
る物質としては、SiH4 、Si2 H6 、Si3
 H8 、Si4 H10等のガス状態の、またはガス
化し得る水素化珪素(シラン類)が挙げられ、更に層作
製時の取り扱い易さ、Si供給効率の良さ等の点でSi
H4 、Si2H6 が好ましいものとして挙げられる
。また、これらのSi供給用の原料ガスを必要に応じて
H2 、He、Ar、Ne等のガスにより希釈して使用
してもよい。
[0049] Substances that can be used as the Si supply gas used in the present invention to fabricate the first and second photoconductive layers include SiH4, Si2H6, and Si3.
Examples include silicon hydride (silanes) in a gaseous state or that can be gasified, such as H8, Si4 H10, etc., and Si
Preferred examples include H4 and Si2H6. Further, these raw material gases for supplying Si may be diluted with gases such as H2, He, Ar, Ne, etc. as necessary.

【0050】本発明において、炭素原子導入用の原料物
質となり得るものとしては、常温常圧でガス状のまたは
、少なくとも層形成条件下で容易にガス化し得るものが
採用されるのが望ましい。
[0050] In the present invention, as the raw material for introducing carbon atoms, it is preferable to use a material that is gaseous at room temperature and pressure, or that can be easily gasified at least under layer-forming conditions.

【0051】炭素原子(C)導入用の原料ガスになり得
るものとして有効に使用される出発物質は、CとHとを
構成原子とする、例えば炭素数1〜5の飽和炭化水素、
炭素数2〜4のエチレン系炭化水素、炭素数2〜3のア
セチレン系炭化水素等が挙げられる。具体的には、飽和
炭化水素としては、メタン(CH4)、エタン(C2H
6 )、プロパン(C3 H8 )、n−ブタン(n−
C4 H10)、ペンタン(C5H12)、エチレン系
炭化水素としては、エチレン(C2 H4 )、プロピ
レン(C3 H6 )、ブテン−1(C4 H8 )、
ブテン−2(C4 H8 )、イソブチレン(C4 H
8 )、ペンテン(C5 H10)、アセチレン系炭化
水素としては、アセチレン(C2 H2 )、メチルア
セチレン(C3 H4 )、ブチン(C4 H6 )等
が挙げられる。
[0051] Starting materials that can be effectively used as raw material gases for introducing carbon atoms (C) include saturated hydrocarbons having 1 to 5 carbon atoms, for example, containing C and H as constituent atoms;
Examples include ethylene hydrocarbons having 2 to 4 carbon atoms, acetylene hydrocarbons having 2 to 3 carbon atoms, and the like. Specifically, saturated hydrocarbons include methane (CH4), ethane (C2H
6), propane (C3H8), n-butane (n-
C4 H10), pentane (C5H12), ethylene hydrocarbons include ethylene (C2 H4), propylene (C3 H6), butene-1 (C4 H8),
Butene-2 (C4 H8), Isobutylene (C4 H8)
8), pentene (C5 H10), acetylene hydrocarbons include acetylene (C2 H2), methylacetylene (C3 H4), butyne (C4 H6), and the like.

【0052】また、SiとCとを構成原子とする原料ガ
スとしては、Si(CH3 )4 、Si(C2 H5
 )4等のケイ化アルキルを挙げることができる。
[0052] Also, as the raw material gas containing Si and C as constituent atoms, Si(CH3)4, Si(C2H5
) 4 and the like can be mentioned.

【0053】水素原子を第1および第2の光導電層中に
ケイ素と結合した状態で導入するには、上記の他にH2
 、あるいはSiH4 、Si2 H6 、Si3 H
8 、Si4H10等の水素化珪素とSiを供給するた
めのシリコンまたはシリコン化合物とを反応容器中に共
存させて放電を生起させることでも行うことができる。
In order to introduce hydrogen atoms into the first and second photoconductive layers in a state bonded to silicon, in addition to the above, H2
, or SiH4, Si2 H6, Si3 H
8. It can also be carried out by making silicon hydride such as Si4H10 and silicon or a silicon compound for supplying Si coexist in a reaction vessel to cause discharge.

【0054】第1および第2の光導電層中に含有される
水素原子の量を制御するには、例えば導電性基体の温度
、水素原子を含有させるために使用される原料物質の反
応容器内へ導入する量、放電電力等を制御すればよい。
In order to control the amount of hydrogen atoms contained in the first and second photoconductive layers, for example, the temperature of the conductive substrate, the temperature of the raw material used to contain the hydrogen atoms in the reaction vessel, etc. can be controlled. What is necessary is to control the amount introduced into the battery, the discharge power, etc.

【0055】さらに本発明においては、第1、第2の光
導電層には必要に応じて伝導性を制御する原子(M)を
含有させることが好ましい。伝導性を制御する原子は、
光導電層中に万偏なく均一に分布した状態で含有されて
も良いし、あるいは層厚方向には不均一な分布状態で含
有している部分があってもよい。
Further, in the present invention, it is preferable that the first and second photoconductive layers contain atoms (M) for controlling conductivity, if necessary. The atoms that control conductivity are
It may be contained in the photoconductive layer in a uniformly distributed state, or it may be contained in a non-uniformly distributed state in the layer thickness direction.

【0056】前記の伝導性を制御する原子としては、半
導体分野における、いわゆる不純物を挙げることができ
、p型伝導特性を与える周期律表III 族に属する原
子(以後「第III 族原子」と略記する)またはn型
伝導特性を与える周期律表V族に属する原子(以後「第
V族原子」と略記する)を用いることができる。
[0056] Examples of atoms that control conductivity include so-called impurities in the semiconductor field, and atoms belonging to Group III of the periodic table (hereinafter abbreviated as "Group III atoms") that provide p-type conductivity. ) or atoms belonging to group V of the periodic table (hereinafter abbreviated as "group V atoms") that provide n-type conductivity.

【0057】第III 族原子としては、具体的には、
硼素(B)、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)
、インジウム(In)、タリウム(Tl)等があり、特
にB、Al、Gaが好適である。第V族原子としては、
具体的には燐(P)、砒素(As)、アンチモン(Sb
)、ビスマス(Bi)等があり、特にP、Asが好適で
ある。
Specifically, the group III atoms include:
Boron (B), aluminum (Al), gallium (Ga)
, indium (In), thallium (Tl), etc., and B, Al, and Ga are particularly suitable. As group V atoms,
Specifically, phosphorus (P), arsenic (As), antimony (Sb
), bismuth (Bi), etc., with P and As being particularly preferred.

【0058】光導電層に含有される伝導性を制御する原
子(M)の含有量としては、好ましくは1x10−3〜
5x104 原子ppm、より好ましくは1x10−2
〜1x104原子ppm 、最適には1x10−1〜5
x103 原子ppm とされるのが望ましい。特に、
光導電層において炭素原子(C)の含有量が1x103
 原子ppm 以下の場合は、光導電層に含有される原
子(M)の含有量としては好ましくは1x10−3〜1
x103 原子ppm とされるのが望ましく、炭素原
子(C)の含有量が1x103 原子ppm を越える
場合は、原子(M)の含有量としては、好ましくは1x
10−1〜5x104 原子ppm とされるのが望ま
しい。
The content of atoms (M) controlling conductivity contained in the photoconductive layer is preferably from 1×10 −3 to
5x104 atomic ppm, more preferably 1x10-2
~1x104 atomic ppm, optimally 1x10-1~5
It is desirable that the amount is x103 atoms ppm. especially,
The content of carbon atoms (C) in the photoconductive layer is 1x103
In the case of atomic ppm or less, the content of atoms (M) contained in the photoconductive layer is preferably 1x10-3 to 1
It is desirable that the content of carbon atoms (C) exceeds 1x103 atoms ppm, and the content of atoms (M) is preferably 1x103 atoms ppm.
It is desirable that the content be 10-1 to 5x104 atomic ppm.

【0059】なお、ここで原子ppm とは原子の個数
を基準にした100万分率を示す。
[0059] Here, atomic ppm refers to parts per million based on the number of atoms.

【0060】光導電層中に、伝導性を制御する原子、た
とえば、第III 族原子あるいは第V族原子を構造的
に導入するには、層形成の際に、第III族原子導入用
の原料物質あるいは第V族原子導入用の原料物質をガス
状態で反応容器中に、光導電層を形成するための他のガ
スとともに導入してやればよい。第III 族原子導入
用の原料物質あるいは第V族原子導入用の原料物質とな
り得るものとしては、常温常圧でガス状の、または、少
なくとも層形成条件下で容易にガス化し得るものが採用
されるのが望ましい。そのような第III 族原子導入
用の原料物質として具体的には、硼素原子導入用として
は、B2 H6 、B4 H10、B5 H9 、B5
 H11、B5 H10、B6 H12、B6 H14
等の水素化硼素、BF3 、BCl3 、BBr3 等
のハロゲン化硼素等が挙げられる。この他、AlCl3
 、GaCl3 、Ga(CH3 )3 、InCl3
 、TlCl3 等も挙げることができる。
In order to structurally introduce atoms that control conductivity, for example, group III atoms or group V atoms, into the photoconductive layer, a raw material for introducing group III atoms is used during layer formation. The substance or raw material for introducing Group V atoms may be introduced in a gaseous state into the reaction vessel together with other gases for forming the photoconductive layer. As the raw material for introducing Group III atoms or the raw material for introducing Group V atoms, those that are gaseous at normal temperature and pressure, or that can be easily gasified at least under layer-forming conditions, are adopted. It is desirable to Specifically, raw materials for introducing group III atoms include B2 H6, B4 H10, B5 H9, B5 for boron atom introduction.
H11, B5 H10, B6 H12, B6 H14
and boron halides such as BF3, BCl3, and BBr3. In addition, AlCl3
, GaCl3, Ga(CH3)3, InCl3
, TlCl3, etc. can also be mentioned.

【0061】第V族原子導入用の原料物質として本発明
において、有効に使用されるのは、燐原子導入用として
は、PH3 ,P2 H4 等の水素化燐、PH4 I
、PF3 、PF5 、PCl3 、PCl5 、PB
r3 、PBr5 、PI3 等のハロゲン化燐が挙げ
られる。この他、AsH3 、AsF3 、AsCl3
 、AsBr3、AsF5 、SbH3 、SbF3 
、SbF5 、SbCl3 、SbCl5 、BiH3
 、BiCl3 、BiBr3 等も第V族原子導入用
の出発物質の有効なものとして挙げることができる。
[0061] In the present invention, the raw materials for introducing Group V atoms that are effectively used for introducing phosphorus atoms include hydrogenated phosphorus such as PH3, P2 H4, PH4 I
, PF3, PF5, PCl3, PCl5, PB
Examples include phosphorus halides such as r3, PBr5, and PI3. In addition, AsH3, AsF3, AsCl3
, AsBr3, AsF5, SbH3, SbF3
, SbF5, SbCl3, SbCl5, BiH3
, BiCl3, BiBr3, etc. can also be mentioned as effective starting materials for introducing Group V atoms.

【0062】また、これらの伝導性を制御する原子導入
用の原料物質を必要に応じてH2 、He、Ar、Ne
等のガスにより希釈して使用してもよい。
[0062] The raw materials for introducing atoms to control these conductivities may be H2, He, Ar, Ne, etc. as necessary.
It may be used after being diluted with gas such as.

【0063】さらに本発明の光受容部材の光導電層には
、周期律表第Ia族、IIa 族、VIb族、VIII
族から選ばれる少なくとも1種の元素を含有してもよい
。前記元素は前記光導電層中に万遍無く均一に分布され
てもよいし、あるいは該光導電層中に万遍無く含有され
てはいるが、層厚方向に対し不均一に分布する状態で含
有している部分があってもよい。しかしながら、いずれ
の場合においても導電性基体の表面と平行な面内方向に
おいては、均一な分布で万遍無く含有されていることが
、面内方向における特性の均一化を図る点からも必要で
ある。 第Ia族原子としては、具体的には、リチウム(Li)
、ナトリウム(Na)、カリウム(K)を挙げることが
でき、第IIa族原子としては、ベリリウム(Be)、
マグネシウム(Mg)、カルシウム(Ca)、ストロン
チウ厶(Sr)、バリウム(Ba)等を挙げることがで
きる。
Furthermore, the photoconductive layer of the photoreceptive member of the present invention includes compounds of groups Ia, IIa, VIb, and VIII of the periodic table.
It may contain at least one element selected from the group consisting of: The element may be uniformly distributed throughout the photoconductive layer, or it may be uniformly contained in the photoconductive layer but distributed non-uniformly in the layer thickness direction. There may be a portion containing it. However, in any case, it is necessary that the content be uniformly distributed and evenly distributed in the in-plane direction parallel to the surface of the conductive substrate in order to ensure uniform properties in the in-plane direction. be. Specifically, the Group Ia atoms include lithium (Li)
, sodium (Na), potassium (K), and group IIa atoms include beryllium (Be),
Examples include magnesium (Mg), calcium (Ca), strontium (Sr), and barium (Ba).

【0064】また、第VIb族原子としては具体的には
、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)、タングステン
(W)等を挙げることができ、第VIII族原子として
は、鉄(Fe)、コバルト(Co)、ニッケル(Ni)
等を挙げることができる。
Further, specific examples of Group VIb atoms include chromium (Cr), molybdenum (Mo), and tungsten (W), and examples of Group VIII atoms include iron (Fe) and cobalt. (Co), nickel (Ni)
etc. can be mentioned.

【0065】導電性基体の温度(Ts)は、層設計にし
たがって適宜最適範囲が選択されるが、通常の場合、好
ましくは20〜500℃、より好ましくは50〜480
℃、最適には100〜450℃とすることが望ましい。
[0065] The temperature (Ts) of the conductive substrate is appropriately selected in an optimum range according to the layer design, but in general, it is preferably 20 to 500°C, more preferably 50 to 480°C.
℃, most preferably 100 to 450℃.

【0066】本発明の光受容部材においては、第2の光
導電層と表面層との間に、組成を連続的に変化させた層
領域を設けてもよい。該層領域を設けることにより各層
間での密着性をより向上させることができる。
In the light-receiving member of the present invention, a layer region whose composition is continuously varied may be provided between the second photoconductive layer and the surface layer. By providing this layer region, the adhesion between each layer can be further improved.

【0067】さらに本発明の光受容部材においては、光
導電層の前記導電性基体側に、少なくともアルミニウム
原子、シリコン原子、炭素原子および水素原子が層厚方
向に不均一な分布状態で含有する層領域を有することが
望ましい。
Furthermore, in the light-receiving member of the present invention, a layer containing at least aluminum atoms, silicon atoms, carbon atoms, and hydrogen atoms in a non-uniform distribution state in the layer thickness direction is provided on the conductive substrate side of the photoconductive layer. It is desirable to have a region.

【0068】本発明における表面層は、構成要素として
シリコン原子と炭素原子、水素原子および必要によりハ
ロゲン原子とを含有する非単結晶材料で構成される。表
面層には光導電層中に含有されるような伝導性を制御す
る物質は実質的に含有されない。
The surface layer in the present invention is composed of a non-single crystal material containing silicon atoms, carbon atoms, hydrogen atoms and, if necessary, halogen atoms as constituent elements. The surface layer does not substantially contain a substance that controls conductivity, such as that contained in the photoconductive layer.

【0069】該表面層に含有される炭素原子は該層中に
万遍なく均一に分布されても良いし、あるいは層厚方向
には万遍なく含有されてはいるが、不均一に分布する状
態で含有している部分があってもよい。しかしながら、
いずれの場合にも導電性基体の表面と平行面内方向にお
いては、均一な分布で万遍なく含有されることが面内方
向における特性の均一化を図る点からも必要である。
[0069] The carbon atoms contained in the surface layer may be distributed uniformly throughout the layer, or they may be uniformly contained in the layer thickness direction but distributed non-uniformly. There may be a portion contained in the state. however,
In either case, it is necessary to uniformly distribute the content evenly in the in-plane direction parallel to the surface of the conductive substrate in order to make the properties uniform in the in-plane direction.

【0070】本発明における表面層の全層領域に含有さ
れる炭素原子は、高暗抵抗化、高硬度化等の効果を奏す
る。表面層中に含有される炭素原子の含有量は、好適に
は40〜90原子%、より好適には45〜85原子%、
最適には50〜80原子%とされるのが望ましい。
[0070] Carbon atoms contained in the entire surface layer region of the present invention have effects such as high dark resistance and high hardness. The content of carbon atoms contained in the surface layer is preferably 40 to 90 at%, more preferably 45 to 85 at%,
The optimum content is preferably 50 to 80 atomic %.

【0071】なお、表面層に限り炭素原子の含有量(原
子%)を100x炭素原子/(炭素原子+シリコン原子
)と定義する。
Note that the carbon atom content (atomic %) in the surface layer is defined as 100x carbon atoms/(carbon atoms+silicon atoms).

【0072】また、本発明における表面層に含有される
水素原子およびハロゲン原子はnc−SiC(H、X)
内に存在する未結合手を補償し膜質の向上に効果を奏し
、光導電層と表面層の界面にトラップされるキャリアー
を減少させるため、画像流れを改善する。さらにハロゲ
ン原子は表面層の撥水性を向上させるので、水蒸気の吸
着による高湿流れをも減少させる。表面層中のハロゲン
原子の含有量は20原子%以下であり、さらに水素原子
とハロゲン原子の含有量の和は好適には30〜70原子
%、より好適には35〜65原子%、最適には40〜6
0原子%とするのが望ましい。
Further, the hydrogen atoms and halogen atoms contained in the surface layer in the present invention are nc-SiC(H,X)
It is effective in improving film quality by compensating for dangling bonds present in the photoconductive layer and reducing carriers trapped at the interface between the photoconductive layer and the surface layer, thereby improving image blurring. Furthermore, since the halogen atoms improve the water repellency of the surface layer, they also reduce high-humidity flow due to adsorption of water vapor. The content of halogen atoms in the surface layer is 20 at % or less, and the sum of the hydrogen atoms and halogen atoms is preferably 30 to 70 at %, more preferably 35 to 65 at %, most preferably is 40-6
It is desirable to set it to 0 atomic %.

【0073】さらに本発明において表面層に、周期律表
第Ia族、IIa族、VIb族、VIII族から選ばれ
る少なくとも1種の元素を含有してもよい。前記元素は
前記光導電層中に万遍無く均一に分布されてもよいし、
あるいは該光導電層中に万遍無く含有されてはいるが、
層厚方向に対し不均一に分布する状態で含有している部
分があってもよい。しかしながら、いずれの場合におい
ても導電性基体の表面と平行な面内方向においては、均
一な分布で万遍無く含有されていることが、面内方向に
おける特性の均一化を図る点からも必要である。
Furthermore, in the present invention, the surface layer may contain at least one element selected from Group Ia, Group IIa, Group VIb, and Group VIII of the Periodic Table. The element may be uniformly distributed throughout the photoconductive layer,
Or, although it is evenly contained in the photoconductive layer,
There may be a portion where the content is non-uniformly distributed in the layer thickness direction. However, in any case, it is necessary that the content be uniformly distributed and evenly distributed in the in-plane direction parallel to the surface of the conductive substrate in order to ensure uniform properties in the in-plane direction. be.

【0074】第Ia族原子としては、具体的には、リチ
ウム(Li)、ナトリウム(Na)、カリウム(K)を
挙げることができ、第IIa族原子としては、ベリリウ
ム(Be)、マグネシウム(Mg)、カルシウム(Ca
)、ストロンチウム(Sr)、バリウム(Ba)等を挙
げることができる。
Specific examples of Group Ia atoms include lithium (Li), sodium (Na), and potassium (K), and examples of Group IIa atoms include beryllium (Be) and magnesium (Mg). ), calcium (Ca
), strontium (Sr), barium (Ba), etc.

【0075】また、第VIb族原子としては具体的には
、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)、タングステン
(W)等を挙げることができ、第VIII族原子として
は、鉄(Fe)、コバルト(Co)、ニッケル(Ni)
等を挙げることができる。
Further, specific examples of Group VIb atoms include chromium (Cr), molybdenum (Mo), and tungsten (W), and examples of Group VIII atoms include iron (Fe) and cobalt. (Co), nickel (Ni)
etc. can be mentioned.

【0076】本発明において、表面層の層厚は所望の電
子写真特性が得られること、及び経済的効果等の点から
好ましくは0.01〜30μm 、より好ましくは0.
05〜20μm 、最適には0.1〜10μm とされ
るのが望ましい。
In the present invention, the thickness of the surface layer is preferably 0.01 to 30 μm, more preferably 0.01 to 30 μm, from the viewpoint of obtaining desired electrophotographic properties and economical effects.
It is desirable that the thickness be 0.05 to 20 μm, most preferably 0.1 to 10 μm.

【0077】本発明においてnc−SiC(H、X)で
構成される表面層を形成するには、前述の光導電層を形
成する方法と同様の真空堆積法が採用される。
In the present invention, to form the surface layer composed of nc-SiC(H,X), a vacuum deposition method similar to the method for forming the photoconductive layer described above is employed.

【0078】本発明の目的を達成し得る特性を有する表
面層を形成する場合には、導電性基体の温度、ガス圧が
前記表面層の特性を左右する重要な要因である。導電性
基体温度は適宜最適範囲が選択されるが、好ましくは2
0〜500℃、より好ましくは50〜480℃、最適に
は100〜450℃とするのが望ましい。
When forming a surface layer having characteristics that can achieve the objects of the present invention, the temperature and gas pressure of the conductive substrate are important factors that influence the characteristics of the surface layer. The optimum range for the conductive substrate temperature is selected as appropriate, but preferably 2
It is desirable that the temperature be 0 to 500°C, more preferably 50 to 480°C, and optimally 100 to 450°C.

【0079】反応容器内のガス圧も適宜最適範囲が選択
されるが、好ましくは1x10−5〜10Torr、よ
り好ましくは5x10−5〜3Torr、最適には1x
10−4〜1Torrとするのが望ましい。
[0079] The gas pressure inside the reaction vessel is also appropriately selected within the optimum range, preferably 1 x 10-5 to 10 Torr, more preferably 5 x 10-5 to 3 Torr, most preferably 1 x
It is desirable to set it to 10-4 to 1 Torr.

【0080】本発明においては、表面層を形成するため
の導電性基体温度、ガス圧の望ましい数値範囲として前
記した範囲が挙げられるが、これらの層作製ファクター
は通常は独立的に別々に決められるものではなく、所望
の特性を有する表面層を形成すべく相互的且つ有機的関
連性に基づいて各層作製ファクターの最適値を決めるる
のが望ましい。
In the present invention, the above-mentioned ranges are mentioned as desirable numerical ranges for the conductive substrate temperature and gas pressure for forming the surface layer, but these layer formation factors are usually determined independently and separately. Instead, it is desirable to determine the optimum value of each layer fabrication factor based on mutual and organic relationships in order to form a surface layer with desired properties.

【0081】本発明において、プラズマを発生させるエ
ネルギーは、DC、高周波、マイクロ波等いずれでも可
能であるが、特に、プラズマの発生のエネルギーにマイ
クロ波を用いた場合、吸着した水分にマイクロ波が吸収
され、界面の変化がより顕著なものとなるため、本発明
の効果がより顕著なものとなる。
[0081] In the present invention, the energy for generating plasma can be DC, high frequency, microwave, etc., but in particular, when microwaves are used for the energy for plasma generation, the microwaves can be applied to the adsorbed water. The effect of the present invention becomes more remarkable because the change in the interface becomes more remarkable.

【0082】本発明において、プラズマ発生のためにマ
イクロ波を用いる場合、マイクロ波電力は、放電を発生
させることができればいずれでも良いが、100W 以
上、10kW以下、好ましくは500W 以上、4kW
以下が本発明を実施するに当たり適当である。
In the present invention, when microwaves are used to generate plasma, the microwave power may be any power as long as it can generate discharge, but is 100 W or more and 10 kW or less, preferably 500 W or more and 4 kW.
The following are suitable for practicing the invention.

【0083】本発明は、いずれの電子写真感光体製造方
法にも適用が可能であるが、特に放電空間を囲むように
基体を設け、少なくとも基体の一端側から導波管により
マイクロ波を導入する構成により堆積膜を形成する場合
大きな効果がある。
The present invention can be applied to any method of manufacturing an electrophotographic photoreceptor, but in particular, a base body is provided to surround a discharge space, and microwaves are introduced through a waveguide from at least one end of the base body. There is a great effect when forming a deposited film depending on the structure.

【0084】以下、本発明の効果を、実施例を用いて具
体的に説明するが、本発明はこれらにより何ら限定され
るものではない。
[0084] Hereinafter, the effects of the present invention will be specifically explained using examples, but the present invention is not limited by these in any way.

【0085】[0085]

【実施例】【Example】

〈実施例1および比較例1〉 実施例1 純度99.5%のアルミニウムよりなる直径108mm
、長さ358mm、肉厚5mmの円筒状基体を、前述の
本発明による電子写真感光体の製造方法の手順の一例と
同様の手順で表面の切削を行い、切削工程終了15分後
に図1に示す表面処理装置により、表1に示す条件によ
り基体表面の前処理を行なった。但し、本実施例では界
面活性剤としてはポリエチレングリコールノニルフェニ
ルエーテルを1wt%水溶液として用いた。このように
前処理を行なったアルミシリンダー上に、さきに詳述し
た手順にしたがって、図4に示す電子写真感光体の製造
装置を用い、高周波グロー放電法により表2に示す作製
条件で電子写真感光体を作製した。本実施例では、光導
電層中の炭素含有量の変化パターンを図7のように変化
させるために、光導電層の形成時に導入するCH4 の
流量をリニアに変化させた。この時の光導電層の基体と
の界面での炭素含有量は、約30原子%となるようにし
た。なお、炭素含有量はラザフォード後方散乱法による
元素分析により標準サンプルの検量線を作製し、標準サ
ンプルと作製したサンプルをオージェ分光法によるシグ
ナル強度を比較し絶対量を求めた。
<Example 1 and Comparative Example 1> Example 1 Diameter 108 mm made of 99.5% pure aluminum
The surface of a cylindrical substrate with a length of 358 mm and a wall thickness of 5 mm was cut in the same manner as the above-described example of the procedure of the method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor according to the present invention, and 15 minutes after the cutting process was completed, the surface was cut as shown in FIG. The surface of the substrate was pretreated under the conditions shown in Table 1 using the surface treatment apparatus shown below. However, in this example, polyethylene glycol nonylphenyl ether was used as a 1 wt % aqueous solution as the surfactant. Electrophotography was performed on the aluminum cylinder pretreated in this way using the electrophotographic photoreceptor manufacturing apparatus shown in FIG. A photoreceptor was produced. In this example, in order to change the pattern of change in carbon content in the photoconductive layer as shown in FIG. 7, the flow rate of CH4 introduced during formation of the photoconductive layer was varied linearly. At this time, the carbon content at the interface between the photoconductive layer and the substrate was set to about 30 atomic %. The carbon content was determined by creating a calibration curve for a standard sample through elemental analysis using the Rutherford backscattering method, and by comparing the signal intensities of the standard sample and the prepared sample using Auger spectroscopy to determine the absolute amount.

【0086】作製した電子写真感光体をまず目視により
表面性を評価し、その後キャノン製複写機NP−755
0を実験用に改造した電子写真装置に設置し、帯電能、
感度、残留電位等、電子写真特性について以下の評価を
行なった。■  表面の曇り作製した電子写真感光体を
、目視により表面の曇りの程度の検査を行なった。
The surface quality of the produced electrophotographic photoreceptor was first visually evaluated, and then the surface quality was evaluated using a Canon copier NP-755.
0 was installed in an electrophotographic device modified for experiments, and the charging ability,
The following evaluations were made regarding electrophotographic properties such as sensitivity and residual potential. (4) Surface cloudiness The produced electrophotographic photoreceptor was visually inspected for the degree of surface cloudiness.

【0087】◎は曇り無し ○は一部曇りあり △は部分的に、数カ所曇りがあり xは全面に曇りがある。 ■  帯電能・感度・残留電位 帯電能…電子写真感光体を実験装置に設置し、帯電器に
+6kVの高電圧を印加しコロナ帯電を行ない、表面電
位計により電子写真感光体の暗部表面電位を測定する。
◎ means no clouding; ○ means partly cloudy; △ means partly cloudy; and x means cloudy all over. ■Charging ability, sensitivity, residual potential Charging ability...The electrophotographic photoreceptor was installed in the experimental equipment, a high voltage of +6 kV was applied to the charger to perform corona charging, and the dark area surface potential of the electrophotographic photoreceptor was measured using a surface potentiometer. Measure.

【0088】帯電能むら…上記の測定を1つの電子写真
感光体の上、中、下についてそれぞれ3箇所づつ計9箇
所について測定しその中の1番大きい電位から1番小さ
い電位を引いた値を示す。
Charging ability unevenness: The above measurement is performed at 9 locations, 3 locations each on the top, middle, and bottom of one electrophotographic photoreceptor, and the value is calculated by subtracting the smallest potential from the highest potential. shows.

【0089】感度…電子写真感光体を、一定の暗部表面
電位に帯電させる。そして直ちに光像を照射する。光像
はキセノンランプ光源を用い、フィルターを用いて55
0nm以下の波長域の光を除いた光を照射する。この時
表面電位計により電子写真感光体の明部表面電位を測定
する。明部表面電位が所定の電位になるよう露光量を調
整し、この時の露光量をもって感度とする。
Sensitivity: The electrophotographic photoreceptor is charged to a constant dark area surface potential. Then, a light image is immediately irradiated. The light image was created using a xenon lamp light source and a filter.
Irradiate with light excluding light in the wavelength range of 0 nm or less. At this time, the bright area surface potential of the electrophotographic photoreceptor is measured using a surface electrometer. The exposure amount is adjusted so that the bright area surface potential becomes a predetermined potential, and the exposure amount at this time is defined as the sensitivity.

【0090】感度むら…上記の測定を1つの電子写真感
光体の上、中、下についてそれぞれ3箇所づつ計9箇所
について測定しその中の1番大きい電位から1番小さい
電位を引いた値を示す。
Sensitivity unevenness...Measure the above measurements at 9 locations, 3 locations each on the top, middle, and bottom of one electrophotographic photoreceptor, and calculate the value obtained by subtracting the smallest potential from the largest potential. show.

【0091】残留電位…電子写真感光体を、一定の暗部
表面電位に帯電させる。そして直ちに一定光量の比較的
強い光を照射する。光像はキセノンランプ光源を用い、
フィルターを用いて550nm以下の波長域の光を除い
た光を照射した。この時、表面電位計により電子写真感
光体の明部表面電位を測定する。 ■  白ポチ・ハーフトーンむら …電子写真感光体を、キャノン社製複写機NP7550
を実験用に改造した複写機にいれ、通常の電子写真プロ
セスにより転写し紙面上に画像を形成し、下記の手順に
より画像の評価を行なった。
Residual potential: The electrophotographic photoreceptor is charged to a constant dark area surface potential. Then, a constant amount of relatively strong light is immediately applied. The optical image uses a xenon lamp light source,
Light excluding light in a wavelength range of 550 nm or less was irradiated using a filter. At this time, the bright area surface potential of the electrophotographic photoreceptor is measured using a surface electrometer. ■ White spots and uneven halftones...The electrophotographic photoreceptor was used with a Canon Co., Ltd. copier NP7550.
was placed in a copying machine modified for experimental purposes, and an image was formed on paper by transferring it using a normal electrophotographic process, and the image was evaluated according to the following procedure.

【0092】白ポチ…キャノン製全面黒チャート(部品
番号:FY9−9073)を原稿台に置きコピーしたと
きに得られたコピー画像の同一面積内にある直径0.2
mm以下の白ポチについて、その数を数えた。
[0092] White dots...Diameter 0.2 within the same area of the copy image obtained when copying a full black chart made by Canon (part number: FY9-9073) on the document table
The number of white spots smaller than mm was counted.

【0093】ハーフトーンむら …キャノン製中間調チャート(部品番号:FY9−90
42)を原稿台に置きコピーしたときに得られたコピー
画像上で直径0.05mmの円形の領域を1単位として
100点の画像濃度を測定し、その画像濃度のばらつき
を評価した。
[0093] Halftone unevenness...Canon halftone chart (part number: FY9-90
The image density was measured at 100 points on the copy image obtained when copying 42) was placed on a document table, with each unit being a circular area with a diameter of 0.05 mm, and the variation in the image density was evaluated.

【0094】それぞれについて、 ◎は「特に良好」 ○は「良好」 △は「実用上問題無し」 xは「実用上問題有り」 これらの結果を表3に示す。 比較例1 実施例1と同様の導電性基体を同様の手順で切削を行い
、切削が終了した導電性基体は、図3に示す従来の導電
性基体の洗浄装置により表4の条件で基体表面の処理を
行なった。図3に示す導電性基体の洗浄装置は、処理槽
302と基体搬送機構303よりなっている。処理槽3
02は、基体投入台311、基体洗浄槽321、基体搬
出台351よりなっている。洗浄槽321は液の温度を
一定に保つための温度調節装置(図示せず)が付いてい
る。搬送機構303は、搬送レール365と搬送アーム
361よりなり、搬送アーム361は、レール365上
を移動する移動機構362、基体301を保持するチャ
ッキング機構363、及びこのチャッキング機構363
を上下させるためのエアーシリンダー364よりなって
いる。
For each, ◎ is "particularly good", ○ is "good", △ is "no problem in practical use", and x is "problem in practical use". These results are shown in Table 3. Comparative Example 1 A conductive substrate similar to that of Example 1 was cut in the same manner as in Example 1, and the surface of the conductive substrate after cutting was cleaned under the conditions shown in Table 4 using the conventional conductive substrate cleaning apparatus shown in FIG. was processed. The conductive substrate cleaning apparatus shown in FIG. 3 includes a processing tank 302 and a substrate transport mechanism 303. Processing tank 3
02 consists of a substrate loading table 311, a substrate cleaning tank 321, and a substrate unloading table 351. The cleaning tank 321 is equipped with a temperature control device (not shown) for keeping the temperature of the liquid constant. The transport mechanism 303 includes a transport rail 365 and a transport arm 361, and the transport arm 361 includes a moving mechanism 362 that moves on the rail 365, a chucking mechanism 363 that holds the base 301, and this chucking mechanism 363.
It consists of an air cylinder 364 for raising and lowering.

【0095】切削後、投入台上311に置かれた基体3
01は、搬送機構303により洗浄槽321に搬送され
る。洗浄槽321中のトリクロルエタン(商品名:エタ
ーナVG  旭化成工業社製)322により表面に付着
している切削油及び切り粉を除去するための洗浄が行な
われる。
After cutting, the base 3 placed on the input table 311
01 is transported to the cleaning tank 321 by the transport mechanism 303. Trichloroethane (trade name: Eterna VG, manufactured by Asahi Kasei Industries, Ltd.) 322 in a cleaning tank 321 performs cleaning to remove cutting oil and chips adhering to the surface.

【0096】洗浄後、基体301は、搬送機構303に
より搬出台351に運ばれる。このようにして従来の基
体の前処理を行った基体に実施例1と同様にして、表5
に示す条件で図6に示すように基体601、電荷輸送層
602、電荷発生層603、表面層604の3層構成の
、いわゆる機能分離型電子写真感光体を作製した。得ら
れた電子写真感光体の評価は実施例1と同様に行ない、
実施例1の結果と合せて表3に示す。
After cleaning, the substrate 301 is transported to a carry-out table 351 by a transport mechanism 303. In the same way as in Example 1, Table 5
A so-called functionally separated electrophotographic photoreceptor having a three-layer structure consisting of a base 601, a charge transport layer 602, a charge generation layer 603, and a surface layer 604 as shown in FIG. 6 was prepared under the conditions shown in FIG. The obtained electrophotographic photoreceptor was evaluated in the same manner as in Example 1,
The results are shown in Table 3 together with the results of Example 1.

【0097】表3より明らかなように本発明の方法によ
れば、感度が向上し、なおかつ残留電位が低く抑えられ
ている。そして特に感光体の表面の曇り、および帯電能
むら、感度むら、ハーフトーンむらに関してすぐれた特
性を示していることがわかる。 〈実施例2および比較例2〉 実施例2 図1に示す基体表面処理装置により実施例1と同様の基
体の前処理を行なった基体上に、図2(a)、(b)に
示す電子写真感光体の製造装置を用い、マイクロ波グロ
ー放電法により、表6に示す条件で電子写真感光体を作
製した。作製した電子写真感光体は実施例1と同様の評
価を行った。その結果実施例1とまったく同様の結果が
得られた。 比較例2 図3に示す基体表面処理装置により比較例1と同様の前
処理を行なった導電性基体上に、図2(a)、(b)に
示す電子写真感光体の製造装置を用い、マイクロ波グロ
ー放電法により表7に示す条件で基体、第1の光導電層
、第2の光導電層、表面層の3層構成の、いわゆる機能
分離型電子写真感光体を作製した。得られた電子写真感
光体の評価は実施例2と同様に行なった。その結果、比
較例2とまったく同様の結果が得られた。 〈実施例3および比較例3〉 実施例3 図1に示す基体表面処理装置により実施例1と同様の前
処理を行なった基体上に、図4に示す電子写真感光体の
製造装置を用い、さきに詳述した手順にしたがって、高
周波グロー放電法により表8に示す作製条件で電子写真
感光体を作製した。本実施例では、光導電層中の炭素含
有量の変化パターンを図8、図9に示すように変化させ
るために、光導電層の形成時に導入するCH4 の流量
を変化させ、2種類の感光体を作製した。いずれのパタ
ーンにおいても光導電層の基体側表面での炭素含有量は
、約30原子%となるようにした。なお、炭素含有量は
ラザフォード後方散乱法による元素分析により標準サン
プルの検量線を作製し、標準サンプルと作製したサンプ
ルをオージェ分光法によるシグナル強度で比較し絶対量
を求めた。
As is clear from Table 3, according to the method of the present invention, the sensitivity is improved and the residual potential is kept low. In particular, it can be seen that the photoreceptor exhibits excellent characteristics with respect to cloudiness on the surface, uneven chargeability, uneven sensitivity, and uneven halftone. <Example 2 and Comparative Example 2> Example 2 The electrons shown in FIGS. 2(a) and 2(b) were applied onto a substrate that had been pretreated in the same manner as in Example 1 using the substrate surface treatment apparatus shown in FIG. An electrophotographic photoreceptor was manufactured under the conditions shown in Table 6 by a microwave glow discharge method using a photographic photoreceptor manufacturing apparatus. The produced electrophotographic photoreceptor was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, exactly the same results as in Example 1 were obtained. Comparative Example 2 Using the electrophotographic photoreceptor manufacturing apparatus shown in FIGS. 2(a) and 2(b), A so-called functionally separated electrophotographic photoreceptor having a three-layer structure consisting of a substrate, a first photoconductive layer, a second photoconductive layer, and a surface layer was prepared under the conditions shown in Table 7 by a microwave glow discharge method. The obtained electrophotographic photoreceptor was evaluated in the same manner as in Example 2. As a result, exactly the same results as Comparative Example 2 were obtained. <Example 3 and Comparative Example 3> Example 3 Using the electrophotographic photoreceptor manufacturing apparatus shown in FIG. 4, on a substrate that had been pretreated in the same manner as in Example 1 using the substrate surface treatment apparatus shown in FIG. In accordance with the procedure detailed above, an electrophotographic photoreceptor was produced using a high frequency glow discharge method under the production conditions shown in Table 8. In this example, in order to change the pattern of change in carbon content in the photoconductive layer as shown in FIGS. 8 and 9, the flow rate of CH4 introduced during formation of the photoconductive layer was changed, and two types of photosensitive The body was created. In either pattern, the carbon content on the substrate-side surface of the photoconductive layer was about 30 atomic %. For the carbon content, a calibration curve of a standard sample was prepared by elemental analysis using Rutherford backscattering method, and the absolute amount was determined by comparing the signal intensity of the standard sample and the prepared sample using Auger spectroscopy.

【0098】作製した電子写真感光体の表面の曇り、及
びキャノン製複写機NP−7550を実験用に改造した
電子写真装置に設置し、帯電能、感度、残留電位等につ
いて実施例1と同様の方法で評価した。その結果を表9
に示す。 比較例3 比較例1と同様に前処理を行なった基体上に、実施例3
と同様にして、図10、図11に示す炭素含有量パター
ンで電子写真感光体を作製し、実施例3と同様の評価を
行なった。そしてその結果を表9に、実施例3の評価結
果と合わせて示す。
[0098] The surface cloudiness of the produced electrophotographic photoreceptor, and the Canon NP-7550 copying machine were installed in an electrophotographic apparatus modified for experimental purposes, and the charging ability, sensitivity, residual potential, etc. were the same as in Example 1. The method was evaluated. Table 9 shows the results.
Shown below. Comparative Example 3 Example 3 was applied onto a substrate pretreated in the same manner as Comparative Example 1.
In the same manner as above, an electrophotographic photoreceptor was produced with the carbon content pattern shown in FIGS. 10 and 11, and the same evaluation as in Example 3 was performed. The results are shown in Table 9 together with the evaluation results of Example 3.

【0099】本発明によるところの光導電層の炭素量変
化パターンでは比較例3の結果に比べて特に表面の曇り
、帯電能むら、感度むら、ハーフトーンむらについて特
に良好な結果が得られていることがわかる。 〈実施例4および比較例4〉 実施例4 図1に示す基体表面処理装置により、実施例1と同様の
前処理を行った基体上に図2(a)、(b)に示す電子
写真感光体の製造装置を用い、マイクロ波グロー放電法
を用いる以外は実施例3と同様にして、表10に示す作
製条件で電子写真感光体を作製した。本実施例では、光
導電層中の炭素含有量の変化パターンを図8、図9のよ
うに変化させるために、光導電層の形成時に導入するC
H4の流量を変化させた。いずれのパターンにおいても
光導電層の基体側表面での炭素含有量は、約30原子%
となるようにした。なお、炭素含有量はラザフォード後
方散乱法による元素分析により標準サンプルの検量線を
作製し、標準サンプルと作製したサンプルをオージェ分
光法によるシグナル強度で比較し絶対量を求めた。作製
した電子写真感光体は実施例3とまったく同様の結果が
得られた。 比較例4 図3に示す基体表面処理装置により、比較例1と同様に
前処理を行なった基体上に、実施例4と同様にして、図
10、図11に示す炭素含有量パターンで電子写真感光
体を作製した。得られた電子写真感光体を実施例4と同
様の評価を行なったところ、比較例3とまったく同様の
結果が得られた。 <実施例5>図1に示す基体表面処理装置により、実施
例1と同様の前処理を行なった基体上に、図4に示す電
子写真感光体の製造装置を用い、さきに詳述した手順に
したがって、高周波グロー放電法により表2に示す作製
条件で電子写真感光体を作製した。本実施例では、光導
電層中の炭素含有量の変化パターンは図7を用い、基体
側表面の炭素含有量を光導電層の形成時に導入するCH
4 の流量を変えることにより変化させた。そして光導
電層の基体側表面での炭素含有量は、上述と同様にオー
ジェ分光法で同定した。
[0099] Compared with the results of Comparative Example 3, the carbon content variation pattern of the photoconductive layer according to the present invention yields particularly good results in terms of surface haze, chargeability unevenness, sensitivity unevenness, and halftone unevenness. I understand that. <Example 4 and Comparative Example 4> Example 4 Using the substrate surface treatment apparatus shown in FIG. 1, the electrophotographic photosensitive material shown in FIGS. An electrophotographic photoreceptor was manufactured using the body manufacturing apparatus under the manufacturing conditions shown in Table 10 in the same manner as in Example 3 except that the microwave glow discharge method was used. In this example, in order to change the pattern of change in the carbon content in the photoconductive layer as shown in FIGS. 8 and 9, C was introduced at the time of forming the photoconductive layer.
The flow rate of H4 was varied. In either pattern, the carbon content on the surface of the photoconductive layer on the substrate side is approximately 30 at.%.
I made it so that For the carbon content, a calibration curve of a standard sample was prepared by elemental analysis using Rutherford backscattering method, and the absolute amount was determined by comparing the signal intensity of the standard sample and the prepared sample using Auger spectroscopy. The produced electrophotographic photoreceptor gave exactly the same results as in Example 3. Comparative Example 4 Using the substrate surface treatment apparatus shown in FIG. 3, electrophotography was performed on a substrate pretreated in the same manner as in Comparative Example 1 with the carbon content patterns shown in FIGS. 10 and 11 in the same manner as in Example 4. A photoreceptor was produced. When the obtained electrophotographic photoreceptor was evaluated in the same manner as in Example 4, results exactly the same as in Comparative Example 3 were obtained. <Example 5> Using the electrophotographic photoreceptor manufacturing apparatus shown in FIG. 4, the procedure detailed above was carried out on a substrate that had been pretreated in the same manner as in Example 1 using the substrate surface treatment apparatus shown in FIG. According to the above, an electrophotographic photoreceptor was manufactured using the high frequency glow discharge method under the manufacturing conditions shown in Table 2. In this example, the change pattern of the carbon content in the photoconductive layer is as shown in FIG.
4 by changing the flow rate. The carbon content on the substrate-side surface of the photoconductive layer was determined by Auger spectroscopy in the same manner as described above.

【0100】作製した電子写真感光体の表面の曇りおよ
び球状突起の発生数、更にキヤノン製複写機NP−75
50を実験用に改造した電子写真装置に設置し、帯電能
、感度、残留電位、白ポチ、ハーフトーンむら等の電子
写真特性および画像性の評価を行なった。各項目は、以
下の方法で評価した。 ■  表面の曇り 実施例1と同様にして評価した。 ■  球状突起の数 作製した電子写真感光体の表面全域を光学顕微鏡で観察
し、100cm2 の面積内での直径20μm 以上の
球状突起の個数を調べた。各電子写真感光体について結
果を出し、最も球状突起の数の多かったものを100%
として相対比較をした。その結果を以下のように分類し
た。
[0100] The number of occurrences of cloudiness and spherical protrusions on the surface of the produced electrophotographic photoreceptor, and also the number of occurrences of the Canon copier NP-75.
No. 50 was installed in an electrophotographic apparatus modified for experimental use, and electrophotographic characteristics such as charging ability, sensitivity, residual potential, white spots, and halftone unevenness, and image quality were evaluated. Each item was evaluated using the following method. (2) Surface cloudiness Evaluation was made in the same manner as in Example 1. (2) Number of spherical protrusions The entire surface of the produced electrophotographic photoreceptor was observed with an optical microscope, and the number of spherical protrusions with a diameter of 20 μm or more within an area of 100 cm 2 was determined. Results are obtained for each electrophotographic photoreceptor, and the one with the largest number of spherical protrusions is given 100%.
A relative comparison was made as follows. The results were classified as follows.

【0101】◎は60%未満 ○は80〜60% △は100〜80% ■  帯電能・感度・感度むら・残留電位実施例1と同
様にして評価した。 ■  白ポチ・ハーフトーンむら 白ポチ・ハーフトーンむら…実施例1と同様にして評価
した。
◎: Less than 60% ○: 80 to 60% △: 100 to 80% (2) Charging ability, sensitivity, sensitivity unevenness, and residual potential Evaluations were made in the same manner as in Example 1. ■ White spots/halftone unevenness White spots/halftone unevenness: Evaluation was made in the same manner as in Example 1.

【0102】このようにして得られた結果をまとめて表
11に示す。この結果から、光導電層の基体側表面の炭
素量としては、0.5〜50原子%で特性の向上が見ら
れ、さらに1〜30原子%できわめて良好な結果が得ら
れている。 <実施例6>図1に示す基体表面処理装置により実施例
1と同様の前処理を行なった基体上に図2(a)、(b
)に示す電子写真感光体の製造装置を用い、さきに詳述
した手順にしたがって、マイクロ波グロー放電法により
、表6に示す作製条件で電子写真感光体を作製した。本
実施例では、光導電層中の炭素含有量の変化パターンは
図7を用い、基体側表面の炭素含有量を光導電層の形成
時に導入するCH4 の流量を各感光体ごとに変えるこ
とにより変化させた。
The results thus obtained are summarized in Table 11. The results show that the properties are improved when the amount of carbon on the surface of the photoconductive layer on the substrate side is 0.5 to 50 atomic %, and very good results are obtained when the carbon content is 1 to 30 atomic %. <Example 6> The substrate shown in FIGS.
) Using the electrophotographic photoreceptor manufacturing apparatus shown in Table 6, an electrophotographic photoreceptor was manufactured under the manufacturing conditions shown in Table 6 by a microwave glow discharge method according to the procedure detailed above. In this example, the change pattern of the carbon content in the photoconductive layer was determined by using the pattern shown in FIG. Changed.

【0103】そして、実施例5と同様にして評価した結
果、表11とまったく同じ結果が得られた。 <実施例7>実施例1と同様の前処理を行った基体上に
、図4に示す電子写真感光体の製造装置を用い、さきに
詳述した手順にしたがって、高周波グロー放電法により
表12に示す作製条件で電子写真感光体を作製した。 本実施例では、光導電層中の弗素含有量を図12に示す
ように変化させるために、光導電層の形成時に導入する
SiF4 の流量を変化させた。 (I)作製した電子写真感光体をキヤノン製複写機NP
−7550を実験用に改造した電子写真装置に設置し、
加速耐久試験を行なう前の白ポチ、ハーフトーンむら、
ゴースト等の電子写真特性について評価を行なった。各
項目は、実施例1および実施例5と同様の方法で評価し
た。また、ゴーストの評価は、以下のように行なった。
[0103] As a result of evaluation in the same manner as in Example 5, exactly the same results as in Table 11 were obtained. <Example 7> Table 12 was formed on a substrate pretreated in the same manner as in Example 1 by high-frequency glow discharge method using the electrophotographic photoreceptor manufacturing apparatus shown in FIG. An electrophotographic photoreceptor was manufactured under the manufacturing conditions shown below. In this example, in order to change the fluorine content in the photoconductive layer as shown in FIG. 12, the flow rate of SiF4 introduced during formation of the photoconductive layer was changed. (I) Transfer the produced electrophotographic photoreceptor to a Canon copier NP.
-7550 was installed in an electrophotographic device modified for experiments,
White spots and uneven halftones before the accelerated durability test.
The electrophotographic characteristics such as ghost were evaluated. Each item was evaluated in the same manner as in Example 1 and Example 5. Further, ghost evaluation was performed as follows.

【0104】ゴースト…キヤノン製ゴーストテストチャ
ート(部品番号:FY9−9040)に反射濃度1.1
、¢5mmの黒丸を貼付けたものを原稿台の画像先端部
に置き、その上に、キヤノン製中間調チャートを重ねて
おいた際のコピー画像において中間調コピー上に認めら
れるゴーストチャートの¢5mmの反射濃度と中間調部
分の反射濃度との差を測定した。それぞれについて、◎
は「特に良好」 ○は「良好」 △は「実用上問題なし」 ×は「実用上問題有り」 を表している。
Ghost...Reflection density 1.1 on Canon ghost test chart (part number: FY9-9040)
, a 5mm black circle pasted is placed at the leading edge of the image on the document table, and a Canon halftone chart is placed on top of it.The 5mm ghost chart that is observed on the halftone copy of the copied image. The difference between the reflection density of the image and the reflection density of the halftone area was measured. For each, ◎
indicates "particularly good"; ○ indicates "good"; △ indicates "no practical problem"; × indicates "practical problem".

【0105】この結果を表13にまとめて示す。 (II)次に、作製した電子写真感光体をキヤノン製複
写機NP−7550を実験用に改造した電子写真装置に
設置し300万枚相当の加速耐久試験を行なった。そし
て、白ポチ、ハーフトーンむら、ゴースト等の電子写真
特性の評価を(I)と同様に行なった。その結果を表1
4にまとめて示す。
[0105] The results are summarized in Table 13. (II) Next, the produced electrophotographic photoreceptor was installed in an electrophotographic apparatus which was a modified Canon NP-7550 copying machine for experimental purposes, and an accelerated durability test was conducted for the equivalent of 3 million copies. Then, electrophotographic characteristics such as white spots, halftone unevenness, and ghosts were evaluated in the same manner as in (I). Table 1 shows the results.
They are summarized in 4.

【0106】表13および表14の結果から、光導電層
中の弗素含有量が95原子ppm 以下の範囲に設定す
ることで画像特性および耐久性に関しても非常にすぐれ
た電子写真感光体を作製することが可能であることが示
された。 <実施例8>図1に示す基体表面処理装置により、実施
例1と同様の前処理を行なった基体上に、図2(a)、
(b)に示す電子写真感光体の製造装置を用い、マイク
ロ波グロー放電法により実施例7と同様に表15に示す
作製条件で電子写真感光体を作製した。そして作製した
電子写真感光体を実施例7と同じ手順で評価した。その
結果は表13および表14と全く同様であった。 <実施例9>図1に示す基体表面処理装置により、実施
例1と同様の前処理を行なった基体上に、図4に示す電
子写真感光体の製造装置を用い、高周波グロー放電法に
より表16の作製条件で電子写真感光体を作製した。本
実験では表面層に含有される炭素量を変化させるように
、表面層形成時に導入するCH4 流量を変化させた。
From the results in Tables 13 and 14, it is clear that by setting the fluorine content in the photoconductive layer to a range of 95 atomic ppm or less, an electrophotographic photoreceptor with excellent image characteristics and durability can be produced. It was shown that this is possible. <Example 8> Using the substrate surface treatment apparatus shown in FIG. 1, the substrate shown in FIG. 2(a),
Using the electrophotographic photoreceptor manufacturing apparatus shown in (b), an electrophotographic photoreceptor was manufactured using the microwave glow discharge method under the manufacturing conditions shown in Table 15 in the same manner as in Example 7. The produced electrophotographic photoreceptor was evaluated in the same manner as in Example 7. The results were exactly the same as Tables 13 and 14. <Example 9> Using the electrophotographic photoreceptor manufacturing apparatus shown in FIG. 4, a substrate was subjected to the same pretreatment as in Example 1 using the substrate surface treatment apparatus shown in FIG. Electrophotographic photoreceptors were manufactured under 16 manufacturing conditions. In this experiment, the flow rate of CH4 introduced during the formation of the surface layer was varied so as to vary the amount of carbon contained in the surface layer.

【0107】作製した電子写真感光体をキヤノン製複写
機NP−8580を実験用に改造した電子写真装置に設
置して、帯電能、帯電能むら、残留電位、耐久前の画像
評価、300万枚相当の加速耐久試験後の画像評価を以
下に示す方法で行なった。
[0107] The produced electrophotographic photoreceptor was installed in an electrophotographic device that was modified from a Canon copier NP-8580 for experimental purposes, and the charging ability, charging ability unevenness, residual potential, image evaluation before durability, and 3 million copies were evaluated. Image evaluation after a correspondingly accelerated durability test was performed by the method shown below.

【0108】帯電能…実施例1と同様に行なった。Charging ability: Conducted in the same manner as in Example 1.

【0109】残留電位…実施例1と同様に行なった。Residual potential: The same procedure as in Example 1 was carried out.

【0110】耐久後の画像評価…白ポチ、擦傷それぞれ
について5段階の限度見本を作製し、評価結果の合計を
次の4段階に分類した。
[0110] Image evaluation after durability...5-level limit samples were prepared for each of white spots and scratches, and the total evaluation results were classified into the following 4 levels.

【0111】◎は「特に良好」 ○は「良好」 △は「実用上問題なし」 ×は「実用上問題有り」 以下の結果を表17に示す。表より明らかなように、炭
素含有量が40〜90原子%で帯電能、耐久性に著しい
改善が見られる。 <実施例10>図1に示す基体表面処理装置により、実
施例1と同様の前処理を行なった基体上に、図2(a)
、(b)に示す電子写真感光体の製造装置を用い、マイ
クロ波グロー放電法により実施例9と同様に、表18に
示す作製条件で電子写真感光体を作製した。本実験では
表面層に含有される炭素量を変化させるように、表面層
形成時に導入するCH4 流量を変化させた。
◎: "Particularly good" ○: "Good" △: "No practical problem" ×: "Practical problem" The following results are shown in Table 17. As is clear from the table, when the carbon content is 40 to 90 atom %, the charging ability and durability are significantly improved. <Example 10> Using the substrate surface treatment apparatus shown in FIG. 1, the substrate shown in FIG.
Using the electrophotographic photoreceptor manufacturing apparatus shown in . In this experiment, the flow rate of CH4 introduced during the formation of the surface layer was varied so as to vary the amount of carbon contained in the surface layer.

【0112】作製した電子写真感光体は実施例9と同じ
手順で評価した。その結果、表17と全く同様の結果が
得られた。 <実施例11>図1に示す基体表面処理装置により、実
施例1と同様の前処理を行なった基体上に、図4に示す
電子写真感光体の製造装置を用い、高周波グロー放電法
により表19の作製条件で電子写真感光体を作製した。 本実験では表面層に含有される水素原子量および弗素原
子量を変化させるように、表面層形成時に導入するH2
および/またはSiF4 の流量を変化させた。
The produced electrophotographic photoreceptor was evaluated in the same manner as in Example 9. As a result, results completely similar to those in Table 17 were obtained. <Example 11> Using the electrophotographic photoreceptor manufacturing apparatus shown in FIG. 4, a substrate was subjected to the same pretreatment as in Example 1 using the substrate surface treatment apparatus shown in FIG. An electrophotographic photoreceptor was manufactured under 19 manufacturing conditions. In this experiment, H2 was introduced during the formation of the surface layer to change the amount of hydrogen atoms and fluorine atoms contained in the surface layer.
and/or the flow rate of SiF4 was varied.

【0113】作製した電子写真感光体をキヤノン製複写
機NP−8580を実験用に改造した電子写真装置に設
置して、残留電位・感度・画像流れの3項目について評
価を行った。
The produced electrophotographic photoreceptor was installed in an electrophotographic apparatus that was a modified copying machine NP-8580 manufactured by Canon for experimental purposes, and evaluated in terms of three items: residual potential, sensitivity, and image deletion.

【0114】残留電位…実施例1と同様に行なった。Residual potential: The same procedure as in Example 1 was carried out.

【0115】感度…実施例1と同様に行なった。Sensitivity: The same procedure as in Example 1 was carried out.

【0116】感度むら…実施例1と同様に行なった。Sensitivity unevenness: The same procedure as in Example 1 was carried out.

【0117】画像流れ…白地に全面文字よりなるキヤノ
ン製テストチャート(部品番号:FY9−9058)を
原稿台に置き通常の露光量の2倍の露光量で照射しコピ
ーをとる。得られたコピー画像を観察し、画像上の細線
が途切れずにつながっているか評価した。但しこの時画
像上でむらがある時は、全画像領域で評価し一番悪い部
分の結果を示した。
Image deletion: A test chart made by Canon (part number: FY9-9058) consisting of characters on a white background is placed on a document table, and a copy is made by irradiating it with twice the normal exposure amount. The obtained copy image was observed and it was evaluated whether the thin lines on the image were connected without interruption. However, if there was unevenness on the image at this time, the entire image area was evaluated and the results for the worst part were shown.

【0118】◎…良好 ○…一部途切れあり。0118]◎…Good ○…There are some interruptions.

【0119】△…途切れは多いが文字として認識でき、
実用上問題ない。
0119] △…There are many breaks, but it can be recognized as characters,
There is no practical problem.

【0120】得られた結果を表20に示す。表20より
明らかなように、表面層中の、水素含有量と弗素含有量
の和を30〜70原子%とし、かつ弗素の含有量を20
原子%以下の範囲とすることによって、残留電位、感度
のいずれも良好な結果が得られ、さらに強露光での画像
流れが大幅に抑制できることがわかった。 <実施例12>図1に示す基体表面処理装置により、実
施例1と同様に前処理を行なった基体上に、図2(a)
、(b)に示す電子写真感光体の製造装置を用い、マイ
クロ波グロー放電法により実施例10と同様に、表21
に示す作製条件で電子写真感光体を作製した。なお、H
e流量は、H2 流量とあわせて2000sccmと、
一定になるように変化させ、内圧を一定に保った。作製
した電子写真感光体は実施例10と同じ手順で評価した
。その結果、表20と全く同様の結果が得られた。 <実施例13>図1に示す基体表面処理装置により、表
22に示す条件により、実施例1と同様の前処理を行な
った基体上に、図2(a)、(b)に示す電子写真感光
体の製造装置を用い、マイクロ波グロー放電法により表
23に示す条件で電子写真感光体を作製した。本実施例
では光導電層中の弗素の含有量を図12〜15に示す分
布形になるようにSiF4 /SiH4 の値が10〜
50ppm の範囲内で流量をなめらかに変化させ、4
種類の電子写真感光体を作製した。また、弗素を含有し
ないこと以外は同条件で電子写真感光体も作製した。以
上の5種類の電子写真感光体について以下の評価を行な
った。
The results obtained are shown in Table 20. As is clear from Table 20, the sum of hydrogen content and fluorine content in the surface layer is 30 to 70 at%, and the fluorine content is 20
It has been found that by setting the amount within the range of atomic % or less, good results can be obtained in both residual potential and sensitivity, and furthermore, image blurring at strong exposure can be significantly suppressed. <Example 12> Using the substrate surface treatment apparatus shown in FIG. 1, the substrate shown in FIG.
, Table 21 was prepared in the same manner as in Example 10 by the microwave glow discharge method using the electrophotographic photoreceptor manufacturing apparatus shown in (b).
An electrophotographic photoreceptor was manufactured under the manufacturing conditions shown below. In addition, H
The e flow rate is 2000 sccm including the H2 flow rate.
The internal pressure was kept constant. The produced electrophotographic photoreceptor was evaluated in the same manner as in Example 10. As a result, results completely similar to those in Table 20 were obtained. <Example 13> The electrophotographs shown in FIGS. 2(a) and 2(b) were formed on a substrate that had been pretreated in the same manner as in Example 1 using the substrate surface treatment apparatus shown in FIG. 1 under the conditions shown in Table 22. An electrophotographic photoreceptor was manufactured using a photoreceptor manufacturing apparatus under the conditions shown in Table 23 by a microwave glow discharge method. In this example, the value of SiF4/SiH4 was set to 10 to 10 so that the fluorine content in the photoconductive layer had the distribution shape shown in FIGS. 12 to 15.
Change the flow rate smoothly within the range of 50 ppm,
Various types of electrophotographic photoreceptors were manufactured. An electrophotographic photoreceptor was also produced under the same conditions except that it did not contain fluorine. The following evaluations were performed on the above five types of electrophotographic photoreceptors.

【0121】表面の曇り、帯電能、感度、残留電位、白
ポチ、ハーフトーンむら、ゴースト…実施例1と同様の
評価 温度特性…作製した電子写真感光体をキヤノン社製複写
機NP7550を実験用に改造した複写機に入れ、電子
写真感光体の表面温度を30−45℃まで変化し、帯電
器に+6kVの高電圧を印加し、コロナ帯電を行ない、
表面電位計により暗部の表面電位を測定する。感光体の
表面温度に対する暗部の表面温度の変化を直線で近似し
、その傾きを「温度特性」とし、[V/deg ]の単
位であらわす。
[0121] Surface haze, charging ability, sensitivity, residual potential, white spots, halftone unevenness, ghost...Evaluation temperature characteristics similar to those in Example 1...The prepared electrophotographic photoreceptor was used for experimental purposes using a Canon Co., Ltd. copying machine NP7550. The electrophotographic photoreceptor was placed in a modified copying machine, the surface temperature of the electrophotographic photoreceptor was varied to 30-45°C, and a high voltage of +6 kV was applied to the charger to perform corona charging.
Measure the surface potential of the dark area using a surface electrometer. The change in the surface temperature of the dark area with respect to the surface temperature of the photoreceptor is approximated by a straight line, and the slope thereof is defined as a "temperature characteristic" and is expressed in units of [V/deg].

【0122】◎…非常に優れている。◎...Excellent.

【0123】○…優れている。○...Excellent.

【0124】△…実用上問題ない。△...No practical problem.

【0125】×…実用的ではない。×...Not practical.

【0126】以上の結果を表24に示す。表より、光導
電層中に弗素を含有し、しかも膜厚方向に分布させた場
合において、ゴースト、温度特性まで含め、すべての電
子写真特性が改善されていることがわかる。
The above results are shown in Table 24. The table shows that all electrophotographic properties including ghost and temperature properties are improved when fluorine is contained in the photoconductive layer and distributed in the film thickness direction.

【0127】[0127]

【表1】[Table 1]

【0128】[0128]

【表2】[Table 2]

【0129】[0129]

【表3】[Table 3]

【0130】[0130]

【表4】[Table 4]

【0131】[0131]

【表5】[Table 5]

【0132】[0132]

【表6】[Table 6]

【0133】[0133]

【表7】[Table 7]

【0134】[0134]

【表8】[Table 8]

【0135】[0135]

【表9】[Table 9]

【0136】[0136]

【表10】[Table 10]

【0137】[0137]

【表11】[Table 11]

【0138】[0138]

【表12】[Table 12]

【0139】[0139]

【表13】[Table 13]

【0140】[0140]

【表14】[Table 14]

【0141】[0141]

【表15】[Table 15]

【0142】[0142]

【表16】[Table 16]

【0143】[0143]

【表17】[Table 17]

【0144】[0144]

【表18】[Table 18]

【0145】[0145]

【表19】[Table 19]

【0146】[0146]

【表20】[Table 20]

【0147】[0147]

【表21】[Table 21]

【0148】[0148]

【表22】[Table 22]

【0149】[0149]

【表23】[Table 23]

【0150】[0150]

【表24】[Table 24]

【0151】[0151]

【発明の効果】以上に説明したように、本発明のよれば
、金属基体上に機能性膜を形成する工程を含む電子写真
感光体製造方法に於いて、特に金属基体上に本発明の層
構成であるアモルファスシリコンを母体とした電子写真
感光体膜をプラズマCVD法により形成する工程を含む
電子写真感光体製造方法において、前記光受容層を形成
する工程の前に、前記導電性基体の表面層を所定の精度
で切削する工程と、この切削工程後に、切削された導電
性基体表面を洗浄する工程及び洗浄された導電性基体の
表面を純水に接触させる工程とを行うようにしたので、
均一な高品位の画像を与える電子写真感光体を安価に、
かつ安定して有機溶剤等による環境の汚染の心配がなく
製造することが可能である。
Effects of the Invention As explained above, according to the present invention, in an electrophotographic photoreceptor manufacturing method including a step of forming a functional film on a metal substrate, the layer of the present invention can be applied particularly on a metal substrate. In a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor, which includes a step of forming an electrophotographic photoreceptor film using amorphous silicon as a matrix by a plasma CVD method, the surface of the conductive substrate is The method includes a step of cutting the layer with a predetermined precision, a step of cleaning the cut surface of the conductive substrate after the cutting step, and a step of bringing the cleaned surface of the conductive substrate into contact with pure water. ,
An inexpensive electrophotographic photoreceptor that provides uniform, high-quality images.
Moreover, it can be produced stably without worrying about environmental pollution due to organic solvents and the like.

【0152】さらに、本発明によれば光導電層を導電性
基体から炭素原子を連続的に変化させることによって、
電荷(フォトキャリア)の発生と該発生した電荷の輸送
という電子写真感光体にとっての重要な機能をなめらか
に接続させることが可能となり、従来の電荷発生層と電
荷輸送層を分離した、いわゆる機能分離型光受容部材で
問題となる、電荷発生層と電荷輸送層の間の光学的エネ
ルギーギャップの差による電荷の走行不良を防ぎ、光感
度の向上および残留電位の低減に貢献する。
Furthermore, according to the present invention, the photoconductive layer is formed by continuously changing carbon atoms from the conductive substrate.
It is now possible to smoothly connect the important functions for electrophotographic photoreceptors, which are the generation of charge (photocarriers) and the transport of the generated charge, and the conventional charge generation layer and charge transport layer are separated, so-called functional separation. This prevents poor charge travel due to the difference in optical energy gap between the charge generation layer and the charge transport layer, which is a problem in type photoreceptive members, and contributes to improving photosensitivity and reducing residual potential.

【0153】また、第1の光導電層に炭素が含有されて
いることにより光受容層の誘電率を小さくすることがで
きるために、層厚当りの静電容量を減少させることがで
きて高い帯電能と光感度において著しい改善がみられ、
さらに高電圧に対する耐圧性も向上する。
[0153] Furthermore, since the first photoconductive layer contains carbon, the dielectric constant of the photoreceptive layer can be lowered, so that the capacitance per layer thickness can be reduced and the capacitance can be increased. Significant improvements were seen in chargeability and photosensitivity,
Furthermore, the voltage resistance against high voltage is also improved.

【0154】そして、炭素を多く含む層を導電性基体側
に設置することにより導電性基体からの電荷の注入を阻
止することにより帯電能が改善され、さらに導電性基体
と光導電層との密着性が向上し、膜の剥離や微小な欠陥
の発生を抑制することができる。膜の密着性が向上する
ことで、連続して大量に画像形成を行なってもクリーニ
ングブレードや分離爪へのダメージが少なく、クリーニ
ング性および転写紙の分離性も良好になる。従って、画
像形成装置としての耐久性を飛躍的に向上させることが
できる。さらに誘電率の低下により高電圧に対する耐久
性も向上するため光受容部材の一部が絶縁破壊すること
によって起こる「リークポチ」がさらに発生しにくくな
る。
[0154] By disposing a layer containing a large amount of carbon on the conductive substrate side, charging ability is improved by blocking charge injection from the conductive substrate, and furthermore, the adhesion between the conductive substrate and the photoconductive layer is improved. The film properties are improved, and peeling of the film and generation of minute defects can be suppressed. By improving the adhesion of the film, there is less damage to the cleaning blade and separation claw even when a large number of images are continuously formed, and the cleaning performance and separation performance of the transfer paper are also improved. Therefore, the durability of the image forming apparatus can be dramatically improved. Furthermore, since the dielectric constant is lowered, durability against high voltage is improved, so that "leak spots" caused by dielectric breakdown in a part of the light-receiving member are less likely to occur.

【0155】本発明の第2の光導電層を用いることによ
り、特に高感度、低残留電位が達成でき、さらにゴース
ト低減にも優れている。
By using the second photoconductive layer of the present invention, particularly high sensitivity and low residual potential can be achieved, and further, ghost reduction is also excellent.

【0156】また本発明により、製造後の感光体表面の
曇りといった外観不良での歩留まりを大幅に上げ、特に
帯電能むら、感度むら、ハーフトーンむらといった電気
特性のむらを大幅に抑えることができる。
Further, according to the present invention, the yield rate for defects in appearance such as clouding of the surface of the photoreceptor after manufacture can be greatly increased, and in particular, unevenness in electrical properties such as uneven charging performance, uneven sensitivity, and uneven halftone can be significantly suppressed.

【0157】以上のような効果は、例えばマイクロ波C
VD法のように堆積速度を速くして層形成を行なったと
きに特に顕著に現われる。
[0157] The above effects can be achieved by, for example, microwave C
This is especially noticeable when layer formation is performed at a high deposition rate, such as in the VD method.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明の電子写真感光体製造方法を実施するた
めに使用される基体表面処理装置の一例を示す概略断面
図である。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an example of a substrate surface treatment apparatus used to carry out the electrophotographic photoreceptor manufacturing method of the present invention.

【図2】(a)はマイクロ波プラズマCVD法により円
筒状基体上に堆積膜を形成するための堆積膜形成装置の
一例を示す概略縦断面図、(b)は同横断面図である。
FIG. 2(a) is a schematic vertical cross-sectional view showing an example of a deposited film forming apparatus for forming a deposited film on a cylindrical substrate by microwave plasma CVD, and FIG. 2(b) is a cross-sectional view thereof.

【図3】従来の堆積膜形成の前処理として基体の洗浄を
行うための洗浄装置を示す概略断面図である。
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing a conventional cleaning device for cleaning a substrate as a pretreatment for forming a deposited film.

【図4】高周波プラズマCVD法により円筒状基体上に
堆積膜を形成するための堆積膜形成装置を示す概略縦断
面図である。
FIG. 4 is a schematic vertical cross-sectional view showing a deposited film forming apparatus for forming a deposited film on a cylindrical substrate by high-frequency plasma CVD.

【図5】本発明の電子写真感光体の製法において、構成
された層構成を示す説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a layer structure constructed in the method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor of the present invention.

【図6】従来の電子写真感光体の層構成を示す説明図で
ある。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing the layer structure of a conventional electrophotographic photoreceptor.

【図7】本発明の実施品の光導電層の炭素含有量の変化
パターンを示すグラフである。
FIG. 7 is a graph showing a pattern of changes in carbon content of a photoconductive layer of an example of the present invention.

【図8】本発明の実施品の光導電層の炭素含有量の変化
パターンを示すグラフである。
FIG. 8 is a graph showing a pattern of changes in carbon content of a photoconductive layer of an example of the present invention.

【図9】本発明の実施品の光導電層の炭素含有量の変化
パターンを示すグラフである。
FIG. 9 is a graph showing a pattern of changes in carbon content of a photoconductive layer of an example of the present invention.

【図10】比較品の光導電層の炭素含有量の分布パター
ンを示すグラフである。
FIG. 10 is a graph showing the carbon content distribution pattern of a photoconductive layer of a comparative product.

【図11】比較品の光導電層の炭素含有量の分布パター
ンを示すグラフである。
FIG. 11 is a graph showing the carbon content distribution pattern of a photoconductive layer of a comparative product.

【図12】本発明の実施品の光導電層の弗素含有量の変
化パターンを示すグラフである。
FIG. 12 is a graph showing a pattern of changes in the fluorine content of the photoconductive layer of an example of the present invention.

【図13】本発明の実施品の光導電層の弗素含有量の変
化パターンを示すグラフである。
FIG. 13 is a graph showing a pattern of changes in the fluorine content of the photoconductive layer of an example of the present invention.

【図14】本発明の実施品の光導電層の弗素含有量の変
化パターンを示すグラフである。
FIG. 14 is a graph showing a pattern of changes in the fluorine content of the photoconductive layer of an example of the present invention.

【図15】本発明の実施品の光導電層の弗素含有量の変
化パターンを示すグラフである。
FIG. 15 is a graph showing a pattern of changes in the fluorine content of the photoconductive layer of a product according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101    基体 102    処理槽 103    基体搬送機構 111    基体投入台 121    基体洗浄槽 122    洗浄液 131    純水接触槽 132、142    ノズル 141    乾燥槽 151    基体搬出台 161    搬送アーム 162    移動機構 163    チャッキング機構 164    エアーシリンダー 165    レール 201    反応容器 202    マイクロ波導入窓 203    導波管 204    排気管 205    円筒状基体 206    放電空間 207    ヒーター 209    回転軸 210    モーター 211    直流バイアス電源 212    バイアス印加用電極 301    基体 302    処理槽 303    基体搬送機構 311    基体投入台 321    基体洗浄槽 322    洗浄液 351    基体搬出台 361    搬送アーム 362    移動機構 363    チャッキング機 364    エアーシリンダ 365    レール 400    堆積膜形成装置 401    反応容器 402    円筒状基体 403    円筒状基体加熱用ヒーター404   
 原料ガス導入管 405    高周波マッチングボックス406   
 原料ガス導入用配管 407    反応容器リークバルブ 408    メイン排気バルブ 409    真空計 410    原料ガス供給装置 411〜416    マスフローコントローラー41
7〜422    原料ガスボンベ423〜428  
  原料ガスボンベバルブ429〜424    原料
ガス流入バルブ435〜440    原料ガス流出バ
ルブ441〜446    圧力調整器 447    バルブ 501、601    基体 502    第1の光導電層 503    第2の光導電層 504、604    表面層 505、605    光受容部層 602    電荷輸送層 603    電荷発生層
101 Substrate 102 Processing tank 103 Substrate transport mechanism 111 Substrate loading table 121 Substrate cleaning tank 122 Cleaning liquid 131 Pure water contact tank 132, 142 Nozzle 141 Drying tank 151 Substrate unloading table 161 Transport arm 162 Moving mechanism 163 Chucking mechanism 164 Air cylinder 165 Rail 201 Reaction container 202 Microwave introduction window 203 Waveguide 204 Exhaust pipe 205 Cylindrical substrate 206 Discharge space 207 Heater 209 Rotating shaft 210 Motor 211 DC bias power supply 212 Bias application electrode 301 Substrate 302 Processing tank 303 Substrate transport mechanism 311 Substrate loading Table 321 Substrate cleaning tank 322 Cleaning liquid 351 Substrate unloading table 361 Transport arm 362 Movement mechanism 363 Chucking machine 364 Air cylinder 365 Rail 400 Deposited film forming device 401 Reaction vessel 402 Cylindrical substrate 403 Cylindrical substrate heating heater 404
Raw material gas introduction pipe 405 High frequency matching box 406
Raw material gas introduction piping 407 Reaction vessel leak valve 408 Main exhaust valve 409 Vacuum gauge 410 Raw material gas supply devices 411 to 416 Mass flow controller 41
7-422 Raw material gas cylinder 423-428
Raw material gas cylinder valves 429 to 424 Raw material gas inflow valves 435 to 440 Raw material gas outlet valves 441 to 446 Pressure regulator 447 Valve 501, 601 Substrate 502 First photoconductive layer 503 Second photoconductive layer 504, 604 Surface layer 505, 605 Photoreceptor layer 602 Charge transport layer 603 Charge generation layer

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】(a)導電性基体の表面を所定の精度で切
削する工程、(b)切削後の基体表面を水で洗浄する工
程、(c)洗浄した基体表面を純水に接触させて基体表
面を清浄化する工程、(d)洗浄化した基体表面に、全
層にわたって炭素原子および水素原子を含有すると共に
前記炭素原子の含有量が層厚方向に不均一でかつ前記導
電性基体側において高く分布してなるシリコン原子と炭
素を母体とする非単結晶材料で構成された第1の光導電
層をプラズマCVD法により形成する工程、(e)前記
形成した第1の光導電層上にシリコン原子を母体とする
第2の光導電層をプラズマCVD法により形成する工程
、(f)前記形成した第2の光導電層上にシリコン原子
を母体とし炭素原子および水素原子を含有した表面層を
プラズマCVD法により形成する工程、上記各工程を有
することを特徴とする電子写真感光体の製造方法。
Claims 1: (a) cutting the surface of a conductive substrate with a predetermined precision; (b) cleaning the substrate surface after cutting with water; (c) bringing the cleaned substrate surface into contact with pure water. (d) the cleaned substrate surface contains carbon atoms and hydrogen atoms throughout the layer, and the content of the carbon atoms is non-uniform in the layer thickness direction, and the conductive substrate a step of forming a first photoconductive layer made of a non-single-crystal material having silicon atoms and carbon as a matrix, which are highly distributed on the sides, by a plasma CVD method; (e) the first photoconductive layer formed as described above; (f) forming a second photoconductive layer based on silicon atoms by plasma CVD; (f) forming a second photoconductive layer based on silicon atoms and containing carbon atoms and hydrogen atoms on the second photoconductive layer formed above; A method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor, comprising the steps of forming a surface layer by plasma CVD, and each of the above steps.
【請求項2】  前記第1の光導電層中の炭素原子の含
有量が前記導電性基体との界面において0.5〜50原
子%、前記第2の光導電層との界面又は界面近傍におい
て実質的に0%であり、前記光導電層中の水素原子の含
有量が1〜40原子%である請求項1記載の電子写真感
光体の製造方法。
2. The content of carbon atoms in the first photoconductive layer is 0.5 to 50 at % at the interface with the conductive substrate and at or near the interface with the second photoconductive layer. 2. The method for producing an electrophotographic photoreceptor according to claim 1, wherein the content of hydrogen atoms in the photoconductive layer is substantially 0% and the content of hydrogen atoms in the photoconductive layer is 1 to 40 at%.
【請求項3】  前記表面層中の炭素原子の含有量が1
00×炭素原子/(炭素原子+シリコン原子)で表わさ
れる値で40〜90原子%であり、かつハロゲンを含み
、該ハロゲン原子の含有量が20原子%以下、かつ水素
原子とハロゲン原子の含有量の和が30〜70原子%で
ある請求項2記載の電子写真感光体の製造方法。
3. The content of carbon atoms in the surface layer is 1
The value expressed as 00 x carbon atom/(carbon atom + silicon atom) is 40 to 90 atom%, and contains a halogen, and the content of the halogen atom is 20 atom% or less, and contains hydrogen atoms and halogen atoms. 3. The method for producing an electrophotographic photoreceptor according to claim 2, wherein the sum of the amounts is 30 to 70 atom %.
【請求項4】  前記第1の光導電層中にハロゲンを含
有する請求項1記載の電子写真感光体の製造方法。
4. The method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor according to claim 1, wherein the first photoconductive layer contains halogen.
【請求項5】  前記第1の光導電層中のハロゲンが、
前記第2の光導電層との界面、または界面近傍において
最大値を有するように分布する請求項4記載の電子写真
感光体の製造方法。
5. The halogen in the first photoconductive layer is
5. The method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor according to claim 4, wherein the distribution has a maximum value at or near the interface with the second photoconductive layer.
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