JP2000029233A - Electrophotographic photoreceptor and its production - Google Patents

Electrophotographic photoreceptor and its production

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JP2000029233A
JP2000029233A JP11835799A JP11835799A JP2000029233A JP 2000029233 A JP2000029233 A JP 2000029233A JP 11835799 A JP11835799 A JP 11835799A JP 11835799 A JP11835799 A JP 11835799A JP 2000029233 A JP2000029233 A JP 2000029233A
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JP
Japan
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layer
conductive support
electrophotographic photoreceptor
photosensitive member
support
Prior art date
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JP11835799A
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Japanese (ja)
Inventor
Junichiro Hashizume
淳一郎 橋爪
Shigenori Ueda
重教 植田
Makoto Aoki
誠 青木
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electrophotographic photoreceptor in which image defects due to dust depositing on a conductive supporting body before a film is formed can be prevented without sacrificing the electric characteristics. SOLUTION: This electrophotographic photoreceptor is produced by successively laminating a base coating layer 102 consisting of a non-single crystal carbon film and a photoconductive layer 103 consisting of a non-single crystal material making at least silicon atoms as a base material on a conductive supporting body 101. The conductive supporting body 101 consists of aluminum and has >=0.05 μm to <=5 μm ten-point average roughness (Rz) according to JIS B0601. Before the base coating layer 102 is formed, the supporting body 101 is cleaned with water and a surfactant.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光(ここでは広義
の光であって紫外線、可視光線、赤外線、X線、γ線な
どを意味する)のような電磁波に対して感受性のある電
子写真感光体及びその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to electrophotography which is sensitive to electromagnetic waves such as light (here, light in a broad sense meaning ultraviolet light, visible light, infrared light, X-rays, .gamma.-rays, etc.). The present invention relates to a photoconductor and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】固体撮像装置、あるいは像形成分野にお
ける電子写真感光体や原稿読み取り装置における光導電
層を形成する材料には、高感度でSN比[光電流(I
p)/(Id)]が高く、照射する電磁波のスペクトル
特性にマッチングした吸収スペクトル特性を有するこ
と、光応答性が速く、所望の暗抵抗値を有すること、使
用時において人体に無公害であること、さらには固体撮
像装置においては、残像を所定時間内に容易に処理する
ことができる等の特性が要求される。特に事務機として
オフィスで使用される電子写真感光体の場合には、使用
時における無公害性は重要な点である。この様な観点に
立脚して注目されている材料に、水素やハロゲン原子等
の一価の元素でダングリングボンドが修飾されたアモル
ファスシリコン(以後、「a−Si」と表記する)があ
り、例えば特開昭54−86341号公報には電子写真
感光体への応用が記載されている。
2. Description of the Related Art Materials for forming a photoconductive layer in a solid-state imaging device, an electrophotographic photosensitive member in the field of image formation, and a document reading device have a high sensitivity and an SN ratio [photocurrent (I
p) / (Id)], having an absorption spectrum characteristic matching the spectral characteristic of the electromagnetic wave to be irradiated, having a fast light response, having a desired dark resistance value, and being harmless to the human body during use. In addition, the solid-state imaging device is required to have characteristics such that afterimages can be easily processed within a predetermined time. Particularly in the case of an electrophotographic photosensitive member used in an office as an office machine, non-polluting during use is an important point. A material that has attracted attention from this viewpoint is amorphous silicon (hereinafter, referred to as “a-Si”) in which dangling bonds are modified with a monovalent element such as hydrogen or a halogen atom. For example, JP-A-54-86341 describes application to an electrophotographic photosensitive member.

【0003】従来より、導電性支持体上にa−Si堆積
膜を形成する電子写真感光体の製造方法として、スパッ
タリング法、熱により原料ガスを分解する方法(熱CV
D法)、光により原料ガスを分解する方法(光CVD
法)、プラズマにより原料ガスを分解する方法(プラズ
マCVD法)等、多数の方法が知られている。なかでも
プラズマCVD法、すなわち、原料ガスを直流または高
周波、マイクロ波グロー放電等によって分解し、導電性
支持体上に堆積膜を形成する方法は、電子写真感光体の
製造等、現在実用化が非常に進んでいる。
Conventionally, as a method of manufacturing an electrophotographic photosensitive member for forming an a-Si deposited film on a conductive support, a sputtering method, a method of decomposing a raw material gas by heat (thermal CV
D), a method of decomposing source gas by light (photo CVD)
Numerous methods are known, including a method of decomposing a source gas by plasma (plasma CVD method). Above all, the plasma CVD method, that is, a method of decomposing a raw material gas by direct current or high frequency, microwave glow discharge and the like to form a deposited film on a conductive support, is currently in practical use, for example, in the production of an electrophotographic photosensitive member. Very advanced.

【0004】この電子写真感光体の堆積膜の層構成とし
て従来から行われてきたa−Siを母体とし適宜修飾元
素を添加した堆積膜以外に、更にa−Si以外の材料を
用いる試みもなされている。例えば、特開昭62−14
8968号公報では、導電性基板の上に炭素膜を主とす
る中間層を積層し、その上に光導電層を積層した感光体
が開示されている。また、特開昭62−195674号
公報では、表面が少なくともMo、W、TaまたはTi
よりなる基体上に炭素を主成分とする層を有する電子写
真感光体が開示されている。また、特開昭64−408
37号公報には感光体形成部材において炭素と水素を主
成分とする有機重合膜を用いる技術が開示されている。
As a layer structure of the deposited film of the electrophotographic photosensitive member, an attempt has been made to use a material other than a-Si in addition to a conventionally deposited film obtained by using a-Si as a base material and appropriately adding a modifying element. ing. For example, JP-A-62-14
JP 8968 discloses a photoconductor in which an intermediate layer mainly composed of a carbon film is laminated on a conductive substrate, and a photoconductive layer is laminated thereon. In Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho 62-195677, the surface is made of at least Mo, W, Ta or Ti.
An electrophotographic photoreceptor having a layer containing carbon as a main component on a substrate made of the same has been disclosed. Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. 64-408
No. 37 discloses a technique using an organic polymer film containing carbon and hydrogen as main components in a photosensitive member forming member.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとしている課題】このような従来技
術により、ある程度実用的な特性と均一性を持つ電子写
真感光体を得ることが可能になった。また、真空反応容
器内の清掃を厳格に行えば、ある程度欠陥の少ない電子
写真感光体を得ることは可能である。
According to the prior art described above, it has become possible to obtain an electrophotographic photosensitive member having some practical characteristics and uniformity. Further, if the inside of the vacuum reaction vessel is strictly cleaned, it is possible to obtain an electrophotographic photosensitive member having few defects to some extent.

【0006】しかし、上述した堆積膜形成方法では、電
子写真感光体のように大面積で比較的厚い堆積膜が要求
される製品については、均一膜質で光学的及び電気的諸
特性の要求を満足し、かつ電子写真プロセスにより画像
形成時に画像欠陥の少ない堆積膜を高収率で得るのは難
しいという課題が残存している。
However, in the above-described method of forming a deposited film, a product requiring a relatively large deposited film with a large area, such as an electrophotographic photosensitive member, satisfies the requirements of uniform film quality and various optical and electrical characteristics. However, there still remains a problem that it is difficult to obtain a deposited film with few image defects at a high yield during image formation by an electrophotographic process.

【0007】特に、a−Si膜は、支持体表面に数μm
オーダーのダストが付着した場合、成膜中にそのダスト
を核として異常成長、いわゆる「球状突起」が成長して
しまうという性質を持っている。球状突起は支持体上の
ダストを起点とした円錐形を逆転させた形をしており、
正常成長部分と球状突起部分の界面では局在準位が多い
ために低抵抗化し、帯電電荷が界面を通って支持体側に
抜けてしまう。このため、球状突起のある部分は、画像
上ではべた黒画像で白い点となって現れる(反転現像の
場合はべた白画像に黒い点となって現れる)。このいわ
ゆる「白ポチ」は年々規格が厳しくなっており、大きさ
によってはA3用紙に数個存在していても不良として扱
われることがある。このため、成膜前に使用する支持体
は精密に洗浄され、成膜装置に設置する工程は全てクリ
ーンルームあるいは真空下で作業が行われる。
In particular, the a-Si film has a thickness of several μm on the surface of the support.
When dust of the order is attached, it has a property that abnormal growth, that is, a so-called “spherical projection” grows with the dust as a nucleus during film formation. The spherical projection has a shape that is the inverse of the cone starting from the dust on the support,
At the interface between the normal growth portion and the spherical protrusion portion, there are many localized levels, so that the resistance is reduced, and the charged charges pass through the interface to the support. For this reason, a portion having a spherical projection appears as a white point in a solid black image on the image (in the case of reversal development, it appears as a black point in a solid white image). The standard of this so-called “white spot” is becoming stricter year by year, and depending on the size, even if several pieces are present on A3 paper, they may be treated as defective. For this reason, the support used before the film formation is precisely washed, and all the steps of installing the support in the film formation apparatus are performed in a clean room or under vacuum.

【0008】しかし、近年、ますます厳しくなる規格を
満足させ、かつ良品率を維持しながら生産を行うために
は、クリーンルームのクリーン度を以前にも増して高め
なければならず、また、装置の可動部分については発塵
を低減しなければならず、多大な投資と人件費が必要で
あった。さらに、工程の大部分を真空下で行うには真空
搬送機など大型の設備投資が必要であり、かつ、技術的
にも高度なものが必要であり、負担は大きいものであっ
た。
However, in order to satisfy the increasingly strict standards in recent years and to perform production while maintaining a good product ratio, the cleanliness of the clean room must be increased more than before. For moving parts, dust generation had to be reduced, which required a great deal of investment and labor costs. Furthermore, large-scale equipment investment such as a vacuum transfer machine is required to perform most of the steps under vacuum, and technically advanced equipment is required, which is a heavy burden.

【0009】さらに、これらの多大な人的投資あるいは
設備投資を行っても、僅かな条件の変化、装置の経時変
化、人為的なミスによって、安定して高収率で操業を行
うには困難を伴う。
Furthermore, even with these large human and capital investments, it is difficult to stably operate at a high yield due to slight changes in conditions, aging of the equipment, and human error. Accompanied by

【0010】さらに、近年、電子写真装置の画像特性向
上のために電子写真装置内の光学露光系、現像装置、転
写装置等の改良がなされた結果、電子写真感光体におい
ても従来以上の画像特性の向上が求められるようになっ
た。特に、画像の解像力が向上した結果、従来はあまり
問題にされなかった微少な大きさの白ポチまでも減少が
求められるようになってきた。
Furthermore, in recent years, improvements have been made in the optical exposure system, developing device, transfer device, and the like in the electrophotographic apparatus to improve the image characteristics of the electrophotographic apparatus. Has been required to be improved. In particular, as a result of the improvement in image resolving power, it has been required to reduce even small-sized white spots, which have not been considered a problem in the past.

【0011】本発明の目的は、電気的特性を犠牲にする
ことなく、上述の従来技術の諸問題を解決でき、安価に
安定して歩留まり良く製造でき、高画質の使い易い電子
写真感光体及びその製造方法を提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art without sacrificing the electrical characteristics, to produce an inexpensive and stable electrophotographic photoreceptor which can be manufactured stably at a high yield. It is to provide a manufacturing method thereof.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明の電子写真感光体
は、アルミニウムからなる導電性支持体のJIS B0
601における十点平均粗さ(Rz)が0.05μm以
上5μm以下であり、該導電性支持体の上に、非単結晶
炭素膜からなる下引き層と、少なくともシリコン原子を
母材とする非単結晶材料からなる光導電層とを順次積層
してなることを特徴とする電子写真感光体である。
The electrophotographic photoreceptor of the present invention comprises a conductive support made of aluminum according to JIS B0.
601 has a ten-point average roughness (Rz) of 0.05 μm or more and 5 μm or less, and a subbing layer made of a non-single-crystal carbon film on the conductive support; An electrophotographic photoreceptor characterized by sequentially laminating a photoconductive layer made of a single crystal material.

【0013】また、本発明の電子写真感光体の製造方法
は、上記本発明の電子写真感光体を製造するための方法
であって、アルミニウムからなる導電性支持体のJIS
B0601における十点平均粗さ(Rz)を0.05
μm以上5μm以下に加工する工程と、該加工後の導電
性支持体を洗浄する工程と、該洗浄後の導電性支持体上
に下引き層と光導電層とを順次積層する工程を含むこと
を特徴とする電子写真感光体の製造方法である。
The method for producing an electrophotographic photoreceptor of the present invention is a method for producing the above-described electrophotographic photoreceptor of the present invention, wherein the JIS of a conductive support made of aluminum is used.
The ten-point average roughness (Rz) in B0601 is 0.05
a step of processing the conductive support after the processing, a step of sequentially laminating an undercoat layer and a photoconductive layer on the conductive support after the cleaning. A method for producing an electrophotographic photoreceptor, characterized in that:

【0014】特に、本発明の電子写真感光体において
は、下引き層中に含有される水素量が全元素に対して1
0原子%以上60原子%以下であることが好ましい。
In particular, in the electrophotographic photoreceptor of the present invention, the amount of hydrogen contained in the undercoat layer is 1 to all elements.
It is preferable that it is 0 atomic% or more and 60 atomic% or less.

【0015】また特に、本発明の電子写真感光体におい
ては、下引き層の膜厚が、0.1μm以上10μm以下
であることが好ましい。
Particularly, in the electrophotographic photoreceptor of the present invention, the undercoat layer preferably has a thickness of 0.1 μm or more and 10 μm or less.

【0016】また特に、本発明の電子写真感光体の製造
方法においては、導電性支持体の洗浄は、水と界面活性
剤を主に用いて行なうことが好ましい。
In the method of manufacturing an electrophotographic photoreceptor of the present invention, it is particularly preferred that the conductive support is washed mainly with water and a surfactant.

【0017】以下、本発明の特徴的構成及び作用効果
を、本発明に至った経緯と共に説明する。
Hereinafter, the characteristic structure, operation and effect of the present invention will be described together with the circumstances leading to the present invention.

【0018】本発明の電子写真感光体は、画像欠陥の防
止方法として従来から行われている成膜前の支持体に極
力ダストを付着させないという発想を転換し、たとえ支
持体にダストが付着していても球状突起が成長せず、従
って画像欠陥も発生しないようにするという発想に基づ
くものである。
The electrophotographic photoreceptor of the present invention changes the idea of preventing dust from adhering to the support before film formation as a conventional method of preventing image defects. This is based on the idea that spherical projections do not grow and therefore no image defects occur.

【0019】その発明の要点は、ダストが付着している
支持体上に非常に濡れ性の良い堆積膜をまず成膜するこ
とにより、ダストを覆い隠し、なめらかな表面を形成
し、その後、なめらかな表面にa−Si膜を成長させる
ことにより、ダストを核とした球状突起の成長を防止し
ようというものである。
The gist of the invention is that a deposition film having very good wettability is first formed on a support to which dust is adhered, thereby covering the dust and forming a smooth surface, and thereafter, forming a smooth surface. By growing an a-Si film on a proper surface, it is intended to prevent the growth of spherical projections with dust as nuclei.

【0020】この濡れ性の良い堆積膜として、様々な材
料を検討した結果、プラズマCVD法というa−Siで
一般に用いられている成膜方法と相性が良く、かつ、特
別な設備投資を必要としない材料として非単結晶質炭素
(以下「a−C」と記載する)膜が候補に挙がった。こ
のa−C膜を様々な条件で堆積し、支持体との濡れ性を
検討したところ、支持体の材料としては、アルミニウム
が最も適していることが判明した。また、その他のステ
ンレス、鉄、銅、クロム、ニッケルなど、支持体として
用いることのできる材料では濡れ性が乏しく、a−C膜
自体がダストを核として異常成長してしまうことが判明
した。
As a result of examining various materials as a deposited film having good wettability, it is found that the deposited film is compatible with a film forming method generally used for a-Si called a plasma CVD method and requires special equipment investment. A non-single crystalline carbon (hereinafter referred to as “a-C”) film was selected as a candidate material. The aC film was deposited under various conditions, and the wettability with the support was examined. As a result, it was found that aluminum was the most suitable material for the support. It was also found that other materials that can be used as a support, such as stainless steel, iron, copper, chromium, and nickel, have poor wettability, and the aC film itself grows abnormally with dust as nuclei.

【0021】しかし、アルミニウムの支持体が最も濡れ
性がよいことが判明しものの、このレベルにおいても完
全にダストを覆い隠すにはまだ十分ではなく、ダストの
大きさによっては異常成長を防ぎきれない場合があっ
た。
However, although it has been found that the aluminum support has the best wettability, it is still not enough to completely cover the dust even at this level, and it is impossible to prevent abnormal growth depending on the size of the dust. There was a case.

【0022】そこで本発明者らはさらに、表面形状と濡
れ性の関係を検討した。すると、表面粗さ(Rz)が
0.05μm以上の場合、支持体との濡れ性が最も良く
なり、ダストを覆う効果が顕著になることが判明した。
しかし、表面粗さが大きいほど良いわけではなく、5μ
mを越えるところを境にして、逆に濡れ性は悪化してい
くことが判明した。この表面粗さとa−C膜の濡れ性の
関係の理論的な考察は未だ明確ではないが、非常にマク
ロ的に類推するならば、支持体表面が全く荒れていない
場合、平らな支持体表面とダストとの境目が顕著にな
り、そのためにa−C膜の濡れ性を持ってしてもその界
面をなめらかに埋めることはできないのではないかと思
われる。逆に、5μmを越える粗さになった場合、蓮の
葉にもみられるように支持体自体の撥水性が高くなり、
濡れ性が悪化していくのではないかと思われる。また、
5μmを越える粗さになった場合、堆積膜が剥がれ易い
という別の問題も発生した。
Therefore, the present inventors further studied the relationship between the surface shape and the wettability. Then, it was found that when the surface roughness (Rz) was 0.05 μm or more, the wettability with the support became the best and the effect of covering the dust became remarkable.
However, the larger the surface roughness is, the better it is.
On the other hand, it was found that the wettability worsened after the point exceeding m. Although the theoretical consideration of the relationship between the surface roughness and the wettability of the aC film is not yet clear, if it is analogized very macroscopically, if the support surface is not rough at all, the flat support surface It seems that the boundary between the particles and the dust becomes remarkable, so that even if the aC film has wettability, the interface cannot be smoothly filled. Conversely, when the roughness exceeds 5 μm, the water repellency of the support itself increases as seen in lotus leaves,
It is thought that the wettability might be worsened. Also,
When the roughness exceeds 5 μm, another problem that the deposited film is easily peeled off occurs.

【0023】さらに、本発明によるところのダストを覆
い隠す効果は、支持体の洗浄方法に対して依存性がある
ことが検討の中で明確になった。従来の有機洗浄、たと
えばトリエタンを用いた洗浄を行った支持体では本発明
の効果が得られにくく、純水と界面活性剤を用いた洗浄
を行った支持体では本発明の効果が十分に得られること
が判明した。この理由を追及するために、切削時の油脂
を意識的に脱脂しきらず、僅かに油脂の残った状態の支
持体を何種類か用意し、本発明の効果との相関を検討し
たが、明確な傾向は得られなかった。このため、残留油
脂が関与しているのではないことは明かである。なぜ、
純水+界面活性剤による洗浄の場合に本発明の効果が顕
著になるかは不明であるが、アルミニウム製の導電性支
持体の最表面の酸化状態が関与している可能性はあるの
ではないかと思われる。
Further, it has been clarified in the study that the effect of covering the dust according to the present invention depends on the method of cleaning the support. It is difficult to obtain the effects of the present invention with a support that has been washed with conventional organic washing, for example, with triethane, and the effect of the present invention can be sufficiently obtained with a support that has been washed with pure water and a surfactant. Turned out to be. In order to pursue this reason, several types of supports in a state in which the oils and fats during cutting were not consciously degreased, but slightly oils and fats were prepared, and the correlation with the effect of the present invention was examined. No tendency was obtained. For this reason, it is clear that residual fats and oils are not involved. why,
It is not clear whether the effect of the present invention becomes remarkable in the case of cleaning with pure water and a surfactant, but it is possible that the oxidation state of the outermost surface of the aluminum conductive support may be involved. It seems that there is not.

【0024】いずれにしても、本発明の電子写真感光体
を用いれば、従来多大な投資を必要としたクリーンルー
ムや真空搬送機、人材育成のための投資などを大幅に軽
減することができ、投資効率をアップすることができ
る。さらに、良品率の安定化に効果を発揮し、常に安定
した生産が可能になる。これは人的影響による歩留まり
の変化が少なく、このため、ヒューマンエラーによる良
品率低下が少ないことが影響しているものと考えられ
る。
In any case, the use of the electrophotographic photoreceptor of the present invention makes it possible to greatly reduce investment in clean rooms, vacuum transfer machines, and personnel training, which previously required a large investment. Efficiency can be improved. Furthermore, it is effective in stabilizing the non-defective product ratio, and stable production is always possible. This is thought to be due to a small change in yield due to human influence and a small decrease in the yield rate due to human error.

【0025】[0025]

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施形態に
ついて、図面を参照しつつ説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0026】図1は本発明の電子写真感光体の一例の模
式的断面図であり、101はJISB0601における
十点平均粗さ(Rz)が0.05μm以上5μm以下に
仕上げられたアルミニウム製の導電性支持体である。1
02は本発明によるところのa−Cからなる下引き層で
ある。103はa−Siからなる光導電層であり、機能
分離されていない単一の層より出来ている。本発明の電
子写真感光体は最小限、この構成で効果を発揮する。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of an example of the electrophotographic photoreceptor of the present invention. Reference numeral 101 denotes an aluminum conductive material finished to a ten-point average roughness (Rz) of 0.05 μm or more and 5 μm or less in JIS B0601. Sexual support. 1
02 is an undercoat layer made of aC according to the present invention. Reference numeral 103 denotes a photoconductive layer made of a-Si, which is made of a single layer whose functions are not separated. The electrophotographic photoreceptor of the present invention is at least effective with this configuration.

【0027】十点平均粗さ(Rz)は、断面曲線から基
準長さだけ抜き取った部分において平均線に平行、か
つ、断面曲線を横切らない直線から縦倍率の方向に測定
した最高から5番目までの山頂の標高の平均値と、最深
から5番目までの谷底の標高の平均値との差の値を、マ
イクロメートル(μm)で表わしたものである。すなわ
ち、 Rz={(R1+R3+R5+R7+R9)-(R2+R4+R6+R8+R10)}/5 で求められる。ここで、R1、R3、R5、R7、R9
は、基準長さに対応する抜き取り部分の最高から5番目
までの山頂の標高であり、R2、R4、R6、R8、R
10は、基準長さに対応する抜き取り部分の最深から5
番目までの谷底の標高である。基準長さは0.8μmR
z以下の場合は0.25mm、0.8μmRzを越える場
合は0.8mmが用いられる。
The ten-point average roughness (Rz) is from the highest to the fifth measured in the direction of the longitudinal magnification from a straight line parallel to the average line and not crossing the cross-sectional curve at a portion extracted by the reference length from the cross-sectional curve. Is expressed in micrometer (μm) between the average of the altitudes at the top of the mountain and the average of the altitudes at the bottom from the deepest to the fifth. That is, Rz = {(R1 + R3 + R5 + R7 + R9)-(R2 + R4 + R6 + R8 + R10)} / 5. Here, R1, R3, R5, R7, R9
Are the altitudes of the highest to fifth peaks of the extracted portion corresponding to the reference length, and R2, R4, R6, R8, R
10 is 5 from the deepest of the extracted part corresponding to the reference length.
It is the altitude of the valley bottom to the th. Standard length is 0.8μmR
When it is less than z, 0.25 mm is used, and when it exceeds 0.8 μmRz, 0.8 mm is used.

【0028】なお、被測定面が曲面の場合には、切り口
に現れるはずの曲線に沿って十点平均粗さを求めればよ
い。
When the surface to be measured is a curved surface, the ten-point average roughness may be obtained along a curve that should appear at the cut.

【0029】図2は光導電層203に加えて表面を保護
し、耐環境性を向上させ、電気的特性を改善する目的
で、さらに表面保護層204を設けた場合の具体例を示
す模式的断面図である。本発明の電子写真感光体の場
合、表面保護層204を設けても本発明の効果は十分に
得られる。
FIG. 2 is a schematic diagram showing a specific example in which a surface protective layer 204 is further provided for the purpose of protecting the surface in addition to the photoconductive layer 203, improving environmental resistance, and improving electrical characteristics. It is sectional drawing. In the case of the electrophotographic photosensitive member of the present invention, the effect of the present invention can be sufficiently obtained even if the surface protective layer 204 is provided.

【0030】図3は光導電層303に加えてさらに表面
保護層304と、導電性支持体201からのキャリアの
注入を阻止する下部阻止層305を設けた場合の具体例
を示す模式的断面図である。下部阻止層305は、下引
き層302の上に積層されるように構成される。
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing a specific example in which a surface protection layer 304 and a lower blocking layer 305 for blocking carrier injection from the conductive support 201 are provided in addition to the photoconductive layer 303. It is. The lower blocking layer 305 is configured to be stacked on the undercoat layer 302.

【0031】図4は光導電層403の構成として、少な
くともシリコン原子と炭素原子を含む非晶質材料で構成
された電荷輸送層405と、少なくともシリコン原子を
含む非晶質材料で構成された電荷発生層406をとる場
合の具体例を示す模式的断面図である。この電子写真感
光体に光照射すると、主として電荷発生層406で生成
されたキャリアが電荷輸送層405を通って導電性支持
体401に至る。本発明の電子写真感光体は、このよう
に、光導電層の構成としていわゆる機能分離タイプであ
っても、本発明の効果は十分に得られる。
FIG. 4 shows the structure of the photoconductive layer 403 as a charge transport layer 405 composed of an amorphous material containing at least silicon atoms and carbon atoms, and a charge transport layer composed of an amorphous material containing at least silicon atoms. FIG. 9 is a schematic cross-sectional view showing a specific example when a generation layer 406 is used. When the electrophotographic photosensitive member is irradiated with light, carriers mainly generated in the charge generation layer 406 reach the conductive support 401 through the charge transport layer 405. Even if the electrophotographic photoreceptor of the present invention is of a so-called function-separated type as the structure of the photoconductive layer, the effects of the present invention can be sufficiently obtained.

【0032】図5は図4の構成に加えてさらに表面保護
層504を設けた場合の具体例を示す模式的断面図であ
る。
FIG. 5 is a schematic sectional view showing a specific example in which a surface protective layer 504 is further provided in addition to the configuration of FIG.

【0033】導電性支持体101〜501はアルミニウ
ムからなり、表面は旋盤による切削で仕上げられてい
る。切削バイト及び切削条件を適宜選択することによ
り、表面粗さ(Rz)は0.05μm以上5μm以下に
仕上げられる。この表面粗さは、JIS B0601に
準拠して測定した値である。
The conductive supports 101 to 501 are made of aluminum, and the surface is finished by cutting with a lathe. By appropriately selecting a cutting tool and cutting conditions, the surface roughness (Rz) can be finished to 0.05 μm or more and 5 μm or less. This surface roughness is a value measured according to JIS B0601.

【0034】アルミニウム製の導電性支持体であって、
表面粗さが上記の値であれば、a−Cからなる下引き層
を積層する事により支持体に付着したダストによる球状
突起の成長を防止することができる。
A conductive support made of aluminum,
When the surface roughness is the above value, the growth of spherical projections due to dust attached to the support can be prevented by laminating the undercoat layer made of aC.

【0035】導電性支持体101〜501の形状は、円
筒状であっても板状無端ベルト状であってもよい。その
厚さは、所望通りの電子写真感光体を形成し得るように
適宜決定すればよい。可撓性が要求される場合には、支
持体としての機能が充分発揮できる範囲内で可能な限り
薄くすることができる。しかしながら、支持体は製造上
および取り扱い上、機械的強度等の点から通常は10μ
m以上とされる。
The conductive supports 101 to 501 may have a cylindrical shape or a plate-like endless belt shape. The thickness may be appropriately determined so that a desired electrophotographic photosensitive member can be formed. When flexibility is required, it can be made as thin as possible within a range where the function as a support can be sufficiently exhibited. However, the support is usually 10 μm in view of production, handling, mechanical strength and the like.
m or more.

【0036】切削後のアルミニウム製の導電性支持体1
01〜501は、適宜脱脂洗浄が行われるが、本発明の
効果を十分に発揮するためには、純水及び界面活性剤に
よる洗浄が望ましい。この際、アルミニウムの腐食を防
止するための腐食防止剤が適宜添加されていても、本発
明の効果には何ら影響はない。
Aluminum conductive support 1 after cutting
In the case of 01 to 501, degreasing and washing are appropriately performed, but in order to sufficiently exert the effects of the present invention, washing with pure water and a surfactant is desirable. At this time, even if a corrosion inhibitor for preventing the corrosion of aluminum is appropriately added, the effect of the present invention is not affected at all.

【0037】下引き層102〜502は、非単結晶質の
炭素膜からなる。この下引き層は、原料ガスとしてガス
状の炭化水素を用い、常温常圧で、高周波によりグロー
放電分解して作製できる。下引き層の目的は、アルミニ
ウムからなる導電性支持体上に付着したダストを覆い隠
し、その履歴がa−Siからなる光導電層に及ばないよ
うにすることである。したがって、下引き層は、特に光
導電性を持つ必要はない。ただし、光導電層で発生した
光キャリアを導電性支持体にスムースに輸送する必要が
あるので、通常は電荷輸送能が必要である。電荷輸送能
を持たせるためには、a−C膜中に水素原子を適宜含有
させればよい。この水素原子含有量は、全原子に対して
10原子%以上60原子%以下が望ましい。
The undercoat layers 102 to 502 are made of a non-single crystalline carbon film. The undercoat layer can be produced by glow discharge decomposition using a gaseous hydrocarbon as a raw material gas at a normal temperature and a normal pressure with a high frequency. The purpose of the undercoat layer is to obscure the dust adhering on the conductive support made of aluminum so that its history does not reach the photoconductive layer made of a-Si. Therefore, the undercoat layer does not need to be particularly photoconductive. However, since the photocarriers generated in the photoconductive layer need to be smoothly transported to the conductive support, charge transport capability is usually required. In order to have a charge transport ability, a hydrogen atom may be appropriately contained in the aC film. This hydrogen atom content is desirably from 10 atomic% to 60 atomic% based on all atoms.

【0038】更に、電荷輸送能を改善するために、下引
き層102〜502に伝導性を制御する原子を含有させ
てもよい。伝導性を制御する原子としては、半導体分野
における、いわゆる不純物を挙げることができ、p型伝
導特性を与える周期律表第3b族に属する原子(以後
「第3b族原子」と略記する)またはn型伝導特性を与
える周期律表第5b族に属する原子(以後「第5b族原
子」と略記する)を用いることができる。伝導性を制御
する原子の含有量は、優れた電荷輸送能が発現できるよ
う所望にしたがって適宜決定されるが、好ましくは10
〜1×104原子ppm、より好ましくは50〜5×1
3原子ppm、最適には1×102〜1×103原子p
pmである。
Further, in order to improve the charge transporting ability, the undercoat layers 102 to 502 may contain atoms for controlling conductivity. Examples of the atom that controls conductivity include a so-called impurity in the semiconductor field, and an atom belonging to Group 3b of the Periodic Table that gives p-type conduction characteristics (hereinafter abbreviated as “Group 3b atom”) or n. An atom belonging to Group 5b of the Periodic Table that gives a type conduction characteristic (hereinafter abbreviated as “Group 5b atom”) can be used. The content of the atom for controlling the conductivity is appropriately determined as desired so that excellent charge transporting ability can be exhibited.
11 × 10 4 atomic ppm, more preferably 50-5 × 1
0 3 atomic ppm, optimally 1 × 10 2 to 1 × 10 3 atomic p
pm.

【0039】下引き層102〜502の膜厚は、0.1
μm以上10μm以下が好ましい。膜厚が0.1μm以
上であると、ダストを十分に覆い隠し、ダストによる画
像欠陥を良好に防止できる。また10μm以下である
と、残留電位が高くなり難く、成膜時間が短く、堆積膜
形成装置の稼働率、製造コストの点で好ましい。一般に
は、導電性支持体を扱う環境によって、ダストの粒径が
大きい場合には厚めに堆積することが効果的であるが、
粒径が小さい場合には薄くても十分効果を発揮する。環
境のダストの粒径、量については市販されているパーテ
ィクルカウンターによって測定できる。
The thickness of the undercoat layers 102 to 502 is 0.1
It is preferably from 10 μm to 10 μm. When the film thickness is 0.1 μm or more, dust can be sufficiently covered and hidden, and image defects due to dust can be favorably prevented. When the thickness is 10 μm or less, the residual potential is hardly increased, the film formation time is short, and the operation rate of the deposited film forming apparatus and the manufacturing cost are preferable. Generally, depending on the environment in which the conductive support is handled, it is effective to deposit thicker dust when the particle size of the dust is large.
When the particle size is small, the effect is sufficiently exhibited even if it is thin. The particle size and amount of environmental dust can be measured by a commercially available particle counter.

【0040】高周波電力については、出来るだけ高い方
が炭化水素の分解が充分に進むため好ましく、具体的に
は炭化水素の原料ガス1sccmに対して10W以上が
好ましいが、あまり高くなると異常放電が発生してしま
い、下引き層を劣化させるので、異常放電が発生しない
経度の電力に抑えるとよい。
The high-frequency power is preferably as high as possible because the decomposition of hydrocarbon proceeds sufficiently. Specifically, the power is preferably 10 W or more per 1 sccm of the hydrocarbon raw material gas. As a result, the undercoat layer is deteriorated, and therefore, it is preferable to suppress the electric power to a longitude at which abnormal discharge does not occur.

【0041】放電空間の圧力については、炭化水素のよ
うに分解されにくい原料ガスで成膜する場合には、気相
中での分解種同士の衝突があると、ポリマーが発生し易
いため、比較的高真空が望ましい。通常は1Torr以
下、より好ましくは0.6Torr以下、更に好適には
0.4Torr以下である。
With respect to the pressure in the discharge space, when a film is formed using a raw material gas such as hydrocarbon which is hardly decomposed, a polymer is likely to be generated if collision occurs between decomposed species in the gas phase. High vacuum is desirable. Usually, it is 1 Torr or less, more preferably 0.6 Torr or less, and still more preferably 0.4 Torr or less.

【0042】下引き層102〜502は、この下引き層
の成膜前に導電性支持体に付着したダストに起因する球
状突起を防止し、画像欠陥をなくすものである。ただ
し、成膜途中で堆積膜形成装置の構造物に堆積した膜の
膜剥がれから発生したダストに起因する球状突起は、こ
の下引き層では防止できない。従って、電子写真感光体
の製造条件としては、成膜中に炉壁などに付着した膜が
剥がれないように慎重にコントロールすべきことは、従
来通り必要である。
The undercoat layers 102 to 502 are for preventing spherical projections caused by dust adhering to the conductive support before the formation of the undercoat layer and eliminating image defects. However, spherical protrusions due to dust generated from peeling of a film deposited on the structure of the deposition film forming apparatus during film formation cannot be prevented by this undercoat layer. Therefore, it is necessary to carefully control the production conditions of the electrophotographic photosensitive member so that the film adhered to a furnace wall or the like should not be peeled off during the film formation as in the related art.

【0043】下部阻止層305は、電子写真感光体が一
定極性の帯電処理をその自由表面に受けた際、導電性支
持体側より光導電層側に電荷が注入されるのを阻止する
機能を有し、逆の極性の帯電処理を受けた際にはそのよ
うな機能は発揮されない、いわゆる極性依存性を有して
いる。そのような機能を付与するために、下部阻止層に
は伝導性を制御する原子を光導電層に比べ比較的多く含
有させればよい。伝導性を制御する原子としては、第3
b族原子または第5b族原子を用いることができる。下
部阻止層中に含有される伝導性を制御する原子の含有量
としては、本発明の目的が効果的に達成できるように所
望にしたがって適宜決定されるが、好ましくは10〜1
×104原子ppm、より好ましくは50〜5×103
子ppm、最適には1×102〜1×103原子ppmで
ある。
The lower blocking layer 305 has a function of preventing charge from being injected from the conductive support side to the photoconductive layer side when the electrophotographic photosensitive member is subjected to a charging treatment of a fixed polarity on its free surface. However, such a function is not exhibited when subjected to a charging treatment of the opposite polarity, that is, it has a so-called polarity dependency. In order to provide such a function, the lower blocking layer may contain a relatively large number of atoms for controlling conductivity as compared with the photoconductive layer. As the atoms that control the conductivity,
Group b atoms or Group 5b atoms can be used. The content of the atoms controlling the conductivity contained in the lower blocking layer is appropriately determined as desired so that the object of the present invention can be effectively achieved, but is preferably from 10 to 1
X 10 4 atomic ppm, more preferably 50 to 5 x 10 3 atomic ppm, and most preferably 1 x 10 2 to 1 x 10 3 atomic ppm.

【0044】さらに、下部阻止層305には、炭素原
子、窒素原子及び酸素原子の少なくとも一種を含有させ
ることによって、下部阻止層に直接接触して設けられる
他の層との間の密着性の向上をよりいっそう図ることが
できる。下部阻止層の全層領域に含有される炭素原子及
び/又は窒素原子及び/又は酸素原子の含有量は、一種
の場合はその量として、二種以上の場合はその総和とし
て、好ましくは1×10 -3〜50原子%、より好ましく
は5×10-3〜30原子%、最適には1×10-2〜10
原子%である。
Further, the lower blocking layer 305 has a carbon source
Containing at least one of a nitrogen atom, a nitrogen atom and an oxygen atom
Provided in direct contact with the lower blocking layer
To further improve the adhesion with other layers
it can. Carbon atoms and carbon atoms contained in the entire region of the lower blocking layer
Content of nitrogen and / or nitrogen and / or oxygen
In the case of, and the sum of two or more types
And preferably 1 × 10 -3~ 50 atomic%, more preferably
Is 5 × 10-3~ 30 atomic%, optimally 1 × 10-2-10
Atomic%.

【0045】また、下部阻止層305に含有される水素
原子及び/又はハロゲン原子は、層内に存在する未結合
手を補償し膜質の向上に効果を奏する。下部阻止層中の
水素原子又はハロゲン原子若しくは水素原子とハロゲン
原子の和の含有量は、好ましくは1〜50原子%、より
好ましくは5〜40原子%、最適には10〜30原子%
である。
Further, the hydrogen atoms and / or halogen atoms contained in the lower blocking layer 305 compensate for dangling bonds existing in the layer, and are effective in improving the film quality. The content of hydrogen atoms or halogen atoms or the sum of hydrogen atoms and halogen atoms in the lower blocking layer is preferably 1 to 50 at%, more preferably 5 to 40 at%, and most preferably 10 to 30 at%.
It is.

【0046】下部阻止層305の層厚は、所望の電子写
真特性が得られること、及び経済的効果等の点から、好
ましくは0.1〜5μm、最適には1〜4μmである。
The thickness of the lower blocking layer 305 is preferably 0.1 to 5 μm, and most preferably 1 to 4 μm, from the viewpoints of obtaining desired electrophotographic characteristics and economical effects.

【0047】光導電層103〜503は、通常、膜中に
水素原子及び/又はハロゲン原子が含有されることが必
要である。これはシリコン原子の未結合手を補償し、層
品質の向上、特に光導電性および電荷保持特性を向上さ
せるためである。よって、水素原子又はハロゲン原子若
しくは水素原子とハロゲン原子の和の含有量は、シリコ
ン原子と水素原子及び/又はハロゲン原子の和に対して
10〜30原子%、より好ましくは15〜25原子%で
ある。光導電層中に含有される水素原子及び/又はハロ
ゲン原子の量を制御するには、例えば支持体の温度、水
素原子及び/又はハロゲン原子を含有させるために使用
される原料物質の反応容器内へ導入する量、放電電力等
を制御すればよい。
The photoconductive layers 103 to 503 usually need to contain hydrogen atoms and / or halogen atoms in the film. This is for compensating the dangling bonds of silicon atoms and improving the layer quality, particularly, the photoconductivity and the charge retention characteristics. Therefore, the content of the hydrogen atom or the halogen atom or the sum of the hydrogen atom and the halogen atom is 10 to 30 atom%, more preferably 15 to 25 atom%, based on the sum of the silicon atom and the hydrogen atom and / or the halogen atom. is there. In order to control the amount of hydrogen atoms and / or halogen atoms contained in the photoconductive layer, for example, the temperature of the support, the inside of a reaction vessel of a raw material used to contain hydrogen atoms and / or halogen atoms, What is necessary is just to control the amount to be introduced into the furnace, the discharge power, and the like.

【0048】光導電層103〜503は、必要に応じて
伝導性を制御する原子を含有することが好ましい。伝導
性を制御する原子としては、下部阻止層305と同様の
原子を用いることができる。伝導性を制御する原子の含
有量としては、好ましくは1×10-2〜1×104原子
ppm、より好ましくは5×10-2〜5×103原子p
pm、最適には1×10-1〜1×103原子ppmであ
る。
It is preferable that the photoconductive layers 103 to 503 contain atoms for controlling conductivity as necessary. As the atoms for controlling the conductivity, the same atoms as those for the lower blocking layer 305 can be used. The content of atoms for controlling conductivity is preferably 1 × 10 -2 to 1 × 10 4 atomic ppm, more preferably 5 × 10 -2 to 5 × 10 3 atomic p.
pm, optimally 1 × 10 -1 to 1 × 10 3 atomic ppm.

【0049】さらに、光導電層103〜503に、炭素
原子及び/又は酸素原子及び/又は窒素原子を含有させ
ることも有効である。炭素原子及び/又は酸素原子及び
/又は窒素原子の含有量は、シリコン原子、炭素原子、
酸素原子及び窒素原子の和に対して、好ましくは1×1
-5〜10原子%、より好ましくは1×10-4〜8原子
%、最適には1×10-3〜5原子%が望ましい。炭素原
子、酸素原子、窒素原子は、必ずしも全層に渡って含有
される必要はなく、一部分のみあるいは膜厚方向で分布
していても良い。
Further, it is also effective that the photoconductive layers 103 to 503 contain carbon atoms and / or oxygen atoms and / or nitrogen atoms. The content of the carbon atom and / or the oxygen atom and / or the nitrogen atom is determined by the content of the silicon atom,
Preferably, the sum of oxygen atoms and nitrogen atoms is 1 × 1
0 -5 to 10 at%, more preferably 1 x 10 -4 to 8 at%, and most preferably 1 x 10 -3 to 5 at%. The carbon atoms, oxygen atoms, and nitrogen atoms do not necessarily need to be contained in the entire layer, and may be distributed only partially or in the film thickness direction.

【0050】光導電層103〜503の層厚は、所望の
電子写真特性が得られること、及び経済的効果等の点か
ら適宜所望にしたがって決定され、好ましくは10〜5
0μm、より好ましくは20〜45μm、最適には25
〜40μmである。
The layer thickness of the photoconductive layers 103 to 503 is determined as desired from the viewpoint of obtaining desired electrophotographic characteristics and economic effects, and is preferably 10 to 5 times.
0 μm, more preferably 20-45 μm, optimally 25
4040 μm.

【0051】光導電層103〜503の上には、更にa
−Si系の表面保護層204、304、504を形成す
ることが好ましい。この表面保護層204、304、5
04は自由表面を有し、主に耐湿性、連続繰り返し使用
特性、電気的耐圧性、使用環境特性、耐久性において本
発明の目的を達成するために設けられる。また、光受容
層を構成する光導電層103〜503と表面保護層20
4、304、504とを形成する非晶質材料の各々が、
シリコン原子という共通の構成要素を有しているので、
積層界面において化学的な安定性の確保が十分なされ
る。
On the photoconductive layers 103 to 503, a
It is preferable to form the Si-based surface protective layers 204, 304, and 504. The surface protective layers 204, 304, 5
Reference numeral 04 has a free surface and is provided in order to achieve the object of the present invention mainly in moisture resistance, continuous repeated use characteristics, electric pressure resistance, use environment characteristics, and durability. The photoconductive layers 103 to 503 constituting the light receiving layer and the surface protective layer 20
Each of the amorphous materials forming 4, 304, 504
Since it has a common component called silicon atom,
Ensuring sufficient chemical stability at the lamination interface is sufficient.

【0052】表面保護層204、304、504は、a
−Si系の材料であればいずれの材質でも可能である
が、例えば、水素原子(H)及び/又はハロゲン原子
(X)を含有し、更に炭素原子を含有するa−Si(a
−SiC:H,X)、水素原子(H)及び/又はハロゲ
ン原子(X)を含有し、更に酸素原子を含有するa−S
i(a−SiO:H,X)、水素原子(H)及び/又は
ハロゲン原子(X)を含有し、更に窒素原子を含有する
a−Si(a−SiN:H,X)、水素原子(H)及び
/又はハロゲン原子(X)を含有し、更に炭素原子、酸
素原子、窒素原子の少なくとも一つを含有するa−Si
(a−SiCON:H,X)等の材料が好適に用いられ
る。
The surface protective layers 204, 304, and 504 have a
Any material can be used as long as it is a -Si material. For example, a-Si (a) containing a hydrogen atom (H) and / or a halogen atom (X) and further containing a carbon atom
-SiC: a-S containing H, X), a hydrogen atom (H) and / or a halogen atom (X), and further containing an oxygen atom
a-Si (a-SiN: H, X) containing i (a-SiO: H, X), a hydrogen atom (H) and / or a halogen atom (X), and further containing a nitrogen atom; H) and / or a-Si containing a halogen atom (X) and further containing at least one of a carbon atom, an oxygen atom and a nitrogen atom
Materials such as (a-SiCON: H, X) are preferably used.

【0053】炭素、窒素、酸素より選ばれた元素の含有
量は、シリコン原子と炭素原子、窒素原子、酸素原子の
和に対して、30%〜90%の範囲が好ましい。
The content of an element selected from carbon, nitrogen and oxygen is preferably in the range of 30% to 90% with respect to the sum of silicon atoms and carbon atoms, nitrogen atoms and oxygen atoms.

【0054】表面保護層204、304、504中に
は、通常、水素原子及び/又はハロゲン原子が含有され
ることが必要であるが、水素含有量は、構成原子の総量
に対して通常の場合30〜70原子%、好適には35〜
65原子%、最適には40〜60原子%とする。また、
弗素含有量は、通常の場合0.01〜15原子%、好適
には0.1〜10原子%、最適には0.6〜4原子%とす
るのが望ましい。
The surface protective layers 204, 304, and 504 usually need to contain hydrogen atoms and / or halogen atoms, but the hydrogen content is usually smaller than the total amount of the constituent atoms. 30 to 70 atomic%, preferably 35 to
65 at%, optimally 40 to 60 at%. Also,
The fluorine content is usually 0.01 to 15 atomic%, preferably 0.1 to 10 atomic%, and most preferably 0.6 to 4 atomic%.

【0055】さらに、表面保護層204、304、50
4には、必要に応じて伝導性を制御する原子を含有させ
てもよい。
Further, the surface protective layers 204, 304, 50
4 may contain an atom for controlling conductivity as necessary.

【0056】表面保護層204、304、504の層厚
としては、通常0.01〜3μm、好適には0.1〜2μ
m、最適には0.5〜1μmである。層厚が0.01μm
以上であれば、電子写真感光体の使用中に摩擦等により
表面保護層が失われることが生じ難く、3μm以下であ
れば残留電位の増加等の電子写真特性の低下を防止でき
る。
The thickness of the surface protective layers 204, 304 and 504 is usually from 0.01 to 3 μm, preferably from 0.1 to 2 μm.
m, optimally between 0.5 and 1 μm. Layer thickness 0.01 μm
Above, the surface protective layer is less likely to be lost due to friction or the like during use of the electrophotographic photoreceptor, and if it is 3 μm or less, deterioration of electrophotographic characteristics such as increase in residual potential can be prevented.

【0057】本発明で用いられる伝導性を制御する原
子、たとえば第3b族原子としては、具体的には、B
(ほう素)、Al(アルミニウム)、Ga(ガリウ
ム)、In(インジウム)、Ta(タリウム)等があ
り、特にB、Al、Gaが好適である。第5b族原子と
しては、具体的にはP(リン)、As(砒素)、Sb
(アンチモン)、Bi(ビスマス)等があり、特にP、
Asが好適である。
The atom for controlling the conductivity used in the present invention, for example, the Group 3b atom includes, specifically, B
(Boron), Al (aluminum), Ga (gallium), In (indium), Ta (thallium), and the like, and B, Al, and Ga are particularly preferable. As the group 5b atom, specifically, P (phosphorus), As (arsenic), Sb
(Antimony), Bi (bismuth) and the like.
As is preferred.

【0058】第3b族原子あるいは第5b族原子を構造
的に導入するには、層形成の際に、第3b族原子導入用
の原料物質あるいは第5b族原子導入用の原料物質をガ
ス状態で、反応容器中に他のガスとともに導入してやれ
ばよい。第3b族原子導入用の原料物質あるいは第5b
族原子導入用の原料物質となり得るものとしては、常温
常圧でガス状のまたは、少なくとも層形成条件下で容易
にガス化し得るものを採用するのが望ましい。そのよう
な第3b族原子導入用の原料物質として、具体的には、
硼素原子導入用としては、B26、B410、B59
511、B61 0、B612、B614等の水素化硼素、
BF3、BCl3、BBr3等のハロゲン化硼素が挙げら
れる。この他、AlCl3、GaCl3、Ga(C
33、InCl 3、TlCl3等も挙げることができ
る。第5b族原子導入用の原料物質として有効に使用さ
れるのは、燐原子導入用としては、PH3、P24等の
水素化燐、PH4、PF3、PF5、PCl3、PCl5
PBr3、PBr5、Pl3等のハロゲン化燐が挙げられ
る。この他、AsH3、AsF3、AsCl3、AsB
3、AsF 5、SbH3、SbF3、SbF5、SbC
3、SbCl5、BiH3、BiCl3、BiBr3等も
第5b族原子導入用の出発物質の有効なものとして挙げ
ることができる。これらの伝導性を制御する原子導入用
の原料物質を、必要に応じてH2及び/又はHeにより
希釈して使用してもよい。
Group 3b atom or group 5b atom
For the introduction of a 3b group atom at the time of layer formation.
Source material for introduction of Group 5b atoms
And introduce it into the reaction vessel together with other gases.
I just need. Raw material for introducing group 3b atoms or group 5b
Room temperature can be a raw material for introducing group atoms.
Gaseous at normal pressure or at least easy under layer forming conditions
It is desirable to employ one that can be gasified. Like that
As a raw material for introducing a Group 3b atom, specifically,
For boron atom introduction, BTwoH6, BFourHTen, BFiveH9,
BFiveH11, B6H1 0, B6H12, B6H14Borohydride, etc.
BFThree, BClThree, BBrThreeSuch as boron halide
It is. In addition, AlClThree, GaClThree, Ga (C
HThree)Three, InCl Three, TlClThreeAnd so on.
You. Effectively used as a raw material for introducing group 5b atoms
What is used for introducing phosphorus atoms is PHThree, PTwoHFourEtc.
Phosphorus hydride, PHFour, PFThree, PFFive, PClThree, PClFive,
PBrThree, PBrFive, PlThreeAnd the like.
You. In addition, AsHThree, AsFThree, AsClThree, AsB
rThree, AsF Five, SbHThree, SbFThree, SbFFive, SbC
lThree, SbClFive, BiHThree, BiClThree, BiBrThreeEtc.
Listed as effective starting materials for introducing group 5b atoms
Can be For atom introduction to control these conductivity
Raw material as neededTwoAnd / or by He
It may be used after dilution.

【0059】Si供給用のガスとなり得る物質として
は、SiH4、Si26、Si38、Si410等のガス
状態の、またはガス化し得る水素化珪素(シラン類)が
有効に使用されるものとして挙げられ、特に、層作製時
の取り扱い易さ、Si供給効率の良さ等の点で、SiH
4、Si26が好ましい。
As a substance which can be a gas for supplying Si, silicon hydrides (silanes) in a gas state such as SiH 4 , Si 2 H 6 , Si 3 H 8 , Si 4 H 10 or the like can be effectively used. In particular, in terms of ease of handling at the time of forming a layer and good Si supply efficiency, SiH
4 , Si 2 H 6 is preferred.

【0060】そして、形成される各層中に水素原子を構
造的に導入し、水素原子の導入割合の制御をいっそう容
易になるように図り、本発明の目的を達成する膜特性を
得るために、これらのガスに更にH2及び/又はHeあ
るいは水素原子を含む珪素化合物のガスを所望量混合し
て層形成することができる。また、各ガスは単独種のみ
でなく、所定の混合比で複数種混合しても差し支えない
ものである。
Then, in order to structurally introduce hydrogen atoms into each of the layers to be formed so as to make it easier to control the introduction ratio of hydrogen atoms, and to obtain film characteristics which achieve the object of the present invention, A desired amount of a gas of a silicon compound containing H 2 and / or He or a hydrogen atom can be mixed with these gases to form a layer. In addition, each gas is not limited to a single species, and a plurality of species may be mixed at a predetermined mixture ratio.

【0061】希釈ガスとして使用するH2及び/又はH
eの流量は、層設計にしたがって適宜最適範囲が選択さ
れるが、Si供給用ガスに対しH2及び/又はHeを、
通常の場合3〜20倍、好ましくは4〜15倍、最適に
は5〜10倍の範囲に制御する。
H 2 and / or H used as a diluent gas
The optimum flow rate of e is selected as appropriate according to the layer design. However, H 2 and / or He is used for the Si supply gas.
In general, the control is performed in the range of 3 to 20 times, preferably 4 to 15 times, and most preferably 5 to 10 times.

【0062】また、ハロゲン原子供給用の原料ガスとし
ては、たとえばハロゲンガス、ハロゲン化物、ハロゲン
を含むハロゲン間化合物、ハロゲンで置換されたシラン
誘導体等のガス状のまたはガス化し得るハロゲン化合物
が好ましく挙げられる。さらには、シリコン原子とハロ
ゲン原子とを構成要素とするガス状のまたはガス化し得
る、ハロゲン原子を含む水素化珪素化合物も有効なもの
として挙げることができる。好適に使用し得るハロゲン
化合物としては、具体的には、弗素ガス(F2)、Br
F、ClF、ClF3、BrF3、BrF5、IF3、IF
7等のハロゲン間化合物を挙げることができる。ハロゲ
ン原子を含む珪素化合物、いわゆるハロゲン原子で置換
されたシラン誘導体としては、具体的には、たとえばS
iF4、Si26等の弗化珪素が好ましいものとして挙
げることができる。
The source gas for supplying halogen atoms is preferably a gaseous or gasifiable halogen compound such as a halogen gas, a halide, an interhalogen compound containing halogen, or a silane derivative substituted with halogen. Can be Furthermore, a gaseous or gasifiable silicon hydride compound containing a halogen atom, which contains a silicon atom and a halogen atom as constituent elements, can also be mentioned as an effective compound. Specific examples of the halogen compound that can be suitably used include fluorine gas (F 2 ) and Br.
F, ClF, ClF 3 , BrF 3 , BrF 5 , IF 3 , IF
7 and the like. Specific examples of the silicon compound containing a halogen atom, ie, a silane derivative substituted with a halogen atom, include, for example, S
Silicon fluoride such as iF 4 or Si 2 F 6 can be mentioned as a preferable example.

【0063】炭素供給用ガスとなり得る物質としては、
CH4、C26、C38、C410等のガス状態の、また
はガス化し得る炭化水素が有効に使用されるものとして
挙げられる。特に、層作製時の取り扱い易さ、Si供給
効率の良さ等の点で、CH4、C26が好ましい。
As a substance that can serve as a carbon supply gas,
Hydrocarbons in the gaseous state, such as CH 4 , C 2 H 6 , C 3 H 8 , and C 4 H 10 , or gasifiable hydrocarbons are effectively used. In particular, CH 4 and C 2 H 6 are preferable from the viewpoints of ease of handling at the time of forming a layer, good Si supply efficiency, and the like.

【0064】窒素または酸素供給用ガスとなり得る物質
としては、NH3、NO、N2O、NO2、O2、CO、C
2、N2等のガス状態の、またはガス化し得る化合物が
有効に使用されるものとして挙げられる。
Substances that can serve as nitrogen or oxygen supply gas include NH 3 , NO, N 2 O, NO 2 , O 2 , CO, C
Compounds in a gaseous state or gasifiable such as O 2 and N 2 are mentioned as being effectively used.

【0065】各層に含有される原子は、該層中に万偏な
く均一に分布されても良いし、あるいは層厚方向には万
偏なく含有されてはいるが、不均一に分布する状態で含
有している部分があってもよい。しかしながら、いずれ
の場合にも支持体の表面と平行面内方向においては、均
一な分布で万偏なく含有されることが面内方向における
特性の均一化をはかる点からも必要である。
The atoms contained in each layer may be uniformly distributed throughout the layer, or may be uniformly distributed in the layer thickness direction, but may be distributed unevenly. There may be a part containing. However, in any case, it is necessary to uniformly contain the particles in the in-plane direction parallel to the surface of the support from the viewpoint of making the properties uniform in the in-plane direction.

【0066】反応容器内のガス圧も同様に、層設計にし
たがって適宜最適範囲が選択されるが、通常の場合1×
10-4〜10Torr、好ましくは5×10-4〜5To
rr、最適には1×10-4〜1Torrとする。
Similarly, an optimum range of the gas pressure in the reaction vessel is appropriately selected according to the layer design.
10 -4 to 10 Torr, preferably 5 × 10 -4 to 5 To
rr, optimally 1 × 10 −4 to 1 Torr.

【0067】放電電力もまた同様に層設計にしたがって
適宜最適範囲が選択されるが、Si供給用のガスの流量
に対する放電電力を、通常の場合2〜7倍、好ましくは
2.5〜6倍、最適には3〜5倍の範囲に設定する。
Similarly, the optimum range of the discharge power is appropriately selected in accordance with the layer design, but the discharge power with respect to the flow rate of the gas for supplying Si is usually 2 to 7 times, preferably 2.5 to 6 times. Optimally, it is set in the range of 3 to 5 times.

【0068】支持体の温度は、層設計にしたがって適宜
最適範囲が選択されるが、好ましくは50〜500℃、
より好ましくは200〜350℃とする。
The temperature of the support is appropriately selected in an optimum range according to the layer design.
More preferably, the temperature is 200 to 350 ° C.

【0069】本発明においては、各層を形成するための
原料ガスの混合比、ガス圧、支持体温度、放電電力の望
ましい数値範囲として前記した範囲が挙げられるが、条
件は通常は独立的に別々に決められるものではなく、所
望の特性を有する堆積膜を形成すべく相互的且つ有機的
関連性に基づいて最適値を決めるのが望ましい。
In the present invention, the preferable ranges of the mixing ratio of the raw material gas, the gas pressure, the temperature of the support, and the discharge power for forming each layer include the above-mentioned ranges. However, it is desirable to determine an optimum value based on mutual and organic relevance in order to form a deposited film having desired characteristics.

【0070】本発明の電子写真感光体の製造は、通常、
真空堆積膜形成方法によって行われる。具体的には、例
えばグロー放電法(低周波CVD法、高周波CVD法ま
たはマイクロ波CVD法等の交流放電CVD法、あるい
は直流放電CVD法等)、スパッタリング法、真空蒸着
法、イオンプレーティング法、光CVD法、熱CVD法
などの数々の薄膜堆積法によって形成することができ
る。これらの薄膜堆積法は、製造条件、設備資本投資下
の負荷程度、製造規模、作製される電子写真感光体に所
望される特性等の要因によって適宜選択されて採用され
るが、所望の特性を有する電子写真感光体を製造するに
当たっての条件の制御が比較的容易であることから、グ
ロー放電法、特にRF帯またはVHF帯の電源周波数を
用いた高周波グロー放電法が好適である。
The production of the electrophotographic photoreceptor of the present invention is usually carried out by
This is performed by a vacuum deposition film forming method. Specifically, for example, a glow discharge method (an AC discharge CVD method such as a low-frequency CVD method, a high-frequency CVD method or a microwave CVD method, or a DC discharge CVD method), a sputtering method, a vacuum deposition method, an ion plating method, It can be formed by various thin film deposition methods such as a photo CVD method and a thermal CVD method. These thin film deposition methods are appropriately selected and adopted depending on factors such as manufacturing conditions, the degree of load under capital investment, the manufacturing scale, and the characteristics desired for the produced electrophotographic photoreceptor. The glow discharge method, particularly the high-frequency glow discharge method using a power supply frequency in the RF band or the VHF band, is preferable because the conditions for manufacturing the electrophotographic photosensitive member having the same are relatively easy to control.

【0071】特に、下引き層、光導電層等の各層は、放
電周波数50MHz以上450MHz以下で放電を励起
するプラズマCVD法により形成することが好ましい。
In particular, each layer such as an undercoat layer and a photoconductive layer is preferably formed by a plasma CVD method in which discharge is excited at a discharge frequency of 50 MHz to 450 MHz.

【0072】以下、高周波プラズマCVD法によって堆
積膜を形成するための装置及び形成方法について詳述す
る。図6は高周波プラズマCVD(以下「RF−PCV
D」と表記する)法による電子写真感光体の製造装置の
一例を示す模式的構成図である。
Hereinafter, an apparatus and a method for forming a deposited film by a high-frequency plasma CVD method will be described in detail. FIG. 6 shows high frequency plasma CVD (hereinafter referred to as “RF-PCV”).
FIG. 1 is a schematic configuration diagram illustrating an example of an apparatus for manufacturing an electrophotographic photosensitive member according to a D method).

【0073】図6に示すRF−PCVD法による堆積膜
の製造装置の構成は以下の通りである。この装置は大別
すると、堆積装置(5100)、原料ガスの供給装置
(5200)、反応容器(5111)内を減圧するため
の排気装置(5117)から構成されている。堆積装置
(5100)中の反応容器(5111)内には、導電性
支持体(5112)、支持体加熱用ヒーター(511
3)、原料ガス導入管(5114)が設置され、更に高
周波マッチングボックス(5115)が接続されてい
る。
The structure of the apparatus for manufacturing a deposited film by the RF-PCVD method shown in FIG. 6 is as follows. This device is broadly composed of a deposition device (5100), a source gas supply device (5200), and an exhaust device (5117) for reducing the pressure inside the reaction vessel (5111). In the reaction vessel (5111) in the deposition apparatus (5100), a conductive support (5112) and a heater for heating the support (511) are provided.
3) A source gas introduction pipe (5114) is installed, and a high frequency matching box (5115) is further connected.

【0074】原料ガスの供給装置(5200)は、Si
4、H2、CH4、NO、B26、GeH4等の原料ガス
のボンベ(5221〜5226)とバルブ(5231〜
5236、5241〜5246、5251〜5256)
およびマスフローコントローラー(5211〜521
6)から構成され、各原料ガスのボンベはバルブ(52
60)を介して反応容器(5111)内のガス導入管
(5114)に接続されている。
The source gas supply device (5200) is made of Si
H 4, H 2, CH 4 , NO, cylinder source gas such as B 2 H 6, GeH 4 and (5221 to 5226) Valve (5231~
5236, 5241 to 5246, 5251 to 5256)
And mass flow controllers (5211-521)
6), and the cylinder for each source gas is a valve (52).
60) is connected to the gas introduction pipe (5114) in the reaction vessel (5111).

【0075】この装置を用いた堆積膜の形成法は、例え
ば、以下のように行なうことができる。
The method of forming a deposited film using this apparatus can be performed, for example, as follows.

【0076】まず、表面が旋盤による切削で表面粗さ
(Rz)が0.05μm以上5μm以下に仕上げられた
アルミニウムからなる導電性支持体(5112)を、反
応容器(5111)に設置する。導電性支持体(511
2)は、電子写真感光体の場合、円筒状が望ましい。導
電性支持体(5112)はあらかじめ適宜脱脂洗浄が行
われるが、本発明の効果を十分に発揮するためには、純
水及び界面活性剤による洗浄の後、十分に純水でリンス
することが好ましい。設置後、排気装置(5117、例
えば真空ポンプ)により反応容器(5111)内を排気
する。続いて、支持体加熱用ヒーター(5113)をO
Nし、導電性支持体(5112)の温度を50℃〜50
0℃の所定の温度に制御する。
First, a conductive support (5112) made of aluminum whose surface has been finished to a surface roughness (Rz) of 0.05 μm or more and 5 μm or less by cutting with a lathe is placed in a reaction vessel (5111). Conductive support (511
2) In the case of an electrophotographic photosensitive member, a cylindrical shape is desirable. The conductive support (5112) is appropriately degreased and washed in advance, but in order to sufficiently exert the effects of the present invention, it is necessary to thoroughly rinse with pure water after washing with pure water and a surfactant. preferable. After the installation, the inside of the reaction vessel (5111) is exhausted by an exhaust device (5117, for example, a vacuum pump). Subsequently, the heater (5113) for heating the support was turned on.
N, and set the temperature of the conductive support (5112) to 50 ° C. to 50 ° C.
Control to a predetermined temperature of 0 ° C.

【0077】堆積膜形成用の原料ガスを反応容器(51
11)に流入させるには、ガスボンベのバルブ(523
1〜5236)、反応容器のリークバルブ(5123)
が閉じられていることを確認し、また、流入バルブ(5
251〜5256)、流出バルブ(5241〜524
6)、補助バルブ(5260)が開かれていることを確
認して、まずメインバルブ(5118)を開いて反応容
器(5111)およびガス配管内(5116)を排気す
る。
A source gas for forming a deposited film is supplied to a reaction vessel (51).
11), the gas cylinder valve (523)
1-5236), a leak valve of the reaction vessel (5123)
Is closed, and check that the inlet valve (5
251-5256), outflow valves (5241-524)
6) After confirming that the auxiliary valve (5260) is open, the main valve (5118) is first opened to exhaust the reaction vessel (5111) and the inside of the gas pipe (5116).

【0078】次に、真空計(5124)の読みが約5×
10-6Torrになった時点で、補助バルブ(526
0)、流出バルブ(5251〜5256)を閉じる。そ
の後、ガスボンベ(5221〜5226)より各ガスを
バルブ(5231〜5236)を開いて導入し、圧力調
整器(5261〜5266)により各ガス圧を(例えば
2Kg/cm2)調整する。次に、流入バルブ(524
1〜5246)を徐々に開けて、各ガスをマスフローコ
ントローラー(5211〜5216)内に導入する。
Next, the reading of the vacuum gauge (5124) is about 5 ×
At 10 -6 Torr, the auxiliary valve (526
0), close the outflow valves (5251-5256). Thereafter, each gas is introduced from the gas cylinders (5221 to 5226) by opening the valves (5231 to 5236), and each gas pressure is adjusted (for example, 2 kg / cm 2 ) by the pressure regulators (5261 to 5266). Next, the inflow valve (524)
1-5246) is gradually opened, and each gas is introduced into the mass flow controllers (5211-5216).

【0079】以上のようにして成膜の準備が完了した
後、導電性支持体(5112)上に、まずa−Cからな
る下引き層を成膜する。
After the preparation for film formation is completed as described above, an undercoat layer made of aC is first formed on the conductive support (5112).

【0080】導電性支持体(5122)が所定の温度に
なったところで、流出バルブ(5251〜5256)の
うちの必要なものおよび補助バルブ(5260)を徐々
に開き、ガスボンベ(5221〜5226)から所定の
ガスをガス導入管(5114)を介して反応容器(51
11)内に導入する。次に、マスフローコントローラー
(5211〜5216)によって各原料ガスが所定の流
量になるように調整する。その際に、反応容器(511
1)内の圧力が1Torr以下の所定の圧力になるよう
に、真空計(5124)を見ながらメインバルブ(51
18)の開口を調整する。内圧が安定したところで、R
F電源(図示せず)を所望の電力に設定して、高周波マ
ッチングボックス(5115)を通じて反応容器(51
11)内にRF電力を導入し、RFグロー放電を生起さ
せる。この放電エネルギーによって反応容器内に導入さ
れた原料ガスが分解され、導電性支持体(5112)上
に所定の炭素を主成分とする堆積膜が形成されるところ
となる。所望の膜厚の形成が行われた後、RF電力の供
給を止め、流出バルブを閉じて反応容器へのガスの流入
を止め下引き層の形成を終える。
When the conductive support (5122) reaches a predetermined temperature, the necessary ones of the outflow valves (5251-5256) and the auxiliary valve (5260) are gradually opened, and the gas cylinders (5221-5226) are opened. A predetermined gas is supplied to the reaction vessel (51) through a gas introduction pipe (5114).
11). Next, each raw material gas is adjusted by a mass flow controller (5211 to 5216) so as to have a predetermined flow rate. At that time, the reaction vessel (511)
1) Main valve (51) while watching vacuum gauge (5124) so that the pressure in 1) becomes a predetermined pressure of 1 Torr or less.
18) Adjust the opening. When the internal pressure becomes stable, R
F power supply (not shown) is set to a desired power, and the reaction vessel (51) is passed through a high-frequency matching box (5115).
RF power is introduced into 11) to generate RF glow discharge. The source gas introduced into the reaction vessel is decomposed by the discharge energy, and a deposited film mainly containing predetermined carbon is formed on the conductive support (5112). After the formation of the desired film thickness, the supply of the RF power is stopped, the outflow valve is closed, the flow of gas into the reaction vessel is stopped, and the formation of the undercoat layer is completed.

【0081】同様の操作を複数回繰り返すことによっ
て、例えば下部阻止層、光導電層、表面保護層等の多層
構造の電子写真感光体が形成される。
By repeating the same operation a plurality of times, an electrophotographic photosensitive member having a multilayer structure such as a lower blocking layer, a photoconductive layer, and a surface protective layer is formed.

【0082】それぞれの層を形成する際には、必要なガ
ス以外の流出バルブはすべて閉じられていることは言う
までもなく、また、それぞれのガスが反応容器(511
1)内、流出バルブ(5251〜5256)から反応容
器(5111)に至る配管内に残留することを避けるた
めに、流出バルブ(5251〜5256)を閉じ、補助
バルブ(5260)を開き、さらにメインバルブ(51
18)を全開にして、系内を一旦高真空に排気する操作
を必要に応じて行う。また、膜形成の均一化を図る場合
は、膜形成を行なっている間は、導電性支持体(511
2)を駆動装置(図示せず)によって所定の速度で回転
させる。
When forming each layer, it goes without saying that all outflow valves other than necessary gas are closed, and each gas is supplied to the reaction vessel (511).
1) Close the outflow valves (5251 to 5256), open the auxiliary valve (5260), and open the main valve to avoid remaining in the piping from the outflow valves (5251 to 5256) to the reaction vessel (5111). Valve (51
The operation of fully opening 18) and once evacuating the system to a high vacuum is performed as necessary. In order to make the film formation uniform, the conductive support (511) is used during the film formation.
2) is rotated at a predetermined speed by a driving device (not shown).

【0083】上述のガス種およびバルブ操作は、各々の
層の作製条件にしたがって変更が加えられることは言う
までもない。
It goes without saying that the above-mentioned gas species and valve operation are changed according to the conditions for forming each layer.

【0084】次に、VHF帯の周波数を用いた高周波プ
ラズマCVD(以後「VHF−PCVD」と略記する)
法による電子写真感光体の製造方法について説明する。
Next, high-frequency plasma CVD using a frequency in the VHF band (hereinafter abbreviated as "VHF-PCVD")
A method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor by the method will be described.

【0085】図6に示した製造装置におけるRF−PC
VD法による堆積装置(5100)を、図7に示す堆積
装置(6100)に交換して原料ガス供給装置(520
0)と接続することにより、VHF−PCVD法による
電子写真感光体製造装置を得ることができる。
RF-PC in the manufacturing apparatus shown in FIG.
The deposition apparatus (5100) using the VD method is replaced with a deposition apparatus (6100) shown in FIG.
0), it is possible to obtain an electrophotographic photoreceptor manufacturing apparatus by the VHF-PCVD method.

【0086】この装置は大別すると、真空気密化構造を
成した減圧にし得る反応容器(6111)、原料ガスの
供給装置(5200)、および反応容器内を減圧にする
ための排気装置(不図示)から構成されている。反応容
器(6111)内には導電性支持体(6112)、支持
体加熱用ヒーター(6113)、原料ガス導入管(不図
示)、電極(6115)が設置され、電極には更に高周
波マッチングボックス(6116)が接続されている。
また、反応容器(6111)内は排気管(6121)を
通じて不図示の拡散ポンプに接続されている。
This apparatus is roughly classified into a reaction vessel (6111) having a vacuum-tight structure and capable of reducing pressure, a supply device (5200) for raw material gas, and an exhaust device (not shown) for reducing the pressure inside the reaction vessel. ). A conductive support (6112), a heater for heating the support (6113), a raw material gas introduction pipe (not shown), and an electrode (6115) are installed in the reaction vessel (6111). 6116) are connected.
The inside of the reaction vessel (6111) is connected to a diffusion pump (not shown) through an exhaust pipe (6121).

【0087】原料ガス供給装置(5200)は、SiH
4、GeH4、H2、CH4、B26、PH3等の原料ガス
のボンベ(5221〜5226)とバルブ(5231〜
5236、5241〜5246、5251〜5256)
およびマスフローコントローラー(5211〜521
6)から構成され、各原料ガスのボンベはバルブ(52
60)を介して反応容器(6111)内のガス導入管
(不図示)に接続されている。また、導電性支持体(6
112)によって取り囲まれた空間(6130)が放電
空間を形成している。
The source gas supply device (5200) is made of SiH
4, GeH 4, H 2, CH 4, B 2 H 6, a cylinder of the source gas PH 3, etc. (5221-5226) and the valve (5231~
5236, 5241 to 5246, 5251 to 5256)
And mass flow controllers (5211-521)
6), and the cylinder for each source gas is a valve (52).
60) is connected to a gas introduction pipe (not shown) in the reaction vessel (6111). In addition, the conductive support (6)
A space (6130) surrounded by 112) forms a discharge space.

【0088】VHF−PCVD法によるこの装置での堆
積膜の形成は、以下のように行なうことができる。
The formation of a deposited film in this apparatus by the VHF-PCVD method can be performed as follows.

【0089】まず、反応容器(6111)内に導電性支
持体(6112)を設置し、駆動装置(6120)によ
って支持体(6112)を回転し、不図示の排気装置
(例えば拡散ポンプ)により反応容器(6111)内を
排気管(6121)を介して排気し、反応容器(611
1)内の圧力を1×10-7Torr以下に調整する。続
いて、支持体加熱用ヒーター(6113)により導電性
支持体(6112)の温度を50℃乃至500℃の所定
の温度に加熱保持する。
First, the conductive support (6112) is set in the reaction vessel (6111), the support (6112) is rotated by the driving device (6120), and the reaction is performed by the exhaust device (not shown) (for example, a diffusion pump). The inside of the vessel (6111) is evacuated through the exhaust pipe (6121), and the reaction vessel (611) is exhausted.
1) Adjust the pressure within 1 × 10 −7 Torr or less. Subsequently, the temperature of the conductive support (6112) is heated to and maintained at a predetermined temperature of 50 ° C to 500 ° C by the support heating heater (6113).

【0090】堆積膜形成用の原料ガスを反応容器(61
11)に流入させるには、ガスボンベのバルブ(523
1〜5236)、反応容器のリークバルブ(不図示)が
閉じられていることを確認し、また、流入バルブ(52
41〜5246)、流出バルブ(5251〜525
6)、補助バルブ(5260)が開かれていることを確
認して、まずメインバルブ(不図示)を開いて反応容器
(6111)およびガス配管内を排気する。次に、真空
計(不図示)の読みが約5×10-6Torrになった時
点で、補助バルブ(5260)、流出バルブ(5251
〜5256)を閉じる。
A source gas for forming a deposited film is supplied to a reaction vessel (61).
11), the gas cylinder valve (523)
1 to 5236), confirm that the leak valve (not shown) of the reaction vessel is closed, and check the inflow valve (52
41-5246), the outflow valve (5251-525)
6) After confirming that the auxiliary valve (5260) is open, first open the main valve (not shown) to exhaust the inside of the reaction vessel (6111) and the gas pipe. Next, when the reading of a vacuum gauge (not shown) reaches about 5 × 10 −6 Torr, the auxiliary valve (5260) and the outflow valve (5251)
~ 5256) is closed.

【0091】その後、ガスボンベ(5221〜522
6)より各ガスをバルブ(5231〜5236)を開い
て導入し、圧力調整器(5261〜5266)により各
ガス圧を2Kg/cm2に調整する。次に、流入バルブ
(5241〜5246)を徐々に開けて、各ガスをマス
フローコントローラー(5211〜5216)内に導入
する。
Thereafter, gas cylinders (5221 to 522)
From 6), each gas is introduced by opening the valves (5231-5236), and each gas pressure is adjusted to 2 kg / cm 2 by the pressure regulators (5261-5266). Next, the inflow valves (5241 to 5246) are gradually opened, and each gas is introduced into the mass flow controllers (5211 to 5216).

【0092】以上のようにして成膜の準備が完了した
後、以下のようにして導電性支持体(6112)上に下
引き層の形成を行う。
After the preparation for film formation is completed as described above, an undercoat layer is formed on the conductive support (6112) as follows.

【0093】導電性支持体(6112)が所定の温度に
なったところで流出バルブ(5221〜5256)のう
ちの必要なものおよび補助バルブ(5260)を徐々に
開き、ガスボンベ(5221〜5226)から所定のガ
スをガス導入管(不図示)を介して反応容器(611
1)内の放電空間(6130)に導入する。次に、マス
フローコントローラー(5211〜5216)によって
各原料ガスが所定の流量になるように調整する。その
際、放電空間(3130)内の圧力が500mTorr
以下の所定の圧力になるように真空計(不図示)を見な
がらメインバルブ(不図示)の開口を調整する。
When the conductive support (6112) reaches a predetermined temperature, necessary ones of the outflow valves (5221 to 5256) and the auxiliary valve (5260) are gradually opened, and a predetermined amount is opened from the gas cylinder (5221 to 5226). Of the reaction vessel (611) via a gas introduction pipe (not shown).
It is introduced into the discharge space (6130) in 1). Next, each raw material gas is adjusted by a mass flow controller (5211 to 5216) so as to have a predetermined flow rate. At that time, the pressure in the discharge space (3130) was 500 mTorr.
The opening of the main valve (not shown) is adjusted while watching the vacuum gauge (not shown) so that the pressure becomes the following predetermined pressure.

【0094】a−Cからなる下引き層の形成は、圧力が
安定したところで、例えば周波数100MHzのVHF
電源(不図示)を所望の電力に設定して、マッチングボ
ックス(6116)を通じて放電空間(6130)にV
HF電力を導入し、グロー放電を生起させる。かくし
て、支持体(6112)により取り囲まれた放電空間
(6130)において、導入された原料ガスは、放電エ
ネルギーにより励起されて解離し、支持体(6112)
上に所定の堆積膜が形成される。このときVHF電力導
入と同時に、支持体加熱用ヒーター(6113)の出力
を調整し、導電性支持体の温度を所定の値で変化させ
る。この層形成の均一化を図るため、支持体回転用モー
ター(6120)によって、所望の回転速度で回転させ
る。
The undercoat layer made of aC is formed at a stable pressure, for example, at a VHF frequency of 100 MHz.
A power source (not shown) is set to a desired power, and V is applied to the discharge space (6130) through the matching box (6116).
HF power is introduced to cause glow discharge. Thus, in the discharge space (6130) surrounded by the support (6112), the introduced source gas is excited by the discharge energy to be dissociated, and the support gas (6112) is dissociated.
A predetermined deposited film is formed thereon. At this time, simultaneously with the introduction of the VHF power, the output of the heater for heating the support (6113) is adjusted to change the temperature of the conductive support at a predetermined value. In order to achieve uniform formation of the layer, the layer is rotated at a desired rotation speed by a support rotation motor (6120).

【0095】所望の膜厚の形成が行われた後、VHF電
力の供給を止め、流出バルブを閉じて反応容器へのガス
の流入を止め、下引き層の形成を終える。
After the desired film thickness is formed, the supply of VHF power is stopped, the outflow valve is closed to stop the gas from flowing into the reaction vessel, and the formation of the undercoat layer is completed.

【0096】同様の操作を複数回繰り返すことによっ
て、所望の多層構造の電子写真感光体が形成される。
By repeating the same operation a plurality of times, an electrophotographic photosensitive member having a desired multilayer structure is formed.

【0097】それぞれの層を形成する際には、必要なガ
ス以外の流出バルブはすべて閉じられていることは言う
までもなく、また、それぞれのガスが反応容器(611
1)内、流出バルブ(5251〜5256)から反応容
器(6111)に至る配管内に残留することを避けるた
めに、流出バルブ(5251〜5256)を閉じ、補助
バルブ(5260)を開き、さらにメインバルブ(不図
示)を全開にして系内を一旦高真空に排気する操作を必
要に応じて行う。
When forming each layer, it goes without saying that all outflow valves other than necessary gas are closed, and each gas is supplied to the reaction vessel (611).
1) Close the outflow valves (5251 to 5256), open the auxiliary valve (5260), and open the main valve in order to avoid remaining in the piping from the outflow valves (5251 to 5256) to the reaction vessel (6111). An operation of fully opening a valve (not shown) and once evacuating the system to a high vacuum is performed as necessary.

【0098】上述のガス種およびバルブ操作は、各々の
層の作製条件にしたがって変更が加えられることは言う
までもない。
It goes without saying that the above-mentioned gas species and valve operation are changed according to the production conditions of each layer.

【0099】導電性支持体(5112、6112)の加
熱方法は、真空仕様である発熱体であればよく、より具
体的にはシース状ヒーターの巻き付けヒーター、板状ヒ
ーター、セラミックヒーター等の電気抵抗発熱体、ハロ
ゲンランプ、赤外線ランプ等の熱放射ランプ発熱体、液
体、気体等を温媒とし熱交換手段による発熱体等が挙げ
られる。加熱手段の表面材質は、ステンレス、ニッケ
ル、アルミニウム、銅等の金属類、セラミックス、耐熱
性高分子樹脂等を使用することができる。また、それ以
外にも、反応容器(5111、6111)以外に加熱専
用の容器を設け、導電性支持体(5112、6112)
を加熱した後、反応容器(5111、6111)内に真
空中で導電性支持体(5112、6112)を搬送する
等の方法が用いられる。
The heating method of the conductive supports (5112, 6112) may be any heating element having a vacuum specification, and more specifically, electric resistance of a winding heater of a sheath heater, a plate heater, a ceramic heater, or the like. Heating elements, heat-emitting lamp heating elements such as halogen lamps and infrared lamps, and heating elements using a liquid or a gas as a heating medium and a heat exchange unit may be used. As the surface material of the heating means, metals such as stainless steel, nickel, aluminum, and copper, ceramics, heat-resistant polymer resins, and the like can be used. In addition, in addition to the reaction container (5111, 6111), a heating-only container is provided, and the conductive support (5112, 6112)
Is heated, and then the conductive support (5112, 6112) is transported in a vacuum into the reaction vessel (5111, 6111).

【0100】特に、VHF−PCVD法における放電空
間の圧力は、好ましくは1mTorr以上500mTo
rr以下、より好ましくは1mTorr以上300mT
orr以下、最も好ましくは1mTorr以上100m
Torr以下に設定する。
In particular, the pressure in the discharge space in the VHF-PCVD method is preferably 1 mTorr or more and 500 mTo
rr or less, more preferably 1 mTorr or more and 300 mT
orm, most preferably 1 mTorr to 100 m
Set to Torr or less.

【0101】VHF−PCVD法において、放電空間に
設けられる電極(6115)の大きさ及び形状は、放電
を乱さないならばいずれのものでも良いが、実用上は、
直径1mm以上10cm以下の円筒状が好ましい。この
時、電極(6115)の長さも、導電性支持体(611
2)に電界が均一にかかる長さであれば任意に設定でき
る。
In the VHF-PCVD method, the size and shape of the electrode (6115) provided in the discharge space may be any as long as they do not disturb the discharge.
A cylindrical shape having a diameter of 1 mm or more and 10 cm or less is preferable. At this time, the length of the electrode (6115) also depends on the conductive support (611).
The length can be arbitrarily set as long as the electric field is uniformly applied to 2).

【0102】電極(6115)の材質としては、表面が
導電性となるものならばいずれのものでも良く、例え
ば、ステンレス、Al、Cr、Mo、Au、In、N
b、Te、V、Ti、Pt、Pb、Fe等の金属、これ
らの合金または表面を導電処理したガラス、セラミック
等が通常使用される。
As the material of the electrode (6115), any material can be used as long as its surface becomes conductive. For example, stainless steel, Al, Cr, Mo, Au, In, N
Metals such as b, Te, V, Ti, Pt, Pb, and Fe, alloys thereof, and glass or ceramics whose surfaces are subjected to conductive treatment are usually used.

【0103】本発明の電子写真感光体は、電子写真複写
機に利用するのみならず、レーザービームプリンター、
CRTプリンター、LEDプリンター、液晶プリンタ
ー、レーザー製版機などの電子写真応用分野にも広く用
いることができる。
The electrophotographic photosensitive member of the present invention can be used not only for an electrophotographic copying machine but also for a laser beam printer,
It can be widely used in electrophotographic applications such as CRT printers, LED printers, liquid crystal printers, and laser plate making machines.

【0104】[0104]

【実施例】以下、本発明の効果を実施例を用いて具体的
に説明するが、本発明はこれらにより何ら限定されるも
のではない。
EXAMPLES The effects of the present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

【0105】<実施例1>図6で示すRF−PCVD法
による堆積膜形成装置を用い、前述の堆積形成方法の手
順に従って、表1に示す条件で阻止型の電子写真感光体
を製造した。本実施例では、アルミニウム製支持体の表
面粗さ(Rz)を0.2μmに変えて堆積膜の画像欠陥
の発生量を評価した。支持体の切削後の洗浄は純水+界
面活性剤で行った後に純水により十分にリンスし、乾燥
させた。
<Embodiment 1> A blocking type electrophotographic photosensitive member was manufactured under the conditions shown in Table 1 by using the deposition film forming apparatus by the RF-PCVD method shown in FIG. In this example, the amount of image defects generated in the deposited film was evaluated by changing the surface roughness (Rz) of the aluminum support to 0.2 μm. Washing of the support after cutting was performed using pure water and a surfactant, and then thoroughly rinsed with pure water and dried.

【0106】支持体を取り扱う環境のダスト量は、通常
はパーティクルカウンターによる測定で0.3μm以上
のダスト量が空気1リッター中に数個から数100個程
度であるが、本実施例では空気1リッター中に数万個あ
るかなり汚れた状態に設定した。
The amount of dust in the environment in which the support is handled is usually from several to several hundred in a liter of air with a dust amount of 0.3 μm or more, as measured by a particle counter. There were tens of thousands of liters in the liter set to a very dirty state.

【0107】[0107]

【表1】 この様にして得られた電子写真感光体の球状突起、黒原
稿をコピーした際の白点、作製された電子写真感光体を
1ヶ月間、常温、常湿環境に放置した後の膜剥がれにつ
いて評価を行った。具体的な評価方法は以下の通りであ
る。その結果は表3に示した。
[Table 1] Spherical protrusions of the electrophotographic photosensitive member obtained in this way, white spots when a black original is copied, film peeling after leaving the produced electrophotographic photosensitive member for one month in a normal temperature and normal humidity environment An evaluation was performed. The specific evaluation method is as follows. The results are shown in Table 3.

【0108】[球状突起]顕微鏡により直径が15μm
以上の球状突起が10cm2の視野内に幾つあるかを数
えた。
[Spherical projections] 15 μm in diameter by microscope
The number of the above spherical projections in the visual field of 10 cm 2 was counted.

【0109】[白ポチ]黒原稿を原稿台に置き、A3用
紙にコピーした時に得られた画像サンプルを観察して、
直径0.3mm以上の白点が幾つあるかを数えた。
[White Spot] A black original is placed on a platen, and an image sample obtained when copying on A3 paper is observed.
The number of white spots having a diameter of 0.3 mm or more was counted.

【0110】なお、球状突起及び黒画像中の白点につい
ては、比較例1の電子写真感光体の球状突起数及び白ポ
チ数を100%とした場合の相対値で評価した。 ◎…30%未満 ○…30%以上60%未満 △…60%以上90%未満 ×…100%以上。
The spherical projections and white spots in the black image were evaluated by relative values when the number of spherical projections and white spots of the electrophotographic photosensitive member of Comparative Example 1 was 100%. ◎: less than 30% ○: 30% or more and less than 60% △: 60% or more and less than 90% ×: 100% or more

【0111】[剥がれ]作製された電子写真感光体を、
1ヶ月間、常温、常湿環境に放置した後の膜剥がれの発
生の有無を目視にて検査した。評価基準は次の通りであ
る。 ○…認められない。 △…成膜直後は剥がれはないが、1ヶ月後に僅かに剥が
れが発生した。 ×…成膜直後にすでに一部剥がれが発生している。
[Peeling] The produced electrophotographic photosensitive member was
After leaving in a room temperature and room temperature environment for one month, the presence or absence of peeling of the film was visually inspected. The evaluation criteria are as follows. ○: Not allowed. Δ: No peeling immediately after film formation, but slight peeling occurred one month later. X: Partial peeling has already occurred immediately after film formation.

【0112】<比較例1>図6で示すRF−PCVD法
による堆積膜形成装置を用い、前述の堆積膜形成方法の
手順に従って、下記表2に示す条件で、阻止型の電子写
真感光体を製造した。本比較例では、本発明によるとこ
ろの下引き層は設けず、表面粗さ(Rz)を0.2μm
に変えたアルミニウム製支持体の上に、直接下部阻止層
を設けて堆積膜の画像欠陥の発生量を比較した。洗浄、
ダスト量は、実施例1と同様にした。
<Comparative Example 1> Using a deposition film forming apparatus based on the RF-PCVD method shown in FIG. Manufactured. In this comparative example, the undercoat layer according to the present invention was not provided, and the surface roughness (Rz) was 0.2 μm.
The lower blocking layer was provided directly on the aluminum support which was changed to the above, and the amount of image defects generated in the deposited film was compared. Washing,
The dust amount was the same as in Example 1.

【0113】[0113]

【表2】 この様にして得られた電子写真感光体について、実施例
1と同様に評価を行った。評価結果は実施例1の結果と
併せて表3に示した。
[Table 2] The thus obtained electrophotographic photosensitive member was evaluated in the same manner as in Example 1. The evaluation results are shown in Table 3 together with the results of Example 1.

【0114】[0114]

【表3】 表3より明らかなように、本発明の下引き層が設けられ
ている電子写真感光体は非常に良好な結果が得られた。
[Table 3] As is evident from Table 3, the electrophotographic photoreceptor provided with the undercoat layer of the present invention showed very good results.

【0115】<実施例2>図6で示すRF−PCVD法
による堆積膜形成装置を用い、前述の堆積膜形成方法の
手順に従って、表1に示す条件で阻止型の電子写真感光
体を製造した。本実施例では、アルミニウム製支持体の
表面粗さ(Rz)を0.01μm〜5.5μmに変えて堆
積膜の画像欠陥の発生量を比較した。洗浄、ダスト量
は、実施例1と同様にした。この様にして得られた電子
写真感光体について、実施例1と同様に評価を行った。
評価結果は表4に示した。
<Embodiment 2> A blocking type electrophotographic photosensitive member was manufactured under the conditions shown in Table 1 by using the deposition film forming apparatus shown in FIG. . In this example, the surface roughness (Rz) of the aluminum support was changed from 0.01 μm to 5.5 μm, and the amount of image defects generated in the deposited film was compared. The cleaning and dust amounts were the same as in Example 1. The thus obtained electrophotographic photosensitive member was evaluated in the same manner as in Example 1.
The evaluation results are shown in Table 4.

【0116】<比較例2>本発明によるところの下引き
層は設けず、アルミニウム製支持体の上に直接下部阻止
層を設けたこと以外は、実施例2と同様に行なった。評
価結果は表4に示した。
Comparative Example 2 The same operation as in Example 2 was carried out except that the undercoat layer according to the present invention was not provided and the lower blocking layer was provided directly on the aluminum support. The evaluation results are shown in Table 4.

【0117】[0117]

【表4】 表4より明らかなように、アルミニウム製の支持体の表
面粗さ(Rz)が0.05μm〜5μmで、かつ本発明
の下引き層が設けられている時に電子写真感光体は非常
に良好な結果が得られた。
[Table 4] As is clear from Table 4, when the surface roughness (Rz) of the aluminum support is 0.05 μm to 5 μm and the undercoat layer of the present invention is provided, the electrophotographic photoreceptor is very good. The result was obtained.

【0118】<実施例3>図6で示すRF−PCVD法
による堆積膜形成装置を用い、前述の堆積膜形成方法の
手順に従って、表1に示す条件で阻止型の電子写真感光
体を製造した。本実施例では、アルミニウム製支持体の
表面粗さ(Rz)を0.08μmとし、切削後の表面形
状を、図8のように3種類の形状に変えて堆積膜の画像
欠陥の発生量を比較した。洗浄、ダスト量は、実施例1
と同様にした。この様にして得られた電子写真感光体に
ついて、実施例1と同様に評価を行った。評価結果は表
5に示した。
<Embodiment 3> A blocking type electrophotographic photosensitive member was manufactured under the conditions shown in Table 1 by using the deposited film forming apparatus by the RF-PCVD method shown in FIG. . In this embodiment, the surface roughness (Rz) of the aluminum support is set to 0.08 μm, and the surface shape after cutting is changed to three types as shown in FIG. Compared. Example 1
Same as. The thus obtained electrophotographic photosensitive member was evaluated in the same manner as in Example 1. The evaluation results are shown in Table 5.

【0119】[0119]

【表5】 表5より明らかなように、アルミニウム製の支持体の表
面形状は、いかなる形状であっても本発明の効果が得ら
れることが判明した。
[Table 5] As is clear from Table 5, the effect of the present invention can be obtained regardless of the surface shape of the aluminum support.

【0120】<実施例4>図6で示すRF−PCVD法
による堆積膜形成装置を用い、前述の堆積膜形成方法の
手順に従って、表1に示す条件で、阻止型の電子写真感
光体を製造した。本実施例では、アルミニウム製支持体
の洗浄方法を、純水+界面活性剤で行う場合と、有機溶
剤(トリクレン洗浄)で行う場合を比較した。支持体の
表面粗さ(Rz)は0.3μmとした。ダスト量は、実
施例1と同様にした。この様にして得られた電子写真感
光体について、実施例1と同様に評価を行った。評価結
果は表6に示した。
<Embodiment 4> A blocking type electrophotographic photosensitive member was manufactured under the conditions shown in Table 1 according to the procedure of the above-mentioned deposited film forming method using the deposited film forming apparatus by the RF-PCVD method shown in FIG. did. In this example, the method of cleaning the aluminum support with pure water and a surfactant was compared with the method of cleaning with an organic solvent (trichlene cleaning). The surface roughness (Rz) of the support was 0.3 μm. The dust amount was the same as in Example 1. The thus obtained electrophotographic photosensitive member was evaluated in the same manner as in Example 1. The evaluation results are shown in Table 6.

【0121】[0121]

【表6】 アルミニウム製の支持体の洗浄方法としては、いずれの
場合にも画像上の画像欠陥に差異はなかったが、電子写
真感光体表面の球状突起の数に関しては純水+界面活性
剤による洗浄の方がやや優れており、本発明の電子写真
感光体としては純水+界面活性剤による洗浄がより適し
ていることが判明した。
[Table 6] Regarding the method of cleaning the aluminum support, there was no difference in the image defects on the image in any case, but the number of spherical projections on the surface of the electrophotographic photoreceptor was determined by cleaning with pure water and a surfactant. However, it was found that washing with pure water and a surfactant was more suitable for the electrophotographic photoreceptor of the present invention.

【0122】<実施例5>図6で示すRF−PCVD法
による堆積膜形成装置を用い、前述の堆積膜形成方法の
手順に従って、表1に示す条件で、阻止型の電子写真感
光体を製造した。本実施例では、支持体の材質として、
アルミニウム、鉄、ステンレス、クロムを用いて成膜を
行った。支持体の表面粗さ(Rz)は1.0μmとし
た。洗浄、ダスト量は、実施例1と同様にした。この様
にして得られた電子写真感光体について、実施例1と同
様に評価を行った。評価結果は表7に示した。
<Embodiment 5> Using a deposition film forming apparatus by RF-PCVD shown in FIG. 6, according to the procedure of the above-mentioned deposition film forming method, a blocking type electrophotographic photosensitive member was manufactured under the conditions shown in Table 1. did. In this embodiment, as the material of the support,
Film formation was performed using aluminum, iron, stainless steel, and chromium. The surface roughness (Rz) of the support was 1.0 μm. The cleaning and dust amounts were the same as in Example 1. The thus obtained electrophotographic photosensitive member was evaluated in the same manner as in Example 1. The evaluation results are shown in Table 7.

【0123】[0123]

【表7】 表7の結果から、支持体の材質としてはアルミニウムが
最も適していることが判明した。
[Table 7] From the results in Table 7, it was found that aluminum was most suitable as the material of the support.

【0124】<実施例6>図6で示すRF−PCVD法
による堆積膜形成装置を用い、前述の堆積膜形成方法の
手順に従って、表8に示す下引き層の製造条件A〜E
に、表9の光導電層を組み合わせて阻止型の電子写真感
光体を製造した。アルミニウム製の支持体の表面粗さ
(Rz)は0.3μmとした。洗浄、ダスト量は、実施
例1と同様にした。この様にして得られた電子写真感光
体について、実施例1と同様に評価を行った。また、別
途Siウェハー上に下引き層を成膜したサンプルの赤外
吸収分光分析にて膜中水素量を測定した。評価結果は表
10に示した。
<Embodiment 6> Using the deposition film forming apparatus by the RF-PCVD method shown in FIG. 6, according to the procedure of the above-mentioned deposition film forming method, the manufacturing conditions A to E of the undercoat layer shown in Table 8
Was combined with the photoconductive layer shown in Table 9 to produce a blocking type electrophotographic photosensitive member. The surface roughness (Rz) of the aluminum support was 0.3 μm. The cleaning and dust amounts were the same as in Example 1. The thus obtained electrophotographic photosensitive member was evaluated in the same manner as in Example 1. Further, the amount of hydrogen in the film was measured by infrared absorption spectroscopy of a sample in which an undercoat layer was separately formed on a Si wafer. The evaluation results are shown in Table 10.

【0125】[0125]

【表8】 [Table 8]

【0126】[0126]

【表9】 [Table 9]

【0127】[0127]

【表10】 表10の結果から、画像上では差異はないものの、球状
突起数では下引き層の膜中水素量は10原子%〜60原
子%程度がより適していることが判明した。
[Table 10] From the results in Table 10, it was found that although there is no difference on the image, it is more suitable for the number of spherical projections that the hydrogen content in the film of the undercoat layer be about 10 atomic% to 60 atomic%.

【0128】<実施例7>図6で示すRF−PCVD法
による堆積膜形成装置を用い、前述の堆積膜形成方法の
手順に従って、表1に示す電子写真感光体の製造条件を
基本として阻止型の電子写真感光体を作製した。本実施
例では表1に示す製造条件を基本とし、下引き層の膜厚
を変化させた。アルミニウム製の支持体の表面粗さ(R
z)は3.0μmとした。洗浄、ダスト量は、実施例1
と同様にした。この様にして得られた電子写真感光体に
ついて、実施例1と同様に評価を行った。さらに残留電
位について下記のように評価した。評価結果は表11に
示した。
<Embodiment 7> Using a deposition film forming apparatus based on the RF-PCVD method shown in FIG. 6, according to the procedure of the above-described deposition film forming method, the blocking type is basically based on the manufacturing conditions of the electrophotographic photosensitive member shown in Table 1. Was prepared. In this example, the thickness of the undercoat layer was changed based on the manufacturing conditions shown in Table 1. Surface roughness of the aluminum support (R
z) was 3.0 μm. Example 1
Same as. The thus obtained electrophotographic photosensitive member was evaluated in the same manner as in Example 1. Further, the residual potential was evaluated as follows. The evaluation results are shown in Table 11.

【0129】[残留電位]電子写真感光体を一定の暗部
表面電位(例えば400V)に帯電させる。そして直ち
に一定光量の比較的強い光(例えば2Lux・sec)
を照射する。光源はキセノンランプを用い、フィルター
を用いて600nm以上の波長域の光を除いた光を照射
した。この時、表面電位計により電子写真感光体の明部
表面電位を測定し、これを残留電位とした。残留電位の
評価基準として、下引き層が設けられていない、比較例
1の場合の残留電位を1とした相対比較をし、次の3ラ
ンクで評価した。 ○・・・0.8未満で非常に残留電位が少なく、良好。 △・・・0.8以上1.5未満で従来と同等レベル。 ×・・・1.5以上で実用上問題が出る場合がある。
[Residual Potential] The electrophotographic photosensitive member is charged to a constant dark portion surface potential (for example, 400 V). And immediately, a relatively strong light with a constant light amount (for example, 2 Lux · sec)
Is irradiated. A xenon lamp was used as a light source, and light excluding light in a wavelength region of 600 nm or more was irradiated using a filter. At this time, the surface potential of the light portion of the electrophotographic photosensitive member was measured with a surface potentiometer, and this was defined as the residual potential. As a criterion for evaluation of the residual potential, a relative comparison was made with the residual potential in Comparative Example 1 being 1 in which no undercoat layer was provided, and the following three ranks were evaluated. Good: Very low residual potential at less than 0.8, good. Δ: 0.8 to less than 1.5, equivalent to the conventional level. ×: Practically a problem may occur at 1.5 or more.

【0130】[0130]

【表11】 表11の結果から、下引き層の膜厚は、0.1μm〜1
0μm、より好ましくは1μm〜10μmが適している
ことが判明した。
[Table 11] From the results in Table 11, the thickness of the undercoat layer was 0.1 μm to 1 μm.
It has been found that 0 μm, more preferably 1 μm to 10 μm, is suitable.

【0131】<実施例8>図6で示すRF−PCVD法
による堆積膜形成装置を用い、前述の堆積膜形成方法の
手順に従って、表12に示す条件で、機能分離型の電子
写真感光体を製造した。本実施例ではアルミニウム製の
支持体の表面粗さ(Rz)は5μmとした。洗浄、ダス
ト量は、実施例1と同様にした。この様にして得られた
電子写真感光体について、実施例1と同様に評価を行っ
た。さらに残留電位について下記のように評価した。評
価結果は表13に示した。
<Embodiment 8> A function-separated type electrophotographic photosensitive member was prepared under the conditions shown in Table 12 by using the deposition film forming apparatus by the RF-PCVD method shown in FIG. Manufactured. In this example, the surface roughness (Rz) of the aluminum support was 5 μm. The cleaning and dust amounts were the same as in Example 1. The thus obtained electrophotographic photosensitive member was evaluated in the same manner as in Example 1. Further, the residual potential was evaluated as follows. The evaluation results are shown in Table 13.

【0132】[0132]

【表12】 [Table 12]

【0133】[0133]

【表13】 表13より明らかなように、感光層の層構成が機能分離
型であっても、本発明の効果は何ら問題なく得られるこ
とが判明した。
[Table 13] As is clear from Table 13, it was found that the effect of the present invention can be obtained without any problem even if the layer configuration of the photosensitive layer is a function-separated type.

【0134】<実施例9>図7で示すVHF−PCVD
法による堆積膜形成装置を用い、前述の堆積膜形成方法
の手順に従って、下記表14に示す条件で、阻止型の電
子写真感光体を製造した。VHF電源の周波数は105
MHzとした。また本実施例ではアルミニウム製の支持
体の表面粗さ(Rz)は0.5μmとした。洗浄、ダス
ト量は、実施例1と同様にした。この様にして得られた
電子写真感光体について、実施例1と同様に評価を行っ
た。さらに残留電位について下記のように評価した。評
価結果は表15に示した。
<Embodiment 9> VHF-PCVD shown in FIG.
A blocking type electrophotographic photoreceptor was manufactured under the conditions shown in Table 14 below using a deposited film forming apparatus according to the above-described method and according to the procedure of the aforementioned deposited film forming method. The frequency of the VHF power supply is 105
MHz. In this example, the surface roughness (Rz) of the aluminum support was 0.5 μm. The cleaning and dust amounts were the same as in Example 1. The thus obtained electrophotographic photosensitive member was evaluated in the same manner as in Example 1. Further, the residual potential was evaluated as follows. The evaluation results are shown in Table 15.

【0135】[0135]

【表14】 [Table 14]

【0136】[0136]

【表15】 表15により明らかなように、成膜方法がVHF−PC
VD法であっても、本発明の効果は何ら問題なく得られ
ることが判明した。
[Table 15] As is clear from Table 15, the film formation method was VHF-PC
It has been found that the effect of the present invention can be obtained without any problem even by the VD method.

【0137】[0137]

【発明の効果】以上に説明したように、本発明によれ
ば、電気的特性を犠牲にすることなく、成膜前に導電性
支持体に付着したダストが原因で発生する画像欠焔を防
止でき、その結果、クリーンルームその他の設備投資を
最小限に押さえつつ、高収率で製造することができ、安
価に安定して歩留まり良く製造でき、高画質の使い易い
電子写真感光体が得られる。
As described above, according to the present invention, it is possible to prevent an image missing flame caused by dust adhering to a conductive support before film formation without sacrificing electric characteristics. As a result, it is possible to produce a high-yield electrophotographic photoreceptor which can be produced at a high yield while minimizing investment in a clean room and other facilities, can be produced stably at a low cost and with a high yield, and is easy to use with high image quality.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の電子写真感光体の一例を示す模式的断
面図である。
FIG. 1 is a schematic sectional view showing an example of the electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【図2】本発明の電子写真感光体の一例を示す模式的断
面図である。
FIG. 2 is a schematic sectional view showing an example of the electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【図3】本発明の電子写真感光体の一例を示す模式的断
面図である。
FIG. 3 is a schematic sectional view showing an example of the electrophotographic photoreceptor of the present invention.

【図4】本発明の電子写真感光体の一例を示す模式的断
面図である。
FIG. 4 is a schematic sectional view showing an example of the electrophotographic photoreceptor of the present invention.

【図5】本発明の電子写真感光体の一例を示す模式的断
面図である。
FIG. 5 is a schematic sectional view showing an example of the electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【図6】本発明の電子写真感光体を製造するための装置
の一例として、RFグロー放電法によるの製造装置を示
す模式的構成図である。
FIG. 6 is a schematic configuration diagram showing a manufacturing apparatus using an RF glow discharge method as an example of an apparatus for manufacturing the electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【図7】本発明の電子写真感光体を製造するための装置
の一例として、VHFグロー放電法による量産型の製造
装置を示す模式的構成図である。
FIG. 7 is a schematic configuration diagram showing a mass-production type manufacturing apparatus using a VHF glow discharge method as an example of an apparatus for manufacturing the electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【図8】実施例3における支持体表面の3種類の形状を
示す模式的断面図である。
FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing three types of shapes of a support surface in Example 3.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101、201、301、401、501 導電性支
持体 102、202、302、402、502 下引き層 103、203、303、403、503 光導電層 204、304、504 表面保護層 305 下部阻止層 405、505 電荷輸送層 406、506 電荷発生層 5100、6100 堆積装置 5111、6111 反応容器 5112、6112 導電性支持体 5113、6113 支持体加熱用ヒーター 5114 原料ガス導入管 5115、6115 マッチングボックス 5116 原料ガス配管 5117 反応容器リークバルブ 5118 メイン排気バルブ 5119 真空計 5200 原料ガス供給装置 5211〜5216 マスフローコントローラー 5221〜5226 原料ガスボンベ 5231〜5236 原料ガスボンベバルブ 5241〜5246 ガス流入バルブ 5251〜5256 ガス流出バルブ 5261〜5266 圧力調整器 6115 電極 6120 支持体回転用モーター 6121 排気管 6130 放電空間
101, 201, 301, 401, 501 Conductive support 102, 202, 302, 402, 502 Underlayer 103, 203, 303, 403, 503 Photoconductive layer 204, 304, 504 Surface protective layer 305 Lower blocking layer 405 , 505 Charge transport layer 406, 506 Charge generation layer 5100, 6100 Deposition device 5111, 6111 Reaction vessel 5112, 6112 Conductive support 5113, 6113 Support heating heater 5114 Source gas introduction pipe 5115, 6115 Matching box 5116 Source gas pipe 5117 Reaction vessel leak valve 5118 Main exhaust valve 5119 Vacuum gauge 5200 Source gas supply device 5211 to 5216 Mass flow controller 5221 to 5226 Source gas cylinder 5231 to 5236 Source gas cylinder valve 241-5246 gas inlet valve 5251 to 5,256 gas outflow valves 5261 to 5266 pressure regulators 6115 electrodes 6120 support rotating motor 6121 exhaust pipe 6130 discharge space

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 アルミニウムからなる導電性支持体のJ
IS B0601における十点平均粗さ(Rz)が0.
05μm以上5μm以下であり、該導電性支持体の上
に、非単結晶炭素膜からなる下引き層と、少なくともシ
リコン原子を母材とする非単結晶材料からなる光導電層
とを順次積層してなることを特徴とする電子写真感光
体。
1. A conductive support made of aluminum, J
The ten-point average roughness (Rz) in IS B0601 is 0.
On the conductive support, a subbing layer made of a non-single-crystal carbon film and a photoconductive layer made of a non-single-crystal material containing at least silicon atoms as a base material are sequentially laminated on the conductive support. An electrophotographic photoreceptor, comprising:
【請求項2】 下引き層中に含有される水素量が、全元
素に対して10原子%以上60原子%以下である請求項
1記載の電子写真感光体。
2. The electrophotographic photoreceptor according to claim 1, wherein the amount of hydrogen contained in the undercoat layer is from 10 at% to 60 at% based on all elements.
【請求項3】 下引き層が光導電性を持たない請求項1
又は2記載の電子写真感光体。
3. The undercoat layer has no photoconductivity.
Or the electrophotographic photosensitive member according to 2.
【請求項4】 下引き層の膜厚が、0.1μm以上10
μm以下である請求項1〜3の何れか一項記載の電子写
真感光体。
4. An undercoat layer having a thickness of 0.1 μm or more and 10 μm or less.
The electrophotographic photoreceptor according to any one of claims 1 to 3, which has a diameter of not more than μm.
【請求項5】 導電性支持体と光導電層の間に、下部阻
止層を有する請求項1〜4の何れか一項記載の電子写真
感光体。
5. The electrophotographic photosensitive member according to claim 1, further comprising a lower blocking layer between the conductive support and the photoconductive layer.
【請求項6】 光導電層の上に、表面保護層を有する請
求項1〜5の何れか一項記載の電子写真感光体。
6. The electrophotographic photosensitive member according to claim 1, further comprising a surface protective layer on the photoconductive layer.
【請求項7】 光導電層が、電荷輸送層と電荷発生層か
らなる請求項1〜6の何れか一項記載の電子写真感光
体。
7. The electrophotographic photoreceptor according to claim 1, wherein the photoconductive layer comprises a charge transport layer and a charge generation layer.
【請求項8】 請求項1記載の電子写真感光体を製造す
るための方法であって、 アルミニウムからなる導電性支持体のJIS B060
1における十点平均粗さ(Rz)を0.05μm以上5
μm以下に加工する工程と、該加工後の導電性支持体を
洗浄する工程と、該洗浄後の導電性支持体上に下引き層
と光導電層とを順次積層する工程を含むことを特徴とす
る電子写真感光体の製造方法。
8. The method for producing an electrophotographic photoreceptor according to claim 1, wherein the conductive support is made of aluminum according to JIS B060.
The ten-point average roughness (Rz) in No. 1 is 0.05 μm or more and 5
μm or less, a step of washing the conductive support after the processing, and a step of sequentially laminating an undercoat layer and a photoconductive layer on the washed conductive support. A method for producing an electrophotographic photoreceptor.
【請求項9】 導電性支持体の洗浄は、水と界面活性剤
を主に用いて行なう請求項8記載の電子写真感光体。
9. The electrophotographic photosensitive member according to claim 8, wherein the cleaning of the conductive support is carried out mainly by using water and a surfactant.
【請求項10】 下引き層及び/又は光導電層を、放電
周波数50MHz以上450MHz以下で放電を励起す
るプラズマCVD法により形成する請求項8又は9記載
の電子写真感光体。
10. The electrophotographic photoreceptor according to claim 8, wherein the undercoat layer and / or the photoconductive layer are formed by a plasma CVD method in which a discharge is excited at a discharge frequency of 50 MHz to 450 MHz.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011133865A (en) * 2009-11-27 2011-07-07 Canon Inc Electrophotographic photoreceptor and electrophotographic apparatus

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