JPH04344734A - Frame pattern detection circuit - Google Patents

Frame pattern detection circuit

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JPH04344734A
JPH04344734A JP3117302A JP11730291A JPH04344734A JP H04344734 A JPH04344734 A JP H04344734A JP 3117302 A JP3117302 A JP 3117302A JP 11730291 A JP11730291 A JP 11730291A JP H04344734 A JPH04344734 A JP H04344734A
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pattern
circuit
pattern detection
frame pattern
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Kuniichi Ikemura
国一 池村
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Abstract

PURPOSE:To realize the frame pattern detection circuit operated at a high speed bit rate with high reliability independently of a frame pattern bit number by limiting a bit number inputted to the pattern detection circuit to a prescribed bit number. CONSTITUTION:The detection circuit is provided with a conversion means 101 converting a serial data into a parallel data, a 1st pattern detection means 102 detecting a 1st frame pattern from an output data from the conversion means 101, a frequency divider 105 whose phase is controlled by the detection means 102, a latch means 106 latching an output data of the conversion means 101, a 2nd pattern detection means 107 detecting a 2nd frame pattern, a 1st protection means 104 detecting that a 1st frame pattern is consecutive, and a 2nd protection means 108 detecting the consecutiveness of the 1st frame pattern and of the 2nd frame pattern in succession to the 1st frame pattern.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明はフレームパタン検出回路
、より具体的にはたとえば伝送装置のオクテット多重フ
レーム同期回路などに有利に適用されるフレームパタン
検出回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a frame pattern detection circuit, and more specifically to a frame pattern detection circuit advantageously applied to, for example, an octet multiplex frame synchronization circuit of a transmission device.

【0002】0002

【従来の技術】図4には、オクテット多重されたシリア
ル信号を入力し、これのフレームパタンを検出するフレ
ームパタン検出回路の従来技術が示されている。同図に
示すように従来のフレームパタン検出回路は、n段のフ
リップフロップで構成されるnビットのシフトレジスタ
401、nビットのパタン検出回路402およびこのパ
タン検出回路402から出力されるパタン一致信号をラ
ッチするフリップフロップ403により構成されている
。パタン検出回路402は、n入力1出力のデコーダで
あり、ORゲートまたはNORゲートなどの論理ゲート
により構成されている。
2. Description of the Related Art FIG. 4 shows a conventional frame pattern detection circuit which receives an octet multiplexed serial signal and detects the frame pattern thereof. As shown in the figure, the conventional frame pattern detection circuit includes an n-bit shift register 401 composed of n-stage flip-flops, an n-bit pattern detection circuit 402, and a pattern matching signal output from the pattern detection circuit 402. It is composed of a flip-flop 403 that latches the . The pattern detection circuit 402 is an n-input, 1-output decoder, and is composed of a logic gate such as an OR gate or a NOR gate.

【0003】図5には、オクテット多重フレームに使用
されるフレームパタンの構成例が示されている。同図に
示されるようにフレームパタン検出回路に入力されるフ
レームパタンには、8ビット単位のAパタンとBパタン
があり、それぞれがm連続して配置されている。
FIG. 5 shows an example of the structure of a frame pattern used for an octet multiplex frame. As shown in the figure, the frame pattern input to the frame pattern detection circuit includes an A pattern and a B pattern in units of 8 bits, each of which is arranged consecutively for m.

【0004】図10には、図4に示した従来技術の動作
例を説明する波形図が示されている。同図および図4を
用いて図5に示したmの値を1とした場合の動作を説明
する。
FIG. 10 shows a waveform diagram illustrating an example of the operation of the conventional technique shown in FIG. The operation when the value of m shown in FIG. 5 is set to 1 will be explained using the same figure and FIG. 4.

【0005】シリアルデータDiは、シフトレジスタ4
01に入力されると、このレジスタ401により入力ク
ロックCiで1ビットずつシフトされてゆく。このとき
のデータの流れは、データDnからD1へとシフトして
ゆき、図5に示したA1からB8までの16ビットフレ
ームパタンがデコーダであるパタン検出回路402に入
力される。A1からB8までのフレームパタンがパタン
検出回路402に入力されると、検出回路402の出力
“H”がフリップフロップ403に送られる。フリップ
フロップ403は、この出力“H”をクロックCiでラ
ッチし、その結果をフレームパタン一致信号として出力
する。
[0005] Serial data Di is stored in shift register 4
01, this register 401 shifts one bit at a time using the input clock Ci. The data flow at this time shifts from data Dn to D1, and the 16-bit frame pattern from A1 to B8 shown in FIG. 5 is input to the pattern detection circuit 402, which is a decoder. When the frame patterns A1 to B8 are input to the pattern detection circuit 402, the output “H” of the detection circuit 402 is sent to the flip-flop 403. Flip-flop 403 latches this output "H" using clock Ci, and outputs the result as a frame pattern matching signal.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な従来技術のフレームパタン検出回路では、全ビットフ
レームパターンを同時に検出するため、フレームパタン
のビット数に比例してパタン検出回路402のゲート遅
延が増える。その結果、フリップフロップ403は、パ
タン検出回路402から出力されるパタン検出結果をク
ロックCiで正しくラッチ出来なくなるという問題点が
あった。
However, in such a conventional frame pattern detection circuit, since all bit frame patterns are detected simultaneously, the gate delay of the pattern detection circuit 402 increases in proportion to the number of bits of the frame pattern. . As a result, there is a problem in that the flip-flop 403 cannot correctly latch the pattern detection result outputted from the pattern detection circuit 402 using the clock Ci.

【0007】本発明はこのようなフレームパタンビット
数に比例してパタン検出回路のゲート遅延が増加すると
いう従来技術の問題点を解消するため、パタン検出回路
に入力するビット数を所定のビット数に限定することに
より、フレームパタンビット数に依存せず、高速ビット
レートで動作可能な信頼性の高いフレームパタン検出回
路を提供することを目的とする。
In order to solve the problem of the conventional technology that the gate delay of the pattern detection circuit increases in proportion to the number of frame pattern bits, the present invention reduces the number of bits input to the pattern detection circuit to a predetermined number of bits. It is an object of the present invention to provide a highly reliable frame pattern detection circuit that is independent of the number of frame pattern bits and can operate at a high bit rate.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は上述の課題を解
決するために、オクテット多重されたフレームパタンを
入力し、フレームパタンの検出を行なうフレームパタン
検出回路は、オクテット・フレームパタンを検出するパ
タン検出手段がオクテットのパタン毎に分割配置され、
パタン検出手段からの検出信号により、それぞれのオク
テット・フレームパタンが連続することと、異なるパタ
ンが連続して並んでいることを検出する保護手段とを有
する。
[Means for Solving the Problems] In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a frame pattern detection circuit which receives an octet multiplexed frame pattern and detects the frame pattern. The pattern detection means is divided and arranged for each octet pattern,
It has a protection means for detecting that the respective octet frame patterns are consecutive and that different patterns are consecutively lined up based on a detection signal from the pattern detection means.

【0009】[0009]

【作用】本発明によれば、パタン検出手段がオクテット
毎に分割して配置され、それぞれのオクテットパタンが
連続することと、二つの連続するパタンが並ぶことを保
護手段により検出する。
According to the present invention, the pattern detection means is divided into octets, and the protection means detects the continuity of each octet pattern and the juxtaposition of two consecutive patterns.

【0010】0010

【実施例】次に添付図面を参照して本発明によるフレー
ムパタン検出回路の実施例を詳細に説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, an embodiment of a frame pattern detection circuit according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

【0011】図1を参照すると、本発明によるフレーム
パタン検出回路の一実施例を示す回路図が示されている
。フレームパタン検出回路1は、伝送装置などのオクテ
ット多重フレーム同期回路におけるフレームパタン検出
回路であり、シフトレジスタ101、Aパタン検出回路
102、フリップフロップ103、第1の保護回路10
4、1/8分周器105、ラッチ回路106、Bパタン
検出回路107および第2の保護回路108により構成
されている。
Referring to FIG. 1, a circuit diagram showing one embodiment of a frame pattern detection circuit according to the present invention is shown. The frame pattern detection circuit 1 is a frame pattern detection circuit in an octet multiple frame synchronization circuit such as a transmission device, and includes a shift register 101, an A pattern detection circuit 102, a flip-flop 103, and a first protection circuit 10.
It is composed of a 4.1/8 frequency divider 105, a latch circuit 106, a B pattern detection circuit 107, and a second protection circuit 108.

【0012】シフトレジスタ101はシリアルデータを
オクテットのパラレルデータに変換するシフトレジスタ
である。すなわちシフトレジスタ101は、入力シリア
ルデータDiを入力し、これをクロックCiによってラ
ッチ、シフトする。シフトレジスタ101は、ラッチ、
シフトしたデータをAパタン検出回路102およびラッ
チ回路106に送る。
The shift register 101 is a shift register that converts serial data into octet parallel data. That is, the shift register 101 receives input serial data Di, and latches and shifts this in accordance with the clock Ci. The shift register 101 includes a latch,
The shifted data is sent to A pattern detection circuit 102 and latch circuit 106.

【0013】Aパタン検出回路102は、論理ゲートで
構成されるデコーダであり、図5に示されているフレー
ムパタンのうちAパタンの検出を行なう。Aパタン検出
回路102は、信号線110を介してフリップフロップ
103および1/8分周器に接続され、Aパタンの最上
位ビットMSBにA1パタンが現われると、この出力1
10を“L”から“H”に変化させる。
The A pattern detection circuit 102 is a decoder composed of logic gates, and detects the A pattern among the frame patterns shown in FIG. The A pattern detection circuit 102 is connected to the flip-flop 103 and the 1/8 frequency divider via the signal line 110, and when the A1 pattern appears in the most significant bit MSB of the A pattern, the output 1
10 from "L" to "H".

【0014】フリップフロップ103は、Aパタン検出
回路102からの出力110を入力クロックCi(クロ
ック信号A)によってラッチするフリップフロップであ
る。フリップフロップ103は、その出力端子Qが第1
の保護回路104に接続され、この端子Qよりラッチし
た信号Cを出力する。
The flip-flop 103 is a flip-flop that latches the output 110 from the A pattern detection circuit 102 using the input clock Ci (clock signal A). The flip-flop 103 has its output terminal Q
The latched signal C is output from this terminal Q.

【0015】第1の保護回路104は、フリップフロッ
プ103からの出力信号Cおよび1/8分周器105か
らクロックFによりAパタン一致信号の連続を検出する
。保護回路104は信号線Gを介して第2の保護回路1
08に接続されている。
The first protection circuit 104 detects the continuation of the A pattern matching signal using the output signal C from the flip-flop 103 and the clock F from the 1/8 frequency divider 105. The protection circuit 104 is connected to the second protection circuit 1 via the signal line G.
Connected to 08.

【0016】1/8分周器105は、Aパタン検出回路
102の出力110と制御信号Eiによって制御される
分周器である。分周器105は、信号線Dによりラッチ
回路106に、信号線Fにより保護回路104に、信号
線Gにより保護回路108に接続されている。
The 1/8 frequency divider 105 is a frequency divider controlled by the output 110 of the A pattern detection circuit 102 and the control signal Ei. The frequency divider 105 is connected to a latch circuit 106 via a signal line D, to a protection circuit 104 via a signal line F, and to a protection circuit 108 via a signal line G.

【0017】ラッチ回路106は、シフトレジスタ10
1から出力された8ビット信号を、1/8分周器105
より出力されたクロックDによりラッチする。ラッチ回
路106は、Bパタン検出回路107に接続されるとと
もに端子D1〜D8に接続されている。
The latch circuit 106 includes the shift register 10
1/8 frequency divider 105
It is latched by the clock D outputted from. The latch circuit 106 is connected to the B pattern detection circuit 107 and also to the terminals D1 to D8.

【0018】Bパタン検出回路107は、論理ゲートで
構成されるデコーダであり、Bパタンの検出を行なう。 Bパタン検出回路107は信号線Hを介して第2の保護
回路108に接続されている。
The B pattern detection circuit 107 is a decoder composed of logic gates, and detects the B pattern. B pattern detection circuit 107 is connected to second protection circuit 108 via signal line H.

【0019】第2の保護回路108は、Aパタン一致信
号の連続を示す第1の保護回路104の出力と、それに
続くBパタン一致信号の連続を検出する回路である。保
護回路108はAパタンとBパタンの連続パタンを検出
すると、一致信号Jを出力する。
The second protection circuit 108 is a circuit that detects the output of the first protection circuit 104 indicating the continuation of the A pattern match signal and the subsequent continuation of the B pattern match signal. When the protection circuit 108 detects the continuous pattern of the A pattern and the B pattern, it outputs a match signal J.

【0020】図5は、オクテット多重フレームに使用さ
れるフレームパタンの一構成例を示した構成図である。 同図では、8ビット単位のAパタンとBパタンがそれぞ
れm個連続して配置されたときのフレームパタン構成図
が示されている。同図に示すように上記実施例では、こ
のようにAパタンとBパタンがそれぞれm個連続してい
る場合でも適用可能であるが、ここでは理解を容易にす
るためにmの値を1としたときのフレームパターン検出
回路1の動作を、図6の波形図を用いて説明する。なお
、このときの制御信号Eiはイネーブルであるとする。
FIG. 5 is a diagram showing an example of the structure of a frame pattern used in an octet multiplex frame. This figure shows a frame pattern configuration diagram when m A patterns and m B patterns each in 8-bit units are consecutively arranged. As shown in the figure, the above embodiment can be applied even when there are m A patterns and m B patterns in succession, but here, for ease of understanding, the value of m is assumed to be 1. The operation of the frame pattern detection circuit 1 in this case will be explained using the waveform diagram of FIG. It is assumed that the control signal Ei at this time is enabled.

【0021】入力クロック端子Ciより入力されたクロ
ックAによってシフトレジスタ101でシフト、ラッチ
された信号Diは、ラッチ回路106とAパタン検出回
路102に入力される。入力データDiは、シフトレジ
スタ106の最下位ビットLSBから最上位ビットMS
Bへとシフトされる。信号Bに最上位ビットMSBの図
6に示したA1パタンが現われると、Aパタン検出回路
102の出力110が“L”から“H”へと変わり、フ
リップフロップ103によってラッチされる。このラッ
チされた信号Cがフリップフロップ103より出力され
る。
A signal Di shifted and latched by the shift register 101 in response to the clock A input from the input clock terminal Ci is input to the latch circuit 106 and the A pattern detection circuit 102. The input data Di is from the least significant bit LSB to the most significant bit MS of the shift register 106.
shifted to B. When the A1 pattern shown in FIG. 6 of the most significant bit MSB appears in the signal B, the output 110 of the A pattern detection circuit 102 changes from "L" to "H" and is latched by the flip-flop 103. This latched signal C is output from the flip-flop 103.

【0022】1/8分周期105は、Aパタン検出回路
102の出力110によってプリセットされ、クロック
信号Dとクロック信号Fの立ち上がりでAパタン検出信
号Cをサンプリングし、1回と判断する。1/8分周期
105は自走するので、リセット後は8ビットおきに立
ち上がりのあるクロック信号Fが得られる。Aパタンが
連続すれば、保護回路104はAパタン検出信号がm回
連続したことを検出する。ここでは、mの値が1なので
、次のクロック信号Fによって、A×mパタン検出信号
Gを第2の保護回路106に出力する。
The 1/8th period 105 is preset by the output 110 of the A pattern detection circuit 102, and the A pattern detection signal C is sampled at the rising edge of the clock signal D and the clock signal F, and is determined to be one time. Since the 1/8 period 105 runs free, a clock signal F having a rising edge every 8 bits is obtained after reset. If the A pattern continues, the protection circuit 104 detects that the A pattern detection signal continues m times. Here, since the value of m is 1, the A×m pattern detection signal G is output to the second protection circuit 106 in response to the next clock signal F.

【0023】位相制御されたクロック信号Dは、8ビッ
トおきに立ち上がりを持ち、ラッチ回路106に入力さ
れる。ラッチ回路106は、オクテット毎にシフトレジ
スタ101の出力信号をラッチするので、Aパタンの次
に来るBパタンはオクテットが揃ったパタンとなる。
The phase-controlled clock signal D has a rising edge every 8 bits and is input to the latch circuit 106. Since the latch circuit 106 latches the output signal of the shift register 101 for each octet, the B pattern that follows the A pattern is a pattern in which octets are aligned.

【0024】ラッチ回路106から出力されたBパタン
が、Bパタン検出回路107に入力されると、Bパタン
検出回路107の検出信号Hが“L”から“H”に変化
する。第2の保護回路108では、Bパタン検出信号H
とA×m検出信号Gが同時に“H”であることを検出す
ると、Aパタン、Bパタンの連続パタンであると判断し
、一致信号Jをオクテット信号Eと同相で出力する。
When the B pattern output from the latch circuit 106 is input to the B pattern detection circuit 107, the detection signal H of the B pattern detection circuit 107 changes from "L" to "H". In the second protection circuit 108, the B pattern detection signal H
When it is detected that the A×m detection signal G and the A×m detection signal G are both “H” at the same time, it is determined that the A pattern and the B pattern are continuous patterns, and a coincidence signal J is outputted in the same phase as the octet signal E.

【0025】次に本発明によるフレームパタン検出回路
の他の実施例を説明する。図2には本発明の他の実施例
を示すフレームパタン検出回路2の回路図が示されてい
る。なお、同図において図1と重複している信号A〜J
は特に図1と同一の信号を示したものではない。シフト
レジスタ201aおよび201bは、シリアルデータC
i(データA)を入力し、これをパラレルデータに変換
するシフトレジスタである。すなわち、シフトレジスタ
201はそれぞれ、入力クロックCiを1/2分周する
1/2分周器205aに接続され、この分周器205a
より入力したクロックによって、シリアルデータDiを
ラッチ、シフトする。
Next, another embodiment of the frame pattern detection circuit according to the present invention will be described. FIG. 2 shows a circuit diagram of a frame pattern detection circuit 2 showing another embodiment of the present invention. In addition, in the same figure, signals A to J that overlap with those in FIG.
does not particularly show the same signal as in FIG. Shift registers 201a and 201b receive serial data C.
This is a shift register that inputs i (data A) and converts it into parallel data. That is, each shift register 201 is connected to a 1/2 frequency divider 205a that divides the frequency of the input clock Ci by 2, and this frequency divider 205a
The serial data Di is latched and shifted by the clock input from the input clock.

【0026】Aパタン検出回路202aおよび202b
は、それぞれ所定のAビットパタンを検出する論理ゲー
トで構成されるデコーダである。Aパタン検出回路20
2aの入力側はラッチ回路209aおよびシフトレジス
タ201aの出力側に、またAパタン検出回路202b
の入力側はラッチ回路209bおよびシフトレジスタ2
01bの出力側にそれぞれ接続されている。Aパタン検
出回路202aの出力側はフリップフロップ203aに
、Aパタン検出回路202bの出力側はフリップフロッ
プ203bにそれぞれ接続されている。
A pattern detection circuits 202a and 202b
are decoders each consisting of logic gates that detect a predetermined A-bit pattern. A pattern detection circuit 20
The input side of 2a is connected to the output side of the latch circuit 209a and shift register 201a, and the A pattern detection circuit 202b.
The input side of the latch circuit 209b and the shift register 2
01b, respectively. The output side of the A-pattern detection circuit 202a is connected to a flip-flop 203a, and the output side of the A-pattern detection circuit 202b is connected to a flip-flop 203b.

【0027】フリップフロップ203はそれぞれ、Aパ
タン検出回路202からの出力を1/2分周器205か
らの出力クロックによりラッチする回路である。すなわ
ち、フリップフロップ203aはAパタン検出回路20
2aからの出力Iを1/2分周器205からの出力クロ
ックCによってラッチし、フリップフロップ203bは
Aパタン検出回路202bからの出力Jを1/2分周器
205からの出力クロックDによってラッチする。フリ
ップフロップ203aおよび203bは、ラッチした信
号を、選択回路210、第1の保護回路204および1
/4分周器205bに出力する。
Each of the flip-flops 203 is a circuit that latches the output from the A pattern detection circuit 202 using the output clock from the 1/2 frequency divider 205. That is, the flip-flop 203a is connected to the A pattern detection circuit 20.
2a is latched by the output clock C from the 1/2 frequency divider 205, and the flip-flop 203b latches the output J from the A pattern detection circuit 202b by the output clock D from the 1/2 frequency divider 205. do. Flip-flops 203a and 203b transfer the latched signals to selection circuit 210, first protection circuit 204 and first protection circuit 203a and 203b.
/4 frequency divider 205b.

【0028】第1の保護回路204はAパタン一致信号
の連続を検出する検出回路である。保護回路204はそ
の出力側が第2の保護回路208に接続されている。
The first protection circuit 204 is a detection circuit that detects a succession of A pattern matching signals. The protection circuit 204 is connected at its output side to a second protection circuit 208 .

【0029】1/2分周器205aおよび1/4分周器
205bにより同実施例では1/8分周器が構成されて
いる。1/4分周器205bは、フリップフロップ20
3でラッチされる各Aパタン検出回路202の出力と制
御許可信号Eiによって制御される。1/4分周器20
5bの出力側は、ラッチ回路206a,206b、第1
の保護回路204および第2の保護回路208に接続さ
れている。
In this embodiment, the 1/2 frequency divider 205a and the 1/4 frequency divider 205b constitute a 1/8 frequency divider. The 1/4 frequency divider 205b is a flip-flop 20
It is controlled by the output of each A pattern detection circuit 202 which is latched at 3 and the control permission signal Ei. 1/4 frequency divider 20
The output side of 5b is the latch circuit 206a, 206b, the first
protection circuit 204 and a second protection circuit 208.

【0030】ラッチ回路206aおよび206bは、シ
フトレジスタ201aおよび201bから出力された8
ビット信号を、分周器205aおよび205bにより構
成される1/8分周器より出力されるクロックMによっ
てラッチする。
[0030] The latch circuits 206a and 206b receive the 8 output from the shift registers 201a and 201b.
The bit signal is latched by a clock M output from a ⅛ frequency divider formed by frequency dividers 205a and 205b.

【0031】Bパタン検出回路207は、ビットの揃っ
たBパタンを検出する論理ゲートにより構成されるデコ
ーダである。Bパタン検出回路207は、その入力側が
セレクタ213aおよび213bの出力側に、その出力
側が第2の保護回路208に接続されている。
The B pattern detection circuit 207 is a decoder composed of logic gates that detect a B pattern with aligned bits. The B pattern detection circuit 207 has its input side connected to the output sides of the selectors 213a and 213b, and its output side connected to the second protection circuit 208.

【0032】第2の保護回路208は、Aパタン一致信
号の連続を示す第1の保護回路204の出力と、それに
続くBパタン一致信号の連続を検出する検出回路である
。第2の保護回路208はAパタンとBパタンの連続を
検出すると、一致信号Sを出力する。
The second protection circuit 208 is a detection circuit that detects the output of the first protection circuit 204 indicating the continuation of the A pattern match signal and the subsequent continuation of the B pattern match signal. When the second protection circuit 208 detects the continuity of the A pattern and the B pattern, it outputs a match signal S.

【0033】ラッチ回路209aは、シフトレジスタ2
01bの出力側に接続され、このレジスタからの出力を
ラッチする回路である。また、ラッチ回路209bは、
シフトレジスタ201aの出力側に接続され、このレジ
スタからの出力をラッチする回路である。ラッチ回路2
09aおよびシフトレジスタ201bの出力側はセレク
タ212aに、ラッチ回路209bおよびシフトレジス
タ201aの出力側はセレクタ212bにそれぞれ接続
されている。
The latch circuit 209a is the shift register 2
This circuit is connected to the output side of 01b and latches the output from this register. Further, the latch circuit 209b is
This circuit is connected to the output side of the shift register 201a and latches the output from this register. Latch circuit 2
The output sides of the latch circuit 209a and the shift register 201b are connected to the selector 212a, and the output sides of the latch circuit 209b and the shift register 201a are connected to the selector 212b.

【0034】セレクタ212aは、ラッチ回路209a
とシフトレジスタ201bの出力を選択するセレクタで
ある。また、セレクタ212bは、ラッチ回路209b
とシフトレジスタ201aの出力を選択するセレクタで
ある。セレクタ212aの出力側はラッチ回路206a
に、セレクタ212bの出力側はラッチ回路206bに
それぞれ接続されている。ラッチ回路206aおよび2
06bに接続されるセレクタ213aおよび213bは
、これらラッチ回路206の何れか一方の出力を選択す
るセレクタである。これらセレクタ212、213およ
びラッチ回路206は、選択回路210により制御され
る。
The selector 212a is a latch circuit 209a.
This is a selector that selects the output of the shift register 201b. In addition, the selector 212b has a latch circuit 209b.
This is a selector that selects the output of the shift register 201a. The output side of the selector 212a is a latch circuit 206a.
Furthermore, the output side of the selector 212b is connected to the latch circuit 206b. Latch circuits 206a and 2
Selectors 213a and 213b connected to 06b are selectors that select the output of one of these latch circuits 206. These selectors 212 and 213 and latch circuit 206 are controlled by selection circuit 210.

【0035】選択回路210は、制御許可信号Eiによ
って制御される選択回路である。セレクタ211は、選
択回路210からの制御出力により、1/2分周器20
5aから出力された2つのクロックの内、何れか一方を
選択して1/4分周器に出力するセレクタである。
The selection circuit 210 is a selection circuit controlled by the control permission signal Ei. The selector 211 selects the 1/2 frequency divider 20 according to the control output from the selection circuit 210.
This is a selector that selects one of the two clocks output from 5a and outputs it to the 1/4 frequency divider.

【0036】フレームパタン検出回路2は、フレームパ
タン検出回路1と同様に図5におけるmの値を任意に選
択することが出来るが、ここではmの値を1としたとき
のフレームパタンを例に動作を説明する。なお、動作説
明にあたって制御許可信号Eiはイネーブル状態である
とし、各回路に現われる信号波形図を図7および図8に
示す。また、図9はこれら図7および図8の配置を示し
た配置図である。
The frame pattern detection circuit 2, like the frame pattern detection circuit 1, can arbitrarily select the value of m in FIG. Explain the operation. In explaining the operation, it is assumed that the control permission signal Ei is in an enabled state, and signal waveform diagrams appearing in each circuit are shown in FIGS. 7 and 8. Further, FIG. 9 is a layout diagram showing the arrangement of FIGS. 7 and 8.

【0037】1/2分周器205aは、入力クロックC
i(A)を分周し、位相のずれた2つのクロックCおよ
びDを出力する。シフトレジスタ201aは、入力デー
タDi(B)をクロックCによって2ビットおきにラッ
チし、最下位ビットLSBから最上位ビットMSBへと
シフトしたデータEを出力する。また、シフトレジスタ
201bは、入力データBをクロックDによって2ビッ
トおきにラッチし、最下位ビットLSBから最上位ビッ
トMSBへとシフトしたデータFを出力する。
The 1/2 frequency divider 205a receives the input clock C
i(A) is frequency-divided and two phase-shifted clocks C and D are output. The shift register 201a latches input data Di(B) every two bits using a clock C, and outputs data E shifted from the least significant bit LSB to the most significant bit MSB. Furthermore, the shift register 201b latches input data B every two bits using a clock D, and outputs data F shifted from the least significant bit LSB to the most significant bit MSB.

【0038】ラッチ回路209aは、シフトレジスタ2
01bの出力を、シフトレジスタ201aに入力される
クロックと同位相のクロックCでラッチする。ラッチ回
路209bは、シフトレジスタ201aの出力を、シフ
トレジスタ201bに入力されるクロックと同位相のク
ロックDでラッチする。これにより、シフトレジスタ2
01bには偶数ビットが入り、ラッチ回路209bには
奇数ビットが入る。
The latch circuit 209a is the shift register 2
The output of 01b is latched with clock C having the same phase as the clock input to shift register 201a. The latch circuit 209b latches the output of the shift register 201a with a clock D having the same phase as the clock input to the shift register 201b. As a result, shift register 2
Even number bits are entered into the latch circuit 209b, and odd number bits are entered into the latch circuit 209b.

【0039】シフトレジスタ201bに「A2,A4,
A6,A8」、ラッチ回路209bに「A1,A3,A
5,A7」ビットパタンが揃い、Aパタン検出回路20
2bに入力されると、Aパタン検出信号Jが“L”から
“H”に変化する。Aパタン検出信号Jは、フリップフ
ロップ203bにおいて、クロックDの立ち上がりでラ
ッチされる。ラッチされたAパタン検出信号Jは、選択
回路210と第1の保護回路204に入力される。選択
回路210は、クロックDでラッチしたAパタン検出信
号Jによって制御され、この信号Jが“L”から“H”
に変化すると出力選択信号Kを“H”にする。
[0039] In the shift register 201b, "A2, A4,
A6, A8", and the latch circuit 209b has "A1, A3, A
5, A7” bit patterns are aligned, A pattern detection circuit 20
2b, the A pattern detection signal J changes from "L" to "H". The A pattern detection signal J is latched at the rising edge of the clock D in the flip-flop 203b. The latched A pattern detection signal J is input to the selection circuit 210 and the first protection circuit 204. The selection circuit 210 is controlled by the A pattern detection signal J latched by the clock D, and this signal J changes from "L" to "H".
When the output selection signal K changes to "H", the output selection signal K is set to "H".

【0040】セレクタ211は、選択信号Kの“H”を
受けると、クロックCを選択し、これをクロックLとし
て出力する。1/4分周器205bは、セレクタ211
より出力されたクロックLと、フリップフロップ203
bでラッチされたAパタン検出信号Jを入力して、カウ
ンタの位相を制御する。
When the selector 211 receives the selection signal K at "H", it selects the clock C and outputs it as the clock L. The 1/4 frequency divider 205b is the selector 211
The clock L output from the flip-flop 203
The A pattern detection signal J latched at b is input to control the phase of the counter.

【0041】セレクタ212aおよび212bは、選択
信号Kの“H”を受けて、シフトレジスタ201bとラ
ッチ回路209bの出力信号(信号F、Gを含む)を選
択する。1/4分周器205bにおいて、位相制御され
て出力されたクロックOは、第1の保護回路204に入
力される。保護回路204は、フリップフロップ203
bでラッチされたAパタン検出信号Jとフリップフロッ
プ203aでラッチされたAパタン検出信号IのORを
、クロックOの最初の立ち上がりでラッチし、Aパタン
検出1回と判断する。保護回路204では、Aパタン検
出結果を次のクロックOの立ち上がりで、A×mパタン
検出信号Pとして第2の保護回路208に出力する。
Selectors 212a and 212b receive selection signal K at "H" and select output signals (including signals F and G) of shift register 201b and latch circuit 209b. The clock O outputted after phase control in the 1/4 frequency divider 205b is input to the first protection circuit 204. The protection circuit 204 includes a flip-flop 203
The OR of the A-pattern detection signal J latched at b and the A-pattern detection signal I latched at the flip-flop 203a is latched at the first rising edge of the clock O, and it is determined that the A-pattern has been detected once. The protection circuit 204 outputs the A pattern detection result to the second protection circuit 208 as an A×m pattern detection signal P at the next rising edge of the clock O.

【0042】1/4分周器205bにおいて位相制御さ
れて出力されたクロックMは、ラッチ回路206aおよ
び206bに入力される。これらラッチ回路206では
、クロックMの立ち上がりで、セレクタ212aまたは
212bによって選択された信号(信号F、Gを含む)
をラッチする。ラッチ回路206aまたは206bでラ
ッチされた信号は、Aパタン検出後であればオクテット
が揃っている。したがって、Aパタンの次にBパタンが
来ると、ラッチ回路206aおよび206bでは、オク
テットの揃ったBパタンがラッチされる。ラッチ回路2
06a、206bでラッチしたBパタンは、ビットの並
びが「B2,B4,B6,B8,B1,B3,B5,B
7」となっているので、セレクタ213aおよび213
bによって並び換えをし、「B1,B3,B5,B7,
B2,B4,B6,B8」とする。
[0042] The clock M output after being phase-controlled by the 1/4 frequency divider 205b is input to latch circuits 206a and 206b. In these latch circuits 206, the signal (including signals F and G) selected by the selector 212a or 212b is output at the rising edge of the clock M.
Latch. The octets of the signal latched by the latch circuit 206a or 206b are aligned after the A pattern is detected. Therefore, when the B pattern comes after the A pattern, the B pattern with aligned octets is latched in the latch circuits 206a and 206b. Latch circuit 2
The B pattern latched by 06a and 206b has the bit sequence “B2, B4, B6, B8, B1, B3, B5, B
7", selectors 213a and 213
Sort by b, "B1, B3, B5, B7,
B2, B4, B6, B8''.

【0043】セレクタ213a,213bの出力信号(
信号Nを含む)が、ビットの揃ったBパタンとしてBパ
タン検出回路207に入力されると、Bパタン検出信号
Rは“L”から“H”に変化する。第2の保護回路20
8では、Bパタン検出信号RとA×mパタン検出信号P
をクロックQで同時に検出し、これら検出信号が共に“
H”であれば、Aパタン、Bパタンの連続パタンである
と判断して、一致信号Sをオクテット信号(信号Nを含
む)と同相で出力する。
Output signals of selectors 213a and 213b (
(including signal N) is input to the B pattern detection circuit 207 as a B pattern with aligned bits, the B pattern detection signal R changes from "L" to "H". Second protection circuit 20
8, the B pattern detection signal R and the A×m pattern detection signal P
are detected simultaneously by clock Q, and both of these detection signals are “
If the pattern is "H", it is determined that the pattern is a continuous pattern of pattern A and pattern B, and a match signal S is output in phase with the octet signal (including signal N).

【0044】このようにこれら実施例によれば、パタン
検出回路に入力するビット数を8ビットとすることによ
って、フレームパタンビット数に依存せずに、高速ビッ
トレートで動作可能となる。
As described above, according to these embodiments, by setting the number of bits input to the pattern detection circuit to 8 bits, it is possible to operate at a high bit rate regardless of the number of frame pattern bits.

【0045】図3は本実施例における保護回路の一構成
例を示す回路図である。図3(a)には保護段数を1段
(m=1)としたときの例が示されている。図3(a)
に示す第1の保護回路は、図1に示したフレームパタン
検出回路1の第1の保護回路104と同等である。また
、図3(a)に示す第1の保護回路は、フリップフロッ
プ301のD入力端子の前にORゲートを追加すれば、
図2に示す第1の保護回路204と同等である。さらに
、図3(a)に示す第2の保護回路は、図1に示す第2
の保護回路108、図2に示す第2の保護回路208と
同等である。なお、同図において信号線の各記号は図1
と一致させている。
FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of the structure of the protection circuit in this embodiment. FIG. 3A shows an example where the number of protection stages is one (m=1). Figure 3(a)
The first protection circuit shown in FIG. 1 is equivalent to the first protection circuit 104 of the frame pattern detection circuit 1 shown in FIG. Furthermore, the first protection circuit shown in FIG. 3(a) can be configured by adding an OR gate before the D input terminal of the flip-flop 301.
This is equivalent to the first protection circuit 204 shown in FIG. Furthermore, the second protection circuit shown in FIG.
The protection circuit 108 is equivalent to the second protection circuit 208 shown in FIG. In addition, each symbol of the signal line in the same figure is as shown in Figure 1.
It is matched with

【0046】図3に示すように、第1の保護回路はフリ
ップフロップ301およびフリップフロップ302を有
する。フリップフロップ301は、Aパタン検出信号C
をラッチして、位相調整する為のフリップフロップであ
る。フリップフロップ302は、Aパタン検出信号Cを
A×mパタン検出信号Gとして保護回路2に出力する為
のフリップフロップである。
As shown in FIG. 3, the first protection circuit includes a flip-flop 301 and a flip-flop 302. The flip-flop 301 receives the A pattern detection signal C
This is a flip-flop to latch and adjust the phase. The flip-flop 302 is a flip-flop for outputting the A pattern detection signal C as an A×m pattern detection signal G to the protection circuit 2.

【0047】第2の保護回路は、フリップフロップ30
3,304、ANDゲート305、反転回路306によ
り構成されている。ANDゲート305は、Bパタン検
出信号Hと、A×mパタン検出信号Gが同時発生してい
ることを検出するためのANDゲートである。フリップ
フロップ303は、ANDゲート305の出力をクロッ
クIでラッチするためのフリップフロップである。反転
回路306は、クロックIを反転させ、クロック位相を
調整するためのゲート回路である。フリップフロップ3
04は、フリップフロップ303の出力信号の位相調整
を行ない、一致信号Jを出力するフリップフロップであ
る。
The second protection circuit includes a flip-flop 30
3, 304, an AND gate 305, and an inversion circuit 306. The AND gate 305 is an AND gate for detecting that the B pattern detection signal H and the A×m pattern detection signal G are generated simultaneously. Flip-flop 303 is a flip-flop for latching the output of AND gate 305 using clock I. The inversion circuit 306 is a gate circuit for inverting the clock I and adjusting the clock phase. flip flop 3
04 is a flip-flop that adjusts the phase of the output signal of the flip-flop 303 and outputs a coincidence signal J.

【0048】図3(b)は、保護段数が2段(m=2)
のときの回路例が示されている。保護段数が2段の場合
、第1の保護回路は3つのフリップフロップ307〜3
09とANDゲート313により構成されている。また
、第2の保護回路は、3つのフリップフロップ310〜
312、ORゲート314、ANDゲート315、31
6および反転回路317により構成されている。
In FIG. 3(b), the number of protection stages is two (m=2).
An example of the circuit is shown. When the number of protection stages is two, the first protection circuit includes three flip-flops 307 to 3.
09 and an AND gate 313. Further, the second protection circuit includes three flip-flops 310 to 310.
312, OR gate 314, AND gate 315, 31
6 and an inversion circuit 317.

【0049】フリップフロップ307は、Aパタン検出
信号Cをラッチして、位相調整するためのフリップフロ
ップである。フリップフロップ308,309は、連続
するAパタン検出信号Cをラッチする為のフリップフロ
ップである。ANDゲート313は、Aパタン検出信号
Cが2回連続することを検出する為のゲート回路である
The flip-flop 307 is a flip-flop for latching the A pattern detection signal C and adjusting the phase thereof. Flip-flops 308 and 309 are flip-flops for latching the continuous A pattern detection signal C. The AND gate 313 is a gate circuit for detecting that the A pattern detection signal C is received twice in succession.

【0050】ORゲート314は、Aパタン検出信号C
が2回連続するか、Aパタン検出信号Cが2回連続した
後、Bパタン検出信号Hを1回検出した状態を検出する
ためのゲート回路である。ANDゲート315は、OR
ゲート314の条件と、2回目のBパタン検出信号Hが
同時に発生することを検出するためのゲート回路である
。フリップフロップ310は、Aパタン検出信号Cが2
回連続して、Bパタン検出信号Hが2回連続する状態を
保持するためのフリップフロップである。フリップフロ
ップ311は、Aパタン検出信号Cが2回連続して、B
パタン検出信号Hを1回検出した状態を保持するための
フリップフロップである。ANDゲート316は、Aパ
タン検出信号Cが2回連続して、Bパタン検出信号Hが
2回連続することを検出するためのゲート回路である。 反転回路317は、クロックIを反転させ、クロック位
相を調整するためのゲート回路である。フリップフロッ
プ312は、ANDゲート316の出力信号を位相調整
し、一致信号Jとして出力するためのフリップフロップ
である。
The OR gate 314 receives the A pattern detection signal C
This is a gate circuit for detecting a state in which the B pattern detection signal H is detected once after the A pattern detection signal C has been detected twice or the A pattern detection signal C has been detected twice. AND gate 315 is OR
This is a gate circuit for detecting the condition of the gate 314 and the simultaneous occurrence of the second B pattern detection signal H. The flip-flop 310 has an A pattern detection signal C of 2
This is a flip-flop for maintaining a state in which the B pattern detection signal H is applied twice in succession. The flip-flop 311 detects that the A pattern detection signal C is connected to the B pattern twice in succession.
This is a flip-flop for maintaining a state in which the pattern detection signal H has been detected once. The AND gate 316 is a gate circuit for detecting that the A pattern detection signal C occurs twice in a row and the B pattern detection signal H occurs twice in a row. The inversion circuit 317 is a gate circuit for inverting the clock I and adjusting the clock phase. The flip-flop 312 is a flip-flop for adjusting the phase of the output signal of the AND gate 316 and outputting it as a coincidence signal J.

【0051】なお、上述した保護回路では、m=1また
は2のときの回路構成を示したが本発明はとくにこのよ
うに限定されるものではなく、m=n(nは自然数)の
回路構成であっても良い。
Although the above-mentioned protection circuit shows the circuit configuration when m=1 or 2, the present invention is not particularly limited to this, and the circuit configuration when m=n (n is a natural number) is shown. It may be.

【0052】[0052]

【発明の効果】このように本発明のフレームパタン検出
回路によれば、フレームパタン検出回路をオクテット毎
に分散配置し、オクテットごとにパタン検出する第1の
パタン検出手段と、両パタンが連続していることを検出
する第2の検出手段とを設けたので、高速ビットレート
でも動作可能となり、本発明が適用される伝送装置の伝
送処理能力を向上させることが出来る。
As described above, according to the frame pattern detection circuit of the present invention, the frame pattern detection circuit is distributed for each octet, and the first pattern detection means detects a pattern for each octet, and both patterns are continuous. Since the second detection means for detecting that the present invention is applied is provided, it is possible to operate even at a high bit rate, and the transmission processing capacity of the transmission apparatus to which the present invention is applied can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明によるフレームパタン検出回路の実施例
を示す回路図、
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a frame pattern detection circuit according to the present invention;

【図2】本発明によるフレームパタン検出回路の他の実
施例を示す回路図、
FIG. 2 is a circuit diagram showing another embodiment of the frame pattern detection circuit according to the present invention;

【図3】本発明によるフレームパタン検出回路における
保護回路の一実施例を示す回路図、
FIG. 3 is a circuit diagram showing an embodiment of a protection circuit in a frame pattern detection circuit according to the present invention;

【図4】従来技術におけるフレームパタン検出回路、[Fig. 4] Frame pattern detection circuit in conventional technology,


図5】フレームパタンの構成、
[
Figure 5: Structure of frame pattern,

【図6】図1に示した実施例の動作を説明する波形図、
FIG. 6 is a waveform diagram illustrating the operation of the embodiment shown in FIG. 1;

【図7】図2に示した実施例の動作を説明する波形図、
7 is a waveform diagram illustrating the operation of the embodiment shown in FIG. 2,

【図8】図2に示した実施例の動作を説明する波形図、
FIG. 8 is a waveform diagram illustrating the operation of the embodiment shown in FIG. 2;

【図9】図7および図8に示した波形図の配置、FIG. 9: Arrangement of waveform diagrams shown in FIGS. 7 and 8;

【図1
0】従来技術の動作を説明する波形図である。
[Figure 1
0 is a waveform diagram illustrating the operation of the prior art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101,201a,201b  シフトレジスタ102
,202a,202b  Aパタン検出回路103,2
03a,203b  フリップフロップ104,204
              第1の保護回路105 
                     1/8分
周器106,206a,206b,209a,209b
ラッチ回路 107,207              Bパタン
検出回路108,208              
第2の保護回路205a              
      1/2分周器205b         
           1/4分周器210     
                 選択回路211,
212a,212b,213a,213bセレクタ
101, 201a, 201b shift register 102
, 202a, 202b A pattern detection circuit 103, 2
03a, 203b Flip-flop 104, 204
First protection circuit 105
1/8 frequency divider 106, 206a, 206b, 209a, 209b
Latch circuit 107, 207 B pattern detection circuit 108, 208
Second protection circuit 205a
1/2 frequency divider 205b
1/4 frequency divider 210
selection circuit 211,
212a, 212b, 213a, 213b selector

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  オクテット多重されたフレームパタン
を入力し、該フレームパタンの検出を行なうフレームパ
タン検出回路において、該回路は、オクテット・フレー
ムパタンを検出するパタン検出手段がオクテットのパタ
ン毎に分割配置され、前記パタン検出手段からの検出信
号により、それぞれの前記オクテット・フレームパタン
が連続することと、異なるパタンが連続して並んでいる
ことを検出する保護手段とを有することを特徴とするフ
レームパタン検出回路。
Claim 1. A frame pattern detection circuit that receives an octet multiplexed frame pattern and detects the frame pattern, wherein the circuit has pattern detection means for detecting the octet frame pattern divided and arranged for each octet pattern. and a protection means for detecting, based on a detection signal from the pattern detection means, that each of the octet frame patterns is continuous and that different patterns are consecutively arranged. detection circuit.
【請求項2】  オクテット多重されたフレームパタン
を入力し、該フレームパタンの検出を行なうフレームパ
タン検出回路において、該回路は、前記オクテット多重
されたシリアルデータを入力し、該シリアルデータをパ
ラレルデータに変換する変換手段と、該変換手段からの
出力データを入力し、第1のオクテット・フレームパタ
ンを検出する第1のパタン検出手段と、第1のパタン検
出手段の出力によって位相制御される分周器と、該分周
器の出力クロックによって前記変換手段の出力データを
ラッチするラッチ手段と、該ラッチ手段の出力データを
入力し、第2のオクテット・フレームパタンを検出する
第2のパタン検出手段と、第1のパタン検出手段の出力
と前記分周器の出力クロックにより第1のオクテット・
フレームパタンが連続していることを検出する第1の保
護手段と、第2のパタン検出手段および第1の保護手段
の出力と前記分周器の出力クロックとにより、第1のオ
クテット・フレームパタンの連続と、該フレームパタン
の連続に続く第2のオクテット・フレームパタンの連続
を検出する第2の保護手段とを有することを特徴とする
フレームパタン検出回路。
2. A frame pattern detection circuit that receives an octet multiplexed frame pattern and detects the frame pattern, the circuit receives the octet multiplexed serial data and converts the serial data into parallel data. a converting means for converting, a first pattern detecting means for inputting output data from the converting means and detecting a first octet frame pattern, and a frequency division whose phase is controlled by the output of the first pattern detecting means. a latch means for latching the output data of the converting means using the output clock of the frequency divider, and a second pattern detecting means for inputting the output data of the latch means and detecting a second octet frame pattern. and the first octet is determined by the output of the first pattern detection means and the output clock of the frequency divider.
A first protection means for detecting that the frame pattern is continuous, a second pattern detection means, the output of the first protection means, and the output clock of the frequency divider, the first octet frame pattern is detected. and a second protection means for detecting a second octet frame pattern following the second octet frame pattern.
【請求項3】  請求項2に記載のフレームパタン検出
回路において、前記分周器は、1/8分周器であること
を特徴とするフレームパタン検出回路。
3. The frame pattern detection circuit according to claim 2, wherein the frequency divider is a ⅛ frequency divider.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6678342B1 (en) 1997-06-30 2004-01-13 Kabushiki Kaisha Kenwood Absolute-phasing synchronization capturing circuit

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