JPH04337473A - 接触抵抗測定用プローブとその使用方法 - Google Patents
接触抵抗測定用プローブとその使用方法Info
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- JPH04337473A JPH04337473A JP13850691A JP13850691A JPH04337473A JP H04337473 A JPH04337473 A JP H04337473A JP 13850691 A JP13850691 A JP 13850691A JP 13850691 A JP13850691 A JP 13850691A JP H04337473 A JPH04337473 A JP H04337473A
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- Japan
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- probe
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 66
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 11
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims abstract description 7
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims abstract description 7
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 5
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 claims abstract description 5
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 5
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 7
- 239000002689 soil Substances 0.000 abstract 4
- 238000007669 thermal treatment Methods 0.000 abstract 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 8
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 7
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 7
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002956 ash Substances 0.000 description 2
- 235000002918 Fraxinus excelsior Nutrition 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 238000005485 electric heating Methods 0.000 description 1
- JUWSSMXCCAMYGX-UHFFFAOYSA-N gold platinum Chemical compound [Pt].[Au] JUWSSMXCCAMYGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- PXXKQOPKNFECSZ-UHFFFAOYSA-N platinum rhodium Chemical compound [Rh].[Pt] PXXKQOPKNFECSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、接触抵抗測定用プロー
ブの材質とその表面処理に関するものである。
ブの材質とその表面処理に関するものである。
【0002】
【従来の技術とその問題点】従来、プローブは先端をU
字型にし、全体に一定荷重をかけて測定する方法がとら
れ、荷重は一般的には1〜100gでその材質はAuが
用いられており、電気的測定回路としては、交流4端子
法が多い。しかし、測定試料の汚れがプローブに移って
プローブ自身が汚れ、そのまま測定すると値が高抵抗に
なってしまう。このため接触抵抗測定器としての地位を
確保できないでいる。また、測定は面を評価する必要か
ら多点測定になるが一度測定する毎にプローブ自身の汚
れを確認し測定を進める必要があり、いかに汚れを取り
除くかであるが、従来ではバフ研磨等をしたのち、標準
試料のAu面にこすりつけ所定の値以下になるまで繰り
返すことが行われるが、所定の値以下にならない場合に
は電解脱脂し、更にバフ研磨したのち標準試料でチェッ
クして使用するという極めて繁雑なものであった。
字型にし、全体に一定荷重をかけて測定する方法がとら
れ、荷重は一般的には1〜100gでその材質はAuが
用いられており、電気的測定回路としては、交流4端子
法が多い。しかし、測定試料の汚れがプローブに移って
プローブ自身が汚れ、そのまま測定すると値が高抵抗に
なってしまう。このため接触抵抗測定器としての地位を
確保できないでいる。また、測定は面を評価する必要か
ら多点測定になるが一度測定する毎にプローブ自身の汚
れを確認し測定を進める必要があり、いかに汚れを取り
除くかであるが、従来ではバフ研磨等をしたのち、標準
試料のAu面にこすりつけ所定の値以下になるまで繰り
返すことが行われるが、所定の値以下にならない場合に
は電解脱脂し、更にバフ研磨したのち標準試料でチェッ
クして使用するという極めて繁雑なものであった。
【0003】
【発明の目的】本発明は、上記従来の問題を解決するた
めに成されたもので、接触抵抗測定用プローブの汚れを
簡便な方法で除去することを可能とする該プローブの材
質とその使用方法を提供することを目的とする。
めに成されたもので、接触抵抗測定用プローブの汚れを
簡便な方法で除去することを可能とする該プローブの材
質とその使用方法を提供することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、イリジウム、
ロジウム、白金またはそれらの合金から成る接触抵抗測
定用プローブであり、前記接触抵抗測定用プローブをパ
ルス電流で加熱し、脱脂紙でこする操作を繰り返したの
ち使用する接触抵抗測定プローブの使用方法である。
ロジウム、白金またはそれらの合金から成る接触抵抗測
定用プローブであり、前記接触抵抗測定用プローブをパ
ルス電流で加熱し、脱脂紙でこする操作を繰り返したの
ち使用する接触抵抗測定プローブの使用方法である。
【0005】以下、本発明の詳細を記載する。まず、接
触抵抗測定用プローブの材質としてイリジウム、ロジウ
ム、白金またはそれらの合金とするのは、好導電性で低
接触抵抗品の測定には低抵抗の材質を用いなくてはなら
ないからである。また、上記の材質によれば焼鈍状態で
変色することなく、ある程度の硬さを保てることから瞬
間通電加熱で油等の汚れを焼き、灰化することができる
からである。
触抵抗測定用プローブの材質としてイリジウム、ロジウ
ム、白金またはそれらの合金とするのは、好導電性で低
接触抵抗品の測定には低抵抗の材質を用いなくてはなら
ないからである。また、上記の材質によれば焼鈍状態で
変色することなく、ある程度の硬さを保てることから瞬
間通電加熱で油等の汚れを焼き、灰化することができる
からである。
【0006】前記材質の接触抵抗測定用プローブを使用
するには、まず該プローブにパルス電流を流し、瞬間的
に付着物を蒸発又は灰化し、更に脱脂紙で先端部を擦り
、再度パルス電流を流したのち標準試料面でチェックし
て所定値以下になるまで繰り返す操作を行えばよい。 以上のよう操作することで該プローブの表面処理が簡単
に行え、しかも均一なプローブ面とすることができるも
のである。
するには、まず該プローブにパルス電流を流し、瞬間的
に付着物を蒸発又は灰化し、更に脱脂紙で先端部を擦り
、再度パルス電流を流したのち標準試料面でチェックし
て所定値以下になるまで繰り返す操作を行えばよい。 以上のよう操作することで該プローブの表面処理が簡単
に行え、しかも均一なプローブ面とすることができるも
のである。
【0007】以下、本発明の実施例を記載するが、該実
施例は本発明を限定するものではない。
施例は本発明を限定するものではない。
【0008】
【実施例1】0.3mm径のイリジウム線をU字型にし
て作製したプローブを使用して、銀試料面の接触抵抗を
測定したところ35ミリオームであった。次いで、次の
試料を測定する際に該プローブにパルス電流を20A、
1.0秒通電し脱脂紙(東洋濾紙製:フィルタペーパN
O5C)で先端部を擦り、再度パルス電流を20A、1
.0秒通電し、標準試料として金の面で抵抗値を測定し
たところ3.0ミリオーム以下となったので、試料の接
触抵抗を測定したところ2.3ミリオームの結果が得ら
れた。
て作製したプローブを使用して、銀試料面の接触抵抗を
測定したところ35ミリオームであった。次いで、次の
試料を測定する際に該プローブにパルス電流を20A、
1.0秒通電し脱脂紙(東洋濾紙製:フィルタペーパN
O5C)で先端部を擦り、再度パルス電流を20A、1
.0秒通電し、標準試料として金の面で抵抗値を測定し
たところ3.0ミリオーム以下となったので、試料の接
触抵抗を測定したところ2.3ミリオームの結果が得ら
れた。
【0009】
【実施例2】0.3mm径のロジウム線をU字型にして
作製したプローブを使用して、銀試料面の接触抵抗を測
定したところ40ミリオームであった。次いで、次の試
料を測定する際に該プローブにパルス電流を20A、1
.0秒通電し脱脂紙(東洋濾紙製:フィルタペーパNO
5C)で先端部を擦り、再度パルス電流を20A、1.
0秒通電し、標準試料として金の面で抵抗値を測定した
ところ3.0ミリオーム以下となったので、試料の接触
抵抗を測定したところ2.5ミリオームの結果が得られ
た。
作製したプローブを使用して、銀試料面の接触抵抗を測
定したところ40ミリオームであった。次いで、次の試
料を測定する際に該プローブにパルス電流を20A、1
.0秒通電し脱脂紙(東洋濾紙製:フィルタペーパNO
5C)で先端部を擦り、再度パルス電流を20A、1.
0秒通電し、標準試料として金の面で抵抗値を測定した
ところ3.0ミリオーム以下となったので、試料の接触
抵抗を測定したところ2.5ミリオームの結果が得られ
た。
【0010】
【実施例3】0.3mm径の白金線をU字型にして作製
したプローブを使用して、銀試料面の接触抵抗を測定し
たところ25ミリオームであった。次いで、次の試料を
測定する際に該プローブにパルス電流を20A、1.0
秒通電し脱脂紙(東洋濾紙製:フィルタペーパNO5C
)で先端部を擦り、再度パルス電流を20A、1.0秒
通電し、標準試料として金の面で抵抗値を測定したとこ
ろ6ミリオーム以下となったので、試料の接触抵抗を測
定したところ5.0ミリオームの結果が得られた。
したプローブを使用して、銀試料面の接触抵抗を測定し
たところ25ミリオームであった。次いで、次の試料を
測定する際に該プローブにパルス電流を20A、1.0
秒通電し脱脂紙(東洋濾紙製:フィルタペーパNO5C
)で先端部を擦り、再度パルス電流を20A、1.0秒
通電し、標準試料として金の面で抵抗値を測定したとこ
ろ6ミリオーム以下となったので、試料の接触抵抗を測
定したところ5.0ミリオームの結果が得られた。
【0011】
【実施例4】0.3mm径のイリジウム−白金80重量
%の合金線をU字型にして作製したプローブを使用して
、銀試料面の接触抵抗を測定したところ50ミリオーム
であった。次いで、次の試料を測定する際に該プローブ
にパルス電流を20A、1.0秒通電し脱脂紙(東洋濾
紙製:フィルタペーパNO5C)で先端部を擦り、再度
パルス電流を20A、1.0秒通電し、標準試料として
金の面で抵抗値を測定したところ20ミリオーム以下と
なったので、試料の接触抵抗を測定したところ17.7
ミリオームの結果が得られた。
%の合金線をU字型にして作製したプローブを使用して
、銀試料面の接触抵抗を測定したところ50ミリオーム
であった。次いで、次の試料を測定する際に該プローブ
にパルス電流を20A、1.0秒通電し脱脂紙(東洋濾
紙製:フィルタペーパNO5C)で先端部を擦り、再度
パルス電流を20A、1.0秒通電し、標準試料として
金の面で抵抗値を測定したところ20ミリオーム以下と
なったので、試料の接触抵抗を測定したところ17.7
ミリオームの結果が得られた。
【0012】
【実施例5】0.3mm径のロジウム−白金95重量%
合金線をU字型にして作製したプローブを使用して、銀
試料面の接触抵抗を測定したところ55ミリオームであ
った。次いで、次の試料を測定する際に該プローブにパ
ルス電流を20A、1.0秒通電し脱脂紙(東洋濾紙製
:フィルタペーパNO5C)で先端部を擦り、再度パル
ス電流を20A、1.0秒通電し、標準試料として金の
面で抵抗値を測定したところ20ミリオーム以下となっ
たので、試料の接触抵抗を測定したところ19.4ミリ
オームの結果が得られた。
合金線をU字型にして作製したプローブを使用して、銀
試料面の接触抵抗を測定したところ55ミリオームであ
った。次いで、次の試料を測定する際に該プローブにパ
ルス電流を20A、1.0秒通電し脱脂紙(東洋濾紙製
:フィルタペーパNO5C)で先端部を擦り、再度パル
ス電流を20A、1.0秒通電し、標準試料として金の
面で抵抗値を測定したところ20ミリオーム以下となっ
たので、試料の接触抵抗を測定したところ19.4ミリ
オームの結果が得られた。
【0013】
【実施例6】0.3mm径の白金−金10重量%合金線
をU字型にして作製したプローブを使用して、銀試料面
の接触抵抗を測定したところ135ミリオームであった
。次いで、次の試料を測定する際に該プローブにパルス
電流を20A、1.0秒通電し脱脂紙(東洋濾紙製:フ
ィルタペーパNO5C)で先端部を擦り、再度パルス電
流を20A、1.0秒通電し、標準試料として金の面で
抵抗値を測定したところ20ミリオーム以下となったの
で、試料の接触抵抗を測定したところ18.3ミリオー
ムの結果が得られた。
をU字型にして作製したプローブを使用して、銀試料面
の接触抵抗を測定したところ135ミリオームであった
。次いで、次の試料を測定する際に該プローブにパルス
電流を20A、1.0秒通電し脱脂紙(東洋濾紙製:フ
ィルタペーパNO5C)で先端部を擦り、再度パルス電
流を20A、1.0秒通電し、標準試料として金の面で
抵抗値を測定したところ20ミリオーム以下となったの
で、試料の接触抵抗を測定したところ18.3ミリオー
ムの結果が得られた。
【0014】
【従来例】0.3mm径の金線をU字型にして作製した
プローブを使用して、銀試料面の接触抵抗を測定したと
ころ15ミリオームであった。次いで、次の試料を測定
する際に該プローブをバフ研磨し、金面にこすりつけて
汚れを取り、抵抗値を測定したところ先端がやや変形し
たので、成形し、次の試料の接触抵抗を測定したところ
1.8ミリオームの結果が得られた。
プローブを使用して、銀試料面の接触抵抗を測定したと
ころ15ミリオームであった。次いで、次の試料を測定
する際に該プローブをバフ研磨し、金面にこすりつけて
汚れを取り、抵抗値を測定したところ先端がやや変形し
たので、成形し、次の試料の接触抵抗を測定したところ
1.8ミリオームの結果が得られた。
【0015】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
のプローブとその汚れの処理方法によれば、プローブの
先端が常にクリーンに保てるので、測定値が安定して信
頼できるものとなり、従来接触抵抗測定器としての地位
が確保できなかったものを解決することができるという
、極めて効果大なるものといえる。
のプローブとその汚れの処理方法によれば、プローブの
先端が常にクリーンに保てるので、測定値が安定して信
頼できるものとなり、従来接触抵抗測定器としての地位
が確保できなかったものを解決することができるという
、極めて効果大なるものといえる。
Claims (2)
- 【請求項1】 イリジウム、ロジウム、白金またはそ
れらの合金から成る接触抵抗測定用プローブ。 - 【請求項2】 前記接触抵抗測定用プローブをパルス
電流で加熱し、脱脂紙でこする操作を繰り返したのち使
用する接触抵抗測定プローブの使用方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13850691A JPH04337473A (ja) | 1991-05-14 | 1991-05-14 | 接触抵抗測定用プローブとその使用方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13850691A JPH04337473A (ja) | 1991-05-14 | 1991-05-14 | 接触抵抗測定用プローブとその使用方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04337473A true JPH04337473A (ja) | 1992-11-25 |
Family
ID=15223729
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13850691A Pending JPH04337473A (ja) | 1991-05-14 | 1991-05-14 | 接触抵抗測定用プローブとその使用方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04337473A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005233967A (ja) * | 2005-03-04 | 2005-09-02 | Tanaka Kikinzoku Kogyo Kk | プローブピン用材料 |
-
1991
- 1991-05-14 JP JP13850691A patent/JPH04337473A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005233967A (ja) * | 2005-03-04 | 2005-09-02 | Tanaka Kikinzoku Kogyo Kk | プローブピン用材料 |
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