JPH043329A - 磁気記録媒体の評価方法及び評価装置 - Google Patents

磁気記録媒体の評価方法及び評価装置

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JPH043329A
JPH043329A JP10346390A JP10346390A JPH043329A JP H043329 A JPH043329 A JP H043329A JP 10346390 A JP10346390 A JP 10346390A JP 10346390 A JP10346390 A JP 10346390A JP H043329 A JPH043329 A JP H043329A
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JP
Japan
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magnetic recording
recording medium
film
temperature
protective film
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JP10346390A
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English (en)
Inventor
Tatsuo Fukuda
健生 福田
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH043329A publication Critical patent/JPH043329A/ja
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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、データの記録再生に用いられる磁気記録再生
装置に搭載する磁気記録媒体に関するものである。
従来の技術 以下従来の磁気記録媒体を第4図を用いて説明する。第
4図は従来の磁気記録媒体を示す部分拡大断面図である
。第4図において1はアルミニウム合金等によって構成
された基板、2は基板1の上に形成されたNiP膜で、
NiP@2は鍍金法によって構成されている。3はNi
P膜2の上に形成された下地膜で、下地膜3はCrをス
パッタリングする事によって構成されている。4は下地
膜3の上に形成された磁性膜で、磁性膜4はC0NiC
rをスパッタリングする事によって形成されている。5
は磁性膜4の上に形成された保N膜で、保護膜5はCを
スパッタリングすることによって構成されている。6は
保護膜5の上に形成された潤滑膜で、潤滑膜6にはフッ
素系オイル例えばパー70ロポリエーテルやパーフロロ
アルキルエーテル等が使用される。
一般に潤滑膜6の付着状況を知る方法として膜厚測家方
法と接触角測定法がある。
膜厚測定方法は装置としてESCA (X線光電子分析
装置)、FT−IR(フーリエ変換赤外分光光度計)、
エリプソメトリ等が利用されている。これらの測定装置
では直径数mmから数十mmの測定領域の平均の膜厚を
測定し、所定以上の膜厚があれば十分に潤滑膜が保護膜
5を覆っていると考えられる。又別の磁気記録媒体の評
価方法として接触角測定方法がある。この方法は第5図
に示す様に潤滑膜6を形成した後に注射器7によって磁
気記録媒体の上に水滴8を形成し、その水滴8と磁気記
録媒体の接触角を測定し、その接触角によって潤滑膜6
が十分保護膜5を覆っているかを判断する方法である。
接触角は第6図に示す角度Aである。この接触角の測定
方法は水滴を形成した後に接触角測定装置によって測定
する。
この接触角Aが大きければ大きいほどは水性が大きい。
発明が解決しようとする課題 一般に潤滑膜は第7図に示すように凸部状に保護膜5の
上に付着している事が望ましい。その訳は完全に保護膜
を覆う様に十分に潤滑膜を形成した場合、磁気ヘッドが
その潤滑膜によって磁気記録媒体に吸着してしまう確率
が非常に高くなってしまうからである。従来の評価方法
では、潤滑膜が保護膜の上に凸部状に形成されている時
と、潤滑嘆か保護膜を完全に覆うように形成された時の
区別を行う事が困難であった。そのわけは膜厚測定方法
では、直径数mmから数十mmの範囲の平均の膜厚を測
定しているためであり、微視的な潤滑嘆の付着状況を判
断する事が出来なかった。又接触角測定方法も直径数m
mの水滴を磁気記録媒体の上に落とし、その水滴の接触
角によって潤滑嘆5の良否を判定しているので、微視的
な潤滑膜の付着状況を判断する事は出来なかった。
本発明は前記従来の問題点を解決しようとするもので、
保護膜の上に凸状に潤滑膜が形成されているか保護膜を
完全に覆う様に潤滑膜が形成されているかを判断する事
ができる磁気記録媒体の評価方法及び評価装置を提供す
る事を目的としている。
課題を解決するための手段 この目的を達成するために、磁気記録媒体を冷却し、磁
気記録媒体に水滴が付着しだす時の磁気記録媒体表面の
温度を測定した。
作     用 この構成により、潤滑膜の微視的な付着状況を知る事が
できる。
実施例 第1図は本発明の一実施例における磁気記録媒体の評価
方法を用いた評価装置の側面図である。
第1図において9は測定容器で、測定容器9には磁気記
録媒体を挿入する開口部(図示せず)が設けられている
。また開口部を密閉するふた(図示せず)が設けられて
いる。又測定容器9には空気が流入する流入口10と空
気が流出する流出口11がそれぞれ設けられている。流
入口10及び流出口11にはそれぞれ管12.13がそ
れぞれ接続されている。管12にはごみ等の不純物が測
定容器9内に入らないようにエアフィルター14が取付
けられている。又管13にはどの位の流量の空気か流出
口11から出でいくのかを調べる流量計15が設けられ
ている。16は流量計15に接続され、測定容器9内の
空気を吸引するエアポンプである。17は測定容器9内
に設けられた受台で、受台17には磁気記録媒体18(
第4図に示すものと同じ)が乗せられる。又受台17に
は冷却機19が当接しており、この冷却機19によって
受台17に乗せられた磁気記録媒体18が冷却される。
20は光源で、光源20から発射された光は磁気記録媒
体に照射される。21は光センサーで、光センサ−21
は磁気記録媒体18表面で反射した光を検知する。22
は光センサ−21によって検出された光の光量を算出す
る変換器、23は磁気記録媒体18の表面温度を測定す
る熱電対、24は熱電対23に接続され、熱電対23の
起電力を温度に変換する温度変換器である。
以上の様に構成された評価装置について以下その動作を
説明する。
まず測定容器9内を一定の湿度に維持するために、エア
ポンプ16を作動させて測定容器9内の空気を外に放出
する。すると測定容器9内の気圧が下がるので管12か
ら空気が測定容器9内に流入する。この時測定容器9内
に流入する空気は一定の湿度及び温度を保っており、し
かもエアフィルタ14を通って来ているのでごみ等の不
純物が除去されている。そして流入tf15によって所
定の流量の空気が放出されるのを確認する。このような
方法を用いる事により、測定容器9内の空気を常に一定
の湿度及び温度を保ち、不純物のない状態にしておく事
ができる。次にこのように測定容器9の中の環境を設定
した後に、冷却機19を動作させて受台17を介して磁
気記録媒体18を徐々に冷却していく。そして磁気記録
媒体18の温度を熱電対23で測定し、同時に光源20
から光を磁気記録媒体18に照射して、その反射光を光
センサ−21によって検出し、反射光の光量を測定する
以下上記評価装置を用いた磁気記録媒体の評価方法につ
いて説明する。
上記評価装置において磁気記録媒体18を徐々に冷却し
ていくと、測定容器9内の水蒸気が露結し、磁気記録媒
体18の表面に水滴か付着してくる。すると磁気記録媒
体18に照射された光が多く反射されるようになり、光
センサ−21で検出さrする光量が増えていく。すなわ
ち磁気記録媒体18に水滴が多く付けば付くほど光量が
多くなっていく。一般には水性の大きな物の表面よりも
は水性の小さな物の表面の方が高い温度で水滴が付着し
だす。すなわち磁気記録媒体18において潤滑@6か均
一の塗布されている場合よりも潤滑膜6が不均一に塗布
され保護膜5がむき出しになっている方が高い温度で水
滴が付着しだす。第2図は評価装置を用いて測定した磁
気記録媒体18の表面温度と反射光量の相対値を示す。
この時潤滑膜にはパーフロロポリエーテルを用いた。第
2図において#軸は磁気記録媒体18の表面温度で、こ
の表面温度は熱電対23によって測定したものである。
又縦軸は磁気記録媒体18上に水滴が付着しない温度で
の光量を1.0とした時の反射光量の相対値である。第
2図においてaは保護層5の上に全(潤滑膜6を塗布し
ないときの表面温度と反射光量の相対値の関係で、bは
保護層5を完全に潤滑膜6で覆うよう十分に潤滑膜6を
保護膜5の上に塗布したときの表面温度と反射光量の相
対値の関係である。この関係からaの方は徐々に磁気記
録媒体18を冷却していくと7℃で反射光量の相対値が
大きくなっているので、全く潤滑膜6を保護@5の上に
塗布しないときは7℃以下で水滴が付着しだす事がわか
る。またbの方は磁気記録媒体を冷却していくと4℃で
反射光量の相対値が大きくなっているので、保護膜5を
完全に覆うように潤滑膜6を塗布した場合4℃以下で水
滴が付着しだすことがわかる。一般に磁気記録媒体をこ
の方法によって潤滑膜の付着状況の評価を行うと、反射
光量の相対値が大きくなりはじめるのは本実施例におい
ては4℃から7℃の間で起こることが考えられる。第2
図においてCは一般の工程で保護膜5の上に潤滑膜6を
形成した時の測定値である。これらの結果を考慮して、
評価の判断基準を以下説明する。保護膜を潤滑膜がどの
くらい覆っているかを知るために被膜率を以下の様に定
義する。まず第2図に示すaすなわち保護膜5の上に全
く潤滑膜6が無い場合の反射光量の相対値か上昇しだす
温度をA℃とし、又第2図に示すbtなわち保護膜5を
完全に覆うように潤滑膜6が設けられた場合の反射光量
の相対値が上昇しだす温度をB ℃とし、第2図に示す
Cすなわち潤滑膜6の付着状況を評価しようとする磁気
記録媒体の反射光量の相対値が上昇しだす温度を6℃と
するときの被膜率Hは以下の式によって表される。
H=  (A−C)/ (A−B) 被膜率HがOの時は保護膜5の上には潤滑膜5が設けら
れていないことを示し、又被膜率H7り<1の時は保護
膜5を完全に潤滑膜6が覆っている事を示している。
本実施例の場合A=7.8=4であるので、被膜率Hは
以下の式で表される。
H−(7−C)/3 ここで被膜率Hと静止摩擦係数関係を示す。この静止摩
擦係数は、磁気ヘッドを磁気記録媒体を接触させて温度
60℃相対湿度80%の環境下に24時間放置した後の
値である。第3図はその結果を示すグラフである。第3
図において横軸は被膜率Hをとり、縦軸には静止摩擦係
数をとる。この結果より、被膜率Hが0.1から0.8
の間では静止摩擦係数が0.25とほぼ一定である。被
膜率Hが0.1以下のときは潤滑膜が保護膜の上に十分
に付着していないために保護膜と磁気ヘッドが直接擦れ
合うために静止摩擦係数が0.25よりも大きくなって
いる。又被膜率Hが0.8以上のときは潤滑膜が保護膜
の上に付き過ぎて、磁気ヘッドと磁気記録媒体の吸着が
起こって静止摩擦係数が0.25よりも大きくなってい
る。磁気記録媒体に水滴が付きはじめる温度として6゜
7℃から4.6℃の間になればその磁気記録媒体の潤滑
膜は良好な付着状況であることがわかる。
従って潤滑層にパーフロロポリエーテルを用いた時は竿
1図に示す評価装置において6.7℃から4.6℃まで
冷却した時に光量が増大しはじめればその磁気記録媒体
の潤滑膜は凸部状に付着している事になる。従って磁気
ヘッドが吸着しやすい磁気記録媒体を予め発見する事が
できる。
以上のように本実施例によれば、磁気記録媒体18を冷
却機19によって冷却し、磁気記録媒体の表面に水滴が
発生した事を、光源20から磁気記録媒体に照射された
光の反射光量を光センサ−21で測定する事によって判
定し、その時の磁気記録媒体表面温度を測定する事によ
り、磁気記録媒体18の潤滑膜の付着状況を評価する事
ができる。すなわち保護膜上に潤滑膜が凸部状に形成さ
れているときと、保護膜を完全に覆ってしまうように潤
滑膜を形成した時を区別する事ができ、潤滑膜の付は過
ぎを不良品と判断する事ができる。
発明の効果 本発明は磁気記録媒体を冷却し、磁気記録媒体に水滴が
付着しだす時の磁気記録媒体表面の温度を測定した事に
より、潤滑膜の微視的な付着状況を知る事ができるので
、保護膜上に潤滑膜が凸部様に形成された時と、保護膜
を完全に覆ってしまうように潤滑膜が形成された時の区
別を行う事ができるので、磁気ヘッドが吸着してしまう
磁気記録媒体を不良品と判断する事ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における磁気記録媒体の評価
装置を示す側面図、第2図は磁気記録媒体の冷却温度と
反射光量の関係を示すグラフ、第3図は被膜率と静止摩
擦係数の関係を示すグラフ、第4図は磁気記録媒体を示
す断面図、第5図は接触角測定装置を示す側面図、第6
図は同部分拡大側面図、第7図は潤滑剤が凸部状に付着
した時の部分拡大図である。 10・・・・・・流入口 11・・・・・・流出口 12.13・・・・・・管 14・・・・・・エアフィルター 15・・・・・・流量計 16・・・・・・エアポンプ 17・・・・・・受台 18・・・・・・磁気記録媒体 19・・・・・・冷却機 20・・・・・・光源 21・・・・・・光センサ− 22・・・・・・変換器 23・・・・・・熱電対 24・・・・・・温度変換器

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一定の温度及び湿度の環境下で、表面に潤滑膜を
    有する磁気記録媒体を冷却し、前記磁気記録媒体に水滴
    が付着しだす時の磁気記録媒体の表面温度を測定する事
    を特徴とする磁気記録媒体の評価方法。
  2. (2)一定の温度及び湿度の環境を維持する測定容器と
    、前記測定容器の中に収納された磁気記録媒体を冷却す
    る手段と、前記磁気記録媒体に光を照射する手段と、前
    記磁気記録媒体からの反射光の光量を測定する手段と、
    前記磁気記録媒体の表面温度を測定する手段とを備えた
    事を特徴とする磁気記録媒体の評価装置。
JP10346390A 1990-04-19 1990-04-19 磁気記録媒体の評価方法及び評価装置 Pending JPH043329A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008128976A (ja) * 2006-11-24 2008-06-05 Matsushita Electric Works Ltd 液体の特性連続測定方法及び特性連続測定装置
KR20150093659A (ko) * 2012-12-11 2015-08-18 로젠버거 호흐프리쿠벤츠테흐닉 게엠베하 운트 코. 카게 접촉 요소 및 그 제조 방법

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