JPH04331799A - Production of zinc cadmium sulfide mixed crystal - Google Patents

Production of zinc cadmium sulfide mixed crystal

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JPH04331799A
JPH04331799A JP9892191A JP9892191A JPH04331799A JP H04331799 A JPH04331799 A JP H04331799A JP 9892191 A JP9892191 A JP 9892191A JP 9892191 A JP9892191 A JP 9892191A JP H04331799 A JPH04331799 A JP H04331799A
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JP
Japan
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molecular beam
cadmium
sulfur
zinc
thin film
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JP9892191A
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Japanese (ja)
Inventor
Shigeo Hayashi
茂生 林
Yoshio Manabe
由雄 真鍋
Tsuneo Mitsuyu
常男 三露
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To provide a method of producing thin film of zinc cadmium sulfide mixed crystal, stably controlling intensity of molecular beam, not exerting bad influence on regulation of conduction type, having no admixture of impurities, having excellent adsorption of molecular beam free from reduction in growth rate. CONSTITUTION:A substance obtained by blending a hydrogen sulfide gas 18a1 with dimethyl sulfur gas 18a2 and cracking is used as a sulfur molecular beam 18e, substances heated and evaporated from a crucible 16a and a crucible 17a are used as a cadmium molecular beam 16c and a zinc molecular beam 17c and the surface of a substrate 14 is irradiated with these molecular beams to grow a thin film of zinc cadmium sulfide mixed crystal on the substrate.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は硫化カドミウム亜鉛混晶
薄膜の製造方法に関するものである。特に、本発明は発
光ダイオード等の発光素子等に有用に用いることができ
、特に青色発光素子用材料等として良好な特性を示する
半導体薄膜材料となる硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜の製
造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for producing a cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film. In particular, the present invention relates to a method for producing a cadmium-zinc sulfide mixed crystal thin film, which is a semiconductor thin film material that can be usefully used in light-emitting devices such as light-emitting diodes, and exhibits particularly good properties as a material for blue light-emitting devices. It is.

【0002】0002

【従来の技術】硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜を分子線エ
ピタキシー(MBE)法において製造する方法として、
従来次の3つの方法が知られている。以下、図3〜図5
を参照しながら、従来の硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜を
分子線エピタキシー(MBE)法により、製造する方法
を説明する。
[Prior Art] As a method for producing a cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film using the molecular beam epitaxy (MBE) method,
Conventionally, the following three methods are known. Below, Figures 3 to 5
A method of manufacturing a conventional cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film by molecular beam epitaxy (MBE) will be described with reference to .

【0003】図3〜5は、従来のMBE法における分子
線エピタキシャル装置(以下MBE装置と略称する。)
の構造を示す概略図である。従来例1は、図3に示すM
BE装置を用い、真空容器31内でルツボ内に装填した
亜鉛36aとルツボ内に装填したカドミウム37aとル
ツボ内に装填した硫黄38aを加熱蒸発させて得た亜鉛
分子線36c、カドミウム分子線37c、硫黄分子線3
8cを基板表面に照射する方法である。
3 to 5 show a molecular beam epitaxial apparatus (hereinafter abbreviated as MBE apparatus) in a conventional MBE method.
FIG. Conventional example 1 is M shown in FIG.
Zinc molecular beams 36c, cadmium molecular beams 37c, obtained by heating and evaporating zinc 36a loaded in a crucible, cadmium 37a loaded in the crucible, and sulfur 38a loaded in the crucible in a vacuum container 31 using a BE device, Sulfur molecular beam 3
This is a method of irradiating the substrate surface with 8c.

【0004】尚、32は超高圧真空排気装置である。 (本図も含めて、他の図においても、超高圧真空排気装
置については、図中にその位置を示したのみで、詳細は
省略した。)また、36b、37b、38bはシャッタ
ー、33は基板ホルダー、34は基板、35は基板上に
成長した硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜を示す。従来例2
は、図4に示すMBE装置を用い、有機亜鉛46aの蒸
気と有機カドミウム47aの蒸気と硫化水素ガス48a
をそれぞれ別のガスクラッキングセル46c、47c、
48cにおいて加熱分解させて得た亜鉛分子線46e、
カドミウム分子線47e、硫黄分子線48eを基板表面
に照射する方法である。
Note that 32 is an ultra-high pressure vacuum evacuation device. (In other figures, including this figure, the position of the ultra-high pressure vacuum evacuation device is only shown in the figure, and the details are omitted.) Also, 36b, 37b, and 38b are shutters, and 33 is A substrate holder, 34 is a substrate, and 35 is a cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film grown on the substrate. Conventional example 2
Using the MBE apparatus shown in FIG. 4, organic zinc 46a vapor, organic cadmium 47a vapor, and hydrogen sulfide gas 48a were
separate gas cracking cells 46c, 47c,
Zinc molecular beam 46e obtained by thermal decomposition in 48c,
This is a method of irradiating the substrate surface with a cadmium molecular beam 47e and a sulfur molecular beam 48e.

【0005】尚、41は真空容器、42は超高真空排気
装置、43は基板ホルダー、44は基板、45は硫化カ
ドミウム亜鉛混晶薄膜、46b、47b、48bはガス
流量調節器、46d、47d、48dはシャッターを示
す。従来例3は、図5に示すMBE装置を用い、ルツボ
内に装填した亜鉛56aとルツボ内に装填したカドミウ
ム57aを加熱蒸発させて得た亜鉛分子線56c、カド
ミウム分子線57cと、ボンベ内の硫化水素ガス58a
をガス流量調節器58bにより流量を制御しながらガス
クラッキングセル58cに供給し、ガスクラッキングセ
ル58cにおいて加熱分解させて得た硫黄分子線58e
を基板表面に照射する方法である。
In addition, 41 is a vacuum container, 42 is an ultra-high vacuum pumping device, 43 is a substrate holder, 44 is a substrate, 45 is a cadmium sulfide zinc mixed crystal thin film, 46b, 47b, and 48b are gas flow rate regulators, 46d, 47d , 48d indicates a shutter. Conventional Example 3 uses the MBE apparatus shown in FIG. 5 to heat and evaporate zinc 56a loaded in a crucible and cadmium 57a loaded in a crucible to generate zinc molecular beams 56c and cadmium molecular beams 57c, and cadmium molecular beams 57c in a cylinder. Hydrogen sulfide gas 58a
is supplied to the gas cracking cell 58c while controlling the flow rate with the gas flow rate regulator 58b, and is thermally decomposed in the gas cracking cell 58c to obtain the sulfur molecular beam 58e.
This method involves irradiating the surface of the substrate with

【0006】尚、51は真空容器、52は超高真空排気
装置、53は基板ホルダー、54は基板、55は基板上
に成長した硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜、56b、57
b、58dはシャッターを示す。
In addition, 51 is a vacuum container, 52 is an ultra-high vacuum evacuation device, 53 is a substrate holder, 54 is a substrate, 55 is a cadmium-zinc sulfide mixed crystal thin film grown on the substrate, 56b, 57
b, 58d indicates a shutter.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述のよ
うな従来の方法では、それぞれ次のような問題点があっ
た。従来例1の通常のMBE法の場合、硫黄の蒸気圧が
非常に高いため実用上の分子線強度(1×10−6To
rr程度)を得るためには、ルツボの温度を100℃以
下という低温で制御しなければならない。通常、MBE
装置のルツボは高温で加熱して分子線を発生するように
設計されており、またルツボの熱容量も大きいために温
度調整が非常に難しく、分子線強度が安定しないという
問題点があった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, the conventional methods described above have the following problems. In the case of the ordinary MBE method of Conventional Example 1, the vapor pressure of sulfur is very high, so the practical molecular beam intensity (1 × 10-6 To
rr), the temperature of the crucible must be controlled at a low temperature of 100°C or less. Typically, M.B.E.
The device's crucible is designed to generate molecular beams by heating at high temperatures, and the crucible's large heat capacity makes temperature control extremely difficult, leading to problems with unstable molecular beam intensity.

【0008】従来例2の有機金属を用いたMBE法の場
合、有機金属原料の製造過程においてハロゲン化物が不
純物として混入しており、膜中にハロゲンがドナーとし
て混入してしまい、伝導型の制御がしにくくなるという
問題点があった。従来例3の場合、従来例1と2の問題
点を克服するために硫化水素と金属蒸気を原料として用
いて、硫黄の分子線強度を安定させかつ原料純度を高く
保ったMBE法であるが、硫化水素ガスをクラッキング
した際に(化1)のような熱分解反応が起こり多量の水
素が発生する。
In the case of the MBE method using organic metals in Conventional Example 2, halides are mixed as impurities in the manufacturing process of the organic metal raw materials, and halogens are mixed into the film as donors, making it difficult to control the conductivity type. There was a problem that it became difficult to remove. In the case of Conventional Example 3, in order to overcome the problems of Conventional Examples 1 and 2, hydrogen sulfide and metal vapor were used as raw materials to stabilize the molecular beam intensity of sulfur and maintain high raw material purity. When hydrogen sulfide gas is cracked, a thermal decomposition reaction as shown in (Chemical formula 1) occurs and a large amount of hydrogen is generated.

【0009】[0009]

【化1】[Chemical formula 1]

【0010】この水素が成長膜表面に吸着して水素化膜
が形成されてしまい、次に飛来する分子線の吸着を阻害
するために、成長速度が極端に低くなってしまうという
問題点があった。本発明はかかる点に鑑み、分子線の強
度の安定した制御が可能で、伝導型の制御に悪影響を及
ぼすような不純物の混入がなく、分子線の吸着が良好で
成長速度の低下のない硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜の製
造方法を提供することを目的とするものである。
[0010] This hydrogen adsorbs to the surface of the grown film to form a hydrogenated film, which inhibits the adsorption of the next incoming molecular beam, resulting in an extremely low growth rate. Ta. In view of these points, the present invention has been developed to provide a sulfurized resin that enables stable control of the intensity of molecular beams, does not contain impurities that adversely affect control of conductivity, has good adsorption of molecular beams, and does not reduce the growth rate. The object of the present invention is to provide a method for producing a cadmium-zinc mixed crystal thin film.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点を
解決するため、第1の硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜の製
造方法の発明においては、真空中で、基板表面に硫黄分
子線とカドミウム分子線と亜鉛分子線とを照射する分子
線エピタキシー法により薄膜を製造する方法において、
前記硫黄分子線として硫化水素とジアルキル硫黄の混合
ガスを熱分解させて得た硫黄分子線を用い、前記カドミ
ウム分子線としてカドミウムを加熱蒸発させて得た分子
線を用い、前記亜鉛分子線として亜鉛を加熱蒸発させて
得た分子線を用いることを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a first method for producing a cadmium-zinc sulfide mixed crystal thin film, in which sulfur molecular beams and cadmium are applied to the surface of a substrate in vacuum. In a method of manufacturing a thin film by a molecular beam epitaxy method of irradiating a molecular beam and a zinc molecular beam,
A sulfur molecular beam obtained by thermally decomposing a mixed gas of hydrogen sulfide and dialkyl sulfur is used as the sulfur molecular beam, a molecular beam obtained by heating and vaporizing cadmium is used as the cadmium molecular beam, and a zinc molecular beam is used as the zinc molecular beam. It is characterized by using molecular beams obtained by heating and evaporating.

【0012】また、前記構成においては、ジアルキル硫
黄が、ジメチル硫黄、ジエチル硫黄から選ばれた少なく
とも1種の気体であることが好ましい。更に、前記構成
においては、基板がガリウム砒素、ガリウム燐、インジ
ウム燐のうちいずれかの単結晶からなる基板であること
が好ましい。更に、前記構成において、基板温度が20
0℃以上500℃以下であることが好ましい。
[0012] Furthermore, in the above structure, it is preferable that the dialkyl sulfur is at least one gas selected from dimethyl sulfur and diethyl sulfur. Further, in the above configuration, it is preferable that the substrate is made of a single crystal of gallium arsenide, gallium phosphorus, or indium phosphorus. Furthermore, in the above configuration, the substrate temperature is 20
The temperature is preferably 0°C or higher and 500°C or lower.

【0013】次に本発明の第2の硫化カドミウム亜鉛混
晶薄膜の製造方法は、真空中で、基板表面に硫黄分子線
とカドミウム分子線と亜鉛分子線とを照射する分子線エ
ピタキシー法により薄膜を製造する方法において、前記
硫黄分子線として硫化水素を熱分解させて得た硫黄分子
線を用い、前記カドミウム分子線としてカドミウムを加
熱蒸発させて得た分子線を用い、前記亜鉛分子線として
亜鉛を加熱蒸発させて得た分子線を用い、さらに、不飽
和炭化水素分子線を基板表面に照射することを特徴とす
る。
Next, the second method of manufacturing a cadmium-zinc sulfide mixed crystal thin film of the present invention is to form a thin film using a molecular beam epitaxy method in which the surface of a substrate is irradiated with a sulfur molecular beam, a cadmium molecular beam, and a zinc molecular beam in a vacuum. In the method for producing a sulfur molecular beam, a sulfur molecular beam obtained by thermally decomposing hydrogen sulfide is used as the sulfur molecular beam, a molecular beam obtained by heating evaporation of cadmium is used as the cadmium molecular beam, and a zinc molecular beam is used as the zinc molecular beam. The method is characterized in that a molecular beam obtained by heating and evaporating is used, and the surface of the substrate is further irradiated with an unsaturated hydrocarbon molecular beam.

【0014】前記第2の製造方法においては、不飽和炭
化水素が、エチレン、プロピレン、アセチレンからなる
群から選ばれた少なくとも1種であることが好ましい。
[0014] In the second production method, the unsaturated hydrocarbon is preferably at least one selected from the group consisting of ethylene, propylene, and acetylene.

【0015】[0015]

【作用】第1の製造方法の発明は上記の手段すなわち、
硫化水素ガスとジアルキル硫黄ガスとを混合した上でク
ラッキングして硫黄分子線を得ることにより、(化2)
に示すような化学反応をおこさせ、熱分解時の水素発生
を抑えて成長を阻害する要因を取り除くという作用に基
づくものである。
[Operation] The invention of the first manufacturing method includes the above means, namely,
By mixing hydrogen sulfide gas and dialkyl sulfur gas and cracking to obtain a sulfur molecular beam, (Chemical formula 2)
This is based on the action of causing a chemical reaction as shown in Figure 2, suppressing hydrogen generation during thermal decomposition and removing factors that inhibit growth.

【0016】[0016]

【化2】 (R:アルキル基)[Case 2] (R: alkyl group)

【0017】第1の製造方法において、ジアルキル硫黄
が、ジメチル硫黄、ジエチル硫黄から選ばれた少なくと
も1種の気体である好ましい態様にすることにより、蒸
気圧が比較的大きくなり、大きなガス流量が得られるの
で、製造がより容易になる。
[0017] In the first production method, by using a preferable embodiment in which the dialkyl sulfur is at least one gas selected from dimethyl sulfur and diethyl sulfur, the vapor pressure becomes relatively high and a large gas flow rate can be obtained. This makes manufacturing easier.

【0018】また、基板としてガリウム砒素、ガリウム
燐、インジウム燐のうちいずれかの単結晶からなる基板
を用いる本発明の好ましい態様により、これらの基板の
格子定数は基板上に成長する硫化カドミウム亜鉛混晶薄
膜の格子定数と類似しているため、純粋な単結晶が成長
しやすい。また、基板温度を200℃以上500℃以下
にする本発明の好ましい態様により、成長した薄膜を構
成する原子のマイグレーションが十分に行われ、各原子
が正確な格子位置に安定して配置される。また、原子の
再蒸発が過剰になることによる原子の空孔が生じる欠点
が抑制されるので、より完全な結晶を得ることができる
Further, according to a preferred embodiment of the present invention in which a substrate is made of a single crystal of gallium arsenide, gallium phosphide, or indium phosphide, the lattice constant of these substrates is the same as that of a cadmium zinc sulfide mixture grown on the substrate. Because the lattice constant is similar to that of crystalline thin films, pure single crystals are easy to grow. Further, according to a preferred embodiment of the present invention in which the substrate temperature is set to 200° C. or more and 500° C. or less, the atoms constituting the grown thin film are sufficiently migrated, and each atom is stably arranged at an accurate lattice position. Further, since the defect of atomic vacancies caused by excessive re-evaporation of atoms is suppressed, more perfect crystals can be obtained.

【0019】また、第2の製造方法の発明は不飽和炭化
水素分子線を照射することにより、成長膜表面において
(化3)に示すように炭素原子間の多重結合を解離させ
、成長膜表面に吸着した水素を取り去るという作用に基
づくものである。
In addition, the invention of the second manufacturing method dissociates multiple bonds between carbon atoms on the surface of the grown film as shown in (Chemical formula 3) by irradiating the unsaturated hydrocarbon molecular beam. This is based on the action of removing hydrogen adsorbed on the surface.

【0020】[0020]

【化3】 (不飽和炭化水素としてエチレンを用いた場合)[Chemical formula 3] (When ethylene is used as the unsaturated hydrocarbon)

【00
21】また、第2の製造方法の発明において、不飽和炭
化水素として、エチレン、プロピレン、アセチレンから
なる群から選ばれた少なくとも1種を用いる好ましい態
様とすることにより、これらの不飽和炭化水素は蒸気圧
が大きいので工程の制御が容易になり、また、混入され
る不純物が硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜の性質に大きな
悪影響を及ぼさない。
00
[21] Furthermore, in the invention of the second production method, by using a preferable embodiment of using at least one member selected from the group consisting of ethylene, propylene, and acetylene as the unsaturated hydrocarbon, these unsaturated hydrocarbons can be The high vapor pressure makes it easy to control the process, and the impurities that are mixed in do not have a large adverse effect on the properties of the cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film.

【0022】[0022]

【実施例】以下、本発明を実施例により詳細に説明する
。 実施例1 図1は第1の発明の製造方法の一実施例で用いられるM
BE装置の構造を示す概略図である。同図において16
aおよび17aはそれぞれ通常の蒸発用ルツボに入った
金属カドミウムおよび金属亜鉛で、加熱蒸発させてカド
ミウム分子線16cおよび亜鉛分子線17cを得る。ま
た18cはガスクラッキングセルで、硫化水素ガス容器
18a1から導入された硫化水素ガスと気化したジメチ
ル硫黄18a2を混合したガスをガスクラッキングセル
18cで加熱分解して硫黄分子線18eを得る。
[Examples] The present invention will be explained in detail below with reference to Examples. Example 1 FIG. 1 shows M used in an example of the manufacturing method of the first invention.
FIG. 2 is a schematic diagram showing the structure of a BE device. In the same figure, 16
Metal cadmium and metal zinc are respectively placed in a normal evaporation crucible and evaporated by heating to obtain a cadmium molecular beam 16c and a zinc molecular beam 17c. A gas cracking cell 18c thermally decomposes a mixture of hydrogen sulfide gas introduced from a hydrogen sulfide gas container 18a1 and vaporized dimethyl sulfur 18a2 in the gas cracking cell 18c to obtain sulfur molecular beams 18e.

【0023】実際の薄膜成長は次のような手順で行なう
。まず表面を清浄にした基板14を例えばモリブデンな
どからなる基板ホルダー13に装着する。基板材料とし
ては硫化カドミウム亜鉛のとり得る格子定数に近い格子
定数をもつガリウム砒素単結晶を用いた。次に真空容器
11を10−9Torr以下程度の超高真空まで超真空
排気装置12により排気する。その後ルツボ16aおよ
び17aを例えば120℃および240℃程度に加熱し
、適切な強度(約1×10−6Torr)のカドミウム
分子線16cおよび亜鉛分子線17cが得られるように
する。また硫化水素ガス18a1とジメチル硫黄ガス1
8a2はそれぞれ別のガス流量調節器18b1,18b
2で流量調整した後に混合し、適切な強度(約1×10
−6Torr)の硫黄分子線18eが得られるようにす
る。ガスクラッキングセル18cの温度は、400℃以
上であれば硫化水素・ジメチル硫黄混合ガスをほぼ完全
にクラッキングする事ができた。
The actual thin film growth is performed in the following steps. First, the substrate 14 whose surface has been cleaned is mounted on the substrate holder 13 made of, for example, molybdenum. Gallium arsenide single crystal, which has a lattice constant close to that of cadmium zinc sulfide, was used as the substrate material. Next, the vacuum container 11 is evacuated to an ultra-high vacuum of about 10 -9 Torr or less by the ultra-vacuum exhaust device 12 . Thereafter, the crucibles 16a and 17a are heated to, for example, about 120° C. and 240° C., so that cadmium molecular beams 16c and zinc molecular beams 17c with appropriate strength (about 1×10 −6 Torr) are obtained. Also, hydrogen sulfide gas 18a1 and dimethyl sulfur gas 1
8a2 are separate gas flow rate regulators 18b1 and 18b, respectively.
After adjusting the flow rate in Step 2, mix and mix to an appropriate strength (approximately 1 x 10
-6 Torr) to obtain the sulfur molecular beam 18e. When the temperature of the gas cracking cell 18c was 400° C. or higher, the hydrogen sulfide/dimethyl sulfur mixed gas could be cracked almost completely.

【0024】次に基板14を約600℃に加熱して表面
酸化膜を除去する。その後基板14を結晶成長に適切な
温度まで下げる。この場合には例えば300℃とした。 この後シャッター16b,17b,18dを同時に開き
、結晶成長を行なう。以上のような方法で形成した硫化
カドミウム亜鉛混晶薄膜15は、硫化水素とジメチル硫
黄を混合してクラッキングしたことにより、水素の発生
が抑えられ付着係数がほぼ1となり、高い成長速度が得
られた。尚ここで付着係数とは分子線として供給した原
子の数に対する基板の上に付着成長した原子の数の比を
言う。
Next, the substrate 14 is heated to about 600° C. to remove the surface oxide film. Thereafter, the substrate 14 is lowered to a temperature suitable for crystal growth. In this case, the temperature was, for example, 300°C. After this, the shutters 16b, 17b, and 18d are simultaneously opened to perform crystal growth. The cadmium-zinc sulfide mixed crystal thin film 15 formed by the method described above is cracked by mixing hydrogen sulfide and dimethyl sulfur, thereby suppressing the generation of hydrogen and reducing the adhesion coefficient to approximately 1, resulting in a high growth rate. Ta. Here, the adhesion coefficient refers to the ratio of the number of atoms attached and grown on the substrate to the number of atoms supplied as molecular beams.

【0025】水素の発生が抑えられていることは、四重
極質量分析装置による水素濃度測定においても明らかで
あった。また、硫化水素とジメチル硫黄の混合比は1:
1の時に生成された硫化カドミウム混晶薄膜の結晶性が
最も良好であった。なお、上述の実施例ではジアルキル
硫黄化合物としてジメチル硫黄を用いたが、ジエチル硫
黄を用いても同様の効果が得られた。ここで、ジアルキ
ル硫黄にジメチル硫黄を用いたが、その理由はジメチル
硫黄がジエチル硫黄に比べてより高い蒸気圧を有するた
めにより大きなガス流量がとれるからである。
[0025] It was also clear from hydrogen concentration measurement using a quadrupole mass spectrometer that hydrogen generation was suppressed. Also, the mixing ratio of hydrogen sulfide and dimethyl sulfur is 1:
The cadmium sulfide mixed crystal thin film produced in Example 1 had the best crystallinity. In addition, although dimethyl sulfur was used as the dialkyl sulfur compound in the above-mentioned example, the same effect was obtained even if diethyl sulfur was used. Here, dimethyl sulfur was used as the dialkyl sulfur because dimethyl sulfur has a higher vapor pressure than diethyl sulfur, so a larger gas flow rate can be obtained.

【0026】また、亜鉛、カドミウム原料に金属を用い
有機金属原料を使用しなかったのは有機金属の方が化学
的純度が悪く、不純物として悪影響を及ぼす成分が混入
しやすいためである。特にハロゲンが混入しやすく、ハ
ロゲンが混入すると伝導型の制御の自由度が阻害されて
しまうので好ましくない。また、薄膜形成中の基板温度
は、基板表面の薄膜形成原子のマイグレーションが十分
に行われ、各原子が正確な格子位置に安定しやすく、ま
た、原子の再蒸発が過剰にならず原子の空孔が生じるお
それが少なくなり、完全な結晶が得られ易いことから2
00℃以上500℃以下が好適であった。
Furthermore, the reason why metals are used as zinc and cadmium raw materials and organic metal raw materials are not used is that organic metals have poorer chemical purity and are more likely to be contaminated with components that have an adverse effect as impurities. In particular, halogen is likely to be mixed in, and if halogen is mixed in, the degree of freedom in controlling the conduction type will be inhibited, which is not preferable. In addition, the substrate temperature during thin film formation is such that sufficient migration of the thin film forming atoms on the substrate surface occurs, each atom is easily stabilized at a precise lattice position, and re-evaporation of atoms does not become excessive, leaving atomic vacancies. 2. Because there is less possibility of forming pores and it is easier to obtain perfect crystals.
A temperature of 00°C or more and 500°C or less was suitable.

【0027】また、基板として、ガリウム砒素の単結晶
からなる基板に代えて、ガリウム燐あるいはインジウム
燐の単結晶からなる基板を用いてもほぼ同様の結果が得
られた。
Furthermore, substantially the same results were obtained when a substrate made of a single crystal of gallium phosphide or indium phosphorus was used instead of a substrate made of a single crystal of gallium arsenide.

【0028】実施例2 図2は第2の発明の製造方法の一実施例で用いられるM
BE装置の構造を示す概略図である。同図において26
aおよび27aはそれぞれ通常の蒸発用ルツボに入った
金属カドミウムおよび金属亜鉛で、加熱蒸発させてカド
ミウム分子線26cおよび亜鉛分子線27cを得る。2
8cはガスクラッキングセルで、硫化水素ガス容器から
導入された硫化水素ガス28aを加熱分解して硫黄分子
線28eを得る。また29aはエチレンガスでガス導入
ポート29cより基板24表面に供給される。
Example 2 FIG. 2 shows an M used in an example of the manufacturing method of the second invention.
FIG. 2 is a schematic diagram showing the structure of a BE device. In the same figure, 26
Metal cadmium and metal zinc are respectively placed in a normal evaporation crucible and evaporated by heating to obtain a cadmium molecular beam 26c and a zinc molecular beam 27c. 2
8c is a gas cracking cell that thermally decomposes hydrogen sulfide gas 28a introduced from a hydrogen sulfide gas container to obtain sulfur molecular beams 28e. Further, 29a is ethylene gas, which is supplied to the surface of the substrate 24 from the gas introduction port 29c.

【0029】実際の薄膜成長は次のような手順で行なう
。まず表面を清浄にした基板24を例えばモリブデンな
どから成る基板ホルダー23に装着する。基板材料とし
ては硫化カドミウム亜鉛のとり得る格子定数に近い格子
定数をもつガリウム砒素の単結晶を用いた。次に真空容
器21を超高真空排気装置22により10−9Torr
以下程度の超高真空まで排気する。そ後ルツボ26aお
よび27aを例えば120℃および240℃程度に加熱
し、適切な強度(約1×10−6Torr)のカドミウ
ム分子線26cおよび亜鉛分子線27cが得られるよう
にする。硫化水素はガス流量調節器28bで流量調整し
、適切な強度(約1×10−6Torr)の硫黄分子線
28eが得られるようにする。ガスクラッキングセル2
8cの温度は、700℃以上であれば硫化水素ガスをほ
ぼ完全にクラッキングする事ができた。脱水素剤として
のエチレンガス29aはガス流量調節器29bにより流
量制御(この場合には例えば50sccm)し、そのま
ま基板にエチレン分子線29eとして照射した。
The actual thin film growth is carried out in the following manner. First, the substrate 24 whose surface has been cleaned is mounted on the substrate holder 23 made of, for example, molybdenum. As the substrate material, we used a single crystal of gallium arsenide, which has a lattice constant close to that of cadmium zinc sulfide. Next, the vacuum container 21 is heated to 10-9 Torr using an ultra-high vacuum evacuation device 22.
Evacuate to an ultra-high vacuum of the following level. Thereafter, the crucibles 26a and 27a are heated to, for example, about 120° C. and 240° C. to obtain cadmium molecular beams 26c and zinc molecular beams 27c with appropriate strength (about 1×10 −6 Torr). The flow rate of hydrogen sulfide is adjusted by a gas flow rate regulator 28b so that a sulfur molecular beam 28e of appropriate strength (approximately 1×10 −6 Torr) is obtained. gas cracking cell 2
If the temperature of 8c was 700°C or higher, hydrogen sulfide gas could be almost completely cracked. The flow rate of ethylene gas 29a as a dehydrogenating agent was controlled by a gas flow rate regulator 29b (eg, 50 sccm in this case), and the substrate was directly irradiated with it as an ethylene molecular beam 29e.

【0030】次に基板24を約600℃に加熱して表面
酸化膜を除去する。その後基板を結晶成長に適切な温度
まで下げる。この場合には例えば300℃とした。この
後シャッター26b,27b,28d、29dを同時に
開き、結晶成長を行なう。以上のような方法で形成した
硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜25は、不飽和炭化水素で
あるエチレンを供給したことにより、成長膜表面に付着
していた水素の脱離が効率的に行なわれ、成長速度の増
加がみられ、付着係数が約0.5になった。エチレンガ
スの流量は多いほど脱水素効果が大きかったが、流量を
多くしすぎると真空容器21内の圧力が上昇して分子線
を得ることができなくなり、またMBE法の利点の一つ
である四重極質量分析装置や反射高速電子線回折装置な
どその場観測装置が使用不能になるため、この場合は流
量を100sccm以下とすることが好適であった。
Next, the substrate 24 is heated to about 600° C. to remove the surface oxide film. The substrate is then lowered to a temperature suitable for crystal growth. In this case, the temperature was, for example, 300°C. After that, the shutters 26b, 27b, 28d, and 29d are simultaneously opened to perform crystal growth. The cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film 25 formed by the method described above can be grown by supplying ethylene, which is an unsaturated hydrocarbon, to efficiently desorb hydrogen attached to the surface of the grown film. An increase in velocity was observed and the sticking coefficient was approximately 0.5. The higher the flow rate of ethylene gas, the greater the dehydrogenation effect, but if the flow rate is too high, the pressure inside the vacuum vessel 21 will increase, making it impossible to obtain a molecular beam, which is one of the advantages of the MBE method. In this case, it was preferable to set the flow rate to 100 sccm or less, since in-situ observation devices such as a quadrupole mass spectrometer and a reflection high-speed electron diffraction device become unusable.

【0031】なお、上述の実施例では不飽和炭化水素と
してエチレンを用いたが、この他プロピレンやアセチレ
ンを用いても同様の効果が得られた。また、基板として
、ガリウム砒素の単結晶からなる基板に代えて、ガリウ
ム燐あるいはインジウム燐の単結晶からなる基板を用い
てもほぼ同様の結果が得られた。
[0031] Although ethylene was used as the unsaturated hydrocarbon in the above-mentioned examples, similar effects could be obtained by using propylene or acetylene. Furthermore, substantially the same results were obtained when a substrate made of a single crystal of gallium phosphorus or indium phosphorus was used instead of a substrate made of a single crystal of gallium arsenide.

【0032】また、第2の発明においても薄膜形成中の
基板温度は200℃以上500℃以下が好適であった。 尚、本発明において用いるジアルキル硫黄としてはアル
キル基の炭素数が小さいものの方が蒸気圧が高いこと、
分解後の不純物の量が少なくなることなどの点からも好
ましく、アルキル基の炭素数が3以下、特に2以下の物
が好ましい。
[0032] Also in the second invention, the substrate temperature during thin film formation was preferably 200°C or more and 500°C or less. It should be noted that the dialkyl sulfur used in the present invention has a higher vapor pressure when the alkyl group has a smaller number of carbon atoms.
It is preferable from the viewpoint of reducing the amount of impurities after decomposition, and those in which the number of carbon atoms in the alkyl group is 3 or less, particularly 2 or less are preferable.

【0033】また、不飽和炭化水素についても同様な理
由から、炭素数が2〜4の不飽和炭化水素が好ましく、
特に炭素数2〜3の不飽和炭化水素が好ましい。また、
真空室内の真空の程度は分子線源と基板との距離や、用
いる分子線源の種類によっても異なるが、分子線源と基
板との距離が分子線の平均自由行程内に入る程度の真空
にすることが好ましく、通常10−5Torr以下で、
高真空であれば高真空であるほど好ましい。
[0033] For the same reason, unsaturated hydrocarbons are preferably unsaturated hydrocarbons having 2 to 4 carbon atoms.
In particular, unsaturated hydrocarbons having 2 to 3 carbon atoms are preferred. Also,
The degree of vacuum in the vacuum chamber varies depending on the distance between the molecular beam source and the substrate and the type of molecular beam source used, but the vacuum is such that the distance between the molecular beam source and the substrate is within the mean free path of the molecular beam. It is preferable that the pressure is usually 10 −5 Torr or less,
The higher the vacuum, the more preferable it is.

【0034】[0034]

【発明の効果】第1の製造方法の発明においては、分子
線の強度の安定した制御が可能で、伝導型の制御に悪影
響を及ぼすような不純物の混入がなく、ガスクラッキン
グによる水素の発生を抑えることができ、表面の水素皮
膜の形成を抑えて分子線の吸着が良好で成長速度の低下
のない硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜の製造方法を提供で
きる。
Effects of the Invention In the first manufacturing method, the intensity of the molecular beam can be stably controlled, there is no contamination of impurities that would adversely affect the control of the conductivity type, and hydrogen generation due to gas cracking is prevented. It is possible to provide a method for producing a cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film that can suppress the formation of a hydrogen film on the surface, has good molecular beam adsorption, and does not reduce the growth rate.

【0035】また、ジアルキル硫黄としてジメチル硫黄
、ジエチル硫黄から選ばれた少なくとも1種の気体を用
いる好ましい態様にすることにより、蒸気圧が比較的大
きくなり、大きなガス流量が得られるので、製造がより
容易になる。また、基板としてガリウム砒素、ガリウム
燐、インジウム燐のうちいずれかの単結晶からなる基板
を用いる好ましい態様により、純粋な単結晶が得やすく
なる。
[0035] Furthermore, by adopting a preferable embodiment in which at least one gas selected from dimethyl sulfur and diethyl sulfur is used as the dialkyl sulfur, the vapor pressure becomes relatively high and a large gas flow rate can be obtained, making the production easier. becomes easier. Further, in a preferred embodiment, a substrate made of a single crystal of gallium arsenide, gallium phosphorus, or indium phosphorus is used as the substrate, making it easier to obtain a pure single crystal.

【0036】また、基板温度を200℃以上500℃以
下にする好ましい態様により、成長した薄膜を構成する
原子のマイグレーションが十分に行われ、各原子が正確
な格子位置に安定して配置される。また、原子の再蒸発
が過剰になることによる原子の空孔が生じる欠点が抑制
されるので、より完全な結晶を得ることができる。第2
の製造方法の発明においては、分子線の強度の安定した
制御が可能で、伝導型の制御に悪影響を及ぼすような不
純物の混入がなく、成長膜表面に付着していた水素を脱
離さすことができ、成長を阻害されることなく硫化カド
ミウム亜鉛混晶薄膜を形成することができる。
[0036] Furthermore, by setting the substrate temperature to 200° C. or more and 500° C. or less, the atoms constituting the grown thin film are sufficiently migrated, and each atom is stably arranged at an accurate lattice position. Further, since the defect of atomic vacancies caused by excessive re-evaporation of atoms is suppressed, more perfect crystals can be obtained. Second
In the invention of the manufacturing method, it is possible to stably control the intensity of the molecular beam, there is no contamination of impurities that would adversely affect the control of the conductivity type, and it is possible to desorb hydrogen attached to the surface of the grown film. It is possible to form a cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film without inhibiting growth.

【0037】また、第2の製造方法の発明において、不
飽和炭化水素として、エチレン、プロピレン、アセチレ
ンからなる群から選ばれた少なくとも1種を用いる好ま
しい態様とすることにより、これらの不飽和炭化水素は
蒸気圧が大きいので工程の制御が容易になり、また、混
入される不純物が生成した硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜
の性質に大きな悪影響を及ぼさない。
[0037] Furthermore, in the invention of the second production method, in a preferred embodiment, at least one selected from the group consisting of ethylene, propylene, and acetylene is used as the unsaturated hydrocarbon. Since the vapor pressure is high, the process can be easily controlled, and the impurities mixed in do not have a large adverse effect on the properties of the produced cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film.

【0038】以上の結果、高品質の硫化カドミウム亜鉛
混晶薄膜の成長が可能となり、ひいては高効率の青色発
光素子等への適用が可能な硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜
製造方法が提供できる。
As a result of the above, it is possible to grow a high-quality cadmium-zinc sulfide mixed crystal thin film, and in turn, it is possible to provide a method for producing a cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film that can be applied to high-efficiency blue light-emitting devices.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】第1の発明の一実施例における硫化カドミウム
亜鉛混晶薄膜を作製するMBE装置の構造を示す概略図
である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing the structure of an MBE apparatus for producing a cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film in an embodiment of the first invention.

【図2】第2の発明の一実施例における硫化カドミウム
亜鉛混晶薄膜を作製するMBE装置の構造を示す概略図
である。
FIG. 2 is a schematic diagram showing the structure of an MBE apparatus for producing a cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film in an embodiment of the second invention.

【図3】従来例1で用いられるMBE装置の構造を示す
概略図である。
FIG. 3 is a schematic diagram showing the structure of an MBE device used in Conventional Example 1.

【図4】従来例2で用いられるMBE装置の構造を示す
概略図である。
FIG. 4 is a schematic diagram showing the structure of an MBE device used in Conventional Example 2.

【図5】従来例3で用いられるMBE装置の構造を示す
概略図である。
FIG. 5 is a schematic diagram showing the structure of an MBE device used in Conventional Example 3.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11  真空容器 12  超高真空排気装置 13  基板ホルダー 14  基板 15  硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜 16a  ルツボに入った金属カドミウム16b  シ
ャッター 16c  カドミウム分子線 17a  ルツボに入った金属亜鉛 17b  シャッター 17c  亜鉛分子線 18a1  硫化水素ガス 18b1  ガス流量調節器 18a2  ジメチル硫黄 18b2  ガス流量調節器 18c  ガスクラッキングセル 18d  シャッター 18e  硫黄分子線 21  真空容器 22  超高真空排気装置 23  基板ホルダー 24  基板 25  硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜 26a  ルツボに入った金属カドミウム26b  シ
ャッター 26c  カドミウム分子線 27a  ルツボに入った金属亜鉛 27b  シャッター 27c  亜鉛分子線 28a  硫化水素ガス 28b  ガス流量調節器 28c  ガスクラッキングセル 28d  シャッター 28e  硫黄分子線 29a  エチレンガス 29b  ガス流量調節器 29c  ガス導入ポート 29d  シャッター 29e  エチレン分子線 31  真空容器 32  超高真空排気装置 33  基板ホルダー 34  基板 35  硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜 36a  ルツボに入った金属亜鉛 36b  シャッター 36c  亜鉛分子線 37a  ルツボに入った金属カドミウム37b  シ
ャッター 37c  カドミウム分子線 38a  ルツボに入った硫黄 38b  シャッター 38c  硫黄分子線 41  真空容器 42  超高真空排気装置 43  基板ホルダー 44  基板 45  硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜 46a  有機亜鉛 46b  ガス流量調節器 46c  ガスクラッキングセル 46d  シャッター 46e  亜鉛分子線 47a  有機カドミウム 47b  ガス流量調節器 47c  ガスクラッキングセル 47d  シャッター 47e  カドミウム分子線 48a  硫化水素ガス 48b  ガス流量調節器 48c  ガスクラッキングセル 48d  シャッター 48e  硫黄分子線 51  真空容器 52  超高真空排気装置 53  基板ホルダー 54  基板 55  硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜 56a  ルツボに入った金属亜鉛 56b  シャッター 56c  亜鉛分子線 57a  ルツボに入った金属カドミウム57b  シ
ャッター 57c  カドミウム分子線 58a  硫化水素ガス 58b  ガス流量調節器 58c  ガスクラッキングセル 58d  シャッター 58e  硫黄分子線
11 Vacuum container 12 Ultra-high vacuum evacuation device 13 Substrate holder 14 Substrate 15 Cadmium-zinc sulfide mixed crystal thin film 16a Metal cadmium 16b in crucible Shutter 16c Cadmium molecular beam 17a Metal zinc 17b in crucible Shutter 17c Zinc molecular beam 18a1 Hydrogen sulfide Gas 18b1 Gas flow rate regulator 18a2 Dimethyl sulfur 18b2 Gas flow rate regulator 18c Gas cracking cell 18d Shutter 18e Sulfur molecular beam 21 Vacuum vessel 22 Ultra-high vacuum exhaust device 23 Substrate holder 24 Substrate 25 Cadmium-zinc sulfide mixed crystal thin film 26a Entered the crucible Metal cadmium 26b Shutter 26c Cadmium molecular beam 27a Metal zinc 27b in crucible Shutter 27c Zinc molecular beam 28a Hydrogen sulfide gas 28b Gas flow rate regulator 28c Gas cracking cell 28d Shutter 28e Sulfur molecular beam 29a Ethylene gas 29b Gas flow rate regulator 29c Gas Introduction port 29d Shutter 29e Ethylene molecular beam 31 Vacuum vessel 32 Ultra-high vacuum exhaust device 33 Substrate holder 34 Substrate 35 Cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film 36a Metal zinc 36b in crucible Shutter 36c Zinc molecular beam 37a Metal cadmium 37b in crucible Shutter 37c Cadmium molecular beam 38a Sulfur 38b in the crucible Shutter 38c Sulfur molecular beam 41 Vacuum vessel 42 Ultra-high vacuum exhaust device 43 Substrate holder 44 Substrate 45 Cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film 46a Organic zinc 46b Gas flow regulator 46c Gas cracking cell 46d Shutter 46e Zinc molecular beam 47a Organic cadmium 47b Gas flow rate regulator 47c Gas cracking cell 47d Shutter 47e Cadmium molecular beam 48a Hydrogen sulfide gas 48b Gas flow rate regulator 48c Gas cracking cell 48d Shutter 48e Sulfur molecular beam 51 Vacuum vessel 52 Ultra-high vacuum Exhaust device 53 Substrate holder 54 Substrate 55 Cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film 56a Metal zinc 56b in crucible Shutter 56c Zinc molecular beam 57a Metal cadmium 57b in crucible Shutter 57c Cadmium molecular beam 58a Hydrogen sulfide gas 58b Gas flow rate regulator 58c Gas cracking cell 58d Shutter 58e Sulfur molecular beam

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  真空中で、基板表面に硫黄分子線とカ
ドミウム分子線と亜鉛分子線とを照射する分子線エピタ
キシー法により薄膜を製造する方法において、前記硫黄
分子線として硫化水素とジアルキル硫黄の混合ガスを熱
分解させて得た硫黄分子線を用い、前記カドミウム分子
線としてカドミウムを加熱蒸発させて得た分子線を用い
、前記亜鉛分子線として亜鉛を加熱蒸発させて得た分子
線を用いることを特徴とする硫化カドミウム亜鉛混晶薄
膜の製造方法。
1. A method for manufacturing a thin film by a molecular beam epitaxy method in which a substrate surface is irradiated with a sulfur molecular beam, a cadmium molecular beam, and a zinc molecular beam in a vacuum, wherein the sulfur molecular beams include hydrogen sulfide and dialkyl sulfur. A sulfur molecular beam obtained by thermally decomposing a mixed gas is used, a molecular beam obtained by heating and evaporating cadmium is used as the cadmium molecular beam, and a molecular beam obtained by heating and evaporating zinc is used as the zinc molecular beam. A method for producing a cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film, characterized by:
【請求項2】  ジアルキル硫黄が、ジメチル硫黄、ジ
エチル硫黄から選ばれた少なくとも1種の気体である請
求項1記載の硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜の製造方法。
2. The method for producing a cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film according to claim 1, wherein the dialkyl sulfur is at least one gas selected from dimethyl sulfur and diethyl sulfur.
【請求項3】  基板がガリウム砒素、ガリウム燐、イ
ンジウム燐のうちいずれかの単結晶からなる基板である
請求項1記載の硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜の製造方法
3. The method for producing a cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film according to claim 1, wherein the substrate is a single crystal of gallium arsenide, gallium phosphide, or indium phosphide.
【請求項4】  基板温度が200℃以上500℃以下
である請求項1から3のいずれかに記載の硫化カドミウ
ム亜鉛混晶薄膜の製造方法。
4. The method for producing a cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film according to claim 1, wherein the substrate temperature is 200° C. or more and 500° C. or less.
【請求項5】  真空中で、基板表面に硫黄分子線とカ
ドミウム分子線と亜鉛分子線とを照射する分子線エピタ
キシー法により薄膜を製造する方法において、前記硫黄
分子線として硫化水素を熱分解させて得た硫黄分子線を
用い、前記カドミウム分子線としてカドミウムを加熱蒸
発させて得た分子線を用い、前記亜鉛分子線として亜鉛
を加熱蒸発させて得た分子線を用い、さらに、不飽和炭
化水素分子線を基板表面に照射することを特徴とする硫
化カドミウム亜鉛混晶薄膜の製造方法。
5. A method for manufacturing a thin film by a molecular beam epitaxy method in which a substrate surface is irradiated with a sulfur molecular beam, a cadmium molecular beam, and a zinc molecular beam in a vacuum, wherein hydrogen sulfide is thermally decomposed as the sulfur molecular beam. Using a sulfur molecular beam obtained by heating and evaporating cadmium as the cadmium molecular beam, using a molecular beam obtained by heating and evaporating zinc as the zinc molecular beam, A method for producing a cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film, which comprises irradiating a substrate surface with a hydrogen molecular beam.
【請求項6】  不飽和炭化水素が、エチレン、プロピ
レン、アセチレンからなる群から選ばれた少なくとも1
種である請求項5記載の硫化カドミウム亜鉛混晶薄膜の
製造方法。
6. The unsaturated hydrocarbon is at least one selected from the group consisting of ethylene, propylene, and acetylene.
The method for producing a cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film according to claim 5, wherein the cadmium zinc sulfide mixed crystal thin film is a seed.
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