JPH04328234A - Automatic brightness/contrast adjusting system of electron microscope - Google Patents
Automatic brightness/contrast adjusting system of electron microscopeInfo
- Publication number
- JPH04328234A JPH04328234A JP3096678A JP9667891A JPH04328234A JP H04328234 A JPH04328234 A JP H04328234A JP 3096678 A JP3096678 A JP 3096678A JP 9667891 A JP9667891 A JP 9667891A JP H04328234 A JPH04328234 A JP H04328234A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- histogram
- brightness
- gain
- level
- contrast
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Abstract
Description
【0001】0001
【産業上の利用分野】本発明は、電子顕微鏡における自
動輝度/コントラスト調整方式に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic brightness/contrast adjustment method in an electron microscope.
【0002】0002
【従来の技術】電子顕微鏡、特に走査型電子顕微鏡にお
いては試料の形状をCRT上で観察するばかりでなく、
それを写真撮影することが多く、その場合には試料から
放出される2次電子もしくは反射電子を検出した検出信
号の輝度及びコントラストを適切に調整することが要求
される。そこで、従来は1画面中の検出信号の最大値V
MAX と最小値VMIN とを求め、これらの値に基
づいて検出信号のゲイン調整及び直流レベル調整を行っ
ていた。
例えばゲインGは、所望のコントラストをG0 として
G=(VMAX−VMIN)/G0
…(1)で求め、直流レベルLは、
L=(VMAX+VMIN)/2
…(2)で求めていた。[Prior Art] Electron microscopes, particularly scanning electron microscopes, not only observe the shape of a sample on a CRT;
This is often photographed, and in that case, it is required to appropriately adjust the brightness and contrast of a detection signal obtained by detecting secondary electrons or reflected electrons emitted from the sample. Therefore, in the past, the maximum value V of the detection signal in one screen was
MAX and minimum value VMIN are determined, and the gain adjustment and DC level adjustment of the detection signal is performed based on these values. For example, the gain G is G=(VMAX-VMIN)/G0, where the desired contrast is G0.
...Determined by (1), the DC level L is L=(VMAX+VMIN)/2
...I was looking for it in (2).
【0003】0003
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、検出信
号の中には、試料に付着した塵等により局所的に非常に
輝度の高い部分または輝度の低い部分が存在することが
あり、従来においてはこのような本来は輝度/コントラ
ストの設定に使用されるべきでない信号成分もが用いら
れてしまい、観察したい部分の輝度、コントラストが適
切な値とならず、手動により再設定を行わなければなら
ないことがあった。本発明は、上記の課題を解決するも
のであって、適切な輝度/コントラスト調整を自動的に
行うことができる電子顕微鏡における自動輝度/コント
ラスト調整方式を提供することを目的とするものである
。[Problem to be Solved by the Invention] However, in the detection signal, there may be locally very high brightness parts or low brightness parts due to dust etc. attached to the sample. Signal components that should not originally be used for brightness/contrast settings are also used, resulting in the brightness and contrast of the part you want to observe not being at appropriate values and having to be manually reset. there were. The present invention solves the above-mentioned problems, and aims to provide an automatic brightness/contrast adjustment method for an electron microscope that can automatically perform appropriate brightness/contrast adjustments.
【0004】0004
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の電子顕微鏡における自動輝度/コントラ
スト調整方式は、試料から放出される2次電子検出信号
もしくは反射電子検出信号に基づいて輝度に対する画素
数のヒストグラムを作成し、当該ヒストグラムと予め定
められた複数の基準ヒストグラムとを比較して最も形態
の近似する基準ヒストグラムを選択し、当該選択された
基準ヒストグラムに基づいて前記試料から放出される2
次電子検出信号もしくは反射電子検出信号の輝度及びコ
ントラストを定めることを特徴とする。[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the automatic brightness/contrast adjustment method in the electron microscope of the present invention is based on a secondary electron detection signal or a backscattered electron detection signal emitted from a sample. Create a histogram of the number of pixels with respect to brightness, compare the histogram with a plurality of predetermined reference histograms, select the reference histogram that most closely approximates the shape, and emit light from the sample based on the selected reference histogram. be done 2
It is characterized by determining the brightness and contrast of the secondary electron detection signal or the reflected electron detection signal.
【0005】[0005]
【作用】基準ヒストグラムテーブル9には予め定められ
た種々の基準画像に対する基準ヒストグラムと、ゲイン
及び直流レベルを定めるためのパラメータが書き込まれ
ている。制御装置8は試料の画像データからヒストグラ
ムを作成し、当該ヒストグラムと基準ヒストグラムテー
ブル9に登録されている基準ヒストグラムとを比較して
、作成したヒストグラムに最も近似する基準ヒストグラ
ムを選択し、そのパラメータからゲイン調整回路3に与
えるゲイン及び直流レベル調整回路4に与える直流レベ
ルを求める。[Operation] Reference histograms for various predetermined reference images and parameters for determining the gain and DC level are written in the reference histogram table 9. The control device 8 creates a histogram from the image data of the sample, compares the histogram with the reference histogram registered in the reference histogram table 9, selects the reference histogram that is most similar to the created histogram, and calculates the reference histogram based on the parameters. The gain given to the gain adjustment circuit 3 and the DC level given to the DC level adjustment circuit 4 are determined.
【0006】[0006]
【実施例】以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。
図1は本発明に係る電子顕微鏡における自動輝度/コン
トラスト調整方式の一実施例の構成を示す図であり、図
中、1は検出器、2は増幅器、3はゲイン調整回路、4
は直流レベル調整回路、5は信号処理回路、6はA/D
変換回路、7はフレームメモリ、8は制御装置、9は基
準ヒストグラムテーブル、10はCRTを示す。Embodiments Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an embodiment of an automatic brightness/contrast adjustment method in an electron microscope according to the present invention, in which 1 is a detector, 2 is an amplifier, 3 is a gain adjustment circuit, and 4
is a DC level adjustment circuit, 5 is a signal processing circuit, and 6 is an A/D
A conversion circuit, 7 a frame memory, 8 a control device, 9 a reference histogram table, and 10 a CRT.
【0007】検出器1は図示しない試料から放出された
2次電子あるいは反射電子を検出するものであり、その
出力は増幅器2で増幅されて、ゲイン調整回路3に入力
される。ゲイン調整回路3は制御装置8により指示され
たゲインで検出信号を増幅するものであり、例えばD/
A変換回路を用いた乗算回路により構成される。ゲイン
調整回路3の出力は、直流レベル調整回路4に入力され
、制御装置8により指示された直流レベルが与えられる
。この直流レベル調整回路4もD/A変換回路で構成す
ることができる。直流レベル調整回路4の出力はCRT
10に供給されて表示されると共に、信号処理回路5に
おいて所定の信号処理が施されてA/D変換回路6によ
りデジタル化されてフレームメモリ7に書き込まれる。
制御装置8は、基準ヒストグラムテーブル9を備え、後
述する処理を行ってゲイン調整回路3に与えるゲイン及
び直流レベル調整回路4に与える直流レベルを求めるも
のであり、マイクロプロセッサにより構成される。基準
ヒストグラムテーブル9は、種々の基準画像に対するヒ
ストグラムのパターンと、ゲイン及び直流レベルを設定
するために用いるパラメータが書き込まれているテーブ
ルである。A detector 1 detects secondary electrons or reflected electrons emitted from a sample (not shown), and its output is amplified by an amplifier 2 and input to a gain adjustment circuit 3. The gain adjustment circuit 3 amplifies the detection signal with a gain instructed by the control device 8, and is for example a D/
It is composed of a multiplication circuit using an A conversion circuit. The output of the gain adjustment circuit 3 is input to a DC level adjustment circuit 4, and is given a DC level instructed by a control device 8. This DC level adjustment circuit 4 can also be constructed from a D/A conversion circuit. The output of the DC level adjustment circuit 4 is a CRT.
The signal is supplied to the signal processing circuit 10 and displayed, and is also subjected to predetermined signal processing in the signal processing circuit 5, digitized by the A/D conversion circuit 6, and written into the frame memory 7. The control device 8 includes a reference histogram table 9, performs processing to be described later to obtain a gain to be applied to the gain adjustment circuit 3, and a DC level to be applied to the DC level adjustment circuit 4, and is configured by a microprocessor. The reference histogram table 9 is a table in which histogram patterns for various reference images and parameters used for setting gains and DC levels are written.
【0008】その例を図2に示す。なお、図2では画素
は8ビットで 256階調にデジタル化されるものとす
る。
図2Aは図3Aに示すような繊維状のパターン11と背
景12とを有する基準画像に対する基準ヒストグラムの
パターンであり、直流レベル及びゲインを設定するため
のパラメータV0,V1,V2 が定められている。図
2AにおいてはV0 は高輝度側のピーク位置に設定さ
れ、この輝度に対応する信号電圧が直流レベルとして採
用される。V1 は二つのピークの間の画素数が極小と
なる位置に設定され、またV2 は、その画素数が高輝
度側のピーク位置の画素数の一定割合の画素数を有する
輝度の位置に設定され、V1,V2 の位置に対応する
信号電圧がそれぞれ上記のVMIN,VMAX として
採用され、上記の (1)式によりゲイン調整回路3に
与えるゲインが求められる。
これによればゲイン及び直流レベルは、図3Aの背景1
2に対応するピーク13は除かれて観察したい画像パタ
ーン11のみに関して設定されるので、表示画像の輝度
及びコントラストを適切に設定することができる。An example is shown in FIG. In FIG. 2, it is assumed that pixels are digitized with 8 bits and 256 gradations. FIG. 2A is a reference histogram pattern for a reference image having a fibrous pattern 11 and a background 12 as shown in FIG. 3A, and parameters V0, V1, and V2 for setting the DC level and gain are determined. . In FIG. 2A, V0 is set at the peak position on the high brightness side, and the signal voltage corresponding to this brightness is adopted as the DC level. V1 is set at the position where the number of pixels between the two peaks is minimum, and V2 is set at the position where the number of pixels is a certain percentage of the number of pixels at the peak position on the high brightness side. , V1, V2 are respectively adopted as the above VMIN, VMAX, and the gain given to the gain adjustment circuit 3 is determined by the above equation (1). According to this, the gain and DC level are
Since the peak 13 corresponding to 2 is removed and only the image pattern 11 to be observed is set, the brightness and contrast of the displayed image can be appropriately set.
【0009】図2Bは図3Bに示すように比較的小さな
パターンが画面全体にほぼ均等に分布している基準画像
に対する基準ヒストグラムのパターンであり、直流レベ
ルを設定するためのパラメータであるV0 はピーク位
置に設定され、ゲインを設定するためのパラメータであ
るV1,V2 は、ピーク位置の画素数の一定割合だけ
の画素数を有する輝度の位置、あるいはピークの両側の
所定の画素数を有する輝度の位置に設定されている。同
様に図2Cは、図3に示すように、例えばシリコン基板
上のレジストパターンのようなストライプパターンを有
する基準画像に対する基準ヒストグラムのパターンであ
り、直流レベルを設定するためのパラメータであるV0
は二つのピークの間の画素数が極小となる位置に設定
され、ゲインを設定するためのパラメータであるV1,
V2 はそれぞれピーク位置の画素数の一定割合だけの
画素数を有する輝度の位置、あるいは二つのピークの外
側の所定の画素数を有する輝度の位置に設定されている
。以上3種類の基準ヒストグラムについて説明したが、
より多くの基準ヒストグラムを定めることができること
は当然であり、またパラメータV0,V1,V2 の位
置をテーブルに記述する方法は必要に応じて適宜定める
ことができる。例えば、後述するところから明らかなよ
うに、パラメータとしてV0,V1,V2 の位置を求
めるための処理の手順を記述しておくことができる。ま
た、例えば塵の付着等によるノイズ成分はヒストグラム
上では高輝度側に比較的低いピークとして表れるので、
そのパターンをも考慮して基準ヒストグラムを作成する
ことができることも明らかである。FIG. 2B is a reference histogram pattern for a reference image in which relatively small patterns are distributed almost evenly over the entire screen as shown in FIG. 3B, and V0, which is a parameter for setting the DC level, is at the peak. The parameters V1 and V2 for setting the gain are set at the position of the luminance having a number of pixels equal to a certain percentage of the number of pixels at the peak position, or at the position of the luminance having a predetermined number of pixels on both sides of the peak. set in position. Similarly, FIG. 2C is a reference histogram pattern for a reference image having a stripe pattern, such as a resist pattern on a silicon substrate, as shown in FIG. 3, and is a parameter for setting the DC level V0.
is set at the position where the number of pixels between the two peaks is minimum, and V1, which is a parameter for setting the gain,
V2 is set at a luminance position having a number of pixels equal to a certain percentage of the number of pixels at the peak position, or at a luminance position having a predetermined number of pixels outside the two peaks. Having explained the three types of reference histograms above,
It goes without saying that more reference histograms can be defined, and the method of describing the positions of the parameters V0, V1, and V2 in the table can be determined as needed. For example, as will be clear from what will be described later, a processing procedure for determining the positions of V0, V1, and V2 as parameters can be described. In addition, noise components due to dust adhesion, for example, appear as relatively low peaks on the high brightness side on the histogram.
It is also clear that the reference histogram can be created taking this pattern into account as well.
【0010】次に制御装置8の動作について図4のフロ
ーチャートを参照して説明する。Next, the operation of the control device 8 will be explained with reference to the flowchart shown in FIG.
【0011】制御装置8は、自動輝度/コントラスト調
整の指示が図示しないボタン等の入力装置によりなされ
ると、ゲイン調整回路3、直流レベル調整回路4にそれ
ぞれ所定のゲイン、直流レベルを指示する(S1)。例
えばゲインは1倍とし、直流レベルは0Vとする。これ
によりゲイン調整回路3、直流レベル調整回路4はスル
ー状態になされる。ゲイン調整回路3、直流レベル調整
回路4および信号処理回路5を通過した検出信号はA/
D変換回路6で例えば8ビットにデジタル化されてフレ
ームメモリ7に書き込まれるが、フレームメモリ7への
1画面の画像データの書き込みが終了すると制御装置8
はフレームメモリ7から1画素ずつ画像データを取り込
んでヒストグラムを作成する(S2)。このヒストグラ
ムの作成に当たっては、基準ヒストグラムが作成されて
いると同じ輝度ステップで画素数を計数することは当然
である。即ち、基準ヒストグラムが256 の全ての輝
度に対してその画素数が設定されているのであれば25
6 の全ての輝度に対してその画素数を計数し、図5に
示すように所定の輝度範囲毎に対して画素数が設定され
ているのであればその所定の輝度範囲毎に画素数を計数
する。When an instruction for automatic brightness/contrast adjustment is given through an input device such as a button (not shown), the control device 8 instructs the gain adjustment circuit 3 and the DC level adjustment circuit 4 to set a predetermined gain and DC level, respectively. S1). For example, the gain is set to 1, and the DC level is set to 0V. As a result, the gain adjustment circuit 3 and the DC level adjustment circuit 4 are put into a through state. The detection signal that has passed through the gain adjustment circuit 3, DC level adjustment circuit 4 and signal processing circuit 5 is A/
The D conversion circuit 6 digitizes the data into, for example, 8 bits and writes it into the frame memory 7. When the writing of one screen of image data to the frame memory 7 is completed, the control device 8
captures image data pixel by pixel from the frame memory 7 and creates a histogram (S2). When creating this histogram, it is natural to count the number of pixels at the same brightness step as when creating the reference histogram. In other words, if the standard histogram is set for all luminances of 256, then the number of pixels is 25.
6. Count the number of pixels for all luminances, and if the number of pixels is set for each predetermined luminance range as shown in Figure 5, count the number of pixels for each predetermined luminance range. do.
【0012】ヒストグラムの作成が終了すると制御装置
8は、作成したヒストグラムの特徴を抽出し、基準ヒス
トグラムテーブル9に格納されている基準ヒストグラム
と比較し(S3)、作成したヒストグラムの特徴と最も
近似する基準ヒストグラムを最適な基準ヒストグラムと
して選択する(S4)。最適基準ヒストグラムの選択を
行う基準としては、例えばピーク数、各ピークのヒスト
グラム中の位置、各ピークの半値幅等を特徴として採用
し、比較を行えばよい。When the creation of the histogram is completed, the control device 8 extracts the features of the created histogram, compares them with the reference histogram stored in the reference histogram table 9 (S3), and determines which features are most similar to the features of the created histogram. A reference histogram is selected as the optimal reference histogram (S4). As criteria for selecting the optimal standard histogram, for example, the number of peaks, the position of each peak in the histogram, the half-width of each peak, etc. may be adopted as features, and comparisons may be made.
【0013】次に制御装置8は、基準ヒストグラムテー
ブル9から、選択した最適基準ヒストグラムに対応して
書き込まれているゲイン及び直流レベルを設定するため
のパラメータV0,V1,V2 を読み出し、作成した
ヒストグラムにおいてこれらのパラメータがどの位置に
対応するかを求めてゲイン及び直流レベルを求め(S5
)、求めたゲイン、直流レベルをそれぞれゲイン調整回
路3、直流レベル調整回路4に設定して(S6)処理を
終了する。例えばいまS4の処理により最適基準ヒスト
グラムとして図2Aに示す基準ヒストグラムが選択され
たとすると、S2の処理で作成したヒストグラムの高輝
度側のピークの輝度を求め、その輝度に対応する信号電
圧を求めて直流レベルとし、また、作成したヒストグラ
ムの二つのピークの間の画素数が極小となる輝度、及び
高輝度側ピークより高い輝度であって且つ高輝度側ピー
クの画素数の所定の割合の画素数、例えば高輝度側ピー
クの1/4の画素数を有する輝度を求め、更にこれらの
求めた輝度に対応する信号電圧を求めて上記 (1)式
によりゲイン調整回路3に与えるゲインを求める。Next, the control device 8 reads the parameters V0, V1, V2 for setting the gain and DC level written corresponding to the selected optimal reference histogram from the reference histogram table 9, and reads out the created histogram. The gain and DC level are determined by determining the positions to which these parameters correspond (S5
), the obtained gain and DC level are set in the gain adjustment circuit 3 and the DC level adjustment circuit 4, respectively (S6), and the process ends. For example, if the reference histogram shown in FIG. 2A is selected as the optimal reference histogram in the process of S4, the brightness of the peak on the high brightness side of the histogram created in the process of S2 is determined, and the signal voltage corresponding to that brightness is determined. DC level, and the brightness at which the number of pixels between the two peaks of the created histogram is minimum, and the number of pixels that is higher than the high brightness side peak and is a predetermined ratio of the number of pixels of the high brightness side peak. For example, the brightness having 1/4 the number of pixels of the high brightness peak is determined, and the signal voltages corresponding to these determined brightnesses are determined, and the gain given to the gain adjustment circuit 3 is determined using the above equation (1).
【0014】以上の処理が終了すると、ゲイン調整回路
3、直流レベル調整回路4にはそれぞれ試料の画像に最
適なゲイン、直流レベルが与えられるので、CRT10
には良好な輝度/コントラストを有する画像が表示され
る。なお、基準ヒストグラムテーブル9に多数の基準ヒ
ストグラムが格納される場合には、図4のS4の処理に
おいて最適基準ヒストグラムとして二つの基準ヒストグ
ラムが選択される可能性があるが、この場合には基準ヒ
ストグラムとの類似度により作成したヒストグラムに係
数を与え、二つの基準ヒストグラムの双方の特徴を取り
入れてゲイン及び直流レベルの設定を行うようにすれば
よい。When the above processing is completed, the gain adjustment circuit 3 and the DC level adjustment circuit 4 are respectively given the optimum gain and DC level for the sample image, so that the CRT 10
An image with good brightness/contrast is displayed. Note that if a large number of reference histograms are stored in the reference histogram table 9, two reference histograms may be selected as the optimal reference histograms in the process of S4 in FIG. A coefficient may be given to the histogram created based on the degree of similarity between the two reference histograms, and the gain and DC level may be set by incorporating the characteristics of both reference histograms.
【0015】以上、本発明の一実施例について説明した
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形が可能である。例えば上記実施例ではデジタル
化した画像データを一旦フレームメモリ7に書き込むよ
うにしたが、フレームメモリ7を用いることなく、デジ
タル化した画像データを順次制御装置8に入力させてヒ
ストグラムの作成を行うことも可能である。Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible. For example, in the above embodiment, the digitized image data is once written into the frame memory 7, but the histogram can be created by sequentially inputting the digitized image data to the control device 8 without using the frame memory 7. is also possible.
【0016】[0016]
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、ユーザの好みに合う輝度、コントラストを予
め基準ヒストグラムに書き込んでおくことができるので
、測定時に同じ輝度、コントラストで画像を観察するこ
とができる。また、画像中に局所的に高輝度もしくは低
輝度の部分がある場合にも基準ヒストグラムに基づいて
輝度、コントラストは画像中の必要な部分に関して設定
されるので、常に観察画像に最適な輝度、コントラスト
を有する画像を得ることができる。[Effects of the Invention] As is clear from the above description, according to the present invention, since the brightness and contrast that suit the user's preference can be written in advance in the reference histogram, images with the same brightness and contrast can be displayed at the time of measurement. can be observed. In addition, even if there are locally high or low brightness areas in the image, the brightness and contrast are set for the necessary parts of the image based on the reference histogram, so the brightness and contrast are always optimal for the observed image. It is possible to obtain an image with .
【図1】 本発明の一実施例の構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.
【図2】 基準ヒストグラムを説明するための図であ
る。FIG. 2 is a diagram for explaining a reference histogram.
【図3】 図2の基準ヒストグラムに対応する画像の
例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing an example of an image corresponding to the reference histogram of FIG. 2;
【図4】 制御装置の処理を示すフローチャートであ
る。FIG. 4 is a flowchart showing the processing of the control device.
【図5】 ヒストグラムの作成を説明するための図で
ある。FIG. 5 is a diagram for explaining creation of a histogram.
1…検出器、2…増幅器、3…ゲイン調整回路、4…直
流レベル調整回路、5…信号処理回路、6…A/D変換
回路、7…フレームメモリ、8…制御装置、9…基準ヒ
ストグラムテーブル、10…CRT。DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...Detector, 2...Amplifier, 3...Gain adjustment circuit, 4...DC level adjustment circuit, 5...Signal processing circuit, 6...A/D conversion circuit, 7...Frame memory, 8...Control device, 9...Reference histogram Table, 10...CRT.
Claims (1)
もしくは反射電子検出信号に基づいて輝度に対する画素
数のヒストグラムを作成し、当該ヒストグラムと予め定
められた複数の基準ヒストグラムとを比較して最も形態
の近似する基準ヒストグラムを選択し、当該選択された
基準ヒストグラムに基づいて前記試料から放出される2
次電子検出信号もしくは反射電子検出信号の輝度及びコ
ントラストを定めることを特徴とする電子顕微鏡におけ
る自動輝度/コントラスト調整方式。Claim 1: Create a histogram of the number of pixels with respect to brightness based on the secondary electron detection signal or backscattered electron detection signal emitted from the sample, and compare the histogram with a plurality of predetermined reference histograms to find the most A reference histogram having a similar morphology is selected, and the amount of 2 emitted from the sample is determined based on the selected reference histogram.
An automatic brightness/contrast adjustment method for an electron microscope, characterized by determining the brightness and contrast of a secondary electron detection signal or a backscattered electron detection signal.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3096678A JPH04328234A (en) | 1991-04-26 | 1991-04-26 | Automatic brightness/contrast adjusting system of electron microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3096678A JPH04328234A (en) | 1991-04-26 | 1991-04-26 | Automatic brightness/contrast adjusting system of electron microscope |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04328234A true JPH04328234A (en) | 1992-11-17 |
Family
ID=14171459
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3096678A Withdrawn JPH04328234A (en) | 1991-04-26 | 1991-04-26 | Automatic brightness/contrast adjusting system of electron microscope |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04328234A (en) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002091416A (en) * | 2000-09-19 | 2002-03-27 | Shimadzu Corp | Image adjustment device |
JP2007080670A (en) * | 2005-09-14 | 2007-03-29 | Hitachi High-Technologies Corp | Scanning electron microscope and image signal processing method |
JP2007329081A (en) * | 2006-06-09 | 2007-12-20 | Hitachi High-Technologies Corp | Charged particle beam apparatus and program for controlling the same |
US9053904B2 (en) | 2012-09-05 | 2015-06-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image quality adjusting method, non-transitory computer-readable recording medium, and electron microscope |
JP2015132916A (en) * | 2014-01-10 | 2015-07-23 | 富士通株式会社 | Device control system, device control method, and device control program |
JP2022155360A (en) * | 2021-03-30 | 2022-10-13 | Tdk株式会社 | Electron microscope adjustment method |
JP2023068788A (en) * | 2021-11-04 | 2023-05-18 | 日本電子株式会社 | Scanning electron microscope and brightness adjustment method |
KR20230162656A (en) | 2021-03-30 | 2023-11-28 | 타스밋 가부시키가이샤 | How to create an image of a pattern on a workpiece |
-
1991
- 1991-04-26 JP JP3096678A patent/JPH04328234A/en not_active Withdrawn
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002091416A (en) * | 2000-09-19 | 2002-03-27 | Shimadzu Corp | Image adjustment device |
JP2007080670A (en) * | 2005-09-14 | 2007-03-29 | Hitachi High-Technologies Corp | Scanning electron microscope and image signal processing method |
US8362426B2 (en) | 2005-09-14 | 2013-01-29 | Hitachi High-Technologies Corporation | Scanning electron microscope and image signal processing method |
JP2007329081A (en) * | 2006-06-09 | 2007-12-20 | Hitachi High-Technologies Corp | Charged particle beam apparatus and program for controlling the same |
US9053904B2 (en) | 2012-09-05 | 2015-06-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image quality adjusting method, non-transitory computer-readable recording medium, and electron microscope |
JP2015132916A (en) * | 2014-01-10 | 2015-07-23 | 富士通株式会社 | Device control system, device control method, and device control program |
JP2022155360A (en) * | 2021-03-30 | 2022-10-13 | Tdk株式会社 | Electron microscope adjustment method |
KR20230162656A (en) | 2021-03-30 | 2023-11-28 | 타스밋 가부시키가이샤 | How to create an image of a pattern on a workpiece |
JP2023068788A (en) * | 2021-11-04 | 2023-05-18 | 日本電子株式会社 | Scanning electron microscope and brightness adjustment method |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2889078B2 (en) | Method and apparatus for detecting and calibrating display characteristics | |
USRE41454E1 (en) | Camera having an adaptive gain control | |
US6297859B1 (en) | Opto sensor signal detector | |
US7778478B2 (en) | Image processing device, image processing program, image processing method, and electronic camera for controlling degree of noise reduction in image data | |
US6249601B1 (en) | Method for determining color of illuminant and apparatus therefor | |
US20020109789A1 (en) | Image display device with controlled image quality | |
JPH04328234A (en) | Automatic brightness/contrast adjusting system of electron microscope | |
US5699127A (en) | Automatic brightness limiter automatic control circuit, contrast limiter control circuit, luminance/color difference signal processor and video display apparatus | |
US6671003B1 (en) | Automated calibration in a projection display apparatus | |
JP3657497B2 (en) | Image display method | |
US6392612B1 (en) | Opto sensor signal current detector | |
JPH11296680A (en) | Image processing apparatus having a function of improving contrast and charged particle beam apparatus | |
US6937288B2 (en) | Beam current limiting circuit for use in a video projector | |
JPS61105962A (en) | Gradation correcting device of still picture | |
US6556254B1 (en) | Black and white level stabilization | |
JP2839732B2 (en) | Automatic brightness / contrast adjuster for scanning electron microscope | |
JP4085370B2 (en) | Image correction method and image correction apparatus | |
JPH07240166A (en) | electronic microscope | |
JPH10268832A (en) | Video display device | |
KR200152354Y1 (en) | An apparatus for controlling brightness/contrast in a monitor | |
JPH04340875A (en) | Image pickup device | |
JP3216163B2 (en) | X-ray television equipment | |
JPH06269015A (en) | Image correction device | |
JP2002319366A (en) | Automatic image adjustment function for electron microscopes, etc. | |
KR19980014689A (en) | Gamma correction device using histogram |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980711 |