JPH04320946A - Air tank type heat shock tester - Google Patents

Air tank type heat shock tester

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JPH04320946A
JPH04320946A JP11677691A JP11677691A JPH04320946A JP H04320946 A JPH04320946 A JP H04320946A JP 11677691 A JP11677691 A JP 11677691A JP 11677691 A JP11677691 A JP 11677691A JP H04320946 A JPH04320946 A JP H04320946A
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JP
Japan
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temperature
regenerator
cooler
low
chamber
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JP11677691A
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Takashi Tanaka
隆 田中
Rikiya Fujiwara
藤原 力弥
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Daikin Industries Ltd
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Daikin Industries Ltd
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Abstract

PURPOSE:To easily and simply hold the set temp. of low temp. exposure in a heat shock test by a method wherein the measured value of a temp. sensor is compared with the set temp. value of low temp. exposure and, when the measured value is low, a regenerator damper is operated to reduce the operation frequency of a cooler. CONSTITUTION:An apparatus is divided into a high temp. chamber 2, a test chamber 1 and a low temp. chamber 3 and air flows by appropriately controlling the opening and closing of dampers 4-9 and a regenerator damper 20 constitutes an avoiding means. A low temp. exposure set value is compared with the temp. measured value in the test chamber 1 and, when the set value is lower than the measured value, a cooler 16 is operated as it is to automatically cool the test chamber 1. When the set value is higher than the measured value, the damper 20 is closed and the cooling heat formed in the cooler 16 flows to the test chamber 16 and returns to the cooler 16 without passing through a regenerator 18. When the measured value is still low even when the operation frequency of the cooler 16 is reduced to the min. frequency in this state, a command is issued to open the damper 20 to hold required set temp.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は気槽式冷熱衝撃試験装置
、特に低温さらし時の温度制御を低コストで実現する上
記気槽式冷熱衝撃試験装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an air chamber thermal shock testing apparatus, and more particularly to the air chamber thermal shock testing apparatus which realizes temperature control during low-temperature exposure at low cost.

【0002】0002

【従来の技術】気槽式冷熱衝撃試験装置は、電気・電子
部品等の熱衝撃に対する特性を試験する装置として、通
常、試料である電気・電子部品等を入れるテスト室と、
高温空気を生成する高温室及び低温空気を生成する低温
室とを備えて構成されており、試験は、高温空気を高温
室からテスト室に循環させつつ行う高温さらしと、低温
空気を低温室からテスト室に循環させつつ行う低温さら
しとを交互にくり返して行われる。
[Prior Art] An air tank type thermal shock test device is used to test the characteristics of electrical and electronic components against thermal shock.
It consists of a high-temperature chamber that generates high-temperature air and a cold chamber that generates low-temperature air.The test consists of high-temperature exposure while circulating high-temperature air from the high-temperature chamber to the test chamber, and high-temperature exposure while circulating low-temperature air from the low-temperature chamber. Low-temperature exposure and low-temperature exposure are repeated while being circulated through the test chamber.

【0003】このとき、高温さらしの温度は例えば10
0℃であり、低温さらしの温度は例えば−50℃である
。ところでこのように極端に温度の異なる高温さらしと
低温さらしとをくり返す場合、試験の効率化のためには
、例えば高温さらしから低温さらしに切換えたとき、そ
の初期の段階でテスト室に多大の冷却熱量を一気に送り
込んで、それまで高温であったテスト室を急速に冷却す
る必要がある。
[0003] At this time, the temperature of high temperature exposure is, for example, 10
0°C, and the temperature of low-temperature exposure is, for example, -50°C. By the way, when repeating high-temperature exposure and low-temperature exposure at extremely different temperatures like this, in order to improve the efficiency of the test, for example, when switching from high-temperature exposure to low-temperature exposure, it is necessary to spend a lot of time in the test room at the initial stage. It is necessary to rapidly cool down the test chamber, which was previously at a high temperature, by sending a large amount of cooling heat all at once.

【0004】そこでそのための手段として、従来、低温
室に冷却器と共に蓄冷器を設けておき、高温さらしの間
、冷却器の冷却熱を蓄冷器に蓄冷し、低温さらし切換え
と同時に、この蓄冷冷却熱を冷却器生成の冷却熱と共に
テスト室に送給することが行われていた。
[0004] As a means for this purpose, conventionally, a cold storage device is installed together with a cooler in a low temperature room, and during high temperature exposure, the cooling heat of the cooler is stored in the cold storage device, and at the same time as the low temperature exposure is switched, this cold storage cooling is carried out. The heat was sent to the test chamber along with the cooling heat generated by the cooler.

【0005】しかし、この場合、蓄冷器の蓄冷能力には
限度があり、最初のうちは蓄冷冷却熱を放熱してテスト
室冷却に寄与していても、テスト室が所要の設定低温さ
らし温度になるまでに、全ての蓄冷冷却熱を放熱し尽く
してしまうのが通例で、その後はテスト室冷却に対する
逆負荷となり、却ってテスト室を設定温度まで冷却する
際の遅延要因ともなっていた。そのため、本出願人は、
上述の問題について検討を行い、その結果、蓄冷器が蓄
冷冷却熱を放熱しおわり、あるいは放熱終了寸前になる
と、該蓄冷器をテスト室と低温室とを循環する低温気流
から回避させる回避手段を、低温室中に設けることが効
果的であることを知見し、さきに提案した。(特願平2
−50418号)この回避手段の具体例としては蓄冷器
の空気流入を開閉する蓄冷器ダンパが主に適用されてお
り、該蓄冷器ダンパが作動して蓄冷器流入側を閉鎖する
と、テスト室から低温室に戻ってきた前記低温空気が、
蓄冷器を経て冷却器に流れる気流から、蓄冷器をバイパ
スして直接冷却器に戻る気流に切換わるようになってい
る。この結果、従来の低温さらし設定温度に到達するま
での間における前記の如き逆負荷はなくなり、高温さら
しから切換えたとき、極めて短時間で低温さらし設定温
度に到達することができ、冷熱衝撃試験の効率化を果た
すことができた。
However, in this case, there is a limit to the cold storage capacity of the regenerator, and even if the cool storage cooling heat is initially radiated and contributes to cooling the test chamber, the test chamber may not reach the required set low temperature exposure temperature. By then, all of the stored cooling heat has been radiated, and after that it becomes a negative load on the test room cooling, and even causes a delay in cooling the test room to the set temperature. Therefore, the applicant:
After considering the above-mentioned problems, we found that, when the regenerator has finished dissipating the stored cooling heat or is about to dissipate the heat, an avoidance method has been developed to avoid the regenerator from the low-temperature airflow circulating between the test chamber and the cold room. , we found that it is effective to install it in a cold room and proposed it earlier. (Special application Hei 2
-50418) As a specific example of this avoidance means, a regenerator damper that opens and closes the air inflow of the regenerator is mainly applied, and when the regenerator damper operates and closes the inlet side of the regenerator, the test chamber The low temperature air that returned to the cold room
The airflow is switched from flowing to the cooler via the regenerator to airflow bypassing the regenerator and directly returning to the cooler. As a result, the above-mentioned reverse load is eliminated until the conventional low-temperature exposure setting temperature is reached, and when switching from high-temperature exposure, the low-temperature exposure setting temperature can be reached in an extremely short period of time, allowing for thermal shock testing. We were able to achieve efficiency.

【0006】ところが、低温さらしについては、さらに
別の問題として、設定温度に到達したテスト室内の温度
をいかに保持コントロールするかという問題が生じた。 前記本出願人のさきに提案した冷熱衝撃試験装置にして
も、前記回避手段を用いてテスト室を短時間で効率よく
設定温度まで冷却しても、そのままにしておけば、その
後、テスト室の温度は冷却器の作用により低下する一方
で、正常な低温さらし試験ができないという事態に至る
。ところで、従来、低温さらし設定温度保持コントロー
ル手段については種々のものが提案されていて、例えば
、逆負荷ヒータによるもの、冷却器に付設される冷凍機
の容量制御によるもの、あるいは特開昭62−1252
33号公報に記載される如く冷凍機のホットガスバイパ
スにより冷却器の蒸発温度をコントロールして設定温度
を維持するもの等がある。そこで前記本出願人が提案し
た冷熱衝撃試験装置においても、前述の問題を解消する
ためにはそれらの温度保持コントロール手段のいずれか
を備える必要があった。
However, regarding low-temperature exposure, another problem arose: how to maintain and control the temperature in the test chamber once it reached the set temperature. Even with the thermal shock test device proposed earlier by the present applicant, even if the test chamber is efficiently cooled down to the set temperature in a short period of time using the avoidance means, if left as is, the test chamber will Although the temperature was lowered by the action of the cooler, a normal low-temperature exposure test was no longer possible. By the way, various types of control means for maintaining the set temperature during low-temperature exposure have been proposed, such as one using a reverse load heater, one using capacity control of a refrigerator attached to a cooler, and the method described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 1983-1989. 1252
As described in Japanese Patent Application No. 33, there is a system that maintains a set temperature by controlling the evaporation temperature of the cooler using a hot gas bypass of the refrigerator. Therefore, in order to solve the above-mentioned problem, the thermal shock test apparatus proposed by the present applicant also needs to be equipped with one of these temperature maintenance control means.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記挙示した
各設定温度保持手段は夫々、例えば逆負荷ヒータや冷凍
機の容量制御によるものは、簡便で、かつ省エネルギー
的効果もあって好ましい反面、設定温度によってはコン
トロールできない不都合があるとか、特に容量制御によ
る場合は、冷凍機の運転周波数を落としても冷却器の発
生する冷却熱の温度を上昇させるには限度があり、設定
温度が−30℃等、比較的高温の場合は、コントロール
が困難であるなどの欠点があった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, each of the above-mentioned set temperature holding means, for example, one using a reverse load heater or the capacity control of a refrigerator is preferable because it is simple and has an energy saving effect. Depending on the set temperature, there may be an inconvenience in not being able to control it, or especially when capacity control is used, there is a limit to increasing the temperature of the cooling heat generated by the cooler even if the operating frequency of the refrigerator is lowered, and the set temperature may be -30 When the temperature is relatively high, such as ℃, it is difficult to control.

【0008】一方、ホットガスバイパスによるものは、
いかなる設定温度においても保持コントロールすること
は可能であるが、ホットガスバイパスのための配管を冷
却器に対して設け、さらに該配管に対してホットガスを
適宜流通可能とする電磁弁を取り付けなければならず、
電磁弁が高価なこともあって、装置全体のコストアップ
となる問題があった。
On the other hand, the hot gas bypass method
It is possible to maintain and control the temperature at any set temperature, but unless piping for hot gas bypass is provided to the cooler and a solenoid valve is installed to allow hot gas to flow appropriately to the piping. Not,
Since the solenoid valve is expensive, there is a problem in that the cost of the entire device increases.

【0009】本発明は以上のような実状に鑑み、特に蓄
冷器のダンパを開閉させることを見出すことにより前記
気流回避手段を備えた気槽式冷熱衝撃試験装置における
低温さらしの設定温度を安価に、しかもあらゆる設定温
度に対して容易、かつ簡単に保持コントロールせしめる
ことを目的とするものである。
In view of the above-mentioned circumstances, the present invention aims to reduce the set temperature for low-temperature exposure in an air tank type thermal shock testing apparatus equipped with the air flow avoidance means by specifically opening and closing the damper of the regenerator. Moreover, the purpose is to easily and simply control the holding of any set temperature.

【0010】0010

【課題を解決するための手段】即ち、上記目的に適合す
る本発明の特徴は、低温室と高温室及びテスト室とを有
し、前記低温室内に冷却器を配置すると共に、この冷却
器に対し前記低温室を流れる気流の上流側に蓄冷器を配
置し、高温さらし時蓄冷可能とする一方、前記蓄冷器を
、低温さらし時に、前記低温室を流れる気流に対し回避
させる回避手段を設けると共に、前記蓄冷器で蓄熱した
冷却熱量の放熱終了又は終了近くを検出して出力する検
出手段と、低温さらし時、前記検出手段からの出力によ
り、前記回避手段を動作させ、前記低温室を流れる気流
を前記蓄冷器をバイパスする気流に切換えるコントロー
ラとを備えてなる気槽式冷熱衝撃試験装置において、前
記冷却器をインバータ制御可能なものとし、かつ前記テ
スト室内に温度センサーを配置すると共に、前記温度セ
ンサーの計測値と低温さらしの設定温度値とを比較する
手段と、該比較手段による比較の結果、計測値の方が設
定温度値よりも低いとき前記回避手段を動作させた後、
前記冷却器の運転周波数を減少させる手段と、該減少手
段により前記冷却器の運転周波数を最低周波数に減少さ
せても前記計測値がまだ前記設定温度値よりも低いとき
前記回避手段の動作を停止させる手段とを前記コントロ
ーラに具備せしめたことにある。
[Means for Solving the Problems] That is, the features of the present invention that meet the above object include a low temperature chamber, a high temperature chamber, and a test chamber, and a cooler is disposed in the low temperature chamber. On the other hand, a regenerator is arranged on the upstream side of the airflow flowing through the cold room to enable cold storage when exposed to high temperatures, and an avoidance means is provided to avoid the regenerator from the airflow flowing through the cold room when exposed to low temperatures. , a detection means for detecting and outputting the end or near end of heat radiation of the amount of cooling heat stored in the regenerator, and when exposed to low temperature, the output from the detection means operates the avoidance means, and the airflow flowing through the cold room is activated. and a controller for switching the airflow to bypass the regenerator, the cooler is capable of being controlled by an inverter, and a temperature sensor is arranged in the test chamber, and the temperature means for comparing the measured value of the sensor and a set temperature value for low-temperature exposure, and after operating the avoidance means when the measured value is lower than the set temperature value as a result of the comparison by the comparing means;
means for reducing the operating frequency of the cooler; and stopping the operation of the avoidance means when the measured value is still lower than the set temperature value even after the reducing means reduces the operating frequency of the cooler to the lowest frequency. The present invention is characterized in that the controller is provided with means for causing the above-mentioned.

【0011】[0011]

【作用】本発明によれば、設定温度に到達したテスト室
の温度は、以下のようにして一定温度に保たれる。即ち
、コントローラは、常に温度センサーから送られてくる
テスト室の温度と設定温度との比較を行っていて、その
結果、実際の温度が設定温度に比し高い場合は、回避手
段を作動させたまま、冷却器を現状で運転続行させて、
テスト室内の温度低下を図る。
[Operation] According to the present invention, the temperature of the test chamber which has reached the set temperature is maintained at a constant temperature in the following manner. That is, the controller constantly compares the test room temperature sent from the temperature sensor with the set temperature, and if the actual temperature is higher than the set temperature, it activates the avoidance means. Let the cooler continue to operate as it is,
Try to lower the temperature in the test room.

【0012】一方、比較した結果、テスト室の実際の温
度が設定温度以下の場合であれば、コントローラは冷却
器を作動させる冷凍機に対して、運転周波数の減少を指
示し、これによって、冷却器の生成冷却熱量を減少させ
、テスト室内の温度を上昇させる。ところが、前記運転
周波数を最低周波数に下げてもまだテスト室の温度が設
定値以下のときがある。このとき前記コントローラは、
前記回避手段の作動を停止させ、蓄冷器を低温室とテス
ト室とを循環する気流の中に位置させる。すると蓄冷器
はテスト室を冷却する際の逆負荷となるため、テスト室
の温度は再度上昇することとなる。本発明における低温
さらし時の設定温度保持コントロールは、以上のように
冷却器及び回避手段を適宜作動させることで行われる。
On the other hand, as a result of the comparison, if the actual temperature in the test chamber is lower than the set temperature, the controller instructs the refrigerator that operates the cooler to reduce the operating frequency, thereby reducing the cooling frequency. This reduces the amount of cooling heat generated by the chamber and increases the temperature inside the test chamber. However, even if the operating frequency is lowered to the lowest frequency, the temperature in the test chamber may still be below the set value. At this time, the controller
The avoidance means is deactivated and the regenerator is placed in the airflow circulating between the cold room and the test chamber. Then, since the regenerator is subjected to a reverse load when cooling the test chamber, the temperature of the test chamber will rise again. The set temperature maintenance control during low temperature exposure in the present invention is performed by appropriately operating the cooler and avoidance means as described above.

【0013】[0013]

【実施例】以下、さらに本発明の実施例を図面にもとづ
いて説明する。図1は本発明に係る気槽式冷熱衝撃試験
装置の1例を示す断面図で、ハウジング(HG)に囲ま
れた内部は、上部から高温室(2)、テスト室(1)及
び低温室(3)の3室に分かれている。そして、各室(
1),(2),(3)は断熱隔壁(W),(W)により
区画されているが、各断熱隔壁(W),(W)には、開
閉ダンパ(4),(5)を備えた供給口(10),(1
1)、及び開閉ダンパ(6),(7)と仕切ダンパ(8
),(9)を備えた吹出口(12),(13)が夫々設
けられていて、これらのダンパ(4)〜(9)の適宜開
閉制御により、高温室(2)とテスト室(1)、または
低温室(3)とテスト室(1)との間の空気の流通が可
能となっている(図5,図4参照)。
Embodiments Hereinafter, embodiments of the present invention will be further described based on the drawings. FIG. 1 is a sectional view showing an example of the air tank type thermal shock test apparatus according to the present invention. It is divided into three rooms (3). And each room (
1), (2), and (3) are divided by heat insulating partition walls (W) and (W), and each heat insulating partition wall (W) and (W) is equipped with an opening/closing damper (4) and (5). Supply ports (10), (1
1), opening/closing dampers (6), (7), and partition dampers (8).
), (9) are provided, and by appropriately opening and closing these dampers (4) to (9), the high temperature chamber (2) and the test chamber (1 ), or air can circulate between the low temperature chamber (3) and the test chamber (1) (see FIGS. 5 and 4).

【0014】しかして前記高温室(2)は、内部に加熱
器(14)と加熱ファン(15)が設置されており、例
えば100℃程度の加熱空気を生成し、該加熱空気を前
記吹出口(12)と供給口(10)を介してテスト室(
1)に循環供給可能である。なお、高温室(2)外部に
位置する(M1 )は、前記加熱ファン(15)を回転
させるための駆動モータである。
[0014] The high-temperature room (2) has a heater (14) and a heating fan (15) installed therein, and generates heated air of, for example, about 100°C, and directs the heated air to the air outlet. (12) and the test chamber (through the supply port (10)).
1) Can be supplied in circulation. Note that (M1) located outside the high temperature room (2) is a drive motor for rotating the heating fan (15).

【0015】一方、低温室(3)内部には、冷却器(1
6)と冷却ファン(17)及び蓄冷器(18)が配置さ
れている。この場合も低温室(3)外部に位置する(M
2 )は、前記冷却ファン(17)を回転させる駆動モ
ータである。前記冷却器(16)は、室外に設置された
容量制御可能な冷凍機(図示しない)に接続されたもの
で、例えば冷凍機の圧縮機を30Hz〜100Hzの範
囲でインバータ制御することにより、その出力温度を例
えば−40℃〜−60℃程度に変更可能である。また、
前記蓄冷器(18)は、低温室(3)の側壁上端から斜
めに吊されたような状態で低温室(3)内に固定されて
おり、冷却器(16)と対面する側が空気流入側(18
A)、その反対側が空気流出側(18B)となっている
。この蓄冷器(18)については、さらに前記空気流入
側(18A)の上端部分が閉鎖板(19)により閉鎖さ
れ、その下方は、空気流入側(18A)の下端を支点に
して回動する断面逆くの字状の蓄冷器ダンパ(20)に
より開閉されるようになっている。
On the other hand, inside the cold room (3), there is a cooler (1).
6), a cooling fan (17), and a regenerator (18) are arranged. In this case too, it is located outside the cold room (3) (M
2) is a drive motor that rotates the cooling fan (17). The cooler (16) is connected to a capacity-controllable refrigerator (not shown) installed outdoors. The output temperature can be changed to, for example, about -40°C to -60°C. Also,
The regenerator (18) is fixed in the cold room (3) in a state in which it is hung diagonally from the upper end of the side wall of the cold room (3), and the side facing the cooler (16) is the air inflow side. (18
A), the opposite side is the air outflow side (18B). Regarding this regenerator (18), the upper end portion of the air inflow side (18A) is further closed by a closing plate (19), and the lower part thereof is a cross section that rotates around the lower end of the air inflow side (18A) as a fulcrum. It is opened and closed by an inverted dogleg-shaped regenerator damper (20).

【0016】ところでかかる蓄冷器ダンパ(20)は前
記したさきの発明における回避手段を構成するものであ
り、逆くの字状に曲がったダンパ(20)の上方部分(
20A)が蓄冷器(18)の空気流入側(18A)を閉
鎖するとき、下方部分(20B)の最下端が低温室(3
)の床面に当接するようになっており、このときが回避
手段の作動時で、テスト室(1)から供給口(11)を
経て低温室(3)に戻ってくる低温気流に対して、その
流れを蓄冷器(18)をバイパスする流れとするもので
ある(図3参照)。なお、前記蓄冷器ダンパ(20)の
上方部分(20A)が蓄冷器(18)から離れ、蓄冷器
(18)の空気流入側(18A)を開放しているときは
、上方部分(20A)上端が冷却器(16)上端に当接
し、なおかつ下方部分(20B)が蓄冷器(18)の下
面に添接した状態となり(図4,図5参照)、回避手段
の作動停止時として前記供給口(11)を経て低温室(
3)に戻ってくる低温気流や、低温室(3)内を循環す
る気流を、空気流入側(18A)から空気流出側(18
B)に向かって蓄冷器(18)を通り抜け、冷却器(1
6)に戻る流れにして、蓄冷器(18)の従来通りの使
用を可能としている。
By the way, the regenerator damper (20) constitutes the avoidance means in the above-mentioned invention, and the upper part (20) of the damper (20) bent in an inverted dogleg shape (
20A) closes the air inflow side (18A) of the regenerator (18), the lowest end of the lower part (20B) closes the cold room (3
), and this is when the avoidance means is activated, against the low-temperature air flowing from the test chamber (1) through the supply port (11) and back into the cold room (3). , the flow is made to bypass the regenerator (18) (see FIG. 3). In addition, when the upper part (20A) of the regenerator damper (20) is separated from the regenerator (18) and opens the air inflow side (18A) of the regenerator (18), the upper end of the upper part (20A) comes into contact with the upper end of the cooler (16), and the lower part (20B) is in contact with the lower surface of the regenerator (18) (see FIGS. 4 and 5), and when the avoidance means stops operating, the supply port (11) and then in a cold room (
3) and the airflow circulating inside the cold room (3) from the air inflow side (18A) to the air outflow side (18A).
B), passing through the regenerator (18) and passing through the cooler (1
By returning to step 6), the regenerator (18) can be used as before.

【0017】そしてこの場合、前記蓄冷器ダンパ(20
)を利用してテスト室(1)を低温さらし設定温度まで
冷却する際の様子は次の通りであった。まず、図5は、
高温さらしを行いつつ、蓄冷を行っているときの気槽式
冷熱衝撃試験装置を示したものである。高温室(2)側
では開閉ダンパ(4),(6)及び仕切ダンパ(8)が
全て開放されていて、テスト室(1)に高温空気が送ら
れ、テスト室(1)に載置された電気・電子部品等(図
示しない)に対して高熱に対する試験がなされており、
その一方、低温室(3)側では開閉ダンパ(5),(7
)及び仕切ダンパ(9)が全て閉鎖された状態にあり、
冷却器(16)及び冷却ファン(17)が駆動されて、
冷却器(16)生成の冷却熱が低温室(3)内を循環す
ると共に、その循環気流の中に蓄冷器(18)が、蓄冷
器ダンパ(20)を開放した状態で位置していて、冷却
器(16)生成の冷却熱が蓄冷器(18)に蓄冷されて
いる。
In this case, the regenerator damper (20
) was used to expose the test chamber (1) to a low temperature and cool it down to the set temperature as follows. First, Figure 5 shows
This figure shows an air tank type thermal shock test apparatus during high temperature exposure and cold storage. On the high temperature chamber (2) side, the opening/closing dampers (4), (6) and the partition damper (8) are all open, and high temperature air is sent to the test chamber (1) and the air is placed in the test chamber (1). Electrical and electronic components (not shown) have been tested against high heat.
On the other hand, on the cold room (3) side, the opening/closing dampers (5) and (7)
) and the partition damper (9) are all in a closed state,
The cooler (16) and the cooling fan (17) are driven,
The cooling heat generated by the cooler (16) circulates within the cold room (3), and the regenerator (18) is located in the circulating airflow with the regenerator damper (20) open. Cooling heat generated by the cooler (16) is stored in the regenerator (18).

【0018】次に、高温さらし終了と共に蓄冷運転が終
わり、図4に示す如く、低温室(3)側の各ダンパ(5
),(7),(9)が開放されると、冷却器(16)の
冷却熱及び蓄冷器(18)の蓄冷冷却熱が、冷却ファン
(17)の作動と共にテスト室(1)に供給され、これ
によって今まで加熱されていたテスト室(1)が低温さ
らしを行うべき設定温度に向かい冷却される。 そしてこのとき設定温度に到達するまでに蓄冷器(18
)の蓄冷冷却熱量が全て、あるいはほとんど全て放熱し
尽くされると、前記蓄冷器ダンパ(20)が蓄冷器(1
8)側に回動して、蓄冷器(18)の空気流入側(18
A)を閉鎖し、低温室(3)とテスト室(1)の間を循
環する低温気流を蓄冷器(18)をバイパスする流れに
切り換え(図3参照)、これによって蓄冷器(18)が
逆負荷となるのを防止してテスト室(1)を効率よく設
定温度まで冷却する。なお前記蓄冷器ダンパ(20)を
以上のように作動させるについては、図1に示すように
蓄冷器(18)近傍に蓄冷器(18)の蓄冷冷却熱の有
無を検出する蓄冷器温度センサー(21)を設けると共
に、該蓄冷器(18)温度センサー(21)及び前記蓄
冷器ダンパ(20)の駆動モータ(M3 )を夫々コン
トローラ(22)に接続し、前記駆動モータ(M3 )
を前記蓄冷器温度センサー(21)の検出値にもとづき
適宜駆動させることで行っている。
Next, when the high temperature exposure ends, the cool storage operation ends, and as shown in FIG.
), (7), and (9) are opened, the cooling heat of the cooler (16) and the stored cooling heat of the regenerator (18) are supplied to the test chamber (1) along with the operation of the cooling fan (17). As a result, the test chamber (1), which has been heated up to now, is cooled to the set temperature at which low-temperature exposure should be performed. At this time, the regenerator (18
), when all or almost all of the heat is radiated, the regenerator damper (20)
8) to the air inlet side (18) of the regenerator (18).
A) is closed, and the low-temperature airflow circulating between the cold room (3) and the test chamber (1) is switched to a flow that bypasses the regenerator (18) (see Figure 3), whereby the regenerator (18) To efficiently cool a test chamber (1) to a set temperature by preventing a reverse load. In order to operate the regenerator damper (20) as described above, as shown in FIG. 21), and the regenerator (18) temperature sensor (21) and the drive motor (M3) of the regenerator damper (20) are connected to a controller (22), respectively, and the drive motor (M3)
This is performed by appropriately driving the regenerator temperature sensor (21) based on the detected value of the regenerator temperature sensor (21).

【0019】しかして本発明においては、こうして設定
温度に到達した低温さらしの温度を一定温度に保持コン
トロールするため、前記蓄冷器ダンパ(20)をその後
も活用する。ここで図1において、テスト室(1)内に
位置する(23)は、テスト室(1)内の温度を計測す
る温度センサーを示す。この温度センサー(23)の計
測値は前記コントローラ(22)に入力される。またこ
のコントローラ(22)に対しては、低温さらし設定温
度も入力されている。そしてコントローラ(22)は、
図2に示すフローチャートに従って低温さらし時の設定
温度を保持コントロール可能である。図2において、当
初、スタート時(イ)は前記蓄冷器ダンパ(20)が蓄
冷器(18)空気流入側(18A)に向かって閉じてお
り、コントローラ(22)の中では計時手段による計時
が開始される(ロ)、この計時は、以下述べる制御サイ
クルを、例えば−10秒を1カウントとして、カウント
ごとに進めるためである。
In the present invention, the regenerator damper (20) is utilized thereafter in order to maintain and control the temperature of the low-temperature exposure that has reached the set temperature at a constant temperature. In FIG. 1, (23) located inside the test chamber (1) indicates a temperature sensor that measures the temperature inside the test chamber (1). The measured value of this temperature sensor (23) is input to the controller (22). Further, the low temperature exposure setting temperature is also input to this controller (22). And the controller (22) is
The set temperature during low temperature exposure can be maintained and controlled according to the flowchart shown in FIG. In FIG. 2, initially, at the time of start (A), the regenerator damper (20) is closed toward the air inlet side (18A) of the regenerator (18), and the controller (22) is not able to measure time by the timer. This timing is started (b) in order to advance the control cycle described below by each count, for example, with -10 seconds as one count.

【0020】次に、低温さらし設定値(SP)とテスト
室(1)内の温度センサー(23)から送られてくるテ
スト室(1)内の温度計測値(MT)との比較がなされ
る(ハ)。このとき設定値(SP)が計測値(MT)よ
りも低ければ、そのまま冷却器(16)を作動させてお
く。これによってテスト室(1)内は自然と冷却され、
やがて計測値(MT)は設定値(SP)以下になる。
Next, the low temperature exposure setting value (SP) is compared with the temperature measurement value (MT) in the test chamber (1) sent from the temperature sensor (23) in the test chamber (1). (c). At this time, if the set value (SP) is lower than the measured value (MT), the cooler (16) is left in operation. As a result, the inside of the test chamber (1) is naturally cooled,
Eventually, the measured value (MT) becomes equal to or less than the set value (SP).

【0021】一方、(ハ)における比較で、設定値(S
P)が計測値(MT)以上のとき、まず前記蓄冷器ダン
パ(20)の閉鎖が確認される。もちろん今の場合は、
当初から蓄冷器ダンパ(20)が閉じており、従ってそ
のまま閉じておけばよいが、処理をくり返す過程で、開
いていたときは、ここで閉鎖される(ニ)。この蓄冷器
ダンパ(20)が閉鎖された状態は図3に示されており
、冷却器(16)で生成された冷却熱は冷却ファン(1
7)により吹出口(13)を通り、テスト室(1)を流
れて、供給口(11)から蓄冷器(18)を通り抜けず
に冷却器(16)に戻る。そしてこの状態で、冷却器(
16)を作動させるための冷凍機が、最低周波数で運転
されているか否かが調べられ(ホ)、最低周波数になっ
ていなければ、周波数を例えば10Hz減少させて(ヘ
)、冷却器(16)の生成冷却熱量の減少を図り、テス
ト室(1)の温度を上昇させた後、前記計時手段による
計時が1カウント分進んだのを確認して(ト)、1回の
制御サイクルを終え元に戻る。
On the other hand, in the comparison in (c), the set value (S
When P) is greater than or equal to the measured value (MT), it is first confirmed that the regenerator damper (20) is closed. Of course, in this case,
The regenerator damper (20) is closed from the beginning, so it can be left closed as is, but if it is open during the process of repeating the process, it will be closed at this point (d). The closed state of the regenerator damper (20) is shown in FIG. 3, and the cooling heat generated by the cooler (16) is transferred to the cooling fan (1).
7), it passes through the outlet (13), flows through the test chamber (1), and returns to the cooler (16) from the supply outlet (11) without passing through the regenerator (18). And in this state, the cooler (
It is checked whether the refrigerator for operating the cooler (16) is being operated at the lowest frequency (e), and if it is not the lowest frequency, the frequency is decreased by, for example, 10 Hz (f), and the refrigerator (16) is operated at the lowest frequency. ), and after increasing the temperature of the test chamber (1), confirming that the time measurement by the time measurement means has advanced by one count (g), and one control cycle is completed. Return to the original.

【0022】こうした制御サイクルが低温さらしの間く
り返されるため、テスト室(1)の計測値(MT)が設
定値(SP)以下である限り、前記周波数が1カウント
ごとに減少されて、テスト室(1)の温度は次第に上昇
することとなるが、前記周波数を冷凍機運転可能な最低
周波数(例えば30Hz)に下げてもなお、設定値(S
P)が計測値(MT)以上にあるとき、コントローラ(
22)はこれまで閉じていた前記蓄冷器ダンパ(20)
に対し開放指令を発する(チ)。この蓄冷器ダンパ(2
0)が開いた状態は図4に示す通りであり、冷却器(1
8)で生成した冷却熱が、冷却ファン(17)の作り出
す気流に乗って吹出口(13)からテスト室(1)に流
れ、テスト室(1)内を冷却した後、供給口(11)を
経て低温室(3)に戻ると、蓄冷器(18)を空気流入
側(18A)から流出側(18B)に通り抜け冷却器(
16)に戻る循環をくり返す。そしてこの結果、既に蓄
熱量を放熱し終わった蓄冷器(18)が、ここでは冷却
器(16)に対する逆負荷となり、テスト室(1)の冷
却温度をそれだけ上昇させることとなる。以上が図2に
示すフローチャートの説明である。低温さらしを行って
いる間、テスト室(1)内の温度は以上のフロートチャ
ートに沿った制御サイクルのくり返しによって、所期の
設定温度に保持される。
Since such a control cycle is repeated during the low temperature exposure, as long as the measured value (MT) in the test chamber (1) is below the set value (SP), the frequency is decreased by one count and the test The temperature in the chamber (1) will gradually rise, but even if the frequency is lowered to the lowest frequency at which the refrigerator can be operated (for example, 30 Hz), the set value (S
When P) is greater than or equal to the measured value (MT), the controller (
22) is the regenerator damper (20) which has been closed until now.
Issue an opening command to (H). This regenerator damper (2
0) is open as shown in Figure 4, and the cooler (1
The cooling heat generated in step 8) flows from the air outlet (13) to the test chamber (1) on the airflow generated by the cooling fan (17), cools the inside of the test chamber (1), and then flows to the supply port (11). After returning to the cold room (3), the air passes through the regenerator (18) from the air inflow side (18A) to the air outflow side (18B) and enters the cooler (
Repeat the cycle returning to step 16). As a result, the regenerator (18), which has already finished dissipating the stored heat, now becomes a reverse load on the cooler (16), increasing the cooling temperature of the test chamber (1) by that amount. The above is the explanation of the flowchart shown in FIG. During the low-temperature exposure, the temperature in the test chamber (1) is maintained at the desired set temperature by repeating the control cycle according to the above-described flow chart.

【0023】なお、以上の実施例において、特に回避手
段である蓄冷器ダンパ(20)については、蓄冷器(1
8)が低温室(3)の側壁上部から前記したように斜め
に垂下した状態で固着されている関係上、前記した如く
上方部分(20A)と下方部分(20B)とに分かれた
逆くの字形状のものを適用したが、この蓄冷器ダンパ(
20)に関しては、低温室(3)を流れる気流を蓄冷器
(18)をバイパスする気流に切換え得ることが肝要な
ことであり、従って本出願人が前記特願平2−5041
8号公報において示したように、低温室(3)内での蓄
冷器(18)の形状や設置位置に応じて蓄冷器ダンパ(
20)の形状、その動作形態も適宜変更されるものであ
る。また、これも前記公報において記載したことである
が、場合によっては蓄冷器ダンパ(20)を設けずに、
蓄冷器(18)自体を低温室(3)を流れる気流の外に
移動可能とし、これを回避手段として本発明を構成して
もよい。
[0023] In the above embodiments, the regenerator damper (20), which is the avoidance means, is particularly
8) is fixed to the upper part of the side wall of the low temperature chamber (3) in a diagonal manner as described above, and therefore, as mentioned above, the inverted part is divided into an upper part (20A) and a lower part (20B). This regenerator damper (
Regarding 20), it is important to be able to switch the airflow flowing through the cold room (3) to an airflow that bypasses the regenerator (18), and therefore, the present applicant has proposed the above-mentioned patent application No. 2-5041.
As shown in Publication No. 8, depending on the shape and installation position of the regenerator (18) in the cold room (3), the regenerator damper (
The shape of 20) and its operation mode may be changed as appropriate. Also, as described in the above publication, in some cases, the regenerator damper (20) may not be provided.
The present invention may be constructed by making the regenerator (18) itself movable outside the airflow flowing through the cold room (3) and using this as an avoidance means.

【0024】[0024]

【発明の効果】本発明は以上説明したように、蓄冷器が
蓄冷冷却熱を放熱終了又は終了近くになったとき、低温
室とテスト室との間を循環する低温気流を、蓄冷器を通
る流れから蓄冷器をバイパスする流れに切換えることが
できる回避手段を備えた気槽式冷熱衝撃試験装置であっ
て、前記回避手段を低温さらし続行中の温度保持コント
ロール手段として用いたものであり、前記回避手段を作
動させるコントローラに対してテスト室内の温度計測値
と低温さらしの設定温度値とを比較する手段と、該比較
手段による比較の結果、計測値の方が設定温度値よりも
低いとき前記回避手段を動作させた後、前記冷却器の運
転周波数を減少させる手段と、該減少手段により前記冷
却器の運転周波数を最低周波数に減少させても前記計測
値がまだ前記設定温度値よりも低いとき前記回避手段の
動作を停止させる手段とを具備せしめたものであるから
、低温さらし設定温度の保持コントロールは、冷凍機の
容量制御と、前記回避手段により蓄冷器をテスト室冷却
に対する逆負荷とすることとの結合作用により行うこと
ができ、容量制御だけではコントロール不可能であった
温度域での制御も可能となる。そしてその場合、従来、
設定温度保持コントロール手段として用いていた逆負荷
ヒータやホットガス用電磁弁が不用となることは勿論で
あり、装置全体のコストダウンを図ることができると共
に、あらゆる設定温度に対してその温度を保持コントロ
ールすることが容易となる。
Effects of the Invention As explained above, the present invention allows low-temperature airflow circulating between the cold room and the test room to pass through the regenerator when the regenerator has finished discharging the stored cooling heat or is nearing the end of its heat dissipation. This is an air tank type thermal shock testing apparatus equipped with an avoidance means capable of switching from a flow to a flow that bypasses a regenerator, the avoidance means being used as a temperature maintenance control means during continued low temperature exposure, and the above-mentioned means for comparing the temperature measurement value in the test chamber with the set temperature value of the low temperature exposure for the controller that activates the avoidance means; means for reducing the operating frequency of the cooler after operating the avoidance means; and even if the reducing means reduces the operating frequency of the cooler to the lowest frequency, the measured value is still lower than the set temperature value. Therefore, the maintenance control of the low temperature exposure set temperature is performed by controlling the capacity of the refrigerator and by causing the regenerator to stop the operation of the test room cooling by the avoidance means. This can be achieved by the combined action of the capacitor and the capacitance, making it possible to control temperature ranges that could not be controlled by capacitance control alone. And in that case, conventionally,
Of course, the reverse load heater and hot gas solenoid valve that were used as the set temperature maintenance control means are no longer required, and the cost of the entire device can be reduced, and the temperature can be maintained for any set temperature. It becomes easier to control.

【0025】このように本発明は、前記回避手段を低温
さらし設定温度保持コントロール手段として有効に利用
可能としたものであるが、また一方では前記回避手段は
、既にこれを利用することで気槽式冷熱衝撃試験装置に
おける低温さらし設定温度到達を迅速なものとしたもの
であるから、本発明気槽式冷熱衝撃試験装置においては
、高温さらしを低温さらしに切換えた時点から、次に低
温さらしを高温さらしに切換える時点までの間、一貫し
て前記回避手段を低温さらしのための温度コントロール
手段として利用することができることとなり、気槽式冷
熱衝撃試験装置における低温さらし試験全体にわたり温
度制御を効率的かつ安価に行うことが可能となる。
As described above, the present invention enables the above-mentioned avoidance means to be effectively used as a set temperature maintenance control means for low-temperature exposure. Since the low-temperature exposure in the thermal shock testing apparatus of the present invention enables the set temperature to be reached quickly, in the gas tank-type thermal shock testing apparatus of the present invention, from the time the high-temperature exposure is switched to the low-temperature exposure, the next low-temperature exposure is performed. The avoidance means can be consistently used as a temperature control means for low-temperature exposure until the point of switching to high-temperature exposure, making temperature control efficient throughout the entire low-temperature exposure test in the air chamber thermal shock test equipment. And it can be done at low cost.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

【図1】本発明に係る気槽式冷熱衝撃試験装置の縦断面
部である。
FIG. 1 is a longitudinal cross-sectional view of an air tank type thermal shock testing apparatus according to the present invention.

【図2】本発明に係る気槽式冷熱衝撃試験装置において
低温さらし時の設定温度を保持コントロールするための
処理流れ図である。
FIG. 2 is a process flowchart for maintaining and controlling the set temperature during low-temperature exposure in the air tank type thermal shock testing apparatus according to the present invention.

【図3】上記気槽式冷熱衝撃試験装置による試験態様を
説明する一部断面図である。
FIG. 3 is a partial cross-sectional view illustrating a test mode using the air tank type thermal shock test apparatus.

【図4】上記気槽式冷熱衝撃試験装置による試験態様を
説明する一部断面図である。
FIG. 4 is a partial cross-sectional view illustrating a test mode using the air tank type thermal shock test apparatus.

【図5】上記気槽式冷熱衝撃試験装置による試験態様を
説明する一部断面図である。
FIG. 5 is a partial cross-sectional view illustrating a test mode using the air tank type thermal shock test apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

(1)    テスト室 (2)    高温室 (3)    低温室 (16)  冷却器 (18)  蓄冷器 (20)  蓄冷器ダンパ (21)  蓄冷器温度センサー(検出手段)(22)
  コントローラ (23)  温度センサー
(1) Test chamber (2) High temperature room (3) Low temperature room (16) Cooler (18) Cold storage (20) Cold storage damper (21) Cold storage temperature sensor (detection means) (22)
Controller (23) Temperature sensor

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  低温室(3)と高温室(2)及びテス
ト室(1)とを有し、前記低温室(3)内に冷却器(1
6)を配置すると共に、この冷却器(16)に対し前記
低温室(3)を流れる気流の上流側に蓄冷器(18)を
配置し、高温さらし時蓄冷可能とする一方、前記蓄冷器
(18)を、低温さらし時に、前記低温室(3)を流れ
る気流に対し回避させる回避手段(20)を設けると共
に、前記蓄冷器(18)で蓄熱した冷却熱量の放熱終了
又は終了近くを検出して出力する検出手段(21)と、
低温さらし時、前記検出手段(21)からの出力により
、前記回避手段(18)を動作させ、前記低温室(3)
を流れる気流を前記蓄冷器(18)をバイパスする気流
に切換えるコントローラ(22)とを備えてなる気槽式
冷熱衝撃試験装置において、前記冷却器(16)をイン
バータ制御可能なものとし、かつ前記テスト室(1)内
に温度センサー(23)を配置すると共に、前記温度セ
ンサー(23)の計測値と低温さらしの設定温度値とを
比較する手段と、該比較手段による比較の結果、計測値
の方が設定温度値よりも低いとき前記回避手段(20)
を動作させた後、前記冷却器(16)の運転周波数を減
少させる手段と、該減少手段により前記冷却器(16)
の運転周波数を最低周波数に減少させても前記計測値が
まだ前記設定温度値よりも低いとき前記回避手段(20
)の動作を停止させる手段とを前記コントローラ(22
)に具備せしめたことを特徴とする気槽式冷熱衝撃試験
装置。
1. A test chamber (1) comprising a low temperature chamber (3), a high temperature chamber (2), and a test chamber (1), and a cooler (1) in the low temperature chamber (3).
At the same time, a regenerator (18) is disposed on the upstream side of the airflow flowing through the low temperature chamber (3) with respect to the cooler (16) to enable cold storage when exposed to high temperatures. 18) is provided with an avoidance means (20) that avoids the airflow flowing through the cold room (3) when exposed to low temperatures, and detects the end of heat radiation or near the end of the amount of cooling heat stored in the regenerator (18). detection means (21) for outputting
During low temperature exposure, the avoidance means (18) is activated by the output from the detection means (21), and the low temperature chamber (3)
a controller (22) for switching an airflow flowing through the regenerator (18) to an airflow bypassing the regenerator (18), the cooler (16) being capable of being controlled by an inverter; A temperature sensor (23) is arranged in the test chamber (1), a means for comparing the measured value of the temperature sensor (23) and a set temperature value for low-temperature exposure, and a measured value as a result of the comparison by the comparing means. is lower than the set temperature value, the avoidance means (20)
means for reducing the operating frequency of the cooler (16) after operating the cooler (16);
When the measured value is still lower than the set temperature value even if the operating frequency of the avoidance means (20
) for stopping the operation of the controller (22).
) An air tank type thermal shock testing device characterized by comprising:
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Cited By (4)

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