JPH04315099A - Monochrometer for x-ray diffraction device - Google Patents

Monochrometer for x-ray diffraction device

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JPH04315099A
JPH04315099A JP3106738A JP10673891A JPH04315099A JP H04315099 A JPH04315099 A JP H04315099A JP 3106738 A JP3106738 A JP 3106738A JP 10673891 A JP10673891 A JP 10673891A JP H04315099 A JPH04315099 A JP H04315099A
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crystal
block
rotation
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monochromator
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Noboru Osawa
大沢 登
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Rigaku Corp
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Rigaku Denki Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To obtain a monochrometer with small whole shape and very easy assembling and disassembling capability. CONSTITUTION:A spectral diffraction crystal 3 fixed on a crystal support tip 33 is contained in the crystal chamber 15 in a main block 14. Above the crystal support tip 33, a mechanism for swinging the crystal 3 for rotation, a mechanism for moving it back and forth, and a mechanism for moving it up and down are provided altogether. Below the main block 14, a mechanism for inciting the crystal 3 to rotation and swinging is provided. By moving the crystal with the four mechanisms, a desired surface of the crystal 3 can be brought on the X-ray beam path L. If the unit above the main block 14 is removed from the main block 14, the crystal 3 can be taken outside.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、X線回折装置に用いら
れるモノクロメータに関する。特に、単結晶試料を測定
対象としていて精度の高い測定が要求されるX線回折装
置に適したモノクロメータに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a monochromator used in an X-ray diffraction apparatus. In particular, the present invention relates to a monochromator suitable for an X-ray diffraction apparatus that measures a single crystal sample and requires highly accurate measurement.

【0002】0002

【従来の技術】単結晶試料の構造を解析するために用い
られるX線回折装置として、いわゆる4軸ゴニオメータ
を有するX線回折装置は既に知られている。このX線回
折装置においては、X線源から放射されたあらゆる波長
のX線を含んだX線束(すなわち白色X線)からモノク
ロメータを使って単一波長のX線を取り出して(すなわ
ち単色化して)、その単色X線を単結晶試料に照射する
。一方、異なる4軸を中心として単結晶試料を回転させ
ることにより、該単結晶試料に入射するX線の入射角度
を種々の角度に変化させて回折X線の測定を行なう。
2. Description of the Related Art As an X-ray diffraction apparatus used for analyzing the structure of a single crystal sample, an X-ray diffraction apparatus having a so-called four-axis goniometer is already known. In this X-ray diffraction device, a monochromator is used to extract X-rays of a single wavelength from an X-ray bundle containing X-rays of all wavelengths (i.e., white X-rays) emitted from an ) and irradiate the single crystal sample with the monochromatic X-rays. On the other hand, by rotating the single crystal sample around four different axes, the incident angle of the X-rays incident on the single crystal sample is changed to various angles, and diffracted X-rays are measured.

【0003】上記のX線回折装置においては、きわめて
精度の高い測定が要求される。すなわち、モノクロメー
タによって単色化されたX線は正確に単一波長のX線の
みを有するものであって、しかも強度の強いものでなけ
ればならない。一般にモノクロメータにおいては、白色
X線を単色化するための要素部材として、グラファイト
等の単結晶から成る分光結晶が用いられる。上記のよう
に正確に単一波長であって強度の強いX線を得るために
は、この分光結晶として均一で結晶構造に乱れのない良
質の分光結晶が必要である。この場合、全体として良質
の分光結晶を手に入れることは非常に難しく、通常は分
光結晶をX線に対して上下に移動させることにより、1
つの分光結晶のうちの良質の部分を選択して使用してい
る。
[0003] The above-mentioned X-ray diffraction apparatus is required to perform measurements with extremely high precision. That is, the X-rays made monochromatic by the monochromator must have exactly a single wavelength of X-rays, and must also be of high intensity. Generally, in a monochromator, a spectroscopic crystal made of a single crystal such as graphite is used as an element for monochromating white X-rays. In order to obtain high-intensity X-rays with an accurate single wavelength as described above, it is necessary to use a high-quality spectroscopic crystal that is uniform and has no disturbance in its crystal structure. In this case, it is very difficult to obtain a good-quality spectroscopic crystal as a whole, and usually by moving the spectroscopic crystal up and down with respect to the X-ray,
High-quality parts of the two spectroscopic crystals are selected and used.

【0004】また、強度の強い単色X線を得るためには
、X線進行方向に対して直交する垂直軸線を中心として
分光結晶を回転移動(θ回転)させたり、X線進行方向
に延びる軸線を中心として分光結晶を回転移動(あおり
回転)させたり、あるいは分光結晶を前後移動させたり
する必要がある。
[0004] In order to obtain monochromatic X-rays with high intensity, it is necessary to rotate the spectroscopic crystal (θ rotation) around a vertical axis perpendicular to the direction of X-ray travel, or to rotate the crystal along an axis extending in the direction of X-ray travel. It is necessary to rotate the spectroscopic crystal around the center (tilt rotation) or move the spectroscopic crystal back and forth.

【0005】このように、上記種類のモノクロメータに
おいては、分光結晶をθ回転、あおり回転、上下移動、
及び前後移動させなければ正確に単一波長で、しかも強
度の強い単色X線を得ることができない。しかしながら
これらの各機構を1つのモノクロメータに設置すること
は空間的な問題から非常に難しい。よって従来は、性能
が低下することを容認した上で、いずれかの機構を省い
たり、あるいは大型で複雑な形状になることを容認した
上で、上記の全機構をモノクロメータに設置していた。
[0005] In this way, in the above-mentioned type of monochromator, the spectroscopic crystal can be rotated by θ, tilted, moved up and down,
Unless it is moved back and forth, it is not possible to obtain monochromatic X-rays with an accurate single wavelength and high intensity. However, it is very difficult to install each of these mechanisms in one monochromator due to space issues. Therefore, in the past, all of the above mechanisms were installed in a monochromator, either by omitting one of the mechanisms or accepting that it would become larger and more complicated, even though it would degrade performance. .

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上記4つの移動機構の
うちいずれかの機構を省いた従来のモノクロメータは、
正確に単一波長であってしかも強度の強い単色X線を得
ることについて充分な結果を得られないという問題を有
していた。また、上記全ての移動機構を備えた従来のモ
ノクロメータにおいては、その形状が著しく大きくなる
と共に、カバー等の構成要素部材をモノクロメータ本体
から取り外さなければ、全ての移動機構を動作させるこ
とができないという問題を有していた。本発明は、従来
のモノクロメータにおける上記の問題点に鑑みてなされ
てものであって、分光結晶についてのθ回転、あおり回
転、上下移動機構及び前後移動機構の全ての移動機構を
備えていて、使用可能な分光結晶の範囲を広くすること
ができ、全体形状が小型であり、分解及び組み立てが簡
単であり、しかもカバー等の要素部材を取り外すことな
く上記全ての移動機構を動作させることのできるモノク
ロメータを提供することを目的とする。
[Problem to be Solved by the Invention] A conventional monochromator that excludes one of the four moving mechanisms described above is
There was a problem in that it was not possible to obtain sufficient results in obtaining monochromatic X-rays with an accurate single wavelength and high intensity. Furthermore, in a conventional monochromator equipped with all of the above-mentioned moving mechanisms, its shape is significantly large, and all of the moving mechanisms cannot be operated unless the cover and other component parts are removed from the monochromator body. There was a problem. The present invention has been made in view of the above-mentioned problems in conventional monochromators, and is equipped with all the movement mechanisms of the θ rotation, tilt rotation, vertical movement mechanism, and back and forth movement mechanism for the spectroscopic crystal, The range of spectroscopic crystals that can be used can be expanded, the overall shape is small, disassembly and assembly are easy, and all of the above moving mechanisms can be operated without removing element members such as covers. The purpose is to provide a monochromator.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明に係るモノクロメータは、X線光路(L)上
に配置されていてX線光路を中心として回転可能であっ
て内部にX線を通過させるための貫通穴を備えた支持体
(12)と、支持体と一体な主ブロック(14)と、主
ブロックの内部においてX線光路に対して直角の方向に
延びるように設けられていて上端が開口となっている空
間である結晶室(15)と、主ブロックの底面に固定さ
れていて下方に向けて突出するあおり調節ピン(23)
と、あおり調節ピンを付勢するあおり調節部材(25)
と、主ブロックの上端に回転可能に配置されていて結晶
室に連通する貫通穴を備えておりさらにθ回転調節ピン
(18)を備えたθ回転ブロック(17)と、θ回転調
節ピンをθ回転ブロックの回転に関する円周方向に付勢
するθ回転調節部材(マイクロメータヘッド20)と、
θ回転ブロックの貫通穴を上方から覆うと共にX線光路
と平行な方向に移動可能なスライドブロック(26)と
、スライドブロックを移動させる前後位置調節部材(2
8)と、スライドブロックと一体であってθ回転ブロッ
クの貫通穴を貫通して主ブロックの結晶室内へ臨出する
垂下ブロック(31)と、垂下ブロックと一体であって
結晶室内に配置されるガイド部材(22)と、ガイド部
材によってガイドされながら結晶室内においてX線光路
に対して直角な方向へ移動可能に配置されていて分光結
晶(3)が固着された結晶支持チップ(33)と、垂下
ブロックを貫通してX線光路に対して直角な方向に延び
ていてその一端が結晶支持チップに螺合しておりその他
端がスライドブロックの外方へ突出していてその突出端
に上下位置調節部材(29)が固定された上下位置調節
ロッド(30)とを有することを特徴としている。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, a monochromator according to the present invention is arranged on an X-ray optical path (L), is rotatable around the X-ray optical path, and has an internal structure. A support body (12) having a through hole for passing X-rays, a main block (14) integral with the support body, and a main block (14) provided inside the main block so as to extend in a direction perpendicular to the X-ray optical path. the crystal chamber (15), which is a space with an open top end; and the tilt adjustment pin (23), which is fixed to the bottom of the main block and projects downward.
and a tilt adjustment member (25) that biases the tilt adjustment pin.
, a θ rotation block (17) rotatably arranged at the upper end of the main block, equipped with a through hole communicating with the crystal chamber, and further equipped with a θ rotation adjustment pin (18); a θ rotation adjustment member (micrometer head 20) that biases the rotation block in the circumferential direction;
A slide block (26) that covers the through hole of the θ rotation block from above and is movable in a direction parallel to the X-ray optical path, and a front-rear position adjustment member (26) that moves the slide block.
8), a hanging block (31) which is integral with the slide block and extends into the crystal chamber of the main block through the through hole of the θ rotation block, and a hanging block (31) which is integral with the hanging block and placed inside the crystal chamber. a guide member (22); a crystal support chip (33) to which a spectroscopic crystal (3) is fixed, which is disposed so as to be movable in a direction perpendicular to the X-ray optical path within the crystal chamber while being guided by the guide member; It passes through the hanging block and extends in a direction perpendicular to the X-ray optical path, one end of which is screwed into the crystal support chip, the other end of which protrudes outside the slide block, and the vertical position can be adjusted at the protruding end. It is characterized by having a vertical position adjustment rod (30) to which the member (29) is fixed.

【0008】[0008]

【作用】結晶支持チップに固着された分光結晶は、あお
り調節部材を調節することによってそのあおり角度の調
節ができ、θ回転調節部材を調節することによってその
θ回転方向の角度位置を調節することができ、前後位置
調節部材を調節することによってその前後位置を調節す
ることができ、そして上下位置調節部材を調節すること
によってその上下位置を調節することができる。このよ
うに4種類の位置を適宜に調節することにより、欠陥を
有する分光結晶の欠陥部分を避けて分光結晶の正常部分
のみを選択的に使用することができるようになり、また
、単色X線ビームを光軸に正確に一致させる等して強度
の強い単色X線を得ることができる。各調節機構は、無
駄な空間を占有することなく、しかもそれぞれが正確に
機能するように小型のモノクロメータ内に配設される。 さらに、主ブロックよりも上方にある部材を主ブロック
から取り外せば、垂下ブロック、ガイド部材、そして結
晶支持チップと共に分光結晶を結晶室から簡単に取り外
すことができ、また再度、簡単に結晶室内に装着するこ
とができる。
[Operation] The spectroscopic crystal fixed to the crystal support chip can have its tilt angle adjusted by adjusting the tilt adjustment member, and its angular position in the θ rotation direction by adjusting the θ rotation adjustment member. By adjusting the longitudinal position adjusting member, the longitudinal position can be adjusted, and by adjusting the vertical position adjusting member, the vertical position can be adjusted. By appropriately adjusting the four types of positions in this way, it becomes possible to avoid the defective part of the spectroscopic crystal and selectively use only the normal part of the spectroscopic crystal. Intense monochromatic X-rays can be obtained by precisely aligning the beam with the optical axis. Each adjustment mechanism is arranged within a compact monochromator so that it does not take up any unnecessary space and yet each functions accurately. Furthermore, by removing the parts above the main block from the main block, the spectroscopic crystal can be easily removed from the crystal chamber along with the hanging block, guide member, and crystal support chip, and can be easily reinstalled into the crystal chamber. can do.

【0009】[0009]

【実施例】図1は、本発明に係るモノクロメータの一実
施例及びそれを用いたX線回折装置を図式的に示してい
る。同図において、X線管1内のX線源2から放射され
た白色X線は、モノクロメータ6内に配置された分光結
晶3に入射し、その結晶で回折して、単一波長のX線、
すなわち特性X線として出射する。この特性X線は、単
結晶試料4に入射し、該試料内の結晶格子面との間で回
折条件が満足されたときに該試料で回折する。この回折
X線は、X線検出器5によって受け取られてその強度が
測定される。試料4は、いわゆる4軸ゴニオメータによ
って支持されていて、垂直軸線Φを中心としたΦ揺動、
水平軸線Χ(カイ)を中心としたΧ揺動、そしてΦ軸及
びΧ軸を一体に支持するΩ軸を中心としたΩ揺動といっ
た各方向への揺動を行なう。また4軸ゴニオメータは、
X線検出器5をΩ軸を中心として、いわゆる2θ回転さ
せる。4軸ゴニオメータによって単結晶試料4を各軸に
関して揺動させながら、X線検出器5によって試料4か
らの回折X線の強度を測定することにより、単結晶試料
4内の結晶構造、例えば格子欠陥等が解析される。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 schematically shows an embodiment of a monochromator according to the present invention and an X-ray diffraction apparatus using the monochromator. In the same figure, white X-rays emitted from an X-ray source 2 in an X-ray tube 1 enter a spectroscopic crystal 3 placed in a monochromator 6, are diffracted by the crystal, and are converted into single-wavelength X-rays. line,
That is, they are emitted as characteristic X-rays. This characteristic X-ray is incident on the single crystal sample 4 and is diffracted by the sample when diffraction conditions are satisfied between it and a crystal lattice plane within the sample. This diffracted X-ray is received by the X-ray detector 5 and its intensity is measured. The sample 4 is supported by a so-called 4-axis goniometer, which allows Φ to oscillate about the vertical axis Φ,
Swings in various directions are performed, including Χ rocking around the horizontal axis Χ (Chi) and Ω rocking around the Ω axis that integrally supports the Φ and Χ axes. In addition, the 4-axis goniometer is
The X-ray detector 5 is rotated by 2θ around the Ω axis. By measuring the intensity of diffracted X-rays from the sample 4 with the X-ray detector 5 while the single-crystal sample 4 is oscillated about each axis using a 4-axis goniometer, the crystal structure in the single-crystal sample 4, such as lattice defects, can be detected. etc. are analyzed.

【0010】上記X線回折装置においては、モノクロメ
ータ6によって不純波長成分を含まない純粋な特性X線
を得るということが重要な要件である。本実施例では、
分光結晶3を支持するための構造を改善することにより
、不純波長成分を含んでおらず、しかも強度の強い特性
X線を獲得している。以下、分光結晶3を支持するため
の構造について説明する。
In the X-ray diffraction apparatus described above, it is an important requirement that the monochromator 6 obtain pure characteristic X-rays containing no impure wavelength components. In this example,
By improving the structure for supporting the spectroscopic crystal 3, it is possible to obtain characteristic X-rays that do not contain impurity wavelength components and have high intensity. The structure for supporting the spectroscopic crystal 3 will be described below.

【0011】図1において、機枠ベース7上に軸受8,
8を介してベース部材9が設けられている。ベース部材
9の上端9aは円盤状になっていて、その左端上部にブ
ラケット10が固定して載置されている。このブラケッ
ト10は2つの軸受11,11を有しており、それらの
軸受によって支持体12がX線光路を中心として回転可
能に支持されている。支持体12の中心部には、X線源
2からのX線を通過させるための貫通穴13が設けられ
ている。支持体12の右端には概ね円筒状の主ブロック
14が固定されている。この主ブロック14の内部には
、X線光路に対して直角な方向に延びる断面円形の空間
、すなわち結晶室15が形成されている。この結晶室1
5は、その下端が主ブロック14の底面によって密閉さ
れており、一方その上端が開口となっている。
In FIG. 1, bearings 8,
A base member 9 is provided via 8. The upper end 9a of the base member 9 is disc-shaped, and a bracket 10 is fixedly placed on the upper left end thereof. This bracket 10 has two bearings 11, 11, by which a support body 12 is rotatably supported around the X-ray optical path. A through hole 13 is provided in the center of the support 12 to allow the X-rays from the X-ray source 2 to pass therethrough. A generally cylindrical main block 14 is fixed to the right end of the support 12. Inside the main block 14, a crystal chamber 15, which is a space with a circular cross section extending in a direction perpendicular to the X-ray optical path, is formed. This crystal chamber 1
5 has its lower end sealed by the bottom surface of the main block 14, while its upper end is open.

【0012】主ブロック14の底面には、あおり調節ピ
ン23が下方へ突出して設けられていて、ベース部材上
端9a内へ臨出している。図2(図1における矢印II
−II線に従った断面図)に示すようにベース部材上端
9aには、あおり調節ピン23の左側面に当接する圧縮
バネ24及びそのピン23の右側面に当接するあおり調
節ネジ25が設けられている。あおり調節ネジ25を回
すと、あおり調節ピン23がそのネジ25又はバネ24
によって付勢されて移動し、これによりピン23と一体
な主ブロック14が支持体12、従ってX線光路を中心
として揺動回転する。以下、この回転をあおり回転とい
う。
A tilt adjustment pin 23 is provided on the bottom surface of the main block 14 and projects downward, and extends into the upper end 9a of the base member. Figure 2 (arrow II in Figure 1)
As shown in (cross-sectional view taken along line II), the upper end 9a of the base member is provided with a compression spring 24 that comes into contact with the left side of the tilt adjustment pin 23 and a tilt adjustment screw 25 that comes into contact with the right side of the pin 23. ing. When the tilt adjustment screw 25 is turned, the tilt adjustment pin 23 is moved to the screw 25 or the spring 24.
The main block 14, which is integral with the pin 23, swings and rotates around the support 12 and, therefore, the X-ray optical path. Hereinafter, this rotation will be referred to as tilt rotation.

【0013】図1において主ブロック14の上端には、
2つの軸受16,16を介して円盤状のθ回転ブロック
17がX線光路と直角な軸線を中心として回転可能に設
けられている。θ回転ブロック17の左側下面には、θ
回転調節ピン18が固定されている。主ブロック14の
うちピン18に対応する部分には、図3(図1における
矢印IIIに従った平面図)に示すように、円弧状の溝
19が形成されており、この溝19に上記のθ回転調節
ピン18が収納されている。図3に示すように、主ブロ
ック14の左端部にはマイクロメータヘッド20が固定
して設けられており、そのマイクロメータヘッド20の
スピンドル20aが上記の溝19内へ臨出してθ回転調
節ピン18に側面から当接している。溝19内には圧縮
バネ21が収納されており、このバネのバネ力によって
θ回転調節ピン18がスピンドル20aに押し付けられ
ている。マイクロメータヘッド20のツマミ20bを回
すと、スピンドル20aが進退移動する。この進退移動
により、θ回転調節ピン18及びそれと一体なθ回転ブ
ロック17が矢印A−A’のように揺動回転する。以下
、この回転をθ回転と呼ぶことにする。
At the upper end of the main block 14 in FIG.
A disk-shaped θ rotation block 17 is rotatably provided via two bearings 16, 16 about an axis perpendicular to the X-ray optical path. On the lower left side of the θ rotation block 17, there is a θ
A rotation adjustment pin 18 is fixed. As shown in FIG. 3 (a plan view taken along arrow III in FIG. 1), an arcuate groove 19 is formed in the portion of the main block 14 that corresponds to the pin 18. A θ rotation adjustment pin 18 is housed. As shown in FIG. 3, a micrometer head 20 is fixedly provided at the left end of the main block 14, and a spindle 20a of the micrometer head 20 protrudes into the groove 19 to pin the θ rotation adjustment pin. 18 from the side. A compression spring 21 is housed in the groove 19, and the spring force of this spring presses the θ rotation adjustment pin 18 against the spindle 20a. When the knob 20b of the micrometer head 20 is turned, the spindle 20a moves forward and backward. Due to this forward and backward movement, the θ rotation adjustment pin 18 and the θ rotation block 17 integrated therewith swing and rotate as indicated by arrows AA'. Hereinafter, this rotation will be referred to as θ rotation.

【0014】図1に示すように、θ回転ブロック17の
上端には、いわゆるあり溝22が形成されている。この
あり溝22は、図3に示すように、θ回転ブロック17
の直径方向に延びている。θ回転ブロック17の上には
スライドブロック26が載置されており、そのスライド
ブロック26の下面に設けられたガイド突起27が上記
のあり溝22に嵌合している。図2において、スライド
ブロック26の左端部とθ回転ブロック17との間に圧
縮バネ27が設けられている。また、θ回転ブロック1
7の右端部上面に設けられた前後位置調節ネジ28がス
ライドブロック26の右側面に当接している。前後位置
調節ネジ28を回すと、そのネジ28又はバネ27によ
って付勢されてスライドブロック26が図2の右左方向
、すなわち前後方向へ移動する。図では、右側にオペレ
ータが立つので、右側を前側と呼ぶことにする。
As shown in FIG. 1, a so-called dovetail groove 22 is formed at the upper end of the θ rotation block 17. As shown in FIG. As shown in FIG. 3, this dovetail groove 22
extends diametrically. A slide block 26 is placed on the θ rotation block 17, and a guide protrusion 27 provided on the lower surface of the slide block 26 fits into the dovetail groove 22 described above. In FIG. 2, a compression spring 27 is provided between the left end of the slide block 26 and the θ rotation block 17. Also, θ rotation block 1
A longitudinal position adjusting screw 28 provided on the upper surface of the right end portion of the slide block 7 is in contact with the right side surface of the slide block 26. When the longitudinal position adjustment screw 28 is turned, the slide block 26 is biased by the screw 28 or the spring 27 and moves in the left-right direction in FIG. 2, that is, in the longitudinal direction. In the figure, since the operator stands on the right side, the right side will be called the front side.

【0015】図2において、スライドブロック26の下
面に垂下ブロック31が固定して設けられている。この
垂下ブロック31は、概ね図5に示すような形状に加工
されていて、図2の下方へ垂下してその下端部31aが
結晶室15内へ臨出している。垂下ブロック下端部31
aは、図5に示すように、円柱部材を半分に割ったよう
な形状をしており、その円周部分の外周に円筒状のガイ
ド部材32がネジ止め等によって固着されている。図2
及び図4に示すように、円筒状ガイド部材32の内部で
あって垂下ブロック下端部31aに対向する位置には、
円柱部材を半分に割ったような形状の結晶支持チップ3
3が配置されている。上記の分光結晶3は、この結晶支
持チップ33の平面状側壁部にロー付け等によって固着
されている。図2において、スライドブロック26の中
央よりやや左側に、細長い棒材である上下位置調節ロッ
ド30が設けられている。このロッド30は、スライド
ブロック26及び垂下ブロック31を貫通して下方へ延
びており、上下方向へ自由に移動できるようになってい
る。このロッド30の上端はスライドブロック26の上
方へ突出しており、その突出端に上下位置調節ツマミ2
9が固定されている。また、ロッド30の下端にはネジ
ブロック34が固定されていて、そのネジブロック34
は、結晶支持チップ33の上端に設けたネジ穴に螺合し
ている。さらに、ロッド30の外周であって結晶支持チ
ップ33と垂下ブロック31との間には、圧縮バネ35
が設けられている。上下位置調節ツマミ29を回すと、
ロッド30下端のネジブロック34が回転し、それに螺
合している結晶支持チップ33及びそれに固着された分
光結晶3が上下方向へ移動する。
In FIG. 2, a hanging block 31 is fixedly provided on the lower surface of the slide block 26. As shown in FIG. This hanging block 31 is processed into a shape approximately as shown in FIG. 5, and hangs downward in FIG. Hanging block lower end 31
As shown in FIG. 5, a has the shape of a cylindrical member divided in half, and a cylindrical guide member 32 is fixed to the outer periphery of the circumferential portion by screws or the like. Figure 2
As shown in FIG.
Crystal support chip 3 shaped like a cylindrical member split in half
3 is placed. The above spectroscopic crystal 3 is fixed to the planar side wall portion of the crystal support chip 33 by brazing or the like. In FIG. 2, a vertical position adjustment rod 30, which is an elongated bar, is provided slightly to the left of the center of the slide block 26. This rod 30 passes through the slide block 26 and the hanging block 31 and extends downward, so that it can freely move up and down. The upper end of this rod 30 protrudes above the slide block 26, and a vertical position adjustment knob 2 is attached to the protruding end.
9 is fixed. Further, a screw block 34 is fixed to the lower end of the rod 30, and the screw block 34
is screwed into a screw hole provided at the upper end of the crystal support chip 33. Furthermore, a compression spring 35 is provided on the outer periphery of the rod 30 between the crystal support chip 33 and the hanging block 31.
is provided. When you turn the vertical position adjustment knob 29,
The screw block 34 at the lower end of the rod 30 rotates, and the crystal support chip 33 screwed onto it and the spectroscopic crystal 3 fixed thereto move in the vertical direction.

【0016】以下、上記構成からなるモノクロメータ6
についてその作用を説明する。図2において、底部のあ
おり調節ネジ25を適宜の角度だけ回すと、図1におい
て主ブロック14がX線光路Lを中心としてあおり回転
する。分光結晶3は、結晶支持チップ33、垂下ブロッ
ク31、スライドブロック26、そしてθ回転ブロック
17を介して主ブロック14と一体になっているので、
主ブロック14が上記のようにあおり回転する場合には
、主ブロック14と一体になって分光結晶3もあおり回
転する。これにより、X線光路Lを中心とした分光結晶
3の傾斜角度位置が調節される。図3において、マイク
ロメータツマミ20bを適宜の角度だけ回すと、θ回転
調節ピン18及びそのピンが固定されているθ回転ブロ
ック17がθ回転、すなわち、X線光路Lに直交する軸
線を中心として揺動回転する。分光結晶3は、θ回転ブ
ロック17と一体であるから、θ回転ブロック17の上
記のθ回転に応じて同じくθ回転する。これにより、分
光結晶3へ入射するX線の入射角度を調節することがで
きる。図2において、前後位置調節ネジ28を適宜の角
度だけ回すと、スライドブロック26が図の右左方向、
すなわち前後方向に移動する。分光結晶3はスライドブ
ロック26と一体であるから、スライドブロック26が
そのように前後移動すると、分光結晶3も一体となって
前後移動する。これにより、X線光路Lを横切る方向に
関する分光結晶の位置が調節される。図2において、上
下位置調節ツマミ29を適宜の角度だけ回すと、結晶支
持チップ33、従って分光結晶3が上下方向へ移動する
。これにより、分光結晶3のX線光路Lに対する上下位
置が調節される。
The monochromator 6 having the above configuration will be explained below.
The effect of this will be explained. In FIG. 2, when the tilt adjustment screw 25 at the bottom is turned by an appropriate angle, the main block 14 in FIG. 1 is tilted and rotated about the X-ray optical path L. Since the spectroscopic crystal 3 is integrated with the main block 14 via the crystal support chip 33, the hanging block 31, the slide block 26, and the θ rotation block 17,
When the main block 14 swings and rotates as described above, the spectroscopic crystal 3 also swings and rotates integrally with the main block 14. Thereby, the inclination angle position of the spectroscopic crystal 3 about the X-ray optical path L is adjusted. In FIG. 3, when the micrometer knob 20b is turned by an appropriate angle, the θ rotation adjustment pin 18 and the θ rotation block 17 to which the pin is fixed rotate θ, that is, about the axis perpendicular to the X-ray optical path L. Rock and rotate. Since the spectroscopic crystal 3 is integrated with the θ rotation block 17, it similarly rotates θ in accordance with the above-mentioned θ rotation of the θ rotation block 17. Thereby, the incident angle of the X-rays incident on the spectroscopic crystal 3 can be adjusted. In FIG. 2, when the longitudinal position adjustment screw 28 is turned by an appropriate angle, the slide block 26 moves in the right and left directions in the figure.
In other words, it moves in the front-back direction. Since the spectroscopic crystal 3 is integrated with the slide block 26, when the slide block 26 moves back and forth in this way, the spectrometer crystal 3 also moves back and forth together. Thereby, the position of the spectroscopic crystal in the direction across the X-ray optical path L is adjusted. In FIG. 2, when the vertical position adjustment knob 29 is turned by an appropriate angle, the crystal support chip 33 and therefore the spectroscopic crystal 3 are moved in the vertical direction. Thereby, the vertical position of the spectroscopic crystal 3 with respect to the X-ray optical path L is adjusted.

【0017】以上のように、本実施例によれば、X線光
路Lに対する分光結晶3の設置位置を前後方向、上下方
向、θ回転方向、そしてあおり回転方向の各方向に関し
てそれぞれ独立して調節できる。従って、分光結晶3の
希望する面をX線を回折させるための回折位置へと移動
させることがでる。それ故、一部分に欠陥を有する分光
結晶3でも正常な部分を選択して使用することができる
ようになるので、使用できる分光結晶の範囲が広くなる
。また、各調節機構は、狭い空間内にまとめて組み込ま
れているので、モノクロメータ6の全体形状が非常に小
型である。また、分光結晶3の回転方向の位置を調節す
るための部材、すなわちθ回転調節用のマイクロメータ
ツマミ20b(図3)とあおり調節ネジ25(図2)は
、主ブロック14の上方及び下方に分離して設けられて
いる。これらの部材を主ブロック14の上方又は下方に
まとめて、すなわち並べて配置させておくと、オペレー
タが誤って意図しない別の部材を操作するおそれがある
が、本実施例ではそのような心配がない。さらに、分光
結晶3を交換する場合には、θ回転ブロック17を主ブ
ロック14から取り外す。すると、スライドブロック2
6、垂下ブロック31、結晶支持チップ33及び分光結
晶3が一つのユニットとして主ブロック14から取り外
されることになる。よって、分解及び組み立ての作業が
非常に簡単になる。
As described above, according to this embodiment, the installation position of the spectroscopic crystal 3 with respect to the X-ray optical path L can be adjusted independently in each direction: the front-rear direction, the up-down direction, the θ rotation direction, and the tilt rotation direction. can. Therefore, a desired surface of the spectroscopic crystal 3 can be moved to a diffraction position for diffracting X-rays. Therefore, even if the spectroscopic crystal 3 has a defect in a portion, it becomes possible to select and use a normal portion, thereby widening the range of spectroscopic crystals that can be used. Moreover, since each adjustment mechanism is integrated into a narrow space, the overall shape of the monochromator 6 is extremely small. In addition, members for adjusting the position of the spectroscopic crystal 3 in the rotational direction, that is, the micrometer knob 20b (FIG. 3) for adjusting the θ rotation and the tilt adjustment screw 25 (FIG. 2) are provided above and below the main block 14. It is set up separately. If these members are placed together above or below the main block 14, that is, arranged side by side, there is a risk that the operator will accidentally operate another member that is not intended, but this embodiment eliminates such concerns. . Further, when replacing the spectroscopic crystal 3, the θ rotation block 17 is removed from the main block 14. Then, slide block 2
6. The hanging block 31, crystal support chip 33, and spectroscopic crystal 3 are removed from the main block 14 as one unit. Therefore, disassembly and assembly operations become very easy.

【0018】図6は、結晶支持チップ33についての変
形例を示している。この変形例においては、圧縮バネ3
6によって付勢された硬質ボール37を有するボルト3
8が結晶支持チップ33の内部に水平方向にわたって延
びている。結晶支持チップ33は、ボール37を介して
バネ36によって図の右方向へ付勢され、垂下ブロック
31に押し付けられる。これにより、結晶支持チップ3
3に固着された分光結晶3の位置がばらつくのを防止で
きる。
FIG. 6 shows a modification of the crystal support chip 33. In this modification, the compression spring 3
Bolt 3 with hard ball 37 biased by 6
8 extends horizontally inside the crystal support chip 33. The crystal support chip 33 is biased to the right in the figure by the spring 36 via the ball 37 and pressed against the hanging block 31. As a result, the crystal support chip 3
It is possible to prevent the position of the spectroscopic crystal 3 fixed to the spectroscopic crystal 3 from varying.

【0019】以上、1つの実施例を用いて本発明を説明
したが、本発明はその実施例に限定されるものではない
。例えば、ガイド部材32の形状は、円筒状に限らず、
角筒状であってもよい。
Although the present invention has been described above using one embodiment, the present invention is not limited to that embodiment. For example, the shape of the guide member 32 is not limited to a cylindrical shape.
It may have a rectangular cylindrical shape.

【0020】[0020]

【発明の効果】本発明によれば、分光結晶に関してθ回
転機構、あおり回転機構、上下移動機構及び前後移動機
構の各機構を設けたので、一部に欠陥を有する、より多
くの分光結晶を使用でき、しかも強度の強い単色X線を
得ることができる。また、そのように多くの機構を設け
たにもかかわらず、モノクロメータの全体形状が非常に
小型で場所をとらない。また、主ブロックに対して一つ
のユニットを取り付け又は取り外すという非常に簡単な
作業だけで、分光結晶の取り付け及び取り外しができる
。さらに、何等の要素部品を取り外すことなく全ての移
動機構を動作させることができる。
Effects of the Invention According to the present invention, since the spectroscopic crystal is provided with a θ rotation mechanism, a tilt rotation mechanism, a vertical movement mechanism, and a back and forth movement mechanism, it is possible to use a larger number of spectrometer crystals with defects in some parts. It is possible to obtain high intensity monochromatic X-rays. Furthermore, despite having so many mechanisms, the overall shape of the monochromator is very small and does not take up much space. Furthermore, the spectroscopic crystal can be attached and removed by a very simple operation of attaching or detaching one unit to or from the main block. Furthermore, all the moving mechanisms can be operated without removing any element parts.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

【図1】本発明に係るモノクロメータの一実施例を示す
側面断面図である。
FIG. 1 is a side sectional view showing an embodiment of a monochromator according to the present invention.

【図2】図1におけるII−II線に従った断面図であ
る。
FIG. 2 is a sectional view taken along line II-II in FIG. 1;

【図3】図2における矢印IIIに従った平面図である
FIG. 3 is a plan view according to arrow III in FIG. 2;

【図4】上記実施例の要部を示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing essential parts of the above embodiment.

【図5】上記実施例の他の要部を示す斜視図である。FIG. 5 is a perspective view showing other main parts of the above embodiment.

【図6】本発明に係るモノクロメータの他の実施例の要
部を示す側面断面図である。
FIG. 6 is a side sectional view showing essential parts of another embodiment of the monochromator according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

12  支持体                  
        14主ブロック 15  結晶室                  
        17θ回転ブロック 18  θ回転調節ピン              
    20  マイクロメータヘッド 23  あおり調節ピン              
    25  あおり調節ネジ 26  スライドブロック             
   28  前後位置調節ネジ 29  上下位置調節ツマミ            
  30  上下位置調節ロッド 31  垂下ブロック               
     32  ガイド部材 33  結晶支持チップ              
    38  弾性付勢ボール付ボルト
12 Support
14 Main block 15 Crystal room
17θ rotation block 18 θ rotation adjustment pin
20 Micrometer head 23 Tilt adjustment pin
25 Tilt adjustment screw 26 Slide block
28 Vertical position adjustment screw 29 Vertical position adjustment knob
30 Vertical position adjustment rod 31 Hanging block
32 Guide member 33 Crystal support chip
38 Bolt with elastically biased ball

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  X線光路上に配置した分光結晶によっ
て白色X線を単色化するX線回折装置用モノクロメータ
において、X線光路上に配置され、X線光路を中心とし
て回転可能であり、内部にX線を通過させるための貫通
穴を備えた支持体と、支持体と一体な主ブロックと、主
ブロックの内部においてX線光路に対して直角の方向に
延びるように設けられていて、上端が開口となっている
空間である結晶室と、主ブロックの底面に固定されてい
て、下方に向けて突出するあおり調節ピンと、あおり調
節ピンを付勢するあおり調節部材と、主ブロックの上端
に回転可能に配置されていて、結晶室に連通する貫通穴
を備えており、さらにθ回転調節ピンを備えたθ回転ブ
ロックと、θ回転調節ピンをθ回転ブロックの回転に関
する円周方向に付勢するθ回転調節部材と、θ回転ブロ
ックの貫通穴を上方から覆うと共にX線光路と平行な方
向に移動可能なスライドブロックと、スライドブロック
を移動させる前後位置調節部材と、スライドブロックと
一体であり、θ回転ブロックの貫通穴を貫通して主ブロ
ックの結晶室内へ臨出する垂下ブロックと、垂下ブロッ
クと一体であり結晶室内に配置されるガイド部材と、ガ
イド部材によってガイドされながら結晶室内においてX
線光路に対して直角な方向へ移動可能に配置されていて
、分光結晶が固着された結晶支持チップと、垂下ブロッ
クを貫通してX線光路に対して直角な方向に延びており
、その一端が結晶支持チップに螺合し、その他端がスラ
イドブロックの外方へ突出していてその突出端に上下位
置調節部材が固定されている上下位置調節ロッドとを有
することを特徴とするX線回折装置用モノクロメータ。
1. A monochromator for an X-ray diffraction device that monochromates white X-rays using a spectroscopic crystal placed on the X-ray optical path, the monochromator being placed on the X-ray optical path and rotatable around the X-ray optical path; a support body provided with a through hole for passing X-rays therein; a main block integral with the support body; and provided inside the main block so as to extend in a direction perpendicular to the X-ray optical path; A crystal chamber which is a space with an opening at the top end, a tilt adjustment pin that is fixed to the bottom of the main block and projects downward, a tilt adjustment member that biases the tilt adjustment pin, and the top end of the main block. The θ rotation block is rotatably arranged in the θ rotation block and has a through hole communicating with the crystal chamber. a θ-rotation adjustment member that moves the θ-rotation block; a slide block that covers the through hole of the θ-rotation block from above and is movable in a direction parallel to the X-ray optical path; a front-rear position adjustment member that moves the slide block; There is a hanging block that passes through the through hole of the θ rotation block and extends into the crystallization chamber of the main block, a guide member that is integrated with the hanging block and is placed inside the crystallization chamber, and a guide member that extends into the crystallization chamber while being guided by the guide member. X
The crystal supporting chip is arranged to be movable in the direction perpendicular to the X-ray optical path, and extends through the crystal support chip to which the spectroscopic crystal is fixed, and the hanging block, and extends in the direction perpendicular to the X-ray optical path, and one end of the is screwed onto a crystal support chip, and has a vertical position adjustment rod whose other end projects outward from the slide block and to which a vertical position adjustment member is fixed to the projecting end. monochromator.
【請求項2】  結晶支持チップ内に、該結晶支持チッ
プを垂下ブロック又はガイド部材のいずれかに押し付け
るための弾性押圧手段を設けたことを特徴とする請求項
1記載のX線回折装置用モノクロメータ。
2. The monochrome X-ray diffraction apparatus according to claim 1, further comprising elastic pressing means provided in the crystal support chip for pressing the crystal support chip against either a hanging block or a guide member. meter.
【請求項3】  θ回転調節部材及びあおり調節部材が
、主ブロックの上方及び下方に分離して設けられている
ことを特徴とする請求項1又は2記載のX線回折装置用
モノクロメータ。
3. The monochromator for an X-ray diffraction apparatus according to claim 1, wherein the θ rotation adjustment member and the tilt adjustment member are provided separately above and below the main block.
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