JPH04313179A - Ｉｃカード - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、内蔵する揮発性メモ
リＩＣのバックアップ電流の測定を容易にしたＩＣカー
ドに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図６は従来のＩＣカ−ドを示す回路図で
ある。図６において１は電源端子、２は接地端子、３は
揮発性メモリ、４はダイオードで電源端子１に電圧が印
加されているとき、接地端子２に電流が流れるのを阻止
する役目をもつ。５は抵抗で、揮発性メモリに過電流が
流れるのを防止する保護抵抗である。６は電池で、ここ
では一次電池であり、電源端子１に電圧が印加されてい
ないときに揮発性メモリ３をバックアップするための電
池である。７は電池電圧検出回路で、一次電池６の起電
力が低下したことを２値信号に変換するための回路であ
り、ここではコンパレータである。８は上記２値信号を
出力するための電池電圧検出端子、９は比較電圧端子、
１０は外部回路として接続される、揮発性メモリのバッ
クアップ電流測定回路で、バックアップ電流を計測する
ときのみ、一次電池６を取り外して、一次電池６の接続
用電極を使用して接続される。１１は電流計、１２は基
準電源である。

【０００３】次に動作について説明する。図６において
、揮発性メモリ３に格納された情報は一次電池６によっ
て抵抗５、ダイオード４を介してバックアップされる。 揮発性メモリ３のバックアップ電流によるダイオード４
及び抵抗５の電圧降下をそれぞれＶＤ４、ＶＲ５とし、
揮発性メモリ３のデータを保持するのに必要な電圧、す
なわちデータ保持電圧をＶＭ３、一次電池６の起電力を
ＶＢ６とすると、揮発性メモリ３のデータが正常に保持
されるためには、ＶＢ６＞ＶＭ３＋ＶＤ４＋ＶＲ５の関
係にあることが必要であり、このときコンパレータ７に
より、比較電圧端子９に接続されている比較電圧とデー
タ保持電圧ＶＢ６が比較され、電池電圧検出端子８には
”Ｈ”レベルが出力される。またＶＢ６＜ＶＭ３＋ＶＤ
４＋ＶＲ５の関係を満たす状態になると揮発性メモリ３
のデータが正常に保持されないことを知らせるため、コ
ンパレータ７の出力は”Ｌ”レベルとなり、電圧検出端
子８には”Ｌ”レベルが出力される。このような電池電
圧のチェックはＩＣカードが読取装置に装着されるとき
に行われる。

【０００４】さて、揮発性メモリ３を有するＩＣカード
では揮発性メモリ３の情報を保存しておくためバックア
ップのための電力供給をおこなっているが、内蔵する電
池の寿命をあらかじめ予測しておくことが必要で、バッ
クアップ電流の値を計測する必要にせまられている。Ｉ
Ｃカードのバックアップ電流を計測する方法はつぎのよ
うに行われる。図７は従来のＩＣカードのバックアップ
電流の計測法を示す斜視図である。図７において２０は
測定用治具、２１は電池挿入部、２２は電池接続用の電
極板、２３はコネクタである。８および１０〜１２は図
６と同様であるので説明を省略する。図７において電流
計１１と一次電池６の起電力に相当する電圧（例えば３
Ｖ）の基準電源１２とからなるバックアップ電流測定回
路１０を接続した測定用治具２０を、電池を取り外した
ＩＣカードの電池挿入部２１に挿入し、電池接続用の電
極板２２に接続し揮発性メモリ３に電圧を印加し、この
とき流れる電流値を計測しバックアップ電流値とする。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ＩＣカードの直流およ
び交流特性例えばメモリの機能チェックやアドレスアク
セスタイムなどはコネクタ２３を介して測定されている
が、従来のＩＣカードは以上のように構成されているの
で、メモリのバックアップ電流は電池挿入部２１に測定
用治具２０を挿入して計測せねばならず、計測が面倒で
時間がかかりテスト費用が増大するなどの問題点があっ
た。

【０００６】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、電池電圧検出端子をもちいて、
メモリのバックアップ電流を計測できるＩＣカードを得
ることを目的としている。

【０００７】

【課題を解決するための手段】この発明に係わるＩＣカ
ードは、揮発性のメモリをバックアップするように上記
メモリと電池とを接続点を介して接続し、この接続点と
外部装置とを電池電圧検出回路を介して電池電圧検出端
子で接続し、電池電圧検出回路が配置された経路とは異
なる、接続点と上記電池電圧検出端子とを接続する負荷
回路に、電池から電池電圧検出端子に流れる電流を遮断
し必要に応じ上記電池電圧検出端子を介し外部装置から
の印加電圧による電流を接続点に流す接断手段を配置し
たものである。

【０００８】

【作用】この発明におけるＩＣカードは、電池電圧検出
回路と接続されている電池電圧検出端子に負荷回路も接
続して共用し、電池電圧検出端子を介して外部装置から
電圧を印加することにより、揮発性メモリのバックアッ
プ電流を測定することが出来る。

【０００９】

【実施例】実施例１．図１はこの発明の一実施例を示す
回路図である。図１において１〜１２は従来例と同様で
あるので説明を省略する。３０および３１は接断手段で
、ここではツェナーダイオードで、２個のツェナーダイ
オードをアノードとアノードをシリーズに接続したもの
である。３２は負荷回路で、これらツェナーダイオード
３０および３１が設けられており、コンパレータ７と並
列に接続されている。また電池電圧検出端子８にバック
アップ電流測定回路１０が接続されている。ＩＣカード
の揮発性メモリ３に格納された情報のデータ保持電圧を
確保するために充分な一次電池６の起電力があることの
チェックは、従来例において説明したようにコンパレー
タ７の出力が電圧検出端子８に”Ｈ”レベルを出力する
ことにより判定されるが、図１の回路においては電圧検
出端子８をバックアップ電流測定用端子として共用し、
ＩＣカード内にバックアップ電流を測定するに際して電
圧を印加するための負荷回路３２を電池電圧検出回路７
と並列にもうけているので、コンパレータ７の出力がこ
の負荷回路３２へ伝播されるのを阻止するためにツェナ
ーダイオード３０がもうけられている。また一次電池６
の電圧が負荷回路３２を経由して電圧検出端子８に印加
されるのを阻止するためツェナーダイオード３１が設け
られている。

【００１０】次にバックアップ電流を測定するときの動
作について説明する。この発明のＩＣカードにおいては
、ＩＣカードの直流および交流特性例えばメモリの機能
チェックやアドレスアクセスタイムなどはコネクタ２３
を介して測定されると共に、同様にコネクタ２３の電池
電圧検出端子８を使用して揮発性メモリ３のバックアッ
プ電流が測定される。揮発性メモリ３のバックアップ電
流を測定するときには、一次電池６を取りはずした状態
にしておく。一次電池６のの起電力をたとえばＶＢ６＝
３［Ｖ］であるときのバックアップ電流値を計測したい
ときには、ツェナーダイオード３０のツェナー電圧をＶ
Ｚ９、ツェナーダイオード３１の順方向電圧をＶＦ１０
とするとバックアップ電流測定回路１０の基準電源１２
の電圧Ｖ１２をＶ１２＝ＶＺ９＋ＶＦ１０＋３［Ｖ］と
し、電池電圧検出端子８を介してＩＣカードに印加する
。ツェナーダイオードは定電圧ダイオードの一つで、ブ
レークダウンを起こしている範囲内では電流の広い範囲
にわったって電圧が一定に保たれる（このブレークダウ
ン電圧がツェナー電圧である）ので、Ｖ１２＝ＶＺ９＋
ＶＦ１０＋３［Ｖ］がコンパレータ７の耐圧より低く、
かつコンパレータ７の出力電圧よりは高いツェナー電圧
ＶＺ９をもつようなツェナーダイオード３０を選定し、
基準電源１２の電圧Ｖ１２を決定する。 このような電圧Ｖ１２を電池電圧検出端子８を介してＩ
Ｃカードに印加すると、ツェナーダイオード３０にブレ
ークダウンが起こり、ツェナーダイオード３０及び３１
、抵抗５、ダイオード４をそれぞれ経由して揮発性メモ
リ３に電流が流れる回路が構成されこのとき流れる電流
が電流計１１で計測される。この値が揮発性メモリのバ
ックアップ電流値である。

【００１１】実施例２．図２はこの発明の他の一実施例
を示す回路図である。図１ではツェナーダイオード３０
及び３１のアノードとアノードをシリーズに接続した場
合が示されているが、図２ではツェナーダイオード３０
及び３１をカソードとカソードとをシリーズに接続した
場合が示されている。

【００１２】実施例３．図３はこの発明の他の一実施例
を示す回路図である。図３において１〜９及び３０〜３
２は図１と同様であるので説明を省略する。ただ６の電
池がここでは２次電池である。このためダイオード４と
抵抗５とが並列に配置され、２次電池６が電源端子１か
ら充電出来るように配置されている。バックアップ電流
を測定するときの動作については上記実施例１．と同様
であるので省略する。

【００１３】実施例４．図４はこの発明の他の一実施例
を示す回路図である。この実施例３．の図３においては
ツェナーダイオード３０及び３１のアノードとアノード
をシリーズに接続した場合が示されているが、図４では
ツェナーダイオード３０及び３１をカソードとカソード
とをシリーズに接続した場合が示されている。

【００１４】実施例５．図５はこの発明の他の一実施例
を示す回路図で、接断手段としてＭＯＳトランジスタの
回路を使用した例である。ここでは例えばｎチャンネル
ＭＯＳトランジスタ（以下ｎーＭＯＳＴという）を使用
した場合について説明する。図５において１〜９および
３２は図１と同様であるので説明を省略する。４０はｎ
ーＭＯＳＴ、４１はｐチャンネルＭＯＳトランジスタ（
以下ｐーＭＯＳＴという）、４２はツェナーダイオード
で、コンパレータ７の出力電圧よりは高いツェナー電圧
であることが必要である。

【００１５】図５により動作を説明すると、ツェナーダ
イオード４２はコンパレータ７の出力電圧よりは高いツ
ェナー電圧を有しているので、電池電圧検出端子８がオ
ープンの場合や電池電圧検出に使用される場合は、ｐー
ＭＯＳＴ４１には電圧が印加されず、オン状態であるの
で揮発性メモリ３のバックアップを行っている。電池電
圧検出端子８を使用してバックアップ電流を測定すると
き図１と同様にバックアップ電流測定回路１０の基準電
源１２の電圧Ｖ１２を印加すると、ツェナーダイオード
４２は導通し、ｐーＭＯＳＴ４１はオフ状態となり、同
時にｎーＭＯＳＴ４０はオン状態となり、電池電圧検出
端子８からｎーＭＯＳＴ４０、抵抗５そしてダイオード
４を経由し揮発性メモリ３にいたる経路ができ、このと
き流れる電流が電流計１１で計測される。この値が揮発
性メモリのバックアップ電流値である。この実施例５．
においては、電池６が装着された状態のままで揮発性メ
モリ３のバックアップ電流を測定することができる。

【００１６】図５の場合は１次電池を例にして説明した
が、図３とおなじようにダイオード４と抵抗５とを並列
に配置すれば、２次電池の場合の構成となり、同様の動
作を行わせることが出来る。また図５の場合に接断手段
としてｎーＭＯＳＴを使用したが、ｐーＭＯＳＴを用い
ても同様に構成される。また各実施例において定電圧ダ
イオードとしてツェナーダイオードを使用した場合につ
いて説明したが、ショットキダイオード等を使用しても
同様な効果が得られる。

【００１７】

【発明の効果】この発明では以上のように構成されてい
るので、揮発性メモリのバックアップ電流の測定をコネ
クタ端子をもちいて行うことができ、測定の手間が軽減
され、測定時間が短縮され、ひいては測定費用が低減で
きるので安価なＩＣカードを提供出来るという効果が期
待できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１はこの発明の一実施例を示す回路図である
。

【図２】図２はこの発明の他の一実施例を示す回路図で
ある。

【図３】図３はこの発明の他の一実施例を示す回路図で
ある。

【図４】図４はこの発明の他の一実施例を示す回路図で
ある。

【図５】図５はこの発明の他の一実施例を示す回路図で
ある。

【図６】図６は従来のＩＣカ−ドの回路図である。

【図７】図７は従来のＩＣカードのバックアップ電流の
計測法を示す斜視図である。

【符号の説明】

３．　　揮発性のメモリ ６．　　電池 ８．　　電池電圧検出端子 ３０、３１、４０．　　接断手段

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　揮発性のメモリと、このメモリをバッ
   クアップするように上記メモリと接続点を介して接続さ
   れた電池と、電池電圧検出回路を介して上記接続点と外
   部装置とを接続する電池電圧検出端子と、上記電池電圧
   検出回路が配置された経路とは異なる、上記接続点と上
   記電池電圧検出端子とを接続する負荷回路に配置される
   と共に、上記電池から上記電池電圧検出端子に流れる電
   流を遮断し、必要に応じ上記電池電圧検出端子を介し外
   部装置からの印加電圧による電流を上記接続点に流す接
   断手段とを備えたＩＣカ−ド。