JPH0431078B2 - - Google Patents
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- JPH0431078B2 JPH0431078B2 JP59223016A JP22301684A JPH0431078B2 JP H0431078 B2 JPH0431078 B2 JP H0431078B2 JP 59223016 A JP59223016 A JP 59223016A JP 22301684 A JP22301684 A JP 22301684A JP H0431078 B2 JPH0431078 B2 JP H0431078B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21C—NUCLEAR REACTORS
- G21C17/00—Monitoring; Testing ; Maintaining
- G21C17/02—Devices or arrangements for monitoring coolant or moderator
- G21C17/022—Devices or arrangements for monitoring coolant or moderator for monitoring liquid coolants or moderators
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
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- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は原子炉出力計に関し、特に、軽水型原
子炉(LWR)の一次冷却材中の放射性同位元素
16Nの濃度を測定することによつて、原子炉の出
力を測定する装置に関するものである。
子炉(LWR)の一次冷却材中の放射性同位元素
16Nの濃度を測定することによつて、原子炉の出
力を測定する装置に関するものである。
一次冷却材中の16Nの濃度測定によつて原子炉
の出力を測定する方法および装置は、既に、例え
ば特開昭47−13600号公報等に開示されている。
の出力を測定する方法および装置は、既に、例え
ば特開昭47−13600号公報等に開示されている。
この方法は熱測定に比べて応答が早く、炉心出
力に直接比例した測定値が得られる利点がある
が、第1図bに示す様な過渡的な原子炉出力の変
動に対する出力応答が第1図cに示す様に階段状
に累積するという欠点がある。これは、測定対象
の一次冷却水が閉ループ内を循環し、中性子照射
を繰り返して受けるためである。従つて原子炉出
力の時間変化に正しく比例した出力応答を得るた
めには、アナログ式の電子演算回路または電子計
算機によつて補正演算を行う必要がある。この補
正演算は、信頼性、即時性の観点から後者の電子
計算機で行うよりも前者のアナログ式電子演算回
路で行う方が望ましい。特に、原子炉出力計は通
常、安全保護系に用いられるので、電子計算機を
用いずにアナログ式電子演算回路を用いる事が強
く望まれる。
力に直接比例した測定値が得られる利点がある
が、第1図bに示す様な過渡的な原子炉出力の変
動に対する出力応答が第1図cに示す様に階段状
に累積するという欠点がある。これは、測定対象
の一次冷却水が閉ループ内を循環し、中性子照射
を繰り返して受けるためである。従つて原子炉出
力の時間変化に正しく比例した出力応答を得るた
めには、アナログ式の電子演算回路または電子計
算機によつて補正演算を行う必要がある。この補
正演算は、信頼性、即時性の観点から後者の電子
計算機で行うよりも前者のアナログ式電子演算回
路で行う方が望ましい。特に、原子炉出力計は通
常、安全保護系に用いられるので、電子計算機を
用いずにアナログ式電子演算回路を用いる事が強
く望まれる。
しかしながら、第1図に示すような過渡応答の
累積現象は純粋な遅延時間を含む過程なので電子
計算機を用いずに補正を行うことはむずかしい。
上記の従来技術例にもアナログ式電子演算回路に
よる実施例が示されているが、補正精度が不十分
である。
累積現象は純粋な遅延時間を含む過程なので電子
計算機を用いずに補正を行うことはむずかしい。
上記の従来技術例にもアナログ式電子演算回路に
よる実施例が示されているが、補正精度が不十分
である。
第2図は従来技術の一例による補正結果を示し
ており、曲線aは補正前、曲線bは補正後の応答
を示している。曲線bからわかる様に10%以上の
誤差が残存しており、原子炉用出力計として明ら
かに精度が不十分である。
ており、曲線aは補正前、曲線bは補正後の応答
を示している。曲線bからわかる様に10%以上の
誤差が残存しており、原子炉用出力計として明ら
かに精度が不十分である。
次に、第1図を用いて前述の過渡応答の累積現
象をより詳細に説明する。第1図に於て1は原子
炉、2は蒸気発生器、3はガンマ線検出器、4は
原子炉1の炉心、そして5は一次冷却水が流れる
一次冷却材ループを示す。
象をより詳細に説明する。第1図に於て1は原子
炉、2は蒸気発生器、3はガンマ線検出器、4は
原子炉1の炉心、そして5は一次冷却水が流れる
一次冷却材ループを示す。
放射性同位元素16Nは、一次冷却水が原子炉1
の炉心4内で中性子照射される事により発生し、
ガンマ線を放射する。発生した16Nは冷却水の循
環によつて運ばれ、炉心出口配管に取付けたガン
マ線検出器3によつてその濃度が測定される。一
次冷却材ループ5の周回時間は加圧水型原子炉
(以下PWRという)の場合、約10秒であり、16N
の半減期は約7秒であるから、一度、炉心4内で
中性子照射された一次冷却水が再び炉心4に戻つ
て来た時に、前回生成された16Nが約35%残つて
いる。この過程の繰り返しにより、原子炉出力の
ステツプ状変化に対する16N濃度の変化は、前述
した如く、第1図cの様に定常値に向かつて周期
的に階段状の累積を示す。この階段状波形の各段
の立上り部分の波形は、一次冷却水の炉心通過時
間による広がり、及び多数回にわたつて循環中の
冷却水の撹拌に起因する広がりを持つている。こ
れについて第3図を用いて説明する。
の炉心4内で中性子照射される事により発生し、
ガンマ線を放射する。発生した16Nは冷却水の循
環によつて運ばれ、炉心出口配管に取付けたガン
マ線検出器3によつてその濃度が測定される。一
次冷却材ループ5の周回時間は加圧水型原子炉
(以下PWRという)の場合、約10秒であり、16N
の半減期は約7秒であるから、一度、炉心4内で
中性子照射された一次冷却水が再び炉心4に戻つ
て来た時に、前回生成された16Nが約35%残つて
いる。この過程の繰り返しにより、原子炉出力の
ステツプ状変化に対する16N濃度の変化は、前述
した如く、第1図cの様に定常値に向かつて周期
的に階段状の累積を示す。この階段状波形の各段
の立上り部分の波形は、一次冷却水の炉心通過時
間による広がり、及び多数回にわたつて循環中の
冷却水の撹拌に起因する広がりを持つている。こ
れについて第3図を用いて説明する。
今、原子炉出力が瞬間的に変化(増加)すると
(第3図a及びbの時刻t=0)、その瞬間に炉心
4に滞在していた部分の冷却水を境にして、その
前と後とで16Nの濃度が異なる。この境界が冷却
水流に押されて移動しガンマ線検出器3の前を通
過するとガンマ線検出器3の出力信号はステツプ
状に変化(増加)する(例えば第3図c及びdの
時刻T1)。ここで、上記の境界は原子炉炉心4の
大きさだけ始めから広がつており、更にその後、
一次冷却材ループ5中を流れる間に徐々に境界の
前後が入り乱れて広がつて行く。この広がりは検
出器3の出力信号において第3図eの様に立上り
時間として現われる。上記の境界が検出器3の前
を通過して一次冷却材ループ5を一巡し、再び検
出器3の前に到達した時(t=T1+T2)には配
管中の冷却水の撹拌により前回よりも立上り時間
が長くなると同時に16Nの半減期による減衰のた
めステツプの高さも減少する(第3図e参照)。
上記の2種類の原因による境界の広がり(応答の
立上り時間の広がり)のうち、原子炉1の炉心4
の大きさによるものは、原子炉1の炉心4の出力
分布に依存し、形状は正規分布に近いものであ
る。また、配管中の冷却水の撹拌による広がり
も、乱流による拡散現象なので、形状は正規分布
に近いものとなる。第3図eの階段状波形の各段
の立上り部の形状は、上記の個々の要因が重畳積
分されたものであり、冷却水の撹拌によるもの
は、周回した回数だけ重畳積分したものとなる。
また、入力条件がステツプ波形なので、階段の形
状は積分正規分布函数(誤差函数)に近い形状と
なつている。
(第3図a及びbの時刻t=0)、その瞬間に炉心
4に滞在していた部分の冷却水を境にして、その
前と後とで16Nの濃度が異なる。この境界が冷却
水流に押されて移動しガンマ線検出器3の前を通
過するとガンマ線検出器3の出力信号はステツプ
状に変化(増加)する(例えば第3図c及びdの
時刻T1)。ここで、上記の境界は原子炉炉心4の
大きさだけ始めから広がつており、更にその後、
一次冷却材ループ5中を流れる間に徐々に境界の
前後が入り乱れて広がつて行く。この広がりは検
出器3の出力信号において第3図eの様に立上り
時間として現われる。上記の境界が検出器3の前
を通過して一次冷却材ループ5を一巡し、再び検
出器3の前に到達した時(t=T1+T2)には配
管中の冷却水の撹拌により前回よりも立上り時間
が長くなると同時に16Nの半減期による減衰のた
めステツプの高さも減少する(第3図e参照)。
上記の2種類の原因による境界の広がり(応答の
立上り時間の広がり)のうち、原子炉1の炉心4
の大きさによるものは、原子炉1の炉心4の出力
分布に依存し、形状は正規分布に近いものであ
る。また、配管中の冷却水の撹拌による広がり
も、乱流による拡散現象なので、形状は正規分布
に近いものとなる。第3図eの階段状波形の各段
の立上り部の形状は、上記の個々の要因が重畳積
分されたものであり、冷却水の撹拌によるもの
は、周回した回数だけ重畳積分したものとなる。
また、入力条件がステツプ波形なので、階段の形
状は積分正規分布函数(誤差函数)に近い形状と
なつている。
ここで炉心通過による広がりをSFc、炉心4か
ら検出器3の位置までの間で起こる冷却水の撹拌
による広がりをSF1、そして、ループ5を一巡す
る間に起こる冷却水の撹拌による広がりをSF2と
すると、第1図cの応答を次式で表わすことがで
きる。尚、重畳積分は簡略化して記号で表わ
す。また、(AB)B=AB2、AB0=A
=Aδ(t)の様に略記する。また、次式にお
いてS(t)はガンマ線検出器の出力である。
ら検出器3の位置までの間で起こる冷却水の撹拌
による広がりをSF1、そして、ループ5を一巡す
る間に起こる冷却水の撹拌による広がりをSF2と
すると、第1図cの応答を次式で表わすことがで
きる。尚、重畳積分は簡略化して記号で表わ
す。また、(AB)B=AB2、AB0=A
=Aδ(t)の様に略記する。また、次式にお
いてS(t)はガンマ線検出器の出力である。
S(t)=e-〓T 1U(t−T1)SFcS
F1 +e-〓(T 1 +T 2 )U(t−T1−T2)S
FcSF1SF2 +…… +e-〓{T 1 +(n-1)T 2}U{t−T1−(
n−1)T2}SFcSF1SF2 n-1 +…… …(1) ここで、U(t):単位階段函数 δ(t):単位デルタ函数 T1:炉心4から検出器3までの流動所要時
間 T2:一次冷却材ループ5の一巡に要する時
間 λ:16Nの減衰定数(約0.1sec-1) 応答の段階状の累積を除去する補正は、式(1)から
次式で表わすことができる。
F1 +e-〓(T 1 +T 2 )U(t−T1−T2)S
FcSF1SF2 +…… +e-〓{T 1 +(n-1)T 2}U{t−T1−(
n−1)T2}SFcSF1SF2 n-1 +…… …(1) ここで、U(t):単位階段函数 δ(t):単位デルタ函数 T1:炉心4から検出器3までの流動所要時
間 T2:一次冷却材ループ5の一巡に要する時
間 λ:16Nの減衰定数(約0.1sec-1) 応答の段階状の累積を除去する補正は、式(1)から
次式で表わすことができる。
e〓T 1S(t){δ(t)−e〓T 2δ(t−T2)SF
2}=U(t−T1)SFcSF1…(2) すなわち、式(2)の左辺のS(t)のところに式
(1)の右辺を代入して整理すると式(2)の右辺の様に
階段を示す項のない応答出力になるので、階段状
の累積を除去したことになる(ただし、その補正
は段差を消すところまであり、広がり(立上り時
間)SF1,SF2,SFcのうちSF1,SFcは残つたま
まである)。この補正演算を行うためには、純粋
な遅れ時間を模擬する必要があり、これを前述し
たアナログ式電子演算回路で実現することは困難
である。更に式(2)の左辺における広がりSF2の形
状も、アナログ式電子演算回路で実現しやすい一
次遅れではなく、正規分布函数に近い形状なの
で、アナログ式電子演算回路で模擬することはむ
ずかしい。
2}=U(t−T1)SFcSF1…(2) すなわち、式(2)の左辺のS(t)のところに式
(1)の右辺を代入して整理すると式(2)の右辺の様に
階段を示す項のない応答出力になるので、階段状
の累積を除去したことになる(ただし、その補正
は段差を消すところまであり、広がり(立上り時
間)SF1,SF2,SFcのうちSF1,SFcは残つたま
まである)。この補正演算を行うためには、純粋
な遅れ時間を模擬する必要があり、これを前述し
たアナログ式電子演算回路で実現することは困難
である。更に式(2)の左辺における広がりSF2の形
状も、アナログ式電子演算回路で実現しやすい一
次遅れではなく、正規分布函数に近い形状なの
で、アナログ式電子演算回路で模擬することはむ
ずかしい。
このアナログ式電子演算回路を用いた補正方式
の上記の従来例(第2図)では、遅延要素として
一次遅れを数段縦続したものを用いているが、そ
の段数の求め方が不明なため根拠のない段数を設
定しており、その補正精度は第2図の補正曲線b
に示す様に不十分なものである。即ち、第2図の
曲線aは典型的なPWRプラントに於ける16N検
出器3のステツプ応答を示し、曲線bは上記の補
正回路例による応答の補正結果を示す。この例で
は一次遅れ要素の縦続段数を多少増減しても補正
精度は不十分な改善しかされず、これはこの方式
にとつての本質的な限界であると考えられてい
た。
の上記の従来例(第2図)では、遅延要素として
一次遅れを数段縦続したものを用いているが、そ
の段数の求め方が不明なため根拠のない段数を設
定しており、その補正精度は第2図の補正曲線b
に示す様に不十分なものである。即ち、第2図の
曲線aは典型的なPWRプラントに於ける16N検
出器3のステツプ応答を示し、曲線bは上記の補
正回路例による応答の補正結果を示す。この例で
は一次遅れ要素の縦続段数を多少増減しても補正
精度は不十分な改善しかされず、これはこの方式
にとつての本質的な限界であると考えられてい
た。
従つて、従来技術によれば、前記の応答の補正
には純粋な時間遅れと正規分布応答の二つの要素
を必要とし、両者ともアナログ回路で実現するた
めには無限個の回路要素を必要とするので実現が
極めて困難であつた。
には純粋な時間遅れと正規分布応答の二つの要素
を必要とし、両者ともアナログ回路で実現するた
めには無限個の回路要素を必要とするので実現が
極めて困難であつた。
従つて、この発明は、上記の二つの要素を夫々
単独に実現するのではなく、両者を含めた機能に
対しては、正確な段数の有限個のアナログ回路要
素を用いて極めて精度の高い近似を可能ならしめ
た原子炉出力計を提供することを目的としてい
る。
単独に実現するのではなく、両者を含めた機能に
対しては、正確な段数の有限個のアナログ回路要
素を用いて極めて精度の高い近似を可能ならしめ
た原子炉出力計を提供することを目的としてい
る。
上記の目的を達成するための本発明に係る原子
炉出力計の構成は、近似正規分布応答波器の群
遅延時間を、原子炉の一次冷却材ループの一巡所
要時間にほぼ一致させるとともに、近似正規分布
応答波器のステツプ応答の立ち上がり時間を、
一次冷却材ループの一巡の間に生じる撹拌による
濃度信号の立ち上がりの広がり時間にほぼ一致さ
せることにより、近似正規分布応答波器が、 exp(λT1)S(t) {δ(t)−exp(−λT2)δ(t−T2)SF2} なる補正演算を行うようにすることを特徴として
いる。
炉出力計の構成は、近似正規分布応答波器の群
遅延時間を、原子炉の一次冷却材ループの一巡所
要時間にほぼ一致させるとともに、近似正規分布
応答波器のステツプ応答の立ち上がり時間を、
一次冷却材ループの一巡の間に生じる撹拌による
濃度信号の立ち上がりの広がり時間にほぼ一致さ
せることにより、近似正規分布応答波器が、 exp(λT1)S(t) {δ(t)−exp(−λT2)δ(t−T2)SF2} なる補正演算を行うようにすることを特徴として
いる。
本発明によれば、e〓T 1S(t){δ(t)−
e-〓T 2δ(t−T2)SF2}=U(t−t1)SFc
SF1なる過渡応答の補正式における左辺の階段応
答の除去を表わす{δ(t)−e-〓T 2(t−T2)
SF2}のうち予め決まつているT2及びSF2をそれ
ぞれ補正回路における近似正規分布応答波器の
群遅延時間及びステツプ応答の立上り時間として
過渡応答補正を行つている。
e-〓T 2δ(t−T2)SF2}=U(t−t1)SFc
SF1なる過渡応答の補正式における左辺の階段応
答の除去を表わす{δ(t)−e-〓T 2(t−T2)
SF2}のうち予め決まつているT2及びSF2をそれ
ぞれ補正回路における近似正規分布応答波器の
群遅延時間及びステツプ応答の立上り時間として
過渡応答補正を行つている。
第4図は本発明の原子炉出力計に用いる過渡応
答補正回路の一実施例の構成を示す図であり、こ
の補正回路は第2図のガンマ線検出器3(又はそ
の出力信号を増幅する増幅器)の後に接続され、
補正回路の出力は出力計全体の出力として扱われ
る。第4図において、10はガンマ線検出器3に
接続される入力端子、11は近似的正規分布応答
波器、12及び13は増幅器、14は出力端子
を示す。
答補正回路の一実施例の構成を示す図であり、こ
の補正回路は第2図のガンマ線検出器3(又はそ
の出力信号を増幅する増幅器)の後に接続され、
補正回路の出力は出力計全体の出力として扱われ
る。第4図において、10はガンマ線検出器3に
接続される入力端子、11は近似的正規分布応答
波器、12及び13は増幅器、14は出力端子
を示す。
第4図の補正回路の動作は式(2)に対応してお
り、波器11の機能は遅延と近似正規分布応答
の両方を行うことである。近似的正規分布応答
(アナログ)波器としては種々のものが使用で
きるが、ベツセル型(トムソン型)波器が代表
的なものとしてよく知られている。この種の波
器はパルス伝送回路に用いて波決歪(オーバーシ
ユート)を生じない条件を備えたものとしてよく
知られており、その位相条件から直線位相型波
器とも呼ばれている。また一定量のリツプルを許
容する設計法としてベネツト(Benett)の変換
法等を利用したものが知られている。これ等の直
線位相型波器の高次のものは、インパルス応答
が、いずれも正規分布函数に近似しており、しか
も縦続段数と時定数に応じてそれぞれ遅延時間と
立上り時間が一義的に決定され、本実施例に使用
する事ができる。尚、この波器自身、上記遅延
時間を持つているので、他に遅延素子は必要な
い。増幅器12は式(2)に於けるe-〓T 2(ループ一巡
の時間に起る16Nの減衰率)を模擬するものであ
り、増幅器13はe〓T 1(利得の規格化係数)を模
擬するものである。
り、波器11の機能は遅延と近似正規分布応答
の両方を行うことである。近似的正規分布応答
(アナログ)波器としては種々のものが使用で
きるが、ベツセル型(トムソン型)波器が代表
的なものとしてよく知られている。この種の波
器はパルス伝送回路に用いて波決歪(オーバーシ
ユート)を生じない条件を備えたものとしてよく
知られており、その位相条件から直線位相型波
器とも呼ばれている。また一定量のリツプルを許
容する設計法としてベネツト(Benett)の変換
法等を利用したものが知られている。これ等の直
線位相型波器の高次のものは、インパルス応答
が、いずれも正規分布函数に近似しており、しか
も縦続段数と時定数に応じてそれぞれ遅延時間と
立上り時間が一義的に決定され、本実施例に使用
する事ができる。尚、この波器自身、上記遅延
時間を持つているので、他に遅延素子は必要な
い。増幅器12は式(2)に於けるe-〓T 2(ループ一巡
の時間に起る16Nの減衰率)を模擬するものであ
り、増幅器13はe〓T 1(利得の規格化係数)を模
擬するものである。
本発明は第4図の実施例に於て波器11の時
定数および次数(縦続段数)を特定の値、すなわ
ちプラントの系統構成から生じる要求値(式(2)に
示されたT2及びSF2)に合わせて選ぶ事により、
極めて精度の高い応答補正回路が構成できる事を
示すものであり、またその設計の指標を与えるも
のである。尚、上記特定値は一つのフイルタ形式
(例えばベツセル型)に対して時定数及び次数の
組合せは一つしかない。
定数および次数(縦続段数)を特定の値、すなわ
ちプラントの系統構成から生じる要求値(式(2)に
示されたT2及びSF2)に合わせて選ぶ事により、
極めて精度の高い応答補正回路が構成できる事を
示すものであり、またその設計の指標を与えるも
のである。尚、上記特定値は一つのフイルタ形式
(例えばベツセル型)に対して時定数及び次数の
組合せは一つしかない。
次に近似的正規分布応答波器11の一例を用
いて、最適時定数および最適次数すなわち一次遅
れ要素の段数を決定し、それを用いた応答補正回
路の補正精度を電子計算機を用いたシミユーレー
シヨン結果によつて示す。
いて、最適時定数および最適次数すなわち一次遅
れ要素の段数を決定し、それを用いた応答補正回
路の補正精度を電子計算機を用いたシミユーレー
シヨン結果によつて示す。
一次遅れ要素を多段縦続したものは、次数が非
常に大きい時に正規分布応答波器に近似する事
が知られているが、これの周波数応答を次式で示
す。
常に大きい時に正規分布応答波器に近似する事
が知られているが、これの周波数応答を次式で示
す。
F(ω)=1/(1+jω△T)n …(3)
ここで、△T:一次遅れ要素の時定数
n:縦続段数
式(3)で表わされる波器の応答の群遅延及び立
上り時間をそれぞれ式(2)の予定された時間T2及
び広がりSF2の立上り時間に一致させれば所望の
補正機能が得られる。式(3)で表わされる波器1
1のステツプ応答は次式で表わされる。
上り時間をそれぞれ式(2)の予定された時間T2及
び広がりSF2の立上り時間に一致させれば所望の
補正機能が得られる。式(3)で表わされる波器1
1のステツプ応答は次式で表わされる。
f(t)=1−e-t/△T o
〓0
(t/△T)n/n! …(4)
式(4)からステツプ応答の群遅延時間の近似値
(t50)および立上り時間の近似値(t10-90)を求
めると次式の様になる。(尚、t10-90はステツプ応
答の一次微分係数の最大値の逆数にほぼ一致す
る) t50≒n△T …(5) t10-90≒{f′(t)nax}-1=√2△T …(6) これからnおよび△Tの最適値が次式の様に導
びかれる。
(t50)および立上り時間の近似値(t10-90)を求
めると次式の様になる。(尚、t10-90はステツプ応
答の一次微分係数の最大値の逆数にほぼ一致す
る) t50≒n△T …(5) t10-90≒{f′(t)nax}-1=√2△T …(6) これからnおよび△Tの最適値が次式の様に導
びかれる。
n=2π(t50/t10-90)2 …(7)
△T=t2 10-90/2πt50 …(8)
式(7)及び(8)に典型的なPWRプラントの一次冷
却ループの一巡に要する群遅延時間(約10秒)お
よび一次冷却材ループ一巡の間に生じる撹拌によ
る応答の広がり(等価時定数約2秒、t10-90の形
で約4秒)を適用すると次式の値が得られる。
却ループの一巡に要する群遅延時間(約10秒)お
よび一次冷却材ループ一巡の間に生じる撹拌によ
る応答の広がり(等価時定数約2秒、t10-90の形
で約4秒)を適用すると次式の値が得られる。
n=2π(10/4)2≒39 …(9)
△T=t2 10-90/2πt50=0.255(秒) …(10)
第4図の実施例の回路構成に式(9)及び(10)の条件
を満たした多段一次遅れ回路を使用した場合の応
答補正機能を電子計算機でシミユレートした結果
を第5図に示す。これより分かるように、第2図
の従来技術例に比較して極めて良好な補正精度を
有している。これは、近似正規分布応答波器
が、16N炉出力計の応答補正に良く適合する事お
よび、特定の最適時定数および最適次数に於て極
めて良い補正精度が得られる事を示しており、補
正精度は1%程度である。
を満たした多段一次遅れ回路を使用した場合の応
答補正機能を電子計算機でシミユレートした結果
を第5図に示す。これより分かるように、第2図
の従来技術例に比較して極めて良好な補正精度を
有している。これは、近似正規分布応答波器
が、16N炉出力計の応答補正に良く適合する事お
よび、特定の最適時定数および最適次数に於て極
めて良い補正精度が得られる事を示しており、補
正精度は1%程度である。
以上の説明に用いた正規分布応答波器の例で
は非常に大きな次数(縦続段数)を必要とした
が、補正精度を犠牲にしない範囲内で波器の応
答のリツプルを許容する事により、大幅な次数の
削減が可能である。
は非常に大きな次数(縦続段数)を必要とした
が、補正精度を犠牲にしない範囲内で波器の応
答のリツプルを許容する事により、大幅な次数の
削減が可能である。
第6図は本発明の原子炉出力計に用いる過渡応
答補正回路の他の実施例の構成を示す図である
が、この回路ではリツプルの許容によつて大幅に
次数を削減している。
答補正回路の他の実施例の構成を示す図である
が、この回路ではリツプルの許容によつて大幅に
次数を削減している。
近似正規分布応答波器20はアクテイブフイ
ルタ20a,20b,……20nから成り、他の
微分回路21を備えている。微分回路21は増幅
器13の構成がこの実施例の様に加算器となつて
いる場合は、単なるコンデンサのみで良い。アク
テイブフイルタ20a,20b……20nは数%
のリツプルを有する様に上述のベツセル型(トム
ソン型)波器とバターワース型波器の中間的
特性を持たせてある。微分回路21はフイルタ列
20の後半に於て遅延時間が全フイルタ列の遅延
時間の60〜90%となる点に挿入してある。尚、R
1〜R5は抵抗器である。
ルタ20a,20b,……20nから成り、他の
微分回路21を備えている。微分回路21は増幅
器13の構成がこの実施例の様に加算器となつて
いる場合は、単なるコンデンサのみで良い。アク
テイブフイルタ20a,20b……20nは数%
のリツプルを有する様に上述のベツセル型(トム
ソン型)波器とバターワース型波器の中間的
特性を持たせてある。微分回路21はフイルタ列
20の後半に於て遅延時間が全フイルタ列の遅延
時間の60〜90%となる点に挿入してある。尚、R
1〜R5は抵抗器である。
第7図は第6図の実施例の動作特性を説明する
図で、点線曲線aはアクテイブフイルタ20nの
出力信号を示し、わずかにリツプル(オーバーシ
ユート)を持たせる事により実線曲線bに比べて
立上り波形後半の定常値への収束を早める作用を
示している。点線曲線bは微分回路21の出力信
号を示し、点線曲線cは曲線aとbを加えること
により立上り開始時刻を遅らせることができる事
を説明している。この結果、群遅延時間(T50)
に対する立上り時間(T10-90)の割合を減らすこ
とができる。
図で、点線曲線aはアクテイブフイルタ20nの
出力信号を示し、わずかにリツプル(オーバーシ
ユート)を持たせる事により実線曲線bに比べて
立上り波形後半の定常値への収束を早める作用を
示している。点線曲線bは微分回路21の出力信
号を示し、点線曲線cは曲線aとbを加えること
により立上り開始時刻を遅らせることができる事
を説明している。この結果、群遅延時間(T50)
に対する立上り時間(T10-90)の割合を減らすこ
とができる。
ここで式(7)を考慮すると、第4図の実施例では
比:t50/t10-90を大きくするために大きな次数n
(縦続段数)を必要としていた事になり、同一の
段数で大きな比:t50/t10-90を得る事ができれ
ば、段数の節減が可能な事がわかる。
比:t50/t10-90を大きくするために大きな次数n
(縦続段数)を必要としていた事になり、同一の
段数で大きな比:t50/t10-90を得る事ができれ
ば、段数の節減が可能な事がわかる。
第6図の実施例で約3%のプレシユートとオー
バーシユートを許容した実際の設計例に於て必要
なアクテイブフイルタの個数は4乃至5個であつ
た。各アクテイブフイルタは3次とした。補正精
度はフイルタ個数4個の場合でも2%以内であ
り、次数の節減による精度の劣化は実用上問題と
ならない。
バーシユートを許容した実際の設計例に於て必要
なアクテイブフイルタの個数は4乃至5個であつ
た。各アクテイブフイルタは3次とした。補正精
度はフイルタ個数4個の場合でも2%以内であ
り、次数の節減による精度の劣化は実用上問題と
ならない。
第8図には、ここで用いた各アクテイブフイル
タの基本構成例を示す。図中、Fは増幅器、R6
〜R8は抵抗器、そしてC1〜C3はコンデンサ
である。
タの基本構成例を示す。図中、Fは増幅器、R6
〜R8は抵抗器、そしてC1〜C3はコンデンサ
である。
以上の説明で明らかな様に、本発明の応答補正
回路により従来困難とされていたアナログ式電子
演算回路による16N炉出力計の過渡応答補正を極
めて高精度で行うことが可能であり、16N炉出力
計を原子炉保護系に利用する上で大きな利点を有
する。また、本方式では電子計算機を用いる補正
方式に比べて、信頼性、即時性、および経済性の
点でも有利であり、実用性の高い原子炉出力計を
大幅に簡略化されたアナログ電子演算回路によつ
て提供できる効果がある。
回路により従来困難とされていたアナログ式電子
演算回路による16N炉出力計の過渡応答補正を極
めて高精度で行うことが可能であり、16N炉出力
計を原子炉保護系に利用する上で大きな利点を有
する。また、本方式では電子計算機を用いる補正
方式に比べて、信頼性、即時性、および経済性の
点でも有利であり、実用性の高い原子炉出力計を
大幅に簡略化されたアナログ電子演算回路によつ
て提供できる効果がある。
第1図は16N原子炉出力計の原理を説明する
図、第2図は従来の16N原子炉出力計に於ける過
渡応答補正のシミユレーシヨン結果を示す図、第
3図は本発明の16N原子炉出力計の過渡応答の歪
みの発生原因を説明する図、第4図は本発明の
16N原子炉出力計に用いる過渡応答補正回路の一
実施例の構成を示すブロツク図、第5図は本発明
の16N原子炉出力計に於ける過渡応答補正のシミ
ユレーシヨン結果を示す図、第6図は本発明の原
子炉出力計に用いる過渡応答補正回路の他の実施
例の構成を示すブロツク回路図、第7図は第6図
の回路動作を説明する図、そして、第8図は第6
図の波器の具体的構成を示す回路図、である。 1……原子炉、3……ガンマ線検出器(原子炉
出力計)、4……炉心、11,20……近似正規
分布函数応答波器、12,13……増幅器、2
0a〜20n……アクテイブフイルタ、21……
微分回路。なお、各図中、同一符号は同一又は相
当部分を示す。
図、第2図は従来の16N原子炉出力計に於ける過
渡応答補正のシミユレーシヨン結果を示す図、第
3図は本発明の16N原子炉出力計の過渡応答の歪
みの発生原因を説明する図、第4図は本発明の
16N原子炉出力計に用いる過渡応答補正回路の一
実施例の構成を示すブロツク図、第5図は本発明
の16N原子炉出力計に於ける過渡応答補正のシミ
ユレーシヨン結果を示す図、第6図は本発明の原
子炉出力計に用いる過渡応答補正回路の他の実施
例の構成を示すブロツク回路図、第7図は第6図
の回路動作を説明する図、そして、第8図は第6
図の波器の具体的構成を示す回路図、である。 1……原子炉、3……ガンマ線検出器(原子炉
出力計)、4……炉心、11,20……近似正規
分布函数応答波器、12,13……増幅器、2
0a〜20n……アクテイブフイルタ、21……
微分回路。なお、各図中、同一符号は同一又は相
当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 原子炉の一次冷却材中に発生する放射性同位
元素16Nから放射されるガンマ線を検出すること
により前記放射性同位元素16Nの濃度信号を出力
するガンマ線検出器と、近似正規分布応答波器
を有するとともに前記濃度信号の過渡応答を補正
する補正回路とを備え、前記原子炉の出力を測定
する原子炉出力計において、 前記近似正規分布応答波器の群遅延時間を、
前記原子炉の一次冷却材ループの一巡所要時間に
ほぼ一致させるとともに、前記近似正規分布応答
波器のステツプ応答の立ち上がり時間を、前記
一次冷却材ループの一巡の間に生じる撹拌による
前記濃度信号の立ち上がりの広がり時間にほぼ一
致させることにより、前記近似正規分布応答波
器が、 exp(λT1)S(t) {δ(t)−exp(−λT2)δ(t−T2)SF2} (ここに、λは前記放射性同位元素16Nの減衰
定数、T1は前記原子炉の炉心から前記ガンマ線
検出器までの前記一次冷却材の流動所要時間、S
(t)はガンマ線検出器の出力、δ(t)は単位デ
ルタ函数、T2は前記一巡所要時間、SF2は前記一
次冷却材ループを一巡する間に起こる前記一次冷
却材の撹拌による広がりを示し、また、記号は
重畳積分を表す。) なる補正演算を行うようにすることを特徴とする
原子炉出力計。 2 前記近似正規分布応答波器は多段縦続接続
した一次遅れ要素から構成され、前記一巡所要時
間をt、前記一次冷却材が前記一次冷却材ループ
を一巡する間に生じる撹拌による前記濃度信号の
立ち上がりの広がり時間をt10-90としたとき、前
記一次遅れ要素の縦続段数を 2π(t/t10-90)2 にほぼ等しくし、各前記一次遅れ要素の時定数を (t10-90)2/(2πt) にほぼ等しくした特許請求の範囲第1項記載の原
子炉出力計。 3 前記近似正規分布応答波器は、その特性が
ベツセル型(トムソン型)波器とバターワール
ス型波器との中間にあつて1%〜10%のオーバ
ーシユートを有し、かつ全遅延時間の60%〜90%
の遅延時間を有する点に中間出力端子を有し、前
記中間出力端子に微分器を接続し、前記微分器の
出力を前記近似正規分布応答波器の出力から差
し引くようにしたものである特許請求の範囲第1
項記載の原子炉出力計。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59223016A JPS61102595A (ja) | 1984-10-25 | 1984-10-25 | 原子炉出力計 |
US06/790,625 US4696789A (en) | 1984-10-25 | 1985-10-23 | Nuclear reactor power meter |
EP85307719A EP0179669B1 (en) | 1984-10-25 | 1985-10-25 | Nuclear reactor output meter |
DE8585307719T DE3578256D1 (de) | 1984-10-25 | 1985-10-25 | Ausgangsleistungsmeter fuer einen kernreaktor. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59223016A JPS61102595A (ja) | 1984-10-25 | 1984-10-25 | 原子炉出力計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61102595A JPS61102595A (ja) | 1986-05-21 |
JPH0431078B2 true JPH0431078B2 (ja) | 1992-05-25 |
Family
ID=16791507
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59223016A Granted JPS61102595A (ja) | 1984-10-25 | 1984-10-25 | 原子炉出力計 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4696789A (ja) |
EP (1) | EP0179669B1 (ja) |
JP (1) | JPS61102595A (ja) |
DE (1) | DE3578256D1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060119891A (ko) * | 2003-08-28 | 2006-11-24 | 코닌클리즈케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 합성 필터 및 패스밴드 리플 제거 방법 |
US7391124B2 (en) * | 2005-05-25 | 2008-06-24 | Angel Severino Diaz | Method and system for producing electricity |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1278618B (de) * | 1966-12-22 | 1968-09-26 | Siemens Ag | Leistungsmesseinrichtung fuer Kernreaktoranlagen |
US3822184A (en) * | 1970-12-30 | 1974-07-02 | Westinghouse Electric Corp | N16 reactor power measuring system |
BE787439A (fr) * | 1971-08-12 | 1973-02-12 | Westinghouse Electric Corp | Systeme de mesure de puissance et de detection de fuite de combustible |
US4411858A (en) * | 1981-01-30 | 1983-10-25 | Scandpower, Inc. | Power performance monitoring system for nuclear reactor fuel core |
-
1984
- 1984-10-25 JP JP59223016A patent/JPS61102595A/ja active Granted
-
1985
- 1985-10-23 US US06/790,625 patent/US4696789A/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-10-25 DE DE8585307719T patent/DE3578256D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1985-10-25 EP EP85307719A patent/EP0179669B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0179669B1 (en) | 1990-06-13 |
JPS61102595A (ja) | 1986-05-21 |
US4696789A (en) | 1987-09-29 |
DE3578256D1 (de) | 1990-07-19 |
EP0179669A3 (en) | 1987-12-02 |
EP0179669A2 (en) | 1986-04-30 |
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