JPH04305170A - 伝送線のインピーダンスの精密測定の方法 - Google Patents
伝送線のインピーダンスの精密測定の方法Info
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- JPH04305170A JPH04305170A JP3019408A JP1940891A JPH04305170A JP H04305170 A JPH04305170 A JP H04305170A JP 3019408 A JP3019408 A JP 3019408A JP 1940891 A JP1940891 A JP 1940891A JP H04305170 A JPH04305170 A JP H04305170A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 28
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- 101000582320 Homo sapiens Neurogenic differentiation factor 6 Proteins 0.000 claims description 2
- 102100030589 Neurogenic differentiation factor 6 Human genes 0.000 claims description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims 1
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/16—Measuring impedance of element or network through which a current is passing from another source, e.g. cable, power line
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、伝送線のインピーダン
スを測定することに係り、より詳細にはそのような測定
を時間領域反射測定(time domain r
eflectometry、TDR)を用いて行う方法
に係る。
スを測定することに係り、より詳細にはそのような測定
を時間領域反射測定(time domain r
eflectometry、TDR)を用いて行う方法
に係る。
【0002】
【従来の技術】伝送線の特性を測定する際に時間領域反
射測定(TDR)を用いることがある。この場合、電圧
パルスが伝送線に印加され、線のインピーダンス或いは
不連続性が観測される。例えばこの技術により、伝送線
或いはケーブル内の大きな欠陥のある位置を突止めるこ
とができる。しかしながらこの測定技術では、「ドリブ
ル・アップ(dribble up)」と呼ばれる現
象が生ずるため、その測定能力が損われてしまう。「ド
リブル・アップ」とは、インピーダンスを測定する伝送
線の長さが長くなるにつれて、ケーブルのインピーダン
スが顕著に上方へドリフトするというものである。今ま
では、この現象は伝送線内に於ける高周波の表皮効果に
よる損失のためであるとされている。例えば、「タイム
・ドメイン・リフレクトメトリー」(“Time Do
main Reflectometory”, Hew
lett−Packard Application
Note #62, 1964 ); 或いは、「メイ
キング・オートメイテッド・TDR・メイジャーメンツ
」(“Making Automatical TD
R Measurements”Handshake
, Summer 1986 John McHugh
, Tektronix)を参照されたい。
射測定(TDR)を用いることがある。この場合、電圧
パルスが伝送線に印加され、線のインピーダンス或いは
不連続性が観測される。例えばこの技術により、伝送線
或いはケーブル内の大きな欠陥のある位置を突止めるこ
とができる。しかしながらこの測定技術では、「ドリブ
ル・アップ(dribble up)」と呼ばれる現
象が生ずるため、その測定能力が損われてしまう。「ド
リブル・アップ」とは、インピーダンスを測定する伝送
線の長さが長くなるにつれて、ケーブルのインピーダン
スが顕著に上方へドリフトするというものである。今ま
では、この現象は伝送線内に於ける高周波の表皮効果に
よる損失のためであるとされている。例えば、「タイム
・ドメイン・リフレクトメトリー」(“Time Do
main Reflectometory”, Hew
lett−Packard Application
Note #62, 1964 ); 或いは、「メイ
キング・オートメイテッド・TDR・メイジャーメンツ
」(“Making Automatical TD
R Measurements”Handshake
, Summer 1986 John McHugh
, Tektronix)を参照されたい。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】伝送線のインピーダン
ス測定を高精度に行うことは、しばしば非常に重要とな
る。例えば高速データ通信回線網を維持できることが要
請される場合に重要となる。しかし、これは一例でしか
ない。ところでこの測定の正確さを達成するためには、
「ドリブル・アップ」効果が、伝送線の長さ方向につい
て測定がなされる場所によらず、観測から除去されなけ
ればならない。
ス測定を高精度に行うことは、しばしば非常に重要とな
る。例えば高速データ通信回線網を維持できることが要
請される場合に重要となる。しかし、これは一例でしか
ない。ところでこの測定の正確さを達成するためには、
「ドリブル・アップ」効果が、伝送線の長さ方向につい
て測定がなされる場所によらず、観測から除去されなけ
ればならない。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の幾つかの目的を
次に示す:伝送線或いは伝送ケーブルのインピーダンス
を測定する方法を提供すること;前記の如き方法であっ
て、時間領域反射測定を用いる方法を提供すること;前
記の如き方法であって、伝送線のインピーダンスを測定
する際に見られる「ドリブル・アップ」効果を考慮に入
れ、これにより従来可能であった以上により精度のよい
インピーダンス測定を提供する方法を提供すること;前
記の如き方法であって、「ドリブル・アップ」が高周波
表皮効果による損失によるものではなく伝送線のループ
抵抗によるものであると認識して測定する方法を提供す
ること;前記の如き方法であって、ケーブルに大きな欠
陥があるかどうかをより簡単に確認する方法;そして、
前記のような方法であって、適当な器具を使用すること
により実行されるか、或いは線のインピーダンス特性が
測定されると素早く実行される数学的演算を含む方法を
開示すること。
次に示す:伝送線或いは伝送ケーブルのインピーダンス
を測定する方法を提供すること;前記の如き方法であっ
て、時間領域反射測定を用いる方法を提供すること;前
記の如き方法であって、伝送線のインピーダンスを測定
する際に見られる「ドリブル・アップ」効果を考慮に入
れ、これにより従来可能であった以上により精度のよい
インピーダンス測定を提供する方法を提供すること;前
記の如き方法であって、「ドリブル・アップ」が高周波
表皮効果による損失によるものではなく伝送線のループ
抵抗によるものであると認識して測定する方法を提供す
ること;前記の如き方法であって、ケーブルに大きな欠
陥があるかどうかをより簡単に確認する方法;そして、
前記のような方法であって、適当な器具を使用すること
により実行されるか、或いは線のインピーダンス特性が
測定されると素早く実行される数学的演算を含む方法を
開示すること。
【0005】本発明は、簡単に述べれば、伝送線のイン
ピーダンスを測定する方法であり、そして先ず第一に伝
送線の長さ及び直流ループ抵抗を測定することを含む。 次に伝送線に沿ってパルスが送られる。このパルスの幅
は、そのパルスがパルス源から伝送線の末端まで伝播し
、再びパルス源まで戻って来るまでに必要な時間より大
きいものである。伝送されたパルスと反射されたパルス
はモニタされ、その結果の示度は全インピーダンス測定
値に転換される。最後にその測定値は伝送線の直流ルー
プ抵抗の関数である「ドリブル・アップ」効果の分につ
いて修正される。この修正された測定値が正確な伝送線
のインピーダンスの測定値である。その他の目的及び特
徴は以下の記述に於て明らかにされ、又指摘されよう。
ピーダンスを測定する方法であり、そして先ず第一に伝
送線の長さ及び直流ループ抵抗を測定することを含む。 次に伝送線に沿ってパルスが送られる。このパルスの幅
は、そのパルスがパルス源から伝送線の末端まで伝播し
、再びパルス源まで戻って来るまでに必要な時間より大
きいものである。伝送されたパルスと反射されたパルス
はモニタされ、その結果の示度は全インピーダンス測定
値に転換される。最後にその測定値は伝送線の直流ルー
プ抵抗の関数である「ドリブル・アップ」効果の分につ
いて修正される。この修正された測定値が正確な伝送線
のインピーダンスの測定値である。その他の目的及び特
徴は以下の記述に於て明らかにされ、又指摘されよう。
【0006】
【実施例】図面を参照する。伝送線TLのインピーダン
スを測定する方法は、伝送線の一つの端E1を検査装置
1に連結することを含む。伝送線は種々のタイプの伝送
線のうちの一つであってよく、その端E1の上に取付け
られるコネクタは種々のコネクタのうちの一つであって
よい。検査装置1は、その装置を伝送線の端に連結する
ことのできる適当なコネクタ2を有する。或いは適当な
アダプタ(図示せず)を用いて、伝送線が検査装置に取
付けられてもよい。検査装置が伝送線の端E1に連結さ
れると、適当な終端3が伝送線の他端(端E2)に取付
けられる。終端3は伝送線TLを短絡することが望まし
い。
スを測定する方法は、伝送線の一つの端E1を検査装置
1に連結することを含む。伝送線は種々のタイプの伝送
線のうちの一つであってよく、その端E1の上に取付け
られるコネクタは種々のコネクタのうちの一つであって
よい。検査装置1は、その装置を伝送線の端に連結する
ことのできる適当なコネクタ2を有する。或いは適当な
アダプタ(図示せず)を用いて、伝送線が検査装置に取
付けられてもよい。検査装置が伝送線の端E1に連結さ
れると、適当な終端3が伝送線の他端(端E2)に取付
けられる。終端3は伝送線TLを短絡することが望まし
い。
【0007】以下の方法の記載に於て、様々な検査装置
が線TLのインピーダンスを決定するのに必要な幾つか
の異った測定を行うために用いられ得ることが理解され
るであろう。或いは装置1は必要とされる検査部品の全
てを組入れていてもよい。かかる装置は例えば、米国出
願第 , , 号に開
示されている。図1に描かれている装置1は適当な一例
に過ぎない。本発明に於てここに採用されるインピーダ
ンス測定技術は使われる器械の型によらず、時間領域反
射測定(TDR)の原理を使うものである。この分野で
よく知られているように、TDRでは、測定中のケーブ
ルの一端へ挿入される非常にはっきりと輪郭付けられた
検査パルス或いは伝送パルスの「像」を得ることが行わ
れる。そして、又、ケーブルの他端から反射されたパル
スの像もえられる。 この第二の像は、線がどのように終結されているかだけ
でなく、伝送線のインピーダンスの変化、伝送線の断線
或いは短絡を示す。
が線TLのインピーダンスを決定するのに必要な幾つか
の異った測定を行うために用いられ得ることが理解され
るであろう。或いは装置1は必要とされる検査部品の全
てを組入れていてもよい。かかる装置は例えば、米国出
願第 , , 号に開
示されている。図1に描かれている装置1は適当な一例
に過ぎない。本発明に於てここに採用されるインピーダ
ンス測定技術は使われる器械の型によらず、時間領域反
射測定(TDR)の原理を使うものである。この分野で
よく知られているように、TDRでは、測定中のケーブ
ルの一端へ挿入される非常にはっきりと輪郭付けられた
検査パルス或いは伝送パルスの「像」を得ることが行わ
れる。そして、又、ケーブルの他端から反射されたパル
スの像もえられる。 この第二の像は、線がどのように終結されているかだけ
でなく、伝送線のインピーダンスの変化、伝送線の断線
或いは短絡を示す。
【0008】伝送線TLが装置1に連結され、終端3が
線の端E2に取付けられてから、作業者がスイッチ5A
−5Dのうちの一つを押すと検査される線の型が表示さ
れる。検査装置1の検査できる伝送線の型は四つ以上あ
る。検査装置1は図1に示すような押しボタンスイッチ
を用いずに四つ以上の複数の切換位置を有する回転式ス
イッチを用いてもよい。また、検査装置1は、電子制御
装置(図示せず)を有しその中に或るコード化された入
力或いはその他の入力によって検査される線の型を表示
するようにされてもよい。
線の端E2に取付けられてから、作業者がスイッチ5A
−5Dのうちの一つを押すと検査される線の型が表示さ
れる。検査装置1の検査できる伝送線の型は四つ以上あ
る。検査装置1は図1に示すような押しボタンスイッチ
を用いずに四つ以上の複数の切換位置を有する回転式ス
イッチを用いてもよい。また、検査装置1は、電子制御
装置(図示せず)を有しその中に或るコード化された入
力或いはその他の入力によって検査される線の型を表示
するようにされてもよい。
【0009】伝送線のインピーダンスの決定をする上で
必要な第一の過程は、線の長さLと直流ループ抵抗rを
測定することである。伝送線の長さを測定するために、
検査装置1の作業者は制御スイッチ7を選択する。そう
すると検査装置1、は線TLに沿ってパルスを伝送し、
パルスが線の端E2へ伝播し反射された装置まで戻った
来るのに必要な時間を測定する。パルスの伝播速度は検
査される線の型によって決定されるものであり、既に知
られている値である。従って伝送線の長さは下記の数1
で表される式で計算される。
必要な第一の過程は、線の長さLと直流ループ抵抗rを
測定することである。伝送線の長さを測定するために、
検査装置1の作業者は制御スイッチ7を選択する。そう
すると検査装置1、は線TLに沿ってパルスを伝送し、
パルスが線の端E2へ伝播し反射された装置まで戻った
来るのに必要な時間を測定する。パルスの伝播速度は検
査される線の型によって決定されるものであり、既に知
られている値である。従って伝送線の長さは下記の数1
で表される式で計算される。
【0010】
【数1】すると、伝送線のループ抵抗が下記の数2で表
される式で与えられる。
される式で与えられる。
【0011】
【数2】
【0012】上記の過程が終了すると、検査装置1は、
検査装置自身と伝送線TLとのインピーダンス整合を行
う。整合が終了すると作業者はスイッチ9を押す。する
と検査装置1は伝送線TLに沿って一連のパルスを伝送
し始める。ここで新たに伝送されるパルスは、そのパル
スが装置1から伝送線1の末端へ伝播し、反射されて装
置へ戻って来るまでに必要な時間よりも大きいパルス幅
を有する。この伝送されるパルスと反射されるパルスは
モニタされる。この目的ためにオシロスコープ11が用
いられる。伝送されるパルスPt及び反射されるパルス
Prはモニタされるだけでなく、その強度が測定され、
その測定された強度は線TLの全インピーダンスの値に
変換される。この全インピーダンスは下記の数3で表わ
される式で計算される。
検査装置自身と伝送線TLとのインピーダンス整合を行
う。整合が終了すると作業者はスイッチ9を押す。する
と検査装置1は伝送線TLに沿って一連のパルスを伝送
し始める。ここで新たに伝送されるパルスは、そのパル
スが装置1から伝送線1の末端へ伝播し、反射されて装
置へ戻って来るまでに必要な時間よりも大きいパルス幅
を有する。この伝送されるパルスと反射されるパルスは
モニタされる。この目的ためにオシロスコープ11が用
いられる。伝送されるパルスPt及び反射されるパルス
Prはモニタされるだけでなく、その強度が測定され、
その測定された強度は線TLの全インピーダンスの値に
変換される。この全インピーダンスは下記の数3で表わ
される式で計算される。
【0013】
【数3】この計算された値は例えばデジタル読出し13
上に表示されてよい。
上に表示されてよい。
【0014】図2及び図3を参照する。図2は、均一に
50オームである伝送線について時間領域反射測定をし
た場合の結果がどのように見えるかをグラフ化して表わ
したものである。横軸は線に沿った長さを表わし、縦軸
はrho(t)を示す。ここに示されているように、L
=0に於て、rhoの値が実際の線インピーダンスに対
応する。長さが増加するにつれて、rhoの値は次第に
増加する。均一な伝送線の場合では、rhoの値は破線
によって示されている如く、グラフを水平に横切るよう
に延在するべきものである。全ての点に於けるこれらの
二つの差異は「ドリブル・アップ」効果の結果である。 図3に於て、グラフの横軸は長さを示し、縦軸は測定さ
れた線インピーダンスZ(t)を示す。このグラフに於
ても、均一に50オームを有する線についての「ドリブ
ル・アップ」効果が示されている。それ故正確な線イン
ピーダンス値を得るためには、「ドリブル・アップ」効
果についてZ(t)を修正することが重要である。
50オームである伝送線について時間領域反射測定をし
た場合の結果がどのように見えるかをグラフ化して表わ
したものである。横軸は線に沿った長さを表わし、縦軸
はrho(t)を示す。ここに示されているように、L
=0に於て、rhoの値が実際の線インピーダンスに対
応する。長さが増加するにつれて、rhoの値は次第に
増加する。均一な伝送線の場合では、rhoの値は破線
によって示されている如く、グラフを水平に横切るよう
に延在するべきものである。全ての点に於けるこれらの
二つの差異は「ドリブル・アップ」効果の結果である。 図3に於て、グラフの横軸は長さを示し、縦軸は測定さ
れた線インピーダンスZ(t)を示す。このグラフに於
ても、均一に50オームを有する線についての「ドリブ
ル・アップ」効果が示されている。それ故正確な線イン
ピーダンス値を得るためには、「ドリブル・アップ」効
果についてZ(t)を修正することが重要である。
【0015】既に述べた通り、「ドリブル・アップ」は
伝送線に於て高周波の表面効果による損失の結果として
生ずると考えられていた。しかしながらそのようなこと
はない。むしろ、この効果は伝送線のループ抵抗の結果
によってのみ生ずるということが示されている。この値
は上述の如く決定され、測定された伝送線インピーダン
スを修正するのに用いることができる。修正された伝送
線インピーダンスは下記の数4に表される式に従って計
算される。
伝送線に於て高周波の表面効果による損失の結果として
生ずると考えられていた。しかしながらそのようなこと
はない。むしろ、この効果は伝送線のループ抵抗の結果
によってのみ生ずるということが示されている。この値
は上述の如く決定され、測定された伝送線インピーダン
スを修正するのに用いることができる。修正された伝送
線インピーダンスは下記の数4に表される式に従って計
算される。
【0016】
【数4】従って、真の伝送線インピーダンスが直流ルー
プ抵抗の関数として計算される。更に、線の長さと、伝
送線の端の近くで測定されたインピーダンスと、パルス
から線の端までパルスが伝播する時間と、パルスの伝播
速度とが、修正された伝播速度を決定する際に考慮され
る。装置のパラメータがA=1となるように選択された
時、数4の方程式は下記の数5で表わされる如く簡単に
することができる。
プ抵抗の関数として計算される。更に、線の長さと、伝
送線の端の近くで測定されたインピーダンスと、パルス
から線の端までパルスが伝播する時間と、パルスの伝播
速度とが、修正された伝播速度を決定する際に考慮され
る。装置のパラメータがA=1となるように選択された
時、数4の方程式は下記の数5で表わされる如く簡単に
することができる。
【0017】
【数5】図4を参照すると、そこに示されているグラフ
は伝送線の真の伝送線のインピーダンスを示す。そのグ
ラフの線は実質的に水平線であり、これは長さ方向に均
一な伝送線について予測されるものである。またこの修
正されたインピーダンス値は検査装置1のデジタル表示
15の上に表示される。
は伝送線の真の伝送線のインピーダンスを示す。そのグ
ラフの線は実質的に水平線であり、これは長さ方向に均
一な伝送線について予測されるものである。またこの修
正されたインピーダンス値は検査装置1のデジタル表示
15の上に表示される。
【0018】本発明による測定されたインピーダンスを
「ドリブル・アップ」について修正することに於ける効
果を更によく理解するために、下記の表1及び表2に於
て典型的な型の同軸ケーブル及びより二線式ケーブルに
ついての測定されたインピーダンスと修正されたインピ
ーダンスを示す。この表に於て、「ドリブル・アップ」
効果は修正されたインピーダンス値に対する測定された
インピーダンス値に於ける百分率で表わされる。
「ドリブル・アップ」について修正することに於ける効
果を更によく理解するために、下記の表1及び表2に於
て典型的な型の同軸ケーブル及びより二線式ケーブルに
ついての測定されたインピーダンスと修正されたインピ
ーダンスを示す。この表に於て、「ドリブル・アップ」
効果は修正されたインピーダンス値に対する測定された
インピーダンス値に於ける百分率で表わされる。
【0019】
表
1 RG/58、MIL C17 同軸
ケーブル、
50オームZ、46メートル(m)長
長さ(m) 測定された
修正された 誤差%
インピーダンス値 インピ
ーダンス値 5.0
53.15* 48.3
2* 10.0 10
.0 54.82
48.52 1
1.3 15.0
58.29 50.27
16.0 20.
0 58.29
49.00 19
.0 25.0 5
8.29 49.41
18.0 30.0
60.10
50.76 18.
4 35.0 56
.53 47.56
18.9 40.0
58.29
48.85 19.3
45.0 54.
82 45.77
19.8 *これらの欄内データは小数点以下3桁を四捨五入した
。
1 RG/58、MIL C17 同軸
ケーブル、
50オームZ、46メートル(m)長
長さ(m) 測定された
修正された 誤差%
インピーダンス値 インピ
ーダンス値 5.0
53.15* 48.3
2* 10.0 10
.0 54.82
48.52 1
1.3 15.0
58.29 50.27
16.0 20.
0 58.29
49.00 19
.0 25.0 5
8.29 49.41
18.0 30.0
60.10
50.76 18.
4 35.0 56
.53 47.56
18.9 40.0
58.29
48.85 19.3
45.0 54.
82 45.77
19.8 *これらの欄内データは小数点以下3桁を四捨五入した
。
【0020】
表
2 IBM TYPE I より二線
式、
150オームZ、100メートル(m)
長 長さ(m) 測定された
修正された 誤差%
インピーダンス値 イン
ピーダンス値 10.65
164.87* 152.
37* 8.2 2
1.30 168.83
147.41
14.5 31.95
172.85 149.2
2 15.8 40
.47 172.85
147.88 1
6.9 51.12 1
76.94 149.70
18.2 59.
64 181.10
151.87 19
.2 70.29 18
5.33 153.73
20.6 80.9
4 185.33
152.07 21.
9 89.46 185
.33 150.78
22.9 100.11
189.64
152.65 24.2
*これらの欄内データは小数点以下3桁を四捨五入した
。
2 IBM TYPE I より二線
式、
150オームZ、100メートル(m)
長 長さ(m) 測定された
修正された 誤差%
インピーダンス値 イン
ピーダンス値 10.65
164.87* 152.
37* 8.2 2
1.30 168.83
147.41
14.5 31.95
172.85 149.2
2 15.8 40
.47 172.85
147.88 1
6.9 51.12 1
76.94 149.70
18.2 59.
64 181.10
151.87 19
.2 70.29 18
5.33 153.73
20.6 80.9
4 185.33
152.07 21.
9 89.46 185
.33 150.78
22.9 100.11
189.64
152.65 24.2
*これらの欄内データは小数点以下3桁を四捨五入した
。
【0021】これらの表を見て明らかな如く、「ドリブ
ル・アップ」効果による測定されたインピーダンス値と
修正されたインピーダンス値の間の差は無視できないほ
ど大きいものであると言えるであろう。測定された伝送
線の幾つかに於ては、その差は40%に及んだ。本発明
の方法を使うことにより、伝送線のインピーダンスのよ
り正確な測定ができることとなる。更に本発明の方法は
、測定が種々の装置を使うことによってなされるか或い
は単一の検査装置1によってなされるかに拘らず、簡単
に使うことのできるアルゴリズムを採用する。本発明の
方法を使うことによって、重大な欠陥を有する伝送線或
いは伝送ケーブルを取替えられるように、これらの欠陥
を有する線をより簡単に見つけ出すことができる。もし
そうしなければ、「ドリブル・アップ」効果が悪いケー
ブル即ちそれによって伝送される情報について有害な結
果をもたらすケーブルを隠してしまうことになるであろ
う。
ル・アップ」効果による測定されたインピーダンス値と
修正されたインピーダンス値の間の差は無視できないほ
ど大きいものであると言えるであろう。測定された伝送
線の幾つかに於ては、その差は40%に及んだ。本発明
の方法を使うことにより、伝送線のインピーダンスのよ
り正確な測定ができることとなる。更に本発明の方法は
、測定が種々の装置を使うことによってなされるか或い
は単一の検査装置1によってなされるかに拘らず、簡単
に使うことのできるアルゴリズムを採用する。本発明の
方法を使うことによって、重大な欠陥を有する伝送線或
いは伝送ケーブルを取替えられるように、これらの欠陥
を有する線をより簡単に見つけ出すことができる。もし
そうしなければ、「ドリブル・アップ」効果が悪いケー
ブル即ちそれによって伝送される情報について有害な結
果をもたらすケーブルを隠してしまうことになるであろ
う。
【図1】伝送線のインピーダンスの時間領域反射測定を
実行するために必要な測定機構の略図。
実行するために必要な測定機構の略図。
【図2】50オームの伝送線についての実際の時間領域
反射測定の結果を表わすグラフ図。
反射測定の結果を表わすグラフ図。
【図3】「ドリブル・アップ」効果について修正してい
ない伝送線についての計算されたインピーダンス、即ち
、測定されたインピーダンスを示すグラフ図。
ない伝送線についての計算されたインピーダンス、即ち
、測定されたインピーダンスを示すグラフ図。
【図4】「ドリブル・アップ」効果について修正した真
の伝送線インピーダンス、即ち、修正されたインピーダ
ンスを示すグラフ図。
の伝送線インピーダンス、即ち、修正されたインピーダ
ンスを示すグラフ図。
TL…測定される伝送線或いはケーブルL…伝送線TL
の長さ E1…検査装置1に取付けられる側の伝送線TLの端E
2…伝送線TLの装置1に取付けられない側の端Pt…
検査装置1から伝送されるパルスの波形Pr…伝送線T
Lの端E2で反射されたパルスの波形1…検査装置 2…コネクタ 3…終端 5A、5B、5C、5D…検査される伝送線の型を選択
するスイッチ 7…コントロールスイッチ 9…パルスの発生を始めるスイッチ 11…オシロスコープ 13…測定されたインピーダンスを表示するデジタル読
出し 15…修正されたインピーダンスを表示するデジタル表
示
の長さ E1…検査装置1に取付けられる側の伝送線TLの端E
2…伝送線TLの装置1に取付けられない側の端Pt…
検査装置1から伝送されるパルスの波形Pr…伝送線T
Lの端E2で反射されたパルスの波形1…検査装置 2…コネクタ 3…終端 5A、5B、5C、5D…検査される伝送線の型を選択
するスイッチ 7…コントロールスイッチ 9…パルスの発生を始めるスイッチ 11…オシロスコープ 13…測定されたインピーダンスを表示するデジタル読
出し 15…修正されたインピーダンスを表示するデジタル表
示
Claims (9)
- 【請求項1】伝送線のインピーダンスを測定する方法で
あって、伝送線の長さ及び直流ループ抵抗を測定するこ
とと、前記伝送線に伝送されるパルスであって該パルス
がそのパルス源から前記伝送線の末端まで伝播し反射さ
れて前記パルス源まで戻ってくるのに必要な時間より大
きいパルス幅を有するパルスを伝送することと、伝送さ
れたパルス及び反射されたパルスをモニタしそこで読ま
れる示度を全インピーダンスの測定値へ転換することと
、「ドリプル・アップ」効果を前記伝送線内の前記直流
ループ抵抗の関数として該「ドリプル・アップ」効果に
ついて前記全インピーダンスの測定値を修正し、その修
正された測定値を伝送線のインピーダンスの正確な測定
値とすること、とを含む方法。 - 【請求項2】請求項1に記載された方法であって、伝送
線の末端が短絡されていることを含む方法。 - 【請求項3】請求項1に記載された方法であって、伝送
線の長さを、該伝送線に沿って前記パルス源からパルス
を伝送し該パルスが伝送線の末端まで伝播し反射されて
前記パルス源へ戻って来るまでの所要時間を測定し、下
記の数1で表される式によって演算することにより測定
する方法。 【数1】 - 【請求項4】請求項3の方法であって、伝送線のループ
抵抗を下記の数2で表される式によって決定する方法。 【数2】 - 【請求項5】請求項4の方法であって、前記パルス源と
前記伝送線の特性インピーダンスの整合をすることを含
む方法。 - 【請求項6】請求項4の方法であって、前記全インピー
ダンスの測定値を下記の数3によって表される式によっ
て計算する方法。 【数3】 - 【請求項7】請求項6の方法であって、前記修正された
インピーダンスを下記の数4で表される式によって計算
する方法。 【数4】 - 【請求項8】請求項7の方法であって、A=1として、
前記修正されたインピーダンスが下記の数5で表される
式によって計算される方法。 【数5】 - 【請求項9】請求項1の方法であって、前記全インピー
ダンスの測定値を前記伝送線の長さと前記伝送線の末端
近くで測定されたインピーダンスと前記パルス源から前
記伝送線の末端まで伝播するパルスの所要時間との関数
として修正し、パルス伝播速度を修正されたインピーダ
ンスを決定する際に考慮する方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US480782 | 1990-02-16 | ||
US07/480,782 US5063353A (en) | 1990-02-16 | 1990-02-16 | Method for accurate measurement of transmission line impedance by correcting gross impedance for the "dribble-up" effect |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04305170A true JPH04305170A (ja) | 1992-10-28 |
JP3060119B2 JP3060119B2 (ja) | 2000-07-10 |
Family
ID=23909340
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3019408A Expired - Lifetime JP3060119B2 (ja) | 1990-02-16 | 1991-01-18 | 伝送線のインピーダンスの精密測定の方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5063353A (ja) |
JP (1) | JP3060119B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004233336A (ja) * | 2003-01-08 | 2004-08-19 | Toppan Printing Co Ltd | 特性インピーダンス測定方法および測定装置 |
JP2013223138A (ja) * | 2012-04-17 | 2013-10-28 | Kanji Otsuka | 信号伝送線路とその製造方法 |
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US5461318A (en) * | 1994-06-08 | 1995-10-24 | Borchert; Marshall B. | Apparatus and method for improving a time domain reflectometer |
EP0910908A1 (en) * | 1996-07-10 | 1999-04-28 | Lecroy Corporation | Method and system for characterizing terminations in a local area network |
US6829223B1 (en) * | 1998-12-31 | 2004-12-07 | Vigilant Networks Llc | Computer network physical-layer analysis method and system |
JP2002108836A (ja) * | 2000-09-29 | 2002-04-12 | Hitachi Ltd | プロセッサシステム |
GB2458653B (en) | 2008-03-25 | 2012-11-21 | Radiodetection Ltd | Time-domain reflectometer |
US8125241B2 (en) * | 2009-10-07 | 2012-02-28 | Lsi Corporation | Automatic de-emphasis setting for driving capacitive backplane |
CN102195658A (zh) * | 2010-03-17 | 2011-09-21 | Lsi股份有限公司 | 用于驱动电容性底板的自动去加重设置 |
CN102707147B (zh) * | 2012-06-19 | 2014-05-28 | 清华大学 | 一种基于扫频法的大型电力设备阻抗特性的测试方法 |
CN111352059B (zh) | 2020-04-01 | 2020-09-29 | 电子科技大学 | 一种时域反射计的特性阻抗时域分段校准方法 |
US11994545B2 (en) * | 2021-05-11 | 2024-05-28 | National Instruments Corporation | DC resistance measurement contact checking via alternating current high frequency injection |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3500204A (en) * | 1966-10-13 | 1970-03-10 | Scm Corp | Equivalent circuit determination by pulse reflectometry with compensation for particular impedances |
US4087658A (en) * | 1977-04-15 | 1978-05-02 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Apparatus and method for determining frequencies for system maximum and minimum immittances |
SU915159A1 (ru) * | 1979-11-12 | 1982-03-23 | Rizhskij Polt Inst | Дистанционный измерительный орган 1 |
US4870532A (en) * | 1988-08-24 | 1989-09-26 | Westinghouse Electric Corp. | Electric circuit for operating trip circuit of a circuit breaker |
-
1990
- 1990-02-16 US US07/480,782 patent/US5063353A/en not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-01-18 JP JP3019408A patent/JP3060119B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004233336A (ja) * | 2003-01-08 | 2004-08-19 | Toppan Printing Co Ltd | 特性インピーダンス測定方法および測定装置 |
JP2013223138A (ja) * | 2012-04-17 | 2013-10-28 | Kanji Otsuka | 信号伝送線路とその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5063353A (en) | 1991-11-05 |
JP3060119B2 (ja) | 2000-07-10 |
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