JPH04301684A - ディスプレイの画面欠点検出方法 - Google Patents
ディスプレイの画面欠点検出方法Info
- Publication number
- JPH04301684A JPH04301684A JP3065964A JP6596491A JPH04301684A JP H04301684 A JPH04301684 A JP H04301684A JP 3065964 A JP3065964 A JP 3065964A JP 6596491 A JP6596491 A JP 6596491A JP H04301684 A JPH04301684 A JP H04301684A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- display
- brightness
- screen
- defects
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 96
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 66
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 40
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims abstract description 20
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims abstract description 17
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 46
- 230000035559 beat frequency Effects 0.000 claims description 21
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 15
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims description 7
- 239000000428 dust Substances 0.000 claims description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 11
- 238000013500 data storage Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/72—Modifying the appearance of television pictures by optical filters or diffusing screens
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
- H04N17/04—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for receivers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Controls And Circuits For Display Device (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ディスプレイの画面欠
点、すなわち周囲よりも輝度が高い表示画素あるいは周
囲よりも輝度が低い表示画素を検出する方法に関する。
点、すなわち周囲よりも輝度が高い表示画素あるいは周
囲よりも輝度が低い表示画素を検出する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】カラーブラウン管シャドウマスク穴のつ
まりを検出する方法として、特開昭６３−４２４５４号
広報に記載の「カラーブラウン管シャドウマスクの検査
方法」が挙げられる。この方法はシャドウマスク穴配列
１ピッチ分ずらした画像ともとの画像の差からシャドウ
マスク穴のつまりを検出する。
まりを検出する方法として、特開昭６３−４２４５４号
広報に記載の「カラーブラウン管シャドウマスクの検査
方法」が挙げられる。この方法はシャドウマスク穴配列
１ピッチ分ずらした画像ともとの画像の差からシャドウ
マスク穴のつまりを検出する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術ではカラ
ーブラウン管シャドウマスク穴のつまりを検出するため
に、シャドウマスク穴配列１ピッチ分ずらした画像とも
との画像の差からシャドウマスク穴の異常を検出するた
め、穴の異常が軽微である場合十分なＳ／Ｎを得にくく
、安定した検出を実現することが困難であった。更に、
撮像カメラと被検査ブラウン管シャドウマスク間に相対
的な傾きが存在しないことを前提としているために、傾
きに対して極度に弱いという問題があった。
ーブラウン管シャドウマスク穴のつまりを検出するため
に、シャドウマスク穴配列１ピッチ分ずらした画像とも
との画像の差からシャドウマスク穴の異常を検出するた
め、穴の異常が軽微である場合十分なＳ／Ｎを得にくく
、安定した検出を実現することが困難であった。更に、
撮像カメラと被検査ブラウン管シャドウマスク間に相対
的な傾きが存在しないことを前提としているために、傾
きに対して極度に弱いという問題があった。
【０００４】本発明は、ブラウン管、液晶表示素子の画
面欠点（画素欠陥、点状欠陥）を検出することを目的と
しており、更にＳ／Ｎ向上により安定検出を提供するこ
とである。本発明の他の目的は、被検査ディスプレイ表
示画素と撮像カメラ画素の間に生じる撮像モアレ干渉縞
、あるいは被検査ディスプレイ表面上のほこり等の異物
あるいはディスプレイ表面と表示画素の間にあるガラス
等の内部にある気泡、あるいは被検査ディスプレイと撮
像カメラの相対的な傾きに影響されない安定検出を提供
することである。本発明の他の目的は、被検査ディスプ
レイ全面の画面欠点の高速検出を提供することである。 本発明の他の目的は、被検査ディスプレイの大きさによ
り検出系の数を増やす必要がない画面欠点検出を提供す
ることである。
面欠点（画素欠陥、点状欠陥）を検出することを目的と
しており、更にＳ／Ｎ向上により安定検出を提供するこ
とである。本発明の他の目的は、被検査ディスプレイ表
示画素と撮像カメラ画素の間に生じる撮像モアレ干渉縞
、あるいは被検査ディスプレイ表面上のほこり等の異物
あるいはディスプレイ表面と表示画素の間にあるガラス
等の内部にある気泡、あるいは被検査ディスプレイと撮
像カメラの相対的な傾きに影響されない安定検出を提供
することである。本発明の他の目的は、被検査ディスプ
レイ全面の画面欠点の高速検出を提供することである。 本発明の他の目的は、被検査ディスプレイの大きさによ
り検出系の数を増やす必要がない画面欠点検出を提供す
ることである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、特にＳ／Ｎ向上のために、カメラで被検査ディスプ
レイを撮像し、撮像画像の明るさを２倍にした画像とデ
ィスプレイ表示画素の配列ピッチ１ピッチ分左右にずら
した画像の明るさの和との差から画面欠点（画素欠陥、
点状欠陥）検出を行うようにしたものである。また、被
検査ディスプレイ表示画素と撮像カメラ画素の間に生じ
る撮像モアレ干渉縞、あるいは被検査ディスプレイ表面
上のほこり等の異物あるいはディスプレイ表面と表示画
素の間にあるガラス等の内部にある気泡による検出漏れ
・誤検出を防ぐために、カメラにより被検査ディスプレ
イを拡大撮像し、ディスプレイ表示画素を撮像カメラ画
素よりも十分に大きくすることによりモアレ干渉縞の発
生を抑え、撮像光学系の被写界深度を浅くすることによ
り異物・気泡に光学系焦点が結ばないようにしたもので
ある。また、被検査ディスプレイと撮像カメラの相対的
な傾きに影響されない安定検出を実現するために、斜め
方向のずらし処理を行い、更に可変長の遅延メモリを２
段カスケード接続し、各々の遅延量を共通に設定し斜め
方向のずらし処理を可能にするとともに、撮像視野の任
意の矩形領域の中で最も明るい水平ラインにフーリエ変
換を施し、そのラインにおける明るさ変動をその変動の
もつ空間周波数に対応するパワースペクトルと各空間周
波数に対応するフーリエ変換の実部・虚部として記憶し
、表示画素の配列により生じる最大のパワースペクトル
の次に大きいパワースペクトルに対応する空間周波数を
前記相対的傾斜により生じる明るさ変動の空間周波数（
ビート周波数、うなり周波数）として抽出し、ビート周
波数の値から傾斜角度の絶対値を求め、前記最明水平ラ
インに近接する水平ラインについて前記ビート周波数に
おけるフーリエ変換の実部・虚部により定義されるベク
トルと前記最明水平ラインについて前記ビート周波数に
おけるフーリエ変換の実部・虚部により定義されるベク
トルの外積の符号から、最明水平ラインと最明水平ライ
ンに近接する水平ラインの前記ビート周波数における位
相の進み・遅れを判定し、それにより傾斜角度の符号を
決定し、斜め方向のずらし量を被検査ディスプレイと撮
像カメラの相対的な傾きに応じて決定することを可能に
したものである。また、被検査ディスプレイ全面の画面
欠点を高速に検出するために、請求項１〜１１のすべて
あるいは一部の機能を有する検出方式による検出系を被
検査ディスプレイの全面に対して複数個配置し、各個同
時に画面欠点検出を行うようにしたものである。また、
被検査ディスプレイの大きさにより検出系の数を増やす
必要がない画面欠点検出を実現するために、請求項１〜
１１のすべてあるいは一部の機能を有する検出方式によ
る検出系を１個あるいは複数個使用し、被検査ディスプ
レイの全面に対してこれらの検出系をテーブル、ロボッ
ト等により移動させるようにしたものである。
に、特にＳ／Ｎ向上のために、カメラで被検査ディスプ
レイを撮像し、撮像画像の明るさを２倍にした画像とデ
ィスプレイ表示画素の配列ピッチ１ピッチ分左右にずら
した画像の明るさの和との差から画面欠点（画素欠陥、
点状欠陥）検出を行うようにしたものである。また、被
検査ディスプレイ表示画素と撮像カメラ画素の間に生じ
る撮像モアレ干渉縞、あるいは被検査ディスプレイ表面
上のほこり等の異物あるいはディスプレイ表面と表示画
素の間にあるガラス等の内部にある気泡による検出漏れ
・誤検出を防ぐために、カメラにより被検査ディスプレ
イを拡大撮像し、ディスプレイ表示画素を撮像カメラ画
素よりも十分に大きくすることによりモアレ干渉縞の発
生を抑え、撮像光学系の被写界深度を浅くすることによ
り異物・気泡に光学系焦点が結ばないようにしたもので
ある。また、被検査ディスプレイと撮像カメラの相対的
な傾きに影響されない安定検出を実現するために、斜め
方向のずらし処理を行い、更に可変長の遅延メモリを２
段カスケード接続し、各々の遅延量を共通に設定し斜め
方向のずらし処理を可能にするとともに、撮像視野の任
意の矩形領域の中で最も明るい水平ラインにフーリエ変
換を施し、そのラインにおける明るさ変動をその変動の
もつ空間周波数に対応するパワースペクトルと各空間周
波数に対応するフーリエ変換の実部・虚部として記憶し
、表示画素の配列により生じる最大のパワースペクトル
の次に大きいパワースペクトルに対応する空間周波数を
前記相対的傾斜により生じる明るさ変動の空間周波数（
ビート周波数、うなり周波数）として抽出し、ビート周
波数の値から傾斜角度の絶対値を求め、前記最明水平ラ
インに近接する水平ラインについて前記ビート周波数に
おけるフーリエ変換の実部・虚部により定義されるベク
トルと前記最明水平ラインについて前記ビート周波数に
おけるフーリエ変換の実部・虚部により定義されるベク
トルの外積の符号から、最明水平ラインと最明水平ライ
ンに近接する水平ラインの前記ビート周波数における位
相の進み・遅れを判定し、それにより傾斜角度の符号を
決定し、斜め方向のずらし量を被検査ディスプレイと撮
像カメラの相対的な傾きに応じて決定することを可能に
したものである。また、被検査ディスプレイ全面の画面
欠点を高速に検出するために、請求項１〜１１のすべて
あるいは一部の機能を有する検出方式による検出系を被
検査ディスプレイの全面に対して複数個配置し、各個同
時に画面欠点検出を行うようにしたものである。また、
被検査ディスプレイの大きさにより検出系の数を増やす
必要がない画面欠点検出を実現するために、請求項１〜
１１のすべてあるいは一部の機能を有する検出方式によ
る検出系を１個あるいは複数個使用し、被検査ディスプ
レイの全面に対してこれらの検出系をテーブル、ロボッ
ト等により移動させるようにしたものである。
【０００６】
【作用】カメラによる撮像画像の明るさを２倍にした画
像とディスプレイ表示画素の配列ピッチ１ピッチ分左右
にずらした画像の明るさの和との差は、配列１ピッチ分
ずらした画像ともとの画像の差に比べて、画面欠点部分
での値が大きくなるため、画面欠点部分と正常部分のＳ
／Ｎが向上するので、軽微な画面欠点も感度良くしかも
安定に検出することができる。また、カメラにより被検
査ディスプレイを拡大撮像し、ディスプレイ表示画素を
撮像カメラ画素よりも十分に大きくすることによりモア
レ干渉縞の発生を抑え、撮像光学系の被写界深度を浅く
することにより異物・気泡に光学系焦点が結ばないよう
にすることができるため、モアレ干渉縞の相対的に暗い
部分にある周囲よりも輝度が低い画面欠点、あるいはモ
アレ干渉縞の相対的に明るい部分にある周囲よりも輝度
が高い画面欠点に対するＳ／Ｎを向上させ検出漏れを抑
えることができるとともに、画面欠点と同程度の大きさ
の異物・気泡を周囲よりも輝度が低い画面欠点として誤
検出することがない。また、斜め方向のずらし処理によ
り、被検査ディスプレイと撮像カメラの相対的な傾きの
補正ができる。更に、可変長の遅延メモリを２段カスケ
ード接続し、各々の遅延量を共通に設定し斜め方向のず
らし処理を可能にすることにより、プログラム処理での
斜め方向のずらし処理のような膨大な処理時間を必要と
しない。また、傾斜角度測定においてはフーリエ変換を
用いるので、高精度測定が可能であり、しかも高々撮像
視野内の２つの水平ラインだけで測定可能なため測定時
間が短くて済む。また、複数個の検出系を同時に動作さ
せることができるので、高精度検出を維持したまま高速
検出を実現できる。また、可動検出系により検出系の総
数を増やすことなく大画面ディスプレイの検査ができる
。
像とディスプレイ表示画素の配列ピッチ１ピッチ分左右
にずらした画像の明るさの和との差は、配列１ピッチ分
ずらした画像ともとの画像の差に比べて、画面欠点部分
での値が大きくなるため、画面欠点部分と正常部分のＳ
／Ｎが向上するので、軽微な画面欠点も感度良くしかも
安定に検出することができる。また、カメラにより被検
査ディスプレイを拡大撮像し、ディスプレイ表示画素を
撮像カメラ画素よりも十分に大きくすることによりモア
レ干渉縞の発生を抑え、撮像光学系の被写界深度を浅く
することにより異物・気泡に光学系焦点が結ばないよう
にすることができるため、モアレ干渉縞の相対的に暗い
部分にある周囲よりも輝度が低い画面欠点、あるいはモ
アレ干渉縞の相対的に明るい部分にある周囲よりも輝度
が高い画面欠点に対するＳ／Ｎを向上させ検出漏れを抑
えることができるとともに、画面欠点と同程度の大きさ
の異物・気泡を周囲よりも輝度が低い画面欠点として誤
検出することがない。また、斜め方向のずらし処理によ
り、被検査ディスプレイと撮像カメラの相対的な傾きの
補正ができる。更に、可変長の遅延メモリを２段カスケ
ード接続し、各々の遅延量を共通に設定し斜め方向のず
らし処理を可能にすることにより、プログラム処理での
斜め方向のずらし処理のような膨大な処理時間を必要と
しない。また、傾斜角度測定においてはフーリエ変換を
用いるので、高精度測定が可能であり、しかも高々撮像
視野内の２つの水平ラインだけで測定可能なため測定時
間が短くて済む。また、複数個の検出系を同時に動作さ
せることができるので、高精度検出を維持したまま高速
検出を実現できる。また、可動検出系により検出系の総
数を増やすことなく大画面ディスプレイの検査ができる
。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１から図７に基
づいて説明する。
づいて説明する。
【０００８】図１は、本発明を実現するためのディスプ
レイの画面欠点検出装置のシステム構成を示した図であ
る。同図は周囲よりも輝度の低い画面欠点を検出するた
めの構成である。被検査ディスプレイ１はカメラ２によ
り撮像される。カメラ２の映像信号と同期信号は各々Ａ
／Ｄ変換器３と（Ｘ，Ｙ）アドレス発生回路４に入力さ
れ、Ａ／Ｄ変換器３ではデジタル化した映像信号ａに変
換され、（Ｘ，Ｙ）アドレス発生回路４では現在入力さ
れている映像信号の撮像画面上での水平（Ｘ）・垂直（
Ｙ）アドレスが生成される。デジタル化した映像信号ａ
は、傾き検出画像データ格納メモリ５に格納される。 また、デジタル化した映像信号ａは、可変長の遅延メモ
リ６にも格納される。予め遅延量設定レジスタ（ＤＬＲ
Ｇ）７に設定してある遅延量分だけデジタル化した映像
信号ａよりも遅延したデジタル化した映像信号ｂは、可
変長の遅延メモリ８に格納されると同時に、（ー２）倍
回路９に入力される。以下、遅延量設定レジスタ（ＤＬ
ＲＧ）７に設定してある遅延量を１ディレイと呼ぶ。デ
ジタル化した映像信号ｂよりも１ディレイ遅延したデジ
タル化した映像信号ｃは加算器１０に入力される。加算
器１０のもう一方の入力は前記遅延していないデジタル
化した映像信号ａである。加算器１０の出力は遅延して
いないデジタル化した映像信号ａの値とデジタル化した
映像信号ａよりも２ディレイ遅延したデジタル化した映
像信号ｃの値の和になる。加算器１０の出力は加算器１
１に入力される。加算器１１のもう一方の入力は前記デ
ジタル化した映像信号ａよりも１ディレイ遅延したデジ
タル化した映像信号ｂの（ー２）倍の値である。加算器
１１の出力ｄはデジタル化した映像信号ａの値とデジタ
ル化した映像信号ａよりも２ディレイ遅延したデジタル
化した映像信号ｃの値の和からデジタル化した映像信号
ａよりも１ディレイ遅延したデジタル化した映像信号ｂ
の２倍の値を差し引いた値である。加算器１１の出力ｄ
は比較器１２に入力され、予めしきい値レジスタ（ＴＨ
ＲＧ）１３に設定してあるしきい値よりも加算器１１の
出力ｄが大きい場合だけ、書き込み制御回路（ＷＲ
ＣＴＲＬ）１４に書き込み許可信号ｅを送出する。書き
込み制御回路（ＷＲＣＴＲＬ）１４により加算器１１の
出力ｄが一定のしきい値以上の場合の（Ｘ，Ｙ）アドレ
スが欠点アドレス格納メモリ１５に書き込まれる。シス
テム全体の制御は、ＣＰＵ１６が行い、結果の表示ある
いはシステムの操作のためのＣＲＴ１７がＣＰＵ１６に
接続される。ＣＰＵ１６が実行するプログラムあるいは
実行時に必要なデータは、プログラム格納メモリ１８に
格納される。被検査ディスプレイ１に出映するパターン
は、ディスプレイ制御回路１９を介してＣＰＵ１６によ
り制御される。当該画面欠点検査では被検査ディスプレ
イ１は一様の輝度ですべての検査対象となる表示画素が
発光するようなパターンを出映する。
レイの画面欠点検出装置のシステム構成を示した図であ
る。同図は周囲よりも輝度の低い画面欠点を検出するた
めの構成である。被検査ディスプレイ１はカメラ２によ
り撮像される。カメラ２の映像信号と同期信号は各々Ａ
／Ｄ変換器３と（Ｘ，Ｙ）アドレス発生回路４に入力さ
れ、Ａ／Ｄ変換器３ではデジタル化した映像信号ａに変
換され、（Ｘ，Ｙ）アドレス発生回路４では現在入力さ
れている映像信号の撮像画面上での水平（Ｘ）・垂直（
Ｙ）アドレスが生成される。デジタル化した映像信号ａ
は、傾き検出画像データ格納メモリ５に格納される。 また、デジタル化した映像信号ａは、可変長の遅延メモ
リ６にも格納される。予め遅延量設定レジスタ（ＤＬＲ
Ｇ）７に設定してある遅延量分だけデジタル化した映像
信号ａよりも遅延したデジタル化した映像信号ｂは、可
変長の遅延メモリ８に格納されると同時に、（ー２）倍
回路９に入力される。以下、遅延量設定レジスタ（ＤＬ
ＲＧ）７に設定してある遅延量を１ディレイと呼ぶ。デ
ジタル化した映像信号ｂよりも１ディレイ遅延したデジ
タル化した映像信号ｃは加算器１０に入力される。加算
器１０のもう一方の入力は前記遅延していないデジタル
化した映像信号ａである。加算器１０の出力は遅延して
いないデジタル化した映像信号ａの値とデジタル化した
映像信号ａよりも２ディレイ遅延したデジタル化した映
像信号ｃの値の和になる。加算器１０の出力は加算器１
１に入力される。加算器１１のもう一方の入力は前記デ
ジタル化した映像信号ａよりも１ディレイ遅延したデジ
タル化した映像信号ｂの（ー２）倍の値である。加算器
１１の出力ｄはデジタル化した映像信号ａの値とデジタ
ル化した映像信号ａよりも２ディレイ遅延したデジタル
化した映像信号ｃの値の和からデジタル化した映像信号
ａよりも１ディレイ遅延したデジタル化した映像信号ｂ
の２倍の値を差し引いた値である。加算器１１の出力ｄ
は比較器１２に入力され、予めしきい値レジスタ（ＴＨ
ＲＧ）１３に設定してあるしきい値よりも加算器１１の
出力ｄが大きい場合だけ、書き込み制御回路（ＷＲ
ＣＴＲＬ）１４に書き込み許可信号ｅを送出する。書き
込み制御回路（ＷＲＣＴＲＬ）１４により加算器１１の
出力ｄが一定のしきい値以上の場合の（Ｘ，Ｙ）アドレ
スが欠点アドレス格納メモリ１５に書き込まれる。シス
テム全体の制御は、ＣＰＵ１６が行い、結果の表示ある
いはシステムの操作のためのＣＲＴ１７がＣＰＵ１６に
接続される。ＣＰＵ１６が実行するプログラムあるいは
実行時に必要なデータは、プログラム格納メモリ１８に
格納される。被検査ディスプレイ１に出映するパターン
は、ディスプレイ制御回路１９を介してＣＰＵ１６によ
り制御される。当該画面欠点検査では被検査ディスプレ
イ１は一様の輝度ですべての検査対象となる表示画素が
発光するようなパターンを出映する。
【０００９】図２は図１の動作原理を示す図で、周囲よ
りも輝度の低い画面欠点を対象とした左右シフト空間相
関による画面欠点検出原理図である。ディスプレイ管（
ブラウン管）と液晶表示素子について示してある。元の
画像Ｃに対して表示画素配列１ピッチ分左にずらした画
像Ｌと１ピッチ分右にずらした画像ＲについてＲ＋Ｌー
２Ｃの計算を撮像画素毎に実行すると画面欠点部分の値
は他よりも著しく大きくなり、画面欠点部分と正常部分
のＳ／Ｎが向上するので、軽微な画面欠点も感度良くし
かも安定に検出することができる。図２において図１に
対応するものは、元の画像Ｃはデジタル化した映像信号
ｂに、１ピッチ分左にずらした画像Ｌはデジタル化した
映像信号ａに、１ピッチ分右にずらした画像Ｒはデジタ
ル化した映像信号ｃに、Ｒ＋Ｌー２Ｃは加算器１１の出
力ｄにあたるものである。図２はディスプレイ管（ブラ
ウン管）と液晶表示素子の表示画素に比較してカメラ撮
像画素が十分に小さい場合であるが、左右シフト空間相
関による画面欠点検出において不可欠な条件ではない。 仮に表示画素と撮像画素の大きさが同程度である場合も
上記と同様の処理で画面欠点を検出できる。また撮像画
素が表示画素よりも大きい場合でも欠点を含む撮像画素
の値は周囲よりも低くなる傾向があるので、上記と同様
の処理で画面欠点を検出できる。ただしこの場合、必ず
しも表示画素配列１ピッチ分ずらす必要はなく、シフト
量はある程度任意に設定できる。しかし図２のように表
示画素よりも撮像画素を小さくした場合のメリットは二
つある。一つは、表示画素と撮像画素の間に生じる撮像
モアレ干渉縞を防ぐことができる点であり、モアレ干渉
縞の相対的に暗い部分にある周囲よりも輝度が低い画面
欠点、あるいはモアレ干渉縞の相対的に明るい部分にあ
る周囲よりも輝度が高い画面欠点に対するＳ／Ｎを向上
させ検出漏れを抑えることができる。もう一つのメリッ
トは、撮像光学系の被写界深度を浅くすることにより、
ディスプレイ表面上のほこり等の異物あるいはディスプ
レイ表面と表示画素の間にあるガラス等の内部にある気
泡に光学系焦点が結ばないようにできる点であり、画面
欠点と同程度の大きさの異物・気泡を周囲よりも輝度が
低い画面欠点として誤検出することがない。
りも輝度の低い画面欠点を対象とした左右シフト空間相
関による画面欠点検出原理図である。ディスプレイ管（
ブラウン管）と液晶表示素子について示してある。元の
画像Ｃに対して表示画素配列１ピッチ分左にずらした画
像Ｌと１ピッチ分右にずらした画像ＲについてＲ＋Ｌー
２Ｃの計算を撮像画素毎に実行すると画面欠点部分の値
は他よりも著しく大きくなり、画面欠点部分と正常部分
のＳ／Ｎが向上するので、軽微な画面欠点も感度良くし
かも安定に検出することができる。図２において図１に
対応するものは、元の画像Ｃはデジタル化した映像信号
ｂに、１ピッチ分左にずらした画像Ｌはデジタル化した
映像信号ａに、１ピッチ分右にずらした画像Ｒはデジタ
ル化した映像信号ｃに、Ｒ＋Ｌー２Ｃは加算器１１の出
力ｄにあたるものである。図２はディスプレイ管（ブラ
ウン管）と液晶表示素子の表示画素に比較してカメラ撮
像画素が十分に小さい場合であるが、左右シフト空間相
関による画面欠点検出において不可欠な条件ではない。 仮に表示画素と撮像画素の大きさが同程度である場合も
上記と同様の処理で画面欠点を検出できる。また撮像画
素が表示画素よりも大きい場合でも欠点を含む撮像画素
の値は周囲よりも低くなる傾向があるので、上記と同様
の処理で画面欠点を検出できる。ただしこの場合、必ず
しも表示画素配列１ピッチ分ずらす必要はなく、シフト
量はある程度任意に設定できる。しかし図２のように表
示画素よりも撮像画素を小さくした場合のメリットは二
つある。一つは、表示画素と撮像画素の間に生じる撮像
モアレ干渉縞を防ぐことができる点であり、モアレ干渉
縞の相対的に暗い部分にある周囲よりも輝度が低い画面
欠点、あるいはモアレ干渉縞の相対的に明るい部分にあ
る周囲よりも輝度が高い画面欠点に対するＳ／Ｎを向上
させ検出漏れを抑えることができる。もう一つのメリッ
トは、撮像光学系の被写界深度を浅くすることにより、
ディスプレイ表面上のほこり等の異物あるいはディスプ
レイ表面と表示画素の間にあるガラス等の内部にある気
泡に光学系焦点が結ばないようにできる点であり、画面
欠点と同程度の大きさの異物・気泡を周囲よりも輝度が
低い画面欠点として誤検出することがない。
【００１０】ここで周囲よりも輝度の高い画面欠点を対
象とした左右シフト空間相関による画面欠点検出につい
ても言及する。図２を例に取ると、Ｒ＋Ｌ−２Ｃを２Ｃ
−（Ｒ＋Ｌ）とすれば画面欠点部分の値は他よりも著し
く大きくなり、画面欠点部分と正常部分のＳ／Ｎが向上
するので同様な結果を得ることができる。これを図１で
実現するには、（ー２）倍回路９を２倍回路に変え、加
算器１１を減算器に変えるだけで良い。
象とした左右シフト空間相関による画面欠点検出につい
ても言及する。図２を例に取ると、Ｒ＋Ｌ−２Ｃを２Ｃ
−（Ｒ＋Ｌ）とすれば画面欠点部分の値は他よりも著し
く大きくなり、画面欠点部分と正常部分のＳ／Ｎが向上
するので同様な結果を得ることができる。これを図１で
実現するには、（ー２）倍回路９を２倍回路に変え、加
算器１１を減算器に変えるだけで良い。
【００１１】図１においてＡ／Ｄ変換器３を除去して、
可変長の遅延メモリ６、８を可変遅延時間のアナログ遅
延線に、加算器１０、１１をアナログ加算器に、（ー２
）倍回路９をゲイン２倍の反転増幅器に、比較器１２を
アナログ比較器にしてすべてをアナログ回路で実現する
ことも可能である。
可変長の遅延メモリ６、８を可変遅延時間のアナログ遅
延線に、加算器１０、１１をアナログ加算器に、（ー２
）倍回路９をゲイン２倍の反転増幅器に、比較器１２を
アナログ比較器にしてすべてをアナログ回路で実現する
ことも可能である。
【００１２】図２のように表示画素よりも撮像画素を小
さくした場合のデメリットについて考える。図３に示す
ようにディスプレイと撮像カメラの相対的な傾きによる
誤検出（疑似欠点検出）である。ディスプレイ管（ブラ
ウン管）と液晶表示素子について示してある。図３のよ
うに、ディスプレイと撮像カメラに相対的な傾きがある
と、斜線部のように欠点ではない部分が欠点（疑似欠点
）として検出されてしまう。これを防ぐために斜め方向
のシフトを行う。図４と図５に傾斜角度θ＜０とθ＞０
の斜め方向シフトの様子を示す。撮像画面の水平方向画
素数をＮ，方向ライン数をＭとし、画面左上隅を原点（
０、０）、水平方向座標をＸ，垂直方向座標をＹとする
。両図のａ，ｂ，ｃは図１のａ，ｂ，ｃ、図２のＬ，Ｃ
，Ｒに対応する。図４ではシフト量（Δｘ，Δｙ）であ
り、ａ，ｂ，ｃすべてのデータが有効な領域はａに関す
る座標で左上、右下頂点を（２Δｘ、２Δｙ）、（Ｎ−
１，Ｍ−１）とする矩形領域になる。図１の遅延量設定
レジスタ（ＤＬＲＧ）７に設定すべき遅延量はＮΔｙ＋
Δｘであり、検出した欠点座標値がａに関する座標で（
ｘ，ｙ）であるならば、実際の欠点座標値はａに関する
座標で（ｘ−Δｘ、ｙ−Δｙ）になる。図５ではシフト
量（ーΔｘ，Δｙ）であり、ａ，ｂ，ｃすべてのデータ
が有効な領域はａに関する座標で左上、右下頂点を（０
、２Δｙ）、（Ｎ−１ー２Δｘ，Ｍ−１）とする矩形領
域になる。図１の遅延量設定レジスタ（ＤＬＲＧ）７に
設定すべき遅延量はＮΔｙーΔｘであり、検出した欠点
座標値がａに関する座標で（ｘ，ｙ）であるならば、実
際の欠点座標値はａに関する座標で（ｘ＋Δｘ、ｙ−Δ
ｙ）になる。
さくした場合のデメリットについて考える。図３に示す
ようにディスプレイと撮像カメラの相対的な傾きによる
誤検出（疑似欠点検出）である。ディスプレイ管（ブラ
ウン管）と液晶表示素子について示してある。図３のよ
うに、ディスプレイと撮像カメラに相対的な傾きがある
と、斜線部のように欠点ではない部分が欠点（疑似欠点
）として検出されてしまう。これを防ぐために斜め方向
のシフトを行う。図４と図５に傾斜角度θ＜０とθ＞０
の斜め方向シフトの様子を示す。撮像画面の水平方向画
素数をＮ，方向ライン数をＭとし、画面左上隅を原点（
０、０）、水平方向座標をＸ，垂直方向座標をＹとする
。両図のａ，ｂ，ｃは図１のａ，ｂ，ｃ、図２のＬ，Ｃ
，Ｒに対応する。図４ではシフト量（Δｘ，Δｙ）であ
り、ａ，ｂ，ｃすべてのデータが有効な領域はａに関す
る座標で左上、右下頂点を（２Δｘ、２Δｙ）、（Ｎ−
１，Ｍ−１）とする矩形領域になる。図１の遅延量設定
レジスタ（ＤＬＲＧ）７に設定すべき遅延量はＮΔｙ＋
Δｘであり、検出した欠点座標値がａに関する座標で（
ｘ，ｙ）であるならば、実際の欠点座標値はａに関する
座標で（ｘ−Δｘ、ｙ−Δｙ）になる。図５ではシフト
量（ーΔｘ，Δｙ）であり、ａ，ｂ，ｃすべてのデータ
が有効な領域はａに関する座標で左上、右下頂点を（０
、２Δｙ）、（Ｎ−１ー２Δｘ，Ｍ−１）とする矩形領
域になる。図１の遅延量設定レジスタ（ＤＬＲＧ）７に
設定すべき遅延量はＮΔｙーΔｘであり、検出した欠点
座標値がａに関する座標で（ｘ，ｙ）であるならば、実
際の欠点座標値はａに関する座標で（ｘ＋Δｘ、ｙ−Δ
ｙ）になる。
【００１３】図６に傾斜角度測定の原理を示す。ディス
プレイ管（ブラウン管）と液晶表示素子について示して
ある。傾きが存在する状態で撮像画像内の水平ライン上
の明るさを観察すると、図のように本来の表示画素の配
列による明るさの周期変動が傾きに起因する周期変動で
変調されている。このことから、相対的傾斜により生じ
る明るさ変動の空間周波数（ビート周波数、うなり周波
数）を求めれば、傾斜角度の絶対値を特定できる。図６
にあるように表示画素の垂直方向の配列ピッチに相当す
る撮像画素数をｐ、ビート周波数の１周期の撮像画素数
をｎとした場合、傾斜角度θの絶対値はｔａｎθ≒θが
成立する程度の小さな傾斜であれば次式で算出される。
プレイ管（ブラウン管）と液晶表示素子について示して
ある。傾きが存在する状態で撮像画像内の水平ライン上
の明るさを観察すると、図のように本来の表示画素の配
列による明るさの周期変動が傾きに起因する周期変動で
変調されている。このことから、相対的傾斜により生じ
る明るさ変動の空間周波数（ビート周波数、うなり周波
数）を求めれば、傾斜角度の絶対値を特定できる。図６
にあるように表示画素の垂直方向の配列ピッチに相当す
る撮像画素数をｐ、ビート周波数の１周期の撮像画素数
をｎとした場合、傾斜角度θの絶対値はｔａｎθ≒θが
成立する程度の小さな傾斜であれば次式で算出される。
【００１４】（数１）
｜θ｜＝ｐ／ｎ ［ｒａｄ］
Ｎ画素中の周期数を空間周波数ｆとし、ビート周波数を
ｆｂとすると｜θ｜は次式で与えられる。
ｆｂとすると｜θ｜は次式で与えられる。
【００１５】（数２）
｜θ｜＝（ｆｂ×ｐ）／Ｎ ［ｒａｄ］傾斜角度の符
号は図６のように撮像画像内の近接する２本の水平ライ
ン上の明るさのビート周波数ｆｂにおける位相進み・遅
れで決定できる。図６のようにθ＞０のケースでは、上
のラインを基準とした場合の下のラインとの位相差は正
になり、θ＜０では負になる。
号は図６のように撮像画像内の近接する２本の水平ライ
ン上の明るさのビート周波数ｆｂにおける位相進み・遅
れで決定できる。図６のようにθ＞０のケースでは、上
のラインを基準とした場合の下のラインとの位相差は正
になり、θ＜０では負になる。
【００１６】図７に図６の具体的なアルゴリズムフロー
チャートを示す。撮像視野の任意の矩形領域の中で水平
方向の明るさの投影分布を算出する。最大の投影分布値
をもつｙ座標値ｙｍａｘを求める。ｙｍａｘ上の明るさ
分布ｍ（ｘ，ｙｍａｘ）（ただし、０≦ｘ＜Ｎ）にＦＦ
Ｔ（高速フーリエ変換）を施し、そのフーリエ変換の実
部Ｇ１ｒ（ｆ）、虚部Ｇ１ｉ（ｆ）を空間周波数ｆ（た
だし、ｆ＝０，１，…、Ｎ−１）に関して算出する。ま
た、パワースペクトルＰ１（ｆ）＝Ｇ１ｒ（ｆ）２＋Ｇ
１ｉ（ｆ）２を算出する。表示画素の配列により生じる
最大のパワースペクトルの次に大きいパワースペクトル
に対応する空間周波数を相対的傾斜により生じる明るさ
変動の空間周波数（ビート周波数、うなり周波数）ｆｂ
として抽出し、（数２）により傾斜角度の絶対値を求め
る。ｙｍａｘの一つ下の水平ラインについてＦＦＴを施
し、ビート周波数ｆｂにおけるフーリエ変換の実部Ｇ２
ｒ（ｆｂ）、虚部Ｇ２ｉ（ｆｂ）を求める。位相差の符
号を二つのベクトル〔Ｇ１ｒ（ｆｂ）、Ｇ１ｉ（ｆｂ）
〕、〔Ｇ２ｒ（ｆｂ）、Ｇ２ｉ（ｆｂ）〕の外積の符号
として決定する。
チャートを示す。撮像視野の任意の矩形領域の中で水平
方向の明るさの投影分布を算出する。最大の投影分布値
をもつｙ座標値ｙｍａｘを求める。ｙｍａｘ上の明るさ
分布ｍ（ｘ，ｙｍａｘ）（ただし、０≦ｘ＜Ｎ）にＦＦ
Ｔ（高速フーリエ変換）を施し、そのフーリエ変換の実
部Ｇ１ｒ（ｆ）、虚部Ｇ１ｉ（ｆ）を空間周波数ｆ（た
だし、ｆ＝０，１，…、Ｎ−１）に関して算出する。ま
た、パワースペクトルＰ１（ｆ）＝Ｇ１ｒ（ｆ）２＋Ｇ
１ｉ（ｆ）２を算出する。表示画素の配列により生じる
最大のパワースペクトルの次に大きいパワースペクトル
に対応する空間周波数を相対的傾斜により生じる明るさ
変動の空間周波数（ビート周波数、うなり周波数）ｆｂ
として抽出し、（数２）により傾斜角度の絶対値を求め
る。ｙｍａｘの一つ下の水平ラインについてＦＦＴを施
し、ビート周波数ｆｂにおけるフーリエ変換の実部Ｇ２
ｒ（ｆｂ）、虚部Ｇ２ｉ（ｆｂ）を求める。位相差の符
号を二つのベクトル〔Ｇ１ｒ（ｆｂ）、Ｇ１ｉ（ｆｂ）
〕、〔Ｇ２ｒ（ｆｂ）、Ｇ２ｉ（ｆｂ）〕の外積の符号
として決定する。
【００１７】以上のような処理により傾斜角度θを求め
、その値に応じてシフト量を算出する。
、その値に応じてシフト量を算出する。
【００１８】更に、本実施例にある検出系を被検査ディ
スプレイの全面に対して複数個配置し、各個同時に画面
欠点検出を行い、高速検査を実現することもできる。ま
た、本実施例にある検出系を１個あるいは複数個使用し
、被検査ディスプレイの全面に対してこれらの検出系を
テーブル、ロボット等により移動させるようにし、被検
査ディスプレイの大きさにより検出系の数を増やす必要
がない画面欠点検出を実現することもできる。
スプレイの全面に対して複数個配置し、各個同時に画面
欠点検出を行い、高速検査を実現することもできる。ま
た、本実施例にある検出系を１個あるいは複数個使用し
、被検査ディスプレイの全面に対してこれらの検出系を
テーブル、ロボット等により移動させるようにし、被検
査ディスプレイの大きさにより検出系の数を増やす必要
がない画面欠点検出を実現することもできる。
【００１９】以上のように本実施例によれば、ブラウン
管、液晶表示素子を対象に、画面欠点部分と正常部分の
Ｓ／Ｎが良く、撮像モアレ干渉縞・異物・気泡・傾きに
影響されない高精度・高速画面欠点検出を実現できる。
管、液晶表示素子を対象に、画面欠点部分と正常部分の
Ｓ／Ｎが良く、撮像モアレ干渉縞・異物・気泡・傾きに
影響されない高精度・高速画面欠点検出を実現できる。
【００２０】
【発明の効果】本発明によれば、ブラウン管、液晶表示
素子の画面欠点（画素欠陥、点状欠陥）を検出において
、画面欠点部分と正常部分のＳ／Ｎを向上できるので、
軽微な画面欠点も感度良くしかも安定に検出できる効果
がある。また、被検査ディスプレイ表示画素と撮像カメ
ラ画素の間に生じる撮像モアレ干渉縞、あるいは被検査
ディスプレイ表面上のほこり等の異物あるいはディスプ
レイ表面と表示画素の間にあるガラス等の内部にある気
泡による検出漏れ・誤検出を回避できるので、検査の信
頼性を飛躍的に向上できる効果がある。また、被検査デ
ィスプレイと撮像カメラの相対的な傾きに影響されない
安定検出が可能なため、被検査ディスプレイと撮像カメ
ラの相対的な位置決めをある程度ラフにすることができ
、システムのコスト低減ならびに実用システムとしての
信頼性向上という効果がある。また、傾き補正の主な部
分をハードウェアで行い、傾斜角度測定も高々２回の１
次元ＦＦＴ（高速フーリエ変換）処理で済むため、高速
な検査を維持できるという効果がある。また、検出系の
並列同時動作が可能なため、被検査ディスプレイ全面の
画面欠点を高速に検出できるという効果がある。また、
可動検出系により被検査ディスプレイの大きさにより検
出系の数を増やす必要がないため、大画面ディスプレイ
に対しても必要とする検査時間を維持したままシステム
コストの増大を招くことなくシステム構築ができるとい
う効果がある。
素子の画面欠点（画素欠陥、点状欠陥）を検出において
、画面欠点部分と正常部分のＳ／Ｎを向上できるので、
軽微な画面欠点も感度良くしかも安定に検出できる効果
がある。また、被検査ディスプレイ表示画素と撮像カメ
ラ画素の間に生じる撮像モアレ干渉縞、あるいは被検査
ディスプレイ表面上のほこり等の異物あるいはディスプ
レイ表面と表示画素の間にあるガラス等の内部にある気
泡による検出漏れ・誤検出を回避できるので、検査の信
頼性を飛躍的に向上できる効果がある。また、被検査デ
ィスプレイと撮像カメラの相対的な傾きに影響されない
安定検出が可能なため、被検査ディスプレイと撮像カメ
ラの相対的な位置決めをある程度ラフにすることができ
、システムのコスト低減ならびに実用システムとしての
信頼性向上という効果がある。また、傾き補正の主な部
分をハードウェアで行い、傾斜角度測定も高々２回の１
次元ＦＦＴ（高速フーリエ変換）処理で済むため、高速
な検査を維持できるという効果がある。また、検出系の
並列同時動作が可能なため、被検査ディスプレイ全面の
画面欠点を高速に検出できるという効果がある。また、
可動検出系により被検査ディスプレイの大きさにより検
出系の数を増やす必要がないため、大画面ディスプレイ
に対しても必要とする検査時間を維持したままシステム
コストの増大を招くことなくシステム構築ができるとい
う効果がある。
【図１】本発明の一実施例である、ディスプレイの画面
欠点検出装置のシステム構成図である。
欠点検出装置のシステム構成図である。
【図２】左右シフト空間相関による画面欠点検出原理図
である。
である。
【図３】傾きによる疑似欠点検出を示す図である。
【図４】θ＜０におけるデータ有効領域を示す図である
。
。
【図５】θ＞０におけるデータ有効領域を示す図である
。
。
【図６】傾斜角度測定の原理図である。
【図７】傾斜角度測定のフローチャートである。
１……………ディスプレイ
２……………カメラ
３……………Ａ／Ｄ変換器
４……………（Ｘ，Ｙ）アドレス発生回路５……………
傾き検出画像データ格納メモリ６、８………可変長の遅
延メモリ ９……………（ー２）倍回路 １０、１１…加算器 １２…………比較器 １５…………欠点アドレス格納メモリ １６…………ＣＰＵ １８…………プログラム格納メモリ １９…………ディスプレイ制御回路
傾き検出画像データ格納メモリ６、８………可変長の遅
延メモリ ９……………（ー２）倍回路 １０、１１…加算器 １２…………比較器 １５…………欠点アドレス格納メモリ １６…………ＣＰＵ １８…………プログラム格納メモリ １９…………ディスプレイ制御回路
Claims (12)
- 【請求項１】ブラウン管、液晶表示素子の画質自動検査
方法であって、特に画面欠点の検出を行うために、カメ
ラで前記ディスプレイを撮像し、撮像画像の明るさを２
倍にした画像をディスプレイ表示画素の配列ピッチ１ピ
ッチ分左右にずらした画像の明るさの和から減算し、前
記演算処理によりＳ／Ｎを向上させた画像について一定
のしきい値以上の部分を周囲よりも輝度の低い画面欠点
として安定して抽出することを特徴とするディスプレイ
の画面欠点検出方法。 - 【請求項２】ブラウン管、液晶表示素子の画質自動検査
方法であって、特に画面欠点の検出を行うために、カメ
ラで前記ディスプレイを撮像し、撮像画像の明るさを２
倍にした画像からディスプレイ表示画素の配列ピッチ１
ピッチ分左右にずらした画像の明るさの和を減算し、前
記演算処理によりＳ／Ｎを向上させた画像について一定
のしきい値以上の部分を周囲よりも輝度の高い画面欠点
として安定して抽出することを特徴とするディスプレイ
の画面欠点検出方法。 - 【請求項３】ブラウン管、液晶表示素子の画質自動検査
方法であって、特に画面欠点の検出を行うために、カメ
ラで前記ディスプレイを拡大撮像し、ディスプレイ表示
画素を撮像カメラ画素よりも十分に大きくすることによ
りディスプレイ表示画素と撮像カメラ画素の間に生じる
撮像モアレ干渉縞を防ぎ、画面欠点を安定して抽出する
ことを特徴とするディスプレイの画面欠点検出方法。 - 【請求項４】ブラウン管、液晶表示素子の画質自動検査
方法であって、特に画面欠点の検出を行うために、カメ
ラで前記ディスプレイを拡大撮像し撮像光学系の被写界
深度を浅くすることにより、前記ディスプレイ表面上の
ほこり等の異物あるいはディスプレイ表面と表示画素の
間にあるガラス等の内部にある気泡に光学系焦点が結ば
ないようにして、画面欠点を安定して抽出することを特
徴とするディスプレイの画面欠点検出方法。 - 【請求項５】ブラウン管、液晶表示素子の画質自動検査
方法であって、特に画面欠点の検出を行うために、カメ
ラで前記ディスプレイを拡大撮像し、撮像画像の明るさ
を２倍にした画像をディスプレイ表示画素の配列ピッチ
１ピッチ分左右にずらした画像の明るさの和から減算し
、前記演算処理によりＳ／Ｎを向上させた画像について
一定のしきい値以上の部分を周囲よりも輝度の低い画面
欠点として安定して抽出することを特徴とするディスプ
レイの画面欠点検出方法において、前記ディスプレイと
撮像カメラの相対的な傾きによる誤検出を防ぐため斜め
方向のずらし処理を行うことを特徴とするディスプレイ
の画面欠点検出方法。 - 【請求項６】ブラウン管、液晶表示素子の画質自動検査
方法であって、特に画面欠点の検出を行うために、カメ
ラで前記ディスプレイを拡大撮像し、撮像画像の明るさ
を２倍にした画像からディスプレイ表示画素の配列ピッ
チ１ピッチ分左右にずらした画像の明るさの和を減算し
、前記演算処理によりＳ／Ｎを向上させた画像について
一定のしきい値以上の部分を周囲よりも輝度の高い画面
欠点として安定して抽出することを特徴とするディスプ
レイの画面欠点検出方法において、前記ディスプレイと
撮像カメラの相対的な傾きによる誤検出を防ぐため斜め
方向のずらし処理を行うことを特徴とするディスプレイ
の画面欠点検出方法。 - 【請求項７】ブラウン管、液晶表示素子の画質自動検査
方法であって、特に画面欠点の検出を行うために、カメ
ラで前記ディスプレイを拡大撮像し、撮像画像の明るさ
を２倍にした画像をディスプレイ表示画素の配列ピッチ
１ピッチ分左右にずらした画像の明るさの和から減算し
、前記演算処理によりＳ／Ｎを向上させた画像について
一定のしきい値以上の部分を周囲よりも輝度の低い画面
欠点として安定して抽出することを特徴とするディスプ
レイの画面欠点検出方法において、前記ディスプレイと
撮像カメラの相対的な傾きによる誤検出を防ぐことを目
的とする斜め方向のずらし処理を行うために、可変長の
遅延メモリを２段カスケード接続し、各々の遅延量を共
通に設定し斜め方向を加味した左右シフトを実現するこ
とを特徴とするディスプレイの画面欠点検出方法。 - 【請求項８】ブラウン管、液晶表示素子の画質自動検査
方法であって、特に画面欠点の検出を行うために、カメ
ラで前記ディスプレイを拡大撮像し、撮像画像の明るさ
を２倍にした画像からディスプレイ表示画素の配列ピッ
チ１ピッチ分左右にずらした画像の明るさの和を減算し
、前記演算処理によりＳ／Ｎを向上させた画像について
一定のしきい値以上の部分を周囲よりも輝度の高い画面
欠点として安定して抽出することを特徴とするディスプ
レイの画面欠点検出方法において、前記ディスプレイと
撮像カメラの相対的な傾きによる誤検出を防ぐことを目
的とする斜め方向のずらし処理を行うために、可変長の
遅延メモリを２段カスケード接続し、各々の遅延量を共
通に設定し斜め方向を加味した左右シフトを実現するこ
とを特徴とするディスプレイの画面欠点検出方法。 - 【請求項９】ブラウン管、液晶表示素子の画質自動検査
方法であって、特に画面欠点の検出を行うために、カメ
ラで前記ディスプレイを拡大撮像し、撮像画像の明るさ
を２倍にした画像をディスプレイ表示画素の配列ピッチ
１ピッチ分左右にずらした画像の明るさの和から減算し
、前記演算処理によりＳ／Ｎを向上させた画像について
一定のしきい値以上の部分を周囲よりも輝度の低い画面
欠点として安定して抽出することを特徴とするディスプ
レイの画面欠点検出方法において、前記ディスプレイと
撮像カメラの相対的な傾きによる誤検出を防ぐことを目
的とする斜め方向のずらし処理を行うことを特徴とする
ディスプレイの画面欠点検出方式であって、斜め方向の
ずらし量を前記ディスプレイと撮像カメラの相対的な傾
きに応じて決定するために、撮像視野の任意の矩形領域
の中で最も明るい水平ラインにフーリエ変換を施し、そ
のラインにおける明るさ変動をその変動のもつ空間周波
数に対応するパワースペクトルと各空間周波数に対応す
るフーリエ変換の実部・虚部として記憶し、表示画素の
配列により生じる最大のパワースペクトルの次に大きい
パワースペクトルに対応する空間周波数を前記相対的傾
斜により生じる明るさ変動の空間周波数として抽出し、
ビート周波数の値から傾斜角度の絶対値を求め、前記最
明水平ラインに近接する水平ラインについて前記ビート
周波数におけるフーリエ変換の実部・虚部により定義さ
れるベクトルと前記最明水平ラインについて前記ビート
周波数におけるフーリエ変換の実部・虚部により定義さ
れるベクトルの外積の符号から、最明水平ラインと最明
水平ラインに近接する水平ラインの前記ビート周波数に
おける位相の進み・遅れを判定し、それにより傾斜角度
の符号を決定することを特徴とするディスプレイの画面
欠点検出方法。 - 【請求項１０】ブラウン管、液晶表示素子の画質自動検
査方法であって、特に画面欠点の検出を行うために、カ
メラで前記ディスプレイを拡大撮像し、撮像画像の明る
さを２倍にした画像からディスプレイ表示画素の配列ピ
ッチ１ピッチ分左右にずらした画像の明るさの和を減算
し、前記演算処理によりＳ／Ｎを向上させた画像につい
て一定のしきい値以上の部分を周囲よりも輝度の高い画
面欠点として安定して抽出することを特徴とするディス
プレイの画面欠点検出方法において、前記ディスプレイ
と撮像カメラの相対的な傾きによる誤検出を防ぐことを
目的とする斜め方向のずらし処理を行うことを特徴とす
るディスプレイの画面欠点検出方式であって、斜め方向
のずらし量を前記ディスプレイと撮像カメラの相対的な
傾きに応じて決定するために、撮像視野の任意の矩形領
域の中で最も明るい水平ラインにフーリエ変換を施し、
そのラインにおける明るさ変動をその変動のもつ空間周
波数に対応するパワースペクトルと各空間周波数に対応
するフーリエ変換の実部・虚部として記憶し、表示画素
の配列により生じる最大のパワースペクトルの次に大き
いパワースペクトルに対応する空間周波数を前記相対的
傾斜により生じる明るさ変動の空間周波数として抽出し
、ビート周波数の値から傾斜角度の絶対値を求め、前記
最明水平ラインに近接する水平ラインについて前記ビー
ト周波数におけるフーリエ変換の実部・虚部により定義
されるベクトルと前記最明水平ラインについて前記ビー
ト周波数におけるフーリエ変換の実部・虚部により定義
されるベクトルの外積の符号から、最明水平ラインと最
明水平ラインに近接する水平ラインの前記ビート周波数
における位相の進み・遅れを判定し、それにより傾斜角
度の符号を決定することを特徴とするディスプレイの画
面欠点検出方法。 - 【請求項１１】ブラウン管、液晶表示素子の画質自動検
査方法であって、特に画面欠点の検出を行うために、請
求項１〜１１のすべてあるいは一部の機能を有する検出
方式による検出系を被検査ディスプレイの全面に対して
複数個配置し、各個同時に画面欠点検出を行い高速化す
ることを特徴とするディスプレイの画面欠点検出方法。 - 【請求項１２】ブラウン管、液晶表示素子の画質自動検
査方法であって、特に画面欠点の検出を行うために、請
求項１〜１１のすべてあるいは一部の機能を有する検出
方式による検出系を１個あるいは複数個使用し、被検査
ディスプレイの全面に対してこれらの検出系をテーブル
、ロボット等により移動させることにより、ディスプレ
イの大きさに応じて検出系の数を増やす必要がないこと
を特徴とするディスプレイの画面欠点検出方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03065964A JP3123095B2 (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | ディスプレイの画面欠点検出方法 |
| US07/857,662 US5319459A (en) | 1991-03-29 | 1992-03-26 | Method and apparatus for checking defect on display screen |
| KR1019920005154A KR950005024B1 (ko) | 1991-03-29 | 1992-03-28 | 디스플레이스크리인의 결함검출방법 및 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03065964A JP3123095B2 (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | ディスプレイの画面欠点検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04301684A true JPH04301684A (ja) | 1992-10-26 |
| JP3123095B2 JP3123095B2 (ja) | 2001-01-09 |
Family
ID=13302190
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03065964A Expired - Fee Related JP3123095B2 (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | ディスプレイの画面欠点検出方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5319459A (ja) |
| JP (1) | JP3123095B2 (ja) |
| KR (1) | KR950005024B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4671078B2 (ja) * | 2000-06-22 | 2011-04-13 | 株式会社ニコン | 表面検査装置 |
Families Citing this family (35)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3672586B2 (ja) * | 1994-03-24 | 2005-07-20 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 補正システムおよびその動作方法 |
| TW410524B (en) * | 1994-07-14 | 2000-11-01 | Advantest Corp | LCD panel image quality examining device and LCD image sampling method |
| JPH0875542A (ja) * | 1994-09-05 | 1996-03-22 | Otsuka Denshi Kk | 表示画素の光量測定方法並びに表示画面の検査方法及び装置 |
| US5754678A (en) * | 1996-01-17 | 1998-05-19 | Photon Dynamics, Inc. | Substrate inspection apparatus and method |
| JPH09312861A (ja) * | 1996-05-23 | 1997-12-02 | Sony Corp | カラー表示装置の画質測定装置及び画質測定方法 |
| US6130756A (en) * | 1998-03-12 | 2000-10-10 | Eastman Kodak Co | Method for characterizing a response function of an output |
| US6483538B2 (en) * | 1998-11-05 | 2002-11-19 | Tektronix, Inc. | High precision sub-pixel spatial alignment of digital images |
| JP3606270B2 (ja) * | 2001-07-09 | 2005-01-05 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置の駆動方法、画像処理回路、電子機器、および補正データ生成方法 |
| US6958785B2 (en) * | 2001-10-22 | 2005-10-25 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for determining and correcting for illumination variations in a digital projector |
| US6987688B2 (en) * | 2003-06-11 | 2006-01-17 | Ovonyx, Inc. | Die customization using programmable resistance memory elements |
| KR101546850B1 (ko) * | 2008-06-27 | 2015-08-24 | 삼성전자주식회사 | 디스플레이장치의 화질평가방법 및 화질평가장치 |
| CN105336044B (zh) | 2008-10-02 | 2018-04-10 | 埃科亚特姆公司 | 针对设备的二手市场和自动售货系统 |
| US10853873B2 (en) | 2008-10-02 | 2020-12-01 | Ecoatm, Llc | Kiosks for evaluating and purchasing used electronic devices and related technology |
| US7881965B2 (en) | 2008-10-02 | 2011-02-01 | ecoATM, Inc. | Secondary market and vending system for devices |
| US11010841B2 (en) | 2008-10-02 | 2021-05-18 | Ecoatm, Llc | Kiosk for recycling electronic devices |
| JP5953658B2 (ja) | 2011-05-25 | 2016-07-20 | ソニー株式会社 | ロボット制御装置及びロボット装置の制御方法、コンピューター・プログラム、プログラム記憶媒体、並びにロボット装置 |
| US8867817B1 (en) | 2012-10-29 | 2014-10-21 | Amazon Technologies, Inc. | Display analysis using scanned images |
| US10401411B2 (en) | 2014-09-29 | 2019-09-03 | Ecoatm, Llc | Maintaining sets of cable components used for wired analysis, charging, or other interaction with portable electronic devices |
| EP3201846A1 (en) | 2014-10-02 | 2017-08-09 | Ecoatm Inc. | Wireless-enabled kiosk for recycling consumer devices |
| EP3201885B1 (en) | 2014-10-02 | 2021-03-10 | ecoATM, LLC | Application for device evaluation and other processes associated with device recycling |
| US10445708B2 (en) | 2014-10-03 | 2019-10-15 | Ecoatm, Llc | System for electrically testing mobile devices at a consumer-operated kiosk, and associated devices and methods |
| WO2016069742A1 (en) | 2014-10-31 | 2016-05-06 | ecoATM, Inc. | Methods and systems for facilitating processes associated with insurance services and/or other services for electronic devices |
| CA3056457A1 (en) | 2014-10-31 | 2016-05-06 | Mark Vincent Bowles | Systems and methods for recycling consumer electronic devices |
| EP3215988A1 (en) | 2014-11-06 | 2017-09-13 | Ecoatm Inc. | Methods and systems for evaluating and recycling electronic devices |
| US11080672B2 (en) | 2014-12-12 | 2021-08-03 | Ecoatm, Llc | Systems and methods for recycling consumer electronic devices |
| US10127647B2 (en) | 2016-04-15 | 2018-11-13 | Ecoatm, Llc | Methods and systems for detecting cracks in electronic devices |
| US9885672B2 (en) * | 2016-06-08 | 2018-02-06 | ecoATM, Inc. | Methods and systems for detecting screen covers on electronic devices |
| US10269110B2 (en) | 2016-06-28 | 2019-04-23 | Ecoatm, Llc | Methods and systems for detecting cracks in illuminated electronic device screens |
| CN106908225B (zh) * | 2017-04-19 | 2019-12-13 | 惠科股份有限公司 | 一种检测装置、方法及系统 |
| AU2019404076A1 (en) | 2018-12-19 | 2021-07-15 | Ecoatm, Llc | Systems and methods for vending and/or purchasing mobile phones and other electronic devices |
| WO2020167846A1 (en) | 2019-02-12 | 2020-08-20 | Ecoatm, Llc | Kiosk for evaluating and purchasing used electronic devices |
| AU2020222971A1 (en) | 2019-02-12 | 2021-09-23 | Ecoatm, Llc | Connector carrier for electronic device kiosk |
| JP2021530793A (ja) | 2019-02-18 | 2021-11-11 | エコエーティーエム， エルエルシー | 電子デバイスの物理的状態評価に基づくニューラルネットワーク、および関連付けられるシステムおよび方法 |
| US11922467B2 (en) | 2020-08-17 | 2024-03-05 | ecoATM, Inc. | Evaluating an electronic device using optical character recognition |
| CN112040223B (zh) * | 2020-08-25 | 2022-08-12 | RealMe重庆移动通信有限公司 | 一种图像处理方法、终端设备及存储介质 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4454541A (en) * | 1982-06-14 | 1984-06-12 | Rca Corporation | Charge coupled device based blemish detection system and method |
| KR900000332B1 (ko) * | 1984-06-01 | 1990-01-25 | 마쯔시다덴기산교 가부시기갸이샤 | 흠 보정장치 |
| JP2606185B2 (ja) * | 1985-06-17 | 1997-04-30 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子のレジストレーション測定方法 |
-
1991
- 1991-03-29 JP JP03065964A patent/JP3123095B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-03-26 US US07/857,662 patent/US5319459A/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-03-28 KR KR1019920005154A patent/KR950005024B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4671078B2 (ja) * | 2000-06-22 | 2011-04-13 | 株式会社ニコン | 表面検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR920019182A (ko) | 1992-10-22 |
| KR950005024B1 (ko) | 1995-05-17 |
| US5319459A (en) | 1994-06-07 |
| JP3123095B2 (ja) | 2001-01-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH04301684A (ja) | ディスプレイの画面欠点検出方法 | |
| US7643061B2 (en) | Scintillation measuring method of display device and scintillation measuring device | |
| US6614923B1 (en) | Pattern inspecting method and apparatus thereof, and pattern inspecting method on basis of electron beam images and apparatus thereof | |
| US5696550A (en) | Image quality inspection system | |
| US8502141B2 (en) | Graphical user interface for use with electron beam wafer inspection | |
| JP2008500529A (ja) | デジタル画像化システムを特徴付ける方法 | |
| TWI758609B (zh) | 影像生成裝置及影像生成方法 | |
| KR20050051535A (ko) | 결함 검사 장치 | |
| JPH09265537A (ja) | 画像処理方法 | |
| JPS62299928A (ja) | 走査型光学顕微鏡 | |
| WO2021189490A1 (zh) | X射线平板探测器及其图像校正方法 | |
| JP3695120B2 (ja) | 欠陥検査方法 | |
| JP2003167530A (ja) | ディスプレイ画面検査方法およびディスプレイ画面検査装置 | |
| JPH09101236A (ja) | 表示欠陥検査装置および表示欠陥検査方法 | |
| JPH0875542A (ja) | 表示画素の光量測定方法並びに表示画面の検査方法及び装置 | |
| JP3343445B2 (ja) | Ｌｃｄパネル画質検査装置 | |
| JPH1031730A (ja) | キャリブレーション方法 | |
| JP2000081368A (ja) | Ｌｃｄ パネル画質検査方法、ｌｃｄ パネル画質検査装置及び画像取込方法 | |
| US5142588A (en) | Method of and apparatus for measuring track displacement on a magnetic tape | |
| JP7432377B2 (ja) | ディスプレイｍｔｆ測定装置およびそのプログラム | |
| JP2511021B2 (ja) | 実装部品検査装置 | |
| JP2000105167A (ja) | 画質検査装置のアドレス・キャリブレーション方法 | |
| JPH01293478A (ja) | パターン検査方法 | |
| JPS6096088A (ja) | 軸対称物体の欠陥検査装置 | |
| JPH1093871A (ja) | 高解像度撮像方法及びその装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |