JPH04299245A - ガスセンサの製造方式 - Google Patents
ガスセンサの製造方式Info
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- JPH04299245A JPH04299245A JP6500891A JP6500891A JPH04299245A JP H04299245 A JPH04299245 A JP H04299245A JP 6500891 A JP6500891 A JP 6500891A JP 6500891 A JP6500891 A JP 6500891A JP H04299245 A JPH04299245 A JP H04299245A
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、大気中のガスを検知
するガスセンサの製造方式に関する。
するガスセンサの製造方式に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、大気中の還元性ガスを検知するも
のとして、N型半導体特性を示すSnO2 ,ZnO,
Fe2 O3 などの金属酸化物半導体の焼結体を用い
たガスセンサが知られている。
のとして、N型半導体特性を示すSnO2 ,ZnO,
Fe2 O3 などの金属酸化物半導体の焼結体を用い
たガスセンサが知られている。
【0003】このガスセンサは、金属酸化物半導体が還
元性ガスに接触すると、その金属酸化物半導体の電気伝
導度が増大して抵抗値が減少するという現象を利用した
ものである。
元性ガスに接触すると、その金属酸化物半導体の電気伝
導度が増大して抵抗値が減少するという現象を利用した
ものである。
【0004】一方、近年、小形化および多機能化の要請
から、上記の焼結体型のガスセンサに代わり、薄膜型の
ガスセンサが開発されつつある。
から、上記の焼結体型のガスセンサに代わり、薄膜型の
ガスセンサが開発されつつある。
【0005】この薄膜型のガスセンサは、ヒータを内蔵
した絶縁基板の表面に一対の電極を設け、その両電極上
に金属酸化物半導体を種々の薄膜形成法たとえばスパッ
タリング法で被着せしめて薄膜とし、それを感ガス体と
した構造のものである。
した絶縁基板の表面に一対の電極を設け、その両電極上
に金属酸化物半導体を種々の薄膜形成法たとえばスパッ
タリング法で被着せしめて薄膜とし、それを感ガス体と
した構造のものである。
【0006】そして、この薄膜型のガスセンサは、複数
に区分される絶縁基板と、この絶縁基板の区分要素にそ
れぞれ設けられるヒータと、前記絶縁基板の区分要素の
それぞれ表面に設けられる一対の電極と、前記絶縁基板
の表面の区分要素ごとの両電極上に薄膜形成法により形
成される感ガス体と、これら感ガス体上に設けられる触
媒層とが用意され、前記絶縁基板が区分要素ごとに分割
されることによって複数個がまとめて製造される。
に区分される絶縁基板と、この絶縁基板の区分要素にそ
れぞれ設けられるヒータと、前記絶縁基板の区分要素の
それぞれ表面に設けられる一対の電極と、前記絶縁基板
の表面の区分要素ごとの両電極上に薄膜形成法により形
成される感ガス体と、これら感ガス体上に設けられる触
媒層とが用意され、前記絶縁基板が区分要素ごとに分割
されることによって複数個がまとめて製造される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
量産方式では、薄膜形成に際しての膜厚分布が不可避で
あり、その膜厚に基づくセンサ抵抗が図5および図8に
示すように大きくばらついてしまう。このセンサ抵抗の
“ばらつき”は、そのままセンサ出力の“ばらつき”と
なって現われ、信頼性の低下となる。
量産方式では、薄膜形成に際しての膜厚分布が不可避で
あり、その膜厚に基づくセンサ抵抗が図5および図8に
示すように大きくばらついてしまう。このセンサ抵抗の
“ばらつき”は、そのままセンサ出力の“ばらつき”と
なって現われ、信頼性の低下となる。
【0008】この発明は上記の事情を考慮したもので、
その目的とするところは、薄膜形成に際しての膜厚分布
に影響を受けることなく、“ばらつき”のない安定した
センサ出力を可能とするガスセンサの製造方式を提供す
ることにある。
その目的とするところは、薄膜形成に際しての膜厚分布
に影響を受けることなく、“ばらつき”のない安定した
センサ出力を可能とするガスセンサの製造方式を提供す
ることにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】複数に区分される絶縁基
板と、この絶縁基板の区分要素にそれぞれ設けられるヒ
ータと、上記絶縁基板の区分要素のそれぞれ表面に設け
られる一対の電極と、上記絶縁基板の表面の区分要素ご
との両電極上に薄膜形成法により形成される感ガス体と
、これら感ガス体上に設けられる触媒層とを備え、上記
絶縁基板を区分要素ごとに分割して複数個のガスセンサ
を製造するガスセンサの製造方式において、上記各区分
要素に設けられる両電極の相互間距離をそれぞれの区分
要素が絶縁基板のどの位置にあるかに応じて変化させる
。
板と、この絶縁基板の区分要素にそれぞれ設けられるヒ
ータと、上記絶縁基板の区分要素のそれぞれ表面に設け
られる一対の電極と、上記絶縁基板の表面の区分要素ご
との両電極上に薄膜形成法により形成される感ガス体と
、これら感ガス体上に設けられる触媒層とを備え、上記
絶縁基板を区分要素ごとに分割して複数個のガスセンサ
を製造するガスセンサの製造方式において、上記各区分
要素に設けられる両電極の相互間距離をそれぞれの区分
要素が絶縁基板のどの位置にあるかに応じて変化させる
。
【0010】
【作用】薄膜形成法によって形成される感ガス体の膜厚
分布に対応し、各区分要素における両電極の相互間距離
が設定される。
分布に対応し、各区分要素における両電極の相互間距離
が設定される。
【0011】
【実施例】以下、この発明の一実施例について図面を参
照して説明する。
照して説明する。
【0012】図1において、1は本体の基台となるステ
ムで、そのステム1にリードピン2a,2b,2c,2
dが垂直状態に植設される。
ムで、そのステム1にリードピン2a,2b,2c,2
dが垂直状態に植設される。
【0013】これらリードピンにそれぞれリードフレー
ム3,3,3,3を介して矩形状の絶縁基板4が保持さ
れる。
ム3,3,3,3を介して矩形状の絶縁基板4が保持さ
れる。
【0014】リードフレーム3は、導電性材料を板状に
成形したもので、一端がリードピンの上端に溶接され、
他端が絶縁基板4上の後述するボンディングパッドにパ
ラレルギャップウェルダにて溶接される。
成形したもので、一端がリードピンの上端に溶接され、
他端が絶縁基板4上の後述するボンディングパッドにパ
ラレルギャップウェルダにて溶接される。
【0015】絶縁基板4は、絶縁部材たとえばアルミナ
を主成分とするセラミックで形成される。
を主成分とするセラミックで形成される。
【0016】そして、ステム1の上面側にステンレス製
で網状のネットキャップ11が取付けられる。このネッ
トキャップ11は、上記絶縁基板4の保護および防爆用
である。
で網状のネットキャップ11が取付けられる。このネッ
トキャップ11は、上記絶縁基板4の保護および防爆用
である。
【0017】絶縁基板4およびその周囲の具体的な構成
を図2ないし図4に示す。
を図2ないし図4に示す。
【0018】まず、絶縁基板4の表面の四隅の位置にそ
れぞれ金製の電極リード用ボンディングパッド5,5と
ヒータリード用ボンディングパッド6,6が設けられる
。
れぞれ金製の電極リード用ボンディングパッド5,5と
ヒータリード用ボンディングパッド6,6が設けられる
。
【0019】ボンディングパッド5,5は、上記リード
フレーム3,3を介してリードピン2b,2dに接続さ
れる。
フレーム3,3を介してリードピン2b,2dに接続さ
れる。
【0020】ボンディングパッド6,6は、上記リード
フレーム3,3を介してリードピン2a,2cに接続さ
れる。
フレーム3,3を介してリードピン2a,2cに接続さ
れる。
【0021】絶縁基板4の内部に蛇行状の電気ヒータ7
が設けられる。このヒータ7は、絶縁基板4に形成され
ているスルーホール(図示しない)を通して両端が上記
ボンディングパッド6,6にそれぞれ接続される。
が設けられる。このヒータ7は、絶縁基板4に形成され
ているスルーホール(図示しない)を通して両端が上記
ボンディングパッド6,6にそれぞれ接続される。
【0022】また、絶縁基板4の表面のほぼ中央部に、
Pt製の一対の電極8,8がそれぞれ電極印刷法により
所定間隔kをもって設けられる。これら電極8,8は電
極リード用ボンディングパッド5,5にそれぞれ接続さ
れる。
Pt製の一対の電極8,8がそれぞれ電極印刷法により
所定間隔kをもって設けられる。これら電極8,8は電
極リード用ボンディングパッド5,5にそれぞれ接続さ
れる。
【0023】そして、絶縁基板4の表面において、一対
の電極8,8の上に感ガス体9が設けられる。
の電極8,8の上に感ガス体9が設けられる。
【0024】この感ガス体9は、金属酸化物半導体たと
えばSnO2 をスパッタリングにより被着せしめて薄
膜としたもので、周囲雰囲気中の還元性ガスに感応する
特性を有する。
えばSnO2 をスパッタリングにより被着せしめて薄
膜としたもので、周囲雰囲気中の還元性ガスに感応する
特性を有する。
【0025】さらに、絶縁基板4の表面において、感ガ
ス体9の上に、しかも感ガス体9の全体を覆うように触
媒層10が設けられる。この触媒層10は、触媒スラリ
ーの塗布によって形成される。
ス体9の上に、しかも感ガス体9の全体を覆うように触
媒層10が設けられる。この触媒層10は、触媒スラリ
ーの塗布によって形成される。
【0026】なお、リードピン2b,2d、リードフレ
ーム3,3、ボンディングパッド5,5、および電極8
,8により、感ガス体9の抵抗値変化をセンサ出力とし
て取出す手段が構成される。
ーム3,3、ボンディングパッド5,5、および電極8
,8により、感ガス体9の抵抗値変化をセンサ出力とし
て取出す手段が構成される。
【0027】また、リードピン2a,2c、リードフレ
ーム3,3、ボンディングパッド6,6により、ヒータ
7に印加電圧を導く手段が構成される。
ーム3,3、ボンディングパッド6,6により、ヒータ
7に印加電圧を導く手段が構成される。
【0028】すなわち、リードピン2a,2c間に電圧
を印加すると、ヒータ7に電流が流れ、ヒータ7が発熱
する。これにより、絶縁基板4の温度が上昇し、その熱
が感ガス体9に伝わる。
を印加すると、ヒータ7に電流が流れ、ヒータ7が発熱
する。これにより、絶縁基板4の温度が上昇し、その熱
が感ガス体9に伝わる。
【0029】この状態で、周囲雰囲気中にガスが存在す
ると感ガス体9の抵抗値が変化する。この抵抗値変化は
、センサ出力としてリードピン2bとリードピン2dか
ら取出される。
ると感ガス体9の抵抗値が変化する。この抵抗値変化は
、センサ出力としてリードピン2bとリードピン2dか
ら取出される。
【0030】したがって、リードピン2b,2dに検知
回路を接続することにより、ガスの濃度を知ることがで
きる。
回路を接続することにより、ガスの濃度を知ることがで
きる。
【0031】他方、製造工程において、絶縁基板4は、
図5に示すように一枚の大きな絶縁基板20が升目状に
区分され、その区分要素の分割により複数枚がまとめて
製造される。そして、分割前の絶縁基板20の段階で、
各区分要素に対し、ボンディングパッド5,5,6,6
、ヒータ7、電極8,8、感ガス体9、および触媒層1
0の取付けおよび形成が順次行なわれる。
図5に示すように一枚の大きな絶縁基板20が升目状に
区分され、その区分要素の分割により複数枚がまとめて
製造される。そして、分割前の絶縁基板20の段階で、
各区分要素に対し、ボンディングパッド5,5,6,6
、ヒータ7、電極8,8、感ガス体9、および触媒層1
0の取付けおよび形成が順次行なわれる。
【0032】このうち、感ガス体9は、図5に破線の円
で示すように絶縁基板20の表面をマスキングした後、
表面の全域にわたるスパッタリングにより、区分要素ご
との両電極8,8上に薄膜となって残される。
で示すように絶縁基板20の表面をマスキングした後、
表面の全域にわたるスパッタリングにより、区分要素ご
との両電極8,8上に薄膜となって残される。
【0033】ただし、この感ガス体9の薄膜形成に当た
っては、膜厚が絶縁基板20の中央部で約1μm と厚
く、周辺部側で約0.5μm と薄くなる傾向がある。
っては、膜厚が絶縁基板20の中央部で約1μm と厚
く、周辺部側で約0.5μm と薄くなる傾向がある。
【0034】そこで、スパッタリングの前の電極8,8
の取付けに際し、両電極8,8の相互間距離kをそれぞ
れの区分要素が絶縁基板20のどの位置にあるかに応じ
て変化させる。
の取付けに際し、両電極8,8の相互間距離kをそれぞ
れの区分要素が絶縁基板20のどの位置にあるかに応じ
て変化させる。
【0035】すなわち、絶縁基板20の中央部に位置す
る区分要素(絶縁基板4)については両電極8,8の相
互間距離kを図2に示すように約1mmに設定し、周辺
部の隅に位置する区分要素については両電極8,8の相
互間距離kを図6に示すように約0.5mmに設定する
。また、中央部と周辺部との間に位置する区分要素につ
いては、両電極8,8の相互間距離kを約1mmから約
0.5mmへと徐々に短く設定する。
る区分要素(絶縁基板4)については両電極8,8の相
互間距離kを図2に示すように約1mmに設定し、周辺
部の隅に位置する区分要素については両電極8,8の相
互間距離kを図6に示すように約0.5mmに設定する
。また、中央部と周辺部との間に位置する区分要素につ
いては、両電極8,8の相互間距離kを約1mmから約
0.5mmへと徐々に短く設定する。
【0036】このように、両電極8,8の相互間距離k
を変えることにより、感ガス体9の膜厚分布にかかわら
ず、センサ抵抗の“ばらつき”を図7に示すように小さ
く押さえることができる。したがって、“ばらつき”の
ない安定したセンサ出力を得ることができ、信頼性の向
上が図れる。
を変えることにより、感ガス体9の膜厚分布にかかわら
ず、センサ抵抗の“ばらつき”を図7に示すように小さ
く押さえることができる。したがって、“ばらつき”の
ない安定したセンサ出力を得ることができ、信頼性の向
上が図れる。
【0037】なお、上記実施例では、絶縁基板4にヒー
タ7を内蔵するタイプのガスセンサについて説明したが
、ヒータ7を絶縁基板4の裏面に設けるタイプのガスセ
ンサにも同様に実施可能である。
タ7を内蔵するタイプのガスセンサについて説明したが
、ヒータ7を絶縁基板4の裏面に設けるタイプのガスセ
ンサにも同様に実施可能である。
【0038】
【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば、絶
縁基板の各区分要素に設けられる両電極の相互間距離を
それぞれの区分要素が絶縁基板のどの位置にあるかに応
じて変化させるようにしたので、薄膜形成に際しての膜
厚分布に影響を受けることなく、“ばらつき”のない安
定したセンサ出力を可能とするガスセンサの製造方式を
提供できる。
縁基板の各区分要素に設けられる両電極の相互間距離を
それぞれの区分要素が絶縁基板のどの位置にあるかに応
じて変化させるようにしたので、薄膜形成に際しての膜
厚分布に影響を受けることなく、“ばらつき”のない安
定したセンサ出力を可能とするガスセンサの製造方式を
提供できる。
【図1】この発明の一実施例の全体の構成を示す斜視図
。
。
【図2】同実施例における両電極およびその周辺部を上
方から見た図。
方から見た図。
【図3】同実施例における感ガス体およびその周辺部を
上方から見た図。
上方から見た図。
【図4】同実施例における触媒層およびその周辺部を上
方から見た図。
方から見た図。
【図5】同実施例における分割前の絶縁基板およびその
区分要素を上方から見た図。
区分要素を上方から見た図。
【図6】同実施例における両電極の相互間距離kの変化
を示す図。
を示す図。
【図7】同実施例におけるセンサ抵抗の“ばらつき”を
示す図。
示す図。
【図8】従来におけるセンサ抵抗の“ばらつき”を示す
図。
図。
1…ステム、2a,2b,2c,2d…リードピン、3
…リードフレーム、4…絶縁基板、7…電気ヒータ、8
,8…電極、9…感ガス体、10…触媒層、20…絶縁
基板。
…リードフレーム、4…絶縁基板、7…電気ヒータ、8
,8…電極、9…感ガス体、10…触媒層、20…絶縁
基板。
Claims (1)
- 【請求項1】 複数に区分される絶縁基板と、この絶
縁基板の区分要素にそれぞれ設けられるヒータと、前記
絶縁基板の区分要素のそれぞれ表面に設けられる一対の
電極と、前記絶縁基板の表面の区分要素ごとの両電極上
に薄膜形成法により形成される感ガス体と、これら感ガ
ス体上に設けられる触媒層とを備え、前記絶縁基板を区
分要素ごとに分割して複数個のガスセンサを製造するガ
スセンサの製造方式において、前記各区分要素に設けら
れる両電極の相互間距離をそれぞれの区分要素が絶縁基
板のどの位置にあるかに応じて変化させることを特徴と
するガスセンサの製造方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3065008A JP3035368B2 (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | ガスセンサの製造方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3065008A JP3035368B2 (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | ガスセンサの製造方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04299245A true JPH04299245A (ja) | 1992-10-22 |
JP3035368B2 JP3035368B2 (ja) | 2000-04-24 |
Family
ID=13274531
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3065008A Expired - Lifetime JP3035368B2 (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | ガスセンサの製造方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3035368B2 (ja) |
-
1991
- 1991-03-28 JP JP3065008A patent/JP3035368B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3035368B2 (ja) | 2000-04-24 |
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