JPH04286935A - 実機の余寿命予測用小型試験片の製作方法 - Google Patents
実機の余寿命予測用小型試験片の製作方法Info
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- JPH04286935A JPH04286935A JP7442491A JP7442491A JPH04286935A JP H04286935 A JPH04286935 A JP H04286935A JP 7442491 A JP7442491 A JP 7442491A JP 7442491 A JP7442491 A JP 7442491A JP H04286935 A JPH04286935 A JP H04286935A
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Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はボイラ等、大型プラント
で用いられる高温機器の余寿命を予測するため実機から
微小サンプルを採取して、採取した微小のサンプルから
実機の余寿命を予測する方法と、微小のサンプルの採取
方法に関するものである。
で用いられる高温機器の余寿命を予測するため実機から
微小サンプルを採取して、採取した微小のサンプルから
実機の余寿命を予測する方法と、微小のサンプルの採取
方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】火力発電設備、原子力発電設備等の大型
プラントの寿命延長を図るためには、ここに用いられて
いるボイラ等の高温機器の余寿命を予測しておくことが
重要である。
プラントの寿命延長を図るためには、ここに用いられて
いるボイラ等の高温機器の余寿命を予測しておくことが
重要である。
【０００３】従来より、かかる機器の余寿命を予測する
場合に、現場では一般に非破壊的手法が用いられている
が、余寿命予測の精度上の問題がある。余寿命予測の精
度を向上させるためには、試験片を実機から直接採取し
て破壊的手法で試験をすることが必要である。
場合に、現場では一般に非破壊的手法が用いられている
が、余寿命予測の精度上の問題がある。余寿命予測の精
度を向上させるためには、試験片を実機から直接採取し
て破壊的手法で試験をすることが必要である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところが、実機から試
験片を直接採取する場合に、大型の試験片は実機から採
ることができない、という問題があり、実機の余寿命を
予測して評価することが従来できなかった。
験片を直接採取する場合に、大型の試験片は実機から採
ることができない、という問題があり、実機の余寿命を
予測して評価することが従来できなかった。
【０００５】そこで、本発明は、ボイラ等の実機から微
小のサンプルを採取し、この微小のサンプルから試験片
を製作して実機の余寿命が予測できる方法を確立すると
共に、実機から微小のサンプルを容易に採取できる方法
を提供しようとするものである。
小のサンプルを採取し、この微小のサンプルから試験片
を製作して実機の余寿命が予測できる方法を確立すると
共に、実機から微小のサンプルを容易に採取できる方法
を提供しようとするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、先ず、実機から微小のサンプルを採取し
、次いで、この微小のサンプルの両端に結合材を溶接し
て小型の試験片を製作し、次に、上記製作した小型の試
験片の両端に上部ロッドの下端と下部ロッドの上端を取
り付けて、該上下のロッドと試験片を電気炉内に挿入し
て内部を気密に保持すると共に内部に不活性ガスを注入
して不活性ガス雰囲気とし、該不活性ガス雰囲気で上記
試験片のクリープ試験を行い、しかる後、上記クリープ
試験結果から実機の余寿命を予測する方法とする。 又、上記実機からの微小サンプルの採取は、サンプルを
採取しようとする個所の表面に、放電加工で溝を成形し
て突部を作り、次いで、該突部を放電加工で切断して微
小のサンプルとして採取する方法とする。
決するために、先ず、実機から微小のサンプルを採取し
、次いで、この微小のサンプルの両端に結合材を溶接し
て小型の試験片を製作し、次に、上記製作した小型の試
験片の両端に上部ロッドの下端と下部ロッドの上端を取
り付けて、該上下のロッドと試験片を電気炉内に挿入し
て内部を気密に保持すると共に内部に不活性ガスを注入
して不活性ガス雰囲気とし、該不活性ガス雰囲気で上記
試験片のクリープ試験を行い、しかる後、上記クリープ
試験結果から実機の余寿命を予測する方法とする。 又、上記実機からの微小サンプルの採取は、サンプルを
採取しようとする個所の表面に、放電加工で溝を成形し
て突部を作り、次いで、該突部を放電加工で切断して微
小のサンプルとして採取する方法とする。
【０００７】
【作用】微小のサンプルを採取して試験片とするので、
微小のサンプルであれば、実機からの採取が許され、又
、微小のサンプルで作った試験片で破壊試験をするので
、短時間で結果を得ることができる。小型試験片のクリ
ープ試験を、不活性ガス雰囲気中で行うことにより、試
験片の酸化のおそれがなく、酸化による減肉の効果を受
けずに高温クリープ試験ができて、実機の余寿命を正確
に予測することができる。又、実機からのサンプル採取
では、放電加工により溝を成形することによって作った
突部を放電加工で切断するので、現場で微小なサンプル
を容易に且つ短時間に採取することができる。この際、
放電加工で溝を成形するときの成形加工用電極の形状を
変えることにより各種形状のサンプルを採取することが
できる。
微小のサンプルであれば、実機からの採取が許され、又
、微小のサンプルで作った試験片で破壊試験をするので
、短時間で結果を得ることができる。小型試験片のクリ
ープ試験を、不活性ガス雰囲気中で行うことにより、試
験片の酸化のおそれがなく、酸化による減肉の効果を受
けずに高温クリープ試験ができて、実機の余寿命を正確
に予測することができる。又、実機からのサンプル採取
では、放電加工により溝を成形することによって作った
突部を放電加工で切断するので、現場で微小なサンプル
を容易に且つ短時間に採取することができる。この際、
放電加工で溝を成形するときの成形加工用電極の形状を
変えることにより各種形状のサンプルを採取することが
できる。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。
する。
【０００９】図１は本発明の実機の余寿命予測方法の実
施段階を示すもので、Ｉは実機から微小のサンプルを採
取する第１段階、ＩＩは実機から採取した微小のサンプ
ルから小型の試験片を作る第２段階、ＩＩＩ は小型の
試験片を不活性ガス雰囲気中でクリープ試験する第３段
階、ＩＶはクリープ試験結果によるクリープ破断データ
により実機の余寿命を評価する第４段階であり、微小の
サンプルから短時間に得られる結果により実機の余寿命
を予測するようにする。
施段階を示すもので、Ｉは実機から微小のサンプルを採
取する第１段階、ＩＩは実機から採取した微小のサンプ
ルから小型の試験片を作る第２段階、ＩＩＩ は小型の
試験片を不活性ガス雰囲気中でクリープ試験する第３段
階、ＩＶはクリープ試験結果によるクリープ破断データ
により実機の余寿命を評価する第４段階であり、微小の
サンプルから短時間に得られる結果により実機の余寿命
を予測するようにする。
【００１０】詳述すると、本発明の方法における第１段
階Ｉの実機からの微小サンプルの採取は、図２乃至図５
に示す要領で行う。図２乃至図４は一実施例を示すもの
で、実機１の厚肉部表面から微小のサンプル２を採取す
るために中央部分をくり抜いて周辺部のみの形状にした
平面四角形状の成形加工用電極３を用い、該成形加工用
電極３を負に帯電させて実機１の表面を放電加工させ、
図２の（Ａ）から（Ｂ）の如く実機１の表面の金属を電
極相当分だけ除去して深さ３ｍｍ程度の溝４を成形する
。 次に、切断用電極５を用いて放電加工し、実機１の表面
に残る突部６を、切断用電極５にて図２（Ｂ）の如く切
断し、切断片をサンプル２として採取するようにする。 これにより実機１の表面から微小のサンプル２を容易に
且つ短時間に採取することができる。この際、放電加工
法によるので、熱影響部はほとんど無視することができ
る。
階Ｉの実機からの微小サンプルの採取は、図２乃至図５
に示す要領で行う。図２乃至図４は一実施例を示すもの
で、実機１の厚肉部表面から微小のサンプル２を採取す
るために中央部分をくり抜いて周辺部のみの形状にした
平面四角形状の成形加工用電極３を用い、該成形加工用
電極３を負に帯電させて実機１の表面を放電加工させ、
図２の（Ａ）から（Ｂ）の如く実機１の表面の金属を電
極相当分だけ除去して深さ３ｍｍ程度の溝４を成形する
。 次に、切断用電極５を用いて放電加工し、実機１の表面
に残る突部６を、切断用電極５にて図２（Ｂ）の如く切
断し、切断片をサンプル２として採取するようにする。 これにより実機１の表面から微小のサンプル２を容易に
且つ短時間に採取することができる。この際、放電加工
法によるので、熱影響部はほとんど無視することができ
る。
【００１１】図示した例は一例を示すものであり、成形
加工用電極３の形状を変えることにより、各種形状のサ
ンプル２を採取することができる。又、サンプル２の採
取個所は、ボイラ等の厚肉容器の寿命予測の場合は当該
厚肉容器の表面から微小のサンプルを採取するようにし
、ボイラ等の管寄せ部の溶接個所の余寿命予測の場合は
当該溶接個所から微小のサンプルを採取するようにする
。
加工用電極３の形状を変えることにより、各種形状のサ
ンプル２を採取することができる。又、サンプル２の採
取個所は、ボイラ等の厚肉容器の寿命予測の場合は当該
厚肉容器の表面から微小のサンプルを採取するようにし
、ボイラ等の管寄せ部の溶接個所の余寿命予測の場合は
当該溶接個所から微小のサンプルを採取するようにする
。
【００１２】図５乃至図７は上記第１段階Ｉで放電加工
により採取した微小のサンプル２から小型の試験片７を
作る第２段階ＩＩの実施例を示すもので、中央部に多数
の微小サンプル２を並べて置けるように所要深さの凹部
８を溝状に長手方向に沿い形成した金属製基台９の上面
に、幅方向から中央部の凹部８に達する傾斜面１０を形
成し、凹部８上に多数のサンプル２をその長手方向が基
台９の幅方向と平行となるように並べて載せるようにす
る。次に、各サンプル２の長手方向の両端と基台９の凹
部８縁部との接合部１１を、電子ビーム溶接にて接合さ
せる。次いで、基台９の凹部８の下方を上面の傾斜面１
０と同様に切除すると共に、各サンプル２ごとに基台９
を幅方向に切断線１２に沿い切断し、個々のサンプル２
ごとに両端の部材を加工して、図７に示す如き両端に結
合材１３付きの小型の試験片７を作るようにする。
により採取した微小のサンプル２から小型の試験片７を
作る第２段階ＩＩの実施例を示すもので、中央部に多数
の微小サンプル２を並べて置けるように所要深さの凹部
８を溝状に長手方向に沿い形成した金属製基台９の上面
に、幅方向から中央部の凹部８に達する傾斜面１０を形
成し、凹部８上に多数のサンプル２をその長手方向が基
台９の幅方向と平行となるように並べて載せるようにす
る。次に、各サンプル２の長手方向の両端と基台９の凹
部８縁部との接合部１１を、電子ビーム溶接にて接合さ
せる。次いで、基台９の凹部８の下方を上面の傾斜面１
０と同様に切除すると共に、各サンプル２ごとに基台９
を幅方向に切断線１２に沿い切断し、個々のサンプル２
ごとに両端の部材を加工して、図７に示す如き両端に結
合材１３付きの小型の試験片７を作るようにする。
【００１３】電子ビーム溶接に代えて、接合部１１をテ
ィグ溶接又はミグ溶接で接合させるようにした場合は、
溶接による熱影響部が大き過ぎるため、微小のサンプル
２の場合は使えなくなるおそれがあるが、本発明では、
接合部１１の溶接を電子ビーム溶接によるため、電子ビ
ーム溶接による場合の熱影響部が０．１〜０．２ｍｍと
極めて小さいことから、微小のサンプル２から容易小型
の試験片７（たとえば、直径２ｍｍ、長さ２７ｍｍ）を
製作することができる。
ィグ溶接又はミグ溶接で接合させるようにした場合は、
溶接による熱影響部が大き過ぎるため、微小のサンプル
２の場合は使えなくなるおそれがあるが、本発明では、
接合部１１の溶接を電子ビーム溶接によるため、電子ビ
ーム溶接による場合の熱影響部が０．１〜０．２ｍｍと
極めて小さいことから、微小のサンプル２から容易小型
の試験片７（たとえば、直径２ｍｍ、長さ２７ｍｍ）を
製作することができる。
【００１４】次に、図８は第２段階ＩＩでサンプル２の
両端に結合材１３を電子ビーム溶接にて接合して製作し
た小型の試験片７を、不活性ガス雰囲気中でクリープ試
験する第３段階ＩＩＩ で用いるクリープ試験装置の一
例を示すもので、電気炉１４の軸心部を貫通する筒体１
５の上部を支持材１６を介して支柱１７に支持させると
共に、筒体１５の下部を支持材１８を介して支柱９に支
持させ、一方，上記小型の試験片７の一端を上部ロッド
１９の下端に同一軸線方向に取り付け、又、試験片７の
他端を下部ロッド２０の上端に同一軸線方向に取り付け
て、該試験片７と一体の上下のロッド１９，２０を、上
記筒体１５の内部に挿入する。上記筒体１５の下端部に
は、フランジ２１を固定し、且つ中央部に下部ロッド２
０を貫通させた下部フランジ２２を上記フランジ２１の
下端面にＯリング２３を挟んで気密状態に取り付け、更
に、上記筒体１５内を気密に保持するため、上記下部ロ
ッド２０が下部フランジ２２を貫通する部分を気密にす
るようリング状の冷却ボックス２４と下部ロッド２０間
にＯリング２５を介在させ、又、筒体１５の上端部に取
り付けたリング状の冷却ボックス２６と上部ロッド１９
との間にＯリング２７を介在させるようにする。又、上
記気密状態にした筒体１５の内部には、図示しない真空
ポンプに真空配管２８を介して接続すると共に、不活性
ガスとしてアルゴンガスＡｒを筒体１５内に供給できる
ようアルゴンガス供給配管２９を接続し、筒体１５内を
真空にした後、アルゴンガスＡｒを供給してアルゴンガ
ス雰囲気に置換できるようにし、又、上記冷却ボックス
２４と２６には、冷却水入口配管３０，３１と冷却水出
口配管３２，３３をそれぞれ接続し、Ｏリング２５と２
７によるシール部を冷却水で冷却できるようにしてある
。更に、試験片７を上下のロッド１９，２０を介して上
下より引張って試験するために、下部ロッド２０には荷
重３４を連結し、上部ロッド１９は架台３５に吊下げ支
持させるようにした構成としてある。３６は下部フラン
ジ２２上に載せた耐熱ブロック、３７は端子箱、３８は
熱電対である。
両端に結合材１３を電子ビーム溶接にて接合して製作し
た小型の試験片７を、不活性ガス雰囲気中でクリープ試
験する第３段階ＩＩＩ で用いるクリープ試験装置の一
例を示すもので、電気炉１４の軸心部を貫通する筒体１
５の上部を支持材１６を介して支柱１７に支持させると
共に、筒体１５の下部を支持材１８を介して支柱９に支
持させ、一方，上記小型の試験片７の一端を上部ロッド
１９の下端に同一軸線方向に取り付け、又、試験片７の
他端を下部ロッド２０の上端に同一軸線方向に取り付け
て、該試験片７と一体の上下のロッド１９，２０を、上
記筒体１５の内部に挿入する。上記筒体１５の下端部に
は、フランジ２１を固定し、且つ中央部に下部ロッド２
０を貫通させた下部フランジ２２を上記フランジ２１の
下端面にＯリング２３を挟んで気密状態に取り付け、更
に、上記筒体１５内を気密に保持するため、上記下部ロ
ッド２０が下部フランジ２２を貫通する部分を気密にす
るようリング状の冷却ボックス２４と下部ロッド２０間
にＯリング２５を介在させ、又、筒体１５の上端部に取
り付けたリング状の冷却ボックス２６と上部ロッド１９
との間にＯリング２７を介在させるようにする。又、上
記気密状態にした筒体１５の内部には、図示しない真空
ポンプに真空配管２８を介して接続すると共に、不活性
ガスとしてアルゴンガスＡｒを筒体１５内に供給できる
ようアルゴンガス供給配管２９を接続し、筒体１５内を
真空にした後、アルゴンガスＡｒを供給してアルゴンガ
ス雰囲気に置換できるようにし、又、上記冷却ボックス
２４と２６には、冷却水入口配管３０，３１と冷却水出
口配管３２，３３をそれぞれ接続し、Ｏリング２５と２
７によるシール部を冷却水で冷却できるようにしてある
。更に、試験片７を上下のロッド１９，２０を介して上
下より引張って試験するために、下部ロッド２０には荷
重３４を連結し、上部ロッド１９は架台３５に吊下げ支
持させるようにした構成としてある。３６は下部フラン
ジ２２上に載せた耐熱ブロック、３７は端子箱、３８は
熱電対である。
【００１５】試験片７の高温クリープ試験を実施すると
きは、試験片７を上下のロッド１９，２０間に結合して
一体化させた後、図示の如く、該上下のロッド１９，２
０を電気炉１４の筒体１５内に挿入し、上部ロッド１９
と筒体１５との間をＯリング２７で気密に保つようにす
ると共に、下部ロッド２０と筒体１５との間をＯリング
２５で気密に保つようにする。次に、上記気密に保った
筒体１５内を真空配管２８を介し真空ポンプにて真空に
した後、アルゴンガスを供給配管２９より筒体１５内に
供給して、該筒体１５内をアルゴンガス雰囲気にする。
きは、試験片７を上下のロッド１９，２０間に結合して
一体化させた後、図示の如く、該上下のロッド１９，２
０を電気炉１４の筒体１５内に挿入し、上部ロッド１９
と筒体１５との間をＯリング２７で気密に保つようにす
ると共に、下部ロッド２０と筒体１５との間をＯリング
２５で気密に保つようにする。次に、上記気密に保った
筒体１５内を真空配管２８を介し真空ポンプにて真空に
した後、アルゴンガスを供給配管２９より筒体１５内に
供給して、該筒体１５内をアルゴンガス雰囲気にする。
【００１６】上記の状態で試験片７を上下から引張るよ
うに応力をかけて破壊試験をする。アルゴンガス雰囲気
中であるため、小型の試験片７を酸化の影響を受けるこ
となく高温クリープ試験を実施することができ、実機の
余寿命を正確に予測することができる。因に、小型の試
験片７を大気中で試験すると、小型の試験片７が酸化の
影響を受けることになり、小型の試験片７が酸化の影響
を受けると、酸化減肉の効果を受けるので、実機の余寿
命を正確に予測することができないことになる。
うに応力をかけて破壊試験をする。アルゴンガス雰囲気
中であるため、小型の試験片７を酸化の影響を受けるこ
となく高温クリープ試験を実施することができ、実機の
余寿命を正確に予測することができる。因に、小型の試
験片７を大気中で試験すると、小型の試験片７が酸化の
影響を受けることになり、小型の試験片７が酸化の影響
を受けると、酸化減肉の効果を受けるので、実機の余寿
命を正確に予測することができないことになる。
【００１７】上記のクリープ試験結果により実機の余寿
命を評価する第４段階ＩＶでは、上記第３段階ＩＩＩ
にて短時間で得た結果から推定して長時間の余寿命を予
測するようにする。図９は小型の試験片と従来の大型の
試験片によるクリープ破壊試験結果をラーソン・ミラー
パラメータＰで整理した結果を示すもので、○印は小型
の試験片をアルゴンガス雰囲気中でクリープ試験したと
きのデータを示し、●印は小型試験片を大気中でクリー
プ試験したときのデータを示し、又、◎印は従来の大型
の試験片を大気中でクリープ試験したときのデータを示
す。
命を評価する第４段階ＩＶでは、上記第３段階ＩＩＩ
にて短時間で得た結果から推定して長時間の余寿命を予
測するようにする。図９は小型の試験片と従来の大型の
試験片によるクリープ破壊試験結果をラーソン・ミラー
パラメータＰで整理した結果を示すもので、○印は小型
の試験片をアルゴンガス雰囲気中でクリープ試験したと
きのデータを示し、●印は小型試験片を大気中でクリー
プ試験したときのデータを示し、又、◎印は従来の大型
の試験片を大気中でクリープ試験したときのデータを示
す。
【００１８】図９に示す試験結果から、小型の試験片を
アルゴンガス雰囲気中でクリープ試験すると、従来の大
型の試験片を大気中でクリープ試験するのと同じに試験
することができることがわかり、又、小型の試験片を大
気中でクリープ試験すると、Ｐ＝１．９×１０４ 以上
になると、酸化の影響が現われてくることがわかる。
アルゴンガス雰囲気中でクリープ試験すると、従来の大
型の試験片を大気中でクリープ試験するのと同じに試験
することができることがわかり、又、小型の試験片を大
気中でクリープ試験すると、Ｐ＝１．９×１０４ 以上
になると、酸化の影響が現われてくることがわかる。
【００１９】上記図９に示される結果から推定して長時
間の余寿命を知ることができる。今、実機の余寿命を予
測する場合は、図９において、実機の応力からＰが求め
られ、このとき実機の温度がわかるのでＴが求められ、
その結果、破断時間ｔｒが求められる。この破断時間ｔ
ｒは、余寿命となるものであるから、図９に基づき実機
の余寿命を評価することができる。
間の余寿命を知ることができる。今、実機の余寿命を予
測する場合は、図９において、実機の応力からＰが求め
られ、このとき実機の温度がわかるのでＴが求められ、
その結果、破断時間ｔｒが求められる。この破断時間ｔ
ｒは、余寿命となるものであるから、図９に基づき実機
の余寿命を評価することができる。
【００２０】
【発明の効果】以上述べた如く、本発明の実機の余寿命
予測方法によれば、実機から採取した微小のサンプルか
ら小型の試験片を作り、この小型の試験片を不活性ガス
雰囲気中でクリープ試験し、クリープ試験の結果得られ
たデータに基づき実機の余寿命を予測するようにするの
で、微小のサンプルから実機の使用条件における余寿命
を精度よく予測することが、従来の大型試験片による破
壊試験と同じ程度に信頼性を高めることができる。又、
微小のサンプルは、実機に支障を与えることなく採取す
ることができると共に、採取が容易である。更に、実機
からの微小のサンプル採取方法として、放電加工法を採
用することにより、微小のサンプルを容易に且つ熱影響
部をほとんど無視できる状態で採取することができると
共に、成形加工用電極の形状を変えることにより各種形
状のサンプルを採取することができ、採取されたサンプ
ルは余寿命の評価以外に、実機の材質劣化調査にも利用
できる。
予測方法によれば、実機から採取した微小のサンプルか
ら小型の試験片を作り、この小型の試験片を不活性ガス
雰囲気中でクリープ試験し、クリープ試験の結果得られ
たデータに基づき実機の余寿命を予測するようにするの
で、微小のサンプルから実機の使用条件における余寿命
を精度よく予測することが、従来の大型試験片による破
壊試験と同じ程度に信頼性を高めることができる。又、
微小のサンプルは、実機に支障を与えることなく採取す
ることができると共に、採取が容易である。更に、実機
からの微小のサンプル採取方法として、放電加工法を採
用することにより、微小のサンプルを容易に且つ熱影響
部をほとんど無視できる状態で採取することができると
共に、成形加工用電極の形状を変えることにより各種形
状のサンプルを採取することができ、採取されたサンプ
ルは余寿命の評価以外に、実機の材質劣化調査にも利用
できる。
【図１】本発明の方法の実施段階を示す図である。
【図２】微小のサンプルを実機表面から採取する実施例
を示すもので、（Ａ）は実機表面に溝を形成するときの
状態を示す側面図、（Ｂ）は溝を形成することにより作
られた突部をサンプルとして切断する側面図である。
を示すもので、（Ａ）は実機表面に溝を形成するときの
状態を示す側面図、（Ｂ）は溝を形成することにより作
られた突部をサンプルとして切断する側面図である。
【図３】図２（Ａ）で用いる成形加工用電極の斜視図で
ある。
ある。
【図４】採取されたサンプルを示す図である。
【図５】微小サンプルから試験片を製作するときの状態
を示す切断面図である。
を示す切断面図である。
【図６】図５の平面図である。
【図７】小型の試験片を示す図である。
【図８】小型の試験片をクリープ試験するクリープ試験
装置の一例を示す切断側面図である。
装置の一例を示す切断側面図である。
【図９】クリープ試験結果を表わした図である。
【符号の説明】
Ｉ 第１段階
ＩＩ 第２段階
ＩＩＩ 第３段階
ＩＶ 第４段階
１ 実機
２ サンプル
３ 成形加工用電極
４ 溝
５ 切断用電極
６ 突部
７ 小型の試験片
１４ 電気炉
１５ 筒体
１９ 上部ロッド
２０ 下部ロッド
２３，２５ Ｏリング
２７ Ｏリング
２８ 真空配管
２９ アルゴンガス供給配管
Ａｒ アルゴンガス（不活性ガス）
Claims (2)
- 【請求項１】 実機の適宜部位から微小のサンプルを
採取し、次いで、該採取したサンプルの両端に結合材を
接合して小型の試験片を作り、次に、上記小型の試験片
の一端を上部ロッドの下端に取り付けると共に試験片の
他端を下部ロッドの上端に取り付けて、上下のロッドと
試験片を電気炉内の筒体に挿入し、且つ上記筒体内を気
密に保持し、該筒体内を不活性ガス雰囲気にして上記試
験片のクリープ試験を行い、しかる後、上記クリープ試
験の結果により得られたデータから推定して実機の余寿
命を予測することを特徴とする微小のサンプルによる実
機の余寿命予測方法。 - 【請求項２】 実機のサンプルを採取しようとする個
所の表面に、成形加工用電極を用いて放電加工により溝
を成形することによって突部を作り、次いで、切断用電
極を用いて放電加工により上記突部を切断し、該切断さ
れた突部片をサンプルとして採取することを特徴とする
微小のサンプルの採取方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03074424A JP3082279B2 (ja) | 1991-03-15 | 1991-03-15 | 実機の余寿命予測用小型試験片の製作方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03074424A JP3082279B2 (ja) | 1991-03-15 | 1991-03-15 | 実機の余寿命予測用小型試験片の製作方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04286935A true JPH04286935A (ja) | 1992-10-12 |
| JP3082279B2 JP3082279B2 (ja) | 2000-08-28 |
Family
ID=13546811
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03074424A Expired - Fee Related JP3082279B2 (ja) | 1991-03-15 | 1991-03-15 | 実機の余寿命予測用小型試験片の製作方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3082279B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8820960B2 (en) | 2011-02-18 | 2014-09-02 | Panasonic Corporation | Light emitting device |
| WO2016151955A1 (ja) * | 2015-03-26 | 2016-09-29 | 三菱重工業株式会社 | 耐熱部材の初期クリープ強度推定方法およびこの残寿命推定方法 |
| CN110390142A (zh) * | 2019-07-02 | 2019-10-29 | 昆山泽元信息科技有限公司 | 一种冷却液壶蠕变性能评估及结构优化方法 |
-
1991
- 1991-03-15 JP JP03074424A patent/JP3082279B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2016151955A1 (ja) * | 2015-03-26 | 2016-09-29 | 三菱重工業株式会社 | 耐熱部材の初期クリープ強度推定方法およびこの残寿命推定方法 |
| JP2016183900A (ja) * | 2015-03-26 | 2016-10-20 | 三菱重工業株式会社 | 耐熱部材の初期クリープ強度推定方法およびこの残寿命推定方法 |
| CN110390142A (zh) * | 2019-07-02 | 2019-10-29 | 昆山泽元信息科技有限公司 | 一种冷却液壶蠕变性能评估及结构优化方法 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3082279B2 (ja) | 2000-08-28 |
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