JPH04286825A - Thermoelectron emitting element - Google Patents

Thermoelectron emitting element

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JPH04286825A
JPH04286825A JP3074208A JP7420891A JPH04286825A JP H04286825 A JPH04286825 A JP H04286825A JP 3074208 A JP3074208 A JP 3074208A JP 7420891 A JP7420891 A JP 7420891A JP H04286825 A JPH04286825 A JP H04286825A
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JP
Japan
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electron
emission section
filament
thin film
work function
Prior art date
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JP3074208A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoshiki Uda
芳己 宇田
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Canon Inc
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Abstract

PURPOSE:To make a thermoelectron emission section extremely small into a simple structure by laminating a heater to heat the thermoelectron emission section, and providing a thin film thereon to form the thermoelectron emission section. CONSTITUTION:When voltage is applied to a copper supporting layer 2 on both sides of each filament 6, the center Ta filament layer 6 is heated. Radiation heat is generated to heat an upper Ta electron emission board 7 and a W base metal 8 as well as a low work function material 9. At this time, the low work function material, (Ba, Sr, Ca) Co3 is activated by heat and formed into oxide. The W base metal 8 reduces the oxide of the material 9 to cover the surface of the emission section 7 with Ba, Sr, Ca, lower at a work function valve than that of position shown by W. As a result, electrons are easily emitted from the electron emission section 7. In such a structure, with the emission section 7 continuously put over thin film heaters and separated therefrom in space, the emission section 7 is arranged at fine precise picthes to eliminate the need for alignment to the heaters bacause the emission section 7 is a continuous thin plate.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、熱電子放出素子に関す
るもので、特に、熱電子放出材料を加熱するヒーターを
薄膜化した構造の熱電子放出素子に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a thermionic emission device, and more particularly to a thermionic emission device having a structure in which a heater for heating a thermionic emission material is made into a thin film.

【0002】0002

【従来の技術】従来、熱電子放出材料を空間を介して加
熱するような形の熱電子放出素子としては、図6に示す
ような構造が代表的である。かかる構造を順に説明する
と、直径1〜2mmのスリーブ61の内側上部にカップ
62があり、この中に熱電子放出材料63が設けられ、
これは多孔質基体64と含浸剤65とから成っている。 カップ62の下側には、これを加熱するためのヒーター
66が空間を介して置かれている。かかる構成要素の一
般的な材質は、スリーブ61にはTa、カップ62には
Ta、多孔質基体64にはW焼結体、含浸剤65にはB
aO,Al2O3,CaO、ヒーター66にはアルミナ
被覆W等である。
2. Description of the Related Art Conventionally, a structure as shown in FIG. 6 is typical of a thermionic emitting device that heats a thermionic material through space. To explain this structure in order, there is a cup 62 on the inside upper part of a sleeve 61 with a diameter of 1 to 2 mm, a thermionic emission material 63 is provided in this,
It consists of a porous substrate 64 and an impregnating agent 65. A heater 66 for heating the cup 62 is placed below the cup 62 with a space therebetween. The general materials of these components are Ta for the sleeve 61, Ta for the cup 62, W sintered body for the porous base 64, and B for the impregnating agent 65.
aO, Al2O3, CaO, and the heater 66 is coated with alumina.

【0003】このような構造の熱電子放出素子は、含浸
型カソードと呼ばれ、熱電子源に分類される。かかる熱
電子源の動作としては、先ず真空中に置かれた含浸型カ
ソードのヒーター66に外部より電力を供給する。ヒー
ター66を加熱することにより、カップ62内の熱電子
放出材料63が加熱され、中の含浸剤65がWの多孔質
基体64で還元されつつ表面に到達し、表面を覆う。か
かるヒーター66の加熱により励起された熱電子は、含
浸剤65の仕事関数値より高いエネルギーを得たものが
熱電子放出材料63の表面から真空中へ飛び出すことに
より電子を放出すると考えられている。以上が従来より
ある熱電子放出素子の例である。
A thermionic emission device having such a structure is called an impregnated cathode and is classified as a thermionic source. In operation of such a thermionic source, electric power is first supplied from the outside to the impregnated cathode heater 66 placed in a vacuum. By heating the heater 66, the thermionic emission material 63 in the cup 62 is heated, and the impregnating agent 65 therein is reduced by the W porous substrate 64, reaches the surface, and covers the surface. It is thought that the thermionic electrons excited by the heating of the heater 66 have energy higher than the work function value of the impregnating agent 65 and emit electrons by jumping out from the surface of the thermionic emission material 63 into the vacuum. . The above are examples of conventional thermionic emission devices.

【0004】一方、昨今においては、電子源を平面上に
マルチ配列とし、マルチエレクトロンビームとしてリソ
グラフィー装置に応用するための研究、平面ディスプレ
イ用の電子源としての研究等が盛んである。これらのマ
ルチエレクトロンビームは、一般に電子源を並べるピッ
チとして数100μm以下が要求される。
On the other hand, in recent years, there has been active research into arranging multiple electron sources on a plane and applying them to lithography apparatuses as multi-electron beams, and research into electron sources for flat displays. These multi-electron beams generally require a pitch for arranging electron sources of several hundred micrometers or less.

【0005】しかしながら、上記従来例で示した電子放
出素子を上述の要求に適用しようとした場合、次のよう
な欠点があった。 ■.素子サイズがφ1mm〜φ2mmと大きいために、
マルチに並べても放出部のピッチを小さくすることがで
きない。 ■.素子が単独で独立しているために、平面上にマルチ
に並べようとした場合、機械的な位置合わせが要求され
、数が多くなると(例えば500×1,500素子等)
、高精度の配列は非常に困難である。 ■.放出部が大きいために、放出スポットを絞ろうとす
ると、上側に電子光学レンズを置く等しなくてはならな
い。
However, when trying to apply the electron-emitting device shown in the conventional example to the above-mentioned requirements, there were the following drawbacks. ■. Because the element size is large, φ1 mm to φ2 mm,
It is not possible to reduce the pitch of the emitting parts even if they are arranged in a multi-layered manner. ■. Because the elements are independent, mechanical alignment is required when trying to arrange them in multiple places on a plane, and when the number is large (for example, 500 x 1,500 elements)
, high precision alignment is very difficult. ■. Because the emission part is large, if you try to narrow down the emission spot, you have to place an electron optical lens above it.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上述従来技術の問題点
に鑑み、本発明の目的とするところは、■.熱電子源の
マルチ配列化を可能ならしめる、■.薄膜製造技術の適
用による位置合わせ等の精度向上を図れる、等を満足し
うる熱電子放出素子を提供することにある。
Problems to be Solved by the Invention In view of the problems of the prior art described above, the objects of the present invention are: (1). ■.Multi-array of thermionic sources is possible. It is an object of the present invention to provide a thermionic emission device that can improve the precision of positioning and the like by applying thin film manufacturing technology.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段及び作用】上述課題は、以
下の構成をなす熱電子放出素子、第1に、熱電子放出部
と熱電子を励起するヒーター部との間に空間的間隔を有
し、かつ、該ヒーター部が薄膜工程により形成された薄
膜ヒーターで構成されている熱電子放出素子、第2に、
連続した熱電子放出部に対し、2個以上の薄膜ヒーター
が空間的に間隔を有した状態で平面上に配置されている
熱電子放出素子、によって達成される。
[Means and operations for solving the problem] The above problem is solved by providing a thermionic emission device having the following configuration. and the heater section is constituted by a thin film heater formed by a thin film process, secondly,
This is achieved by a thermionic emission element in which two or more thin film heaters are arranged on a plane with a spatial interval between them for a continuous thermionic emission part.

【0008】すなわち、本発明は、熱電子放出素子のヒ
ーターに相当する部分をIC製造等で用いられる成膜・
フォトリソ・エッチング技術を用いて薄膜化した薄膜ヒ
ーターを用いることにより、平面上に狭ピッチ(例えば
300μm)で複数の薄膜ヒーターを設けることを可能
にしたものである。
That is, the present invention provides a method for forming a portion corresponding to a heater of a thermionic emission device by a film forming method used in IC manufacturing, etc.
By using thin film heaters made into thin films using photolithography and etching technology, it is possible to provide a plurality of thin film heaters on a plane at a narrow pitch (for example, 300 μm).

【0009】このような薄膜ヒーターの上部に、空間を
介して熱電子放出部を設けることにより、熱電子放出素
子を薄形で高密度に作ることを可能にしたものである。
[0009] By providing a thermionic emission section above such a thin film heater with a space in between, it is possible to fabricate a thermionic emission element in a thin shape and with high density.

【0010】0010

【実施例】以下、実施例にて本発明を具体的に説明する
[Examples] The present invention will be specifically explained below with reference to Examples.

【0011】実施例1 図1は、本発明の特徴を最もよくあらわしているところ
の実施例であり、同図において、1は薄膜フィラメント
部の基板、2は薄膜フィラメントを支持しているフィラ
メント支持層、3は薄膜フィラメント6を有するフィラ
メント層、4は第1の電子放出部支持層、5は第2の電
子放出部支持層である。また、7は電子放出部基板、8
は電子放出部の基体金属、9は電子放出部の低仕事関数
材料である。以下、7,8,9を総称して電子放出部1
0という。
Embodiment 1 FIG. 1 is an embodiment that best expresses the features of the present invention. In the figure, 1 is a substrate of a thin film filament section, and 2 is a filament support supporting the thin film filament. Layer 3 is a filament layer having a thin film filament 6, 4 is a first electron-emitting part support layer, and 5 is a second electron-emitting part support layer. Further, 7 is an electron emission part substrate, 8
9 is the base metal of the electron emitting portion, and 9 is the low work function material of the electron emitting portion. Hereinafter, 7, 8, and 9 will be collectively referred to as the electron emission part 1.
It is called 0.

【0012】この実施例の構成で、従来例の熱電子放出
素子におけるヒーター66は薄膜フィラメント6に相当
している。また、第1及び第2の電子放出部支持層は、
電子放出部10をフィラメント6から一定距離だけ離す
ためのスペーサーにあたる。また、電子放出部基板7,
電子放出部の基体金属8及び電子放出部の低仕事関数材
料9は、従来例のカップ62を含んだ電子放出部に相当
する。
In the configuration of this embodiment, the heater 66 in the conventional thermionic emission device corresponds to the thin film filament 6. Further, the first and second electron-emitting part support layers are
This corresponds to a spacer for separating the electron emitting section 10 from the filament 6 by a certain distance. Further, the electron emission part substrate 7,
The base metal 8 of the electron emitting portion and the low work function material 9 of the electron emitting portion correspond to the electron emitting portion including the cup 62 of the conventional example.

【0013】本実施例のヒーター部及び電子放出部支持
層の製造方法を、図1中の断面A−A,B−Bを表わし
た図2及び図3に示す。一例として、複数の熱電子放出
素子(薄膜フィラメント)のピッチを300μmにした
場合、それに適する寸法を示しながら説明をする。先ず
、素子寸法は、図1のように、フィラメント6について
は、L=200μm,w=20μm,t=2μm、フィ
ラメント層の幅200μmとする。
A method of manufacturing the heater section and electron emitting section support layer of this embodiment is shown in FIGS. 2 and 3, which show cross sections AA and BB in FIG. 1. As an example, a case where the pitch of a plurality of thermionic emission elements (thin film filaments) is set to 300 μm will be explained while showing dimensions suitable for this. First, as shown in FIG. 1, the element dimensions are L=200 μm, w=20 μm, t=2 μm, and the width of the filament layer 200 μm for the filament 6.

【0014】また、薄膜フィラメント部の製造方法は、
以下に述べるが、特に第1及び第2の電子放出部支持層
を一体形成するところに特徴がある。以下、図2及び図
3の製造工程図に従って説明する。先ず、薄膜フィラメ
ント基板上に図2,3(a)のように薄膜成膜法を用い
て、フィラメント支持層2としてCu層を8μm、フィ
ラメント層3としてTa層を2μm、第1の電子放出部
支持層4としてCu層2μm、第2の電子放出部支持層
5としてSiO2層4μmを成膜する。
[0014] Furthermore, the method for manufacturing the thin film filament part is as follows:
As will be described below, a particular feature is that the first and second electron-emitting part support layers are integrally formed. The following description will be made according to the manufacturing process diagrams shown in FIGS. 2 and 3. First, as shown in FIGS. 2 and 3(a), on a thin film filament substrate, a Cu layer with a thickness of 8 μm was formed as the filament support layer 2, a Ta layer was formed with a thickness of 2 μm as the filament layer 3, and a first electron emitting portion was formed. A 2 μm thick Cu layer is formed as the support layer 4, and a 4 μm thick SiO2 layer is formed as the second electron emitting part support layer 5.

【0015】次に、電子放出部支持層パターンのレジス
ト11を形成する(図2,3(b))。この例の場合、
円形のパターンとなる。その後、このレジストをマスク
としてドライエッチング法により、第2の電子放出部支
持層5のSiO2層と、第1の電子放出部支持層4のC
u層を途中までエッチングする(図2,3(c))。
Next, a resist 11 having an electron-emitting part support layer pattern is formed (FIGS. 2 and 3(b)). For this example,
It becomes a circular pattern. Thereafter, using this resist as a mask, dry etching is performed to remove the SiO2 layer of the second electron-emitting part support layer 5 and the C of the first electron-emitting part support layer 4.
Etch the u layer halfway (FIGS. 2 and 3(c)).

【0016】次に、図2,3(d)に示すように、フィ
ラメント部パターンのレジスト12を形成する。この例
の場合、フィラメント6を有するフィラメント層3のパ
ターンとなる。その後、このレジストをマスクとしてド
ライエッチング法により第1の電子放出部支持層4の残
りのCu層と、フィラメント層3のTa層及びフィラメ
ント支持層2のCu層をエッチングする(図2,3(e
))。その後、フィラメント支持層2のCu層をウェッ
トエッチングし、フィラメント6の下部に間隙を形成す
る(図2,3(f))ことにより、中空薄膜フィラメン
ト部と電子放出部支持層が完成する。
Next, as shown in FIGS. 2 and 3(d), a resist 12 having a filament pattern is formed. In this example, the pattern is a filament layer 3 with filaments 6. Thereafter, using this resist as a mask, the remaining Cu layer of the first electron-emitting part support layer 4, the Ta layer of the filament layer 3, and the Cu layer of the filament support layer 2 are etched by dry etching (see FIGS. 2 and 3). e
)). Thereafter, the Cu layer of the filament support layer 2 is wet-etched to form a gap below the filament 6 (FIGS. 2 and 3(f)), thereby completing the hollow thin film filament portion and the electron emission portion support layer.

【0017】上記製造工程中のドライエッチング法は、
イオンミーリング法を用いることで可能である。また、
フィラメント支持層のウェットエッチングには、フィラ
メント支持層の材料に対して、その他の材料の選択比が
1/nになるようなエッチング液が必要であるが、この
場合、第2硝酸セリウムアンモニウム,過塩素酸及び水
の混合液が適している。
[0017] The dry etching method in the above manufacturing process is as follows:
This is possible by using the ion milling method. Also,
Wet etching of the filament support layer requires an etching solution such that the selection ratio of other materials to the material of the filament support layer is 1/n. A mixture of chloric acid and water is suitable.

【0018】このようにして、薄膜中空フィラメントを
同一基板上に複数作ることが可能である。さらに、この
複数のフィラメントを有する第2の電子放出部支持層5
の上に、別の工程で準備しておいた電子放出部10であ
るところの薄板を乗せることにより、熱電子放出素子を
完成することができる。尚、電子放出部である薄板のサ
イズは、基板上にある複数のフィラメントを全て覆うだ
けの幅のあるものであれば良い。
[0018] In this way, it is possible to fabricate a plurality of thin film hollow filaments on the same substrate. Furthermore, the second electron-emitting part support layer 5 having the plurality of filaments
A thermionic emission device can be completed by placing a thin plate, which is the electron emitting portion 10, prepared in a separate process, on top of the structure. Note that the size of the thin plate serving as the electron emitting portion may be wide enough to cover all of the plurality of filaments on the substrate.

【0019】かかる電子放出部10の構成は、一例を示
すと以下のようである。電子放出部基板7にタンタル(
Ta)薄板50μmを用い、電子放出部基体金属8にタ
ングステン(W)の薄膜(例えば、蒸着膜)を0.5μ
m設け、その上に低仕事関数材料9として(Ba,Sr
,Ca)CO3の三元系炭酸塩が設けられている。
An example of the structure of the electron emitting section 10 is as follows. Tantalum (
Ta) Using a 50 μm thin plate, a 0.5 μm tungsten (W) thin film (e.g., vapor deposited film) is applied to the electron emission part base metal 8.
m, and a low work function material 9 (Ba, Sr
, Ca) CO3 ternary carbonates are provided.

【0020】このようにして作られた熱電子放出素子は
、次のように電子放出を行う。上記構成の熱電子放出素
子を、熱電子放出素子として使用する場合に必要な配線
処置等を施した後真空中で、それぞれのフィラメント6
に位置する両端のフィラメント支持層2に電圧を印加す
ると、中央のフィラメントが加熱される。そうすると、
その輻射熱で上部にある電子放出基板7,基体金属8及
び低仕事関数材料9が加熱される。この時、低仕事関数
材料である(Ba,Sr,Ca)CO3は熱により活性
化され、酸化物になる。そして、基体金属のタングステ
ン(W)は、低仕事関数材料の酸化物を還元して、電子
放出部の表面をタングステン(W)等より仕事関数値の
低いバリウム(Ba),ストロンチウム(Sr),カル
シウム(Ca)が覆う。この状態で、フィラメントの加
熱により励起された電子放出部内の電子のうち、表面を
覆う材料の仕事関数値より高いエネルギーを有するもの
が空間へ放出される。以上が、熱電子放出部に対して空
間的に間隔を有(分離)している複数の薄膜フィラメン
ト(ヒーター)が平面上に配置されている熱電子放出素
子の例である。
The thermionic emission device thus produced emits electrons as follows. After the thermionic emission device having the above structure is used as a thermionic emission device, each filament 6 is
When a voltage is applied to the filament support layers 2 at both ends located at , the central filament is heated. Then,
The radiant heat heats the upper electron-emitting substrate 7, base metal 8, and low work function material 9. At this time, (Ba, Sr, Ca)CO3, which is a low work function material, is activated by heat and becomes an oxide. The base metal tungsten (W) reduces the oxide of the low work function material, and the surface of the electron emitting part is made of barium (Ba), strontium (Sr), which have a lower work function value than tungsten (W), etc. Covered by calcium (Ca). In this state, among the electrons in the electron emitting part excited by heating the filament, those having energy higher than the work function value of the material covering the surface are emitted into space. The above is an example of a thermionic emission element in which a plurality of thin film filaments (heaters) are arranged on a plane and are spatially spaced (separated) from the thermionic emission part.

【0021】以上説明したように、複数の薄膜ヒーター
の上に連続した電子放出部を空間的に分離しておくこと
により、■.電子放出部のピッチを数100μm以下に
小さく精度よく並べることができる、■.電子放出部は
連続した薄板のため、それぞれのヒーターに対して位置
合わせをする必要がない、等の効果がある。
As explained above, by spatially separating continuous electron emitting sections on a plurality of thin film heaters, (1). 2. The pitch of the electron emitting parts can be arranged with high precision, with a pitch of several hundred micrometers or less. Since the electron emitting section is a continuous thin plate, there are advantages such as no need for positioning with respect to each heater.

【0022】実施例2 本実施例では、電子放出部10の電子放出部基板7の形
状を、図1のような平面薄板から図4(a)のような波
形が連続したような薄板や、図4(b)のような山形の
薄板等にすることもできる。
Embodiment 2 In this embodiment, the shape of the electron emission part substrate 7 of the electron emission part 10 is changed from a flat thin plate as shown in FIG. 1 to a thin plate with continuous waveforms as shown in FIG. It can also be made into a chevron-shaped thin plate as shown in FIG. 4(b).

【0023】このように、電子放出部基板に凹凸のある
薄板を使用することにより、■.電子放出部基板7へ基
体金属8を成膜した時の応力による薄板の反りが緩和さ
れる、■.フィラメント加熱時の熱応力に対して薄板の
凹凸が応力を吸収して薄板の変形を防ぐ、■.薄板の機
械的な強度が向上するため、組立時の取り扱いが楽にな
る、等の効果がある。
In this way, by using a thin plate with unevenness for the electron-emitting part substrate, (1). Warping of the thin plate due to stress when the base metal 8 is deposited on the electron-emitting part substrate 7 is alleviated; (2). ■.The unevenness of the thin plate absorbs the thermal stress during filament heating and prevents the thin plate from deforming. This improves the mechanical strength of the thin plate, making it easier to handle during assembly.

【0024】実施例3 本実施例では、図4のような凹凸のある電子放出部基板
7を用い、かつ図5のように電子放出部基板の凹部のピ
ッチをフィラメント両端部のピッチと同じにする。この
場合フィラメント部の構成は図5のように、図1におけ
る第1の電子放出部支持層4と第2の電子放出部支持層
5がない状態とする。
Embodiment 3 In this embodiment, an electron-emitting substrate 7 with unevenness as shown in FIG. do. In this case, the structure of the filament part is as shown in FIG. 5 without the first electron-emitting part support layer 4 and the second electron-emitting part support layer 5 in FIG. 1.

【0025】このような構成にすると、電子放出部はフ
ィラメント両端部のピッチに従った方向の位置合わせが
必要になるが、前述第1及び第2の電子放出部支持層4
,5の代りに、基体金属の凹凸が電子放出部とフィラメ
ントを空間的に分離する役目をするので、薄膜工程が大
幅に簡略化される効果がある。
With such a configuration, the electron emitting section needs to be aligned in the direction according to the pitch of both ends of the filament.
.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上説明したように、熱電子放出部を加
熱するヒーターを薄膜化し、その上に連続した熱電子放
出部となる薄膜を設けることにより、■.熱電子放出部
を薄膜工程により形成されるヒーターのピッチに従って
平面上に規則正しく、数100μm以下の微小なピッチ
で複数設けることが可能である。 ■.熱電子放出部は、連続した薄板を複数のヒーターに
またがって設けるようにしたため、構造が簡単で、機械
的な位置合わせが不要である。 ■.ヒーターが薄膜工程で作られることから、数100
〜数μmの大きさのヒーターを作製でき、電子放出のス
ポットを小さくすることができる。等の効果がある。
Effects of the Invention As explained above, by making the heater that heats the thermionic emission part into a thin film and providing a thin film that becomes a continuous thermionic emission part thereon, (1). It is possible to provide a plurality of thermionic emission parts regularly on a plane at minute pitches of several hundred μm or less according to the pitch of the heater formed by a thin film process. ■. Since the thermionic emission section is provided with a continuous thin plate extending over a plurality of heaters, the structure is simple and no mechanical alignment is required. ■. Since the heater is made using a thin film process, several hundred
A heater with a size of ~ several μm can be manufactured, and the electron emission spot can be made small. There are other effects.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明を実施した熱電子放出素子の構成図を示
す。
FIG. 1 shows a configuration diagram of a thermionic emission device embodying the present invention.

【図2】図1のA−A断面における薄膜フィラメント部
の作製工程図を示す。
2 shows a manufacturing process diagram of a thin film filament section taken along the line AA in FIG. 1; FIG.

【図3】図1のB−B断面における薄膜フィラメント部
の作製工程図を示す。
FIG. 3 shows a manufacturing process diagram of a thin film filament section taken along the line BB in FIG. 1;

【図4】電子放出部のその他の実施例を示す。FIG. 4 shows another embodiment of the electron emitting section.

【図5】本発明の他の実施例を示す。FIG. 5 shows another embodiment of the invention.

【図6】従来の含浸型熱電子放出素子の構成図を示す。FIG. 6 shows a configuration diagram of a conventional impregnated thermionic emission device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1  基板 2  フィラメント支持層 3  フィラメント層 4  第1の電子放出部支持層 5  第2の電子放出部支持層 6  フィラメント 7  電子放出部基板 8  基体金属 9  低仕事関数材料 10  電子放出部 11  レジスト 12  レジスト 61  スリーブ 62  カップ 63  熱電子放出材料 64  多孔質基体 65  含浸剤 66  ヒーター 1 Board 2 Filament support layer 3 Filament layer 4 First electron emitting part support layer 5 Second electron emission part support layer 6 Filament 7 Electron emission part substrate 8 Base metal 9. Low work function material 10 Electron emission part 11 Resist 12 Resist 61 Sleeve 62 cups 63 Thermionic emission material 64 Porous substrate 65 Impregnating agent 66 Heater

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  熱電子放出部と熱電子を励起するヒー
ター部との間に空間的間隔を有し、かつ、該ヒーター部
が薄膜工程により形成された薄膜ヒーターで構成されて
いることを特徴とする熱電子放出素子。
Claim 1: There is a spatial interval between the thermionic emission part and the heater part that excites thermionic electrons, and the heater part is composed of a thin film heater formed by a thin film process. A thermionic emission device.
【請求項2】  連続した熱電子放出部に対し、2個以
上の薄膜ヒーターが空間的に間隔を有した状態で平面上
に配置されていることを特徴とする熱電子放出素子。
2. A thermionic emission device characterized in that two or more thin film heaters are arranged on a plane with a spatial interval in relation to a continuous thermionic emission part.
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