JPH04283650A - Birefringence measuring device - Google Patents

Birefringence measuring device

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Publication number
JPH04283650A
JPH04283650A JP4667691A JP4667691A JPH04283650A JP H04283650 A JPH04283650 A JP H04283650A JP 4667691 A JP4667691 A JP 4667691A JP 4667691 A JP4667691 A JP 4667691A JP H04283650 A JPH04283650 A JP H04283650A
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JP
Japan
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sample
measurement
sample sheet
sheet
marking
Prior art date
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Pending
Application number
JP4667691A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinichi Nagata
紳一 永田
Kura Tomita
富田 蔵
Kyoji Imagawa
今川 恭次
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kanzaki Paper Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Kanzaki Paper Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH04283650A publication Critical patent/JPH04283650A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To enable time for setting a sample to be saved and achieve an accurate measurement by providing a mechanism for retaining a sample sheet so that it can be moved in feed direction and a mechanism for carrying the sample sheet to a measurement position while feeding it intermittently. CONSTITUTION:A distance from a sample edge to an initial measurement position, a sample feed pitch., and a measurement count are set to an operation control portion 30. Then, by allowing the sample sheet to be nipped between a drive roll 9 and a guide roll 15, the roll 9 is driven by a motor for drive 10 and the sample sheet is supported by a sample supporting guide 12 and is carried. Then, the sample edge is detected by a photocell 14, a feed length of the sample sheet is measured by an encoder 11, and feeding is made by a sample feed pitch which is set previously. Then, after sampling a measurement data, marking is made by a marking mechanism 13 to allow a measurement position of the measured sample to be clarified. Then, when a preset measurement count is attained, the measurement is completed.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、複屈折測定装置に関し
、特に光学的に透明および半透明な試料の光学的異方性
、或いはレターデーション(フィルム試料等の延伸バラ
ンスや配向度合に対応)を測定する装置に関する。
[Industrial Application Field] The present invention relates to a birefringence measuring device, and in particular, the optical anisotropy or retardation (corresponding to the stretching balance and orientation degree of film samples, etc.) of optically transparent and translucent samples. This invention relates to a device for measuring.

【0002】0002

【従来の技術】複屈折測定装置は特定の波長を用い、試
料面に垂直に偏光を入射させ、透過光を検光子を通して
受光素子に入射させ測光し、偏光子と検光子の偏光方向
を常に一定に保ちながら試料に対して相対的に1回転さ
せ、受光素子での透過光強度と回転角度との関係から、
試料の複屈折率およびレターデーションを算出するもの
である。
[Prior Art] A birefringence measuring device uses a specific wavelength to incident polarized light perpendicularly to the sample surface, and measures the transmitted light by passing it through an analyzer and entering a photodetector, and the polarization direction of the polarizer and analyzer is always adjusted. Rotate one rotation relative to the sample while keeping it constant, and from the relationship between the transmitted light intensity at the light receiving element and the rotation angle,
This is to calculate the birefringence and retardation of the sample.

【0003】複屈折測定装置の測定原理の概要は下記の
通りである。偏光板2枚と試料が相対的に1回転した時
の透過光強度Iは次のように表す。   I=I0 (cos4θ+α2sin4 θ)+(
1/2)I0 sin22θ・α・cos δここで、
  I  :透過光強度 I0 :試料への入射光強度 θ  :回転角度 α  :試料中の2つの光波の吸収の大きさの比δ  
:レターデーション(位相差) つぎに、レターデーションを求める式は、I=Vxma
x cosδ=(4V(π/4)/Vxmax−1−α2 
)/2αであるから、レターデーションRは、 R=(λ0 /2π) cos−1C として求まる。 複屈折は、 Δn=R/d d  :試料の厚さ λ0 :測定波長 で求められる。
The measurement principle of the birefringence measuring device is summarized as follows. The transmitted light intensity I when the two polarizing plates and the sample rotate once relative to each other is expressed as follows. I=I0 (cos4θ+α2sin4θ)+(
1/2) I0 sin22θ・α・cos δHere,
I: Transmitted light intensity I0: Incident light intensity into the sample θ: Rotation angle α: Ratio of absorption magnitudes of two light waves in the sample δ
: Retardation (phase difference) Next, the formula for calculating retardation is I=Vxma
x cos δ=(4V(π/4)/Vxmax-1-α2
)/2α, the retardation R is determined as R=(λ0/2π) cos-1C. Birefringence is determined by Δn=R/d d : thickness of sample λ0 : measurement wavelength.

【0004】従来の装置では、図6の(a)のように測
定したいサンプルの一部をある一定の大きさに切り出し
、その試料をサンプルホルダに固定し測定を行っていた
が、次のような種々の問題点があった。 (イ)この測定方法ではサンプルの切り出し、および試
料をサンプルホルダにセットするのに多大の時間と労力
を要する。 (ロ)測定を行う場合、図6(b)のように試料が固定
されているため測定ポイントが限られてくるので、測定
した周辺(図6(b)のAの部分)の測定が不可能であ
る。 (ハ)試料の幅方向(TD方向)、或いは流れ方向(M
D方向)のプロファイルデータが知りたい場合でも試料
の切り出しは人手で行うためズレが生じて正確なプロフ
ァイル測定ができない。
In the conventional apparatus, as shown in FIG. 6(a), a part of the sample to be measured is cut out to a certain size, and the sample is fixed in a sample holder for measurement. There were various problems. (a) This measurement method requires a great deal of time and effort to cut out the sample and set it in the sample holder. (b) When performing measurements, the measurement points are limited because the sample is fixed as shown in Figure 6 (b), so measurements around the measured area (portion A in Figure 6 (b)) may not be possible. It is possible. (c) Sample width direction (TD direction) or flow direction (M
Even if you want to know the profile data (direction D), the sample is cut out manually, so deviations occur and accurate profile measurements cannot be made.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、測定したい
試料の作成にかかる時間と労力、および測定する際に試
料をサンプルホルダにセットする時間と労力を軽減し、
且つ正確な測定を効率良く行うことができる装置を提供
しようとするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention reduces the time and effort required to prepare a sample to be measured, as well as the time and effort required to set the sample in a sample holder during measurement.
Moreover, the present invention aims to provide a device that can efficiently perform accurate measurements.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は、特定の波長を
用いて、試料を透過する光量の変化を測光することによ
り光学的異方性、或いはレターデーションを算出する装
置において、試料シートを送り方向に移動可能に保持す
る機構および試料シートを間欠送りしながら測定位置ま
で搬送する機構を有することを特徴とする複屈折測定装
置により上記の課題を解決したものである。
[Means for Solving the Problems] The present invention provides an apparatus for calculating optical anisotropy or retardation by measuring changes in the amount of light transmitted through a sample using a specific wavelength. The above-mentioned problems have been solved by a birefringence measuring device characterized by having a mechanism for holding the sample sheet movably in the feeding direction and a mechanism for conveying the sample sheet to the measurement position while feeding the sample sheet intermittently.

【0007】[0007]

【作用】長尺試料の測定が可能な試料送り機能を有する
ため、測定位置の設定、測定間隔の設定を予め任意に入
力することができ従来の測定装置では測定不可能であっ
た場所の測定が可能になり容易に、且つ迅速に測定でき
、測定したデータおよびTD方向、MD方向のプロファ
イルデータをCRT上に表示することができ、それと同
時にプリンタへの出力もおこなえる。
[Function] Since it has a sample feeding function that allows measurement of long samples, measurement position settings and measurement interval settings can be entered arbitrarily in advance, allowing measurement of locations that were impossible to measure with conventional measuring devices. This makes it possible to measure easily and quickly, display measured data and profile data in the TD direction and MD direction on a CRT, and at the same time output to a printer.

【0008】[0008]

【実施例】本発明の複屈折測定装置の基本構成は次のと
おりである。図1は本発明装置の機器構成図であり、測
定部の構成の説明で(1)はハロゲンランプ等の測定光
源、(2)は特定波長のみを透過するフィルタでフィル
タホルダ(3)に装着されている。(4)はフィルタホ
ルダ(3)を回転させるための駆動用モータ、(5)は
偏光板を回転させるための駆動用モータ、(6)・(7
)は平行ニコルに配置された偏光板、(8)は測定光の
検出装置である。
[Embodiment] The basic configuration of the birefringence measuring device of the present invention is as follows. Figure 1 is a diagram of the equipment configuration of the device of the present invention, and explains the configuration of the measuring section. (1) is a measurement light source such as a halogen lamp, and (2) is a filter that transmits only a specific wavelength and is attached to a filter holder (3). has been done. (4) is a drive motor for rotating the filter holder (3), (5) is a drive motor for rotating the polarizing plate, (6) and (7).
) is a polarizing plate arranged in parallel Nicols, and (8) is a measuring light detection device.

【0009】試料搬送部の構成を説明すると(9)は試
料を搬送するための駆動ロール、(10)は試料を搬送
するための駆動ロール(9)の駆動用モータ、(11)
は試料の送り長さの計測を行うためのエンコーダ、(1
2)は試料の蛇行の矯正および試料支持のための試料支
持ガイド、(13)は測定の測定点の目印のためのマー
キング機構、(14)は試料端の検出用光電管、(15
)は試料送りのためのガイドロールである。
To explain the structure of the sample transport section, (9) is a drive roll for transporting the sample, (10) is a motor for driving the drive roll (9) for transporting the sample, and (11) is a drive roll for transporting the sample.
is an encoder for measuring the feed length of the sample, (1
2) is a sample support guide for correcting meandering of the sample and supporting the sample; (13) is a marking mechanism for marking the measurement point; (14) is a phototube for detecting the edge of the sample;
) is a guide roll for feeding the sample.

【0010】上記のマーキング機構(13)の実施例と
しては、測定された試料の測定点を明示する方法と試料
搬送機能を利用して、マーキング機構にプロッタ機能等
を持たせることにより、No.を印字する手段も可能に
なる。(24)は検出器(8)の検出出力の増幅器、(
25)はA/D変換器、(30)はデータ入力制御・演
算等を行う制御・演算部(詳細は図4のシステム構成に
て説明する。)、(28)は測定データおよびプロファ
イルを表示するためのCRTである。
[0010] As an embodiment of the above marking mechanism (13), No. It also becomes possible to print the . (24) is the amplifier of the detection output of the detector (8), (
25) is an A/D converter, (30) is a control/calculation unit that performs data input control and calculations (details will be explained in the system configuration in Figure 4), and (28) displays measurement data and profiles. It is a CRT for

【0011】システムプログラムによって制御されたマ
ーキング機構の基本動作を説明をする。 (イ)試料シートの1点の測定終了の信号を受け取る。 (ロ)マーキング装置のシリンダが作動する。 (ハ)マーカーが試料シートの測定点の延長線上のエッ
ジ部分に接触しマーキングが施される。(マーキング方
法についての詳細は後に説明する本発明装置の動作説明
のE)で説明する。)
The basic operation of the marking mechanism controlled by the system program will be explained. (b) Receive a signal indicating the end of measurement at one point on the sample sheet. (b) The cylinder of the marking device operates. (c) The marker contacts the edge portion of the sample sheet on the extension line of the measurement point and marks are applied. (Details regarding the marking method will be explained in E) of the explanation of the operation of the apparatus of the present invention to be explained later. )

【0012】図4は本発明装置のシステム構成図であり
、(L)はバスライン、(16)はCPU、(17)は
システムプログラム(18)・フィルタ制御プログラム
(19)・偏光板制御プログラム(20)・マーキング
制御を行う制御プログラム(21)・測定データのサン
プリングを行うためのデータ入力プログラム・演算プロ
グラム(22)を格納している制御プログラム格納部で
ある。
FIG. 4 is a system configuration diagram of the device of the present invention, where (L) is a bus line, (16) is a CPU, and (17) is a system program (18), a filter control program (19), and a polarizing plate control program. (20) A control program storage section that stores a control program (21) for performing marking control, a data input program for sampling measurement data, and an arithmetic program (22).

【0013】(23)はフィルタ駆動用モータ(4)・
偏光板駆動用モータ(5)・ロール駆動用モータ(10
)のドライブ装置、(24)は検出器(8)の検出出力
の増幅器、(25)はA/D変換器、(26)は入出力
のインターフェイスボード、(27)はモータドライバ
(23)を制御するためのモータコントローラ、(28
)は測定データーおよびプロファイルの表示を行うため
のCRT、(29)は測定データおよびプロファイルを
印字出力するためのプリンタである。
(23) is a filter drive motor (4).
Polarizing plate drive motor (5)/roll drive motor (10)
) drive device, (24) is the detection output amplifier of the detector (8), (25) is the A/D converter, (26) is the input/output interface board, and (27) is the motor driver (23). Motor controller for controlling (28
) is a CRT for displaying measurement data and profiles, and (29) is a printer for printing out measurement data and profiles.

【0014】本発明装置の測定動作について図1、2お
よび4に基いて説明する。先ず、測定光源(ハロゲンラ
ンプ)(1)から発光された光がファイバを介しフィル
タ制御プログラム(19)によって選択された、特定波
長のみを透過するフィルタを測定光が透過する。透過し
た測定光は、平行ニコルに置かれた偏光板(6)を介し
て振動方向が一定な光となり試料に照射される。その試
料を透過した測定光は偏光板(7)を透過し、受光素子
(8)によって受光される。
The measurement operation of the apparatus of the present invention will be explained based on FIGS. 1, 2 and 4. First, light emitted from a measurement light source (halogen lamp) (1) passes through a filter that transmits only a specific wavelength, which is selected by a filter control program (19), via a fiber. The transmitted measurement light becomes light whose vibration direction is constant through a polarizing plate (6) placed in parallel Nicols, and is irradiated onto the sample. The measurement light that has passed through the sample passes through a polarizing plate (7) and is received by a light receiving element (8).

【0015】データの測定方法は、試料が測定位置に停
止したときに偏光板制御プログラム(20)によってモ
ータコントローラ(27)、モータドライバ(23)、
偏光板駆動モータ(5)が制御され、偏光板(6)、(
7)が一回転し、回転中に送られてくる透過光量の信号
が受光素子(8)、増幅回路(24)、A/D変換器(
25)、I/Oインターフェイス(26)を経てCPU
に送られ、その信号をデータ入力プログラム(22)に
よって1度毎に360個のデータをサンプリングし演算
プログラムによってデータ処理される。
The data measurement method is such that when the sample stops at the measurement position, the motor controller (27), motor driver (23),
The polarizing plate drive motor (5) is controlled, and the polarizing plates (6), (
7) It rotates once, and the signal of the amount of transmitted light sent during the rotation is sent to the light receiving element (8), the amplifier circuit (24), and the A/D converter (
25), CPU via I/O interface (26)
The data input program (22) samples 360 pieces of data at a time, and the data is processed by an arithmetic program.

【0016】続いて図2および3に基いて試料送り機構
の周辺について説明する。試料シートを駆動ロール(9
)およびガイドロール(15)間にニップさせることに
より、光電管(14)で試料端の検出がなされ、予め設
定されている試料端から初期測定位置までの距離だけ試
料が送られ、試料測定を開始する。
Next, the surroundings of the sample feeding mechanism will be explained based on FIGS. 2 and 3. The sample sheet is moved to the driving roll (9
) and the guide roll (15), the sample edge is detected by the phototube (14), the sample is sent a preset distance from the sample edge to the initial measurement position, and sample measurement begins. do.

【0017】次に本発明装置の動作について図5に基づ
いて説明する。 A)まず試料端から初期測定位置までの距離の設定、試
料の送りピッチの設定、測定回数の設定を行う。 B)初期測定位置まで試料を送る。 C)図4のフィルタ制御プログラム(19)により波長
フィルタの決定を行う。 D)測定データサンプリング E)測定終了後、測定された試料の測定箇所を明確にす
るために試料にマーキングを施す。(このマークは単に
測定点を明示するのみでもよいが、初期測定位置からの
No.をもマークし、さらにこのNo.値をサンプリン
グ信号と共にデータ処理部に送るようにし、測定結果の
作表に利用すれば測定データと試料シートの測定点との
対比が確実となる。) F)予め設定されている試料送りピッチ分だけ試料送り
を行う。 G)予め設定された測定回数に達したかどうか判断をす
る。設定値に対し測定回数が達成されていれば測定は終
了とし、未達成の場合は測定を続ける。
Next, the operation of the apparatus of the present invention will be explained based on FIG. A) First, set the distance from the sample end to the initial measurement position, set the sample feeding pitch, and set the number of measurements. B) Send the sample to the initial measurement position. C) Determine the wavelength filter using the filter control program (19) in FIG. D) Measurement data sampling E) After the measurement is completed, mark the sample to clarify the measurement location on the sample. (This mark may simply indicate the measurement point, but it also marks the number from the initial measurement position, and furthermore, this number value is sent to the data processing section along with the sampling signal, and the measurement results are tabulated. If used, the comparison between the measurement data and the measurement points on the sample sheet will be ensured.) F) Feed the sample by the preset sample feed pitch. G) Determine whether a preset number of measurements has been reached. If the number of measurements has been achieved for the set value, the measurement is terminated; otherwise, the measurement is continued.

【0018】この本発明の動作について、図6により、
従来と比較しながら更に説明する。 (1)従来では,図6(a)のように試料を測定するた
めには、ある一定の大きさに切り出して測定を行ってい
た。それに加え切り出した試料にサンプルNo.を書き
込むことによって多数の試料の差別化(整理)を行う必
要があった。
Regarding the operation of the present invention, according to FIG.
This will be further explained while comparing with the conventional method. (1) Conventionally, in order to measure a sample as shown in FIG. 6(a), the sample was cut to a certain size and measured. In addition, sample No. It was necessary to differentiate (organize) a large number of samples by writing.

【0019】これに対し、本発明では、試料を細かく切
り出す必要が無く、長尺のまま測定でき、且つ測定され
た試料の測定箇所を明確にするため試料にマーキングを
施すことができるので、試料の整理も簡単にできる。 (2)従来測定方法で、図6(b)のようにTD方向試
料、1・2を測定した場合、試料固定ホルダに試料が固
定された状態で測定をするので、測定される位置は試料
固定ホルダ窓の中心およそ5mmφを測定することにな
る。従って試料1・2間の”A”の部分を測定したい場
合は測定不可能である。
On the other hand, in the present invention, there is no need to cut the sample into small pieces, the sample can be measured as long as it is, and markings can be applied to the sample to clarify the measurement points on the sample. It is also easy to organize. (2) When using the conventional measurement method to measure samples 1 and 2 in the TD direction as shown in Figure 6(b), the measurement is performed with the sample fixed in the sample fixing holder, so the measured position is The center of the fixed holder window, approximately 5 mmφ, will be measured. Therefore, if you want to measure the part "A" between samples 1 and 2, it is impossible to measure it.

【0020】これに対し、本発明では、長尺試料の測定
において予め試料送りピッチを細かく設定しておけば、
従来測定できなかった”A”の部分の測定が可能となる
In contrast, in the present invention, if the sample feeding pitch is finely set in advance when measuring a long sample,
It becomes possible to measure the "A" part, which could not be measured conventionally.

【0021】[0021]

【発明の効果】本発明により次のような効果を得ること
ができる。 1  試料の切り出し作業、および測定時の試料セット
に要する多大な時間と労力を大幅に軽減できる。 2  長尺試料測定が可能な試料送り機能を有するのた
め測定ポイントに捉われず任意の位置の測定が簡単にお
こなえる。 3  測定箇所を明確にするためマーキング機構が備わ
っており、試料にマーキングを施すことができるので、
試料の整理および測定データとの対応も簡単にできる。 4  試料のTD方向、或いはMD方向のプロファイル
データが知りたい場合でも正確なプロファイル測定がお
こなえる。
[Effects of the Invention] The following effects can be obtained by the present invention. 1. The enormous amount of time and effort required to cut out the sample and set the sample during measurement can be significantly reduced. 2. Since it has a sample feeding function that allows long sample measurements, it is possible to easily measure any position without being tied to a specific measurement point. 3 Equipped with a marking mechanism to clearly identify the measurement location, allowing you to mark the sample.
It is also easy to organize samples and match them with measurement data. 4. Accurate profile measurement can be performed even when you want to know profile data in the TD direction or MD direction of the sample.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】  図1は、本発明の複屈折測定装置の機器全
体(ハード)の構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of the entire device (hardware) of the birefringence measuring device of the present invention.

【図2】  図2は、本発明装置の試料送り機構、マー
キング機構の機器構成図である。
FIG. 2 is an equipment configuration diagram of a sample feeding mechanism and a marking mechanism of the apparatus of the present invention.

【図3】  図3は,本発明装置の試料送り機構の構成
図である。
FIG. 3 is a configuration diagram of the sample feeding mechanism of the apparatus of the present invention.

【図4】  図4は,本発明装置の概略システム構成図
である。
FIG. 4 is a schematic system configuration diagram of the device of the present invention.

【図5】  図5は,本発明装置の試料測定動作例を示
すフロー図である。
FIG. 5 is a flowchart showing an example of sample measurement operation of the apparatus of the present invention.

【図6】  図6で,(a)は従来測定装置の試料切り
出し方法の説明で、(b)は従来測定装置で測定できな
かった位置を示している。
FIG. 6 In FIG. 6, (a) is an explanation of a sample cutting method using a conventional measuring device, and (b) shows a position that could not be measured with a conventional measuring device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1      測定光源(ハロゲンランプ)2    
  波長フィルタ 3      フィルタホルダ 4      波長フィルタ回転駆動用モータ5   
   偏光板回転駆動用モータ6      偏光板 7      偏光板 8      受光素子 9      試料送り駆動ロール 10      試料送り駆動モータ 11      エンコーダ 12      試料支持ガイド 13      マーキング装置 14      試料端検出用光電管 15      試料送りガイドロール16     
 CPU 17      制御プログラム格納部18     
 システムプログラム 19      フィルタ制御プログラム20    
  偏光板制御プログラム21      試料送り制
御・マーキング制御プログラム22      データ
入力・演算プログラム23      モータドライバ 24      増幅回路 25      A/D変換器 26      I/Oインターフェイス27    
  モータコントローラ 28      CRT 29      プリンタ 30      演算・制御部 L      バスライン
1 Measurement light source (halogen lamp) 2
Wavelength filter 3 Filter holder 4 Wavelength filter rotation drive motor 5
Polarizing plate rotation drive motor 6 Polarizing plate 7 Polarizing plate 8 Light receiving element 9 Sample feed drive roll 10 Sample feed drive motor 11 Encoder 12 Sample support guide 13 Marking device 14 Sample edge detection phototube 15 Sample feed guide roll 16
CPU 17 Control program storage section 18
System program 19 Filter control program 20
Polarizing plate control program 21 Sample feeding control/marking control program 22 Data input/calculation program 23 Motor driver 24 Amplifier circuit 25 A/D converter 26 I/O interface 27
Motor controller 28 CRT 29 Printer 30 Arithmetic/control unit L Bus line

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】特定の波長を用いて、試料を透過する光量
の変化を測光することにより光学的異方性、或いはレタ
ーデーションを算出する装置において、試料シートを送
り方向に移動可能に保持する機構および試料シートを間
欠送りしながら測定位置まで搬送する機構を有すること
を特徴とする複屈折測定装置。
Claim 1: A device that calculates optical anisotropy or retardation by measuring changes in the amount of light transmitted through a sample using a specific wavelength, in which a sample sheet is held movably in the feeding direction. A birefringence measurement device characterized by having a mechanism and a mechanism for transporting a sample sheet to a measurement position while intermittently feeding the sample sheet.
【請求項2】測定位置の前段に一対のロールを配し測定
位置に試料シートを送り込むように構成したことを特徴
とする請求項1記載の複屈折測定装置。
2. The birefringence measuring device according to claim 1, further comprising a pair of rolls disposed in front of the measuring position to feed the sample sheet to the measuring position.
【請求項3】試料シートの測定ポイントまたは、これに
対応する位置にマーキングする手段を有することを特徴
とする請求項1または2記載の複屈折測定装置。
3. The birefringence measurement device according to claim 1, further comprising means for marking a measurement point on the sample sheet or a position corresponding thereto.
【請求項4】試料シートに初期測定位置からのNo.値
を印字する手段を有することを特徴とする請求項3記載
の複屈折測定装置。
4. No. 1 from the initial measurement position on the sample sheet. 4. The birefringence measuring device according to claim 3, further comprising means for printing the value.
JP4667691A 1991-03-12 1991-03-12 Birefringence measuring device Pending JPH04283650A (en)

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JPH04283650A true JPH04283650A (en) 1992-10-08

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JP4667691A Pending JPH04283650A (en) 1991-03-12 1991-03-12 Birefringence measuring device

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JP (1) JPH04283650A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1110728A (en) * 1997-05-01 1999-01-19 Mitsui Chem Inc Equipment for manufacture of oriented film, and birefringence measuring method

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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