JPH04279949A - Information processor - Google Patents

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JPH04279949A
JPH04279949A JP3043076A JP4307691A JPH04279949A JP H04279949 A JPH04279949 A JP H04279949A JP 3043076 A JP3043076 A JP 3043076A JP 4307691 A JP4307691 A JP 4307691A JP H04279949 A JPH04279949 A JP H04279949A
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JP
Japan
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ram
address
mapped
area
start address
Prior art date
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Application number
JP3043076A
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Japanese (ja)
Inventor
Hitomi Ogata
緒方ひとみ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
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Abstract

PURPOSE:To effectively use the area of a memory body which can be mapped like a RAM by effectively and automatically arranging RAMs without waste in the case of the existence of an unusable part on the RAM. CONSTITUTION:A RAM device 30 provided with a RAM 31 where plural RAMs divided by a certain size are gathered and are mapped in a fixed order, a start address register 32 of the RAM, and an end address register 33 of the RAM is mapped on a memory 35. Though the start address of the RAM is fixed to the start of the RAM, the end address is in any division position of the certain size. If an unusable part occurs by a defect of a partial RAM or the occurrence of trouble, arrangement is automatically changed not to use the RAM in the faulty position, and all RAMs are continuously arranged and are effectively used up to their maximum.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、RAMを使用する情報
処理装置において、RAM上の一部に使用不可能な部分
があった場合に、RAMを無駄なく有効利用するように
RAMを自動的に配置する方法に関する。
[Industrial Application Field] The present invention is an information processing device that uses RAM, and when there is a part of the RAM that cannot be used, the RAM is automatically configured to use the RAM effectively without wasting it. Regarding how to place.

【0002】0002

【従来の技術】図7は、従来のRAMの有効範囲を決定
する手段のフローチャートである。RAMのサイズがど
れくらいあるのかをRAMを使用するたびに調べるのは
無駄な処理となるので、システムを立ち上げるときにど
のくらいの容量のRAMが使用可能であるのかを調べる
必要がある。その際、RAMが不連続に存在していては
使用しにくいので、連続して存在するRAMの有効範囲
を求める必要がある。従来のRAMの有効範囲決定方法
は、まず、RAMが使用可能かどうかをテストする領域
の先頭アドレスを設定する701。そのアドレスを開始
位置として、ある一定範囲のRAM領域の読み書きテス
トを行う702。あるアドレスに書いた値と、そのアド
レスと同一アドレスから読みだした値が一致するかどう
かの読み書きテストを行い、その結果、書いた値と読み
だした値が一致しない現象が発生した場合は、その時点
でRAMのテストを終了し、不一致が生じたアドレスの
直前までの領域内で適当な区切り位置までを使用可能な
RAMの範囲とする705。適当な区切り位置とは、サ
イズ表示や他の処理を行いやすい単位で区切られた位置
ということであり、処理しやすい位置であればどの様な
位置でもかまわない。また、読み書きテストで不一致が
生じる場合とは、その位置にRAMが存在しないか、ま
たは、その位置のRAMが壊れていて正常動作しない場
合である。読み書きテストが正常終了した場合は、その
領域のRAMは使用可能であるので、次の領域のテスト
を行うために、テストを終了した領域の次の領域の先頭
アドレスを求める704。その後、求めたアドレスを開
始位置として、再びRAM領域の読み書きテストを行い
、RAMが正常に使用できるかどうかを調べる702。 このようにして前記702から704の処理を繰り返し
行い、読み書きテストで不一致が生じるまで、次々に後
方のRAMのテストを行う。
2. Description of the Related Art FIG. 7 is a flowchart of a conventional means for determining the effective range of a RAM. Checking the size of RAM each time the RAM is used is a wasteful process, so it is necessary to check how much RAM is available when starting up the system. At this time, it is difficult to use RAM if it exists discontinuously, so it is necessary to find the effective range of RAM that exists continuously. In the conventional RAM effective range determination method, first, the start address of the area to be tested to see if the RAM can be used is set (701). Starting from that address, a read/write test is performed on a certain range of RAM area 702. Perform a read/write test to see if the value written to a certain address matches the value read from the same address, and if a phenomenon occurs where the written value and the read value do not match, At that point, the RAM test is finished, and the usable RAM range is set to an appropriate delimiter position in the area immediately before the address where the mismatch occurs (705). Appropriate division positions are positions divided into units where size display and other processing can be easily performed, and any position may be used as long as it is a position that is easy to process. Further, a case where a mismatch occurs in the read/write test is a case where there is no RAM at that position, or a case where the RAM at that position is broken and does not operate normally. If the read/write test ends normally, the RAM in that area is usable, so in order to test the next area, the start address of the area next to the area for which the test has been completed is determined 704. Thereafter, a read/write test of the RAM area is performed again using the obtained address as the starting position to check whether the RAM can be used normally (702). In this way, the processes 702 to 704 are repeated, and the subsequent RAMs are tested one after another until a mismatch occurs in the read/write test.

【0003】0003

【発明が解決しようとする課題】RAMを増設して使用
可能なRAM領域を増やすことは、装置の処理速度を高
速化する目的や、サイズの大きなファイル等を処理する
目的等で行われる。しかし、途中の一部のRAMに欠陥
が生じた場合には、その部分の正常な使用が不可能にな
るため、欠陥が発生した部分を含むある一定単位のRA
Mを、使用する領域から除去する必要がある。その欠陥
のあるRAMを除去するために、読み書きテストを行い
、値の不一致が発生した領域の直前の適当な区切り位置
までを、RAMとして使用できる範囲としていた。
Increasing the usable RAM area by adding RAM is done for the purpose of increasing the processing speed of the device, processing large files, etc. However, if a defect occurs in a part of the RAM in the middle, it becomes impossible to use that part normally, so a certain unit of RAM including the part where the defect occurs
M needs to be removed from the area of use. In order to remove the defective RAM, a read/write test was performed, and the range that could be used as RAM was set to an appropriate delimiting position immediately before the area where the value mismatch occurred.

【0004】しかし、従来の技術では、読み書きした値
が一致しなかったことの原因が、たとえばRAM上のほ
んの一部の領域の欠陥によるものであったとしても、R
AMが存在しない場合と同様に、読み書きした値が一致
しないアドレス以降のRAMはすべて使用していなかっ
た。これは、従来は増設したRAMの配置(以下、マッ
ピングという)はハードウェアのスィッチで制御する方
法をとっていたため、途中のRAMの一部に欠陥があっ
ただけで、後続の別のRAM装置のRAMが正常であっ
ても、不一致の発生した位置に別のRAMをソフトウェ
アでマッピングしてその位置のRAMを正常に使用でき
る状態にすることができなかったためであった。その結
果、途中のRAMが使用不可になってしまった場合には
、そのアドレスより後方にマッピングされている全ての
RAMが使用不可になってしまい、使用できるRAM領
域が大幅に減ってしまうことがあるなど、RAM資源を
有効に利用することができなかった。また、不一致の発
生した位置に別のRAMをマッピングして使用可能にす
るためには、いったん装置の電源をOFFにし、正常に
読み書きできないRAMを含むRAM装置をはずし、別
のRAM装置のハードウェアスィッチを手動で操作して
変更し、再びシステムを立ち上げてRAMの先頭から読
み書きテストを実行しなければならないという不便さが
あった。
However, in the conventional technology, even if the reason why the read and written values do not match is due to a defect in only a small area on the RAM, the R
As in the case where AM does not exist, all of the RAM after the address where the read and written values do not match was not used. This is because conventionally, the placement of additional RAM (hereinafter referred to as mapping) was controlled by a hardware switch, so if there was a defect in just a portion of the RAM in the middle, another subsequent RAM device This is because even if the RAM in the RAM was normal, it was not possible to map another RAM to the location where the mismatch occurred using software and make the RAM in that location usable normally. As a result, if an intermediate RAM becomes unusable, all RAM mapped after that address becomes unusable, resulting in a significant reduction in usable RAM area. RAM resources could not be used effectively. In addition, in order to map another RAM to the location where the discrepancy has occurred and make it usable, first turn off the power to the device, remove the RAM device that includes the RAM that cannot be read or written normally, and use the hardware of the other RAM device. There was the inconvenience of having to change the switch manually, restart the system, and execute a read/write test from the beginning of the RAM.

【0005】さらに、RAM装置のRAMのマッピング
領域を自由に設定できるRAM装置があっても、その装
置に対応して、欠陥のある一部のRAMを使用しないよ
うにする処理がいままで行われていなかった。
[0005]Furthermore, even if there is a RAM device in which the mapping area of the RAM of the RAM device can be freely set, processing has not been performed to prevent the use of a portion of defective RAM corresponding to the device. It wasn't.

【0006】本発明の目的は、RAMのようにマッピン
グできるメモリ体の領域を最大限に有効活用することに
ある。
[0006] An object of the present invention is to make maximum effective use of the area of a memory body that can be mapped, such as a RAM.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】情報を制御する中央演算
処理装置と、前記中央演算処理装置と係合するRAM領
域を持ったメモリ部と、前記メモリ部に増設される増設
RAM装置と、前記RAM領域にデータを読み書きする
手段とを備えた情報処理装置であって、前記増設RAM
装置は正常なRAMの配置位置としての開始アドレスと
終了アドレスをソフトウェアにより変更することのでき
る少なくとも2つのRAM装置を備えており、前記情報
処理装置は前記RAM装置に対してRAMの配置位置と
なる開始アドレスと終了アドレスを設定する手段と、前
記設定されたRAM装置の開始アドレスと終了アドレス
を正常なアドレスに変更させるソフトウェア手段とを備
えていることを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] A central processing unit that controls information, a memory unit having a RAM area that engages with the central processing unit, an additional RAM device that is added to the memory unit, and the an information processing device comprising means for reading and writing data in a RAM area, the additional RAM;
The device includes at least two RAM devices whose starting and ending addresses as normal RAM locations can be changed by software, and the information processing device has a RAM location with respect to the RAM device. The present invention is characterized in that it comprises means for setting a start address and an end address, and software means for changing the set start address and end address of the RAM device to normal addresses.

【0008】[0008]

【作用】RAMのマッピングをソフトウェアで変更でき
るRAM装置が複数個、連続して装着されている場合に
、それらのうちの一部のRAMに欠陥、あるいは、故障
が発生して使用できない部分が生じたとき、欠陥のある
位置のRAMを使用しないように自動的に変更し、すべ
てのRAMを連続的に配置して、最大限、有効に使用で
きるようにする。
[Operation] If multiple RAM devices whose RAM mapping can be changed by software are installed in succession, some of them may become defective or malfunction, making them unusable. When this happens, the RAM in the defective position is automatically changed so that it is not used, and all RAMs are arranged consecutively so that they can be used as effectively as possible.

【0009】[0009]

【実施例】(実施例1)図1は、本発明のブロック図で
あり、図2は、本発明の実施例のフローチャートである
。また、図3は開始アドレスと終了アドレスを指定する
ことによってマッピング位置を自由に変更できるRAM
装置のブロック図である。RAM101と開始アドレス
設定レジスタ102と終了アドレス設定レジスタ103
を備えた、ソフトウェアでRAMのマッピング位置を変
更できるRAM装置A100と、RAM装置Aと同様の
レジスタを備え、同様にマッピング位置を変更できるR
AM装置B110と、中央処理装置121と、RAMを
配置可能なメモリ122とから構成され、記憶装置16
0内にRAMに読み書きを行う手段161と、RAMの
開始アドレスを設定または変更する手段162、RAM
の終了アドレスを設定または変更する手段163を備え
ている。
Embodiment (Embodiment 1) FIG. 1 is a block diagram of the present invention, and FIG. 2 is a flowchart of the embodiment of the present invention. Also, Figure 3 shows a RAM whose mapping position can be changed freely by specifying the start address and end address.
FIG. 2 is a block diagram of the device. RAM 101, start address setting register 102, and end address setting register 103
RAM device A100, which is equipped with a RAM mapping position that can be changed using software;
It is composed of an AM device B110, a central processing unit 121, and a memory 122 in which a RAM can be placed.
means 161 for reading and writing to and from RAM within 0; means 162 for setting or changing the starting address of RAM;
It is provided with means 163 for setting or changing the end address of.

【0010】ここで、図3で示した、マッピング位置変
更可能なRAM装置の動作について説明する。ある一定
のサイズごとに区切られているRAMが複数個集まって
形成されており、それらのRAMのマッピングされる順
番は固定になっているRAM31と、RAMの開始アド
レスレジスタ32と終了アドレスレジスタ33とを備え
たRAM装置30をメモリ35にマッピングする。RA
Mの開始アドレスはRAMの先頭に固定であるが、終了
アドレスは一定のサイズごとに区切られた位置であれば
、どこでもよい。設定された開始アドレスと終了アドレ
スによって、RAM装置のRAMの先頭からどの位置ま
でのRAMがマッピングされるかが決定される。例えば
、4メガバイトのRAMを持つRAM装置があり、この
RAMを1メガバイト単位で区切ることが可能であると
する。ただし、RAMを区切る単位は、1メガバイトに
限らず、RAM装置が認識できる単位であればよい。 1メガバイトは、メモリ上にマッピングすると先頭アド
レスを16進数で0H番地とした場合、0H番地から0
FFFFFH番地までマッピングされる。このRAMを
、記憶装置を持つ情報処理装置のメモリの200000
H番地の位置から400000Hの位置の直前までマッ
ピングするとすると、開始アドレスとして200000
Hを設定し、終了アドレスとして3FFFFFHを設定
する。RAM装置のRAMは先頭位置からマッピングさ
れるので、先頭から2メガバイト分のRAMがマッピン
グされることになる。メモリ上の終了アドレスを4FF
FFFHに変更して、その値をRAM装置の終了アドレ
ス設定レジスタに設定すれば、RAMは3メガバイト分
がマッピングされることになる。
[0010] Here, the operation of the RAM device whose mapping position can be changed, shown in FIG. 3, will be explained. A RAM 31 is formed by a plurality of RAMs partitioned into a certain size, and the order in which these RAMs are mapped is fixed, and a RAM start address register 32 and an end address register 33. The RAM device 30 having the following is mapped to the memory 35. R.A.
The start address of M is fixed at the beginning of the RAM, but the end address may be anywhere as long as it is separated by a certain size. Based on the set start address and end address, it is determined from the beginning of the RAM of the RAM device to which position the RAM is mapped. For example, suppose there is a RAM device with 4 megabytes of RAM, and this RAM can be divided into 1 megabyte units. However, the unit for partitioning the RAM is not limited to 1 megabyte, and may be any unit that can be recognized by the RAM device. 1 megabyte is mapped onto memory, and if the start address is 0H in hexadecimal, then 0H starts at 0H.
It is mapped up to address FFFFFH. This RAM can be used to store 200,000 yen of the memory of an information processing device that has a storage device.
If we map from the position of address H to just before the position of 400000H, the starting address will be 200000.
Set H and set 3FFFFFFH as the end address. Since the RAM of the RAM device is mapped from the top position, 2 megabytes of RAM from the top will be mapped. Set the end address on memory to 4FF
If the value is changed to FFFH and the value is set in the end address setting register of the RAM device, 3 megabytes of RAM will be mapped.

【0011】本発明は、このRAM装置と同様の機能を
持つRAM装置を使用した場合に実現できるものである
The present invention can be realized by using a RAM device having a similar function to this RAM device.

【0012】この実施例では、前記RAM装置と同様の
機能を持つRAM装置AとRAM装置BのRAMを、R
AM装置A、RAM装置Bの順番でRAMを連続してマ
ッピングするようにする。本発明では、途中のRAM上
に欠陥があった場合に、これらのRAMが最大限有効に
利用できるように自動的にマッピングを行う。
In this embodiment, the RAMs of RAM device A and RAM device B, which have the same functions as the RAM device described above, are
The RAMs are successively mapped in the order of AM device A and RAM device B. In the present invention, if there is a defect in the intermediate RAM, mapping is automatically performed so that these RAMs can be used as effectively as possible.

【0013】RAM装置AとRAM装置BのRAMが正
常に読み書きできるものかどうかをテストし、使用可能
なRAM領域を決定するために、まず、マッピングする
領域の先頭アドレスを設定する。そのアドレスを開始ア
ドレスとしてRAM装置Aに設定し、そのRAM装置A
のRAMの全てをマッピングしたときの終了アドレスを
設定しておく201。開始アドレスと同じアドレスを、
テストする領域の先頭アドレスとして設定する202。 その先頭アドレスから、ある一定範囲の領域のRAMの
読み書きテストを行い、その領域のRAM全てが正常に
使用できるかどうかを調べる203。このテストを行う
ときの範囲は、一度に処理しやすい範囲であればよく、
特に限定されるものではない。テストが正常に終了した
場合は、テストした領域に続くRAMのテストを実行す
るために、まず、テストしているRAM装置のすべての
RAMの調査が終了したかどうかを調べ205、終了し
ていなければ、次の領域の先頭アドレスを求める208
。終了していた場合は、次のRAMをマッピングする。 まだマッピングされていないRAM装置Bが、RAM装
置Aに連続してマッピングされるように、RAM装置B
のRAMの開始アドレスを設定し、その装置の全てのR
AMがマッピングされるように終了アドレスも設定する
207。次にテストする領域の先頭アドレスを求め20
8、次の領域のテストを行う203。このようにして順
番に後方のRAM領域のテストを行い、装着されている
RAM装置全てのRAMの調査が終了した場合は、その
アドレスまでがRAMの有効範囲となる213。
[0013] In order to test whether the RAMs of RAM device A and RAM device B can be read and written normally and to determine the usable RAM area, first, the start address of the area to be mapped is set. Set that address as the start address in RAM device A, and
An end address is set 201 when all of the RAMs in the map are mapped. the same address as the start address,
Set 202 as the start address of the area to be tested. From the start address, a read/write test is performed on the RAM in a certain range of areas to check whether all of the RAM in that area can be used normally 203. When performing this test, the range should be as long as it is easy to process at once.
It is not particularly limited. If the test is successful, in order to test the RAM following the tested area, first check 205 whether all the RAM in the RAM device being tested has been completed, and then For example, find the start address of the next area 208
. If it has been completed, map the next RAM. RAM device B such that RAM device B, which has not yet been mapped, is successively mapped to RAM device A.
Set the start address of the RAM of the device, and all R of the device
The end address is also set 207 so that AM is mapped. Next, find the start address of the area to be tested.20
8. Test the next area 203. In this way, the rear RAM areas are sequentially tested, and when the RAM of all the installed RAM devices has been investigated, the effective range of the RAM is up to that address 213.

【0014】かかるテストの結果、RAM装置AのRA
M上に、書いた値と読んだ値が一致しない箇所が発見さ
れた場合は、まず、RAM装置Aの欠陥が発見された位
置より前方のRAMの区切り位置を求め、その位置をR
AM装置AのRAMの終了アドレスとして設定する20
9。実施例1においては、RAM装置に既に設定されて
いる開始アドレスと終了アドレスのうち、開始アドレス
は変更せず、終了アドレスのみを変更しているが、後述
する実施例2では、RAM装置の開始アドレス、終了ア
ドレスを共に変更する。続いて、その一致しない箇所の
RAMより後方にマッピングすることができるRAMの
有無を調べる210。本実施例の場合はRAM装置Bが
まだマッピングが完了していないので、RAM装置Bの
RAMをRAM装置Aに連続した後方の位置にマッピン
グする。RAM装置AのRAMに続くアドレスをRAM
装置Bの開始アドレスとして設定し、そのRAMの全て
をマッピングしたときの最後のアドレスを終了アドレス
として設定する211。そして、RAM装置Bの開始ア
ドレスを次のテストのための領域の先頭アドレスとして
設定し212、RAMのテストを再び行う203。すべ
てのRAMのテストが終了するか、読み書きテストで不
具合が発見され、全てのRAMの終了アドレスが決定さ
れるまで、前記処理を繰り返し行い、最後に、効率的な
RAMのマッピングが終了する。
As a result of this test, the RA of RAM device A
If a location is found on M where the written value and the read value do not match, first find the RAM break position ahead of the location where the defect in RAM device A was found, and then convert that location to R.
20 set as the end address of AM device A's RAM
9. In Embodiment 1, of the start address and end address already set in the RAM device, only the end address is changed without changing the start address, but in Embodiment 2, which will be described later, Change both address and end address. Next, it is checked 210 whether or not there is a RAM that can be mapped after the RAM at the location where there is no match. In the case of this embodiment, since mapping of RAM device B has not yet been completed, the RAM of RAM device B is mapped to a rear position that is continuous with RAM device A. The address following the RAM of RAM device A is
The start address of device B is set, and the last address when all of the RAM is mapped is set as the end address 211. Then, the start address of RAM device B is set as the start address of the area for the next test (212), and the RAM test is performed again (203). The above process is repeated until all RAM tests are completed or a defect is found in the read/write test and the end addresses of all RAMs are determined, and finally, efficient RAM mapping is completed.

【0015】実施例1のマッピングの結果を図4に示す
。RAM装置A41、RAM装置B42とも4つのRA
Mに区切ることができ、RAM装置AのRAM3に欠陥
があった場合に、メモリ43にマッピングされた結果を
示している。RAM装置AのRAM2の後方には、RA
M装置BのRAM1が続くようになる。
FIG. 4 shows the mapping results of Example 1. Both RAM device A41 and RAM device B42 have four RAs.
It shows the result mapped to the memory 43 when the RAM 3 of the RAM device A has a defect. Behind RAM2 of RAM device A, there is a RAM
RAM1 of M device B follows.

【0016】このように、欠陥の発見された位置より後
方に存在するRAMは、従来であれば使用されることは
なかったが、本発明において、RAMの終了アドレスを
変更してマッピングされるRAMの領域を変えて欠陥の
あるRAMを除くようにし、さらに、後方のRAMを、
変更された領域に続くようにマッピングすることにより
、すべてのRAMを有効に使用できるようになる。
In this way, the RAM located after the position where the defect was discovered would not have been used in the past, but in the present invention, the RAM is mapped by changing the end address of the RAM. Change the area of the RAM to remove the defective RAM, and then
By mapping to follow the changed area, all RAM can be used effectively.

【0017】(実施例2)図5は、本発明の実施例のブ
ロック図であり、図6は実施例のフローチャートである
。中央処理装置531と、RAMを配置可能なメモリ5
32と、ソフトウェアでRAMのマッピング位置を変更
できるRAM装置A500と、RAM装置Aと同様にソ
フトウェアでマッピング位置を変更できるRAM装置B
510と、RAM装置Aと同様にソフトウェアでマッピ
ング位置を変更できるRAM装置C520とから構成さ
れ、RAMに読み書きを行う手段561と、RAMの開
始アドレスを設定または変更する手段562と、RAM
の終了アドレスを設定または変更する手段563を備え
ている。
(Embodiment 2) FIG. 5 is a block diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a flowchart of the embodiment. A central processing unit 531 and a memory 5 in which RAM can be arranged.
32, RAM device A500 whose RAM mapping position can be changed by software, and RAM device B whose mapping position can be changed by software like RAM device A.
510, and a RAM device C520 whose mapping position can be changed by software like the RAM device A, means 561 for reading and writing to the RAM, means 562 for setting or changing the start address of the RAM,
It is provided with means 563 for setting or changing the end address of.

【0018】この実施例では、RAM装置A、RAM装
置B、RAM装置CのそれぞれのRAMが、この順番で
すべてマッピング位置が決められており、その後、RA
Mが正常に動作するかどうかを調べるものとする。この
実施例においても、RAM上に正常動作しない欠陥部分
が発見された場合には、その部分を除去し、RAMを効
率的に利用できるよう、他のRAMを再配置する。まず
、先頭に配置されているRAM装置Aの開始アドレスを
RAMの先頭位置として、テストする領域の先頭アドレ
スを設定する601。そのアドレスを開始位置として、
ある一定範囲の領域のRAMの読み書きテストを行う6
02。そのテストが正常に終了した場合は、RAMの全
ての領域をテストしたかどうか調べ604、終了してい
ない場合はテストした領域に続くRAMのテストを実行
するために、領域の先頭アドレスを次の領域の先頭アド
レスに更新する605。終了した場合は、RAMの終了
アドレスまでをRAMの有効範囲とする606。RAM
装置AのRAM上で、テストにより読み書きした値が一
致しない箇所が発見された場合は、その領域より前方の
RAMの区切り位置を探し、その位置をRAM装置Aの
RAMの終了アドレスとして設定する607。終了アド
レスを変更したRAM装置Aに続いてマッピングされて
いるRAMがあるかどうかを調べ、無ければ最後に設定
した終了アドレスまでが利用可能なRAM領域となり終
了する606。後続のRAM装置があれば、それらをそ
のままの配置の順番で、RAM装置AのRAMに連続し
てマッピングされるように、全てのRAM装置の開始ア
ドレス、終了アドレスを更新する609。すなわち、R
AM装置Aに続いてRAM装置Bがマッピングされるよ
うにRAM装置Bの開始アドレスと終了アドレスを再設
定し、RAM装置Bに続けてRAM装置Cがマッピング
されるようにRAM装置Cの開始アドレスと終了アドレ
スを再設定する。開始アドレス、終了アドレスの更新後
、次にテストするRAM領域の先頭アドレスとして、R
AM装置Aに続けてマッピングされているRAM装置B
のRAMの開始アドレスの値を設定する610。 そして、RAM領域の読み書きテストを実行する。この
ようにして、602から610の処理を、全てのRAM
のテストが終了するまで繰り返し行う。
In this embodiment, the mapping positions of the RAMs of RAM device A, RAM device B, and RAM device C are all determined in this order.
Let us check whether M operates normally. In this embodiment as well, if a defective part that does not operate normally is found on the RAM, that part is removed and other RAM is rearranged so that the RAM can be used efficiently. First, the start address of the area to be tested is set 601, with the start address of the RAM device A placed at the top as the top position of the RAM. Starting from that address,
Performing a read/write test of RAM in a certain range of areas 6
02. If the test has completed normally, check 604 whether all areas of RAM have been tested, and if not, change the start address of the area to the next address in order to test the RAM following the tested area. Update 605 to the start address of the area. If the process has ended, the effective range of the RAM is set to the end address of the RAM (606). RAM
If a test finds a location on the RAM of device A where the values read and written do not match, search for a partition position in the RAM ahead of that area and set that location as the end address of the RAM of RAM device A607 . It is checked whether there is any RAM mapped following the RAM device A whose end address has been changed, and if there is not, the usable RAM area becomes the RAM area up to the last set end address and the process ends 606. If there are any subsequent RAM devices, the start and end addresses of all RAM devices are updated 609 so that they are successively mapped to the RAM of RAM device A in the same order of arrangement. That is, R
Reset the start address and end address of RAM device B so that RAM device B is mapped after AM device A, and reset the start address and end address of RAM device C so that RAM device C is mapped after RAM device B. and reset the end address. After updating the start address and end address, set R as the start address of the RAM area to be tested next.
RAM device B that is mapped next to AM device A
Set 610 the value of the starting address of the RAM. Then, a read/write test of the RAM area is executed. In this way, the processing from 602 to 610 can be performed on all RAMs.
Repeat until the test is completed.

【0019】この実施例では、RAM装置AのRAMの
一部に欠陥がある場合について述べたが、RAM装置B
のRAMなど、他のRAM装置に欠陥があった場合にも
同様に処理できる。また、装着されるRAM装置の数は
マッピング可能な範囲内であればいくつでもかまわない
In this embodiment, a case has been described in which there is a defect in a part of the RAM of RAM device A.
The same process can be performed even if there is a defect in another RAM device, such as the RAM of Moreover, the number of RAM devices installed may be any number as long as it is within the mapping possible range.

【0020】このように既にマッピングが行われている
RAMについても、RAM全ての動作確認を行うときに
、正常動作しない部分のRAMをマッピングから削除し
て、後方のRAM全体を、削除された部分のRAMの位
置に移動することによって、無駄なく、RAMを使用す
ることが可能になる。
[0020] Even for RAMs that have already been mapped in this way, when checking the operation of all RAMs, the parts of the RAM that do not operate normally are deleted from the mapping, and the entire rear RAM is replaced with the deleted part. By moving the RAM to the RAM location, it becomes possible to use the RAM without wasting it.

【0021】[0021]

【発明の効果】本発明によれば、RAMの途中に正常に
読み書きできない部分があったとしても、ソフトウェア
でマッピング変更可能なRAMであれば、正常に読み書
きできなかった部分をマッピングから削除し、正常なR
AMの位置を、正常に読み書きできなかったRAMの位
置へ変更することにより、RAMを有効に利用すること
が可能になる。さらに、ソフトウェアで自動的にマッピ
ングを変更することにより、使用者がハードウェアスィ
ッチを操作してマッピングを変更したり、または、他の
ソフトウェアを使用してマッピングを変更してシステム
を再起動するといった手間が省けることにもなり、使い
勝手が向上するという効果がある。
[Effects of the Invention] According to the present invention, even if there is a part of the RAM that cannot be read or written normally, if the RAM can be mapped by software, the part that cannot be read or written normally can be deleted from the mapping. normal R
By changing the location of the AM to the location of the RAM that could not be read or written normally, it becomes possible to use the RAM effectively. Furthermore, by automatically changing the mapping in software, the user can change the mapping by operating a hardware switch, or by using other software to change the mapping and restart the system. This has the effect of saving time and improving usability.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明によるブロック図である。FIG. 1 is a block diagram according to the invention.

【図2】本発明による実施例のフローチャートである。FIG. 2 is a flowchart of an embodiment according to the invention.

【図3】RAMの配置をソフトウェアで変更できるRA
M装置のブロック図である。
[Figure 3] RA where RAM layout can be changed using software
FIG. 3 is a block diagram of the M device.

【図4】本発明による実施例の配置結果の図である。FIG. 4 is a diagram of placement results of an embodiment according to the present invention.

【図5】本発明による実施例のブロック図である。FIG. 5 is a block diagram of an embodiment according to the invention.

【図6】本発明による実施例のフローチャートである。FIG. 6 is a flowchart of an embodiment according to the invention.

【図7】従来技術によるフローチャートである。FIG. 7 is a flowchart according to the prior art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100:RAMの配置位置をソフトウェアで変更可能な
RAM装置A 101:RAM 102:RAMの開始アドレス設定レジスタ103:R
AMの終了アドレス設定レジスタ110:RAMの配置
位置をソフトウェアで変更可能なRAM装置B 121:中央処理装置 122:RAMを配置可能なメモリ 160:記憶装置 161:RAM装置のRAMに読み書きする手段162
:RAM装置のRAMの開始アドレスを設定または変更
する手段 163:RAM装置のRAMの終了アドレスを設定また
は変更する手段
100: RAM device A whose RAM location can be changed by software 101: RAM 102: RAM start address setting register 103: R
AM end address setting register 110: RAM device B whose RAM placement position can be changed by software 121: Central processing unit 122: Memory where RAM can be placed 160: Storage device 161: Means for reading and writing to and from the RAM of the RAM device 162
: Means for setting or changing the start address of RAM of the RAM device 163 : Means for setting or changing the end address of RAM of the RAM device

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】情報を制御する中央演算処理装置と、前記
中央演算処理装置と係合するRAM領域を持ったメモリ
部と、前記メモリ部に増設される増設RAM装置と、前
記RAM領域にデータを読み書きする手段とを備えた情
報処理装置であって、前記増設RAM装置は正常なRA
Mの配置位置としての開始アドレスと終了アドレスをソ
フトウェアにより変更することのできる少なくとも2つ
のRAM装置を備えており、前記情報処理装置は前記R
AM装置に対してRAMの配置位置となる開始アドレス
と終了アドレスを設定する手段と、前記設定されたRA
M装置の開始アドレスと終了アドレスを正常なアドレス
に変更させるソフトウェア手段とを備えていることを特
徴とする情報処理装置。
1. A central processing unit that controls information, a memory unit having a RAM area that engages with the central processing unit, an additional RAM device that is added to the memory unit, and a memory unit that stores data in the RAM area. an information processing device, wherein the additional RAM device has a normal RAM
The information processing device includes at least two RAM devices whose starting address and ending address as the arrangement position of M can be changed by software, and the information processing device
means for setting a start address and an end address as RAM arrangement positions for an AM device; and a means for setting the set RAM
An information processing device comprising software means for changing the start address and end address of the M device to normal addresses.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8972822B2 (en) 2011-12-01 2015-03-03 Fujitsu Limited Memory module and semiconductor storage device

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