JPH04270572A - 画像検出装置 - Google Patents
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- JPH04270572A JPH04270572A JP3002005A JP200591A JPH04270572A JP H04270572 A JPH04270572 A JP H04270572A JP 3002005 A JP3002005 A JP 3002005A JP 200591 A JP200591 A JP 200591A JP H04270572 A JPH04270572 A JP H04270572A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 42
- 230000004075 alteration Effects 0.000 claims abstract description 6
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Telescopes (AREA)
- Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、画像検出装置に関する
もので、特に、遠方にある複数の光源の像を検出する装
置に関する。
もので、特に、遠方にある複数の光源の像を検出する装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】遠方の物体を光学系を使って結像する際
、大気等の媒質中に生じる光学的不均一による光の伝搬
光路長の変動で、像がぼけたり位置が変化したりする。 例えば地球大気を通して天体を観測するとき、本来遠方
にあって点に見えるべき星の像が、地球をとりまく大気
の不均一さによって、広がったり揺れたりする。これら
大気の不均一さは時間的に変動するので、天体からの光
の波面の形も時間的・空間的に変動する。その変動の波
長・振動数は、典型的には１〜１０ｃｍ程度で０．１秒
程度のものが強い。
、大気等の媒質中に生じる光学的不均一による光の伝搬
光路長の変動で、像がぼけたり位置が変化したりする。 例えば地球大気を通して天体を観測するとき、本来遠方
にあって点に見えるべき星の像が、地球をとりまく大気
の不均一さによって、広がったり揺れたりする。これら
大気の不均一さは時間的に変動するので、天体からの光
の波面の形も時間的・空間的に変動する。その変動の波
長・振動数は、典型的には１〜１０ｃｍ程度で０．１秒
程度のものが強い。
【０００３】そこで、星などの一つの点光源を見たとき
、点像になる様に補うため、図５に示す光学系を用いて
いる。大気の不均質部分５は本来３次元的に存在するが
、この光学系では、光伝搬経路に沿って不均一さを積分
し、２次元的な量として補正している。この場合、望遠
鏡主鏡２の光軸（一点鎖線で示す。）上にある星１から
の光は歪みのない像４を結像する。
、点像になる様に補うため、図５に示す光学系を用いて
いる。大気の不均質部分５は本来３次元的に存在するが
、この光学系では、光伝搬経路に沿って不均一さを積分
し、２次元的な量として補正している。この場合、望遠
鏡主鏡２の光軸（一点鎖線で示す。）上にある星１から
の光は歪みのない像４を結像する。
【０００４】同図の斜線部分で示される光伝搬路内の状
態を補う光学系３としては数種存在し、図６はその光学
系の一つであるシャック・ハルトマン光学系を用いた画
像検出装置の基本構成を示したものである（日本天文学
会秋季年会．講演予稿集Ａ１１４）。 この光学系３
では、光源１からの光は望遠鏡主鏡２により集光される
が、その像にはゆれが生じている。その集光点６からの
光はコリメータレンズ７で平行化され、補償ミラー８を
介して参照光源１１からの光の経路上に導かれ、ビーム
スプリッタ１０を通して合成される。主鏡像位置にはマ
イクロレンズアレイ１３が置かれており、このマイクロ
レンズアレイ１３上に前述の合成された光が投影される
ことにより、光源１からの光と参照光源１１からの光と
の位相差がコンピュータ１４に伝達される。コンピュー
タ１４での演算処理によって、光の伝搬する媒質の擾乱
状態情報が得られ、その情報は補償鏡アクチュエータ１
５にフィードバックされて、光源１からの光の経路の位
相制御を行うことができる。
態を補う光学系３としては数種存在し、図６はその光学
系の一つであるシャック・ハルトマン光学系を用いた画
像検出装置の基本構成を示したものである（日本天文学
会秋季年会．講演予稿集Ａ１１４）。 この光学系３
では、光源１からの光は望遠鏡主鏡２により集光される
が、その像にはゆれが生じている。その集光点６からの
光はコリメータレンズ７で平行化され、補償ミラー８を
介して参照光源１１からの光の経路上に導かれ、ビーム
スプリッタ１０を通して合成される。主鏡像位置にはマ
イクロレンズアレイ１３が置かれており、このマイクロ
レンズアレイ１３上に前述の合成された光が投影される
ことにより、光源１からの光と参照光源１１からの光と
の位相差がコンピュータ１４に伝達される。コンピュー
タ１４での演算処理によって、光の伝搬する媒質の擾乱
状態情報が得られ、その情報は補償鏡アクチュエータ１
５にフィードバックされて、光源１からの光の経路の位
相制御を行うことができる。
【０００５】この他に用いられている光学系として、光
伝搬路補償素子に電気光学結晶素子（ＥＯ結晶素子）を
用いているものがある（ＯＰＴＩＣＳ ＬＥＴＴＥＲＳ
，Ｖｏｌ．４ ，ｐ．１３１ ，１９７９年 ５月）。 図７はその基本構成を示したものである。この光学系３
では、前述のシャック・ハルトマン光学系で使用されて
いる補償鏡アクチュエータ１５の替わりに、ＥＯ結晶素
子１７が用いられている。この場合、光源１からの光は
コリメータレンズ７で平行化された後、ＥＯ結晶素子１
７を通ってミラー１８で反射し、ハーフミラー１６によ
り結像位置４に導かれる。この途中、ビームスプリッタ
１０を介して参照光源１１からの光と合成される。合成
された光は干渉を生じ、その干渉縞は光導電層１９側に
入力される。この干渉縞の強度分布は大気の擾乱と望遠
鏡の収差を含む瞳関数に比例したものとなっている。光
導電層１９はこの干渉縞の強度分布に応じた抵抗値変化
を生じ、これに従ってＥＯ結晶素子１７にかかる電圧は
場所によって変わる。従って、ＥＯ結晶１７によって生
ずる位相差は干渉縞の強度分布に比例することとなり、
反射光は瞳関数の乱れが補正されて理想的な平面波を得
ることができる。
伝搬路補償素子に電気光学結晶素子（ＥＯ結晶素子）を
用いているものがある（ＯＰＴＩＣＳ ＬＥＴＴＥＲＳ
，Ｖｏｌ．４ ，ｐ．１３１ ，１９７９年 ５月）。 図７はその基本構成を示したものである。この光学系３
では、前述のシャック・ハルトマン光学系で使用されて
いる補償鏡アクチュエータ１５の替わりに、ＥＯ結晶素
子１７が用いられている。この場合、光源１からの光は
コリメータレンズ７で平行化された後、ＥＯ結晶素子１
７を通ってミラー１８で反射し、ハーフミラー１６によ
り結像位置４に導かれる。この途中、ビームスプリッタ
１０を介して参照光源１１からの光と合成される。合成
された光は干渉を生じ、その干渉縞は光導電層１９側に
入力される。この干渉縞の強度分布は大気の擾乱と望遠
鏡の収差を含む瞳関数に比例したものとなっている。光
導電層１９はこの干渉縞の強度分布に応じた抵抗値変化
を生じ、これに従ってＥＯ結晶素子１７にかかる電圧は
場所によって変わる。従って、ＥＯ結晶１７によって生
ずる位相差は干渉縞の強度分布に比例することとなり、
反射光は瞳関数の乱れが補正されて理想的な平面波を得
ることができる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述の光学系では、３
次元的な大気の不均一さについて光の経路に沿って積分
し、２次元的な量として補正している。従って、図５の
破線で示されるように、光源１から数十秒角離れている
他の光源１５や広がり角を有する天体等については、経
路方向の不均一さが変化して補正することができなくな
り、その像４５には歪みが生じる。
次元的な大気の不均一さについて光の経路に沿って積分
し、２次元的な量として補正している。従って、図５の
破線で示されるように、光源１から数十秒角離れている
他の光源１５や広がり角を有する天体等については、経
路方向の不均一さが変化して補正することができなくな
り、その像４５には歪みが生じる。
【０００７】そこで本発明では、大気の３次元的不均一
さを補正することのできる画像検出装置を提供する。
さを補正することのできる画像検出装置を提供する。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、遠方にある複
数の点光源からの光を受光し、それぞれ集光させる受光
レンズを有する受光手段と、受光レンズで集光した複数
の点光源からの光をそれぞれ平行線化する素子と、平行
線化された光のそれぞれの経路に対応させて参照光を照
射し、点光源からの光と参照光とを合成する素子を有す
る合成手段と、合成手段で合成された光が含む光学収差
に基づき、複数の点光源からの光のそれぞれの経路方向
の３次元的な擾乱状態を、演算処理して求める演算処理
手段と、演算処理手段で得られた擾乱状態の情報から、
光の経路をそれぞれ補正して結像させる結像手段とを備
えることを特徴とする。
数の点光源からの光を受光し、それぞれ集光させる受光
レンズを有する受光手段と、受光レンズで集光した複数
の点光源からの光をそれぞれ平行線化する素子と、平行
線化された光のそれぞれの経路に対応させて参照光を照
射し、点光源からの光と参照光とを合成する素子を有す
る合成手段と、合成手段で合成された光が含む光学収差
に基づき、複数の点光源からの光のそれぞれの経路方向
の３次元的な擾乱状態を、演算処理して求める演算処理
手段と、演算処理手段で得られた擾乱状態の情報から、
光の経路をそれぞれ補正して結像させる結像手段とを備
えることを特徴とする。
【０００９】なお前述の合成手段は、平行線化された光
の経路上かつ参照光の経路上に、複数の点光源からの光
にそれぞれ対応して角度を変えることの可能なビームス
プリッタを有し、結像手段は、演算処理手段からの情報
により光の経路の位相補正を行う複数の補正ミラ−を有
しているか、あるいは前述の合成手段が、平行線化され
た光の経路上かつ参照光の経路上に複数の点光源からの
光にそれぞれ対応して角度を変えることの可能なビーム
スプリッタを有し、結像手段が、演算処理手段からの情
報により光の経路の位相補正を行うため、平行線化され
た光の経路上に並列に並べられた複数の電気光学結晶素
子を有していることが望ましい。
の経路上かつ参照光の経路上に、複数の点光源からの光
にそれぞれ対応して角度を変えることの可能なビームス
プリッタを有し、結像手段は、演算処理手段からの情報
により光の経路の位相補正を行う複数の補正ミラ−を有
しているか、あるいは前述の合成手段が、平行線化され
た光の経路上かつ参照光の経路上に複数の点光源からの
光にそれぞれ対応して角度を変えることの可能なビーム
スプリッタを有し、結像手段が、演算処理手段からの情
報により光の経路の位相補正を行うため、平行線化され
た光の経路上に並列に並べられた複数の電気光学結晶素
子を有していることが望ましい。
【００１０】
【作用】本発明によれば、前述の合成手段を用いること
によって、光が伝搬する大気等の媒質の不均一な状態を
３次元的に知ることができる。さらに、複数の光路補償
素子を用いることによって、光路をゾーン分割して補正
することができ、近接したそれぞれの空間の不均一さを
別々に補正することができる。
によって、光が伝搬する大気等の媒質の不均一な状態を
３次元的に知ることができる。さらに、複数の光路補償
素子を用いることによって、光路をゾーン分割して補正
することができ、近接したそれぞれの空間の不均一さを
別々に補正することができる。
【００１１】
【実施例】本発明では、複数の異なる方向にある光源か
らの光の経路について、３次元的な情報を得ることので
きるＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ
）を利用している。以下天体観測用望遠鏡を例にとって
、実施例について説明する。
らの光の経路について、３次元的な情報を得ることので
きるＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ
）を利用している。以下天体観測用望遠鏡を例にとって
、実施例について説明する。
【００１２】図１は、そのＣＴを使用した場合の遠方に
ある光源の結像状態を示したものである。同図に示すよ
うに、空間内に３次元的に分布する光源１からのそれぞ
れの光束は、大気に不均質部分５があるにも関わらず、
ＣＴの原理を用いた光学系３を用いることによって、歪
みのない像４を結像させることができる。
ある光源の結像状態を示したものである。同図に示すよ
うに、空間内に３次元的に分布する光源１からのそれぞ
れの光束は、大気に不均質部分５があるにも関わらず、
ＣＴの原理を用いた光学系３を用いることによって、歪
みのない像４を結像させることができる。
【００１３】図２は、光源からの光の伝搬路内の媒質の
不均一部分の補償に必要な情報を得るための光学系を示
したものである。この光学系の概要は、既に用いられて
いるシャック・ハルトマン法を利用した装置におけるビ
ームスプリッタを回転可能にし、光路方向の不均一さを
３次元情報として得るものである。即ち、この光学系の
構成は図２に示される様に、望遠鏡主鏡２の焦点６の後
方にコリメートレンズ７が配され、さらにそのコリメー
トレンズ７を通過する光の光路上に参照光が照射される
よう参照光源１１が設置されている。この参照光源１１
の光路上には、光源１から投影される光束の位置に対応
して角度を変えることの可能なビームスプリッタ１０が
配置され、さらに、そのビームスプリッタ１０を通過し
た光が投影されるようにマイクロレンズ・アレイ１３が
設置されている。
不均一部分の補償に必要な情報を得るための光学系を示
したものである。この光学系の概要は、既に用いられて
いるシャック・ハルトマン法を利用した装置におけるビ
ームスプリッタを回転可能にし、光路方向の不均一さを
３次元情報として得るものである。即ち、この光学系の
構成は図２に示される様に、望遠鏡主鏡２の焦点６の後
方にコリメートレンズ７が配され、さらにそのコリメー
トレンズ７を通過する光の光路上に参照光が照射される
よう参照光源１１が設置されている。この参照光源１１
の光路上には、光源１から投影される光束の位置に対応
して角度を変えることの可能なビームスプリッタ１０が
配置され、さらに、そのビームスプリッタ１０を通過し
た光が投影されるようにマイクロレンズ・アレイ１３が
設置されている。
【００１４】上記の構成により、遠方にある天体からの
光は不均質な大気を伝搬して望遠鏡主鏡２に到達し、さ
らに焦点６の後方に配置されているコリメートレンズ７
を介して平行線化される。この平行線化された天体から
の光はビームスプリッタ１０で反射されるが、その光路
上に参照光源１１からの光が照射され、合成される。こ
のときビームスプリッタ１０の角度は、３次元的に配置
している天体からの光束に対応させて変えることができ
る。これにより合成された光束は干渉を生じ、マイクロ
レンズ・アレイ１３に投影される。マイクロレンズに投
影された干渉光は、大気の擾乱と望遠鏡との収差として
コンピュータ１４に伝達され、演算処理が行われて、大
気の不均一情報を得ることができる。
光は不均質な大気を伝搬して望遠鏡主鏡２に到達し、さ
らに焦点６の後方に配置されているコリメートレンズ７
を介して平行線化される。この平行線化された天体から
の光はビームスプリッタ１０で反射されるが、その光路
上に参照光源１１からの光が照射され、合成される。こ
のときビームスプリッタ１０の角度は、３次元的に配置
している天体からの光束に対応させて変えることができ
る。これにより合成された光束は干渉を生じ、マイクロ
レンズ・アレイ１３に投影される。マイクロレンズに投
影された干渉光は、大気の擾乱と望遠鏡との収差として
コンピュータ１４に伝達され、演算処理が行われて、大
気の不均一情報を得ることができる。
【００１５】上記の光学系を用いた第１の実施例につい
て図３を用いて説明する。同図に示される様に、天体か
らの光を平行線化するコリメータレンズ７とビームスプ
リッタ１０との間に、２個の補償鏡８及び８１が設置さ
れ、その光が結像位置４まで伝搬される様になっている
。アクチュエータ１５及び１５１には、天体からの光の
経路における大気の不均一情報をフィードバックできる
よう、前述の光学系３が接続されている。このため、そ
れぞれの補償鏡８、８１が、天体からの光の経路におけ
る大気の不均一さを遠・中・近等、距離ごとにゾーン分
割して補償することが可能となる。更に、アクチュエー
タ１５及び１５１各々の変位量が減少して高速応答が可
能になる。これにより、各素子をそれぞれのゾーンのふ
るまいに対応させて、瞳分割数を変えることも可能とな
る。
て図３を用いて説明する。同図に示される様に、天体か
らの光を平行線化するコリメータレンズ７とビームスプ
リッタ１０との間に、２個の補償鏡８及び８１が設置さ
れ、その光が結像位置４まで伝搬される様になっている
。アクチュエータ１５及び１５１には、天体からの光の
経路における大気の不均一情報をフィードバックできる
よう、前述の光学系３が接続されている。このため、そ
れぞれの補償鏡８、８１が、天体からの光の経路におけ
る大気の不均一さを遠・中・近等、距離ごとにゾーン分
割して補償することが可能となる。更に、アクチュエー
タ１５及び１５１各々の変位量が減少して高速応答が可
能になる。これにより、各素子をそれぞれのゾーンのふ
るまいに対応させて、瞳分割数を変えることも可能とな
る。
【００１６】次に、図４を用い、前述した光学系を用い
た第２の実施例について説明する。この実施例では、第
１の実施例で用いた補償鏡８の替わりにニオブ酸リチウ
ム結晶等の複数のＥＯ結晶素子１７を用いている。天体
からの光は、コリメータ・レンズ７、及びハーフミラー
１６を介して透過型のＥＯ結晶素子１７に伝搬され、ミ
ラー１８で反射されて結像位置４に導かれる。同図に示
されるようにこれら複数のＥＯ結晶素子１７は、コリメ
ータレンズ７で平行線化された光の経路上に並列配置さ
れている。さらに、これらＥＯ結晶素子１７は、大気の
不均一情報を演算して求める前述の光学系３に接続され
ている。 従ってこの光学系での演算処理により得ら
れた空間の不均一情報は、複数のＥＯ結晶素子１７に伝
達されるので、天体からの光の経路上のごく接近したそ
れぞれの空間を別々に補償することができる。なお、補
償素子の範囲に望遠鏡主鏡の像位置も含めば望遠鏡主鏡
の収差も合わせて補正することができる。
た第２の実施例について説明する。この実施例では、第
１の実施例で用いた補償鏡８の替わりにニオブ酸リチウ
ム結晶等の複数のＥＯ結晶素子１７を用いている。天体
からの光は、コリメータ・レンズ７、及びハーフミラー
１６を介して透過型のＥＯ結晶素子１７に伝搬され、ミ
ラー１８で反射されて結像位置４に導かれる。同図に示
されるようにこれら複数のＥＯ結晶素子１７は、コリメ
ータレンズ７で平行線化された光の経路上に並列配置さ
れている。さらに、これらＥＯ結晶素子１７は、大気の
不均一情報を演算して求める前述の光学系３に接続され
ている。 従ってこの光学系での演算処理により得ら
れた空間の不均一情報は、複数のＥＯ結晶素子１７に伝
達されるので、天体からの光の経路上のごく接近したそ
れぞれの空間を別々に補償することができる。なお、補
償素子の範囲に望遠鏡主鏡の像位置も含めば望遠鏡主鏡
の収差も合わせて補正することができる。
【００１７】以上、天体観測を例に実施例について述べ
てきたが、本発明は天体に限らず、３次元的に配置して
いる点光源からの光の結像に用いることができる。
てきたが、本発明は天体に限らず、３次元的に配置して
いる点光源からの光の結像に用いることができる。
【００１８】
【発明の効果】本発明によれば、光ＣＴによる光学系を
用いることにより、空間の３次元的な擾乱状態を求める
ことができる。さらに、この擾乱状態の情報は複数の補
償素子に伝達されるため、遠方にある３次元的広がりを
持つ物体を映像化するときに大気等の擾乱状態を補うこ
とができ、歪みのない映像を得ることができる。
用いることにより、空間の３次元的な擾乱状態を求める
ことができる。さらに、この擾乱状態の情報は複数の補
償素子に伝達されるため、遠方にある３次元的広がりを
持つ物体を映像化するときに大気等の擾乱状態を補うこ
とができ、歪みのない映像を得ることができる。
【図１】本発明の光学系による結像状態を示す図である
。
。
【図２】３次元不均質状態認知手段を示す図である。
【図３】本発明の第１の実施例に係る光学系を示す図で
ある。
ある。
【図４】本発明の第２の実施例に係る光学系を示す図で
ある。
ある。
【図５】従来の光学系による結像状態を示す図である。
【図６】シャック・ハルトマン式光学系を示す図である
。
。
【図７】ＥＯ結晶素子を用いた光学系を示す図である。
１…光源
２…望遠鏡主鏡
３…不均質状態補償光学系
４…結像
５…不均質部分
６…焦点
７及び１２…コリメータレンズ
８及び８１…補償鏡
９…集光レンズ
１０…ビームスプリッタ
１１…参照光源
１３…マイクロレンズ・アレイ
１４…コンピュータ
１５…アクチュエータ
１６…ハーフミラー
１７…ＥＯ結晶素子
１８…ミラー
Claims (3)
- 【請求項１】 遠方にある複数の点光源からの光を受
光し、それぞれ集光させる受光レンズを有する受光手段
と、前記受光レンズで集光した前記複数の点光源からの
光をそれぞれ平行線化する素子と、平行線化された前記
光のそれぞれの経路に対応させて参照光を照射し、前記
点光源からの光と参照光とを合成する素子を有する合成
手段と、前記合成手段で合成された光が含む光学収差に
基づき、前記複数の点光源からの光のそれぞれの経路方
向の３次元的な擾乱状態を、演算処理して求める演算処
理手段と、前記演算処理手段で得られた擾乱状態の情報
から、前記光の経路をそれぞれ補正して結像させる結像
手段とを備えることを特徴とする画像検出装置。 - 【請求項２】 前記合成手段は、前記平行線化された
光の経路上、かつ前記参照光の経路上に、前記複数の点
光源からの光にそれぞれ対応して角度を変えることの可
能なビームスプリッタを有し、前記結像手段は、前記演
算処理手段からの情報により前記光の経路の位相補正を
行う複数の補正ミラ−を有することを特徴とする、請求
項１記載の画像検出装置。 - 【請求項３】 前記合成手段は、前記平行線化された
光の経路上、かつ前記参照光の経路上に、前記複数の点
光源からの光にそれぞれ対応して、角度を変えることの
可能なビームスプリッタを有し、前記結像手段は、前記
演算処理手段からの情報により前記光の経路の位相補正
を行うため、前記平行線化された光の経路上に並列に並
べられた複数の電気光学結晶素子を有することを特徴と
する、請求項１記載の画像検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3002005A JP2945489B2 (ja) | 1991-01-11 | 1991-01-11 | 画像検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3002005A JP2945489B2 (ja) | 1991-01-11 | 1991-01-11 | 画像検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04270572A true JPH04270572A (ja) | 1992-09-25 |
| JP2945489B2 JP2945489B2 (ja) | 1999-09-06 |
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ID=11517283
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3002005A Expired - Fee Related JP2945489B2 (ja) | 1991-01-11 | 1991-01-11 | 画像検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2945489B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002535608A (ja) * | 1999-01-15 | 2002-10-22 | イマジン・オプチック | ダイナミックレンジの大きな波面分析方法および装置 |
| CN107783275A (zh) * | 2016-08-26 | 2018-03-09 | 讯宝科技有限责任公司 | 用于读取目标的成像模块与读取器以及方法 |
| CN111735448A (zh) * | 2020-06-23 | 2020-10-02 | 上海航天控制技术研究所 | 一种星图联合非均匀校正方法、设备及存储介质 |
-
1991
- 1991-01-11 JP JP3002005A patent/JP2945489B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002535608A (ja) * | 1999-01-15 | 2002-10-22 | イマジン・オプチック | ダイナミックレンジの大きな波面分析方法および装置 |
| CN107783275A (zh) * | 2016-08-26 | 2018-03-09 | 讯宝科技有限责任公司 | 用于读取目标的成像模块与读取器以及方法 |
| CN111735448A (zh) * | 2020-06-23 | 2020-10-02 | 上海航天控制技术研究所 | 一种星图联合非均匀校正方法、设备及存储介质 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2945489B2 (ja) | 1999-09-06 |
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|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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