JPH0426414B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0426414B2
JPH0426414B2 JP59221855A JP22185584A JPH0426414B2 JP H0426414 B2 JPH0426414 B2 JP H0426414B2 JP 59221855 A JP59221855 A JP 59221855A JP 22185584 A JP22185584 A JP 22185584A JP H0426414 B2 JPH0426414 B2 JP H0426414B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vibration
waveform
spectrum
fourier transform
waveform data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP59221855A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS6199835A (en
Inventor
Kyohiro Obara
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP59221855A priority Critical patent/JPS6199835A/en
Publication of JPS6199835A publication Critical patent/JPS6199835A/en
Publication of JPH0426414B2 publication Critical patent/JPH0426414B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M7/00Vibration-testing of structures; Shock-testing of structures
    • G01M7/02Vibration-testing by means of a shake table
    • G01M7/022Vibration control arrangements, e.g. for generating random vibrations

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 本発明は振動試験機の供試体に与える振動波形
を補正する振動試験機の波形補正装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (A) Field of Industrial Application The present invention relates to a waveform correction device for a vibration testing machine that corrects a vibration waveform applied to a specimen of the vibration testing machine.

(ロ) 従来技術 振動試験機は、構造物や機器類あるいは輸送用
梱包などを振動台に載せて耐振試験を行なう。従
来、この振動試験機においては、実際の振動試験
を行なう前に、供試体を振動台に載荷した状態で
地震波などの振動波を与えて加振実験を行ない、
振動試験機及び供試体を含む振動波の伝達系全体
の伝達関数を調べ、この伝達関数にもとづいて振
動波の補正波形を得る。そして、この補正された
振動波を供試体に加えて、実際の振動試験を行な
つていた。
(b) Prior art A vibration tester performs vibration resistance tests by placing structures, equipment, or packaging for transportation on a vibration table. Conventionally, in this vibration testing machine, before conducting the actual vibration test, a vibration experiment is performed by applying vibration waves such as seismic waves with the specimen loaded on a vibration table.
The transfer function of the entire vibration wave transmission system including the vibration testing machine and the specimen is investigated, and a vibration wave correction waveform is obtained based on this transfer function. This corrected vibration wave was then applied to the specimen to conduct an actual vibration test.

しかるに、上述の方法では、供試体を予め加振
するので、実際の振動試験を行なうときには、供
試体自体の伝達関数が加振する以前とは異なり、
正確な試験データが得られない。また、伝達関数
がダイナミツクに変化する供試体の場合には、試
験ができない。
However, in the above method, the specimen is vibrated in advance, so when an actual vibration test is performed, the transfer function of the specimen itself is different from before the vibration is applied.
Accurate test data cannot be obtained. Furthermore, testing cannot be performed on specimens whose transfer function changes dynamically.

(ハ) 発明の目的 本発明は上記事情に鑑みてなされたものであ
り、その目的は、事前の加振実験を行うことな
く、振動試験機に供給する振動波形を正確に補正
することのできる装置を提供することにある。
(c) Purpose of the Invention The present invention has been made in view of the above circumstances, and its purpose is to accurately correct the vibration waveform supplied to a vibration testing machine without conducting any excitation experiments in advance. The goal is to provide equipment.

(ニ) 発明の構成 上記の目的を達成するための構成を、実施例に
対応する第1図を参照しつつ説明すると、本発明
は、振動試験機の振動台9に載置された供試体に
与えるべき目標振動波形を、その時間軸を所定数
に分割してセグメント化してなるランニングスペ
クトルを記憶するためのランニングスペクトル用
バツフア装置1と、そのランニングスペクトル用
バツフア装置1のランニングスペクトルをセグメ
ントごとに順を追つて補正演算装置3に供給する
バツフアポインタ装置2と、その補正演算装置3
から順次出力される補正波形スペクトルを逆フー
リエ変換して出力波形データを得る逆フーリエ変
換装置5と、複数のバツフアを有するリングハツ
フア装置6と、逆フーリエ変換装置5からの出力
波形データを順を追つてリングバツフア装置6に
導き、かつ、このリングバツフア装置6内の出力
波形データを順を追つて振動試験機に導くための
バツフアポインタ装置7と、その出力波形データ
に応じて振動が与えられる振動台9の振動波形デ
ータを経時的に記憶し、かつリングバツフア6内
の出力波形データが振動試験機に供給されるごと
に、その記憶内容を更新してゆく応答波形メモリ
10と、このメモリ10内の入力波形データおよ
びそのデータ採取時のリングバツフア6内の出力
波形データに基づいて入力振動波形スペクトルと
出力振動波形スペクトルを求めるフーリエ変換装
置12と、当該試験機の供試体を含む振動系の伝
達関数を入力振動波形スペクトルと出力振動波形
スペクトルとから演算する伝達関数演算装置4を
備え、補正演算装置3は、ランニングスペクトル
用バツフア装置1から供給されるランニングスペ
クトルと伝達関数演算装置4からの伝達関数を用
いて補正波形スペクトルを演算して出力するよう
構成したことによつて特徴づけられる。
(d) Structure of the Invention The structure for achieving the above object will be explained with reference to FIG. 1 corresponding to the embodiment. A running spectrum buffer device 1 for storing a running spectrum obtained by segmenting a target vibration waveform to be applied to a target vibration waveform by dividing its time axis into a predetermined number of segments, and a running spectrum buffer device 1 for storing a running spectrum for each segment. a buffer pointer device 2 that sequentially supplies a buffer pointer to a correction calculation device 3, and its correction calculation device 3;
An inverse Fourier transform device 5 obtains output waveform data by performing inverse Fourier transform on the corrected waveform spectra sequentially outputted from and a buffer pointer device 7 for guiding the output waveform data in the ring buffer device 6 to a vibration tester in order, and a vibration table to which vibration is applied according to the output waveform data. a response waveform memory 10 which stores the vibration waveform data of 9 over time and updates its storage contents every time the output waveform data in the ring buffer 6 is supplied to the vibration testing machine; A Fourier transform device 12 that calculates an input vibration waveform spectrum and an output vibration waveform spectrum based on input waveform data and output waveform data in the ring buffer 6 at the time of data collection, and a transfer function of a vibration system including a specimen of the test machine. The correction calculation device 3 includes a transfer function calculation device 4 that calculates from the input vibration waveform spectrum and the output vibration waveform spectrum, and the correction calculation device 3 calculates the running spectrum supplied from the running spectrum buffer device 1 and the transfer function from the transfer function calculation device 4. It is characterized by the fact that it is configured to calculate and output a corrected waveform spectrum using

(ホ) 実施例 以下、本発明の一実施例について説明する。(e) Examples An embodiment of the present invention will be described below.

第1図は振動試験機の波形補正装置の構成を示
す。ランニングスペクトル用バツフア装置1は、
例えば、地震波などの目標となる振動波形が予め
2n個例えば(64、128、…個)のセグメントに分
割された個々の波形についてのランニングスペク
トルを記憶する。バツフアポインタ装置2は、所
定のタイミングでランニングスペクトル用バツフ
ア装置1の記憶領域を順次指定するとともに、指
定した記憶領域のランニングスペクトルのデータ
を補正演算装置3へ与える。
FIG. 1 shows the configuration of a waveform correction device of a vibration testing machine. The running spectrum buffer device 1 includes:
For example, a target vibration waveform such as a seismic wave can be prepared in advance.
2 Store running spectra for individual waveforms divided into n segments, for example (64, 128, . . . ). The buffer pointer device 2 sequentially specifies the storage areas of the running spectrum buffer device 1 at predetermined timing, and provides running spectrum data in the specified storage areas to the correction calculation device 3.

補正演算装置3は、ランニングスペクトルのデ
ータと伝達関数演算装置4で求められた振動波の
伝達系の伝達関数とから、後述する演算により補
正振動波形のスペクトルを実時間的に算出する。
そして、逆フーリエ変換装置5は、補正演算装置
3からの補正振動波形のスペクトルを逆フーリエ
変換して、補正振動波形のデータを実時間的に得
る。
The correction calculation device 3 calculates the spectrum of the corrected vibration waveform in real time from the data of the running spectrum and the transfer function of the vibration wave transfer system determined by the transfer function calculation device 4 through calculations to be described later.
Then, the inverse Fourier transform device 5 performs inverse Fourier transform on the spectrum of the corrected vibration waveform from the correction calculation device 3 to obtain data of the corrected vibration waveform in real time.

リングバツフア装置6は、3個のバツフア装置
61,62,63からなり、バツフアポインタ装
置7により所定のタイミングで指定されてバツフ
ア装置61のデータがバツフア装置62へ、バツ
フア装置62のデータがバツフア装置63へ順次
移動する。バツフア装置61には逆フーリエ変換
装置5から補正振動波形データが順次与えられ、
バツフア装置63の振動波形データはD−A変換
器8でアナログデータに変換されて振動台9を駆
動する電油サーボ装置(図示せず)に順次与えら
れる。
The ring buffer device 6 consists of three buffer devices 61, 62, and 63, and is specified by the buffer pointer device 7 at a predetermined timing so that the data of the buffer device 61 is sent to the buffer device 62, and the data of the buffer device 62 is sent to the buffer device 62. 63 in sequence. The buffer device 61 is sequentially given corrected vibration waveform data from the inverse Fourier transform device 5,
The vibration waveform data of the buffer device 63 is converted into analog data by the DA converter 8 and sequentially applied to an electro-hydraulic servo device (not shown) that drives the vibration table 9.

応答波形メモリ10は、A−D変換器11でデ
イジタルデータに変換された振動台9の実際の振
動波形データである振動の加速度あるいは変位の
データすなわち振動台9からの入力振動波形デー
タを一時的に記憶する。フーリエ変換装置12
は、応答波形メモリ10からの入力振動波形デー
タとバツフア装置63から振動台9の電油サーボ
装置に与えられる振動波形のデータすなわち振動
台9への出力振動波形データとを窓関数用ハツフ
ア装置13からの窓関数を乗じてフーリエ変換
し、入力振動波形と出力振動波形のスペクトルを
求める。
The response waveform memory 10 temporarily stores input vibration waveform data from the vibration table 9, that is, vibration acceleration or displacement data, which is actual vibration waveform data of the vibration table 9 converted into digital data by the A-D converter 11. to be memorized. Fourier transform device 12
The input vibration waveform data from the response waveform memory 10 and the vibration waveform data given from the buffer device 63 to the electro-hydraulic servo device of the vibration table 9, that is, the output vibration waveform data to the vibration table 9, are transferred to the window function buffer device 13. Fourier transform is performed by multiplying by the window function from , and the spectra of the input vibration waveform and output vibration waveform are obtained.

伝達関数演算装置4は、この入力振動波形と出
力振動波形のスペクトルから供試体(図示せず)
を含む振動波の伝達系全体の伝達関数を実時間的
に求め、この伝達関数のデータを補正演算装置3
へ与える。
The transfer function calculation device 4 calculates a specimen (not shown) from the spectrum of the input vibration waveform and output vibration waveform.
The transfer function of the entire vibration wave transfer system including
give to

次に、上述の振動試験機の波形補正装置の作用
を第2図のタイムチヤートを参照して説明する。
Next, the operation of the waveform correction device of the vibration testing machine described above will be explained with reference to the time chart of FIG.

ランニングスペクトリル用バツフア装置1は、
目標となる振動波形を予め複数のセグメントに分
割した個々の波形のランニングスペクトル
G1′(w)、G2′(w)、…、Gn′(w)を記憶する。

して、リングバツフア装置6のバツフア装置63
には、ランニングスペクトルG1′(w)をもつ第1
のセグメントの波形データが予め与えられ、バツ
フア装置62には、ランニングスペクトル
G2′(w)をもつ第2のセグメントの波形データが
予め与えられる。
The running spectrum buffer device 1 is
Running spectra of individual waveforms with the target vibration waveform divided into multiple segments in advance
G 1 ′(w), G 2 ′(w), ..., Gn′(w) are memorized.
Then, the buffer device 63 of the ring buffer device 6
has a running spectrum G 1 ′(w).
The buffer device 62 is given waveform data of the segment in advance, and the running spectrum
Waveform data of the second segment with G 2 '(w) is given in advance.

振動試験においては、先ず、バツフア装置63
の第1セグメントの波形データがD−A変換器8
を介して出力振動波形データとして振動台9に与
えられ、このときの振動台9からの入力振動波形
データがA−D変換器11を介して応答波形メモ
リ10に記憶される。そして、第1セグメントの
波形データが与えられる期間t1が経過すると、リ
ングバツフア装置6がバツフアポインタ装置7の
指定により1ステツプ回転して、バツフア装置6
2の第2セグメントの波形データがバツフア装置
63に移動し、この第2セグメントの波形データ
が出力振動波形データとしてD−A変換器8を介
して振動台9に与えられ、このときの振動台9か
らの入力振動波形データがA−D変換器11を介
して応答波形メモリ10に記憶される。
In the vibration test, first, the buffer device 63
The waveform data of the first segment of
The input vibration waveform data from the vibration table 9 at this time is stored in the response waveform memory 10 via the AD converter 11. Then, when the period t1 in which the waveform data of the first segment is given has elapsed, the ring buffer device 6 rotates one step according to the designation of the buffer pointer device 7, and the buffer device 6
The waveform data of the second segment of 2 is transferred to the buffer device 63, and the waveform data of this second segment is given as output vibration waveform data to the vibration table 9 via the D-A converter 8. Input vibration waveform data from 9 is stored in response waveform memory 10 via A-D converter 11.

一方、出力振動波形が第2セグメントの波形と
なる期間t2に移行したときには、期間t1における
応答波形メモリ10の入力振動波形データとバツ
フア装置63の出力振動波形データがフーリエ変
換装置12でフーリエ変換され、この期間t1の入
力振動波形のスペクトルG1(w)と出力振動波形
のスペクトルF1(w)が求められる。そして、こ
のスペクトルG1(w)、F1(w)が伝達関数演算装
置4に与えられ、期間t1の出力振動波形に対する
振動伝達系の伝達関数H1(w)が、下式 H1(w)=G1(w)/F1(w) により算出される。この算出された伝達完成H1
(w)は、補正演算装置3へ与えられる。このと
きには、補正演算装置3には第3セグメントの波
形のランニングスペクトルG3′(w)のデータがバ
ツフアポインタ装置2を介して与えられ、補正演
算装置3では、下式 F3′(w)=G3′(w)/H1(w) の演算が行なわれて、補正振動波形のスペクトル
F3′(w)が求められる。そして、この補正振動波
形のスペクトルF3′(w)は、逆フーリエ変換装置
5で補正振動波形データに変換されてリングバツ
フア装置6に与えられる。
On the other hand, when the output vibration waveform shifts to the second segment waveform, the input vibration waveform data of the response waveform memory 10 and the output vibration waveform data of the buffer device 63 in the period t1 are Fourier transformed by the Fourier transform device 12. , the spectrum G 1 (w) of the input vibration waveform and the spectrum F 1 (w) of the output vibration waveform during this period t1 are obtained. Then, these spectra G 1 (w) and F 1 (w) are given to the transfer function calculation device 4, and the transfer function H 1 (w) of the vibration transfer system for the output vibration waveform of period t1 is calculated using the following formula H 1 ( w)=G 1 (w)/F 1 (w). This calculated transfer completion H 1
(w) is given to the correction calculation device 3. At this time, data of the running spectrum G 3 '(w) of the waveform of the third segment is given to the correction calculation device 3 via the buffer pointer device 2, and the correction calculation device 3 calculates the following equation F 3 '(w). )=G 3 ′(w)/H 1 (w) is calculated, and the spectrum of the corrected vibration waveform is
F 3 '(w) is found. Then, the spectrum F 3 '(w) of this corrected vibration waveform is converted into corrected vibration waveform data by the inverse Fourier transform device 5 and provided to the ring buffer device 6.

すなわち、期間t1で第1セグメントの出力振動
波形に対する入力振動波形のデータを採取し、期
間t2で第2セグメントの出力振動波形に対する入
力振動波形のデータの採取と期間t1における伝達
関数の算出及び補正演算とを並行して行う。そし
て、期間t2が経過して期間t3に移行すると、この
補正振動波形データが出力振動波形データとして
振動台9に与えられ、このときの振動台9からの
入力振動波形データの採取が行なわれ、これと並
行して、期間t2における伝達関数の算出と補正演
算が行なわれる。以後、期間t4、t5、…、tnにお
いて、目標波形の第4セグメント、第5セグメン
ト、…、第nセグメントのランニングスペクトル
G4′(w)、G5′(w)、…、Gn′(w)がそれぞれ補

演算装置3に与えられ、各期間における入力振動
波形データの採取と前回の期間における補正演算
が並行して行なわれ、補正された振動波形データ
が次の期間における出力振動波形データとして用
いられる。
That is, in period t1, data of the input vibration waveform with respect to the output vibration waveform of the first segment is collected, and in period t2, data of the input vibration waveform with respect to the output vibration waveform of the second segment is collected, and the transfer function is calculated and corrected in period t1. Perform calculations in parallel. Then, when period t2 passes and transitions to period t3, this corrected vibration waveform data is given to the vibration table 9 as output vibration waveform data, and input vibration waveform data from the vibration table 9 at this time is collected, In parallel with this, calculation of the transfer function and correction calculation in the period t2 are performed. Thereafter, in periods t4, t5, ..., tn, the running spectrum of the 4th segment, 5th segment, ..., nth segment of the target waveform
G 4 ′ (w), G 5 ′ (w), ..., Gn ′ (w) are respectively given to the correction calculation device 3, and the collection of input vibration waveform data in each period and the correction calculation in the previous period are performed in parallel. The corrected vibration waveform data is used as output vibration waveform data in the next period.

一般的に、目標波形の第mセグメントの波形に
対する補正波形のスペクトルFm′(w)は、 Fm′(w)=Gm′(w)/Hm-2(w) Hm-2(w)=Gm-2(w)/Fm-2(w) より求められる。ただし、Gm′(w)は目標波形
の第mセグメントのランニングスペクトル、
Hm-2(w)は期間tm-2における振動伝達系の伝
達関数、Gm-2(w)は期間tm-2における入力振
動波形のスペクトル、Fm-2(w)は期間tm−2
における出力振動波形のスペクトルである。
Generally, the spectrum Fm'(w) of the corrected waveform for the waveform of the m-th segment of the target waveform is: Fm'(w) = Gm'(w)/Hm -2 (w) Hm -2 (w) = Gm -2 (w)/Fm -2 (w). However, Gm′(w) is the running spectrum of the m-th segment of the target waveform,
Hm -2 (w) is the transfer function of the vibration transfer system in period tm -2 , Gm -2 (w) is the spectrum of the input vibration waveform in period tm -2 , Fm -2 (w) is period tm -2
This is the spectrum of the output vibration waveform at .

(ヘ) 発明の効果 以上説明したように、本発明によれば、振動試
験機に順時供給する波形データを、先に供給した
波形データをもとに求めた、試験機の供試体を含
む振動系の伝達関数を用いて順次補正してゆくよ
う構成したから、従来行われていた事前の加振実
験を要することなく、正確な試験データが得られ
るとともに、事前の加振実験に耐えられないよう
な供試体や、伝達関数がダイナミツクに変化する
供試体に対しても振動試験を行なうことができ
る。
(F) Effects of the Invention As explained above, according to the present invention, the waveform data sequentially supplied to the vibration testing machine includes the test machine specimen obtained based on the previously supplied waveform data. Since the structure is configured to perform corrections sequentially using the transfer function of the vibration system, accurate test data can be obtained without the need for prior excitation experiments that were conventionally performed, and the system can withstand the excitation experiments in advance. Vibration tests can also be performed on specimens that do not have a transfer function or whose transfer function changes dynamically.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明実施例の構成を示すブロツク
図、第2図は本発明実施例の動作タイムチヤート
である。 1……ランニングスペクトル用バツフア装置、
2……バツフアポインタ装置、3……補正演算装
置、4……伝達関数演算装置、5……逆フーリエ
変換装置、6……リングバツフア装置、7……バ
ツフアポインタ装置、9……振動台、10……応
答波形メモリ、12……フーリエ変換装置、13
……窓関数用バツフア装置。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an operation time chart of the embodiment of the present invention. 1... running spectrum buffer device,
2...Buffer pointer device, 3...Correction calculation device, 4...Transfer function calculation device, 5...Inverse Fourier transform device, 6...Ring buffer device, 7...Buffer pointer device, 9...Vibration table , 10...Response waveform memory, 12...Fourier transform device, 13
...Buffer device for window function.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 振動試験機の振動台9に載置された供試体に
与えるべき目標振動波形を、その時間軸を所定数
に分割してセグメント化してなるランニングスペ
クトルを記憶するためのランニングスペクトル用
バツフア装置1と、そのランニングスペクトル用
バツフア装置1のランニングスペクトルをセグメ
ントごとに順を追つて補正演算装置3に供給する
バツフアポインタ装置2と、その補正演算装置3
から順次出力される補正波形スペクトルを逆フー
リエ変換して出力波形データを得る逆フーリエ変
換装置5と、複数のバツフアを有するリングバツ
フア装置6と、上記逆フーリエ変換装置5からの
出力波形データを順を追つて上記リングバツフア
装置6に導き、かつ、このリングバツフア装置6
内の出力波形データを順を追つて上記振動試験機
に導くためのバツフアポインタ装置7と、その出
力波形データに応じて振動が与えられる上記振動
台9の振動波形データを経時的に記憶し、かつ、
上記リングバツフア6内の出力波形データが上記
振動試験機に供給されるごとに、その記憶内容を
更新してゆく応答波形メモリ10と、このメモリ
10内の入力波形データおよびそのデータ採取時
の上記リングバツフア6内の出力波形データに基
づいて入力振動波形スペクトルトと出力振動波形
スペクトルを求めるフーリエ変換装置12と、当
該試験機の供試体を含む振動系の伝達関数を上記
入力振動波形スペクトルと出力振動波形スペクト
ルとから演算する伝達関数演算装置4を備え、上
記補正演算装置3は、上記ランニングスペクトル
用バツフア装置1から供給されるランニングスペ
クトルと上記伝達関数演算装置4からの伝達関数
を用いて補正波形スペクトルを演算して出力する
よう構成してなる、振動試験機の波形補正装置。
1 Running spectrum buffer device 1 for storing a running spectrum obtained by segmenting a target vibration waveform to be applied to a specimen placed on a vibration table 9 of a vibration tester into a predetermined number of segments on its time axis. , a buffer pointer device 2 that sequentially supplies the running spectrum of the running spectrum buffer device 1 segment by segment to the correction calculation device 3; and the correction calculation device 3.
An inverse Fourier transform device 5 that obtains output waveform data by performing inverse Fourier transform on the corrected waveform spectra sequentially outputted from the inverse Fourier transform device 5, a ring buffer device 6 having a plurality of buffers, and an inverse Fourier transform device 5 which obtains output waveform data by performing an inverse Fourier transform on corrected waveform spectra sequentially outputted from the inverse Fourier transform device 5. Subsequently, the ring buffer device 6 is guided to the ring buffer device 6, and the ring buffer device 6
a buffer pointer device 7 for sequentially guiding the output waveform data of the vibration tester to the vibration testing machine; and a buffer pointer device 7 for sequentially storing the vibration waveform data of the vibration table 9 to which vibration is applied in accordance with the output waveform data. ,and,
A response waveform memory 10 whose memory contents are updated every time the output waveform data in the ring buffer 6 is supplied to the vibration testing machine, and a response waveform memory 10 that updates the input waveform data in this memory 10 and the ring buffer when the data is collected. A Fourier transform device 12 that calculates an input vibration waveform spectrum and an output vibration waveform spectrum based on the output waveform data in The correction calculation device 3 calculates a correction waveform spectrum using the running spectrum supplied from the running spectrum buffer device 1 and the transfer function from the transfer function calculation device 4. A waveform correction device for a vibration testing machine configured to calculate and output.
JP59221855A 1984-10-22 1984-10-22 Waveform correcting device of oscillation tester Granted JPS6199835A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59221855A JPS6199835A (en) 1984-10-22 1984-10-22 Waveform correcting device of oscillation tester

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59221855A JPS6199835A (en) 1984-10-22 1984-10-22 Waveform correcting device of oscillation tester

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6199835A JPS6199835A (en) 1986-05-17
JPH0426414B2 true JPH0426414B2 (en) 1992-05-07

Family

ID=16773243

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59221855A Granted JPS6199835A (en) 1984-10-22 1984-10-22 Waveform correcting device of oscillation tester

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6199835A (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2805149B2 (en) * 1988-08-09 1998-09-30 日本ゼオン株式会社 How to keep horticultural crops fresh
WO1991018271A1 (en) * 1990-05-21 1991-11-28 Underwood Marcos A Adaptive control method for multiexciter sine tests
EP0882725B1 (en) * 1996-02-09 2002-12-18 Toyama Chemical Co., Ltd. Quinolonecarboxylic acid derivatives or salts thereof
JP5112765B2 (en) * 2007-07-13 2013-01-09 国立大学法人 筑波大学 Building damage degree judging device and building damage degree judging method

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57168136A (en) * 1981-04-10 1982-10-16 Saginomiya Seisakusho Inc Vibration testing method

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6199835A (en) 1986-05-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3973112A (en) System for determining transfer function
US5388056A (en) Method and system for vibration test
DE2652361C3 (en) Method for determining the vibration characteristics of a mechanically vibratable structure
Gloth et al. Analysis of swept-sine runs during modal identification
EP0115185B1 (en) Apparatus for and method of random vibration control
JP3427146B2 (en) Method and apparatus for measuring transfer function of controlled system in multi-degree-of-freedom vibration control
JPH065192B2 (en) Vibration control device
CN108873063B (en) microseism moment tensor inversion method and device
JPH0426414B2 (en)
JPH07113721A (en) Vibration testing device, vibration testing method, and vibration testing jig for structure
JP3242260B2 (en) Vibration test apparatus for structure, vibration test method for structure, and structure
US4090244A (en) Method and circuit arrangement for determining the vector components of an oscillation
JPH11318847A (en) Mri system
JPH067368B2 (en) Waveform correction device in vibration tester
JP3139803B2 (en) Impulse response measurement device
EP0316958A1 (en) Apparatus and method for measuring frequency response function
JPH067367B2 (en) Waveform correction device in vibration tester
EP0209336A2 (en) Digital sound synthesizer and method
JP2803875B2 (en) Vibration control device and method
JPS61164133A (en) Vibration testing method
JPH0566568U (en) Digital spectrum analyzer
JP2957572B1 (en) Earthquake response spectrum calculator
SU744474A1 (en) Apparatus for determining frequency characteristics of dynamic objects
JP3011418B2 (en) Waveform control device and method
JPH05157655A (en) On-line earthquake response load experiment device