JPH04256179A - Logic verification device - Google Patents

Logic verification device

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JPH04256179A
JPH04256179A JP3017672A JP1767291A JPH04256179A JP H04256179 A JPH04256179 A JP H04256179A JP 3017672 A JP3017672 A JP 3017672A JP 1767291 A JP1767291 A JP 1767291A JP H04256179 A JPH04256179 A JP H04256179A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
fixed
information
input
pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP3017672A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Junko Terai
寺井 順子
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NEC Solution Innovators Ltd
Original Assignee
NEC Software Hokuriku Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Software Hokuriku Ltd filed Critical NEC Software Hokuriku Ltd
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Abstract

PURPOSE:To prevent the verification omission of a design error in a logic circuit. CONSTITUTION:A cover ratio measurement means 1 measures a cover ratio as the circuit model verification degree of an input pattern based on all signal. state value information 5 obtained as the simulating result of a logic circuit model concerning the input pattern. A fixed relation signal retrieving means 2 sequentially retrieves a signal relating to a fixed signal from fixed value signal information 7 generated by the cover ratio measurement means 1 and circuit information 11 of the logic circuit model to the input side and generates fixed relation signal information 8 being the input signal which has fixed signal- influence. A pattern generating means 3 generates an all input pattern 9 which is covering and is possible to be set as against fixed relation signal information 8. A simulation means 4 simulates the logic circuit through the use of the input pattern 9 and outputs partial circuit signal state value information 10.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は論理検証装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a logic verification device.

【0002】0002

【従来の技術】従来の論理検証装置は、検証対象である
論理回路モデルにテストパタンを入力してシミュレーシ
ョンを行い、シミュレーション結果である状態値と期待
値の間の不一致を基に、論理回路モデルの設計誤りを検
出していた。
[Prior Art] A conventional logic verification device performs simulation by inputting a test pattern to a logic circuit model to be verified, and then analyzes the logic circuit model based on the discrepancy between the state value and the expected value, which is the simulation result. A design error was detected.

【0003】0003

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の論理検
証装置は、検証対象である論理回路モデルにテストパタ
ンを入力してシミュレーションを行い、シミュレーショ
ンを行った結果である状態値と期待値を比較するのみに
留まっており、検証対象である論理回路モデルに対する
シミュレーションの網羅性を確認することが困難であっ
た為、検証されていない未検証回路部分が存在する場合
に、この未検証回路部分に対して再度、検証を行うこと
ができず、論理回路の設計誤りの検出漏れが生じるとい
う欠点がある。
[Problems to be Solved by the Invention] The conventional logic verification device described above performs simulation by inputting a test pattern to the logic circuit model to be verified, and compares the state value that is the result of the simulation with the expected value. However, it was difficult to check the comprehensiveness of the simulation for the logic circuit model to be verified, so if there is an unverified circuit part that has not been verified, However, there is a drawback that verification cannot be performed again, resulting in failure to detect errors in the design of the logic circuit.

【0004】0004

【課題を解決するための手段】本発明の論理検証装置は
、入力パタンについて論理回路モデルをシミュレーショ
ンした結果得られる全信号の状態値情報を基に入力パタ
ンの回路モデル検証度としての網羅率を測定する網羅率
測定手段と、前記網羅率測定手段より作成される固定信
号情報と論理回路モデルの回路情報から固定信号に関連
する信号を入力側に順次検索し固定信号に影響を及ぼす
入力信号である固定関連信号情報を作成する固定関連信
号検索手段と、前記固定関連信号検索手段より作成させ
る固定関連信号情報に対して設定し得る網羅的な全入力
パタンを作成するパタン発生手段と、前記パタン発生手
段より作成される入力パタンを用いて論理回路モデルを
シミュレーションするシミュレーション手段とを含んで
構成される。
[Means for Solving the Problems] The logic verification device of the present invention calculates the coverage rate as a circuit model verification degree of an input pattern based on state value information of all signals obtained as a result of simulating a logic circuit model for an input pattern. A coverage measurement means to be measured, and signals related to the fixed signal are sequentially searched on the input side from the fixed signal information created by the coverage measurement means and the circuit information of the logic circuit model, and an input signal that affects the fixed signal is searched. fixed-related signal search means for creating certain fixed-related signal information; pattern generation means for creating a comprehensive all input pattern that can be set for the fixed-related signal information created by the fixed-related signal search means; and a simulation means for simulating a logic circuit model using the input pattern created by the generation means.

【0005】[0005]

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
Embodiments Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0006】図1は、本発明における一実施例を示すブ
ロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.

【0007】網羅率測定手段1は、シミュレーションを
行った結果得られている全信号状態値情報5を基に、シ
ミュレーションを行った全パタンを通してシミュレーシ
ョン結果である状態値が固定であった信号が、シミュレ
ーションを行った回路中の全信号に占める割合を、シミ
ュレーションを行った全パタンの網羅率として算出し、
状態値が固定であった信号名を固定信号情報7として作
成し、また、固定信号に影響を及ぼす入力信号から固定
信号までの部分回路についてシミュレーションを行った
結果得られている部分回路信号状態値情報10を基に、
シミュレーションを行った全パタンを通してシミュレー
ション結果である状態値が固定であった信号が、シミュ
レーションを行った回路中の全信号に占める割合を、シ
ミュレーションを行った全パタンの網羅率として算出し
、状態値が固定であった信号名を完全固定信号情報6と
して作成する。
[0007] The coverage measuring means 1 determines, based on the total signal state value information 5 obtained as a result of the simulation, that signals whose state values are fixed as simulation results throughout all the simulated patterns are Calculate the percentage of all signals in the simulated circuit as the coverage rate of all simulated patterns,
A partial circuit signal state value obtained as a result of creating a signal name with a fixed state value as fixed signal information 7 and simulating the partial circuit from the input signal to the fixed signal that affects the fixed signal. Based on information 10,
The ratio of signals whose state value is fixed as a simulation result to all signals in the simulated circuit through all the simulated patterns is calculated as the coverage rate of all the simulated patterns, and the state value is The fixed signal name is created as completely fixed signal information 6.

【0008】固定関連信号検索手段2は、固定信号情報
7と、論理回路モデルの回路情報11より、固定信号を
入力側に順次検索し、固定信号に影響を及ぼす入力側の
信号を固定関連信号情報8として作成する。
The fixed related signal search means 2 sequentially searches for fixed signals on the input side based on the fixed signal information 7 and the circuit information 11 of the logic circuit model, and identifies signals on the input side that affect the fixed signals as fixed related signals. Create as information 8.

【0009】パタン発生手段3は、固定信号に影響を及
ぼす入力信号から固定信号までの部分回路についてシミ
ュレーションを行うために、固定関連信号情報8を基に
、固定関連信号に設定し得る網羅的な全パタンを入力パ
タン9として作成する。
The pattern generating means 3 uses an exhaustive pattern that can be set for the fixed signal based on the fixed related signal information 8 in order to simulate the partial circuit from the input signal to the fixed signal that affects the fixed signal. All patterns are created as input patterns 9.

【0010】そして、シミュレーション手段4は、固定
関連信号情報8に対して入力パタン9を設定し、固定信
号に影響を及ぼす入力信号から固定信号までの部分回路
についてシミュレーションを行い、シミュレーションを
行った部分回路中の全信号の状態値を、部分回路信号状
態値情報10として作成する。
The simulation means 4 then sets an input pattern 9 for the fixed-related signal information 8, simulates the partial circuit from the input signal to the fixed signal that affects the fixed signal, and calculates the simulated part. The state values of all the signals in the circuit are created as partial circuit signal state value information 10.

【0011】次に、本実施例の動作について、図2の回
路図例と、図3に示す情報の流れ図を用いて説明する。
Next, the operation of this embodiment will be explained using the example circuit diagram shown in FIG. 2 and the information flow chart shown in FIG. 3.

【0012】図2において、a〜fはそれぞれ素子を表
し、A〜H,P〜Sは素子間に接続する信号を表す。
In FIG. 2, a to f represent elements, and A to H and P to S represent signals connected between the elements.

【0013】図3において、12は論理回路モデルに対
してシミュレーションを行った結果、全信号の状態値を
示す全信号状態値情報を表し、13は全信号のうちで状
態値が固定であった信号を示す固定信号情報を表し、1
4は論理回路モデル中の全信号及び素子の接続関係を示
す回路情報を表し、15は固定信号に影響を及ぼす入力
信号を示す固定関連信号情報を表し、16は固定関連信
号に設定し得る網羅的な全パタンである入力パタンを表
し、17は固定関連信号に網羅的な全パタンである入力
パタンを設定し、部分回路に対してのシミュレーション
を行った結果として固定信号が示す部分回路信号状態値
情報を表し、18は固定信号のうちで、網羅的な全パタ
ンである入力パタンを設定し、シミュレーションを行っ
た結果として取る状態値が、依然として固定である信号
を示す完全固定信号情報を示す。また、19は網羅率測
定手段、20は固定関連信号検索手段、21はパタン発
生手段、22はシミュレーション手段を示す。
In FIG. 3, 12 represents all signal state value information indicating the state values of all signals as a result of simulation for the logic circuit model, and 13 indicates that the state values of all signals were fixed. Represents fixed signal information indicating a signal, 1
4 represents circuit information indicating the connection relationships of all signals and elements in the logic circuit model, 15 represents fixed related signal information indicating input signals that affect fixed signals, and 16 indicates coverage that can be set for fixed related signals. 17 represents the partial circuit signal state indicated by the fixed signal as a result of setting the input pattern, which is the comprehensive total pattern, to fixed related signals and performing simulation on the partial circuit. 18 represents complete fixed signal information indicating a signal whose state value is still fixed as a result of setting an input pattern that is a comprehensive all pattern among fixed signals and performing a simulation. . Further, 19 is a coverage rate measuring means, 20 is a fixed related signal searching means, 21 is a pattern generating means, and 22 is a simulation means.

【0014】まず、全信号状態値情報12は、図2に示
す回路をシミュレーションした結果、回路中の全信号が
取る状態値を入力パタンごとに保持しており、全信号状
態値情報12中の“P(0,0,0,…0)”は、信号
Pが1パタン目を設定してシミュレーションを行った結
果、状態値“0”をとり、2パタン目を設定してシミュ
レーションを行った結果、状態値“0”をとり、3パタ
ン目を設定してシミュレーションを行った結果、状態値
“0”をとり、以下、順次これにならうことを示す。
First, the all signal state value information 12 holds the state values taken by all signals in the circuit for each input pattern as a result of simulating the circuit shown in FIG. "P (0, 0, 0, ... 0)" is the result of a simulation with the signal P setting the first pattern, which takes the state value "0", and a simulation with the second pattern set. As a result, the state value is "0", and as a result of setting the third pattern and performing the simulation, the state value is "0", and it is shown that this will be followed in sequence from now on.

【0015】網羅率測定手段19は、全信号状態値情報
12に基づき、設定した全パタンの、回路モデル検証度
としての網羅率を測定すると同時に、シミュレーション
結果である状態値が、設定した全パタンを通して固定で
あった信号を示す固定信号情報13を作成する。すなわ
ち、全信号状態値情報12中の“P(0,0,0,…0
)”より、信号Pについては、状態値が“0”のみであ
ることを認識し、“Q(1,1,0,…0)”より、信
号Qについては、状態値が“0”と“1”の両方を取っ
ていることを認識し、“R(1,1,1,…1)”より
、信号Rについては、状態値が“1”のみであることを
認識し、“S(0,1,0,…1)”より、信号Sにつ
いては、状態値が“0”と“1”の両方を取っているこ
とを認識し、固定信号情報13としては“P”,“R”
を作成する。
The coverage rate measuring means 19 measures the coverage rate as a circuit model verification degree of all the set patterns based on the total signal state value information 12, and at the same time measures the coverage rate as a circuit model verification level of all set patterns based on the total signal state value information 12. Fixed signal information 13 indicating signals that were fixed throughout is created. That is, “P(0, 0, 0,...0
)", we recognize that the state value of signal P is only "0", and from "Q(1,1,0,...0)", we recognize that the state value of signal Q is "0". It recognizes that the state value of signal R is only “1” from “R (1, 1, 1, ... 1)”, and “S (0, 1, 0, ... 1)", it is recognized that the state value of the signal S is both "0" and "1", and the fixed signal information 13 is "P", " R”
Create.

【0016】そして、固定関連信号検索手段20は、固
定信号情報13の中の“P”,“R”のそれぞれについ
て、図2に示す回路モデル中の全信号と素子の接続関係
を示す回路情報14を用いて、入力側に順次検索し、固
定信号情報13中の“P”,“R”のそれぞれに影響を
及ぼす入力側の信号を示す、固定関連信号情報15を作
成する。すなわち、素子aに信号D、信号Eを入力し、
信号P、信号Sが出力されることを示す、回路情報14
中の“a−P,S−D,E”(以下、これにならう)に
より、信号Pに関連する入力信号として信号D、信号E
が得られる。さらに、信号Dを基に回路情報14を検索
し、回路情報14中の“b−D−A,B”により、信号
Dに関連する入力信号として信号A、信号Bが得られる
Then, the fixed related signal search means 20 searches circuit information indicating connection relationships between all signals and elements in the circuit model shown in FIG. 2 for each of "P" and "R" in the fixed signal information 13. 14 is used to sequentially search on the input side and create fixed related signal information 15 indicating input side signals that influence each of "P" and "R" in the fixed signal information 13. That is, input signal D and signal E to element a,
Circuit information 14 indicating that signal P and signal S are output
"a-P, S-D, E" (hereinafter referred to as "a-P, S-D, E") in
is obtained. Furthermore, the circuit information 14 is searched based on the signal D, and the signals A and B are obtained as input signals related to the signal D by "b-D-A, B" in the circuit information 14.

【0017】また、信号Eを基に回路情報14を検索し
、回路情報14中の“c−E−C”により、信号Eに関
連する入力信号として信号Cが得られる。このようにし
て、状態値が固定であった信号Pに影響を及ぼす入力信
号として信号A、B、Cが得られ、“P−A,B,C”
という固定関連信号情報15を作成する。同様に、状態
値が固定であった信号Rに影響を及ぼす入力信号として
、信号F、Gが得られ、“R−F,G”という固定関連
信号情報15を作成する。
Further, the circuit information 14 is searched based on the signal E, and the signal C is obtained as an input signal related to the signal E based on "c-E-C" in the circuit information 14. In this way, signals A, B, and C are obtained as input signals that affect signal P whose state value is fixed, and "P-A, B, C"
Fixed related signal information 15 is created. Similarly, signals F and G are obtained as input signals that affect signal R whose state value is fixed, and fixed related signal information 15 called "R-F, G" is created.

【0018】そして、パタン発生手段21は、固定関連
信号情報15中の固定信号に影響を及ぼす入力信号に対
して、網羅的な全パタンを発生し、入力パタン16を作
成する。すなわち、固定信号Pに関連する入力信号であ
る信号A、B、Cについては、それぞれ状態値0,0,
0を設定することを示す“(A,B,C)=(0,0,
0)”、以下同様に、(0,0,1)、(0,1,0)
、(0,1,1)、(1,0,0)、(1,0,1)、
(1,1,0)、(1,1,1)という8パタンの入力
パタン16を作成し、固定信号Rに影響を及ぼす入力信
号である信号F、Gについては、(0,0)、(0,1
)、(1,0),(1,1)という4パタンの入力パタ
ン16を作成する。
Then, the pattern generating means 21 generates all exhaustive patterns for input signals that affect the fixed signals in the fixed related signal information 15, and creates an input pattern 16. That is, signals A, B, and C, which are input signals related to fixed signal P, have state values of 0, 0, and 0, respectively.
"(A, B, C) = (0, 0,
0)'', and similarly, (0, 0, 1), (0, 1, 0)
, (0,1,1), (1,0,0), (1,0,1),
Eight input patterns 16 are created (1, 1, 0), (1, 1, 1), and for signals F and G, which are input signals that affect the fixed signal R, (0, 0), (0,1
), (1,0), (1,1), four input patterns 16 are created.

【0019】そして、入力パタン16と固定関連信号情
報15を用いることにより、固定信号に影響を及ぼす入
力信号に網羅的な全パタンを設定し、固定信号に影響を
及ぼす入力信号から固定信号までの部分回路について、
シミュレーション手段22によってシミュレーションを
行う。この結果、各パタンを設定してシミュレーション
をした時に、固定信号であった信号P、信号Rがとる状
態値を、順次保存して部分回路信号状態値情報17を作
成する。
Then, by using the input pattern 16 and the fixed-related signal information 15, comprehensive all patterns are set for the input signals that affect the fixed signal, and all patterns from the input signal that affects the fixed signal to the fixed signal are set. Regarding the partial circuit,
A simulation is performed by the simulation means 22. As a result, when each pattern is set and a simulation is performed, the state values taken by the fixed signals P and R are sequentially saved to create partial circuit signal state value information 17.

【0020】すなわち、信号A、B、Cに1パタン目を
設定してシミュレーションを行った結果、信号Pの状態
値は“1”であり、2パタン目を設定してシミュレーシ
ョンを行った結果は“1”、3パタン目を設定してシミ
ュレーションを行った結果は“1”、4パタン目を設定
してシミュレーションを行った結果は“0”、5パタン
目を設定してシミュレーションを行った結果は“1”、
6パタン目を設定してシミュレーションを行った結果は
“1”、7パタン目を設定してシミュレーションを行っ
た結果は“1”、8パタン目を設定してシミュレーショ
ンを行った結果は“1”であることを示す、“P(1,
1,1,0,1,1,1,1)”という、部分回路信号
状態値情報17を作成する。同様に、信号F、Gに網羅
的な4パタンを設定してシミュレーションを行った結果
、信号Rがとる状態値を示す“R(0,0,0,0)”
という、部分回路信号状態値情報17を作成する。
That is, as a result of performing a simulation by setting the first pattern for signals A, B, and C, the state value of signal P is "1", and by performing a simulation by setting the second pattern, the result is “1” is the result of the simulation with the 3rd pattern set, “0” is the result of the simulation with the 4th pattern set, “0” is the result of the simulation with the 5th pattern set is “1”,
The result of running a simulation with the 6th pattern set is "1", the result of running the simulation with the 7th pattern set is "1", and the result of running the simulation with the 8th pattern set is "1". “P(1,
1, 1, 0, 1, 1, 1, 1)" is created.Similarly, the results of a simulation were performed by setting four exhaustive patterns for signals F and G. , "R (0, 0, 0, 0)" indicating the state value that signal R takes.
The partial circuit signal state value information 17 is created.

【0021】そして、網羅率測定手段19は、部分回路
信号状態値情報17を参照し、網羅的な全パタンによる
シミュレーションを行った結果、依然として状態値が固
定である信号を検索し、完全固定信号18を作成する。 すなわち、信号Pについては、部分回路信号状態値情報
17中の“P(1,1,1,0,1,1,1,1)”よ
り状態値が“0”と“1”の両方を取っていることを認
識し、信号Rについては“R(0,0,0,0)”より
、状態値が“0”のみであることを認識して、完全固定
信号情報18として“R”を作成する。
[0021] Then, the coverage rate measuring means 19 refers to the partial circuit signal state value information 17, searches for signals whose state values are still fixed as a result of comprehensive simulation using all patterns, and searches for signals whose state values are still fixed. Create 18. That is, for signal P, the state value is both "0" and "1" from "P (1, 1, 1, 0, 1, 1, 1, 1)" in the partial circuit signal state value information 17. Recognizing that the state value is only "0" for the signal R from "R (0, 0, 0, 0)", it sets "R" as the complete fixed signal information 18. Create.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上説明した様に、本発明は、論理検証
を行った結果、状態値が完全に固定されている信号を検
出し、未検証回路部分について網羅的な全パタンで再度
シミュレーションを行うことにより、論理回路の設計誤
りの検証漏れを防ぐことができる、という効果がある。
[Effects of the Invention] As explained above, the present invention detects a signal whose state value is completely fixed as a result of logic verification, and re-simulates the unverified circuit portion using all comprehensive patterns. This has the effect of preventing failure to verify design errors in logic circuits.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明の一実施例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.

【図2】論理検証の対象を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing an object of logic verification.

【図3】論理検証を行い状態値が完全に固定である信号
を検出する際の情報の流れを示す流れ図である。
FIG. 3 is a flowchart showing the flow of information when performing logic verification and detecting a signal whose state value is completely fixed.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1    網羅率測定手段 2    固定関連信号検索手段 3    パタン発生手段 4    シミュレーション手段 1 Coverage rate measurement means 2 Fixed related signal search means 3 Pattern generation means 4 Simulation means

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  入力パタンについて論理回路モデルを
シミュレーションした結果得られる全信号の状態値情報
を基に入力パタンの回路モデル検証度としての網羅率を
測定する網羅率測定手段と、前記網羅率測定手段より作
成される固定信号情報と論理回路モデルの回路情報から
固定信号に関連する信号を入力側に順次検索し固定信号
に影響を及ぼす入力信号である固定関連信号情報を作成
する固定関連信号検索手段と、前記固定関連信号検索手
段より作成させる固定関連信号情報に対して設定し得る
網羅的な全入力パタンを作成するパタン発生手段と、前
記パタン発生手段より作成される入力パタンを用いて論
理回路モデルをシミュレーションするシミュレーション
手段とを含むことを特徴とする論理検証装置。
1. Coverage rate measuring means for measuring a coverage rate as a degree of circuit model verification of an input pattern based on state value information of all signals obtained as a result of simulating a logic circuit model for the input pattern; A fixed-related signal search that sequentially searches for signals related to the fixed signal on the input side from the fixed signal information created by the means and the circuit information of the logic circuit model, and creates fixed-related signal information that is an input signal that affects the fixed signal. means, a pattern generating means for creating a comprehensive all input pattern that can be set for the fixed related signal information created by the fixed related signal searching means, and a logic generating means using the input pattern created by the pattern generating means. A logic verification device comprising a simulation means for simulating a circuit model.
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