JPH04247535A - テストパタンの修正方式 - Google Patents

テストパタンの修正方式

Info

Publication number
JPH04247535A
JPH04247535A JP3013168A JP1316891A JPH04247535A JP H04247535 A JPH04247535 A JP H04247535A JP 3013168 A JP3013168 A JP 3013168A JP 1316891 A JP1316891 A JP 1316891A JP H04247535 A JPH04247535 A JP H04247535A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
input
file
output
pattern file
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3013168A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsutomu Osada
努 長田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Engineering Ltd
Original Assignee
NEC Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Engineering Ltd filed Critical NEC Engineering Ltd
Priority to JP3013168A priority Critical patent/JPH04247535A/ja
Publication of JPH04247535A publication Critical patent/JPH04247535A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はテストパタンの修正方式
に関し、特に計算機システムによりテストパタン中の双
方向端子の入出力パタンにおいてバスファイトが発生す
る箇所を発見して修正するテストパタンの修正方式に関
する。
【0002】
【従来の技術】LSI製品の良品選別に使用するLSI
テスタのテストパタンは、良品サンプルを不良品と判定
することのないようバスファイトが起こらないパタンに
しなければならないが、従来のテストパタンの修正方式
はバスファイトが発生するパタンをパタンエディタでキ
ーボード等の入力装置による手作業により修正していた
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この従来のテストパタ
ンの修正方式では、パタンエディタでキーボード等の入
力装置による手作業により修正するため、数百パタンに
及ぶ多量の修正箇所がある場合は膨大な作業時間を必要
とする欠点があった。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明のテストパタンの
修正方式は、計算機システムによりテストパタン中のバ
スファイトが発生する箇所を発見して修正するテストパ
タンの修正方式であって、入力装置により入力パタンフ
ァイルと出力パタンファイルそれぞれのファイル名を取
り込むパタンファイル名入力手段と、外部記憶装置から
前記入力パタンファイル名を持つパタンファイルを読み
込む入力パタンファイル読み込み手段と、この読み取っ
た入力パタンファイルのパタン中でバスファイトが発生
する箇所を検索してパタンの一部を修正するテストパタ
ン検索修正手段と、この修正した新しいパタンを前記出
力パタンファイル名をつけて新しいパタンファイルとし
て前記外部記憶装置に出力する出力パタンファイル作成
手段とを備えることを特徴とする。
【0005】そして、前記入力装置はキーボードであり
、前記外部記憶装置は磁気ディスク装置であってもよい
【0006】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明する
【0007】以下、本発明をゲートアレイLSI設計に
適用した場合の一実施例について説明する。
【0008】図1は本発明の一実施例によるテストパタ
ン修正処理手順を表す図、図2は本発明を適用してゲー
トアレイLSI設計を行なう計算機システムの一例を示
すブロック図、図3はパタン置換が必要なテストパタン
を示すタイミング図、図4は図3のテストパタンを置換
修正したパタンのタイミング図、図5はパタン挿入が必
要なテストパタンを示すタイミング図、図6は図5のテ
ストパタンに挿入修正したパタンのタイミング図である
【0009】図2において、キーボード1は入力パタン
ファイルと出力パタンファイルのファイル名を計算機2
に入力するために設けられている。計算機2はデータを
処理するために設けられている。外部記憶装置であるデ
ィスク装置3は入力パタンファイルを計算機2へ入力す
る入力元として、また計算機2から出力パタンファイル
を出力する出力先として設けられている。ディスプレイ
4は動作の確認をするために設けられている。
【0010】図1に示すように、入力パタンファイル名
入力手段5はキーボード1を用いて手作業により入力パ
タンファイル名を入力し、出力パタンファイル名入力手
段6は同様に出力パタンファイル名を入力する。以上で
パタンファイル名入力手段7が完了する。
【0011】入力パタンファイル読み込み手段8は入力
パタンファイル名入力手段5で入力されたファイル名が
付いている入力パタンファイルを図2に示すディスク装
置3から読み込む。
【0012】パタン置換必要箇所の有無の判定手段9は
読み込んだ入力パタンファイルの全パタン中でパタンの
置換が必要な箇所を検索し、パタン置換必要箇所が有る
場合はパタン置換手段10でそのパタンを正しいパタン
に置換する。このパタン置換必要箇所の有無の判定手段
9及びパタン置換手段10での処理をパタンの置換が必
要な箇所が無くなるまで繰り返す。パタン置換必要箇所
の有無の判定手段9及びパタン置換手段10での処理の
置換のアルゴリズムについては後述する。パタン挿入必
要箇所の有無の判定手段11は置換修正したパタンファ
イルの全パタン中でパタンの挿入が必要な箇所を検索し
、パタン挿入必要箇所が有る場合はパタン挿入手段12
でその箇所に必要なパタンを挿入する。このパタン挿入
必要箇所の有無の判定手段11及びパタン挿入手段12
での処理をパタンの挿入が必要な箇所がなくなるまで繰
り返す。パタン挿入必要箇所の有無の判定手段11及び
パタン挿入手段12での処理の挿入のアルゴリズムにつ
いては後述する。以上でテストパタン検索修正手段13
が完了する。
【0013】出力パタンファイル作成手段14は修正が
終わったパタンファイルを出力パタンファイル名入力手
段6で入力されたファイル名を付けてディスク装置3に
出力する。以上ですべての処理は終了する。
【0014】次に、パタン置換必要箇所の有無の判定手
段9及びパタン置換手段10での処理の置換修正のアル
ゴリズムについて図3及び図4を用いて説明する。
【0015】入力信号15は双方向端子の入力信号のパ
タンであり、出力信号16は双方向端子の出力信号のパ
タンであり、入出力制御信号17は双方向端子の入出力
制御信号のパタンである。パタン中、斜線部はハイイン
ピーダンス状態を示す。
【0016】入出力制御信号17の値が‘1’の時、す
なわち双方向端子が出力モードにおいて、パタン番号t
1 では出力信号16の値は‘0‘であるが入力信号1
5の値が‘1’であるので、入力信号と出力信号の双方
の値が一致しておらず、このままではバスファイトが起
こる。これを一致させるために入力信号15の値を‘0
’に置換する。パタン番号t2 では出力信号16の値
は‘1’であるが入力信号15の値が‘0’であるので
、入力信号15と出力信号16の双方の値が一致してお
らず、このままではバスファイトが起こるので、一致さ
せるために入力信号15の値を‘1’に置換する。
【0017】次に、パタン挿入必要箇所の有無の判定手
段11及びパタン挿入手段12での処理の挿入修正のア
ルゴリズムについて図5及び図6を用いて説明する。
【0018】入出力制御信号17の値が‘0’から‘1
’へ変わるとき、すなわち双方向端子が入力モードから
出力モードに切り替わるとき、出力モードに切り替わっ
た直後のパタン番号T1 では出力信号16の値は‘0
’であるが出力モードに切り替わる直前のパタン番号T
1 −1では入力信号15の値は‘1’であるので、出
力モードに切り替わる直前の入力信号15と出力モード
に切り替わった直後の出力信号16の双方の値が一致し
ておらず、このままではLSIテスタ上での信号伝搬時
に起こる信号遅延のためバスファイトが起こる。これを
一致させるために入出力制御信号17の値が‘0’で出
力信号16がハイインピーダンスであり入力信号15の
値が出力モードに切り替わった直後のパタン番号T1 
の出力信号16の値と一致するように、入力信号15の
値が‘0’であるパタンをパタン番号T1 −1とパタ
ン番号T1の間に挿入する。挿入する必要のある双方向
端子以外の端子は、双方向端子が出力モードに切り替わ
る直前のパタン番号T1 −1でのその端子の値を、パ
タン番号T1 −1とパタン番号T1 の間に挿入する
【0019】入出力制御信号17の値が‘1’から‘0
’へ変わるとき、すなわち双方向端子が出力モードから
入力モードに切り替わるとき、入力モードに切り替わる
直前のパタン番号T2 では出力信号16の値は‘1’
であるが入力モードに切り替わった直後のパタン番号T
2 +1では入力信号15の値は‘0’であるので、入
力モードに切り替わる直前の出力信号16と入力モード
に切り替わった直後の入力信号15の双方の値が一致し
ておらず、このままではバスファイトが起こる。 これを一致させるために入出力制御信号17の値が‘0
’で出力信号16がハイインピーダンスであり入力信号
15の値が入力モードに切り替わる直前のパタン番号T
2 の出力信号の値と一致するように、入力信号の値が
‘1’であるパタンをパタン番号T2 とパタン番号T
2 +1の間に挿入する。挿入する必要のある双方向端
子以外の端子は、双方向端子が出力モードに切り替わる
直前のパタン番号T2 でのその端子の値をパタン番号
T2 とパタン番号T2 +1の間に挿入する。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、利用者が
初めに入力パタンファイル名と出力パタファイル名をキ
ーボード等の入力装置より入力するだけでテストパタン
の修正をすべて計算機に処理させるようにしたので、パ
タンエディタでキーボード等の入力装置による手作業に
より修正する従来の方式に比較して大幅に作業時間を短
縮できるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例によるテストパタン修正処理
手順を表す図である。
【図2】本発明を適用してゲートアレイLSI設計を行
なう計算機システムの一例を示すブロック図である。
【図3】パタン置換が必要なテストパタンを示すタイミ
ング図である。
【図4】図3のテストパタンを置換修正したパタンのタ
イミング図である。
【図5】パタン挿入が必要なテストパタンを示すタイミ
ング図である。
【図6】図5のテストパタンに挿入修正したパタンのタ
イミング図である。
【符号の説明】
1    キーボード(入力装置) 2    計算機 3    ディスク装置(外部記憶装置)4    デ
ィスプレイ 5    入力パタンファイル名入力手段6    出
力パタンファイル名入力手段7    パタンファイル
名入力手段 8    入力パタンファイル読み込み手段9    
パタン置換必要箇所の有無の判定手段10    パタ
ン置換手段 11    パタン挿入必要箇所の有無の判定手段12
    パタン挿入手段 13    テストパタン検索修正手段14    出
力パタンファイル作成手段15    入力信号 16    出力信号 17    入出力制御信号 t1 ,t2 ,T1 ,T2 ,T1−1,T2 +
1    パタン番号

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  計算機システムによりテストパタン中
    のバスファイト(データバス上でのデータの衝突)が発
    生する箇所を発見して修正するテストパタンの修正方式
    であって、入力装置により入力パタンファイルと出力パ
    タンファイルそれぞれのファイル名を取り込むパタンフ
    ァイル名入力手段と、外部記憶装置から前記入力パタン
    ファイル名を持つパタンファイルを読み込む入力パタン
    ファイル読み込み手段と、この読み取った入力パタンフ
    ァイルのパタン中でバスファイトが発生する箇所を検索
    してパタンの一部を修正するテストパタン検索修正手段
    と、この修正した新しいパタンを前記出力パタンファイ
    ル名をつけて新しいパタンファイルとして前記外部記憶
    装置に出力する出力パタンファイル作成手段とを備える
    ことを特徴とするテストパタンの修正方式。
  2. 【請求項2】  前記入力装置はキーボードであること
    を特徴とする請求項1記載のテストパタンの修正方式。
  3. 【請求項3】  前記外部記憶装置は磁気ディスク装置
    であることを特徴とする請求項1または2記載のテスト
    パタンの修正方式。
JP3013168A 1991-02-04 1991-02-04 テストパタンの修正方式 Pending JPH04247535A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3013168A JPH04247535A (ja) 1991-02-04 1991-02-04 テストパタンの修正方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3013168A JPH04247535A (ja) 1991-02-04 1991-02-04 テストパタンの修正方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04247535A true JPH04247535A (ja) 1992-09-03

Family

ID=11825650

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3013168A Pending JPH04247535A (ja) 1991-02-04 1991-02-04 テストパタンの修正方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04247535A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5787310A (en) * 1995-01-31 1998-07-28 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Microcomputer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5787310A (en) * 1995-01-31 1998-07-28 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Microcomputer

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7185330B1 (en) Code optimization method and system
KR100966010B1 (ko) 하나 이상의 중복 테스트 제거 및 하나 이상의 비효율적테스트 재배열 방법
JPH05134012A (ja) デジタル・テスト・ベクトルの編集方法
JP2001357095A (ja) 半導体装置設計支援装置
JPH04247535A (ja) テストパタンの修正方式
KR100402651B1 (ko) 크리티컬 패스 탐색방법 및 탐색 시스템
US20060282250A1 (en) Logic simulation method and system
JPH04239338A (ja) マイクロプログラム網羅率測定方式
JP2901828B2 (ja) 半導体集積回路
JPH05312905A (ja) 回路シミュレーション装置
JP2001202391A (ja) 論理回路のシミュレーション方法
JP2023152651A (ja) フォーマル検証装置及びフォーマル検証方法
JPH05151296A (ja) メモリ付回路の論理検証装置および方法
JP3048003B2 (ja) 半導体装置の故障シミュレーション方法及び故障シミュレーションにおけるデータ作成装置
US20040080312A1 (en) Method and apparatus for fully characterizing propagation delay through an n-input circuit
JPH0683905A (ja) 等価信号検出方式
JP2000046918A (ja) 半導体試験装置およびこれを用いた半導体試験方法
JPH06259495A (ja) 論理シミュレーション方式
JPH0969117A (ja) 集積回路遅延改善方法
JPH029370B2 (ja)
JPH01305431A (ja) エラーメッセージ挿入方式
JPH09325974A (ja) 機能ブロック部の動作検証装置
JPH0675816A (ja) ループ処理誤り検出装置
JP2000113008A (ja) Lsiテストパターン設計装置及び設計方法
JPH03195982A (ja) 半導体集積回路の機能テスト方法