JPH04245008A - Manufacture of thin-film magnetic head - Google Patents

Manufacture of thin-film magnetic head

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Publication number
JPH04245008A
JPH04245008A JP1115891A JP1115891A JPH04245008A JP H04245008 A JPH04245008 A JP H04245008A JP 1115891 A JP1115891 A JP 1115891A JP 1115891 A JP1115891 A JP 1115891A JP H04245008 A JPH04245008 A JP H04245008A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic pole
magnetic head
thin film
film magnetic
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1115891A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hisano Tokida
常田 久乃
Hidetoshi Moriwaki
森脇 英稔
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP1115891A priority Critical patent/JPH04245008A/en
Publication of JPH04245008A publication Critical patent/JPH04245008A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To eliminate carbonization or perforation of a resist mask regarding a process for producing an upper magnetic pole of a thin-film magnetic head using the ion milling method. CONSTITUTION:One portion of upper and lower magnetic poles 2 and 9 of a thin-film magnetic head is extended for obtaining a ground wire 10 and is grounded to an ion milling device main body 12. After an electric charge of Ar ion which is emitted from an ion gun reaches a substrate, it is propagated on this ground wire 10 and escapes to the main body of the ion milling device. A test using a prototype thin-film head resulted in no carbonization and perforation of a resist mask.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は高密度磁気記録に適した
薄膜磁気ヘッドにかかり、特に上部磁極となる磁性膜を
レジストマスクを用いたイオンミリング法により形成す
るとき、レジストマスクの炭化や穴あきなどを生じさせ
ないことを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法に関す
る。
[Industrial Application Field] The present invention relates to a thin film magnetic head suitable for high-density magnetic recording, and in particular, when forming a magnetic film that will become the upper magnetic pole by an ion milling method using a resist mask, carbonization and holes in the resist mask are produced. The present invention relates to a method for manufacturing a thin-film magnetic head, which is characterized in that it does not cause voids or the like.

【0002】0002

【従来の技術】薄膜磁気ヘッドの上部磁極を,イオンミ
リング法を用いてエッチングする工程を図7を用いて説
明する。まず同図(a)に示すように、基板1上に下部
磁極2,ギャップ層3,コイル4,絶縁層5を順次、積
層した上に磁性膜6を積層し、さらにその上に上部磁極
と同じ形をしたレジストマスク7を形成する。つぎに同
図(b)に示すように、磁性膜をエッチングする。エッ
チング法としては、Arイオン8を照射するイオンミリ
ング法を用いる。同図(c)に示したように、薄膜磁気
ヘッドの上部磁極9は、絶縁層5やコイル4などの段差
部を乗り越える部分に形成するため、その表面は凹凸に
なる。このような部分にイオンミリング法を用いてパタ
ーンを形成しようとすると、凹んだ部分では膜のエッチ
ング残りが生じやすい。そこで、目視によりエッチング
が終了したことを確認した後も、さらにイオンミリング
を数分間行なって余分な膜を完全に除去する。このよう
にして作製した薄膜磁気ヘッドの概略を図8に示す。な
お、このような上部磁極の形成方法として関連するもの
には例えば特開平2−49210号や特開平2−567
11号などが挙げられる。
2. Description of the Related Art The process of etching the upper magnetic pole of a thin film magnetic head using ion milling will be described with reference to FIG. First, as shown in Figure (a), a lower magnetic pole 2, a gap layer 3, a coil 4, and an insulating layer 5 are sequentially laminated on a substrate 1, and then a magnetic film 6 is laminated, and then an upper magnetic pole is layered on top of the magnetic film 6. A resist mask 7 having the same shape is formed. Next, as shown in FIG. 2(b), the magnetic film is etched. As the etching method, an ion milling method in which Ar ions 8 are irradiated is used. As shown in FIG. 2C, the upper magnetic pole 9 of the thin-film magnetic head is formed in a portion that goes over the stepped portions of the insulating layer 5, the coil 4, etc., so its surface is uneven. When attempting to form a pattern in such a portion using the ion milling method, etching remains of the film tend to occur in the recessed portion. Therefore, even after visually confirming that the etching has been completed, ion milling is further performed for several minutes to completely remove the excess film. FIG. 8 schematically shows the thin film magnetic head manufactured in this manner. Incidentally, related methods for forming such an upper magnetic pole include, for example, JP-A No. 2-49210 and JP-A No. 2-567.
Examples include No. 11.

【0003】0003

【発明が解決しようとする課題】従来の方法で作製した
薄膜磁気ヘッドを顕微鏡で観察したところ、従来技術は
、目視によりエッチングが終了したことを確認した時点
から、イオンミリングが完全に終了するまでの工程につ
いて配慮されておらず、基板上のレジストマスクの全面
に渡って炭化し、あるいは穴が開くという問題が生じる
ことが判った。このような問題が生じると、(1)  
イオンミリング後にレジストマスクを除去出来なくなる (2)  穴の形が上部磁極に転写されてしまうなどの
弊害を生じた。本発明の目的は、上述した問題を解決す
ることにある。
[Problems to be Solved by the Invention] When observing a thin film magnetic head manufactured by the conventional method with a microscope, it was found that the conventional technology could not operate from the time when it was visually confirmed that the etching was completed until the ion milling was completely completed. It has been found that no consideration was given to the process, resulting in problems such as carbonization or holes being formed over the entire surface of the resist mask on the substrate. When such a problem occurs, (1)
The resist mask could not be removed after ion milling (2) This caused problems such as the shape of the hole being transferred to the upper magnetic pole. The purpose of the invention is to solve the above-mentioned problems.

【0004】0004

【課題を解決するための手段】図9に従来の方法で磁性
膜をエッチングする工程の説明図を示す。レジストマス
クの炭化と穴あきの原因は、イオンガンから放出された
Arイオンのもつ電荷がレジストマスク上に蓄積され、
基板上で放電したためと思われた。そこで、上記の問題
点を解決するために、イオンミリングが完全に終了する
までレジストマスクは常にイオンミリング装置に接地す
るようにした。
Means for Solving the Problems FIG. 9 shows an explanatory diagram of the process of etching a magnetic film by a conventional method. The cause of carbonization and holes in the resist mask is that the charge of Ar ions released from the ion gun accumulates on the resist mask.
It was thought that this was due to a discharge occurring on the board. Therefore, in order to solve the above problem, the resist mask was always grounded to the ion milling apparatus until the ion milling was completely completed.

【0005】[0005]

【作用】本発明は、薄膜磁気ヘッドの上部磁極をレジス
トマスクを用いたイオンミリング法で形成するときに、
イオンミリングが完全に終了するまでレジストマスクの
一部がイオンミリング装置本体に接地されていることに
より、イオンガンから放出されたArイオンの持つ電荷
を、接地したことによってレジストマスク上に蓄積され
ることなく、イオンミリング装置本体に逃す役目を持っ
ている。これにより、レジストマスクの炭化や穴あきが
生じなくなる。
[Operation] The present invention provides the following advantages when forming the upper magnetic pole of a thin film magnetic head by ion milling using a resist mask.
Since a part of the resist mask is grounded to the ion milling device body until ion milling is completely completed, the charge held by the Ar ions emitted from the ion gun is accumulated on the resist mask by being grounded. Instead, it has the role of releasing into the ion milling device itself. This prevents carbonization and holes from occurring in the resist mask.

【0006】[0006]

【実施例】(実施例1)以下に本発明の実施例を図面を
用いて説明する。図1は本発明の実施例を示す。本実施
例では、上部磁極となる磁性膜をエッチングするときに
用いるレジストマスクの先端を延長した。このレジスト
マスクの先端は、図2に示すように基板の周辺部まで延
びている。この基板をイオンミリング装置に装着し、図
3に示すように基板の周辺部まで延長したレジストマス
クの一部を装置本体に接地する。次にイオンミリングを
行ない、エッチングがほぼ終了したことを目視で確認出
来るような状態になったとき、上部磁極の先端を延長し
たレジストマスクによって形成されたパターンはイオン
ミリング装置本体と上部磁極を結ぶアース線となる。そ
してイオンガンから放出されたArイオンの持つ電荷は
基板に到達した後、このアース線を伝わってイオンミリ
ング装置本体に逃げることになる。
EXAMPLES (Example 1) Examples of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows an embodiment of the invention. In this example, the tip of the resist mask used when etching the magnetic film that becomes the upper magnetic pole was extended. The tip of this resist mask extends to the periphery of the substrate as shown in FIG. This substrate is mounted on an ion milling device, and as shown in FIG. 3, a part of the resist mask extending to the periphery of the substrate is grounded to the main body of the device. Next, ion milling is carried out, and when it becomes possible to visually confirm that the etching is almost complete, the pattern formed by the resist mask that extends the tip of the upper magnetic pole connects the ion milling device main body and the upper magnetic pole. It becomes a ground wire. After the charges of the Ar ions emitted from the ion gun reach the substrate, they travel through this ground wire and escape to the main body of the ion milling apparatus.

【0007】本実施例を用いて作製した薄膜磁気ヘッド
を顕微鏡により観察したところ、従来法に見られたよう
なレジストマスクの炭化や穴開きは見られず、本発明の
効果を確認出来た。
When the thin film magnetic head produced using this example was observed under a microscope, no carbonization or hole formation in the resist mask, which was observed in the conventional method, was observed, confirming the effect of the present invention.

【0008】(実施例2)以下に本発明の実施例を図面
を用いて説明する。図4は本発明の実施例を示す。実施
例1ではアース線を上部磁極に設けたが、本実施例では
下部磁極に設けてある。これは上部磁極と下部磁極がコ
ンタクトホールを通じて電気的に導通していることを利
用したものである。従って、上部磁極をイオンミリング
した場合にレジストマスク上に蓄積した電荷はこのスル
ーホールを通じて下部磁極に流れ、アース線を通じてイ
オンミリング装置本体に逃げることになり実施例1と全
く同様の効果が得られる。
(Embodiment 2) An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 4 shows an embodiment of the invention. In Example 1, the ground wire was provided on the upper magnetic pole, but in this example, it was provided on the lower magnetic pole. This utilizes the fact that the upper magnetic pole and the lower magnetic pole are electrically connected through a contact hole. Therefore, when the upper magnetic pole is ion-milled, the charge accumulated on the resist mask flows to the lower magnetic pole through this through hole and escapes to the ion milling apparatus main body through the ground wire, so that the same effect as in Example 1 can be obtained. .

【0009】(実施例3)以下に本発明の実施例を図面
を用いて説明する。図5は本発明の実施例を示す。実施
例1,2ではアース線を上下磁極の先端に設けたが、本
実施例では磁極の後端部に設けたものである。薄膜磁気
ヘッドでは、磁束の通り路は磁極先端から磁極を通って
スルーホールを抜け、そして反対側の磁極、磁極先端部
へと流れる。そのためスルーホールよりもさらに後にア
ース線を設けても磁束の流れを妨げることがない。よっ
て、薄膜磁気ヘッドの性能を低下させることなく実施例
1,2と同様の効果が得られる。
(Embodiment 3) An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 5 shows an embodiment of the invention. In Examples 1 and 2, the ground wires were provided at the tips of the upper and lower magnetic poles, but in this embodiment, they were provided at the rear ends of the magnetic poles. In a thin film magnetic head, the path of magnetic flux is from the tip of the magnetic pole, through the magnetic pole, through the through hole, and then to the opposite magnetic pole and the tip of the magnetic pole. Therefore, even if the ground wire is provided further after the through hole, the flow of magnetic flux will not be obstructed. Therefore, the same effects as in Examples 1 and 2 can be obtained without deteriorating the performance of the thin film magnetic head.

【0010】(実施例4)以下に本発明の実施例を図面
を用いて説明する。図6は本発明の実施例を示す。実施
例1,2,3ではアース線をレジストマスクの炭化や穴
開き防止のために限って用いていた。本実施例ではさら
に薄膜磁気ヘッドと磁気ディスク間で生じる静電気によ
る雑音信号防止のためにも用いられるようにした。アー
ス線は実施例3と同様に磁極後端部に設け、その先は基
板の周辺部まで延長されているが、磁極接地用の端子が
アース線の途中に設けられている。そして基板を磁気ヘ
ッドスライダ状に加工したとき、磁極接地用端子がスラ
イダ上に存在する形となる。
(Embodiment 4) An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 6 shows an embodiment of the invention. In Examples 1, 2, and 3, the ground wire was used only to prevent carbonization and holes in the resist mask. In this embodiment, it is also used to prevent noise signals caused by static electricity generated between the thin film magnetic head and the magnetic disk. As in the third embodiment, the ground wire is provided at the rear end of the magnetic pole, and its tip extends to the periphery of the substrate, but a terminal for grounding the magnetic pole is provided in the middle of the ground wire. When the substrate is processed into a magnetic head slider, the magnetic pole grounding terminal is present on the slider.

【0011】[0011]

【発明の効果】本実施例を用いて作製した薄膜磁気ヘッ
ドを顕微鏡により観察したところ、従来法に見られたよ
うなレジストマスクの炭化や穴開きは見られず、本発明
の効果を確認出来た。
[Effects of the Invention] When the thin film magnetic head manufactured using this example was observed under a microscope, no carbonization or hole formation in the resist mask, which was observed in the conventional method, was observed, confirming the effects of the present invention. Ta.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明の実施例1を示す薄膜磁気ヘッドの概略
図である。
FIG. 1 is a schematic diagram of a thin film magnetic head showing a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明を用いて基板状に形成したレジストマス
クの概略図である。
FIG. 2 is a schematic diagram of a resist mask formed on a substrate using the present invention.

【図3】本発明を用いて磁性膜をエッチングする工程の
説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of a process of etching a magnetic film using the present invention.

【図4】本発明の実施例2を示す薄膜磁気ヘッドの概略
図である。
FIG. 4 is a schematic diagram of a thin film magnetic head showing a second embodiment of the present invention.

【図5】本発明の実施例3を示す薄膜磁気ヘッドの概略
図である。
FIG. 5 is a schematic diagram of a thin film magnetic head showing a third embodiment of the present invention.

【図6】本発明の実施例4を示す薄膜磁気ヘッドの概略
図である。
FIG. 6 is a schematic diagram of a thin film magnetic head showing a fourth embodiment of the present invention.

【図7】イオンミリング法を用いて上部磁極をエッチン
グする工程の説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram of a process of etching the upper magnetic pole using an ion milling method.

【図8】従来の薄膜磁気ヘッドの概略図である。FIG. 8 is a schematic diagram of a conventional thin film magnetic head.

【図9】従来の方法で磁性膜をエッチングする工程の説
明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram of a process of etching a magnetic film using a conventional method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2…下部磁極、6…磁性膜、7…レジストマスク、9…
上部磁極、10…アース線、11…スルーホール。
2... Lower magnetic pole, 6... Magnetic film, 7... Resist mask, 9...
Upper magnetic pole, 10...ground wire, 11...through hole.

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基板上に磁性膜を形成してなる下部磁極と
上部磁極よりなる磁極、上下部磁極を電気的、磁気的に
分離する絶縁層、該絶縁層内にあって信号の入出力を行
なうコイル、および該基板上にあって該コイルと外部か
らの配線とを電気的に接続する2本の引出線を有して構
成した薄膜磁気ヘッドにおいて、該上部磁極の先端は基
板周辺部まで到達していることを特徴とする薄膜磁気ヘ
ッドの製造方法。
1. A magnetic pole consisting of a lower magnetic pole and an upper magnetic pole formed by forming a magnetic film on a substrate, an insulating layer that electrically and magnetically separates the upper and lower magnetic poles, and a signal input/output within the insulating layer. In a thin-film magnetic head configured with a coil for performing the above-described process and two lead wires on the substrate for electrically connecting the coil and external wiring, the tip of the upper magnetic pole is located near the periphery of the substrate. A method for manufacturing a thin film magnetic head, characterized in that the method achieves the following.
【請求項2】請求項1記載の薄膜磁気ヘッドを作製する
ために用いるホトマスクのパターンは、上部磁極の先端
がホトマスクの周辺部まで到達している形状であること
を特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。
2. The thin film magnetic head according to claim 1, wherein the pattern of the photomask used for manufacturing the thin film magnetic head has a shape in which the tip of the upper magnetic pole reaches the periphery of the photomask. Production method.
【請求項3】請求項1記載の薄膜磁気ヘッドにおいて上
部磁極をレジストマスクを用いたイオンミリング法によ
って形成する場合、この上部磁極の先端がアース電位と
なっていることを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法
3. In the thin film magnetic head according to claim 1, when the upper magnetic pole is formed by an ion milling method using a resist mask, the tip of the upper magnetic pole is at ground potential. manufacturing method.
【請求項4】請求項1,2または3記載の薄膜磁気ヘッ
ドにおいて上部磁極は下部磁極と電気的に接続している
ことを利用して、上部磁極の代わりに下部磁極の先端が
アース電位となっていることを特徴とする薄膜磁気ヘッ
ドの製造方法。
4. In the thin film magnetic head according to claim 1, 2 or 3, the top magnetic pole is electrically connected to the bottom magnetic pole, so that the tip of the bottom magnetic pole is connected to the ground potential instead of the top magnetic pole. A method for manufacturing a thin film magnetic head, characterized in that:
【請求項5】請求項4記載の薄膜磁気ヘッドを作製する
ために用いるホトマスクのパターンは、下部磁極の先端
がホトマスクの周辺部まで到達している形状であること
を特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。
5. The pattern of the photomask used for manufacturing the thin film magnetic head according to claim 4 is characterized in that the tip of the lower magnetic pole reaches the periphery of the photomask. Production method.
【請求項6】請求項1,2,3,4,5記載の薄膜磁気
ヘッドにおいて、アース線は上部又は下部磁極の先端以
外の部分に設けられていることを特徴とする薄膜磁気ヘ
ッドの製造方法。
6. Manufacturing a thin film magnetic head according to claim 1, 2, 3, 4, or 5, wherein the ground wire is provided at a portion other than the tip of the upper or lower magnetic pole. Method.
【請求項7】請求項6記載の薄膜磁気ヘッドにおいて、
アース線の途中に磁極接地用の端子を設けておき、基板
を磁気ヘッドスライダ状に加工したときにアース線が薄
膜磁気ヘッドと磁気ディスク間で生じる静電気による雑
音信号防止のためにも用いられるようにしたことを特徴
とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。
7. The thin film magnetic head according to claim 6, comprising:
A magnetic pole grounding terminal is provided in the middle of the ground wire, so that when the board is processed into a magnetic head slider, the ground wire can also be used to prevent noise signals due to static electricity generated between the thin-film magnetic head and the magnetic disk. A method of manufacturing a thin film magnetic head, characterized in that:
JP1115891A 1991-01-31 1991-01-31 Manufacture of thin-film magnetic head Pending JPH04245008A (en)

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JP1115891A JPH04245008A (en) 1991-01-31 1991-01-31 Manufacture of thin-film magnetic head

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0546941A (en) * 1991-08-13 1993-02-26 Tdk Corp Thin-film magnetic head and magnetic head device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0546941A (en) * 1991-08-13 1993-02-26 Tdk Corp Thin-film magnetic head and magnetic head device

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