JPH04225124A - 分散ホログラフィ分光計 - Google Patents
分散ホログラフィ分光計Info
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- JPH04225124A JPH04225124A JP3082578A JP8257891A JPH04225124A JP H04225124 A JPH04225124 A JP H04225124A JP 3082578 A JP3082578 A JP 3082578A JP 8257891 A JP8257891 A JP 8257891A JP H04225124 A JPH04225124 A JP H04225124A
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- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は一般に分光測定の分野に
、および特に分散ホログラフィ分光測定用の方法および
装置に関する。
、および特に分散ホログラフィ分光測定用の方法および
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】原子
粒子がある周波数の電磁放射線によって励起されるとき
、それらは特定の波長でいくらかの放射線を吸収するこ
とができ、そして異なった波長の電磁放射線或いは回転
のまたは振動のエネルギのような他の形でのエネルギを
放出することができる。赤外線をサンプルに照射するこ
とによってそして周波数の一定の範囲にわたって赤外線
の伝送された強度を検知することによって、赤外線スペ
クトルのその一定の範囲の波長にわたってのサンプルに
よって吸収された波長のスペクトルが作り出されること
ができる。異なった原子は異なった波長の放射線を吸収
するであろうため、各原子或いは分子の赤外線吸収スペ
クトルは独特のものである。ある分子がどの波長で赤外
線を吸収するであろうかを知ることによって、サンプル
の元素のおよび分子の構成要素は、サンプルの吸収スペ
クトルを基準サンプルの放射線の同じ強度における吸収
スペクトルと比較することで決定されることができる。
粒子がある周波数の電磁放射線によって励起されるとき
、それらは特定の波長でいくらかの放射線を吸収するこ
とができ、そして異なった波長の電磁放射線或いは回転
のまたは振動のエネルギのような他の形でのエネルギを
放出することができる。赤外線をサンプルに照射するこ
とによってそして周波数の一定の範囲にわたって赤外線
の伝送された強度を検知することによって、赤外線スペ
クトルのその一定の範囲の波長にわたってのサンプルに
よって吸収された波長のスペクトルが作り出されること
ができる。異なった原子は異なった波長の放射線を吸収
するであろうため、各原子或いは分子の赤外線吸収スペ
クトルは独特のものである。ある分子がどの波長で赤外
線を吸収するであろうかを知ることによって、サンプル
の元素のおよび分子の構成要素は、サンプルの吸収スペ
クトルを基準サンプルの放射線の同じ強度における吸収
スペクトルと比較することで決定されることができる。
【０００３】スペクトル情報は、分散方法および干渉計
方法と一般に呼ばれる２つの方法によって計測されるこ
とができる。干渉計方法では、電磁放射線は少なくとも
２つのパスに分割され、そして干渉縞に再結合される。 干渉縞は計測されてスペクトル情報を提供する。分散方
法は放射線を格子或いはプリズムによって成分波長に分
割する。そして成分波長の各組が個々に計測される。
方法と一般に呼ばれる２つの方法によって計測されるこ
とができる。干渉計方法では、電磁放射線は少なくとも
２つのパスに分割され、そして干渉縞に再結合される。 干渉縞は計測されてスペクトル情報を提供する。分散方
法は放射線を格子或いはプリズムによって成分波長に分
割する。そして成分波長の各組が個々に計測される。
【０００４】干渉計ホログラフィ分光測定の１つの形状
は、Ｃｏｏｋによる米国特許第 ４，７７９，９８４号
明細書に記載されている。その特許では、赤外線源は再
結像鏡に向けて放射線のビームを投射する。その鏡は赤
外放射線を、ホログラフィ分光計にアクセスする比較的
小さな孔の上に集中させる。ホログラフィ分光計は入射
放射線を別々の光ガイドによって２つのビームに分割す
る。そこで各光ガイドは放射線を単一の測地レンズ（ｇ
ｅｏｄｅｓｉｃ ｌｅｎｓ ）を通してビームを平行に
する。２つの光ビームは検知器のアレイにおいて干渉縞
に結合される。そして干渉縞が解明されてスペクトル情
報を提供することができる。
は、Ｃｏｏｋによる米国特許第 ４，７７９，９８４号
明細書に記載されている。その特許では、赤外線源は再
結像鏡に向けて放射線のビームを投射する。その鏡は赤
外放射線を、ホログラフィ分光計にアクセスする比較的
小さな孔の上に集中させる。ホログラフィ分光計は入射
放射線を別々の光ガイドによって２つのビームに分割す
る。そこで各光ガイドは放射線を単一の測地レンズ（ｇ
ｅｏｄｅｓｉｃ ｌｅｎｓ ）を通してビームを平行に
する。２つの光ビームは検知器のアレイにおいて干渉縞
に結合される。そして干渉縞が解明されてスペクトル情
報を提供することができる。
【０００５】上述の分光計システムは、ホログラフィ分
光計自身上の比較的小さな孔の中へと放射線を集中させ
る反射器を必要とするという欠点を有する。これは放射
線を反射器から孔へ指向させるためにサーボ機構を使用
する非常に正確な調整を必要とする。このような機構は
高価であり、そしてアラインメントのために非常に長い
時間を必要とする。
光計自身上の比較的小さな孔の中へと放射線を集中させ
る反射器を必要とするという欠点を有する。これは放射
線を反射器から孔へ指向させるためにサーボ機構を使用
する非常に正確な調整を必要とする。このような機構は
高価であり、そしてアラインメントのために非常に長い
時間を必要とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の広義の概念の教
示によって、分光計には放射線を源から検出且つ分析さ
れ得る成分波長へと分散させるためのホログラフィレン
ズが設けられる。
示によって、分光計には放射線を源から検出且つ分析さ
れ得る成分波長へと分散させるためのホログラフィレン
ズが設けられる。
【０００７】本発明の特定の実施例では、スペクトルデ
ータを分析するためのホログラフィ分光計が記載されて
いる。ホログラフィ分光計は、その１つの面に比較的大
きなホログラフィレンズを、別の面に電荷結合検知器（
ＣＣＤ）のアレイを、対向する面に１対の微調整電極を
有するブロック形状の絶縁圧電結晶を具備する。ホログ
ラフィレンズは遠隔の赤外線源から赤外放射線を受容し
、そしてその光を検知器アレイに指向させるか或いは集
中させる。ホログラフィレンズはそこに書き込まれたホ
ログラフィ干渉縞を有するので、著しく分散しそして入
来放射線を成分波長に分離する。レンズ上に書き込まれ
たホログラムを形成することによって、既知の周波数で
の入来放射線は正確に分散されることができるので、色
々な波長は検知器アレイの色々な検知器要素上に到来す
る。予め定められた電圧電位が微調整電極に印加される
と、電界は圧電ブロックに伸張或いは収縮を起こさせる
。圧電ブロックの伸張或いは収縮は、ホログラフィレン
ズから検知器までの放射線のパスを変化させる。これは
、分散された放射線の個々の波長がその源とホログラフ
ィレンズとがミスアラインメントの場合でも望ましい検
知器要素へ指向されるように分光計を調整するか、或い
は放射スペクトルの中央周波数の放射線が１つの検知器
成分から別の検知器成分へと動くであろうように分光計
を調整するかの目的を遂行する。検知器は自己走査して
おり、それ故にその上への入射波長のスペクトルを生成
することができる。
ータを分析するためのホログラフィ分光計が記載されて
いる。ホログラフィ分光計は、その１つの面に比較的大
きなホログラフィレンズを、別の面に電荷結合検知器（
ＣＣＤ）のアレイを、対向する面に１対の微調整電極を
有するブロック形状の絶縁圧電結晶を具備する。ホログ
ラフィレンズは遠隔の赤外線源から赤外放射線を受容し
、そしてその光を検知器アレイに指向させるか或いは集
中させる。ホログラフィレンズはそこに書き込まれたホ
ログラフィ干渉縞を有するので、著しく分散しそして入
来放射線を成分波長に分離する。レンズ上に書き込まれ
たホログラムを形成することによって、既知の周波数で
の入来放射線は正確に分散されることができるので、色
々な波長は検知器アレイの色々な検知器要素上に到来す
る。予め定められた電圧電位が微調整電極に印加される
と、電界は圧電ブロックに伸張或いは収縮を起こさせる
。圧電ブロックの伸張或いは収縮は、ホログラフィレン
ズから検知器までの放射線のパスを変化させる。これは
、分散された放射線の個々の波長がその源とホログラフ
ィレンズとがミスアラインメントの場合でも望ましい検
知器要素へ指向されるように分光計を調整するか、或い
は放射スペクトルの中央周波数の放射線が１つの検知器
成分から別の検知器成分へと動くであろうように分光計
を調整するかの目的を遂行する。検知器は自己走査して
おり、それ故にその上への入射波長のスペクトルを生成
することができる。
【０００８】本発明によってホログラフィレンズは、先
に引用された前の特許の反射器と２つの光導波管と測地
レンズとを置換する。さらに、小さな孔への放射線の指
向の必要性の排除は対象となる分光計をより頑健でより
正確でおよび製造するのにより廉価なものにする。さら
に、分光計の圧電による調整は対象となる発明に、上記
に引用された特許を上回ったより高い分解能と増加され
た速度とを提供する。本発明のさらなる目的、利点およ
び特徴は、添付の図面に関連して記述された以下の記載
および添付の請求項から明白になるであろう。
に引用された前の特許の反射器と２つの光導波管と測地
レンズとを置換する。さらに、小さな孔への放射線の指
向の必要性の排除は対象となる分光計をより頑健でより
正確でおよび製造するのにより廉価なものにする。さら
に、分光計の圧電による調整は対象となる発明に、上記
に引用された特許を上回ったより高い分解能と増加され
た速度とを提供する。本発明のさらなる目的、利点およ
び特徴は、添付の図面に関連して記述された以下の記載
および添付の請求項から明白になるであろう。
【０００９】
【実施例】以下の記載は本当に典型的なものであり、本
発明或いはその応用を限定するためのものでは決してな
い。
発明或いはその応用を限定するためのものでは決してな
い。
【００１０】図１を参照すると、コンパクト電界分光計
システム１０が、本発明の好ましい実施例によるホログ
ラフィ分光計１２を具備して示されている。分光計シス
テム１０は頑健且つ軽便であり、遠隔地でガスのスペク
トルを分析するのに使用できるシステムである。分光計
システム１０は、フィルタと分析されるサンプルを導入
するためのファンとを具備する取り入れ孔１８と、ハウ
ジングからガスを排出するためのものでありまたフィル
タを具備する排出孔２０とを有するハウジング１４を具
備する。分析されるガスを導入し排出する他の手段が使
用されることができる。孔１８および２０は、ハウジン
グ１４をほぼ気密性にするようにシールするための手段
を具備する。ハウジング１４は放射線源１６とホログラ
フィ分光計１２とを取り囲んでいる。放射線源１６は一
般に、ネルンスト灯のような市販されて入手可能な赤外
線源である。赤外線源１６からの赤外放射線光線２２は
ホログラフィ分光計１２に指向される。ホログラフィ分
光計１２は絶縁圧電結晶を４０を具備する。それは一般
に方形ブロック形状であり、その１つの短い面にはホロ
グラフィレンズ３８が取り付けられ、１つの長い面には
検知器アレイ３６が取り付けられ、そして対向する長い
面には微調整電極３２および３４が取り付けられている
。ホログラフィレンズ３８は源１６と向かい合っており
、そして赤外線光線２２を受容する。そしてホログラフ
ィレンズ３８は光線２２を、赤外線可透圧電ブロック４
０を通して検知器アレイ３６へと下記に記載されるであ
ろう方法で分散且つ指向する。
システム１０が、本発明の好ましい実施例によるホログ
ラフィ分光計１２を具備して示されている。分光計シス
テム１０は頑健且つ軽便であり、遠隔地でガスのスペク
トルを分析するのに使用できるシステムである。分光計
システム１０は、フィルタと分析されるサンプルを導入
するためのファンとを具備する取り入れ孔１８と、ハウ
ジングからガスを排出するためのものでありまたフィル
タを具備する排出孔２０とを有するハウジング１４を具
備する。分析されるガスを導入し排出する他の手段が使
用されることができる。孔１８および２０は、ハウジン
グ１４をほぼ気密性にするようにシールするための手段
を具備する。ハウジング１４は放射線源１６とホログラ
フィ分光計１２とを取り囲んでいる。放射線源１６は一
般に、ネルンスト灯のような市販されて入手可能な赤外
線源である。赤外線源１６からの赤外放射線光線２２は
ホログラフィ分光計１２に指向される。ホログラフィ分
光計１２は絶縁圧電結晶を４０を具備する。それは一般
に方形ブロック形状であり、その１つの短い面にはホロ
グラフィレンズ３８が取り付けられ、１つの長い面には
検知器アレイ３６が取り付けられ、そして対向する長い
面には微調整電極３２および３４が取り付けられている
。ホログラフィレンズ３８は源１６と向かい合っており
、そして赤外線光線２２を受容する。そしてホログラフ
ィレンズ３８は光線２２を、赤外線可透圧電ブロック４
０を通して検知器アレイ３６へと下記に記載されるであ
ろう方法で分散且つ指向する。
【００１１】ハウジング１４はまた、示されるようなふ
うに位置付けられたバス２８、モデム２６およびパルサ
２４を具備する。バス２８は電力を、赤外線源１６を付
勢するパルサ２４に提供する。パルサ２４は、サンプル
ガスのスペクトル分析が比較的短時間の間に行うことが
できるので、源１６の使用可能な寿命を増加させ、そし
て装置の安全性を増加させるために組み込まれている。 通常のパルス持続時間は一般に数秒である。ホログラフ
ィレンズ３８から検知器アレイ３６によって受容された
スペクトルデータはライン３０を経てモデム２６へ転送
される。モデム２６はこのデータを、分析のためにバス
２８に連結された電話線を介して遠隔コンピュータへ転
送する。コンピュータはスペクトルデータを分析してサ
ンプルガスの分子構成要素を決定し、そしてパルス持続
時間、検知される周波数の範囲等に関するコマンドを電
話線によって戻すことができる。
うに位置付けられたバス２８、モデム２６およびパルサ
２４を具備する。バス２８は電力を、赤外線源１６を付
勢するパルサ２４に提供する。パルサ２４は、サンプル
ガスのスペクトル分析が比較的短時間の間に行うことが
できるので、源１６の使用可能な寿命を増加させ、そし
て装置の安全性を増加させるために組み込まれている。 通常のパルス持続時間は一般に数秒である。ホログラフ
ィレンズ３８から検知器アレイ３６によって受容された
スペクトルデータはライン３０を経てモデム２６へ転送
される。モデム２６はこのデータを、分析のためにバス
２８に連結された電話線を介して遠隔コンピュータへ転
送する。コンピュータはスペクトルデータを分析してサ
ンプルガスの分子構成要素を決定し、そしてパルス持続
時間、検知される周波数の範囲等に関するコマンドを電
話線によって戻すことができる。
【００１２】操作においては、気密性ハウジング１４は
空にされるか或いは基準ガスを提供される。検知器アレ
イ３６は既知の手段によって、赤外線源１６の周波数の
範囲に修正される。そして赤外線源１６は基準スペクト
ルを発現するためにホログラフィ分光計１２に向けて赤
外線光線２２のパルスを射出する。基準スペクトルは一
般に、源１６からのＩＲ放射線をほとんど吸収しない。 そして分析されるガスは取り入れ孔１８を通してハウジ
ング１４の中へと導入される。赤外線源１６は、赤外線
光線２２を基準パルスと同じ持続時間のパルスとしてホ
ログラフィ分光計１２に向けて再度射出する。ハウジン
グ１４の中に位置付けられたサンプルガスは赤外線光線
２２と相互作用して、どんなガスが存在するかに依存し
てある波長で分子の吸収を引き起こす。ガス内の分子は
、検知器３６によって検知されない振動の或いは回転の
エネルギのようなエネルギの別の形で吸収されたＩＲ放
射線を放出する。検知器アレイ３６は基準スペクトルと
同じ周波数の範囲で放射線を再度検知して、吸収スペク
トルを発現する。電話線２８を介して分光計システム１
０に接続された遠隔コンピュータは基準スペクトルと吸
収スペクトルとを比較して、赤外放射線のどの波長が吸
収されたのか、そして何％の吸収が行われたのかを決定
する。どの周波数で赤外放射線がある分子の既知の吸収
特性によって吸収されたかを比較することによって、ど
の分子がおよびしたがってどのガスがハウジング１４の
中に存在するのかを決定することができる。さらに、伝
送された放射線の吸収された周波数での強度と伝送され
た基準スペクトルのそれらの周波数での強度とを比較す
ることによって、存在するそれぞれのガスのパーセンテ
ージ或いは量が計算されることができる。今図２を参照
すると、ホログラフィ分光計１２の詳細な記載が示され
ている。ホログラフィ分光計１２は、一般に方形形状で
ある赤外線可透絶縁圧電ブロック４０を使用する。１実
施例では圧電ブロック４０はニオブ酸リチウムであるが
、圧電特性を有するならびに赤外放射線に対して著しく
透明である他の材料でもあることもできる。１実施例で
は圧電ブロックは、寸法が５０ｍｍ×５０ｍｍであるほ
ぼ正方形の前面５０と、５０ｍｍ× １５０ｍｍの等し
い寸法である２つの向かい合った側面５２および５４と
を有する。ホログラフィレンズ３８は圧電ブロック４０
の前面５０上に位置付けられ、そして赤外線源１６に面
している。微調整電極３４は接着剤のような手段によっ
て一方の側面５４に取り付けられる。圧電ブロック４０
の側面５４の反対側の側面５２上には、第２の微調整電
極３４と検知器アレイ３６がある。電極３２および検知
器アレイ３６もまた、接着剤のような十分に既知の手段
によって圧電ブロック４０に接着される。圧電ブロック
４０は本発明の範囲から逸脱することなくその形状およ
び寸法を変化させることができる。ホログラフィレンズ
３８は、圧電ブロック４０の表面５０上に位置付けられ
た著しく分散的なホログラフィレンズである。ホログラ
フィレンズ３８自身はホログラフィ媒体上の干渉縞の記
録である。近ＩＲ応用に対するホログラフィ媒体は、ハ
ロゲン化銀エマルジョンによる分散層を有するガラスの
ようなＩＲ可透材料の基板であり得る。ハロゲン化銀は
、技術的に公知であるホログラフィ処理による光の干渉
ビームによって、書き込まれた干渉縞へと写真のように
現像される。この基板はＩＲ可透セメント或いはそのよ
うなものによって圧電ブロック４０に取り付けられる。 ホログラフィレンズ３８は、技術的に十分公知である手
段によって圧電ブロック４０上にエッチングされること
もできる。遠ＩＲ応用に対しては、ホログラフィレンズ
は当業者に公知である手段によってコンピュータで生成
されたホログラムを使用して作られることができる。
空にされるか或いは基準ガスを提供される。検知器アレ
イ３６は既知の手段によって、赤外線源１６の周波数の
範囲に修正される。そして赤外線源１６は基準スペクト
ルを発現するためにホログラフィ分光計１２に向けて赤
外線光線２２のパルスを射出する。基準スペクトルは一
般に、源１６からのＩＲ放射線をほとんど吸収しない。 そして分析されるガスは取り入れ孔１８を通してハウジ
ング１４の中へと導入される。赤外線源１６は、赤外線
光線２２を基準パルスと同じ持続時間のパルスとしてホ
ログラフィ分光計１２に向けて再度射出する。ハウジン
グ１４の中に位置付けられたサンプルガスは赤外線光線
２２と相互作用して、どんなガスが存在するかに依存し
てある波長で分子の吸収を引き起こす。ガス内の分子は
、検知器３６によって検知されない振動の或いは回転の
エネルギのようなエネルギの別の形で吸収されたＩＲ放
射線を放出する。検知器アレイ３６は基準スペクトルと
同じ周波数の範囲で放射線を再度検知して、吸収スペク
トルを発現する。電話線２８を介して分光計システム１
０に接続された遠隔コンピュータは基準スペクトルと吸
収スペクトルとを比較して、赤外放射線のどの波長が吸
収されたのか、そして何％の吸収が行われたのかを決定
する。どの周波数で赤外放射線がある分子の既知の吸収
特性によって吸収されたかを比較することによって、ど
の分子がおよびしたがってどのガスがハウジング１４の
中に存在するのかを決定することができる。さらに、伝
送された放射線の吸収された周波数での強度と伝送され
た基準スペクトルのそれらの周波数での強度とを比較す
ることによって、存在するそれぞれのガスのパーセンテ
ージ或いは量が計算されることができる。今図２を参照
すると、ホログラフィ分光計１２の詳細な記載が示され
ている。ホログラフィ分光計１２は、一般に方形形状で
ある赤外線可透絶縁圧電ブロック４０を使用する。１実
施例では圧電ブロック４０はニオブ酸リチウムであるが
、圧電特性を有するならびに赤外放射線に対して著しく
透明である他の材料でもあることもできる。１実施例で
は圧電ブロックは、寸法が５０ｍｍ×５０ｍｍであるほ
ぼ正方形の前面５０と、５０ｍｍ× １５０ｍｍの等し
い寸法である２つの向かい合った側面５２および５４と
を有する。ホログラフィレンズ３８は圧電ブロック４０
の前面５０上に位置付けられ、そして赤外線源１６に面
している。微調整電極３４は接着剤のような手段によっ
て一方の側面５４に取り付けられる。圧電ブロック４０
の側面５４の反対側の側面５２上には、第２の微調整電
極３４と検知器アレイ３６がある。電極３２および検知
器アレイ３６もまた、接着剤のような十分に既知の手段
によって圧電ブロック４０に接着される。圧電ブロック
４０は本発明の範囲から逸脱することなくその形状およ
び寸法を変化させることができる。ホログラフィレンズ
３８は、圧電ブロック４０の表面５０上に位置付けられ
た著しく分散的なホログラフィレンズである。ホログラ
フィレンズ３８自身はホログラフィ媒体上の干渉縞の記
録である。近ＩＲ応用に対するホログラフィ媒体は、ハ
ロゲン化銀エマルジョンによる分散層を有するガラスの
ようなＩＲ可透材料の基板であり得る。ハロゲン化銀は
、技術的に公知であるホログラフィ処理による光の干渉
ビームによって、書き込まれた干渉縞へと写真のように
現像される。この基板はＩＲ可透セメント或いはそのよ
うなものによって圧電ブロック４０に取り付けられる。 ホログラフィレンズ３８は、技術的に十分公知である手
段によって圧電ブロック４０上にエッチングされること
もできる。遠ＩＲ応用に対しては、ホログラフィレンズ
は当業者に公知である手段によってコンピュータで生成
されたホログラムを使用して作られることができる。
【００１３】ホログラフレンズ３８上の干渉縞の記録は
高度な制御が可能であり、それ故に干渉縞によって創製
される分散の効果は非常に正確に作られる。書き込まれ
た干渉縞は異なった波長の光が互いから効果的に分離す
ることを可能にする。それ故に、基本的にホログラフィ
レンズ３８は非常に大きい色収差を有し、そして入射光
に対する格子として作用する。ホログラフィレンズ３８
上に入射した光の周波数の範囲を知ることによって、光
の個々の周波数の方向および分散は正確に決定されるこ
とができる。
高度な制御が可能であり、それ故に干渉縞によって創製
される分散の効果は非常に正確に作られる。書き込まれ
た干渉縞は異なった波長の光が互いから効果的に分離す
ることを可能にする。それ故に、基本的にホログラフィ
レンズ３８は非常に大きい色収差を有し、そして入射光
に対する格子として作用する。ホログラフィレンズ３８
上に入射した光の周波数の範囲を知ることによって、光
の個々の周波数の方向および分散は正確に決定されるこ
とができる。
【００１４】図２に見られるように、レンズ３８上の特
定の箇所でホログラフィレンズ３８上に入射した赤外放
射線２２は異なった成分波長の光に分離され、そして検
知器アレイ３６に指向させられる。箇所５６および５８
上に入射した赤外放射線２２は、明確に別個の波長を有
する成分波長４４および４６に分離される。ホログラフ
ィレンズ３８は、異なった箇所でレンズ３８上に入射す
るが同じ波長を有する光を検知器アレイ３６に向けて同
じ位置４２に指向させることができる。それ故に、ホロ
グラフィレンズ３８の分散効果は、それによってレンズ
上のどこにでも入射する同じ波長を有する光が同じ位置
に指向されるであろう手段を提供する。書き込まれたホ
ログラフィ干渉縞とレンズ３８および検知器アレイ３８
の位置付けとを制御することによって、交差位置が検知
器アレイの所にセットされることができ、それ故にスペ
クトルを効果的に計測できる。
定の箇所でホログラフィレンズ３８上に入射した赤外放
射線２２は異なった成分波長の光に分離され、そして検
知器アレイ３６に指向させられる。箇所５６および５８
上に入射した赤外放射線２２は、明確に別個の波長を有
する成分波長４４および４６に分離される。ホログラフ
ィレンズ３８は、異なった箇所でレンズ３８上に入射す
るが同じ波長を有する光を検知器アレイ３６に向けて同
じ位置４２に指向させることができる。それ故に、ホロ
グラフィレンズ３８の分散効果は、それによってレンズ
上のどこにでも入射する同じ波長を有する光が同じ位置
に指向されるであろう手段を提供する。書き込まれたホ
ログラフィ干渉縞とレンズ３８および検知器アレイ３８
の位置付けとを制御することによって、交差位置が検知
器アレイの所にセットされることができ、それ故にスペ
クトルを効果的に計測できる。
【００１５】検知器アレイ３６は個々の検知器要素４８
に分離される。ホログラフィレンズ３８上に入射する光
線２２の周波数の望ましい作動可能な範囲を知ることに
よって、およびホログラフィレンズ３８と検知器アレイ
３６との間の距離を知ることによって、レンズ３８上の
書き込まれたホログラフィ画像は、ほぼある成分波長の
放射線のみが１つの検知器要素４８上に突き当たるであ
ろうようにし得る。検知器要素４８は一般に約２５マイ
クロメートル離れている。それ故にホログラフィ分光計
１２の分解能は非常に高い。何故なら、検知器アレイ３
６は狭い範囲の成分周波数から結果として生じる小スペ
クトル線を分離するのに敏感だからである。したがって
高分解能は、分光計にサンプルガス内の異なった分子構
造をより正確に区別させることができる。検知器アレイ
３６は一般に電荷結合検知器であるが、技術的に十分公
知であるいかなる適切な検知器であっても良い。検知器
アレイ３６は、広い範囲の周波数を走査することができ
る自己走査検知器アレイである。
に分離される。ホログラフィレンズ３８上に入射する光
線２２の周波数の望ましい作動可能な範囲を知ることに
よって、およびホログラフィレンズ３８と検知器アレイ
３６との間の距離を知ることによって、レンズ３８上の
書き込まれたホログラフィ画像は、ほぼある成分波長の
放射線のみが１つの検知器要素４８上に突き当たるであ
ろうようにし得る。検知器要素４８は一般に約２５マイ
クロメートル離れている。それ故にホログラフィ分光計
１２の分解能は非常に高い。何故なら、検知器アレイ３
６は狭い範囲の成分周波数から結果として生じる小スペ
クトル線を分離するのに敏感だからである。したがって
高分解能は、分光計にサンプルガス内の異なった分子構
造をより正確に区別させることができる。検知器アレイ
３６は一般に電荷結合検知器であるが、技術的に十分公
知であるいかなる適切な検知器であっても良い。検知器
アレイ３６は、広い範囲の周波数を走査することができ
る自己走査検知器アレイである。
【００１６】微調整電極３２および３４は、圧電ブロッ
ク４０の対向する面に取り付けられている。これらの電
極は、面５０に近い長い面５２および５４の前部部分に
貼り付けられている。電極３２および３４は一般に適切
な導電材料で作られており、十分に公知の手段によって
圧電ブロック４０に糊付けされている。微調整電極３２
および３４は、ホログラフィレンズ３８から検知器アレ
イ３６へと進む放射線の圧電的微同調を可能にする。電
極３２および３４に（図示されない手段によって）印加
された適切な電圧は圧電ブロック４０を伸張或いは収縮
させるので、光線４４および４６の方向は変化される。 一般に上述の寸法の圧電ブロックに印加された約 ２０
０ボルトの電圧電位は、成分波長を１つの検知器要素４
８から隣接する検知器要素へとシフトするであろう。
ク４０の対向する面に取り付けられている。これらの電
極は、面５０に近い長い面５２および５４の前部部分に
貼り付けられている。電極３２および３４は一般に適切
な導電材料で作られており、十分に公知の手段によって
圧電ブロック４０に糊付けされている。微調整電極３２
および３４は、ホログラフィレンズ３８から検知器アレ
イ３６へと進む放射線の圧電的微同調を可能にする。電
極３２および３４に（図示されない手段によって）印加
された適切な電圧は圧電ブロック４０を伸張或いは収縮
させるので、光線４４および４６の方向は変化される。 一般に上述の寸法の圧電ブロックに印加された約 ２０
０ボルトの電圧電位は、成分波長を１つの検知器要素４
８から隣接する検知器要素へとシフトするであろう。
【００１７】光線４４および４６の方向を調整すること
の利点の１つは、源１６と分光計１２とのミスアライン
メントの補償である。圧電ブロック４０の圧電的調整は
入射する赤外線光線２２を光線４４および４６が検知器
アレイ３６上の適切な検知器要素４８に入射されるよう
な位置でホログラフィレンズ３８に接触させるようにす
る。さらに微調整電極３２および３４に電圧を印加する
ことによって圧電ブロック４０が伸張或いは収縮するの
で、いかなる特定の波長も望ましい検知器要素４８に指
向させられるであろう。これはホログラフィ分光計１２
が比較的大きなホログラフィレンズ３８を正確に利用す
ることを可能にし、そして高分解能および精度をなおも
維持することを可能にする。
の利点の１つは、源１６と分光計１２とのミスアライン
メントの補償である。圧電ブロック４０の圧電的調整は
入射する赤外線光線２２を光線４４および４６が検知器
アレイ３６上の適切な検知器要素４８に入射されるよう
な位置でホログラフィレンズ３８に接触させるようにす
る。さらに微調整電極３２および３４に電圧を印加する
ことによって圧電ブロック４０が伸張或いは収縮するの
で、いかなる特定の波長も望ましい検知器要素４８に指
向させられるであろう。これはホログラフィ分光計１２
が比較的大きなホログラフィレンズ３８を正確に利用す
ることを可能にし、そして高分解能および精度をなおも
維持することを可能にする。
【００１８】操作では、ホログラフィレンズ３８は源１
６から赤外放射線２２を受容する。そしてホログラフィ
レンズ３８は放射線２２を成分波長に分散させ、そして
検知器アレイ３６に向けて個々の波長を指向させる。検
知器アレイ３６上に入射する分離した成分波長は異なっ
た検知器要素４８に突き当たる。それ故に検知器アレイ
３６によって採られる吸収スペクトルは高い分解能を有
する。何故なら、隣接するスペクトル線は異なった検知
器要素４８に突き当たるからである。微調整電極３２お
よび３４は、ホログラフィレンズ３８と検知器アレイ３
６との間を進む個々の波長を望ましい位置へと再調整す
ることによって、源１６と分光計１２とのミスアライン
メントを補償する。微調整電極３２および３４はまた、
ホログラフィレンズ３８と検知器アレイ３６との間を進
む個々の波長を１つの検知器要素から別の要素へと調整
させることができる。それ故に入射する放射線の範囲の
中央周波数は、検知器アレイ３６を上下に動かされるこ
とができる。
６から赤外放射線２２を受容する。そしてホログラフィ
レンズ３８は放射線２２を成分波長に分散させ、そして
検知器アレイ３６に向けて個々の波長を指向させる。検
知器アレイ３６上に入射する分離した成分波長は異なっ
た検知器要素４８に突き当たる。それ故に検知器アレイ
３６によって採られる吸収スペクトルは高い分解能を有
する。何故なら、隣接するスペクトル線は異なった検知
器要素４８に突き当たるからである。微調整電極３２お
よび３４は、ホログラフィレンズ３８と検知器アレイ３
６との間を進む個々の波長を望ましい位置へと再調整す
ることによって、源１６と分光計１２とのミスアライン
メントを補償する。微調整電極３２および３４はまた、
ホログラフィレンズ３８と検知器アレイ３６との間を進
む個々の波長を１つの検知器要素から別の要素へと調整
させることができる。それ故に入射する放射線の範囲の
中央周波数は、検知器アレイ３６を上下に動かされるこ
とができる。
【００１９】上述の発明は電子微同調を非常に速く且つ
正確にするという利点を有する。従来の技術の構成要素
の多くを排除することは、システムをより頑健でコンパ
クトで廉価なものにすることができる。特に、源から孔
の上への放射線の集中を排除することは非常に正確なサ
ーボ機構に対する要求を排除し、それ故にシステムのコ
スト、サイズおよびその壊れ易さを減少する。著しく分
散するホログラフィレンズ３８の使用は、システムが書
き込まれたホログラフィ画像の高度な制御が可能な分散
効果による高い精度およ分解能を有することを可能にす
る。これらの利点は、スペクトル分析或いは選択を必要
とする統合された電気光学か必要とされるときはいつで
も非常に有効である分光計を生成する。
正確にするという利点を有する。従来の技術の構成要素
の多くを排除することは、システムをより頑健でコンパ
クトで廉価なものにすることができる。特に、源から孔
の上への放射線の集中を排除することは非常に正確なサ
ーボ機構に対する要求を排除し、それ故にシステムのコ
スト、サイズおよびその壊れ易さを減少する。著しく分
散するホログラフィレンズ３８の使用は、システムが書
き込まれたホログラフィ画像の高度な制御が可能な分散
効果による高い精度およ分解能を有することを可能にす
る。これらの利点は、スペクトル分析或いは選択を必要
とする統合された電気光学か必要とされるときはいつで
も非常に有効である分光計を生成する。
【００２０】前記論議は、単に本発明の典型的な実施例
を記述且つ記載したのみである。当業者はこのような論
議および添付の図面および請求項から、種々の変化およ
び変形が上述の請求項に記載されるような本発明の意図
および範囲を逸脱することなくここで実行されることが
できることを容易に認めるであろう。
を記述且つ記載したのみである。当業者はこのような論
議および添付の図面および請求項から、種々の変化およ
び変形が上述の請求項に記載されるような本発明の意図
および範囲を逸脱することなくここで実行されることが
できることを容易に認めるであろう。
【図１】本発明によるホログラフィ分光計の１つの操作
形態を示す概略図。
形態を示す概略図。
【図２】本発明によるホログラフィ分光計の断面図。
１０…分光計システム、１２…ホログラフィ分光計、１
４…ハウジング、１６…放射線源、１８…取り入れ孔、
２０…排出孔、 ３２，３４…微調整電極、３６…検知
器アレイ、３８…ホログラフィレンズ、４０…圧電ブロ
ック、４８…検知器要素。
４…ハウジング、１６…放射線源、１８…取り入れ孔、
２０…排出孔、 ３２，３４…微調整電極、３６…検知
器アレイ、３８…ホログラフィレンズ、４０…圧電ブロ
ック、４８…検知器要素。
Claims (14)
- 【請求項１】 放射線を生成するための源手段と、前
記放射線を受容し且つ前記放射線を成分波長に分散させ
るために、その中に書き込まれた干渉縞を有するホログ
ラフィレンズ手段と、前記成分波長を検知するための手
段とを具備する放射線を分析するためのホログラフィ分
光計。 - 【請求項２】 前記源手段からの放射線に対してほぼ
透明である圧電ブロックと少なくとも２つの電極とをさ
らに具備しており、前記ホログラフィレンズ手段と検知
器手段と前記少なくとも２つの電極とが前記圧電ブロッ
クの外部面に取り付けられている請求項１記載のホログ
ラフィ分光計。 - 【請求項３】 前記検知器手段は検知器のアレイであ
り、前記ホログラフィレンズは成分波長の放射線を前記
源から検知器アレイのある検知器要素へと指向させ且つ
分散させる請求項１記載のホログラフィ分光計。 - 【請求項４】 検知器要素のアレイが自己走査する請
求項３記載のホログラフィ分光計。 - 【請求項５】 前記少なくとも２つの電極が前記圧電
ブロック内に電界を創製して、前記圧電ブロックは前記
ホログラフィレンズ手段によって分散された放射線の方
向を変化させるであろう請求項２記載のホログラフィ分
光計。 - 【請求項６】 前記検知器手段が検知器要素のアレイ
であり前記少なくとも２つの電極は前記圧電ブロック内
に電界を創製して、前記圧電ブロックが物理的に変化さ
れることによって前記ホログラフィレンズ手段によって
指向し且つ分散された放射線の特定の波長が１つの検知
器要素から別の検知器要素へと指向させられる請求項２
記載のホログラフィ分光計。 - 【請求項７】 検知器要素のアレイが自己走査する請
求項３記載のホログラフィ分光計。 - 【請求項８】 圧電ブロックがニオブ酸リチウムであ
る請求項２記載のホログラフィ分光計。 - 【請求項９】 前記圧電ブロックが方形ブロックであ
り、前記ホログラフィレンズ手段は前記方形ブロックの
１つの短い面に取り付けられており、前記少なくとも２
つの電極は前記方形ブロックの向かい合った長い面に取
り付けられており、前記検知器手段は前記ホログラフィ
レンズ手段を支持する短い面の反対側の端部で電極の内
の１つを有する長い面の１つに取り付けられている請求
項２記載のホログラフィ分光計。 - 【請求項１０】 放射線源から放射線の特定の周波数
を放射することと、ホログラフィレンズが放射線を検知
器に向けて指向させ且つ成分波長に分散させるように、
書き込まれた干渉縞を有するホログラフィレンズを通し
て源からの放射線を受容することのステップを具備する
スペクトル分析方法。 - 【請求項１１】 圧電ブロック上でホログラフィレン
ズと検知器とを位置付けるステップをさらに具備する請
求項１０記載のスペクトル分析方法。 - 【請求項１２】 圧電ブロック上に１対の電極を位置
付けることと、電極に電圧を印加して圧電ブロックを伸
張か或いは収縮させそしてホログラフィレンズから検知
器への放射線の方向を変化させることのステップをさら
に具備する請求項１１記載のスペクトル分析方法。 - 【請求項１３】 検知器が自己走査する検知器要素の
アレイであり、電極に印加された電圧が特定の波長の放
射線を１つの検知器要素から別の検知器要素へと指向さ
せる請求項１２記載のスペクトル分析方法。 - 【請求項１４】 分析されるガスサンプルを取り入れ
且つ排出するための手段を有するハウジング内で、圧電
ブロックと電極と放射線源とホログラフィレンズと検知
器とを位置付けるステップをさらに具備する請求項１２
記載のスペクトル分析方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/508,436 US5050992A (en) | 1990-04-13 | 1990-04-13 | Dispersive holographic spectrometer |
| US508436 | 1990-04-13 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04225124A true JPH04225124A (ja) | 1992-08-14 |
Family
ID=24022741
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3082578A Pending JPH04225124A (ja) | 1990-04-13 | 1991-04-15 | 分散ホログラフィ分光計 |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5050992A (ja) |
| EP (1) | EP0452095B1 (ja) |
| JP (1) | JPH04225124A (ja) |
| KR (1) | KR950008824B1 (ja) |
| CA (1) | CA2038446C (ja) |
| DE (1) | DE69110340T2 (ja) |
| FI (1) | FI911785A (ja) |
| NO (1) | NO911422L (ja) |
| TW (1) | TW203650B (ja) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB9200562D0 (en) * | 1992-01-11 | 1992-03-11 | Fisons Plc | Analytical device with polychromatic light source |
| US5900932A (en) * | 1993-07-02 | 1999-05-04 | Canon Information Systems, Inc. | Tristimulus template-type colorimeter |
| US5731874A (en) * | 1995-01-24 | 1998-03-24 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Discrete wavelength spectrometer |
| JP2000506274A (ja) * | 1996-03-05 | 2000-05-23 | ミカエル エス レビン | ホログラフィーガス分析器 |
| US5789733A (en) * | 1996-09-20 | 1998-08-04 | Motorola, Inc. | Smart card with contactless optical interface |
| US7376068B1 (en) * | 2000-08-19 | 2008-05-20 | Jehad Khoury | Nano-scale resolution holographic lens and pickup device |
| EP1205962A1 (en) * | 2000-11-10 | 2002-05-15 | Jobin Yvon S.A. | Method for monitoring and/or controlling the status of a plasma in a plasma spectrometer and spectrometer for implementing such a method |
| US7817274B2 (en) | 2007-10-05 | 2010-10-19 | Jingyun Zhang | Compact spectrometer |
| WO2009070459A1 (en) | 2007-11-30 | 2009-06-04 | Jingyun Zhang | Miniature spectrometers working with cellular phones and other portable electronic devices |
| US10458844B2 (en) | 2016-08-25 | 2019-10-29 | Abl Ip Holding Llc | Reconfigurable optical fiber spectrometer in a lighting device |
| US10281326B2 (en) * | 2016-08-25 | 2019-05-07 | Abl Ip Holding Llc | Fixture that provides light incorporating a reconfigurable spectrometer |
| US10365157B2 (en) | 2016-12-05 | 2019-07-30 | Abl Ip Holding Llc | Lighting device incorporating a hyperspectral imager as a reconfigurable sensing element |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4916482A (ja) * | 1972-05-22 | 1974-02-13 | ||
| JPS62121323A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-02 | Hitachi Ltd | 偏光測定装置 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3794426A (en) * | 1972-12-08 | 1974-02-26 | Bendix Corp | Holographic spectrometer |
| US4678332A (en) * | 1984-02-21 | 1987-07-07 | Dan Rock | Broadband spectrometer with fiber optic reformattor |
| JPS61160715A (ja) * | 1985-01-09 | 1986-07-21 | Canon Inc | 焦点距離可変レンズ |
| US4735486A (en) * | 1985-03-29 | 1988-04-05 | Grumman Aerospace Corporation | Systems and methods for processing optical correlator memory devices |
| US4779984A (en) * | 1987-02-24 | 1988-10-25 | Hughes Aircraft Company | Method and apparatus for holographic spectrometry |
| US4790654A (en) * | 1987-07-17 | 1988-12-13 | Trw Inc. | Spectral filter |
| US4815849A (en) * | 1987-12-30 | 1989-03-28 | Hewlett-Packard Company | Spectrometer using concave holographic diffraction grating |
| GB2219853A (en) * | 1988-06-14 | 1989-12-20 | Plessey Co Plc | A spectral filter |
-
1990
- 1990-04-13 US US07/508,436 patent/US5050992A/en not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-03-18 CA CA002038446A patent/CA2038446C/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-04-09 DE DE69110340T patent/DE69110340T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-04-09 EP EP91303127A patent/EP0452095B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-04-11 NO NO91911422A patent/NO911422L/no unknown
- 1991-04-12 FI FI911785A patent/FI911785A/fi not_active Application Discontinuation
- 1991-04-12 KR KR1019910005875A patent/KR950008824B1/ko active IP Right Grant
- 1991-04-15 JP JP3082578A patent/JPH04225124A/ja active Pending
- 1991-04-17 TW TW080103006A patent/TW203650B/zh active
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4916482A (ja) * | 1972-05-22 | 1974-02-13 | ||
| JPS62121323A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-02 | Hitachi Ltd | 偏光測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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