JPH042189A - Surface emitting semiconductor laser - Google Patents

Surface emitting semiconductor laser

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JPH042189A
JPH042189A JP10243590A JP10243590A JPH042189A JP H042189 A JPH042189 A JP H042189A JP 10243590 A JP10243590 A JP 10243590A JP 10243590 A JP10243590 A JP 10243590A JP H042189 A JPH042189 A JP H042189A
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JP
Japan
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layer
active layer
region
resonator
semiconductor laser
Prior art date
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Pending
Application number
JP10243590A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinsuke Ueno
上野 眞資
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH042189A publication Critical patent/JPH042189A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To provide a surface emitting semiconductor laser having multiple stages of emitting functions in a direction perpendicular to the laminated surface of a semiconductor layer by so constructing that the end face of a first double hetero structure and the end face of a second double hetero structure formed thereon through an insulting layer have oblique surfaces of 45 degrees in a longitudinal direction of a resonator. CONSTITUTION:A window is opened in parallel with an end face over 50mum from an end face on which a first clad layer 14 to fourth clad layer 22 are grown by using a photoresist method, and so dry etched that the upper part of the end face is pushed out obliquely at 45 degrees to the longitudinal direction of a resonator. When the dry etching is executed in depth until the surface of a high resistance layer 17 is exposed, a second oblique surface 23 in which a light oscillated by a second active layer 21 is reflected perpendicularly, is formed. Then, the entire surface is covered with a resist film, and the same end face side is so dry etched that the layer 17 is arrived at a substrate in a pushing direction obliquely at 45 degrees to the longitudinal direction of the resonator. Thus, a first oblique surface 24 in which the light oscillated in a first active layer 15 is reflected perpendicularly, is formed.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光情報処理分野において光スイツチ素子や光論
理演算素子等の光源として用いられる面発光半導体レー
ザに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a surface emitting semiconductor laser used as a light source for optical switch elements, optical logic operation elements, etc. in the field of optical information processing.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

平面に対して垂直方向に光を放出する面発光素子は高速
光スイッチ、光論理演算、光画像処理などの機能をもつ
機器の光源として用いられ、光情報処理装置、光コンピ
ュータなどの基本的な光機能デバイスとして広く注目さ
れ、現在研究開発が進められている。この面発光半導体
レーザとしては、半導体層の積層面に対して垂直な方向
にキャビティを持つ構造や、二次のグレーティングによ
り、共振器長て方向へ進行する光の一部を垂直方向に放
出する構造がある。また、これとは異なり、共振器長て
方向の延長上に45度の反射ミラーをもつ構造の半導体
レーザがある。この半導体レーザは、グレーティングを
設けた半導体レーザよりも構造・製法が簡単で有効な半
導体レーザとしてリウ(Z、L、Liau)とワオルボ
ール(J、N、Walpole)とによりアプライド・
フィジックス・レター(AppliedPhysics
 Letters)1985年46巻N[Li2115
頁から117頁に発表されている。この半導体レーザは
第8図に示すようにストライプ状のレーザ共振器101
の延長上に45度の反射面102を形成し共振器から放
出する光を45度の反射面で垂直方向に反射するもので
ある。
Surface-emitting devices that emit light in a direction perpendicular to the plane are used as light sources for devices with functions such as high-speed optical switches, optical logic operations, and optical image processing, and are used as basic devices such as optical information processing devices and optical computers. It has attracted wide attention as an optical functional device, and research and development is currently underway. This surface-emitting semiconductor laser has a structure with a cavity in a direction perpendicular to the laminated surface of the semiconductor layers, and a secondary grating that emits part of the light traveling in the longitudinal direction of the cavity in the vertical direction. There is a structure. Further, unlike this, there is a semiconductor laser having a structure in which a 45-degree reflecting mirror is provided on the extension of the resonator in the longitudinal direction. This semiconductor laser was developed by Liau (Z, L, Liau) and Walpole (J, N, Walpole) as an effective semiconductor laser with a simpler structure and manufacturing method than a semiconductor laser provided with a grating.
Physics Letter (Applied Physics
Letters) 1985 Volume 46 N [Li2115
Published on pages 117 to 117. This semiconductor laser has a striped laser resonator 101 as shown in FIG.
A 45-degree reflective surface 102 is formed on the extension of the resonator, and the light emitted from the resonator is reflected in the vertical direction by the 45-degree reflective surface.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

垂直キャビティ構造や二次のグレーティング構造の面発
光半導体レーザは、構造がきわめて複雑であり、面発光
素子の最大の利点である二次元的な配列をしてマトリッ
クス的なレーザ発振をさせる場合、均一なレーザ発振を
しないおそれがる。
Surface-emitting semiconductor lasers with a vertical cavity structure or a secondary grating structure have extremely complex structures. There is a risk that laser oscillation may not occur.

また、45度ミラーを用いた構造では、きれいな発光パ
ターンは得られておらず再現性にかげている欠点がある
Further, the structure using a 45-degree mirror has the disadvantage that a clear light emission pattern cannot be obtained and reproducibility is impaired.

さらに上記のすべての素子は単体もしくは単一平面内の
試作であり光集積回路として重要である半導体層の積層
面に垂直な方向への多段階の集積はいまだに提案されて
いない。また面発光型デバイスを組合せて光情報処理を
行う場合には単に面発光をするばかりでなく半導体層の
積層面に垂直な方向から注入される光に反応する素子構
造も必要である。
Furthermore, all of the above-mentioned elements are single units or prototypes within a single plane, and multi-stage integration in a direction perpendicular to the laminated plane of semiconductor layers, which is important for optical integrated circuits, has not yet been proposed. Furthermore, when performing optical information processing by combining surface-emitting devices, it is necessary to have an element structure that not only emits light from the surface but also responds to light injected from a direction perpendicular to the stacked surface of the semiconductor layers.

本発明の目的は上記諸欠点を除去し安定にかつ効率よく
垂直方向への光の放出をするとともに半導体層の積層面
に垂直な方向に多段階の放出機能を具備し、また半導体
層の積層面に垂直な方向から注入する光にも反応する面
発光半導体レーザを提供する事にある。
The purpose of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks, stably and efficiently emit light in the vertical direction, and provide a multi-stage emission function in the direction perpendicular to the laminated surface of semiconductor layers. An object of the present invention is to provide a surface-emitting semiconductor laser that reacts even to light injected from a direction perpendicular to the surface.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

前述の課題を解決するために本発明が提供する第1の手
段は、表面に凸状ストライプ領域を有し、かつ該凸状ス
トライプ領域のうち当該ストライプ領域上面の一部をし
めるストライプ状キャリア注入領域を除いた領域(すな
わち、凸状ストライフ領域の側面)および前記凸状スト
ライプ領域の両側の平坦な面に電流ブロック層を有する
半導体基板上に、第1の活性層を該第1の活性層よりも
バンドギャップの広い材質からなる第1および第2のク
ラッド層で挟んだストライプ状の第1のダブルヘテロ構
造を共振器の長て方向に少くとも一方の端面を含んで設
け、該第1のダブルヘテ四構造に隣接して絶縁層第を設
け、第2の活性層を該第2の活性層よりもバンドギャッ
プの広い材質からなる第3および第4のクラッド層で挟
んだストライプ状の第2のダブルヘテロ構造を該絶縁層
に隣接すると共に該1のダブルヘテロ構造の少くとも一
部に積重って具備し、さらに該第2のダブルヘテロ構造
が該ストライプ状キャリア注入領域にも隣接した状態に
おいて、該第1のダブルヘテロ構造の端面と該第1のダ
ブルヘテロ構造に積重なった該第2のダフルへテロ構造
の端面とが共振器の長て方向において、該凸状ストライ
プ領域上面に対して共振器の長て方向に切れこむ45度
の斜面を有している事を特徴とする面発光半導体レーザ
である。
A first means provided by the present invention to solve the above-mentioned problems is a striped carrier injection method that has a convex stripe region on the surface and covers a part of the upper surface of the stripe region of the convex stripe region. A first active layer is formed on a semiconductor substrate having a current blocking layer on a region other than the convex stripe region (i.e., the side surfaces of the convex stripe region) and on a flat surface on both sides of the convex stripe region. A striped first double heterostructure sandwiched between first and second cladding layers made of a material with a wider band gap than the first double heterostructure is provided in the longitudinal direction of the resonator, including at least one end surface, and A stripe-shaped insulating layer is provided adjacent to the double heterostructure of No. 1, and the second active layer is sandwiched between third and fourth cladding layers made of a material with a wider band gap than the second active layer. A second double heterostructure is provided adjacent to the insulating layer and stacked on at least a portion of the first double heterostructure, and the second double heterostructure is also provided in the striped carrier injection region. In the adjacent state, the end face of the first double heterostructure and the end face of the second duffle heterostructure stacked on the first double heterostructure form the convex stripe in the longitudinal direction of the resonator. This is a surface-emitting semiconductor laser characterized by having a 45-degree slope cut into the longitudinal direction of the resonator with respect to the upper surface of the region.

本発明の第2の手段は上記第1の手段において凸状スト
ライプ領域を凹状ストライプ領域にする事を特徴とする
面発光半導体レーザである。
A second means of the present invention is a surface emitting semiconductor laser characterized in that the convex stripe region in the first means is replaced with a concave stripe region.

本発明の第3の手段は上記第1の手段もしくは第2の手
段において第1の活性層と第2の活性層とのバンドギャ
ップが異なり互いに異なる波長て発振する事を特徴とす
る面発光半導体レーザである。
A third means of the present invention is a surface emitting semiconductor according to the first means or the second means, characterized in that the first active layer and the second active layer have different band gaps and oscillate at different wavelengths. It's a laser.

本発明の第4の手段は本発明の第3の手段において該第
1の活性層と該第2の活性層のうち該ストライプ状キャ
リア注入領域に隣接した部分とが共振器の長て方向にお
いてその延長上に位置し該第1活性層のうち該ストライ
プ状キャリア注入領域に隣接した部分の少くとも一部を
含む領域から半導体層の積層面に対して垂直になるよう
に、基板に隣接した該第1のクラッド層表面が露出する
まで該基板に穴をあける事を特徴とする面発光半導体レ
ーザである。
A fourth means of the present invention is that in the third means of the present invention, the first active layer and the portion of the second active layer adjacent to the striped carrier injection region are arranged in the longitudinal direction of the resonator. A region adjacent to the substrate, which is located on the extension thereof and includes at least a part of the portion of the first active layer adjacent to the striped carrier injection region, is perpendicular to the stacked surface of the semiconductor layer. The surface emitting semiconductor laser is characterized in that a hole is made in the substrate until the surface of the first cladding layer is exposed.

〔実施例〕〔Example〕

以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。 Hereinafter, the present invention will be explained in detail using the drawings.

第1図は本発明の第1の実施例の斜視図、第2図と第3
図は各々第1図のA−A’ 、B−B’断面図であり、
第4図は本発明の第2の実施例の斜・親図、第5図は本
発明の第3の実施例の共振器長て方向の断面図、第6図
は本発明の第4の実施例の共振器長て方向の断面図であ
る。
FIG. 1 is a perspective view of the first embodiment of the present invention, FIG.
The figures are AA' and BB' cross-sectional views of FIG. 1, respectively.
FIG. 4 is a perspective view of the second embodiment of the present invention, FIG. 5 is a sectional view in the longitudinal direction of the resonator of the third embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a diagram of the fourth embodiment of the present invention. FIG. 3 is a cross-sectional view in the longitudinal direction of the resonator of the embodiment.

第7図に示したように、p形G a A s基板101
上に5iCh膜11を設け、フォトレジスト法で共振器
の長て方向に幅3μmのストライプ状に5iOz膜を残
してその外部に窓をあけ深さ1.0μmエツチングする
。その後5if2膜11をそのまま拡散マスクとしてn
形不純物S(イオウ)を深さ0.5μm拡散する。この
とき凸状領域12にはその側面からSがそれぞれ深さ0
.5μm拡散され凸状の上面2μm程度がそのままp形
GaAsとしてストライプ状に残りこの領域がストライ
フ状キャリア注入領域12となる。S(イオウ)は凸状
外部のエツチングされた平面部分にも深さ0.5μm拡
散され凸状領域の両側面およびその外部の平面部分全体
がn形に変換され、これらの領域は電流ブロック層13
となる。次に5i02膜11を除去した後n形A I2
0.45 G a o、ss A s第1クラッド層1
4を0.8μm、アンドープA Ilo、+ G a 
G、9As第1活性層15を0.06μm、n形AA’
o4sG EL o、ss A S第2クラッド層16
を0.8μm、FeドープA II O,45G ao
、ss A S高抵抗層17を0.2μm M OV 
P E法で連続成長する。
As shown in FIG. 7, a p-type GaAs substrate 101
A 5iCh film 11 is provided on top, and a 5iOz film is left in the form of a stripe of 3 μm in width in the longitudinal direction of the resonator using a photoresist method, and a window is formed outside the film and etched to a depth of 1.0 μm. After that, use the 5if2 film 11 as a diffusion mask.
A type impurity S (sulfur) is diffused to a depth of 0.5 μm. At this time, the convex region 12 has a depth of 0 from the side surface.
.. After being diffused by 5 μm, the convex top surface of about 2 μm remains as p-type GaAs in a stripe shape, and this region becomes a stripe-shaped carrier injection region 12. S (sulfur) is also diffused to a depth of 0.5 μm in the etched planar area outside the convex area, converting both sides of the convex area and the entire planar area outside thereof into n-type, and these areas are covered with a current blocking layer. 13
becomes. Next, after removing the 5i02 film 11, the n-type A I2
0.45 Ga o, ss A s first cladding layer 1
4 to 0.8 μm, undoped A Ilo, + Ga
G, 9As first active layer 15 of 0.06 μm, n-type AA'
o4sG EL o, ss A S second cladding layer 16
0.8 μm, Fe-doped A II O, 45G ao
, ss A S high resistance layer 17 with a thickness of 0.2 μm M OV
Continuous growth using PE method.

上記成長においてMOVPE法は有機金属を用いた気相
成長法であるので混合ガスの組成を変化させる事で任意
の組成の層を任意の多層に容易に成長させる事ができる
ので本発明の構造の成長を制御よく行う事ができる。更
にMOVPE法では各組成の粒子が結合しながら成長し
ていくので本発明の構造の如く凸状の形状をもつ基板上
に多層成長させると凸状の領域では凸部の形状に沿って
−様な層厚の層が成長していく。
In the above growth, the MOVPE method is a vapor phase growth method using an organic metal, so by changing the composition of the mixed gas, layers of any composition can be easily grown into any multilayer structure. Growth can be well controlled. Furthermore, in the MOVPE method, particles of each composition grow while bonding, so when multilayer growth is performed on a substrate with a convex shape as in the structure of the present invention, in the convex region, the particles of different compositions grow in a manner that follows the shape of the convex part. A thick layer grows.

次に成長表面にフォトレジスト法を用いて共振器端面か
ら250μmレジスト膜を残して端面に平行に窓をあけ
各成長層をエツチングする。上記エツチングはリン酸系
のエツチング液で容易にエツチングする事ができる。エ
ツチングにより凸状領域をもつ基板表面があられれた後
アンモニア液と過酸化水素水との混合液で表面をエツチ
ングする。この混合液ではGaAsはエツチングされる
がAρG a A sでは表面が酸化されエツチングさ
れない。このときGaAs基板ではn形に変換された電
流ブロック層13がエツチングされてしまわないように
注意する。こうして成長層の表面には高抵抗層17、ま
た成長層のエツチング側面には酸化された各AρGaA
s成長層が形成され成長層表面全体は電気的に絶縁され
る(AAGaAs酸化側面18)。
Next, each grown layer is etched using a photoresist method on the growth surface to leave a resist film of 250 μm from the end face of the resonator and to open a window parallel to the end face. The above etching can be easily carried out using a phosphoric acid-based etching solution. After the surface of the substrate having convex regions is roughened by etching, the surface is etched with a mixed solution of ammonia solution and hydrogen peroxide solution. With this mixed solution, GaAs is etched, but with AρGaAs, the surface is oxidized and is not etched. At this time, care must be taken to avoid etching the current blocking layer 13 converted to n-type in the GaAs substrate. In this way, a high resistance layer 17 is formed on the surface of the grown layer, and each oxidized AρGaA layer 17 is formed on the etched side surface of the grown layer.
A growth layer is formed and the entire surface of the growth layer is electrically insulated (AAGaAs oxidized side surface 18).

次にレジスト膜を除去後、AρGaAsとGaAsを数
人ずつ交互にくりかえして成長し、超格子膜19を形成
する。この超格子膜は組成と膜厚との調整によりレーザ
光に対して全反射膜にする事ができる。これに続いてp
形A 40.45 G a o、5sAs第3クラッド
層20を1.0μm、アンドープA 12 a、+ G
 IL 0.9 A S第2活性層21を0.04μm
n形A n o、ss G a o、ssA S第4ク
ラッド層22を1.0μm  MOVPE法で連続成長
する。これらの成長層は凸状領域をもつ基板の上と前記
高抵抗層17および酸化されたAj7GaAs成長側面
18に沿って成長する。
Next, after removing the resist film, AρGaAs and GaAs are grown alternately in several layers to form a superlattice film 19. This superlattice film can be made into a film that totally reflects laser light by adjusting the composition and film thickness. This is followed by p
Type A 40.45 Ga o, 5sAs third cladding layer 20 1.0 μm, undoped A 12 a, + G
IL 0.9 A S second active layer 21 is 0.04 μm
The n-type A no, ss Ga o, and ss AS fourth cladding layers 22 are successively grown to a thickness of 1.0 μm using the MOVPE method. These growth layers grow on the substrate with convex regions and along the high resistance layer 17 and the oxidized Aj7GaAs growth flanks 18.

次にフォトレジスト法を用いて第1クラッド層14から
第4クラッド層22までが成長した端面から50μmに
わたって端面に平行に窓をあけ共振器の長て方向に対し
て斜め45度端面上部がせり出した形状にドライエツチ
ングする。このときレジスト膜がエツチングマスクとな
る。またドライエツチングをする際には垂直なドライエ
ツチングビームに対して基板を45度傾むけておくとよ
い。ドライエツチングの深さは高抵抗層17の表面が出
るまでおこなうと第2活性層21で発振した光が垂直方
向に反射される第2斜面23が形成される。
Next, using a photoresist method, a window is opened parallel to the end face over a distance of 50 μm from the end face where the first cladding layer 14 to the fourth cladding layer 22 have been grown, and the upper part of the end face protrudes at an angle of 45 degrees with respect to the longitudinal direction of the resonator. Dry etching into the desired shape. At this time, the resist film serves as an etching mask. Further, when performing dry etching, it is preferable to tilt the substrate at 45 degrees with respect to the vertical dry etching beam. If the dry etching is performed to a depth such that the surface of the high-resistance layer 17 is exposed, a second slope 23 is formed on which the light oscillated by the second active layer 21 is reflected in the vertical direction.

次に表面全体をレジスト膜でおおい、上記と同じ端面側
を共振器の長て方向に対して斜め45度高抵抗層17が
せり出す方向に基板に達するまでドライエツチングする
。こうして第1活性層15で発振した光が垂直方向に反
射される第1斜面24が形成される。
Next, the entire surface is covered with a resist film, and the same end face side as described above is dry etched in the direction in which the high resistance layer 17 protrudes at an angle of 45 degrees with respect to the longitudinal direction of the resonator until it reaches the substrate. In this way, a first slope 24 is formed on which the light oscillated by the first active layer 15 is reflected in the vertical direction.

次に高抵抗層17に溝を第2クラッド層16まであけ、
この溝に第1n形オーミツクコンタクト25を形成する
。また、第4クラッド層21の表面に第2n形オーミツ
クコンタクト26をつけ、p形GaAs基板10にp形
オーミックコンタクト27をつけると本発明の第1の実
施例の面発光半導体レーザが得られる(第1図、第2図
、第3図)。
Next, a groove is made in the high resistance layer 17 up to the second cladding layer 16,
A first n-type ohmic contact 25 is formed in this groove. Further, by attaching a second n-type ohmic contact 26 to the surface of the fourth cladding layer 21 and attaching a p-type ohmic contact 27 to the p-type GaAs substrate 10, a surface emitting semiconductor laser according to the first embodiment of the present invention can be obtained. (Figure 1, Figure 2, Figure 3).

上記第1の実施例において基板に形成した凸状領域のか
わりに基板に凹状領域を形成する。このとき第8図の如
くp形G a A s基板10上にn形GaAs層を形
成しn形GaAs層に共振器の長て方向にストライプ状
の溝をp形GaAs基板10に達する深さまで形成する
。このn形GaAs層が電流ブロック層13となるが、
第1の実施例よりも電流ブロック効果は大きくより効果
的である。他は第1の実施例と同様に作ると本発明の第
2の実施例の面発光半導体レーザが得られる(第4図)
A concave region is formed on the substrate in place of the convex region formed on the substrate in the first embodiment. At this time, as shown in FIG. 8, an n-type GaAs layer is formed on the p-type GaAs substrate 10, and striped grooves are formed in the n-type GaAs layer in the longitudinal direction of the resonator to a depth that reaches the p-type GaAs substrate 10. Form. This n-type GaAs layer becomes the current blocking layer 13,
The current blocking effect is larger and more effective than in the first embodiment. The surface emitting semiconductor laser of the second embodiment of the present invention can be obtained by manufacturing the other components in the same manner as the first embodiment (FIG. 4).
.

上記第1と第2との実施例において第1活性層15をア
ンドープA (l a、+ s G a o、s s 
A s第1活性層28とすると、本発明の第3の実施例
の面発光半導体レーザが得られる(第5図)。この第3
の実施例において、第3クラッド層19の成長層厚を調
整し、ストライプ状キャリア注入領域12の上の第1活
性層28と凸状領域もしくは凹状領域をもつ基板上に成
長した第2活性層21のうち、ストライプ状キャリア注
入領域に隣接した部分とが共振器の長て方向において同
一平面内にくるようにする。次に凸状領域もしくは凹状
領域をもつ基板上に成長した第1活性層28のうちスト
ライプ状キャリア注入領域12の上に位置する部分の一
部から基板に垂直におろした点を中心としてレジスト膜
を保護膜としてドライエツチングおよび化学エツチング
を用いて第1クラッド層14の表面が現われるまで基板
lOに穴29をほると本発明の第4の実施例の面発光半
導体レーザが得られる。
In the first and second embodiments, the first active layer 15 is undoped A (la, + s Ga o, s s
When the As first active layer 28 is used, a surface emitting semiconductor laser according to the third embodiment of the present invention is obtained (FIG. 5). This third
In this embodiment, the growth layer thickness of the third cladding layer 19 is adjusted so that the first active layer 28 on the striped carrier injection region 12 and the second active layer grown on the substrate having a convex region or a concave region are formed. 21, the portion adjacent to the striped carrier injection region is placed in the same plane in the longitudinal direction of the resonator. Next, a resist film is formed from a part of the first active layer 28 grown on the substrate having a convex region or a concave region, at a point perpendicular to the substrate, which is located above the striped carrier injection region 12. By using dry etching and chemical etching as a protective film, a hole 29 is bored in the substrate IO until the surface of the first cladding layer 14 is exposed, thereby obtaining a surface emitting semiconductor laser according to a fourth embodiment of the present invention.

このとき超格子反射膜19は第1活性層28のレーザ光
を50%反射するようにしておく、(第6図)。
At this time, the superlattice reflective film 19 is designed to reflect 50% of the laser beam from the first active layer 28 (FIG. 6).

〔作用〕[Effect]

第1n形オーミツクコンタクト25と基板10上のp形
オーミックコンタクト27との間に電圧をかけると次の
動作が生じる。
When a voltage is applied between the first n-type ohmic contact 25 and the p-type ohmic contact 27 on the substrate 10, the following operation occurs.

本発明の構造においてp形基板10では凸状の上面の中
央部分以外はその表面部分は電流ブロック層13になっ
ているので、p形基板側から注入された電流は凸状の上
面の中央部分のキャリア注入領域12のみを通って第1
クラッド層14に注入されこの層に隣接する第1活性層
15に注入される。このときキャリアは凸状の上に位置
する部分の第1活性層15に注入される。活性層に注入
されたキャリアは活性層水平横方向に拡散していき凸状
領域の上に位置する部分を中心として利得分布を形成し
レーザ発振を開始する。
In the structure of the present invention, the surface of the p-type substrate 10 except for the central portion of the convex top surface is the current blocking layer 13, so that the current injected from the p-type substrate side is transmitted to the central portion of the convex top surface. through only the carrier injection region 12 of the first
It is implanted into the cladding layer 14 and into the first active layer 15 adjacent to this layer. At this time, carriers are injected into the portion of the first active layer 15 located above the convex shape. The carriers injected into the active layer diffuse in the horizontal and lateral directions of the active layer, form a gain distribution centered on the portion located above the convex region, and start laser oscillation.

特に本発明の構造では第3図にみられるように活性層水
平横方向において活性領域となる凸状部分にある活性層
は第2クラット層16にはさみこまれている。従って活
性層の光は活性層水平横方向では屈折率の高い活性領域
に集光し正の屈折率分布にもとづく正の屈折率カイディ
ング機構によりモード制御されている。よって安定な基
本横モード発振を維持することができる。
In particular, in the structure of the present invention, as shown in FIG. 3, the active layer in the convex portion that becomes the active region in the horizontal direction of the active layer is sandwiched between the second crat layers 16. Therefore, light in the active layer is focused on the active region having a high refractive index in the horizontal direction of the active layer, and is mode-controlled by a positive refractive index queiding mechanism based on a positive refractive index distribution. Therefore, stable fundamental transverse mode oscillation can be maintained.

上記のレーザ発振において共振器の長て方向において第
1活性層15の活性領域で発光した光の一方はA I2
 G a A s酸化側面18をへて超格子反射膜19
に達し全反射される。全反射した光は活性領域を通り第
1斜面24方向へ進行し第1斜面24で直角に反射され
垂直方向に進行する。こうして高抵抗層17に達すると
一部は放出され他は反射されもとの道を逆にもどり最終
的には高抵抗層17と超格子反射膜19との間に共振器
が形成されレーザ発振が生じる(第2図の破線)。
In the above laser oscillation, one of the lights emitted from the active region of the first active layer 15 in the longitudinal direction of the cavity is A I2
The superlattice reflective film 19 passes through the G a As oxidized side surface 18
reaches and is totally reflected. The totally reflected light passes through the active region and travels in the direction of the first slope 24, is reflected at right angles from the first slope 24, and travels in the vertical direction. In this way, when it reaches the high resistance layer 17, part of it is emitted and the other part is reflected and returns in the opposite direction. Finally, a resonator is formed between the high resistance layer 17 and the superlattice reflective film 19, and laser oscillation occurs. occurs (dashed line in Figure 2).

また、第2 n形オーミックコンタクト26と基板10
上のp形オーミックコンタクト27との間に電圧をかけ
ると上記と同様な動作が第2活性層21において生じる
。すなわち、p形基板10から注入された電流は凸状領
域上面の中央部分のキャリア注入領域12のみを通り第
3クラッド層20から第2活性層21に注入される。そ
してこの第2活性層21のうち凸状領域の上に位置する
部分を中心として利得分布が形成されレーザ発振を開始
する。
In addition, the second n-type ohmic contact 26 and the substrate 10
When a voltage is applied between the upper p-type ohmic contact 27 and the upper p-type ohmic contact 27, an operation similar to that described above occurs in the second active layer 21. That is, the current injected from the p-type substrate 10 is injected from the third cladding layer 20 into the second active layer 21 through only the carrier injection region 12 at the center of the upper surface of the convex region. Then, a gain distribution is formed centered on the portion of the second active layer 21 located above the convex region, and laser oscillation is started.

この活性領域となる凸状領域の上に位置する部分の活性
層はその両端は第4クラッド層22ではさみこまれてい
る。従って光は屈折率の高い活性領域に集光し正の屈折
率ガイディンダ機構でモード制御される。よって安定な
基本横モード発振を維持することができる。
The active layer located above the convex region serving as the active region is sandwiched between the fourth cladding layers 22 at both ends thereof. Therefore, light is focused on the active region with a high refractive index and mode-controlled by a positive refractive index guiding mechanism. Therefore, stable fundamental transverse mode oscillation can be maintained.

共振器の長て方向において、活性領域で発光した光は第
2活性層21のうち凸状領域の上に位置する部分を進行
する。第2図に示すように、この活性層はまがっている
が、活性層の屈折率が高く、また、まがりの曲率ぎ小さ
いので光は活性層内に集光して進行する。光のうち第2
斜面23の方へ進行したものは第2斜面23で直角に反
射され、垂直上方向に進行していく。そして一部は第4
クラッド層22から放出され、一部は反射されてもとの
道をもどり共振器端面に達し、第4クラッド層と共振器
端面との間に共振器が形成されレーザ発振が生じる。
In the longitudinal direction of the resonator, light emitted from the active region travels through a portion of the second active layer 21 located above the convex region. As shown in FIG. 2, this active layer is curved, but since the active layer has a high refractive index and the curvature of the curve is small, light is condensed within the active layer and travels. second out of light
Those traveling toward the slope 23 are reflected at right angles by the second slope 23 and proceed vertically upward. and some are fourth
It is emitted from the cladding layer 22, and a part of it is reflected and returns to the original path to reach the resonator end facet, and a resonator is formed between the fourth cladding layer and the resonator end facet, and laser oscillation occurs.

また本発明の構造では、第1クラッド層14゜第1活性
層15.第2クラッド層16のダブルヘテロ構造のまわ
りは電気的に絶縁されているので、第3クラツド層20
.第2活性層21.第4クラッド層22のダブルヘテロ
構造とそれぞれ独立に動作させる事ができる。面発光す
る2つの発振光をレンズで集光して強度変化(両者発振
2片方発振2両者とも発振なし)として利用することも
でき、また発振点が50μmはなれているので、それぞ
れ独立した面発光光源として利用することもできる。
Further, in the structure of the present invention, the first cladding layer 14.degree., the first active layer 15.degree. Since the area around the double heterostructure of the second cladding layer 16 is electrically insulated, the third cladding layer 20
.. Second active layer 21. They can be operated independently of the double heterostructure of the fourth cladding layer 22. It is also possible to use a lens to focus two oscillation lights that emit light from a surface and use them as intensity changes (both oscillate, one oscillate, and neither oscillate).Also, since the oscillation points are separated by 50 μm, each surface emits independently. It can also be used as a light source.

本発明の第2の構造では、上記の凸状領域を凹状領域に
したものである。上記の第1の実施例と同様な原理で動
作し同じ効果をもつが凹状にしたことにより更に次の効
果をもつ。まず、凹状領域の電流注入領域を形成する際
には、実施例で述べた如く、p形GaAs基板10上に
n形GaAs層を成長した後ストライプ状の溝をp形G
aAs基板に達するまであける。このときn形G a 
A s層が電流ブロック層13となるが、第1の実施例
よりも電流ブロック効果が大きい。従ってp形G a 
A s基板lOから注入されたキャリアはより有効に活
性層内にはいりレーザ発振に寄与するため、第1の実施
例より低閾値発振が可能である。
In the second structure of the present invention, the above-mentioned convex region is made into a concave region. It operates on the same principle as the first embodiment and has the same effect, but by making it concave, it has the following effect. First, when forming the current injection region in the concave region, as described in the embodiment, an n-type GaAs layer is grown on the p-type GaAs substrate 10, and then a striped groove is formed on the p-type GaAs substrate 10.
Open until you reach the aAs substrate. At this time, n-type Ga
The As layer becomes the current blocking layer 13, and the current blocking effect is greater than that in the first embodiment. Therefore, p-type Ga
Since the carriers injected from the As substrate IO more effectively enter the active layer and contribute to laser oscillation, lower threshold oscillation is possible than in the first embodiment.

更に、この第2の構造の場合第1活性層15の活性領域
両端は第1クラッド層14で挟まれ、第2活性層21の
両側は第3クラッド層20で挟まれ、それぞれ正の屈折
率ガイデイング機構をもっているが、この第2活性層の
両側の幅は第1活性層15につみ重なった領域では、第
1活性層15の共振器の長て方向にはなれて形成された
ストライブ状キャリア注入領域に隣接した部分の第2活
性層21よりも狭くなっている。この広い幅をもつ領域
の第2活性層21が活性領域となるのに対し、レーザ発
振光が第2斜面23方向に進行すると第2活性層は横幅
の狭い光導波路として作用するので、第2斜面23で反
射されて垂直に放射される光は集光されたものになって
いる。これに対して第1の実施例では逆に反射される領
域近傍の第2活性層の横幅は広くなる傾向にあり、光の
集光性は悪くなる。
Furthermore, in the case of this second structure, both ends of the active region of the first active layer 15 are sandwiched between the first cladding layers 14, and both sides of the second active layer 21 are sandwiched between the third cladding layers 20, each having a positive refractive index. Although the second active layer has a guiding mechanism, the width of both sides of the second active layer is such that in the region where it overlaps the first active layer 15, strip-shaped carriers formed apart from each other in the longitudinal direction of the resonator of the first active layer 15 are formed. It is narrower than the portion of the second active layer 21 adjacent to the implanted region. The second active layer 21 in this wide region becomes an active region, whereas when the laser oscillation light travels in the direction of the second slope 23, the second active layer acts as a narrow optical waveguide, so the second active layer 21 becomes an active region. The light reflected by the slope 23 and emitted vertically is concentrated. On the other hand, in the first embodiment, the width of the second active layer near the reflected region tends to become wider, and the light condensing property deteriorates.

本発明の第3の構造では、第1活性層28と第2活性層
21とのレーザ発振波長が異なる。従って第1斜面24
で直角に曲がり垂直に放射されるレーザ発振光が波長λ
1であるのに対し、第2斜面23で直角に曲がり垂直に
放射されるレーザ発振光の波長はλ2となり、2波長面
発光レーザになる。
In the third structure of the present invention, the first active layer 28 and the second active layer 21 have different laser oscillation wavelengths. Therefore, the first slope 24
The laser oscillation light that is bent at a right angle and emitted vertically has a wavelength of λ
1, whereas the wavelength of the laser oscillation light that is bent at a right angle at the second slope 23 and emitted vertically is λ2, making it a two-wavelength surface emitting laser.

本発明の第4の構造では、第1活性層28と第2活性層
21の活性領域とがストライプ長て方向に連なっており
、更に、第1活性層28の活性領域の一部を含んだ垂直
方向の基板に穴29がおいている。このとき実施例の如
く第1活性層28のバンドギャップ(レーザ発振波長λ
1)は第2活性Jli121のバンドギャップ(レーザ
発振波長久2)よりも広くしておく。この構造において
、第1活性層28と第2活性層21とをそれぞれがレー
ザ発振する直前程度に励起しておく。この状態において
穴29からλ、より波長の長いレーザ光を注入してやる
。第1活性層はこの光を吸収し、この領域のキャリアが
励起され、その結果光ポンプによりレーザ発振を開始す
る。このレーザ発振光のうち、A 12 G a A 
s酸化側面18をへて超格子反射膜19に達したものは
その50%は反射され再びもとの道をたどり、のこりの
光は透過して第3クラッド層20内を進行するが、その
共振器長て方向に屈折率の高い第2活性層21があるの
で、これに集光して進行する。その結果、第2活性層2
1も光ポンプによりレーザ発振を開始する。これに対し
、穴29からのレーザ注入光の波長λ。
In the fourth structure of the present invention, the first active layer 28 and the active region of the second active layer 21 are continuous in the stripe length direction, and further include a part of the active region of the first active layer 28. A hole 29 is placed in the vertical substrate. At this time, as in the embodiment, the band gap of the first active layer 28 (laser oscillation wavelength λ
1) is made wider than the bandgap (laser oscillation wavelength length 2) of the second active Jli 121. In this structure, the first active layer 28 and the second active layer 21 are excited just before each laser oscillates. In this state, a laser beam having a wavelength longer than λ is injected from the hole 29. The first active layer absorbs this light, and carriers in this region are excited, and as a result, laser oscillation is started by optical pumping. Of this laser oscillation light, A 12 G a A
50% of the light that passes through the s-oxide side surface 18 and reaches the superlattice reflective film 19 is reflected and retraces its original path, and the remaining light passes through and travels within the third cladding layer 20. Since there is a second active layer 21 with a high refractive index in the longitudinal direction of the resonator, the light is focused on this and travels. As a result, the second active layer 2
1 also starts laser oscillation using an optical pump. On the other hand, the wavelength λ of the laser injected light from the hole 29.

がλ。くλ1のときは第1活性層は注入光を吸収しない
ので光ポンプは生ぜずレーザ発振も生じない。
is λ. When λ1 is small, the first active layer does not absorb the injected light, so no optical pumping occurs and no laser oscillation occurs.

以上の如く第4の実施例では垂直に注入した光により第
1と第2の活性層が光ポンプにより発振し、2波長を垂
直方向に放射する事ができる。
As described above, in the fourth embodiment, the first and second active layers are oscillated by optical pumping due to vertically injected light, and two wavelengths can be emitted in the vertical direction.

般に光情報処理として重要な光論理回路等では光機能素
子を集積化し、それを多段階につみ重ねて使用する方法
が考えられているが、本発明はそのキーエレメントにな
る。
Generally, in optical logic circuits and the like which are important for optical information processing, a method of integrating optical functional elements and stacking them in multiple stages has been considered, and the present invention is a key element thereof.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明の構造は前記リウ等の試作した面発光レーザの如
く単に面発光するのではなく以下の如き利点を有する。
The structure of the present invention does not simply emit surface light like the surface emitting laser prototyped by Liu et al., but has the following advantages.

(1)  垂直方向レーザ発振光源を積み重ねた構造を
2個もち、独立の面発光光源として利用できるばかりで
はなく、2個の発振光をレンズで集光すれば三種類の強
度変化(2個発振1片方発振2両者とも発振なし)光源
として利用する事ができる。
(1) It has a structure in which two vertical laser oscillation light sources are stacked, and not only can it be used as an independent surface emitting light source, but if the two oscillation lights are focused with a lens, three types of intensity changes (double oscillation (1) One side oscillates (2) Both do not oscillate) Can be used as a light source.

(2)両者のバンドギャップをかえる事により2波長面
発光レーザとして用いる事ができる。
(2) By changing the band gap between the two, it can be used as a two-wavelength surface emitting laser.

(3)更に垂直に穴からレーザ光を注入する事によりレ
ーザ発振領域をレーザボンピングして注入レーザ光に応
じた2波長面発光する事も可能である。
(3) Furthermore, by injecting laser light vertically through the hole, it is also possible to perform laser bombing on the laser oscillation region and emit two-wavelength plane light according to the injected laser light.

なお、実施例はAρG a A s / G a A 
sダブルヘテロ接合結晶材料について説明したがその他
の結晶材料例えばGaIgP/Aj2Ga IzMP。
In addition, the example is AρG a As / G a A
Although double heterojunction crystal materials have been described, other crystal materials such as GaIgP/Aj2Ga IzMP.

1享GaAsP/lmGaP、IzGaAsP/的 I%P、Aj2GaAsSb/GaAsSb等数多くの
結晶材料の半導体レーザにも本発明は適用できる。
The present invention can also be applied to semiconductor lasers made of many crystal materials such as GaAsP/lmGaP, IzGaAsP/lmGaP, and Aj2GaAsSb/GaAsSb.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の第1の実施例の斜視図、第2図と第3
図は各々第1図のA−A’ 、B−B’断面図であり、
第4図は本発明の第2の実施例の斜視図、第5図は本発
明の第3の実施例の共振器長て方向の断面図、第6図は
本発明の第4の実施例の共振器長て方向の断面図、第7
図は第1の実施例の製作過程において基板上に電流ブロ
ック層を形成したときの断面図、第8図は従来の面発光
レーザの模式図である。 図において 10・・・・・・p形GaAs基板、11・・・・・・
5IO2膜、12・・・・・・凸状領域、13・・・・
・・電流ブロック層、14−− p形A n Q、45
 G a a、ss A S第1クラッド層、15・・
・・・・アンドープA 42 olG a a、A s
第1活性層、16− ・−n形A 120.450 a
 os5A S第2クラッド層、17−F eドープA
 12 G、45 G a o、ss A s高抵抗層
、18・・・・・AAGaAs酸化側面、19・・・・
・・超格子反射膜、20・・・・・・p形A II O
,450a a、5sAs第3クラッド層、21・・・
・・・アンドープApo、1G a o、e A s第
2活性層、22− =−n形A 40.45G & o
、s s A S第4クラッド層、23・・・・・・第
2斜面、24・・・・・・第1斜面、25・・・・・・
第1n形オーミツクコンタクト、26・・・・・・第2
n形オーミツクコンタクト、27・・・・・・p形オー
ミックフンタクト、28・・・・・・アンドープA n
 o、+s G a o、ms A s第1活性層、2
9・・・・・・穴、101・・・・・・レーザ共振器、
102・・・・・45度の反射面 をそれぞれ示す。 代理人 弁理士  内 原   音 17−超格子反射面 第 図 第 ? 図 第 汐 図 1ワ−−超ネ各(テ反身1゛磨剛 ?3・−・第2m1曲 ざ−第1’& 第 乙 図
FIG. 1 is a perspective view of the first embodiment of the present invention, FIG.
The figures are AA' and BB' cross-sectional views of FIG. 1, respectively.
FIG. 4 is a perspective view of a second embodiment of the present invention, FIG. 5 is a cross-sectional view in the longitudinal direction of the resonator of a third embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a fourth embodiment of the present invention. Cross-sectional view in the longitudinal direction of the resonator, No. 7
The figure is a cross-sectional view when a current blocking layer is formed on the substrate in the manufacturing process of the first embodiment, and FIG. 8 is a schematic diagram of a conventional surface emitting laser. In the figure, 10...p-type GaAs substrate, 11...
5IO2 film, 12... Convex region, 13...
・・Current blocking layer, 14-- p-type A n Q, 45
G a a, ss A S first cladding layer, 15...
...Undoped A 42 olG a a, A s
First active layer, 16-・-n type A 120.450 a
os5A S second cladding layer, 17-Fe doped A
12 G, 45 Gao, ss As high resistance layer, 18...AAGaAs oxidized side surface, 19...
...Superlattice reflective film, 20...p-type A II O
, 450a a, 5sAs third cladding layer, 21...
... Undoped Apo, 1G ao, e As second active layer, 22- = -n type A 40.45G&o
, ss A S fourth cladding layer, 23... second slope, 24... first slope, 25...
1st n-type ohmic contact, 26...2nd
N-type ohmic contact, 27...P-type ohmic contact, 28...Undoped A n
o, +s G a o, ms A s first active layer, 2
9...hole, 101...laser resonator,
102... each shows a 45 degree reflective surface. Agent Patent Attorney Oto Uchihara 17-Superlattice reflective surface diagram No. 1? Figure No. 1 Wa - Super Ne each (te anti-shin 1゛Mako? 3... 2nd m1 curved area - No. 1'& No. 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、表面に凸状ストライプ領域を有し、かつ該凸状スト
ライプ領域の側面および前記凸状ストライプ領域の両側
の平坦な面に電流ブロック層を有する半導体基板上に、
第1の活性層を該第1の活性層よりもバンドギャップの
広い材質からなる第1および第2のクラッド層で挾んだ
ストライプ状の第1のダブルヘテロ構造を共振器の長て
方向に少くとも一方の端面を含んで設け、該第1のダブ
ルヘテロ構造に隣接して絶縁層を設け、第2の活性層を
該第2の活性層よりもバンドギャップの広い材質からな
る第3および第4のクラッド層で挟んだストライプ状の
第2のダブルヘテロ構造を該絶縁層に隣接すると共に該
第1のダブルヘテロ構造の少くともその一部に積重なっ
て具備し、さらに該第2のダブルヘテロ構造が該凸状ス
トライプ領域上面のストライプ状キャリア注入領域にも
隣接し、該第1のダブルヘテロ構造の端面と該第1のダ
ブルヘテロ構造に積重なった第2のダブルヘテロ構造の
端面とが共振器の長て方向において、該凸状ストライプ
領域上面に対して共振器の長て方向に切れこむ45度の
斜面を有している事を特徴とする面発光半導体レーザ。 2、請求項1記載の面発光半導体レーザの凸状ストライ
プ領域を凹状ストライプ領域にした事を特徴とする面発
光半導体レーザ。 3、請求項1および2記載の面発光半導体レーザにおい
て、第1の活性層と第2の活性層とのバンドギャップが
異なる事を特徴とする面発光半導体レーザ。 4、請求項3の面発光半導体レーザにおいて該第2の活
性層のうち該ストライプ状キャリア注入領域に隣近した
領域が該第1の活性層の共振器の長て方向その延長線上
に位置し、該第1の活性層のうち該ストライプ状キャリ
ア注入領域に隣近した部分の少くとも一部を含む領域か
ら半導体層の積層面に対して垂直になるように基板に隣
接した該第1のクラッド層表面が露出するまで該基板に
穴をあけた事を特徴とする面発光半導体レーザ。
[Scope of Claims] 1. On a semiconductor substrate having a convex stripe region on the surface and a current blocking layer on the side surfaces of the convex stripe region and the flat surfaces on both sides of the convex stripe region,
A striped first double heterostructure in which a first active layer is sandwiched between first and second cladding layers made of a material with a wider band gap than the first active layer is arranged in the longitudinal direction of the resonator. an insulating layer is provided adjacent to the first double heterostructure; A striped second double heterostructure sandwiched between fourth cladding layers is provided adjacent to the insulating layer and stacked on at least a portion of the first double heterostructure; The double heterostructure is also adjacent to the striped carrier injection region on the upper surface of the convex stripe region, and the end face of the first double heterostructure and the end face of a second double heterostructure stacked on the first double heterostructure. 1. A surface-emitting semiconductor laser characterized in that, in the longitudinal direction of the resonator, the surface-emitting semiconductor laser has a 45-degree slope cut into the upper surface of the convex stripe region in the longitudinal direction of the resonator. 2. A surface emitting semiconductor laser, characterized in that the convex stripe region of the surface emitting semiconductor laser according to claim 1 is replaced with a concave stripe region. 3. The surface emitting semiconductor laser according to claim 1 or 2, wherein the first active layer and the second active layer have different band gaps. 4. In the surface emitting semiconductor laser according to claim 3, a region of the second active layer adjacent to the striped carrier injection region is located on a longitudinal extension of the resonator of the first active layer. , the first active layer adjacent to the substrate so as to be perpendicular to the lamination plane of the semiconductor layer from a region including at least a part of the first active layer adjacent to the striped carrier injection region; A surface emitting semiconductor laser characterized in that a hole is bored in the substrate until the surface of the cladding layer is exposed.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002043693A (en) * 2000-07-20 2002-02-08 Samsung Electronics Co Ltd Surface light laser with multiple wavelength and its manufacturing method

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