JPH04207543A - Quality class control system in channel of atm exchange - Google Patents

Quality class control system in channel of atm exchange

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JPH04207543A
JPH04207543A JP2336389A JP33638990A JPH04207543A JP H04207543 A JPH04207543 A JP H04207543A JP 2336389 A JP2336389 A JP 2336389A JP 33638990 A JP33638990 A JP 33638990A JP H04207543 A JPH04207543 A JP H04207543A
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quality class
delay
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鴨井 條益
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祐司 加藤
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Abstract

PURPOSE:To prevent the characteristic of a cell class from being affected by the effect of a cell of a class with lower priority than that of the inputted cell by adding a class of abort and delay to a cell and providing an abort control section and a delay control section for the system. CONSTITUTION:A quality class CL(m, n) in response to an abort characteristic and a delay characteristic is added to a cell, and one buffer memory is divided into an area corresponding to the quality class CL(m, n) depending on the arrival quantity. When an inputted cell is written in an area of the quality class CL(m, n) corresponding the buffer memory, an abort control section 4 controls to abort a cell whose abort quality class is in excess of a independently preset threshold level corresponding to the total amount to be used of the buffer memory. A delay control section 5 applies priority control of the read sequence corresponding to the delay quality class at the read from the buffer memory. Thus, the abort characteristic and the delay characteristic are independently controlled and the characteristic is not affected by the cell with lower priority than that of its own cell.

Description

【発明の詳細な説明】 [概要] 複数の入出力ハイウェイ間を接続するスイッチング素子
にバッファメモリを備えたATM交換機の通話路におけ
る品質クラス制御方式に関し。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Summary] The present invention relates to a quality class control method in a communication path of an ATM switch in which a switching element connecting a plurality of input/output highways is provided with a buffer memory.

廃棄特性と遅延特性を独立に制御することができ自セル
より低い優先度のセルにより特性を左右されないA、 
T M交換機の通話路における品質クラス制御方式を提
供することを目的とし。
A, in which the discard characteristics and delay characteristics can be controlled independently, and the characteristics are not influenced by cells with lower priority than the own cell;
The purpose is to provide a quality class control method for communication paths of TM exchanges.

セルに廃棄特性と遅延特性に応じた品質クラスを付加し
、前記−つのバッファメモリを前記品質クラスに対応じ
た領域にその到着量により分割し。
A quality class corresponding to a discard characteristic and a delay characteristic is added to the cell, and the two buffer memories are divided into areas corresponding to the quality class according to the amount of arrival.

廃棄制御部は5人力するセルを前記バッファメモリの対
応する品質クラスの領域に書き込む時にバッファメモリ
の合計使用量に対応して、F4粟品質クラス毎に独立に
予め設定されたしきい値を超えたセルを廃棄する制御を
行い、遅延制御部は前記バッファメモリからの読み出し
時に遅延品質クラスに対応して読み出し順序の優先制御
を行うよう構成する。
The discard control unit, when writing five cells into the area of the corresponding quality class of the buffer memory, exceeds a threshold value independently preset for each F4 millet quality class, corresponding to the total usage of the buffer memory. The delay control unit is configured to perform control to discard cells that have been stored in the buffer memory, and to perform priority control on the read order in accordance with the delay quality class when reading from the buffer memory.

[産業上の利用分野コ 複数の入出力ハイウェイ間を接続するスイッチング素子
にバッファメモリを備えたATM交換機の通話路におけ
る品質クラス制御方式に関する。
[Industrial Field of Application] This invention relates to a quality class control system in the communication path of an ATM switch in which switching elements connecting a plurality of input/output highways are provided with buffer memories.

ATM交換機では、音声のような遅延に厳しい通信やデ
ータのように廃棄に厳しい通信が一元的に取り扱われる
。一方、複数の入出力ハイウェイの各交差点にバッファ
メモリを備えたスイッチング素子を設け、スイッチング
素子を駆動することにより通話路を形成するATM交換
機が知られている。
ATM switches centrally handle communications that are sensitive to delays, such as voice, and communications that are difficult to discard, such as data. On the other hand, an ATM switch is known in which a switching element equipped with a buffer memory is provided at each intersection of a plurality of input/output highways, and a communication path is formed by driving the switching element.

そのようなATM交換機の通話路では、バッファメモリ
の容量を大きくすればセルの廃棄を少なくすることがで
きるが、遅延が大きくなってしまう。逆にバッファメモ
リの容量を小さくすれば遅延は小さくなるが、セルの廃
棄が多くなるといったトレードオフの関係があり、全て
の通信を一元的に処理するのが困難だった9従って、セ
ルの性質に応じてセルの廃棄、遅延の制御を行うことが
望まれている。
In the communication path of such an ATM switch, if the capacity of the buffer memory is increased, the number of discarded cells can be reduced, but the delay will be increased. Conversely, if the capacity of the buffer memory is reduced, the delay will be reduced, but there is a trade-off relationship in that more cells will be discarded, making it difficult to centrally process all communications9. It is desired to control cell discard and delay according to the situation.

[従来の技術] 第6図は従来例の説明図である。[Conventional technology] FIG. 6 is an explanatory diagram of a conventional example.

第6図のA、はATMスイッチの構成であり。A in FIG. 6 is the configuration of an ATM switch.

複数の入力ハイウェイ(HW)#1〜#Pと複数の出力
ハイウェイ(HW)#1〜#Qの各交差点にバッファメ
モリ60が設けられ、入力HWから入力するセル(通常
5バイトのヘッダ部と48バイトのデータ部とで構成す
る)のヘッダに含まれた宛先情報(VPI/VCI等)
を識別して対応する出力HWと接続するバッファメモリ
60にセルが蓄積される。バッファメモリ60は複数の
入力HWから同し出力HWに向かうセルが同時に入力さ
れた時の衝突防止用に設けられ、バッファメモリに蓄積
されたセルは出力HWに対応じたセレクタ61により順
次読み出されて出力HWに出力される。
A buffer memory 60 is provided at each intersection of a plurality of input highways (HW) #1 to #P and a plurality of output highways (HW) #1 to #Q. Destination information (VPI/VCI, etc.) included in the header (consisting of a 48-byte data section)
The cells are stored in a buffer memory 60 that identifies and connects to the corresponding output HW. The buffer memory 60 is provided to prevent collisions when cells destined for the same output HW are input from multiple input HWs at the same time, and the cells stored in the buffer memory are sequentially read out by the selector 61 corresponding to the output HW. and output to the output HW.

上記した従来のATM交換機の方式では、バッファの容
量に制限があるため1例えば1つの出力HWに多くのセ
ルが集中する場合、バッファメモリにセルが蓄積できな
い時セルの廃棄が起こり。
In the conventional ATM switching system described above, since the capacity of the buffer is limited, for example, when many cells are concentrated on one output HW, cells are discarded when the cells cannot be stored in the buffer memory.

バッファメモリに大量のセルが蓄積されるとセルの遅延
時間が増大してしまう。そのような場合に取られる従来
の優先制御方式を第6図のB、に示す。
When a large number of cells are stored in the buffer memory, the cell delay time increases. A conventional priority control method adopted in such a case is shown in FIG. 6B.

この例では、セルのヘンダに優先度が高いか低いかを表
す優先度情報が付加されており、入力HWに対応するバ
ッファメモリ60は、高優先セルバッファメモリ601
と低優先セルバッファメモI7602の2つで構成され
る。入力HWからセルが入力すると、そのセルの優先度
情報を判別して高優先セルか低優先セルかに応じて2つ
のバッファメモリ601.602の一方に蓄積される。
In this example, priority information indicating whether the priority is high or low is added to the cell header, and the buffer memory 60 corresponding to the input HW is the high priority cell buffer memory 601.
and a low priority cell buffer memory I7602. When a cell is input from the input HW, the priority information of the cell is determined and stored in one of the two buffer memories 601 and 602 depending on whether it is a high priority cell or a low priority cell.

蓄積されたセルは読み出し制御部62において、高優先
セルバッファメモリ601の方が優先して読み出される
よう制御されセレクタ61から出力される。 従って5
従来例の方式では第6図のC1に示すように遅延量を縦
軸、廃棄量を横軸とした場合、高優先セルが遅延量小で
廃棄量が少となり。
The stored cells are controlled by the read control unit 62 so that they are read out preferentially from the high priority cell buffer memory 601 and output from the selector 61. Therefore 5
In the conventional system, when the delay amount is plotted on the vertical axis and the discard amount is plotted on the horizontal axis as shown in C1 of FIG. 6, the high priority cell has a small delay amount and a small discard amount.

低優先セルは遅延量が大で廃棄量が多くなるという制御
を受けることになる。
Low-priority cells are subject to control such that the amount of delay is large and the amount of discards is large.

[発明が解決しようとする課題] 上記した従来の方式では、廃棄特性と遅延特性を独立に
制御できないため、廃棄が少なく遅延も小さい高優先ク
ラスとその逆の低優先クラスという一次元の制御しかで
きないので1例えば遅延が小さく廃棄が多いといった制
御ができないという問題があった。また9例えば低優先
セルがバッファメモリを占有していた場合3次に高優先
セルが到着しても廃棄されるというような、到着したセ
ルより優先度の低いクラスのセルの影響で高いクラスの
特性が左右されるという問題があった。
[Problems to be Solved by the Invention] In the conventional method described above, the discard characteristics and delay characteristics cannot be controlled independently, so only one-dimensional control is possible: a high-priority class with fewer discards and less delay, and a low-priority class that is the opposite. Therefore, there was a problem in that it was not possible to control, for example, the delay was small and the number of discards was large. 9 For example, if a low-priority cell occupies the buffer memory, even if a high-priority cell arrives tertiary, it will be discarded. There was a problem that the characteristics were affected.

本発明は廃棄特性と遅延特性を独立に制御することがで
き自セルより低い優先度のセルにより特性を左右されな
いATM交換機の通話路における品質クラス制御方式を
提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a quality class control method for a communication path of an ATM switch, which can independently control discard characteristics and delay characteristics, and whose characteristics are not affected by cells having a lower priority than the own cell.

[課題を解決するための手段] 第1図(alは本発明の第1の原理構成図、第1図(′
b)は第1の原理構成の作用説明図、第2図は本発明の
第2の原理構成図である。
[Means for solving the problem] Figure 1 (al is the first principle configuration diagram of the present invention, Figure 1 ('
b) is a diagram illustrating the operation of the first principle configuration, and FIG. 2 is a diagram illustrating the second principle configuration of the present invention.

第1図(a)及び第2図において、1−1〜1−n及び
1′ −1〜1′ −nは廃棄手段、2−1〜2−nは
各廃棄クラス別に分割して割当てられたバッファメモリ
内の各領域、3−1〜3−nは前記各領域で実際に使用
したバッファ量をそれぞれ測定するバッファ量測定手段
、4.4’ は廃棄制御部、5は遅延制御部、6はセレ
クタ、7は廃棄クラス識別手段、8はクラス比較手段で
ある。
In Fig. 1(a) and Fig. 2, 1-1 to 1-n and 1'-1 to 1'-n are disposal means, and 2-1 to 2-n are divided and allocated according to each disposal class. 3-1 to 3-n are buffer amount measuring means for measuring the amount of buffer actually used in each of the areas, 4.4' is a discard control section, 5 is a delay control section, 6 is a selector, 7 is a discard class identification means, and 8 is a class comparison means.

本発明はセルに廃棄及び遅延のそれぞれのクラスが付与
され、第1の構成は9人力ハイウェイから出力ハイウェ
イへ接続する位置に設けた1つのバッファメモリをクラ
ス別に割当てられた可変頭載に格納し、その時のバッフ
ァメモリの使用率に応じて廃棄すべきセルの廃棄クラス
を変更することにより廃棄クラスの高いセルが保護し、
読み出しは遅延クラスの高いものを優先する。また第2
の構成は、バッファメモリがフル状態の場合に入力セル
のクラスより下位のクラスがあると、下位クラスの領域
からセルを廃棄して空いた領域に入力セルを格納するも
のである。
In the present invention, each class of discard and delay is assigned to a cell, and the first configuration stores one buffer memory provided at a position connecting a nine-person highway to an output highway in a variable header allocated to each class. By changing the discard class of cells to be discarded according to the usage rate of the buffer memory at that time, cells with a high discard class are protected,
For reading, priority is given to those with a higher delay class. Also the second
The configuration is such that when the buffer memory is full and there is a class lower than the class of the input cell, the cell is discarded from the area of the lower class and the input cell is stored in the empty area.

[作用] 第1図(a)において、入力セルにはB、に示すように
、ヘッダ部に遅延品質を表す遅延クラス(1〜mの中の
1つ)と、廃棄品質を表す廃棄クラス(1−nの中の1
つ)とを予め設定されて入力され、CL (m、n)に
より2つの品質を表すクラスが表現される。この場合、
最初の遅延クラスを表す数字が小さいと優先度か°高く
(遅延が小さい)1後の廃棄を表す数字は小さい程優先
度が高い(廃棄が少ない)。また、バッファメモリ内の
各領域2−1〜2−nは物理的には1つのバッファメモ
リを論理的にn個の廃棄クラスに分割して使用され、各
領域は遅延クラスに対応して更にm個に分割される。
[Operation] In FIG. 1(a), as shown in B, the input cell has a delay class (one of 1 to m) representing delay quality and a discard class (one from 1 to m) representing discard quality in the header part. 1 in 1-n
) are set in advance and input, and classes representing two qualities are expressed by CL (m, n). in this case,
The smaller the number representing the first delay class, the higher the priority (smaller delay).The smaller the number representing discard after 1, the higher the priority (fewer discards). In addition, each area 2-1 to 2-n in the buffer memory is used by physically dividing one buffer memory into n discard classes, and each area is further divided into n discard classes corresponding to the delay class. It is divided into m pieces.

入力HWから入力したセルは廃棄クラスに応じて廃棄手
段1−1〜1−nに供給される。この時。
Cells input from the input HW are supplied to discard means 1-1 to 1-n according to the discard class. At this time.

廃棄制御部4はバッファ量測定手段3−1〜3−nから
各バッファメモリの使用量を得ることによりバッファメ
モリ全体の使用量が分かる。一方。
The discard control unit 4 obtains the usage amount of each buffer memory from the buffer amount measuring means 3-1 to 3-n, thereby knowing the usage amount of the entire buffer memory. on the other hand.

廃棄制御部4には第1図ら)のA、に示すような廃棄制
御のためのテーブルが設けられ、廃棄制御部4はこのテ
ーブルに応して廃棄制御を行う。
The discard control unit 4 is provided with a table for discard control as shown in A in FIG. 1, etc., and the discard control unit 4 performs discard control in accordance with this table.

このテーブルは、バッファ使用量がQl(使用率100
%に相当)の場合、全てのクラス(1〜n)の入力セル
が廃棄され、使用量がQ2(使用率90%に相当)の場
合、クラス2〜nのセルが廃棄され(クラス1だけ格納
される)、さらに使用量Qn(使用率70%に相当)の
場合クラスnだけ廃棄されることを表す。廃棄制御部4
は1判断した結果(廃棄すべきか否か)を入力セルに対
応する廃棄手段1−1〜1−nの1つに供給する。
This table shows that the buffer usage is Ql (usage rate is 100)
%), input cells of all classes (1 to n) are discarded, and when the usage is Q2 (corresponding to a usage rate of 90%), cells of classes 2 to n are discarded (only class 1 In addition, if the usage amount Qn (corresponds to a usage rate of 70%), only class n is discarded. Disposal control section 4
supplies the result of the determination (whether or not it should be discarded) to one of the discarding means 1-1 to 1-n corresponding to the input cell.

廃棄されない場合、入力セルは対応するバッファメモリ
の領域2−1〜2−nの1つに格納される。
If not discarded, the input cell is stored in one of the areas 2-1 to 2-n of the corresponding buffer memory.

遅延制御部5は、各領域2−1〜2−nの中の遅延クラ
ス(1〜m)に分割された領域を、第1図(ト))のB
、に示すように高優先クラス(数字の小さい方)を優先
して読み出し制御する。
The delay control unit 5 divides the areas divided into delay classes (1 to m) in each area 2-1 to 2-n into B in FIG.
As shown in , the high priority class (lower number) is given priority and read control is performed.

次に第2図に示す第2の原理構成の作用を説明すると1
第2図のバッファメモリのクラス別の領域2−1〜2−
〇は第1図と同様の構成を備えており8人力HWからの
入力セルは廃棄クラスに対応じたバッファメモリの分割
eMk&2 1〜2−nに格納する動作が行われる。こ
の時廃棄制御部4′は、各ハンファ量測定部3−1〜3
−nからセルが格納されたバッファメモリの量を調べて
、バッファメモリ全体にセルが格納されたバッファフル
の状態か否かを判別する。この結果バッファフルである
ことが分かると1次に人力セルの廃棄クラスを廃棄クラ
ス識別手段7により識別して、そのクラスより低いセル
がバッファ内にあるか判別し、ある場合はバッファ内の
最低クラスを廃棄するよう対応する廃棄手段1′−1〜
1′−〇を駆動する。こうしてバッファメモリ内に空き
が生しるので、その空いた領域を入力セルの廃棄クラス
の領域として使用して、格納する。入力セルの廃棄クラ
スより低いクラスのセルがバッファ内に無い場合は入力
セルを廃棄する。
Next, the operation of the second principle configuration shown in Fig. 2 will be explained.
Areas 2-1 to 2-2 by class of buffer memory in Figure 2
○ has a configuration similar to that shown in FIG. 1, and input cells from the 8-manpower HW are stored in divisions eMk&21 to 2-n of the buffer memory corresponding to the discard class. At this time, the waste control section 4' controls each of the Hanfa quantity measuring sections 3-1 to 3.
The amount of the buffer memory in which the cells are stored is checked from -n to determine whether the buffer is in a full state where cells are stored in the entire buffer memory. As a result, when it is found that the buffer is full, the discard class of the manually-powered cell is identified by the discard class identification means 7, and it is determined whether there is a cell lower than that class in the buffer. Discarding means corresponding to discarding the class 1'-1~
Drive 1'-〇. In this way, an empty space is created in the buffer memory, and the empty area is used as an area for the discard class of input cells for storage. If there is no cell in the buffer of a lower class than the discard class of the input cell, the input cell is discarded.

[実施例:・ 第3図は実施例1の構成図、第4図(a)は本発明によ
るバッファメモリの原理構成図、第4図(b)は実施例
1におけるセルの廃棄及び遅延の制御特性。
[Example: - Figure 3 is a block diagram of the first embodiment, Figure 4 (a) is a diagram of the principle block diagram of the buffer memory according to the present invention, and Figure 4 (b) is a diagram of cell discard and delay in the first embodiment. Control characteristics.

第5図は実施例2の構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram of the second embodiment.

最初に第4図(a)により本発明によるバッファメモリ
の原理構成を説明する。この例ではクラスがCLI−C
Lnがある例を示す。
First, the principle structure of the buffer memory according to the present invention will be explained with reference to FIG. 4(a). In this example, the class is CLI-C
An example with Ln is shown.

バッファメモリ42はセルの書き込みと読み出しが行わ
れる。空きアドレスキュー40にはバッファメモリ42
内のセルが格納されていない(空き状態) lセル分の
領域のアトルスがキューとして順次格納されている。ま
た1各クラス別にクラスlセル使用アドレスキエー41
−1〜クラスnセル使用アドレスキユー41−nが設け
られ1バツフアメモリ42内に書き込み済みの各セルの
アドレスがクラス別にキューを形成される。
Writing and reading of cells are performed in the buffer memory 42. A buffer memory 42 is provided in the free address queue 40.
Cells within are not stored (empty state). Atlus in an area of 1 cell are stored sequentially as a queue. In addition, each class uses the address key 41 for class l cells.
-1 to class n cell usage address queues 41-n are provided, and addresses of cells written in the one-buffer memory 42 are queued for each class.

このバッファメモリ42へのセルの書き込み動作は、セ
ルが入力するとクラスが識別され、空きアドレスキュー
40の先頭の空きアドレス(図の例ではアドレス3)が
割当てられ1次に書き込みが可能な場合(廃棄制御によ
る)、バッファメモリ42の割当てられた空きアドレス
に入力セルを書き込み、識別されたクラスに対応するセ
ル使用アドレスキュー41にその書き込みアドレスを格
納する。
In this cell write operation to the buffer memory 42, when a cell is input, the class is identified, and the first free address of the free address queue 40 (address 3 in the example shown) is assigned, and if the primary write is possible ( (by discard control), the input cell is written to the allocated free address in the buffer memory 42, and the write address is stored in the cell use address queue 41 corresponding to the identified class.

読み出しは、遅延優先のクラスを優先するように読み出
し制御され1例えば、クラス1を優先すると、クラス1
(CL−1)セル使用アドレスキュ−41−1の先頭に
格納されたアドレス(図の例ではアドレス2)のセルを
読み出しアドレスとしてバッファメモリ42から読み出
す。読み出しが行われたアドレス2は、空きアドレスキ
ュー40の後端に格納される。
Reading is controlled to give priority to the delay priority class. For example, if class 1 is given priority, class 1
(CL-1) The cell at the address stored at the beginning of the cell use address queue 41-1 (address 2 in the example shown) is read from the buffer memory 42 as a read address. The read address 2 is stored at the rear end of the empty address queue 40.

次に第3図に示す実施例1を説明する0図において、2
0はバッファメモリ、21は品質クラス識別回路、22
はセル到着検出回路、23は空きアドレスキュー224
はバッファ使用量測定回路125はクラスl (CLI
)セルアドレスキュー。
Next, in Figure 0 for explaining Example 1 shown in Figure 3, 2
0 is a buffer memory, 21 is a quality class identification circuit, 22
23 is a cell arrival detection circuit, and 23 is an empty address queue 224.
The buffer usage measurement circuit 125 is class I (CLI
) Cell address queue.

26はクラス2 (CL2)セルアドレスキュー。26 is a class 2 (CL2) cell address queue.

27−1.27−2は比較回路、28は読み出しキュー
選択部、29は読み出し制御部である。
27-1 and 27-2 are comparison circuits, 28 is a read queue selection section, and 29 is a read control section.

この実施例1は、ATM交換機の通話路の1つのスイッ
チング素子のバッファメモリに関連する構成が示され、
この例は品質クラスが2つの場合で。
Embodiment 1 shows a configuration related to a buffer memory of one switching element in a communication path of an ATM switch.
In this example, there are two quality classes.

クラス2の廃棄はクラス1より多いが遅延は小さく、ク
ラス2の遅延はクラスlより大きいが廃棄は少ない場合
を示す。
A case is shown in which class 2 has more discards than class 1 but has a smaller delay, and class 2 has a larger delay than class l but has fewer discards.

第4図(b)にこの実施例における。セルの廃棄及び遅
延の制御特性を説明すると、バッファメモリ20の使用
量が100%の場合、クラスl及びクラス2の両方のセ
ルを廃棄し、80%の場合はクラス2のセルが廃棄され
る。また遅延優先度は。
FIG. 4(b) shows this example. To explain the cell discard and delay control characteristics, when the buffer memory 20 usage is 100%, both class I and class 2 cells are discarded, and when it is 80%, class 2 cells are discarded. . Also, what is the delay priority?

クラス2のセルがクラス1より優先して、読み出しが行
われる。
Class 2 cells are read out with priority over class 1 cells.

実施例1のバッファメモリ20は上記第4図(a)と同
様の原理で制御され、以下に第3図の動作を説明する。
The buffer memory 20 of the first embodiment is controlled by the same principle as shown in FIG. 4(a) above, and the operation shown in FIG. 3 will be explained below.

入力HWからセルが入力すると、セル到着検出回路22
でセルの到着を検出すると、空きアドレスキュー23か
らバッファメモリ20内の空きセル領域の先頭アドレス
を取り出し、そのアドレスから到着セルをバッファメモ
リ20へ書き込もうとする。この時の、書き込み判断は
、上記第4図Φ)の廃棄特性により行われる。すなわち
When a cell is input from the input HW, the cell arrival detection circuit 22
When the arrival of a cell is detected, the head address of the empty cell area in the buffer memory 20 is taken out from the empty address queue 23, and an attempt is made to write the arrived cell into the buffer memory 20 from that address. At this time, writing judgment is made based on the discard characteristic shown in FIG. 4 Φ). Namely.

バッファ使用量測定回路24においてバッファメモリ2
0の現在の使用量(使用率)が測定され。
In the buffer usage measurement circuit 24, the buffer memory 2
The current usage amount (usage rate) of 0 is measured.

比較回路27−1.27−2に使用率が供給される。比
較回路27−1には他の入力端子から使用量Q1として
100%が入力され、27−2には使用量Q2として8
0%が入力されている。 この結果、比較回路27−1
は使用量が100%に達していないと1″が発生してク
ラス1のセルの場合、アンド回路A1から“1“が発生
して書き込み制御信号としてバッファメモリ20へ供給
されて書き込みが行われ、同時にCLIセルアドレスキ
ュー25に当該セルの書き込みアドレス(空きアドレス
)を格納する。使用量が100%に達するとCLIのセ
ル(Cl3うセルも)書き込みが禁止される(比較回路
27−1からO“が発生)。
The usage rate is supplied to the comparison circuits 27-1 and 27-2. The comparator circuit 27-1 receives 100% as the usage amount Q1 from another input terminal, and the usage amount Q2 of 8% is input to the comparison circuit 27-2.
0% is entered. As a result, the comparison circuit 27-1
If the usage does not reach 100%, 1" is generated. In the case of a class 1 cell, "1" is generated from the AND circuit A1 and is supplied to the buffer memory 20 as a write control signal to perform writing. At the same time, the write address (empty address) of the cell is stored in the CLI cell address queue 25. When the usage reaches 100%, writing to CLI cells (including Cl3 cells) is prohibited (from the comparison circuit 27-1). O” occurs).

比較回路27−2は、使用量が80%以下の場合、°°
0”が発生してアンド回路A2は、クラス2 (Cl3
)のセルの書き込み制御信号を発生し1CL2セルアド
レスキユー26に当該セルの書き込みアドレスを格納し
、使用量が80%以上の場合、比較回路27−2から1
″′が発生してアンド回路A2が禁止されてクラス2の
セルは書き込まれない(廃棄される)。このようにクラ
ス1のセルの廃棄は少なくなる。
Comparison circuit 27-2 indicates that when the usage is less than 80%, °°
0'' is generated and the AND circuit A2 is class 2 (Cl3
), the write address of the cell is stored in the 1CL2 cell address queue 26, and if the usage is 80% or more, the comparison circuit 27-2 to 1
``'' occurs, AND circuit A2 is inhibited, and class 2 cells are not written (discarded). In this way, the number of class 1 cells discarded is reduced.

CLIセルアドレスキュー25.CL2セルアドレスキ
ュー26には1 エンプティフラグが設けられ、1つで
もキューが格納されていると、該フラグが“1”にセッ
トされている。読み出し制御部29は、読み出し許可信
号(このスイッチにおいてセル出力が許容されるタイミ
ングで入力する制御信号)が入力すると読み出しを行う
。最初に2読み出し制御部29は、クラス別のセルアド
レスキューのエンプティフラグを読み出しキュー選択部
28により監視し、クラス1,2共にバッファメモリに
書き込まれている場合は、クラス2セルを先に読み出す
。この場合CL2セルアドレスキ′  、−26からキ
ューの先頭のアドレスを取り出し。
CLI cell address queue 25. The CL2 cell address queue 26 is provided with a 1 empty flag, and if at least one queue is stored, this flag is set to "1". The read control unit 29 performs read when a read permission signal (a control signal input at a timing when cell output is allowed in this switch) is input. First, the 2 read control unit 29 monitors the empty flag of the cell address queue for each class by the read queue selection unit 28, and if both classes 1 and 2 are written in the buffer memory, the class 2 cell is read out first. . In this case, the head address of the queue is taken out from the CL2 cell address key '-26.

ゲートG2を介してバッファメモリ20に読み出しアド
レスとして供給される。読み出されたセルは出力HWに
出力される。この時の読み出しアドレスは、読み出し制
御部29の制御により空きアドレスキュー23に書き込
まれる。
It is supplied as a read address to the buffer memory 20 via gate G2. The read cells are output to the output HW. The read address at this time is written to the free address queue 23 under the control of the read control unit 29.

上記の他に、読み出し制御としては、クラス別に絶対的
な読み出し優先順位を付けないで、クラス間の読み出し
頻度を変える方法をとることもできる。
In addition to the above, for read control, it is also possible to use a method of changing the read frequency between classes without assigning absolute read priorities to each class.

次に第5図に示す実施例2の構成を説明する。Next, the configuration of the second embodiment shown in FIG. 5 will be explained.

第5図において、20〜23.25.26.28及び2
9は、第3図に示す同一符号の各装置に対応し5名称は
同じである。
In Figure 5, 20-23.25.26.28 and 2
9 corresponds to each device with the same reference numeral shown in FIG. 3, and 5 names are the same.

この実施例2の場合も、上記実施例1と同様に品質クラ
スが2つの場合で、クラス2の廃棄はクラス1より多い
が遅延は小さく、クラス1の遅延はクラス2より大きい
が廃棄は少ない場合である。
In the case of Example 2, there are two quality classes as in Example 1 above, and class 2 has more discards than class 1, but the delay is smaller, and class 1 has more delays than class 2, but fewer discards. This is the case.

動作を説明すると、セル到着検出回路22により入力H
Wからセルの到着を検出すると、空きアドレスキュー2
3から到着セルをバッファメモリ20へ書き込もうとす
る。この時の書き込みの判断は以下のように行う。すな
わち、先ず到着したセルの品質クラスを品質クラス識別
回路21で識別すると共に、空きアドレスキュー23か
らのバッファメモリがフル状態か否かを表す信号を取り
出して、アンド回路A3.A4に入力する。バッファメ
モリ20のフル状態は、空きアドレスキュー23に空き
アドレスが何も格納されてないことを表す信号(エンプ
ティフラグ)により表示される。もし、フル状態を表す
信号が“1”の場合。
To explain the operation, the cell arrival detection circuit 22 receives the input H
When the arrival of a cell from W is detected, the free address queue 2
An attempt is made to write the arriving cell from 3 to the buffer memory 20. The writing judgment at this time is made as follows. That is, first, the quality class identification circuit 21 identifies the quality class of the cell that has arrived, and a signal representing whether or not the buffer memory is full is extracted from the free address queue 23, and the AND circuit A3. Enter on A4. The full state of the buffer memory 20 is indicated by a signal (empty flag) indicating that no free address is stored in the free address queue 23. If the signal representing the full state is "1".

アンド回路A4は禁止されてクラス2のセルの書き込み
ができない(廃棄される)、シかし、入力したセルがク
ラス1の場合、バッファメモリがフル状態の場合、バッ
ファメモリ20に既にクラス2のセルが書き込まれでい
ると(CL2セルアドレスキューのエンプティフラグが
1′の状態)。
AND circuit A4 is prohibited and cannot write to class 2 cells (discarded). However, if the input cell is class 1, and the buffer memory is full, there is already a class 2 cell in the buffer memory 20. If the cell has not been written (the empty flag of the CL2 cell address queue is 1').

読み出′−制ネル部29は2読み出し信号線290から
CL 2セルアドレスキユー26ムこ対し読み出し信号
を出力する。これによりCL2セルアドレスキ二−クー
26アドレス(キューの先頭)を読み出され(クラス2
の3亥当セルは廃棄)、オア回路ORIを介して空きア
ドレスキュー23に空きアドレスとして書き込まれる(
フル状態が解除される)。こうして、入力したクラス1
のセルは空きアドレスキュー23から読み出された空き
アドレスが指示するバッファメモリ20の位置に書き込
まれ、同時にCLIセルアドレスキュー25にアドレス
が格納される。このようにクラスIのセル廃棄は少なく
なる。
The read'-control unit 29 outputs a read signal from the 2 read signal line 290 to the CL 2 cell address queue 26. As a result, the CL2 cell address key 26 address (head of the queue) is read (class 2
3 cells in question are discarded), and are written to the free address queue 23 as a free address via the OR circuit ORI (
full state is released). In this way, the input class 1
The cell is written into the buffer memory 20 at the location indicated by the free address read from the free address queue 23, and at the same time, the address is stored in the CLI cell address queue 25. In this way, class I cell discards are reduced.

読み出し時には、読み出し制御部29において。At the time of reading, in the reading control unit 29.

クラス別のアドレスキュー25.26のエンプティフラ
グを監視し、クラス1,2共にバッファメモリ20に書
き込まれている場合は、クラス2のセルを先に読み出す
遅延制御を行う。これによりクラス2の遅延を小さくす
ることができる。
The empty flags of the address queues 25 and 26 for each class are monitored, and if both classes 1 and 2 are written in the buffer memory 20, delay control is performed to read out the class 2 cells first. This allows the class 2 delay to be reduced.

[発明の効果] 本発明によれば廃棄特性と遅延特性を独立に制御できる
ため1例えば廃棄は多いが遅延は小さいクラスや、その
逆のクラスというように様々な品質クラスの制御を実現
できると共に、低優先セルをバッファメモリの使用量に
より書き込み制限したり、廃棄することにより人力した
セルより優先度の低いクラスのセルの影響によりそのク
ラスの特性が左右されることがなくなる。
[Effects of the Invention] According to the present invention, since the discard characteristics and the delay characteristics can be controlled independently, it is possible to realize control of various quality classes, for example, a class with many discards but a small delay, and vice versa. By restricting writing to low-priority cells depending on the amount of buffer memory used or discarding them, the characteristics of the class will no longer be affected by the influence of cells of a class with a lower priority than manually generated cells.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図(a)は本発明の第1の原理構成図、第1図(b
lは第1の原理構成の作用説明図、第2図は本発明の第
2の原理構成図、第3図は実施例1の構成図、第4図(
a)は本発明によるバッファメモリの原理構成図、第4
図[有])は実施例1におけるセルの廃棄及び遅延の制
御特性、第5図は実施例2の構成図5第6図は従来例の
説明図である。 第1図(a)、第2図中5 ■−1〜1−n:廃棄手段 1′−1〜1′−n:廃棄手段 2−1〜2−n:廃棄クラス別のバッファメモリ内の各
領域 3−1〜3−n・バッファ量測定手段 4、 4’  :廃棄制御部 5:遅延制御部 6:セレクタ 7:廃棄クラス識別手段 8:クラス比較手段
FIG. 1(a) is the first principle configuration diagram of the present invention, FIG. 1(b)
1 is an explanatory diagram of the operation of the first principle configuration, FIG. 2 is a diagram of the second principle configuration of the present invention, FIG. 3 is a diagram of the configuration of Example 1, and FIG.
a) is a principle block diagram of the buffer memory according to the present invention, No. 4
FIG. 5 shows the control characteristics of cell discard and delay in the first embodiment, FIG. 5 shows the configuration of the second embodiment, and FIG. 6 shows an explanatory diagram of the conventional example. Figure 1 (a), 5 in Figure 2 ■-1 to 1-n: Disposal means 1'-1 to 1'-n: Disposal means 2-1 to 2-n: Data in the buffer memory for each discard class. Each area 3-1 to 3-n/Buffer amount measuring means 4, 4': Discard control section 5: Delay control section 6: Selector 7: Discard class identification means 8: Class comparison means

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)複数の入出力ハイウェイ間を接続するスイッチン
グ素子にバッファメモリを備えたATM交換機の通話路
における品質クラス制御方式において、セルに廃棄特性
と遅延特性に応じた品質クラスを付加し、 前記一つのバッファメモリを前記品質クラスに対応した
領域にその到着量により分割し、 廃棄制御部は、入力するセルを前記バッファメモリの対
応する品質クラスの領域に書き込む時にバッファメモリ
の合計使用量に対応して、廃棄品質クラス毎に独立に予
め設定されたしきい値を超えたセルを廃棄する制御を行
い、 遅延制御部は前記バッファメモリからの読み出し時に遅
延品質クラスに対応して読み出し順序の優先制御を行う
ことを特徴とするATM交換機の通話路における品質ク
ラス制御方式
(1) In a quality class control method for the communication path of an ATM switch that is equipped with a buffer memory in a switching element that connects a plurality of input/output highways, quality classes are added to cells according to their discard characteristics and delay characteristics; The discard control unit divides one buffer memory into areas corresponding to the quality class according to the amount of arrival thereof, and the discard control unit divides the input cells into areas of the corresponding quality class of the buffer memory according to the total usage of the buffer memory. control to discard cells that exceed a preset threshold independently for each discard quality class, and the delay control unit performs priority control of read order in accordance with the delay quality class when reading from the buffer memory. A quality class control method for the communication path of an ATM switch, which is characterized by performing the following:
(2)複数の入出力ハイウェイ間を接続するスイッチン
グ素子にバッファメモリを備えたATM交換機の通話路
における品質クラス制御方式において、セルに廃棄特性
と遅延特性に応じた品質クラスを付加し、 前記一つのバッファメモリを前記品質クラスに対応した
領域にその到着量により分割し、 廃棄制御部は、入力セルをバッファメモリに書き込む時
、バッファメモリの合計使用量のフル状態の検出手段の
出力により該入力セルの廃棄品質クラスより下位のクラ
スの領域からセルを廃棄し、空いた領域を前記入力セル
の品質クラス用の領域として割当て、入力セルを書き込
む制御を行い、遅延制御部は遅延品質クラスに対応して
読み出し順序の優先制御を行うことを特徴とするATM
交換機の通話路における品質クラス制御方式。
(2) In a quality class control method for the communication path of an ATM switch that is equipped with a buffer memory in a switching element that connects a plurality of input/output highways, quality classes are added to cells according to their discard characteristics and delay characteristics; When writing an input cell to the buffer memory, the discard control unit divides the input cell into areas corresponding to the quality class according to the amount of arrival, and when the input cell is written to the buffer memory, the discard control unit divides the input cell into areas corresponding to the quality class based on the output of the full state detection means of the total usage of the buffer memory. Cells are discarded from areas of classes lower than the cell discard quality class, the empty area is allocated as an area for the quality class of the input cell, and the input cell is controlled to be written, and the delay control unit corresponds to the delay quality class. An ATM characterized by performing priority control of reading order by
A quality class control method for the communication path of an exchange.
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