JPH0420753Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0420753Y2 JPH0420753Y2 JP1987116751U JP11675187U JPH0420753Y2 JP H0420753 Y2 JPH0420753 Y2 JP H0420753Y2 JP 1987116751 U JP1987116751 U JP 1987116751U JP 11675187 U JP11675187 U JP 11675187U JP H0420753 Y2 JPH0420753 Y2 JP H0420753Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resist solution
- container
- wafer
- supply device
- resist
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Details Of Rigid Or Semi-Rigid Containers (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の技術分野〕
本考案はレジスト溶液供給装置に係り、特に、
レジスト溶液専用容器に収容されているレジスト
溶液をウエハー回転機構により回転されている集
積回路を形成するためのウエハーまで供給し、該
ウエハー上に滴下塗布するレジスト溶液供給装置
に関するものである。[Detailed description of the invention] [Industrial technical field] The present invention relates to a resist solution supply device, and in particular,
The present invention relates to a resist solution supply device that supplies a resist solution contained in a resist solution dedicated container to a wafer for forming an integrated circuit that is being rotated by a wafer rotation mechanism, and drops the resist solution onto the wafer.
IC、LSI等の集積回路の製造行程において、ウ
エハーには1回あるいは複数回の感光処理が施さ
れ、所望の回路が形成されていることは周知の通
りである。この製造工程における感光処理に際し
ては、レジスト溶液がウエハー上に塗布されて所
望厚のレジスト層が形成される。ウエハー上に塗
布するためウエハーまで供給するレジスト溶液は
一般に専用容器に収容されていて、変質を極力阻
止するように管理される。
It is well known that in the manufacturing process of integrated circuits such as ICs and LSIs, wafers are subjected to one or more photosensitive treatments to form desired circuits. During photosensitive treatment in this manufacturing process, a resist solution is applied onto the wafer to form a resist layer with a desired thickness. The resist solution supplied to the wafer for coating on the wafer is generally stored in a special container and managed to prevent deterioration as much as possible.
専用容器として、従来はガラスビンにスクリユ
ーキヤツプを取り付けたもの、あるいはステンレ
スのキヤニスターが用いられている。これらの容
器からレジスト溶液を取り出してウエハーまで供
給し、該ウエハー上に塗布するレジスト溶液供給
装置としては、第7図、第8図に示すようなもの
が利用される。 Conventionally, a glass bottle with a screw cap attached to it or a stainless steel canister has been used as a special container. As a resist solution supply device for taking out the resist solution from these containers, supplying it to the wafer, and coating it on the wafer, those shown in FIGS. 7 and 8 are used.
第7図のレジスト溶液供給装置は、容器1内か
らベローズポンプ2によりレジスト溶液3を排出
させ、これをエアオペ4、サツクバツク5を介し
てウエハー回転機構Rによつて回転されているウ
エハー6上に滴下塗布するものである。この際容
器1内にはレジスト溶液3の減少による内圧降下
と、レジスト溶液3の変質を阻止するため例えば
N2ガスの如き不活性ガス7が供給される。 The resist solution supply device shown in FIG. 7 discharges a resist solution 3 from inside a container 1 using a bellows pump 2, and transfers the resist solution 3 via an air operator 4 and a suction bag 5 onto a wafer 6 being rotated by a wafer rotation mechanism R. It is applied dropwise. At this time, in order to prevent the internal pressure from decreasing due to the decrease in the resist solution 3 and the deterioration of the resist solution 3, for example,
An inert gas 7 such as N2 gas is supplied.
第8図のレジスト溶液供給装置は、容器1内に
外部から加圧した不活性ガス7を注入し、この圧
力によりレジスト溶液3をエアオペ4、サツクバ
ツク5を介してウエハー6まで供給してその上に
滴下塗布するものである。 The resist solution supply device shown in FIG. 8 injects a pressurized inert gas 7 into a container 1 from the outside, and uses this pressure to supply a resist solution 3 to a wafer 6 via an air operator 4 and a suction bag 5, and then It is applied dropwise.
しかし乍ら、上記の装置では、いずれも容器1
内に不活性ガスを注入することから、レジスト溶
液3中の溶媒が蒸発して、溶液3の粘度が変化す
る。この粘度変化はレジスト塗布後の仕上り膜厚
を不安定なものとし、集積回路の製造に支障をき
たすおそれがある。
However, in both the above devices, the container 1
Since the inert gas is injected into the resist solution 3, the solvent in the resist solution 3 evaporates and the viscosity of the solution 3 changes. This change in viscosity makes the finished film thickness after resist coating unstable, which may impede the production of integrated circuits.
本考案は、上記の点に鑑みて成されたもので、
ウエハーへ供給して塗布するレジスト溶液を変質
させることなく供給することのできるレジスト溶
液供給装置を提供することを目的としている。 This invention was made in view of the above points,
It is an object of the present invention to provide a resist solution supply device that can supply a resist solution to be applied onto a wafer without deteriorating its quality.
上記目的を達成するため本考案により成された
レジスト溶液供給装置は、レジスト溶液専用容器
に収容されているレジスト溶液をウエハー回転機
構により回転されている集積回路を形成するため
のウエハーまで供給し、該ウエハー上に滴下塗布
するレジスト溶液供給装置において、前記レジス
ト溶液専用容器がポリプロピレン、ポリエチレ
ン、テフロン等の耐食性合成樹脂材料により予め
折り目が付けられて形成され、前記レジスト溶液
専用容器に連通したポンプによるその内圧の減少
により、あるいは前記レジスト溶液専用容器を収
容した加圧容器によるその外圧の上昇により前記
折り目が折れて前記レジスト溶液専用容器の内容
積が減少し、該内容積の減少により前記レジスト
溶液専用容器が内部のレジスト溶液を排出し、該
排出したレジスト溶液を前記ウエハーまで供給す
るようにしたことを特徴としている。
In order to achieve the above object, a resist solution supply device according to the present invention supplies a resist solution contained in a resist solution dedicated container to a wafer for forming an integrated circuit that is rotated by a wafer rotation mechanism, In the resist solution supply device for dropwise coating onto the wafer, the resist solution container is formed of a corrosion-resistant synthetic resin material such as polypropylene, polyethylene, Teflon, etc. with creases in advance, and the resist solution is supplied by a pump communicating with the resist solution container. Due to a decrease in the internal pressure or an increase in the external pressure due to the pressurized container containing the resist solution container, the crease is bent and the inner volume of the resist solution container is reduced, and the resist solution solution is reduced in internal volume. A special feature is that the resist solution inside is discharged from the dedicated container, and the discharged resist solution is supplied to the wafer.
また、好ましい実施例では、前記レジスト溶液
専用容器が内部のレジスト溶液に光が入射するの
を阻止するアルミニウムフイルム等の遮光膜を有
することを特徴としている。 Further, in a preferred embodiment, the resist solution dedicated container has a light shielding film such as an aluminum film that prevents light from entering the resist solution inside.
上記構成により、集積回路を形成するためのウ
エハーまで供給してその上に滴下塗布するレジス
ト溶液を収容するレジスト溶液専用容器が、ポリ
プロピレン、ポリエチレン、テフロン等の耐食性
合成樹脂材料により予め折り目が付けられて形成
されている。このレジスト溶液専用容器は、これ
に連通したポンプによるその内圧の減少により、
あるいはこれを収容した加圧容器によるその外圧
の上昇により、上記折り目で折れてその内容積が
減少する。そして、この内容積の減少によりレジ
スト溶液専用容器内部のレジスト溶液が排出され
てウエハーまで供給されるようになつているの
で、レジスト溶液専用容器内のレジスト溶液はウ
エハーまで供給されてその上に滴下塗布されるさ
れるまで任意のガスから遮断された状態に保持さ
れる。
With the above configuration, a resist solution container containing a resist solution to be supplied to a wafer for forming an integrated circuit and applied dropwise onto the wafer is made of a corrosion-resistant synthetic resin material such as polypropylene, polyethylene, or Teflon, and has creases formed in advance. It is formed by This dedicated resist solution container reduces its internal pressure by the pump connected to it.
Alternatively, due to an increase in the external pressure caused by the pressurized container that houses it, it will break at the folds and its internal volume will decrease. Due to this reduction in internal volume, the resist solution inside the resist solution container is drained and supplied to the wafer, so the resist solution in the resist solution container is supplied to the wafer and dripped onto it. It is kept isolated from any gas until it is applied.
第1図は本考案のレジスト溶液供給装置に使用
されるレジスト溶液専用容器の一実施例を示す概
観図で、容器1は上方を曲面とし、中間部及び下
部を直方体形状としたもので、両側面1aには縦
方向の折り目1bと、この折り目1bと連らなる
斜め方向の折り目1cとを備えている。従つて、
容器1の外周部より圧力が加わると、折り目1
b,1cはいずれも内方に折れ曲るから、容器1
の内容積は減少する。尚、容器1の上部には接続
口1dが一体に設けられている。
FIG. 1 is an overview diagram showing an embodiment of a container exclusively for resist solution used in the resist solution supply device of the present invention. The surface 1a has a vertical fold line 1b and an oblique fold line 1c continuous with the fold line 1b. Therefore,
When pressure is applied from the outer periphery of container 1, crease 1
Since both b and 1c are bent inward, container 1
The internal volume of will decrease. Incidentally, a connection port 1d is integrally provided in the upper part of the container 1.
第2図はこの容器1をレジスト塗布ラインに接
続した状態を示しており、容器1内のレジスト溶
液3はベローズポンプ2により引き上げられ、エ
アオペ4、サツクバツク5を介して上はウエハー
回転機構Rを構成するチヤツク上で回転している
ウエハー6上に滴下される。レジスト液3の減少
により容器1内は減圧されるが、大気圧によつて
折り目1b,1cが押圧されて内方に折り曲げら
れるため、容器1内の内容積が減少し、これによ
り容器1内は所定の圧力に保持される。 FIG. 2 shows this container 1 connected to a resist coating line, and the resist solution 3 in the container 1 is pulled up by a bellows pump 2, and then passed through an air operator 4 and a suction back 5 to a wafer rotation mechanism R. The liquid is dropped onto the wafer 6 which is rotating on the constituent chuck. As the resist liquid 3 decreases, the pressure inside the container 1 is reduced, but the folds 1b and 1c are pressed and bent inward by atmospheric pressure, so the internal volume of the container 1 decreases, and as a result, the inside volume of the container 1 decreases. is held at a predetermined pressure.
第3図は上記容器1を他の加圧容器8内に配
し、加圧容器8内には加圧用の不活性ガス7を注
入し、不活性ガス7の圧力により容器1内のレジ
スト溶液3をウエハー6上に供給するようにした
ものである。 In FIG. 3, the container 1 is placed inside another pressurized container 8, an inert gas 7 for pressurization is injected into the pressurized container 8, and the pressure of the inert gas 7 is applied to the resist solution in the container 1. 3 is supplied onto the wafer 6.
第4図、第5図、第6図は、容器1に接続口1
dを後行程にて取り付けるようにした例を示して
おり、容器本体1には、内面にプロテクタ9が貼
着されており、その上部には第6図に示す形上の
口金10が取り付けられている。この口金10は
一対の円弧状部品からなり、テーパ状のガイド部
10aと、ガイド部10aの終端部に設けられた
段状のロツク部10bとを一対有している。 Figures 4, 5, and 6 show connection port 1 in container 1.
d is attached in a later step, and a protector 9 is attached to the inner surface of the container body 1, and a cap 10 shaped as shown in FIG. 6 is attached to the upper part of the protector 9. ing. The cap 10 is composed of a pair of arcuate parts, and has a pair of tapered guide portions 10a and a stepped lock portion 10b provided at the end of the guide portion 10a.
この口金10に係止される連結具11は第6図
に示すようであり、中央に導入孔11aを備えた
針11bと、両側にボス11cを形成した留金部
11dと、外周に凹凸を設けたクランプ部11e
とを有し、第5図に示すようにクランプ部11e
の外周にはテフロン管12が装着され、クランプ
部材13によつてテフロン管12と隙間なく接続
される。尚14は容器1上面と圧接するOリング
である。 The connector 11 that is secured to the cap 10 is as shown in FIG. 6, and includes a needle 11b with an introduction hole 11a in the center, a clasp portion 11d with bosses 11c formed on both sides, and an uneven outer periphery. The provided clamp part 11e
As shown in FIG.
A Teflon tube 12 is attached to the outer periphery of the tube, and is connected to the Teflon tube 12 by a clamp member 13 without a gap. Note that 14 is an O-ring that comes into pressure contact with the upper surface of the container 1.
従つて、容器1はレジスト溶液を収容した状態
で製造工程ラインから別途に保管することがで
き、使用時には予めクランプ部材13によりテフ
ロン管12を連結具11に装着しておき、連結具
11の針11bを容器1に刺し、口金10のロツ
ク部10bにガイド部10aを経て連結具11の
ボス11cを装着することにより、容易に製造工
程ラインに設置することができる。 Therefore, the container 1 containing the resist solution can be stored separately from the manufacturing process line, and when used, the Teflon tube 12 is attached to the connector 11 with the clamp member 13 in advance, and the needle of the connector 11 is 11b is inserted into the container 1, and the boss 11c of the connector 11 is attached to the lock portion 10b of the mouthpiece 10 via the guide portion 10a, thereby making it possible to easily install it on a manufacturing process line.
なお、プロテクタ9は針11bを刺し込む際に
容器1を保護するものであるが、これは省略する
ことも可能である。この場合、口金10を容器1
と一体に形成することもできる。 Although the protector 9 protects the container 1 when the needle 11b is inserted, it may be omitted. In this case, the cap 10 is
It can also be formed integrally with.
また、上記実施例では、容器1は着色合成樹脂
材のみで形成したが、アルミニウムフイルム等の
遮光性の薄膜を外表面にコーテイングするか、又
はサンドイツチした材料を使用すれば、容器1内
のレジスト溶液は遮光され、レジスト溶液の劣化
をより防止できる。 Further, in the above embodiment, the container 1 was formed only from a colored synthetic resin material, but if the outer surface is coated with a light-shielding thin film such as an aluminum film or a sand-chilled material is used, the resist inside the container 1 can be The solution is shielded from light, and deterioration of the resist solution can be further prevented.
更に、容器1の形状は、折れ目が形成されてい
れば断面長方形、楕円形等種々変形したものを用
いることができるのは当然である。 Furthermore, it goes without saying that the shape of the container 1 can be modified in various ways, such as a rectangular or elliptical cross section, as long as a fold is formed.
以上説明したように本考案によれば、ポリプロ
ピレン、ポリエチレン、テフロン等の耐食性合成
樹脂材料により予め折り目が付けられて形成され
たレジスト溶液専用容器を使用し、これに連通し
たポンプによるその内圧の減少により、あるいは
これを収容した加圧容器によるその外圧の上昇に
より、容器を上記折り目で折つてその内容積を減
少することにより、その内部のレジスト溶液を排
出してウエハーまで供給するようになつていて、
レジスト溶液はウエハーまで供給されてその上に
滴下塗布されるまで任意のガスから遮断された状
態に保持されるので、ウエハーに塗布されるレジ
スト溶液の変質を抑制することができ、ウエハー
へのレジスト溶液の塗布を常に精度良く行うこと
ができるようになる。
As explained above, according to the present invention, a resist solution exclusive container made of a corrosion-resistant synthetic resin material such as polypropylene, polyethylene, Teflon, etc. with creases in advance is used, and the internal pressure is reduced by a pump communicating with the resist solution container. By folding the container at the above-mentioned crease and reducing its internal volume by increasing the external pressure of the pressurized container containing the resist solution, the resist solution inside the container is drained and supplied to the wafer. hand,
Since the resist solution is supplied to the wafer and kept in a state cut off from any gas until it is applied dropwise onto the wafer, deterioration of the resist solution applied to the wafer can be suppressed, and the resist solution applied to the wafer can be Solution application can always be performed with high precision.
また、好ましい実施例では、レジスト溶液専用
容器が内容のレジスト溶液に光が入射するのを阻
止するアルミニウムフイルム等の遮光膜を有する
ので、光によるレジスト溶液の劣化も簡単に防止
できるようになる。 Further, in a preferred embodiment, since the resist solution container has a light-shielding film such as an aluminum film that prevents light from entering the resist solution, deterioration of the resist solution due to light can be easily prevented.
第1図は本考案のレジスト溶液供給装置に使用
するレジスト溶液専用容器の一実施例を示す外観
図、第2図は第1図の容器を使用した本考案によ
るレジスト溶液供給装置の一実施例を示す説明
図、第3図は他の実施例を示す説明図、第4図は
第1図の容器の一部分変形例を示す外観図、第5
図は第4図の実施例に用いられる口金部分の断面
図、第6図は第4,5図における連結具及び口金
の斜視図、第7図、第8図はそれぞれ従来のレジ
スト溶液供給装置の例を示す説明図である。
1……容器、1b,1c……折り目、2……ポ
ンプ(ベローズポンプ)、6……ウエハー、8…
…加圧容器、R……ウエハー回転機構。
FIG. 1 is an external view showing an embodiment of a dedicated resist solution container used in the resist solution supply device of the present invention, and FIG. 2 is an embodiment of the resist solution supply device of the present invention using the container shown in FIG. FIG. 3 is an explanatory diagram showing another embodiment, FIG. 4 is an external view showing a partial modification of the container in FIG. 1, and FIG.
The figure is a cross-sectional view of the cap part used in the embodiment of FIG. 4, FIG. 6 is a perspective view of the connector and cap in FIGS. 4 and 5, and FIGS. 7 and 8 are conventional resist solution supply devices. It is an explanatory view showing an example. 1... Container, 1b, 1c... Crease, 2... Pump (bellows pump), 6... Wafer, 8...
...Pressure container, R...Wafer rotation mechanism.
Claims (1)
スト溶液をウエハー回転機構により回転されて
いる集積回路を形成するためのウエハーまで供
給し、該ウエハー上に滴下塗布するレジスト溶
液供給装置において、 前記レジスト溶液専用容器がポリプロピレ
ン、ポリエチレン、テフロン等の耐食性合成樹
脂材料により予め折り目が付けられて形成さ
れ、 前記レジスト溶液専用容器に連通したポンプ
によるその内圧の減少により、あるいは前記レ
ジスト溶液専用容器を収容した加圧容器による
その外圧の上昇により前記折り目が折れて前記
レジスト溶液専用容器の内容積が減少し、 該内容積の減少により前記レジスト溶液専用
容器が内部のレジスト溶液を排出し、該排出し
たレジスト溶液を前記ウエハーまで供給するよ
うにした ことを特徴とするレジスト溶液供給装置。 (2) 前記レジスト溶液専用容器が内部のレジスト
溶液に光が入射するのを阻止するアルミニウム
フイルム等の遮光膜を有する ことを特徴とする実用新案登録請求の範囲第1
項記載のレジスト溶液供給装置。[Claims for Utility Model Registration] (1) A resist solution contained in a container exclusively for resist solution is supplied to a wafer for forming an integrated circuit which is being rotated by a wafer rotation mechanism, and applied dropwise onto the wafer. In the resist solution supply device, the resist solution dedicated container is formed of a corrosion-resistant synthetic resin material such as polypropylene, polyethylene, or Teflon with creases formed in advance, and the internal pressure is reduced by a pump communicating with the resist solution dedicated container, or Due to an increase in the external pressure of the pressurized container housing the resist solution container, the crease is bent and the internal volume of the resist solution container is reduced, and due to the decrease in internal volume, the resist solution container is compressed by the resist solution inside. A resist solution supply device characterized in that the resist solution is discharged and the discharged resist solution is supplied to the wafer. (2) Utility model registration claim 1, characterized in that the resist solution exclusive container has a light-shielding film such as an aluminum film that prevents light from entering the resist solution inside.
The resist solution supply device described in Section 3.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987116751U JPH0420753Y2 (en) | 1987-07-31 | 1987-07-31 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987116751U JPH0420753Y2 (en) | 1987-07-31 | 1987-07-31 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6423449U JPS6423449U (en) | 1989-02-08 |
| JPH0420753Y2 true JPH0420753Y2 (en) | 1992-05-12 |
Family
ID=31359573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987116751U Expired JPH0420753Y2 (en) | 1987-07-31 | 1987-07-31 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0420753Y2 (en) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5521980U (en) * | 1978-07-31 | 1980-02-13 | ||
| JPS57117315U (en) * | 1981-01-12 | 1982-07-21 | ||
| JPS6119067U (en) * | 1984-07-10 | 1986-02-04 | 油谷重工株式会社 | Hydraulic excavator steering system |
-
1987
- 1987-07-31 JP JP1987116751U patent/JPH0420753Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6423449U (en) | 1989-02-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR970077117A (en) | Coater with controllable pressurized processing chamber for semiconductor processing | |
| JPH0420753Y2 (en) | ||
| JP2002531330A (en) | Pump connection device | |
| TW200517786A (en) | Mask blanks and method of producing the same | |
| US6066578A (en) | Method and system for providing inorganic vapor surface treatment for photoresist adhesion promotion | |
| CA2412784A1 (en) | A static air-intake device for drawing air into a liquid dispener | |
| JPS60226125A (en) | Formation of resist film | |
| JPH031823B2 (en) | ||
| JPH04196220A (en) | Hermetically sealed container | |
| JPS5950525A (en) | Photo resist applying device | |
| JPH0356163A (en) | Spinner head | |
| JPS60139363A (en) | Exhaustion control apparatus of automatic resist coating apparatus | |
| JPH0241895B2 (en) | ||
| JPH0353690Y2 (en) | ||
| KR20240081839A (en) | Apparatus for processing substrate and method for processing substrate | |
| JP4300625B2 (en) | Discharge device | |
| JPS6161416A (en) | Semiconductor manufacturing device | |
| JPH0367264A (en) | Device for coating photosensitive body | |
| JPS63140623U (en) | ||
| JPS60193339A (en) | Resist film coating method | |
| JP2000355328A (en) | Dilute liquid container | |
| JPH0612867Y2 (en) | Creamy fluid dispensing container | |
| US6360959B1 (en) | Dual resist dispense nozzle for wafer tracks | |
| GB2175278A (en) | Avoiding drips in liquid dispensing | |
| JPS63232127A (en) | Chemical supply device |