JPH04205566A - Verifying device for data designing mask pattern of semiconductor integrated circuit - Google Patents

Verifying device for data designing mask pattern of semiconductor integrated circuit

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Publication number
JPH04205566A
JPH04205566A JP2339953A JP33995390A JPH04205566A JP H04205566 A JPH04205566 A JP H04205566A JP 2339953 A JP2339953 A JP 2339953A JP 33995390 A JP33995390 A JP 33995390A JP H04205566 A JPH04205566 A JP H04205566A
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JP
Japan
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cell
information
input
output terminal
name
Prior art date
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Pending
Application number
JP2339953A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hisatoshi Nishimura
久寿 西村
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Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
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Publication date
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  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To automatically verify the corresponding relation between cell information and a net list before executing the generating work of a mask pattern by collating an input/output terminal name and input/output terminal attribute information between the cell information and the net list. CONSTITUTION:Information used in common between cell information and a net list is a cell name to specify a cell, an input/output terminal name within the cell and a input/output terminal attribute information to indicate whether an input/output terminal is an input terminal or an output terminal. A unit information retrieving means 4 retrieves the cell name same as the cell name extracted from within the net list 2 from within the cell information. When the same cell name is not retrieved, the discrimination of the effect of uncoincidence is executed by a verified result discriminating means. When the same cell name is retrieved, the input/output terminal name and the input/output terminal attribute information are collated in the both cells. Thus, when the uncoincidence is generated, since the discrimination of the effect of the uncoincidence is executed by a verified result discriminating means 7, corresponding relation between the cell information and the net list can be verified automatically.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体集積回路のマスクパターン設計用デー
タの検証装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a verification device for mask pattern design data for semiconductor integrated circuits.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

半導体集積回路のマスクパターンを設計する手法として
、標準セル方式を用いた自動レイアウト法が知られてい
る。この方法では、汎用の機能ブロックセルや論理セル
のいくつかを、予め標準セルとして設計しておき、具体
的な半導体集積回路を設計する場合には、用意された標
準セルを組み合わせて全体のレイアウト設計を行う。別
言すれば、標準セルをセルライブラリーとして用意して
おき、このセルライブラリーを利用して実際の集積回路
についてのレイアウト設計を行うことになる。通常は、
1つの標準セルが、同一の集積回路の中で何か所にも用
いられ、また、別な集積回路においても繰り返し利用さ
れる。したがって、標準セルを一度設計しておけば、将
来に亘ってこれを設計資産として残し、有効利用を図る
ことができる。
An automatic layout method using a standard cell method is known as a method for designing mask patterns for semiconductor integrated circuits. In this method, some general-purpose functional block cells and logic cells are designed in advance as standard cells, and when designing a specific semiconductor integrated circuit, the prepared standard cells are combined to create the overall layout. Do the design. In other words, standard cells are prepared as a cell library, and this cell library is used to design the layout of an actual integrated circuit. Normally,
A standard cell may be used multiple times in the same integrated circuit, and may be used repeatedly in different integrated circuits. Therefore, once a standard cell is designed, it can be kept as a design asset and used effectively in the future.

この標準セル方式を用いた自動レイアウト法では、セル
ライブラリーとして用意されたセル情報と、具体的な設
計対象となる半導体集積回路についてのネットリストと
、を用意し、これらに基づいて所定の演算を行うことに
より、マスクパターンを自動的に生成することになる。
In this automatic layout method using the standard cell method, cell information prepared as a cell library and a netlist for a semiconductor integrated circuit to be specifically designed are prepared, and predetermined calculations are performed based on these. By doing this, a mask pattern will be automatically generated.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述したように、標準セル方式を用いた自動レイアウト
法では、セル情報とネットリストとに基づいて、マスク
パターンが自動生成されることになるが、両者間に不一
致が生じていた場合には、所望のマスクパターンを得る
ことができなくなる。
As mentioned above, in the automatic layout method using the standard cell method, a mask pattern is automatically generated based on the cell information and the netlist, but if there is a mismatch between the two, It becomes impossible to obtain a desired mask pattern.

一般に、半導体集積回路では、階層構造をもった多数の
セルが定義され、各セルが相互に複雑に接続される。し
たがって、ネットリストの作成時に、セル名を取り違え
たり、各セル内の入出力端子名を取り違えたり、入力か
出力かの属性を取り違えたり、といったミスを犯しやす
い。ネットリストにこのようなミスが含まれていると、
誤ったマスクパターンが生成されることになり、ミスを
修正した後に、再度マスクパターンの生成作業を行うと
いう無駄な工程に時間を費やす結果となる。
Generally, in a semiconductor integrated circuit, a large number of cells having a hierarchical structure are defined, and each cell is interconnected in a complicated manner. Therefore, when creating a netlist, it is easy to make mistakes such as mixing up cell names, mixing up the names of input/output terminals in each cell, and mixing up the input or output attributes. If the netlist contains such mistakes,
An erroneous mask pattern will be generated, and time will be wasted in the wasteful process of re-generating the mask pattern after correcting the mistake.

そこで本発明は、マスクパターンの生成作業を行う前に
、セル情報とネットリストとの対応関係を自動的に検証
することのできる半導体集積回路のマスクパターン設計
用データの検証装置を提供することを目的とする。
Therefore, an object of the present invention is to provide a verification device for mask pattern design data for semiconductor integrated circuits that can automatically verify the correspondence between cell information and a netlist before performing mask pattern generation work. purpose.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明は、セルを特定するためのセル名と、このセルに
ついて設けられた入出力端子を特定するための入出力端
子名と、入出力端子の位置を特定するための入出力端子
位置情報と、入出力端子か用いる配線層を特定するため
の入出力端子層情報と、入出力端子が入力端子または出
力端子のいずれであるかを特定するための入出力端子属
性情報と、を1つのセルについての単位情報と定義し、
この単位情報を複数のセルについて定義することにより
得られるセル情報を用意し、 セルを特定するためのセル名と、このセルについて設け
られた入出力端子を特定するための入出力端子名と、入
出力端子が入力端子または出力端子のいずれであるかを
特定するための入出力端子属性情報と、下位のセルにつ
いての相互の接続状態を示すセル間接続情報と、を1つ
のセルについての単位情報と定義し、この単位情報を複
数のセルについて定義することにより得られるネットリ
ストを用意し、 用意したセル情報とネットリストとに基づいて、半導体
集積回路のマスクパターンを設計する際に、セル情報と
ネットリストとの対応関係を検証する検証装置であって
、 セル情報を記憶するセル情報記憶手段と、ネットリスト
を記憶するネットリスト記憶手段と、 ネットリスト記憶手段から、任意の1セルについての単
位情報を抽出する単位情報抽出手段と、単位情報抽出手
段により抽出された単位情報に関するセル名と同一のセ
ル名をもつ単位情報を、セル情報記憶手段から検索する
単位情報検索手段と、 単位情報抽出手段により抽出された単位情報から、入出
力端子名および入出力端子属性情報を抽出する共通情報
抽出手段と、 共通情報抽出手段により抽出された入出力端子名および
入出力端子属性情報を、単位情報検索手段により検索さ
れた単位情報内の入出力端子名および入出力端子属性情
報と照合する共通情報照合手段と、 単位情報検索手段により同一のセル名をもつ単位情報が
検索できなかったとき、あるいは、共通情報照合手段に
よる照合結果が不一致となったとき、対応関係に不一致
がある旨の判定結果を出力する検証結果判定手段と、 を設けたものである。
The present invention provides a cell name for specifying a cell, an input/output terminal name for specifying an input/output terminal provided for this cell, and input/output terminal position information for specifying a position of the input/output terminal. , input/output terminal layer information for specifying the input/output terminal or the wiring layer used, and input/output terminal attribute information for specifying whether the input/output terminal is an input terminal or an output terminal, in one cell. Define unit information about
Cell information obtained by defining this unit information for multiple cells is prepared, and a cell name to identify the cell, an input/output terminal name to identify the input/output terminal provided for this cell, Input/output terminal attribute information for specifying whether an input/output terminal is an input terminal or an output terminal, and inter-cell connection information indicating the mutual connection status of lower cells, for one cell. A netlist obtained by defining this unit information for multiple cells is prepared, and when designing a mask pattern for a semiconductor integrated circuit based on the prepared cell information and netlist, the cell A verification device for verifying the correspondence between information and a netlist, comprising: cell information storage means for storing cell information; netlist storage means for storing the netlist; and a verification device for any one cell from the netlist storage means. unit information extraction means for extracting unit information of the unit; unit information retrieval means for retrieving unit information having the same cell name as the cell name related to the unit information extracted by the unit information extraction means from the cell information storage means; common information extraction means for extracting input/output terminal names and input/output terminal attribute information from the unit information extracted by the information extraction means; A common information matching means that matches the input/output terminal name and input/output terminal attribute information in the unit information searched by the unit information searching means, and when unit information with the same cell name cannot be retrieved by the unit information searching means. Alternatively, when the comparison result by the common information comparison means does not match, a verification result judgment means outputs a judgment result indicating that there is a mismatch in the correspondence relationship.

〔作 用〕[For production]

セル情報とネットリストとの間で共通して用いられる情
報は、セルと特定するためのセル名と、そのセル内の入
出力端子名と、この入出力端子が入力端子か出力端子か
を示す入出力端子属性情報と、である。単位情報検索手
段は、ネットリスト内から抽出されたセル名と同一のセ
ル名をセル情報内から検索する。同一のセル名が検索さ
れなければ、検証結果判定手段により不一致の旨の判定
かなされる。同一のセル名が検索されれば、そのセル同
士において、入出力端子名および入出力端子属性情報か
照合される。この結果、不一致を生しれば、やはり検証
結果判定手段による不一致の旨の判定がなされる。こう
して、セル情報とネットリストとの間の対応関係を自動
的に検証することかできる。
The information commonly used between cell information and netlists is the cell name to identify it as a cell, the name of the input/output terminal within that cell, and whether this input/output terminal is an input terminal or an output terminal. and input/output terminal attribute information. The unit information search means searches cell information for the same cell name as the cell name extracted from the netlist. If the same cell name is not retrieved, the verification result determining means determines that there is no match. If the same cell name is retrieved, input/output terminal names and input/output terminal attribute information are compared between the cells. As a result, if a mismatch occurs, the verification result determining means determines that there is a mismatch. In this way, the correspondence between the cell information and the netlist can be automatically verified.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明を図示する実施例に基づいて説明する。第
1図は本発明に係る検証装置の基本構成を示すブロック
図である。セル情報記憶手段1およびネットリスト記憶
手段2は、いずれも半導体集積回路のマスクパターン設
計装置(図示されていない)を構成するコンピュータに
接続されたディスクや磁気テープなどの記憶装置である
。マスクパターン設計装置は、セル情報記憶手段1内に
記憶されたセル情報と、ネットリスト記憶手段2内に記
憶されたネットリストと、に基づいて、所望のマスクパ
ターンを生成する。本発明に係る検証装置は、このマス
クパターン設計装置によるマスクパターン生成処理を行
う前に、セル情報記憶手段1内に記憶されたセル情報と
、ネットリスト記憶手段2内に記憶されたネットリスト
との対応関係を検証することを目的とする。
The present invention will be described below based on illustrated embodiments. FIG. 1 is a block diagram showing the basic configuration of a verification device according to the present invention. The cell information storage means 1 and the netlist storage means 2 are both storage devices such as a disk or a magnetic tape connected to a computer constituting a mask pattern design device (not shown) for a semiconductor integrated circuit. The mask pattern design device generates a desired mask pattern based on the cell information stored in the cell information storage means 1 and the netlist stored in the netlist storage means 2. The verification device according to the present invention compares the cell information stored in the cell information storage means 1 and the netlist stored in the netlist storage means 2 before performing mask pattern generation processing by this mask pattern design device. The purpose is to verify the correspondence relationship.

セル情報記憶手段1に記憶されたセル情報は、複数の単
位情報から構成されており、1つの単位情報は1つのセ
ルに対応して定義されている。より具体的には、1つの
単位情報は、セルを特定するためのセル名、このセルに
ついて設けられた入出力端子を特定するための入出力端
子名、入出力端子の位置を特定するための入出力端子位
置情報、入出力端子が用いる配線層を特定するための入
出力端子層情報、入出力端子が入力端子または出力端子
のいずれであるかを特定するための入出力端子属性情報
、という5つの要素から構成される。
The cell information stored in the cell information storage means 1 is composed of a plurality of unit information, and one unit information is defined corresponding to one cell. More specifically, one piece of unit information includes a cell name for specifying a cell, an input/output terminal name for specifying an input/output terminal provided for this cell, and an input/output terminal name for specifying the position of the input/output terminal. Input/output terminal position information, input/output terminal layer information for specifying the wiring layer used by the input/output terminal, and input/output terminal attribute information for specifying whether the input/output terminal is an input terminal or an output terminal. It consists of five elements.

一方、ネットリスト記憶手段2に記憶されたネットリス
トは、複数の単位情報から構成されており、1つの単位
情報は1つのセルに対応して定義されている。より具体
的には、1つの単位情報は、セルを特定するためのセル
名、このセルについて設けられた入出力端子を特定する
ための入出力端子名、入出力端子が入力端子または出力
端子のいずれであるかを特定するための入出力端子属性
情報、下位のセルについてのセル間接続情報、という4
つの要素から構成される。
On the other hand, the netlist stored in the netlist storage means 2 is composed of a plurality of unit information, and one unit information is defined corresponding to one cell. More specifically, one piece of unit information includes a cell name to identify the cell, an input/output terminal name to identify the input/output terminal provided for this cell, and whether the input/output terminal is an input terminal or an output terminal. 4. Input/output terminal attribute information to identify which one is, and inter-cell connection information for lower cells.
It consists of two elements.

セル情報記憶手段1内のセル情報と、ネットリスト記憶
手段2内のネットリストとの対応関係を検証するために
、本装置は、単位情報抽出手段3、単位情報検索手段4
、共通情報抽出手段5、共通情報照合手段6、および検
証結果判定手段7を備えている。これらの各手段は、実
際にはコンピュータのソフトウェアによって実現される
In order to verify the correspondence between the cell information in the cell information storage means 1 and the netlist in the netlist storage means 2, this device uses unit information extraction means 3 and unit information retrieval means 4.
, common information extraction means 5, common information collation means 6, and verification result determination means 7. Each of these means is actually realized by computer software.

単位情報抽出手段3は、ネットリスト記憶手段2から、
任意の1セルについての単位情報を抽出する機能を有す
る。また、単位情報検索手段4は、単位情報抽出手段3
から抽出された単位情報に関するセル名と同一のセル名
をもつ単位情報を、セル情報記憶手段1から検索する機
能を有する。更に、共通情報抽出手段5は、単位情報抽
出手段3により抽出された単位情報から、入出力端子名
および入出力端子属性情報を抽出し、共通情報照合手段
6は、この抽出された入出力端子名および入出力端子属
性情報を、単位情報検索手段4により検索された単位情
報内の入出力端子名および入出力端子属性情報と照合す
る機能を有する。そして、検証結果判定手段7は、単位
情報検索手段4により同一のセル名をもつ単位情報が検
索できなかったとき、あるいは、共通情報照合手段6に
よる照合結果が不一致となったとき、対応関係に不一致
がある旨の判定結果を出力する。
The unit information extraction means 3 extracts from the netlist storage means 2,
It has a function to extract unit information about any one cell. Further, the unit information retrieval means 4 includes the unit information extraction means 3.
It has a function of searching the cell information storage means 1 for unit information having the same cell name as the cell name related to the unit information extracted from the cell name. Furthermore, the common information extraction means 5 extracts input/output terminal names and input/output terminal attribute information from the unit information extracted by the unit information extraction means 3, and the common information collation means 6 extracts input/output terminal names and input/output terminal attribute information from the unit information extracted by the unit information extraction means 3. It has a function of comparing the name and input/output terminal attribute information with the input/output terminal name and input/output terminal attribute information in the unit information searched by the unit information search means 4. Then, when the unit information retrieval means 4 is unable to retrieve unit information having the same cell name, or when the common information collation means 6 results in a mismatch, the verification result determination means 7 determines the correspondence relationship. Outputs the determination result that there is a mismatch.

続いて、この第1図に示す装置の動作を、具体例に即し
て詳述する。いま、セル情報記憶手段1内の1つの単位
情報として、第2図に示すようなデータが記憶されてい
るものとする。この単位情報は、第3図に示すような標
準セルを規定するためのデータである。第2図に示すデ
ータの1行目は、この単位情報がセル名rC220Jな
るセルについての情報であることを示している。続く2
行目は、このセルのタイプが示されており、このセルが
rSTANDARD CELL J 、すなわち、標準
セルである旨が示されている。3〜4行目は、このセル
の大きさを定義するデータであり、3行目は座標値(0
,0)を示し、4行目は座標li&(150゜80)を
示している。すなわち、第3図に示すように、このセル
が、座標値(0,0)の点を左下隅点、座標値(150
,80)の点を右上隅点とした矩形のセルであることが
示されている。続く5〜7行目には、このセルについて
の入出力端子に関する情報が示されている。5行目には
、入出力端子名rAJなる入出力端子が、座標値(0゜
50)に位置し、その入出力端子属性情報は「INJ 
 (すなわち、入力端子)であり、入出力端子層情報は
rPOLYJ  (すなわち、ポリシリコン層を配線層
とする)であることが示されている。
Next, the operation of the apparatus shown in FIG. 1 will be explained in detail based on a specific example. Assume now that data as shown in FIG. 2 is stored as one unit of information in the cell information storage means 1. This unit information is data for defining a standard cell as shown in FIG. The first line of the data shown in FIG. 2 indicates that this unit information is information about a cell with the cell name rC220J. Continued 2
The type of this cell is shown in the row 1, and it is shown that this cell is rSTANDARD CELL J, that is, a standard cell. The 3rd and 4th lines are the data that defines the size of this cell, and the 3rd line is the coordinate value (0
, 0), and the fourth line shows the coordinates li&(150°80). That is, as shown in FIG.
, 80) as the upper right corner point. The following 5th to 7th lines show information regarding the input/output terminals for this cell. In the fifth line, the input/output terminal with the input/output terminal name rAJ is located at the coordinate value (0°50), and the input/output terminal attribute information is "INJ".
(that is, an input terminal), and the input/output terminal layer information is rPOLYJ (that is, a polysilicon layer is used as a wiring layer).

同様に、6行目には、入出力端子名rBJなる入出力端
子が、座標値(0,30)に位置し、その入出力端子属
性情報はrINJであり、入出力端子層情報はrPOL
YJであることが示されている。更に、7行目には、入
出力端子名「C」なる入出力端子が、座標値(150,
40)に位置し、その入出力端子属性情報はrOUTJ
  (すなわち、出力端子)であり、入出力端子層情報
はrAL2J(すなわち、第ニアルミニウム層を配線層
とする)であることが示されている。このあとの8行目
以下には、このセルの内部に関する情報が羅列されるか
、ここでは省略する。以上の説明から、第2図に示すセ
ル情報が、第3図に示すセルC220に対応することが
理解できよう。セル情報記憶手段1内には、このように
、1つのセルについての情報を1つの単位情報として、
多数の単位情報かセルライブラリーとして用意されてい
る。
Similarly, on the 6th line, the input/output terminal with the input/output terminal name rBJ is located at the coordinate value (0, 30), the input/output terminal attribute information is rINJ, and the input/output terminal layer information is rPOL.
It is shown that YJ. Furthermore, on the 7th line, the input/output terminal with the input/output terminal name "C" has the coordinate value (150,
40), and its input/output terminal attribute information is rOUTJ.
(that is, an output terminal), and the input/output terminal layer information indicates that it is rAL2J (that is, the second aluminum layer is the wiring layer). From the 8th line onwards, information regarding the inside of this cell is listed, or is omitted here. From the above explanation, it can be understood that the cell information shown in FIG. 2 corresponds to the cell C220 shown in FIG. 3. In this way, the cell information storage means 1 stores information about one cell as one unit information.
A large amount of unit information or cell libraries are provided.

続いて、ネットリスト記憶手段2内に記憶されているネ
ットリストの一例を示そう。第4図に、階層構造をもっ
た半導体集積回路のセル構成の一例を示す。TOPと記
された第1階層のセルの下に、C100〜C300と記
された第2階層のセルが定義されており、セルC200
の下には、更に第3階層のセルC210〜C240が定
義されており、更にセルC220の下には、第4階層の
セルC221,C222が定義されている。ネットリス
ト記憶手段2内のネットリストは、このような階層構造
をもった各セルについて、セル間の、接続関係を示す情
報となる。たとえば、第5図に、セルC220について
のネットリストのデータの一例、すなわち1つの単位情
報を示す。第5図に示すデータの1行目は、この単位情
報がセル名1”C220jなるセルについての情報であ
ることを示している。また、その後に続<rA、B;C
Jなる文字列は、「、」の前にあるrAJおよびrBJ
がこのセルの入力端子名を示し、「;」の後にある「C
」がこのセルの出力端子名を示している。続く2行目お
よび3行目には、更に下位のセルとして、rc221J
なるセル名のNANDゲートと、rC222Jなルセル
名のINv(インバータ)と、が定義されている。そし
て、セルC221の入力端子にはノードA、  Bが、
出力端子にはノードB2が、それぞれ接続され、更に、
セルC222の入力端子にはノードB2が、出力端子に
はノーFCが、それぞれ接続されていることが示されて
いる。なお、この例では、ノードA。
Next, an example of a netlist stored in the netlist storage means 2 will be shown. FIG. 4 shows an example of a cell configuration of a semiconductor integrated circuit having a hierarchical structure. Below the first layer cell marked TOP, second layer cells marked C100 to C300 are defined, and cell C200
Cells C210 to C240 of the third hierarchy are further defined under the cell C220, and cells C221 and C222 of the fourth hierarchy are defined further below the cell C220. The netlist in the netlist storage means 2 becomes information indicating the connection relationship between cells for each cell having such a hierarchical structure. For example, FIG. 5 shows an example of netlist data for cell C220, that is, one piece of unit information. The first line of the data shown in FIG. 5 indicates that this unit information is information about a cell with the cell name 1''C220j.
The string J is rAJ and rBJ before ","
indicates the input terminal name of this cell, and "C" after ";"
" indicates the output terminal name of this cell. In the second and third rows, rc221J is added as a lower cell.
A NAND gate with the cell name rC222J and an INv (inverter) with the cell name rC222J are defined. Then, nodes A and B are connected to the input terminal of cell C221.
Node B2 is connected to each output terminal, and further,
It is shown that the node B2 is connected to the input terminal of the cell C222, and the node FC is connected to the output terminal of the cell C222. Note that in this example, node A.

B、  Cには、セルC220の入出力端子A、  B
B and C have input/output terminals A and B of cell C220.
.

Cと同一の名が用いられており、同一名のノードと端子
は接続されている。最後の4行目のrEND」なる記号
は、1つの単位情報の区切りを示す。
The same name as C is used, and nodes and terminals with the same name are connected. The symbol “rEND” in the fourth and final line indicates a break between one unit of information.

結局、第5図に示すネットリストは、第6図に示すよう
なセルC220を定義していることになる。
After all, the netlist shown in FIG. 5 defines a cell C220 as shown in FIG.

別言すれば、第5図に示すネットリスト(セルC220
についての単位情報)は、このセルについてのセル名(
C220)と、入出力端子名(1行目のA、B、C)と
、入出力端子属性情報(1行目の「:」の前にあるか後
にあるかにより入力端子か出力端子かが示されている)
と、下位のセルについてのセル間接続情報(2行目およ
び3行目)と、を含むデータである。
In other words, the netlist shown in FIG.
The unit information for this cell) is the cell name for this cell (
C220), input/output terminal names (A, B, C on the first line), and input/output terminal attribute information (input terminal or output terminal depending on whether it is before or after the ":" on the first line). It is shown)
and inter-cell connection information (second and third rows) for lower-order cells.

さて、一方ではセル情報記憶手段1内の1つの単位情報
として第2図に示すようなデータが、他方ではネットリ
スト記憶手段2内の1つの単位情報として第5図に示す
ようなデータが、それぞれ用意されている場合に、第1
図に示す検証装置による検証動作を説明しよう。第7図
はこの検証動作の手順を示す流れ図である。まず、ステ
ップS1において、所定の単位情報かネットリストから
抽出される。すなわち、単位情報抽出手段3がネットリ
スト記憶手段2内から所定の1単位情報を抽出すること
になる。単位情報抽出手段3は、ネットリスト記憶手段
2内の任意の1単位情報を抽出する機能をもっているの
で、たとえば、リストとして記述された順番に1つずつ
単位情報を抽出するようにしておけばよい。第4図に示
したように、ネットリスト記憶手段2内には階層構造を
もつ多数のセルについて、1セルについてのデータが1
単位情報として定義されている。必要があれば、これら
のセルすべてについて検証を行えばよいし、ある特定の
階層のセルについてのみ検証を行うようにしてもよい。
Now, on the one hand, data as shown in FIG. 2 as one unit information in the cell information storage means 1, and on the other hand, data as shown in FIG. 5 as one unit information in the netlist storage means 2, If each is prepared, the first
Let us explain the verification operation by the verification device shown in the figure. FIG. 7 is a flowchart showing the procedure of this verification operation. First, in step S1, predetermined unit information is extracted from the netlist. That is, the unit information extraction means 3 extracts one predetermined unit information from the netlist storage means 2. Since the unit information extraction means 3 has a function of extracting any one unit information in the netlist storage means 2, for example, the unit information may be extracted one by one in the order in which they are described as a list. . As shown in FIG. 4, the netlist storage means 2 contains data for one cell for a large number of cells having a hierarchical structure.
Defined as unit information. If necessary, all of these cells may be verified, or only cells in a specific hierarchy may be verified.

いずれにしても、検証の対象となるセルについての単位
情報を、1つずつ順番に抽出してくればよい。
In any case, it is sufficient to sequentially extract unit information about cells to be verified one by one.

続いて、ステップS2において、対応する単位情報がセ
ル情報から検索される。すなわち、単位情報検索手段4
がセル情報記憶手段1内を検索し、対応する単位情報を
見付ける作業を行うことになる。ここで「対応する単位
情報」とは、同一のセル名で定義されたセルについての
単位情報である。
Subsequently, in step S2, corresponding unit information is searched from the cell information. That is, the unit information search means 4
will search the cell information storage means 1 and find the corresponding unit information. Here, "corresponding unit information" is unit information about cells defined with the same cell name.

たとえば、ステップS1において、単位情報抽出手段3
が第2図に示すような単位情報を抽出したものとする。
For example, in step S1, the unit information extraction means 3
Assume that unit information as shown in FIG. 2 is extracted.

この単位情報のセル名は、「C220」である。そこで
、ステップS2において、単位情報検索手段4は、セル
名かrC220Jであるようなセル情報を検索すること
になる。その結果、第5図に示す単位情報が検索される
The cell name of this unit information is "C220". Therefore, in step S2, the unit information search means 4 searches for cell information such as the cell name or rC220J. As a result, the unit information shown in FIG. 5 is retrieved.

ステップS2の検索の結果、対応する単位情報が見付か
ったら、ステップS4において、共通情報が抽出される
。ここで「共通情報」とは、セル情報とネットリストと
の両方で共通して用いられている情報をいい、具体的に
は、入出力端子名と入出力端子属性情報とである。した
がって、共通情報抽出手段5は、単位情報抽出手段3が
抽出した第2図に示すデータから、rAJ、rBJ。
If the corresponding unit information is found as a result of the search in step S2, common information is extracted in step S4. Here, "common information" refers to information that is commonly used in both the cell information and the netlist, and specifically includes input/output terminal names and input/output terminal attribute information. Therefore, the common information extraction means 5 extracts rAJ and rBJ from the data shown in FIG. 2 extracted by the unit information extraction means 3.

「C」なる入出力端子名と、これらについての入出力端
子属性情報rlNJ、rlNJ、rOUTJとを抽出す
る。そして、続くステップS5において、共通情報の照
合が行われる。すなわち、共通情報照合手段6は、単位
情報検索手段4か検索した第5図に示すデータについて
、rAJ、  rBJ。
The input/output terminal name "C" and the input/output terminal attribute information rlNJ, rlNJ, rOUTJ for these are extracted. Then, in the subsequent step S5, common information is verified. That is, the common information collation means 6 performs rAJ and rBJ for the data shown in FIG. 5 retrieved by the unit information retrieval means 4.

「C」なる同一の入出力端子名の存在を確認し、これら
についての入出力端子属性かrINJ。
Check the existence of the same input/output terminal name "C" and check the input/output terminal attributes for these.

rI NJ 、  rOUTJとなっているかを確認す
る。
Check whether rINJ and rOUTJ are set.

両者が完全に一致していれば、正常の状態である。If the two completely match, it is a normal state.

ここに示す具体例では、第5図に示すデータの1行目に
、rA、B;Clなる記述があり、これは前述のように
、入力端子rAJおよびrBJと出力端子「C」とを示
す記述であるため、入出力端子名および入出力端子属性
情報ともに一致を示す。
In the specific example shown here, the first line of the data shown in FIG. Since it is a description, both the input/output terminal name and the input/output terminal attribute information match.

こうして、ステップS5における照合結果が−致したら
、ステップS6を経てステップS7へと進む。そして、
上述の手順が、ネットリスト記憶手段2から必要な全単
位情報を抽出し終わるまで繰り返される。ところが、ス
テップS3において対応する単位情報か検索されなかっ
た場合、あるいは、ステップS6で照合結果か一致しな
かった場合は、ステップS8の不一致判定の処理か行わ
れる。すなわち、検証結果判定手段7によって、不一致
である旨の判定結果か出力される。具体的には、どのよ
うな不一致か生したかをオペレータに明確に示すことが
できるように、デイスプレィ装置あるいはプリンターな
どに不一致の状態を出力するようにするのが好ましい。
In this way, if the matching result in step S5 is -, the process proceeds to step S7 via step S6. and,
The above procedure is repeated until all necessary unit information has been extracted from the netlist storage means 2. However, if the corresponding unit information is not retrieved in step S3, or if the collation results do not match in step S6, a non-coincidence determination process is performed in step S8. That is, the verification result determination means 7 outputs a determination result indicating that there is a mismatch. Specifically, it is preferable to output the state of mismatch to a display device, printer, or the like so that the operator can clearly see what kind of mismatch has occurred.

ステップS3において対応する単位情報か検出されなか
った場合は、ネットリスト記憶手段2内のセルに対応す
るセルが、セル情報記憶手段1内に発見てきないことを
示す。これは、ネットリスト作成時に、セル情報記憶手
段1内に用意されたセルライブラリー以外のセルを用い
たり、セル名を書き間違えたりしたなどのミスが生じた
ことを示している。また、ステップS6において不一致
と判定された場合は、セルライブラリーで定義された入
出力端子名と異なる入出力端子名をネットリスト作成時
に用いたり、入出力端子の属性を誤ったりしたなどのミ
スが生じたことを示している。このように、セル情報と
ネットリストとの対応関係にミスが生していた場合には
、検証結果判定手段7による出力により、このようなミ
スを自動的に認識することができる。検証結果判定手段
7により不一致の判定が出力されなければ、セル情報と
ネットリストとの対応関係に問題かないことが検証され
たことになり、これらに基づいて作成されたマスクパタ
ーンの信頼性が向上する。
If the corresponding unit information is not detected in step S3, this indicates that the cell corresponding to the cell in the netlist storage means 2 has not been found in the cell information storage means 1. This indicates that a mistake was made when creating the netlist, such as using a cell other than the cell library prepared in the cell information storage means 1 or writing a wrong cell name. In addition, if it is determined that there is a mismatch in step S6, there may be a mistake such as using an input/output terminal name different from the input/output terminal name defined in the cell library when creating the netlist, or incorrectly specifying the attributes of the input/output terminal. This indicates that this has occurred. In this way, if an error occurs in the correspondence between the cell information and the netlist, such an error can be automatically recognized by the output from the verification result determining means 7. If the verification result determination means 7 does not output a mismatch determination, it is verified that there is no problem in the correspondence between the cell information and the netlist, and the reliability of the mask pattern created based on this is improved. do.

以上、本発明を図示する実施例に基づいて説明シタ力、
本発明はこの実施例に限定されるものではなく、この他
にも種々の態様で実施可能である。
The above description is based on embodiments illustrating the present invention.
The present invention is not limited to this embodiment, and can be implemented in various other ways.

なお、第2図や第5図のデータは、説明の便宜上、単純
なモデルを示したものであり、実用的に意味のあるデー
タではない。
It should be noted that the data in FIGS. 2 and 5 show simple models for convenience of explanation, and are not practically meaningful data.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のとおり本発明の検証装置によれば、セル情報とネ
ットリストとの間で、入出力端子名および入出力端子属
性情報を照合するようにしたため、マスクパターンの生
成作業を行う前に、セル情報とネットリストとの対応関
係を自動的に検証することができるようになる。
As described above, according to the verification device of the present invention, since the input/output terminal names and input/output terminal attribute information are compared between the cell information and the netlist, the It becomes possible to automatically verify the correspondence between information and a netlist.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係る検証装置の基本構成を示すブロッ
ク図、第2図は第1図に示すセル情報記憶手段内の1単
位情報に相当するデータの一例を示す図、第3図は第2
図に示すデータに対応するセルの概念図、第4図は階層
構造をもった半導体集積回路のセル構成の一例を示す図
、第5図は第1図に示すネットリスト記憶手段2内の1
単位情報に相当するデータの一例を示す図、第6図は第
5図に示すデータに対応するセルの概念図、第7図は第
1図に示す装置の動作手順を示す流れ図である。 1・・・セル情報記憶手段、2・・・ネットリスト記憶
手段、3・・・単位情報抽出手段、4・・・単位情報検
索手段、5・・・共通情報抽出手段、6・・・共通情報
照合手段、7・・・検証結果判定手段、0100〜C3
00・・・セル。 特許出願人   大日本印刷株式会社 出願人代理人  弁理士 志 村  浩′IIPJI図 (ヤ几・ト膏報9 CELL    C220 TYPE   5TANDARD  CEl乙BODY
           O0 BODY          750      80
PORT    A       O50/N    
POLYPORTB030)〜POLY PORT   C150400UT   AL2蝉2図 (0,0) 葡3図 (2ツトリストノ CELL    C220A、B:C NAND    C227ハ、B:B2/NV    
C222B2:C 莞6図
FIG. 1 is a block diagram showing the basic configuration of a verification device according to the present invention, FIG. 2 is a diagram showing an example of data corresponding to one unit of information in the cell information storage means shown in FIG. 1, and FIG. Second
4 is a diagram showing an example of the cell configuration of a semiconductor integrated circuit having a hierarchical structure. FIG. 5 is a conceptual diagram of a cell corresponding to the data shown in the figure. FIG.
FIG. 6 is a conceptual diagram of a cell corresponding to the data shown in FIG. 5, and FIG. 7 is a flowchart showing the operating procedure of the apparatus shown in FIG. 1. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Cell information storage means, 2... Netlist storage means, 3... Unit information extraction means, 4... Unit information search means, 5... Common information extraction means, 6... Common Information collation means, 7...Verification result determination means, 0100-C3
00...Cell. Patent applicant: Dai Nippon Printing Co., Ltd. Applicant's agent: Patent attorney Hiroshi Shimura
O0 BODY 750 80
PORT A O50/N
POLYPORT B030) ~ POLY PORT C150400UT AL2 Cicada 2 (0,0) Grasshopper 3 (2) CELL C220A, B:C NAND C227, B:B2/NV
C222B2: C Guan 6 figure

Claims (1)

【特許請求の範囲】 セルを特定するためのセル名と、このセルについて設け
られた入出力端子を特定するための入出力端子名と、前
記入出力端子の位置を特定するための入出力端子位置情
報と、前記入出力端子が用いる配線層を特定するための
入出力端子層情報と、前記入出力端子が入力端子または
出力端子のいずれであるかを特定するための入出力端子
属性情報と、を1つのセルについての単位情報と定義し
、この単位情報を複数のセルについて定義することによ
り得られるセル情報を用意し、 セルを特定するためのセル名と、このセルについて設け
られた入出力端子を特定するための入出力端子名と、前
記入出力端子が入力端子または出力端子のいずれである
かを特定するための入出力端子属性情報と、下位のセル
についての相互の接続状態を示すセル間接続情報と、を
1つのセルについての単位情報と定義し、この単位情報
を複数のセルについて定義することにより得られるネッ
トリストを用意し、 前記セル情報と前記ネットリストとに基づいて、半導体
集積回路のマスクパターンを設計する際に、前記セル情
報と前記ネットリストとの対応関係を検証する検証装置
であって、 前記セル情報を記憶するセル情報記憶手段と、前記ネッ
トリストを記憶するネットリスト記憶手段と、 前記ネットリスト記憶手段から、任意の1セルについて
の単位情報を抽出する単位情報抽出手段と、 前記単位情報抽出手段により抽出された単位情報に関す
るセル名と同一のセル名をもつ単位情報を、前記セル情
報記憶手段から検索する単位情報検索手段と、 前記単位情報抽出手段により抽出された単位情報から、
入出力端子名および入出力端子属性情報を抽出する共通
情報抽出手段と、 前記共通情報抽出手段により抽出された入出力端子名お
よび入出力端子属性情報を、前記単位情報検索手段によ
り検索された単位情報内の入出力端子名および入出力端
子属性情報と照合する共通情報照合手段と、 前記単位情報検索手段により同一のセル名をもつ単位情
報が検索できなかったとき、あるいは、前記共通情報照
合手段による照合結果が不一致となったとき、対応関係
に不一致がある旨の判定結果を出力する検証結果判定手
段と、 を備えることを特徴とする半導体集積回路のマスクパタ
ーン設計用データの検証装置。
[Claims] A cell name for specifying a cell, an input/output terminal name for specifying an input/output terminal provided for this cell, and an input/output terminal for specifying the position of the input/output terminal. position information, input/output terminal layer information for specifying the wiring layer used by the input/output terminal, and input/output terminal attribute information for specifying whether the input/output terminal is an input terminal or an output terminal. , is defined as the unit information for one cell, and the cell information obtained by defining this unit information for multiple cells is prepared, and the cell name to identify the cell and the input provided for this cell are prepared. The input/output terminal name for specifying the output terminal, the input/output terminal attribute information for specifying whether the input/output terminal is an input terminal or an output terminal, and the mutual connection status of lower cells. Define inter-cell connection information shown as unit information for one cell, prepare a netlist obtained by defining this unit information for a plurality of cells, , a verification device for verifying the correspondence between the cell information and the netlist when designing a mask pattern for a semiconductor integrated circuit, comprising: a cell information storage means for storing the cell information; and a cell information storage means for storing the netlist. netlist storage means for extracting unit information for an arbitrary cell from the netlist storage means; and a cell name that is the same as the cell name related to the unit information extracted by the unit information extraction means. unit information retrieval means for searching the cell information storage means for unit information having the unit information extracted by the unit information extraction means;
common information extraction means for extracting input/output terminal names and input/output terminal attribute information; and input/output terminal names and input/output terminal attribute information extracted by the common information extraction means into units searched by the unit information searching means. common information matching means for matching the input/output terminal name and input/output terminal attribute information in the information; and when unit information having the same cell name cannot be retrieved by the unit information searching means, or the common information matching means 1. A verification device for verifying data for mask pattern design of a semiconductor integrated circuit, comprising: verification result determination means for outputting a determination result indicating that there is a mismatch in the correspondence relationship when the verification results obtained by the above do not match.
JP2339953A 1990-11-30 1990-11-30 Verifying device for data designing mask pattern of semiconductor integrated circuit Pending JPH04205566A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0756965A (en) * 1993-08-10 1995-03-03 Nec Corp Gaber data logic collating device
DE10100168A1 (en) * 2001-01-04 2002-07-18 Infineon Technologies Ag Process for computer assisted circuit design develops a hardware code on the basis of logic circuit blocks

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