JPH04204632A - Liquid crystal display device - Google Patents
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Landscapes
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- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
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- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的コ
(産業上の利用分野)
本発明は、表示画素ごとにスイッチングトランジスタか
設けられたアクティブマトリクス型の液晶表示装置に関
する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to an active matrix liquid crystal display device in which a switching transistor is provided for each display pixel.
(従来の技術)
最近、液晶表示装置においては、表示の高速化や高品位
化を図るために、表示画素ごとにスイッチングトランジ
スタが設けられたアクティブマトリクス型か主流となっ
ており、スイッチングトランジスタとしては、非晶質シ
リコン(a−3t)、または多結晶シリコン(poly
−3i)等の半導体を使用した薄膜トランジスタ(T
P T)が、一般的に用いられている。(Prior Art) Recently, in order to increase the speed and quality of display in liquid crystal display devices, the active matrix type, in which a switching transistor is provided for each display pixel, has become mainstream. , amorphous silicon (a-3t), or polycrystalline silicon (poly
-3i) and other thin film transistors (T
PT) is commonly used.
これらのTFTのうちてa−3iによるTFTは、安価
なガラス基板上に大面積にわたって形成することかでき
るため、OA用デイスプレィや壁掛はテレビといった大
型の液晶表示装置に適していると言える。これに対して
poly−8iによるTFTは、キャリア(電界効果電
子)の移動度が数10〜2000m 2/V・seeと
大きく応答か速いうえに、サイズが小さくても液晶表示
画素を駆動することができ、かつ周辺駆動回路も同一基
板上に一体に形成することができるため、プロジェクシ
ョンテレビやビデオカメラのビューファインダといった
小型、高精細か要求される液晶表示装置に適している。Among these TFTs, the a-3i TFT can be formed over a large area on an inexpensive glass substrate, so it can be said to be suitable for office automation displays and wall-mounted large-sized liquid crystal display devices such as televisions. On the other hand, poly-8i TFTs have carrier (field effect electron) mobility of several tens to 2,000 m2/V·see, and have a fast response and are capable of driving liquid crystal display pixels even if their size is small. Because it is possible to integrate peripheral drive circuits on the same substrate, it is suitable for liquid crystal display devices that require small size and high definition, such as projection televisions and video camera viewfinders.
第5図は、poly−8iによるTFTを用いた従来の
液晶表示装置において、表示画素領域を部分的に示す上
面図である。FIG. 5 is a top view partially showing a display pixel area in a conventional liquid crystal display device using poly-8i TFTs.
この図では、点が打たれた部分、斜線部、白抜き部の順
で、下から積層されているものとし、nチャネルTPT
について示す。In this figure, it is assumed that the dotted area, the diagonal line area, and the white area are laminated from the bottom in this order, and the n-channel TPT
Show about.
図に示すように、TFTIは、第1のpoly−3iか
らなる活性層2と、その上に形成されたケート絶縁膜(
図示せず。)、および低抵抗の第2のp。As shown in the figure, TFTI consists of an active layer 2 made of a first poly-3i and a gate insulating film (
Not shown. ), and a second p of low resistance.
1y−3tによるゲート(電極)3とからなっている。It consists of a gate (electrode) 3 of 1y-3t.
活性層2のゲート3両側の部分は、n型ドーパントであ
るP(燐)が打込まれて低抵抗となり、それぞれTFT
Iのソース(あるいはドレイン)4およびドレイン(あ
るいはソース)5となっている。そして、ドレイン5は
、AIからなる信号線6に接続されており、ソース4は
蓄積容量7とIToからなる画素電極8にそれぞれ接続
されている。またケート3は、第2のpoly−3tか
らなる走査線(ケート線)つと一体になっている。さら
に蓄積容量7は、その下地層10か第1のpoly−3
iからなる活性層2と一体になっており、前記したゲー
ト絶縁膜と同時に形成される絶縁膜(図示せず。)を挟
んで上部には、第2のpoly−3iによる蓄積容量線
11か形成されている。The portions of the active layer 2 on both sides of the gate 3 are implanted with P (phosphorus), which is an n-type dopant, and have a low resistance.
They are a source (or drain) 4 and a drain (or source) 5 of I. The drain 5 is connected to a signal line 6 made of AI, and the source 4 is connected to a storage capacitor 7 and a pixel electrode 8 made of ITo. Further, the gate 3 is integrated with two scanning lines (gate lines) made of the second poly-3t. Furthermore, the storage capacitor 7 is formed by the base layer 10 or the first poly-3
A storage capacitor line 11 made of a second poly-3i is integrated with the active layer 2 made of poly-3i, and is formed on the upper side with an insulating film (not shown) formed at the same time as the gate insulating film described above. It is formed.
(発明か解決しようとする課題)
このように構成された従来の液晶表示装置において、表
示領域を小型、高精細にし、画素ピッチを小さくした場
合には、以下の理由で開口率が小さくなり、これにより
表示画面が暗くなり表示か粗くなるという問題があった
。(Problem to be Solved by the Invention) In the conventional liquid crystal display device configured as described above, when the display area is made small and high definition and the pixel pitch is made small, the aperture ratio becomes small for the following reasons. This caused the problem that the display screen became dark and the display became rough.
すなわち、画素ピッチを小さくした場合にも、TPT形
成プロセスの制限上、TFTIのサイズや信号線6およ
びゲート線9の幅をある値以下にすることがてきないた
め、開口率か小さくなってしまう。また、信号線6と画
素電極8との間およびゲート線つと画素電極8との間に
存在する液晶容量を通して、信号線6やゲート線9の電
位変化が画素の電位を変化させるように構成されている
ため、前記信号線6およびケート線9と画素電極8との
間隔をあまり狭くすることができない。In other words, even if the pixel pitch is made smaller, the size of the TFTI and the width of the signal line 6 and the gate line 9 cannot be made below a certain value due to the limitations of the TPT formation process, so the aperture ratio will become smaller. . Further, the configuration is such that a change in the potential of the signal line 6 or the gate line 9 changes the potential of the pixel through the liquid crystal capacitance that exists between the signal line 6 and the pixel electrode 8 and between the gate line and the pixel electrode 8. Therefore, the distance between the signal line 6 and the gate line 9 and the pixel electrode 8 cannot be made very narrow.
さらに、前記間隔を狭くしても画素電位の変化量を小さ
く保つためには、蓄積容量7を大きくすればよいか、そ
れては開口率を大きくするという目的に合わないことに
なる。Furthermore, in order to keep the amount of change in pixel potential small even if the interval is narrowed, it is sufficient to increase the storage capacitor 7, or else this would not meet the purpose of increasing the aperture ratio.
本発明はこれらの問題を解決するためになされたもので
、開口率が大きく、シたかつて表示が明るく品位か高い
液晶表示装置を提供することを目的とする。The present invention has been made to solve these problems, and an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device with a large aperture ratio, a bright display, and a high quality display.
[発明の構成]
(課題を解決するた秘の手段)
本発明の液晶表示装置は、各々の表示画素ごとに、スイ
ッチングトランジスタを設けてなるアクティブマトリク
ス型液晶表示装置において、奇数番目の走査列に対応す
る画素に、それぞれnチャネルまたはnチャネルトラン
ジスタを設けるとともに、偶数番目の走査列に対応する
画素に、前記奇数番目の走査列に対応する画素と反対の
、pチャネルまたはnチャネルトランジスタをそれぞれ
設け、かつ前記奇数番目と偶数番目の隣接する2列の走
査列に対応する画素に設けられたトランジスタのケート
電極を、それぞれ1本の走査線に接続してなることを特
徴としている。[Structure of the Invention] (Secret Means for Solving the Problem) The liquid crystal display device of the present invention is an active matrix type liquid crystal display device in which a switching transistor is provided for each display pixel. Corresponding pixels are provided with n-channel or n-channel transistors, respectively, and pixels corresponding to even-numbered scan columns are provided with p-channel or n-channel transistors opposite to the pixels corresponding to the odd-numbered scan columns, respectively. , and the gate electrodes of the transistors provided in the pixels corresponding to the two adjacent odd-numbered and even-numbered scanning columns are each connected to one scanning line.
(作用)
本発明の液晶表示装置においては、走査線(ケート線)
か走査列1列おきに設けられており、各ケート線は、隣
接する奇数番目と偶数番目の2行の走査列に対応する各
画素のトランジスタに接続され、これらのトランジスタ
をそれぞれ動作させるように構成されている。したかっ
て、ゲート線の本数が半減され、その占める面積か半減
されるので、開・目串が大幅に増大される。(Function) In the liquid crystal display device of the present invention, the scanning line (gate line)
Each gate line is connected to the transistor of each pixel corresponding to two adjacent odd-numbered and even-numbered scan columns, and is configured to operate these transistors respectively. It is configured. Therefore, the number of gate lines is halved, and the area occupied by them is also halved, so that the opening and mesh size can be greatly increased.
また、本発明の液晶表示装置においては、奇数番目の走
査列に対応する画素には、それぞれnチャネルまたはn
チャネルトランジスタが設けられ、かつ偶数番目の走査
列に対応する各画素には、前記奇数番目の画素と反対の
pチャネルまたはnチャネルトランジスタか設けられて
いるので、以下のような方法で駆動される。Furthermore, in the liquid crystal display device of the present invention, each pixel corresponding to an odd-numbered scanning column has an n channel or an n channel.
A channel transistor is provided, and each pixel corresponding to an even-numbered scanning column is provided with a p-channel or n-channel transistor opposite to the odd-numbered pixel, so it is driven in the following manner. .
すなわち、例えばnチャネルトランジスタが設けられた
奇数番目の走査列の画素を選択するにはゲート線に正電
位のパルスを印加し、pチャネルトランジスタが設けら
れた偶数番目の走査列の画素を選択するには、ゲート線
に負電位のパルスを印加する。そして非選択期間におい
ては、nチャネル、pチャネル両方のトランジスタかオ
フであるような電圧、例えばOVをゲート線に印加して
おけばよい。That is, for example, to select a pixel in an odd-numbered scan column in which an n-channel transistor is provided, a positive potential pulse is applied to the gate line, and a pixel in an even-numbered scan column in which a p-channel transistor is provided is selected. To do this, apply a negative potential pulse to the gate line. During the non-selection period, a voltage such as OV that turns off both the n-channel and p-channel transistors may be applied to the gate line.
(実施例) 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。(Example) Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図は、本発明の実施例である液晶表示装置の表示画
素領域を部分的に示す上面図である。FIG. 1 is a top view partially showing a display pixel area of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.
図に示すように、奇数番目の走査列に対応する画素に設
けられたnチャネルTPT12aは、第1のpony−
3iからなる活性層13aと、その上に形成されたゲー
ト絶縁膜(図示せず。)、および低抵抗の第2のpol
y−3tによるゲート14aとがらなっている。活性層
13aのゲート14a両側の部分は、n型ドーパントで
あるP(燐)が打込、 まれで低抵抗となり、それぞ
れTFT12aつソース15aおよびドレイン16aと
なっている。As shown in the figure, the n-channel TPT 12a provided in the pixel corresponding to the odd-numbered scan column is connected to the first pony-
3i, a gate insulating film (not shown) formed thereon, and a low resistance second pol.
The gate 14a is formed by y-3t. The portions of the active layer 13a on both sides of the gate 14a are implanted with P (phosphorus), which is an n-type dopant, and have a low resistance, forming the TFT 12a, the source 15a, and the drain 16a, respectively.
また偶数番目の走査列に対応する画素に設けられたpチ
ャネルTFT12bは、第1のpoly−9jからなる
活性層13b、その上に形成されたケート絶縁膜(図示
せず。)、および低抵抗の第2のpoly−Sjによる
ゲート14bとがらなっている。Furthermore, the p-channel TFT 12b provided in the pixel corresponding to the even-numbered scan column is composed of an active layer 13b made of the first poly-9J, a gate insulating film (not shown) formed thereon, and a low-resistance active layer 13b. A gate 14b formed by the second poly-Sj is formed.
活性層13bのゲート14b両側の部分は、p型ドーパ
ントであるB(硼素)が打込まれて低抵抗となり、それ
ぞれTFT12bのソース15bおよびドレイン16b
となっている。The portions of the active layer 13b on both sides of the gate 14b are implanted with B (boron), which is a p-type dopant, and have a low resistance.
It becomes.
そして、これらTFT12a、12bのゲート14a、
14bは、ともに第2のpoly−8jl:よる1本の
ゲート線17と一体になっている。またドレイン16a
、16bは、それぞれAlからなる信号線18に接続さ
れており、ソース15a、15bは、それぞれ別の蓄積
容量19a、19bおよびITOからなる画素電極20
a、20bに接続されている。さらに蓄積容量19a、
19bは、それぞれの下地層21a、21bが第1のp
o l y −3iからなる活性層13a、13bと一
体になっており、前記したゲート絶縁膜と同時に形成さ
れる絶縁膜(図示せず。)を挾んで上部には、第2のp
oly−Stによる蓄積容量線22a、22bがそれぞ
れ形成されている。Gates 14a of these TFTs 12a and 12b,
14b is integrated with one gate line 17 made of second poly-8jl:. Also, the drain 16a
, 16b are each connected to a signal line 18 made of Al, and the sources 15a, 15b are respectively connected to separate storage capacitors 19a, 19b and a pixel electrode 20 made of ITO.
a, 20b. Furthermore, storage capacity 19a,
19b, each base layer 21a, 21b is the first p
It is integrated with the active layers 13a and 13b made of oly-3i, and has a second p
Storage capacitor lines 22a and 22b made of oly-St are formed, respectively.
さらに実施例の液晶表示装置における液晶表示領域には
、このような表示画素が横方向に480画素、縦方向に
240画素、マトリクス状に配列されており、信号線1
8は480本、ゲート線17は120本配列されている
。また、図示を省略した表示領域周辺には、画素を駆動
する周辺回路すなわち信号線ドライバとゲート線ドライ
バが、それぞれpoly −SiT F Tにより表示
領域と同一基板上に同時形成されている。Further, in the liquid crystal display area of the liquid crystal display device of the embodiment, such display pixels are arranged in a matrix of 480 pixels in the horizontal direction and 240 pixels in the vertical direction, and the signal line 1
8 and 120 gate lines 17 are arranged. Further, around the display area (not shown), peripheral circuits for driving pixels, that is, a signal line driver and a gate line driver, are formed simultaneously on the same substrate as the display area using poly-SiT F T.
次に、前記した各画素のnチャネルおよびpチャネルT
PTの電流−電圧特性例を、第2図に示す。Next, the n-channel and p-channel T of each pixel described above
An example of current-voltage characteristics of PT is shown in FIG.
なお、閾電圧は、n、pチャネルでそれぞれ9v、11
vと通常より高めに設定しである。Note that the threshold voltages are 9v and 11v for n and p channels, respectively.
v, which is set higher than normal.
このように構成される液晶表示装置は、例えば以下のプ
ロセスで製造される。A liquid crystal display device configured in this manner is manufactured, for example, by the following process.
すなわち、まず石英基板上に、TFT12a、12bの
活性層13a、13bと、蓄積容量19a、19bの下
地層21a、21bとなる第1のpoly−3t膜を、
CVD法などで形成し所定のパターンにエツチング(パ
ターニング)する。次いで、TFT12a、12bの動
作時の閾電圧を制御するため、活性層13aにB(硼素
)を活性層13bにP(燐)をそれぞれイオン注入法に
より打込む。That is, first, on a quartz substrate, a first poly-3t film, which will become the active layers 13a and 13b of the TFTs 12a and 12b and the base layers 21a and 21b of the storage capacitors 19a and 19b, is placed.
It is formed by a CVD method or the like and etched (patterned) into a predetermined pattern. Next, in order to control the threshold voltage during operation of the TFTs 12a and 12b, B (boron) is implanted into the active layer 13a and P (phosphorus) is implanted into the active layer 13b by ion implantation.
なお、閾電圧を制御するためのドーパントとしては、前
述のようにそれぞれの活性層13a、13bに別種のド
ーパントを打込まずとも、同種のものでドープ量をかえ
て打込むこともできる。Note that, as the dopant for controlling the threshold voltage, instead of implanting different types of dopants into the respective active layers 13a and 13b as described above, the same type of dopant can be implanted with different doping amounts.
次いで、活性層13g、13b上に熱酸化法により酸化
膜を形成し、ゲート絶縁膜とする。このとき、蓄積容量
19a、19bの下地層21a。Next, an oxide film is formed on the active layers 13g and 13b by thermal oxidation to serve as a gate insulating film. At this time, the base layer 21a of the storage capacitors 19a and 19b.
2」b上にも酸化膜か形成され、蓄積容量19a119
bの絶縁膜となる。次に、その上に低抵抗である第2の
poly−s+膜を形成し、ゲート14a114b、ゲ
ート線17、および蓄積容量線22a122bをそれぞ
れパタニングする。ここで、低抵抗である第2のpol
y−3t膜は、第1のpoly−3t膜と同様に、CV
D法などで成膜した後全面にP(燐)を拡散して形成し
たり、あるいはCVD法で初めからP(燐)をトープし
ながら成膜するなどの方法で形成される。次いで、TF
T12aのソース15aとドレイン16aとなる部分に
、イオン注入法によりそれぞれP(燐)を打込む。また
、TFT12bのソース15bとドレイン16bとなる
部分に、イオン注入法によりそれぞれB(硼素)を打込
む。これにより、TPT12aはnチャネルとなり、T
FT12bはpチャネルとなる。次に、CVD法により
S iO2膜を全面に形成し、コンタクトホールをエツ
チングにより形成した後、信号線18となるAI膜、お
よび画素電極20a、20bとなるITO膜を形成しパ
タニングする。An oxide film is also formed on the storage capacitor 19a119
This becomes the insulating film b. Next, a second poly-S+ film having low resistance is formed thereon, and the gate 14a114b, gate line 17, and storage capacitor line 22a122b are patterned, respectively. Here, the second pol with low resistance
Similar to the first poly-3t film, the y-3t film has a CV
It is formed by forming a film using the D method or the like and then diffusing P (phosphorus) over the entire surface, or by forming a film while doping P (phosphorus) from the beginning using the CVD method. Then, T.F.
P (phosphorus) is implanted into the portions of T12a that will become the source 15a and drain 16a, respectively, by ion implantation. Furthermore, B (boron) is implanted into the portions that will become the source 15b and drain 16b of the TFT 12b, respectively, by ion implantation. As a result, the TPT12a becomes an n-channel, and the TPT12a becomes an n-channel.
FT12b becomes a p-channel. Next, an SiO2 film is formed on the entire surface by CVD, contact holes are formed by etching, and then an AI film that will become the signal line 18 and an ITO film that will become the pixel electrodes 20a and 20b are formed and patterned.
次に、こうして製造される実施例の液晶表示装置の表示
画素を駆動する方法について説明する。Next, a method of driving the display pixels of the liquid crystal display device of the example manufactured in this manner will be explained.
第3図は、表示画素と同一基板上に同時形成される周辺
駆動回路のうち、ゲート線ドライバおよび画素領域の一
部(走査列4列分)を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing a gate line driver and a portion of the pixel area (for four scan columns) among the peripheral drive circuits formed simultaneously on the same substrate as the display pixels.
この図に示すように、240列の走査列に対して240
段のシフトレジスタ23があり、2段ずつか1つのレベ
ル設定回路24を介して1本のゲート線17に接続され
ている。レベル設定回路24は、2つのpチャネルTF
T25a、25bと2つのnチャネルTFT26a、2
6bとからなっている。2つのnチャネルTFT26a
、26bの各ドレイン又はソースは、それぞれ正電位(
+■1、例えば+20V)および負電位(−V 1例え
ば−20V)に接続されており、各ソースまたはドレイ
ンはそれぞれゲート線17に接続されている。2つのp
チャネルTFT25a、25bは直列に接続されており
、一方のTFT25aのドレインは中間電位(例えばO
V)に接続され、他方のTFT25bのソースはゲート
線17に接続されている。As shown in this figure, for 240 scan columns, 240
There are stages of shift registers 23, and each two stages are connected to one gate line 17 via one level setting circuit 24. The level setting circuit 24 includes two p-channel TFs.
T25a, 25b and two n-channel TFTs 26a, 2
It consists of 6b. Two n-channel TFTs 26a
, 26b are each connected to a positive potential (
+1, for example +20V) and a negative potential (-V1, for example -20V), and each source or drain is connected to the gate line 17, respectively. two ps
Channel TFTs 25a and 25b are connected in series, and the drain of one TFT 25a is at an intermediate potential (for example, O
V), and the source of the other TFT 25b is connected to the gate line 17.
第4図は、第3図に示したゲート線ドライバを動作させ
たときのタイミングチャートであり、走査列4列分(シ
フトレジスタ4段分)の2フイ一ルド期間について示し
た。FIG. 4 is a timing chart when the gate line driver shown in FIG. 3 is operated, and shows a two-field period corresponding to four scan columns (four stages of shift registers).
図に示すように、各段のシフトレジスタによりIH初期
間とに順次パルスが出力されるが、レベル設定回路によ
り、第1H期間に第1ゲート線(第1.第2走査列に対
応)に正電圧パルスが、第2H期間に第1ゲート線に負
電圧パルスが、第3H期間に第2ゲート線(第3.第4
走査列に対応)に正電圧パルスが、第4H期間に第2ゲ
ート線に負電圧パルスが、それぞれ印加されるように構
成されている。奇数番目である第1および第3走査列の
画素のTPTはnチャネルであり、偶数番目である第2
.第4走査列の画素のTPTはpチャネルであるから、
第1H期間に第1走査列の画素か、第2H期間に第2走
査列の画素が、第3H期間に第3走査列の画素が、第4
H期間に第4走査列の画素か、それぞれ選択されること
となる。As shown in the figure, the shift registers at each stage sequentially output pulses during the initial IH period, and the level setting circuit outputs pulses to the first gate line (corresponding to the first and second scan columns) during the first H period. A positive voltage pulse is applied to the first gate line during the second H period, and a negative voltage pulse is applied to the second gate line (third and fourth lines during the third H period).
The configuration is such that a positive voltage pulse is applied to the second gate line (corresponding to the scan column) and a negative voltage pulse is applied to the second gate line during the 4th H period. The TPT of the odd-numbered pixels in the first and third scanning columns is n-channel, and the TPT of the even-numbered pixels in the second scanning column is n-channel.
.. Since the TPT of the pixel in the fourth scan column is p-channel,
Pixels in the first scan column in the first H period, pixels in the second scan column in the second H period, pixels in the third scan column in the third H period, pixels in the third scan column in the fourth H period,
During the H period, pixels in the fourth scan column are selected.
なお、+V 、−v2の電位を両者とも同じと■
し、例えば奇数フィールドで正電位、偶数フィールドで
負電位とする駆動法をとると、ドライバ構成は全く同し
で、インターレース駆動も可能となる。Note that if the potentials of +V and -v2 are the same for both, and if a driving method is used in which, for example, the odd field is a positive potential and the even field is a negative potential, the driver configuration is exactly the same, and interlaced driving is also possible. .
このように実施例の液晶表示装置においては、ゲート線
の本数を従来の半数にすることができるため、ゲート線
の占める面積を半減させ、画素の開口率を上げることが
できる。例えば、第5図に示した従来の液晶表示装置で
は開口率が36%程度であったものが、実施例では開口
率を45%まで増大させることができる。In this way, in the liquid crystal display device of the embodiment, the number of gate lines can be reduced to half of the conventional one, so the area occupied by the gate lines can be halved and the aperture ratio of the pixel can be increased. For example, in the conventional liquid crystal display device shown in FIG. 5, the aperture ratio was approximately 36%, but in this embodiment, the aperture ratio can be increased to 45%.
なお以上の実施例では、poly−3tを用いたTPT
アクティブマトリクス型の液晶表示装置について述べた
が、本発明はこのような実施例に限定されず、a−3i
を用いたTPTアクティブマトリクス型の液晶表示装置
についても、同様な効果を挙げることかでき、さらに、
単結晶St (c−St)を用いた場合も有効である。In addition, in the above example, TPT using poly-3t
Although the active matrix type liquid crystal display device has been described, the present invention is not limited to such an embodiment, and the a-3i
A similar effect can be achieved with a TPT active matrix type liquid crystal display device using
It is also effective to use single crystal St (c-St).
また、ゲート線ドライバ回路も、前記実施例に限定され
るものでない。Furthermore, the gate line driver circuit is not limited to the above embodiment.
さらに実施例において、画素のTPTの閾電圧とゲート
線に加える電位を、nチャネルおよびpチャネルで通常
より高めに設定したのは、以下に示す理由による。Furthermore, in the embodiment, the threshold voltage of the TPT of the pixel and the potential applied to the gate line were set higher than usual for the n-channel and the p-channel for the following reason.
すなわち、一般に液晶に印加される電圧を決定する信号
電位は、通常、ある一定期間ごと(例えばフィールド期
間ごと)に反転される。そのため、画素のTPTに加わ
るゲート−ソース(あるいはゲート−ドレイン)閾電圧
は一定値ではない。従って、前記実施例のように、非選
択期間のゲート線電位をOvとしておくと、非選択期間
にnチャネルTFTのゲート−ソース閾電圧がある正電
圧(または、pチャネルTFTのゲート−ソース閾電圧
がある負電圧)になることがあり、TPTのオフ電流が
大きくなる危険性がある。そのため、画素のTPTの閾
電圧等か通常より高めに設定されている。That is, the signal potential that generally determines the voltage applied to the liquid crystal is usually inverted every certain period (for example, every field period). Therefore, the gate-source (or gate-drain) threshold voltage applied to the TPT of the pixel is not a constant value. Therefore, if the gate line potential during the non-selection period is set to Ov as in the above embodiment, a positive voltage with the gate-source threshold voltage of the n-channel TFT (or the gate-source threshold voltage of the p-channel TFT) is applied during the non-selection period. The voltage may become a certain negative voltage), and there is a risk that the off-state current of the TPT will increase. Therefore, the threshold voltage of the TPT of the pixel is set higher than usual.
[発明の効果〕
以上の説明から明らかなように本発明によれば、ゲート
線の本数を従来の半数にすることができるため、ゲート
線の占める面積か半減し、画素の開口率を上げる効果が
ある。[Effects of the Invention] As is clear from the above description, according to the present invention, the number of gate lines can be reduced to half that of the conventional one, so the area occupied by the gate lines is halved, which has the effect of increasing the aperture ratio of the pixel. There is.
そしてこのような開口率の増大により、表示画面の明る
さを向上させることができる。例えば、本発明の液晶表
示装置を使用して製造されたプロジェクションテレビの
画面輝度は、従来の200「t−Lから250ft−L
に上昇する。また、画面輝度を従来のままとすると、光
源の使用電力を下げることができ、消費電力を低減し光
源の寿命を延ばすことができる。By increasing the aperture ratio, the brightness of the display screen can be improved. For example, the screen brightness of a projection television manufactured using the liquid crystal display device of the present invention has increased from 200 t-L to 250 ft-L.
rise to Further, if the screen brightness is kept as usual, the power used by the light source can be reduced, the power consumption can be reduced, and the life of the light source can be extended.
さらに本発明の効果は前記の点ばかりではなく、ゲート
線本数の半減により、製造中にゲート線の断線が生じる
確率が減り、従って製造歩留りが増大するという効果も
ある。Furthermore, the effects of the present invention are not limited to the above-mentioned points, but also have the effect that, by reducing the number of gate lines by half, the probability of gate line disconnection occurring during manufacturing is reduced, and therefore manufacturing yield is increased.
第1図は、本発明の実施例である液晶表示装置の表示画
素領域の上面図、第2図は、第1図の実施例における画
素のTPTの電流−電圧特性を示すグラフ、第3図は、
実施例の液晶表示装置の駆動回路のうち、ゲート線ドラ
イバおよび画素領域の一部を示すブロック図、第4図は
、第3図のゲート線ドライバを動作させたときのタイミ
ングチャート、第5図は、従来の液晶表示装置の表示領
域の上面図である。
12a、12b−=−=TFT
13a、13b・・・・・・活性層
14a、14b・・・・・・ゲート
15a、15b−ソース゛
16a、16b・・・・・・ドレイン
17・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ゲー
ト線18・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
信号線19a、19b・・・・・・蓄積容量
20a、20b・・・・・・画素電極
21a、21b・・・・・・下地層
22a、22b・・・・・・蓄積容量線23・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・シフトレジスタ24
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・レベル設
定回路仕−トtvLffVG(V)
第2図
第3図
−−IH初期間11
第 4 図
、−、−5−一。FIG. 1 is a top view of a display pixel area of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a graph showing the current-voltage characteristics of TPT of a pixel in the embodiment of FIG. 1, and FIG. teeth,
FIG. 4 is a block diagram showing the gate line driver and part of the pixel area in the drive circuit of the liquid crystal display device of the embodiment, and FIG. 4 is a timing chart when the gate line driver shown in FIG. 3 is operated. 1 is a top view of a display area of a conventional liquid crystal display device. 12a, 12b-=-=TFT 13a, 13b...Active layer 14a, 14b...Gate 15a, 15b-Source 16a, 16b...Drain 17...・・・・・・・・・・・・・・・Gate line 18・・・・・・・・・・・・・・・・・・
Signal lines 19a, 19b... Storage capacitors 20a, 20b... Pixel electrodes 21a, 21b... Base layers 22a, 22b... Storage capacitor line 23... ...
・・・・・・・・・・・・・・・Shift register 24
・・・・・・・・・・・・・・・・・・Level setting circuit specification tvLffVG (V) Fig. 2 Fig. 3 - IH initial interval 11 Fig. 4, -, - 5-1.
Claims (1)
タを設けてなるアクティブマトリクス型液晶表示装置に
おいて、奇数番目の走査列に対応する画素に、それぞれ
nチャネルまたはpチャネルトランジスタを設けるとと
もに、偶数番目の走査列に対応する画素に、前記奇数番
目の走査列に対応する画素と反対の、pチャネルまたは
nチャネルトランジスタをそれぞれ設け、かつ前記奇数
番目と偶数番目の隣接する2列の走査列に対応する画素
に設けられたトランジスタのゲート電極を、それぞれ1
本の走査線に接続してなることを特徴とする液晶表示装
置。(1) In an active matrix liquid crystal display device in which a switching transistor is provided for each display pixel, an n-channel or p-channel transistor is provided in each pixel corresponding to an odd-numbered scanning column, and a switching transistor is provided in each pixel corresponding to an odd-numbered scanning column. P-channel or n-channel transistors opposite to the pixels corresponding to the odd-numbered scanning columns are provided in pixels corresponding to the columns, and pixels corresponding to the two adjacent odd-numbered and even-numbered scanning columns. The gate electrodes of the transistors provided in
A liquid crystal display device characterized in that it is connected to the scanning line of a book.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2335578A JPH04204632A (en) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | Liquid crystal display device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2335578A JPH04204632A (en) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | Liquid crystal display device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04204632A true JPH04204632A (en) | 1992-07-27 |
Family
ID=18290150
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2335578A Pending JPH04204632A (en) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | Liquid crystal display device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04204632A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2023002708A (en) * | 2010-12-20 | 2023-01-10 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | Display device |
-
1990
- 1990-11-30 JP JP2335578A patent/JPH04204632A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2023002708A (en) * | 2010-12-20 | 2023-01-10 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | Display device |
US11754896B2 (en) | 2010-12-20 | 2023-09-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device |
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