JPH04188379A - Picture pattern recognizing method - Google Patents

Picture pattern recognizing method

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JPH04188379A
JPH04188379A JP2318506A JP31850690A JPH04188379A JP H04188379 A JPH04188379 A JP H04188379A JP 2318506 A JP2318506 A JP 2318506A JP 31850690 A JP31850690 A JP 31850690A JP H04188379 A JPH04188379 A JP H04188379A
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JP
Japan
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image
image pattern
support line
picture pattern
pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP2318506A
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Japanese (ja)
Inventor
Shozo Fukuda
尚三 福田
Masamichi Morimoto
正通 森本
Takashi Shimizu
隆 清水
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Priority to JP2318506A priority Critical patent/JPH04188379A/en
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Abstract

PURPOSE:To satisfactorily recognize a picture pattern at high speed by drawing a support line in the picture pattern at the read part of a recognition object equipment and detecting the position only by extracting the contour line of the picture pattern and detecting the intersection of the support line and the picture pattern. CONSTITUTION:A support line 11 is drawn while crossing the picture pattern corresponding to the read part of the recognition object equipment and next, the support line 11 is considered as one part of a contour line 13 in the picture pattern. Then, the contour line 13 of those synthesized picture patterns is extracted, intersections 15 of the support line 11 and the picture pattern are detected, and the position of the read of the recognition object equipment is decided from the coordinates of those intersections 15. Thus, the picture pattern can be recognized at high speed without being affected by the inclination of an input picture or the shape of the recognition object equipment.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、画像処理装置を備えた電子部品実装機におい
て、作業対象物である電子部品の位置及び傾きを検出す
る画像パターン認識方法に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to an image pattern recognition method for detecting the position and tilt of an electronic component as a workpiece in an electronic component mounting machine equipped with an image processing device. .

従来の技術 従来、画像処理装置を備えた電子部品実装機で、テレビ
カメラ等の視覚センサから得た画像を基にQFP、PL
CC,TABなどのリード付き電子部品の位置を画像認
識処理によって検出する方法として、テンプレート・マ
ツチングやパターン輪郭線のコーナ一部検出法を利用し
た方法が一般に提案されている。
Conventional technology Conventionally, an electronic component mounting machine equipped with an image processing device performs QFP and PL based on images obtained from a visual sensor such as a television camera.
As a method for detecting the position of leaded electronic components such as CCs and TABs by image recognition processing, methods using template matching or partial corner detection of a pattern outline are generally proposed.

テンプレート・マツチングを利用した方法では、準備工
程として認識対象部品を撮像した基準画像から対象部品
のリード先端等の特徴部分の画像パターン領域をテンプ
レート画像として記憶し、その後認識処理工程において
先に記憶したテンプレート画像に一致する領域を入力画
像上から探索し、その検出位置に基づいてリード先端位
置を詳細に求め出力する。
In the method using template matching, as a preparatory step, image pattern regions of characteristic parts such as lead tips of the target part are stored as a template image from a reference image taken of the recognition target part, and then in the recognition processing step, the image pattern area is stored first. A region matching the template image is searched on the input image, and the lead tip position is determined in detail based on the detected position and output.

一方、パターン輪郭線のコーナ一部検出法を利用した方
法では、入力画像から認識対象部品に相当する画像パタ
ーンの輪郭線を抽出し、その輪郭線の各点で曲率に基づ
いて輪郭線が180°折り返す点を検出し、これを認識
対象部品のリード先端位置として出力する。
On the other hand, in a method using a partial corner detection method of a pattern contour, the contour of the image pattern corresponding to the part to be recognized is extracted from the input image, and the contour line is adjusted to 180 degrees based on the curvature at each point of the contour. °Detect the folding point and output it as the lead tip position of the part to be recognized.

発明が解決しようとする課題 前述した従来の技術による画像認識方法を利用した場合
、テンプレート・マツチングを利用した方法では、認識
処理工程においてテンプレート画像に一致する領域を入
力画像から探索するために画像比較処理が必要となり、
多くの計算時間が掛かる。そのため高速性が要求される
応用分野では特殊な画像処理ハードウェアを用意して高
速化を図る必要がある。また、予め基準画像を撮像しテ
ンプレート画像を収集・記憶することが必要で、さらに
画像の傾き等の影響で基準画像と認識時の入力画像の相
違が大きくなるとテンプレート画像に一致する領域が検
出できなくなり認識不能になることがある。
Problems to be Solved by the Invention When using the image recognition method according to the conventional technology described above, the method using template matching requires image comparison in order to search the input image for an area that matches the template image in the recognition processing step. processing is required,
It takes a lot of calculation time. Therefore, in application fields that require high speed, it is necessary to prepare special image processing hardware to increase the speed. In addition, it is necessary to capture a reference image and collect and store a template image in advance, and furthermore, if the difference between the reference image and the input image during recognition becomes large due to the influence of image tilt etc., areas matching the template image may not be detected. It may disappear and become unrecognizable.

一方、コーナー検出を利用した方法では、画像パターン
の輪郭線の180°コーナーの検出のために多くのパラ
メータの指定か必要となるが、認識対象部品のリード幅
の大小等の理由でリード先端での輪郭線の曲率が種々の
値を取る場合それらのコーナーを同時に検出するパラメ
ータを得ることか困難なため適用範囲が均一なリード幅
を持つ電子部品に限定される。
On the other hand, in the method using corner detection, it is necessary to specify many parameters in order to detect the 180° corner of the outline of the image pattern. When the curvature of the contour line takes various values, it is difficult to obtain parameters to simultaneously detect those corners, so the scope of application is limited to electronic components with uniform lead width.

本発明は上述した従来の技術の欠点を克服し、高速かつ
入力画像の傾きや認識対象部品の形状に影響されない画
像パターン認識方法を提供するこきを目的とする。
An object of the present invention is to overcome the drawbacks of the above-mentioned conventional techniques and to provide an image pattern recognition method that is fast and unaffected by the inclination of an input image or the shape of a part to be recognized.

課題を解決するための手段 本発明は、まず認識対象部品のリード部分に相当する画
像パターンを横断するサポートラインを引き、次にサポ
ートラインを画像パターンの輪郭線の一部であると想定
し、それらの合成画像パターンの輪郭線を抽出し、得ら
れた輪郭線上でサポートラインと画像パターンとの交差
点を検出し、それら交差点の座標より認識対象部品のり
−ドの位置を決定する処理を特徴とする。
Means for Solving the Problems The present invention first draws a support line that crosses an image pattern corresponding to a lead portion of a part to be recognized, and then assumes that the support line is a part of the outline of the image pattern. It is characterized by a process of extracting the contours of these composite image patterns, detecting intersections between the support line and the image pattern on the obtained contours, and determining the position of the recognition target component board from the coordinates of these intersections. do.

作用 本発明は前記した構成により、認識対象部品のリード部
分の画像パターンにサポートラインを描画することによ
って、画像パターンの輪郭線抽出及びサポートラインと
画像パターンの交差点検出という高速かつ認識対象部品
の形状に影響されない処理のみで認識対象部品の位置を
検出することができる。
According to the above-described configuration, the present invention draws a support line on the image pattern of the lead part of the recognition target part, thereby extracting the outline of the image pattern and detecting the intersection between the support line and the image pattern at high speed and the shape of the recognition target part. The position of the recognition target part can be detected only by processing that is not affected by the

実施例 本発明の一実施例として、電子部品実装設備において対
象部品の1つであるリード付き電子部品のリード先端位
置を検出する方法について述べる。 第1図においてス
ナップ1は画像入カニ程で、第2図に示す反射光照明2
のもとでテレビカメラ3よりリード付き電子部品4を撮
像し第3図に示す入力画像5を得る工程である。入力画
像5内の6はリード付き電子部品4のリード部分の画像
パターンである。第3図のように、反射光照明2を用い
た場合、金属製のリード部分だけが光を良く反射し高輝
度の孤立パターンが点在する入力画像か得られる。
Embodiment As an embodiment of the present invention, a method for detecting the lead tip position of an electronic component with a lead, which is one of the target components in an electronic component mounting facility, will be described. In Figure 1, Snap 1 is at the point where the image is captured, and reflected light illumination 2 is shown in Figure 2.
In this step, the electronic component 4 with leads is imaged by the television camera 3 under the following conditions, and an input image 5 shown in FIG. 3 is obtained. 6 in the input image 5 is an image pattern of a lead portion of the electronic component 4 with leads. As shown in FIG. 3, when the reflected light illumination 2 is used, only the metal lead portion reflects light well, resulting in an input image dotted with isolated patterns of high brightness.

ステップ2は画像パターン傾き検出工程で、以下の手順
によって認識対象部品の大まかな傾きを検出する。第3
図に示すように認識対象部品のリード部分に当たる画像
パターン上に、それらを囲むようにウィンド8を指定す
る。次にウィンドウ8内の画素をリードの長手方向に走
査し輝度の変化点9を検出する。検出した輝度の変化点
の2次元的な広がり方向を最小2乗法などで求め認識対
象部品の傾きとする。
Step 2 is an image pattern inclination detection step, in which the rough inclination of the part to be recognized is detected by the following procedure. Third
As shown in the figure, a window 8 is designated on the image pattern corresponding to the lead portion of the part to be recognized so as to surround them. Next, the pixels within the window 8 are scanned in the longitudinal direction of the lead to detect a point 9 of change in brightness. The two-dimensional spread direction of the detected brightness change points is determined by the least squares method, and is determined as the inclination of the part to be recognized.

ステップ3はサポートライン描画工程で、前記画像パタ
ーン傾き検出工程2で決定された認識対象部品の傾きに
沿って、リード部分の画像パターンを横断するように第
4図に示すサポートライン11を描画する。サポートラ
イン11の輝度には、画像パターン6と区別がつくよう
に入力画像の各画素が取り得ない輝度を用いる。例えば
入力画像の各画素の輝度の範囲が0〜127に限られて
いるならば、サポートラインの輝度として255等の値
を設定する。
Step 3 is a support line drawing step, in which a support line 11 shown in FIG. 4 is drawn so as to cross the image pattern of the lead portion along the inclination of the recognition target part determined in the image pattern inclination detection step 2. . For the brightness of the support line 11, a brightness that cannot be obtained by each pixel of the input image is used so that it can be distinguished from the image pattern 6. For example, if the range of brightness of each pixel of the input image is limited to 0 to 127, a value such as 255 is set as the brightness of the support line.

ステップ4はパターン輪郭線抽出工程で、前記サポート
ライン描画工程3で得られたサポートライン11と画像
バター−ン6の合成画像パターンを考え、その輪郭線1
3を抽出する。サポートライン11は検出すべき画像パ
ターンの一部分として取り扱い、連続した輪郭線13の
抽出を行う。なおサポートライン11を上記したように
画像パターンの一部と考えることによって、前記画像入
カニ程で得たリードの画像パターン6のように複数のパ
ターンが孤立し・て入力画像5内に点在する場合でも、
サポートライン11がそれらの孤立パターンを連結し1
つの画像パターンとして取り扱うことが可能となるので
、処理の簡略化・高速化が図れる。
Step 4 is a pattern contour extraction step, in which a composite image pattern of the support line 11 obtained in the support line drawing step 3 and the image pattern 6 is considered, and its contour line 1 is
Extract 3. The support line 11 is treated as a part of the image pattern to be detected, and a continuous contour line 13 is extracted. Note that by considering the support line 11 as a part of the image pattern as described above, multiple patterns can be isolated and scattered within the input image 5, like the lead image pattern 6 obtained in the image input process. Even if
A support line 11 connects those isolated patterns and 1
Since it can be handled as one image pattern, processing can be simplified and speeded up.

ステップ5は交差点検出工程で、前記パターン輪郭線抽
出工程で得られた合成画像パターンの輪郭線13上を走
査していき、サポートライン11と画像パターン6の交
差点15すなわちサポートライン11から画像パターン
6に切り替わる点及び画像パターン6からサポートライ
ン11に切り替わる点を検出・記録する。現在の走査点
が交差点15であるかどうかの判定は、走査点の輝度に
よって判断する。例えば前記のサポートライン描画工程
で挙げた例に従えば、サポートライン11の輝度は25
5でその他の画像パターン6は0〜127の輝度を取る
ので各点の画素の輝度を読み取りながら輪郭線13を走
査していけば交差点15をたやすく検出することができ
る。なお認識対象部品がリード付き電子部品の場合、リ
ード1本毎に交差点15が2個発生するので連続する2
つの交差点をペアで記録する後工程の処理が簡略化でき
る。
Step 5 is an intersection detection step, in which the outline 13 of the composite image pattern obtained in the pattern outline extraction step is scanned, and the intersection 15 between the support line 11 and the image pattern 6, that is, from the support line 11 to the image pattern 6, is scanned. The point where the image pattern 6 switches to the support line 11 and the point where the image pattern 6 switches to the support line 11 are detected and recorded. Whether the current scanning point is the intersection 15 is determined based on the brightness of the scanning point. For example, according to the example given in the support line drawing process above, the brightness of the support line 11 is 25
5 and the other image patterns 6 have a luminance of 0 to 127, so if the outline 13 is scanned while reading the luminance of the pixels at each point, the intersection 15 can be easily detected. Note that if the part to be recognized is an electronic component with leads, two intersections 15 occur for each lead, so two consecutive intersections 15 are generated for each lead.
Post-process processing of recording two intersections in pairs can be simplified.

ステップ6はリード位置検出工程で、前記交差点検出工
程5で検出された交差点15の座標を基に認識対象部品
のリード先端位置を正確にもとめる。
Step 6 is a lead position detection step in which the lead tip position of the recognition target component is accurately determined based on the coordinates of the intersection 15 detected in the intersection detection step 5.

なお以上の処理手順において、パターン輪郭線抽出工程
12と交差点検出工程14は特に別工程とする必要はな
く、輪郭線の抽出過程で交差点の検出・記録を行うこと
も可能である。
In the above processing procedure, the pattern contour extraction step 12 and the intersection detection step 14 do not need to be separate processes, and it is also possible to detect and record intersections during the contour extraction process.

発明の効果 以上の説明が明らかなように本発明によれば、高速かつ
入力画像の傾きや認識対象部品の形状に影響されない画
像パターン認識方法が実現される。
Effects of the Invention As is clear from the above description, the present invention realizes an image pattern recognition method that is fast and unaffected by the inclination of an input image or the shape of a part to be recognized.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の画像パターン認識方法のフローチャー
ト図、第2図は画像入カニ程の説明図、第3図及び第4
図は本発明を適用した画像パターン認識方法の説明図で
ある。 4・・・・・・リード付き電子部品、5・・・・・・入
力画像、11・・・・・・サポートライン、13・・・
・・・輪郭線、15・・・・・・交差点。 代理人の氏名 代理士小蝦治明 ほか2名第1図 スタート 画1家入カニ程 第 6、□、。、−52 傾き像上工程 、jよ・−5うイッ  3 3−  テV(カメ5 2 図 描画工程 バリー′)翰yp季衆    4 抽出工程
Fig. 1 is a flowchart of the image pattern recognition method of the present invention, Fig. 2 is an explanatory diagram of the image input process, Figs.
The figure is an explanatory diagram of an image pattern recognition method to which the present invention is applied. 4...Electronic component with leads, 5...Input image, 11...Support line, 13...
...Contour line, 15...Intersection. Agent's name: Agent Haruaki Koebi and 2 others Figure 1 Start picture 1 Ikei Crab Step 6, □. , -52 Inclined image upper process, j-5 3 3- te V (turtle 5 2 figure drawing process Barry') Kanyp Kishu 4 extraction process

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 認識対象物を撮像した画像から認識対象物に相当する画
像パターンを検出し、その画像パターン上に適当なサポ
ートラインを描画する第1工程と、前記第1工程で描画
したサポートラインを認識対象物の画像パターンの一部
と見なし、それらサポートラインと画像パターンの合成
画像パターンに対して輪郭線を抽出する第2工程と、前
記第2工程で得られた輪郭線の各部分をサポートライン
に属する部分と画像パターンの輪郭線に属する部分の2
種類の輪郭線セグメントに分類し、それらの2種類の輪
郭線セグメント間の接合部に当たる交差点をすべて検出
・記録する第3工程と、得られた交差点の座標に基づき
認識対象物の位置を求める第4工程を備えた画像パター
ン認識方法。
A first step of detecting an image pattern corresponding to the recognition target from an image of the recognition target and drawing an appropriate support line on the image pattern; A second step of extracting contour lines from a composite image pattern of the support lines and the image pattern, and each part of the contour line obtained in the second step belongs to the support line. 2 of the part and the part belonging to the outline of the image pattern
A third step is to classify the object into two types of contour segments, detect and record all intersections that are the junctions between these two types of contour segments, and a third step to determine the position of the recognition target based on the coordinates of the obtained intersections. Image pattern recognition method with four steps.
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