JPH041859B2 - - Google Patents

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JPH041859B2
JPH041859B2 JP58181277A JP18127783A JPH041859B2 JP H041859 B2 JPH041859 B2 JP H041859B2 JP 58181277 A JP58181277 A JP 58181277A JP 18127783 A JP18127783 A JP 18127783A JP H041859 B2 JPH041859 B2 JP H041859B2
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JP
Japan
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signal
detector
pixel
light receiving
storage section
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JP58181277A
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Japanese (ja)
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JPS6071919A (en
Inventor
Tetsuo Sado
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication of JPH041859B2 publication Critical patent/JPH041859B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/52Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using comparison with reference sources, e.g. disappearing-filament pyrometer

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は各種のセンサとして利用される2次
元赤外線検出装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a two-dimensional infrared detection device used as various sensors.

〔発明の技術的背景とその問題点〕[Technical background of the invention and its problems]

周知のように、2次元赤外線検出素子は一般の
光検知素子のように、検知素子本体から発生され
る電気的雑音および本来の目標が有する温度によ
る黒体放射信号以外に、検知素子が使用される周
囲の温度による黒体放射信号が混入される。これ
は所謂バツクグランド雑音と称されるものであ
る。このバツクグランド雑音は検知素子本体から
発生される電気的なランダム雑音に対して、有効
時間内において一定の大きさの雑音である。した
がつて、この雑音は信号処理によつて除去するこ
とが可能である。
As is well known, a two-dimensional infrared detection element, like a general photodetection element, is used for purposes other than electrical noise generated from the detection element body and a blackbody radiation signal due to the temperature of the original target. A black body radiation signal due to the surrounding temperature is mixed in. This is what is called background noise. This background noise has a constant level of noise within the effective time compared to electrical random noise generated from the sensing element body. Therefore, this noise can be removed by signal processing.

一方、2次元赤外線検知素子の各画素は、同一
赤外線強度に対して感度(入力赤外線の強度に対
する出力電気信号の大きさ)が一定でない。した
がつて、目標を2次元で評価する場合、正確な評
価ができない不都合を有している。
On the other hand, each pixel of the two-dimensional infrared detecting element does not have constant sensitivity (the magnitude of the output electrical signal relative to the intensity of input infrared rays) to the same infrared intensity. Therefore, when evaluating a target in two dimensions, there is a disadvantage that accurate evaluation cannot be performed.

ところで、従来バツクグランド雑音および感度
の補正は全く別々に異なる試験装置を2次元赤外
線検出素子に正体させて行つていた。したがつ
て、各補正毎に試験装置を交換しなければならな
いため、補正作業が極めて煩雑なものであつた。
Incidentally, in the past, background noise and sensitivity corrections were performed using completely different test apparatuses that were used as two-dimensional infrared detecting elements. Therefore, the test device must be replaced for each correction, making the correction work extremely complicated.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

この発明は上記事情に基づいてなされたもので
あり、その目的とするところはバツクグランド雑
音および感度誤差の補正を容易に行うことが可能
な2次元赤外線検出装置を提供しようとするもの
である。
The present invention has been made based on the above-mentioned circumstances, and its object is to provide a two-dimensional infrared detection device that can easily correct background noise and sensitivity errors.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

この発明は2次元赤外線検知器の受光部に対向
して透明部、黒体部、発熱部を有する校正体を設
け、この校正体の黒体部、発熱部を前記受光部に
それぞれ対向してバツクグランド雑音および感度
誤差の補正信号を求め、この補正信号を前記校正
体の透明部を前記受光部に対向して得られた信号
に演算することにより、この信号よりバツクグラ
ンド雑音および感度誤差を除去しようとするもの
である。
In this invention, a calibration body having a transparent part, a black body part, and a heat generating part is provided opposite to a light receiving part of a two-dimensional infrared detector, and the black body part and the heat generating part of this calibration body are respectively opposed to the light receiving part. By calculating a correction signal for background noise and sensitivity error, and calculating this correction signal into a signal obtained by placing the transparent part of the calibration body facing the light receiving part, background noise and sensitivity error are removed from this signal. This is what we are trying to remove.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

先ず、第1図乃至第3図を用いてこの発明の原
理について説明する。
First, the principle of this invention will be explained using FIGS. 1 to 3.

第1図はバツクグランド雑音補正部を示すもの
である。2次元赤外線検知器11の受光部111
の前面には円盤状の校正体12が設けられる。こ
の校正体12は第2図に示す如く、中心軸Oを中
心として図示せぬ駆動部によつて図示矢印CW方
向に120°づつ回転可能とされている。この校正体
12には120°間隔で校正体12を透過し得る円形
状透明部121、黒体部122および所定温度の熱
を発生する発熱部123が設けられており、校正
体12が120°づつ回転される毎に透明部121
黒体部122、発熱部123が前記2次元赤外線検
知器11の受光部111に対向されるようになつ
ている。バツクグランド雑音の補正を行う場合、
先ず、校正体12の黒体部122が2次元赤外線
検知器11の受光部111に対向される。黒体部
122は周囲温度に相当する赤外線を放射してお
り、2次元赤外線検知器11ではこの赤外線が検
知され、検知器11の各画素毎に電気信号に変換
される。この画素毎に変換された信号はクロツク
信号によつて順次読出され、A/D(アナログ/
デイジタル)変換器13に供給される。このA/
D変換器13においてデイジタル化された信号は
前記クロツク信号に同期して、閉状態とされたス
イツチ14を介して順次記憶部15に記憶され
る。次に、実際の補正を行う場合、前記スイツチ
14が開状態とされるとともに、校正体12が回
転され、2次元赤外線検知器11の受光部111
に透明部121が対向される。この状態では図示
せぬ目標からの赤外線とバツクグランド雑音とが
透明部121を介して2次元赤外線検知器11に
入射される。したがつて、この検知器11からは
これらが重畳された信号が出力され、この信号は
前記と同様にA/D変換器13においてデイジタ
ル化される。このデイジタル化された信号は減算
器16に順次供給される。この減算器16には前
記記憶部15に記憶されたバツクグランド雑音に
相当する信号がクロツク信号に同期して順次供給
されており、前記デイジタル化された信号中より
バツクグランド雑音に相当する信号が減算され
る。この減算処理はクロツク信号に同期して対応
する画素毎に行われる。しかして、この減算器1
6からはバツクグランド雑音が殆んど除去された
目標信号が出力される。
FIG. 1 shows a background noise correction section. Light receiving part 11 1 of two-dimensional infrared detector 11
A disc-shaped calibration body 12 is provided on the front surface of the calibrator. As shown in FIG. 2, this calibration body 12 can be rotated by 120 degrees in the direction of arrow CW in the figure by a drive section (not shown) about the central axis O. This calibration body 12 is provided with a circular transparent part 12 1 that can transmit through the calibration body 12 at 120° intervals, a black body part 12 2 , and a heat generating part 12 3 that generates heat at a predetermined temperature. is rotated by 120°, the transparent part 12 1 ,
The black body portion 12 2 and the heat generating portion 12 3 are arranged to face the light receiving portion 11 1 of the two-dimensional infrared detector 11. When correcting background noise,
First, the blackbody portion 12 2 of the calibration body 12 is opposed to the light receiving portion 11 1 of the two-dimensional infrared detector 11 . The black body portion 12 2 emits infrared rays corresponding to the ambient temperature, and this infrared ray is detected by the two-dimensional infrared detector 11 and converted into an electrical signal for each pixel of the detector 11 . The signals converted for each pixel are read out sequentially by a clock signal, and the A/D (analog/
(digital) converter 13. This A/
The signals digitized by the D converter 13 are sequentially stored in the storage section 15 via the closed switch 14 in synchronization with the clock signal. Next, when performing actual correction, the switch 14 is opened, the calibration body 12 is rotated, and the light receiving section 11 1 of the two-dimensional infrared detector 11 is rotated.
The transparent portion 12 1 is opposed to the transparent portion 12 1 . In this state, infrared rays and background noise from a target (not shown) are incident on the two-dimensional infrared detector 11 through the transparent section 121 . Therefore, the detector 11 outputs a signal in which these signals are superimposed, and this signal is digitized by the A/D converter 13 in the same manner as described above. This digitized signal is sequentially supplied to a subtracter 16. The subtracter 16 is sequentially supplied with signals corresponding to the background noise stored in the storage section 15 in synchronization with the clock signal, and the signals corresponding to the background noise are extracted from the digitized signal. Subtracted. This subtraction process is performed for each corresponding pixel in synchronization with the clock signal. However, this subtractor 1
6 outputs a target signal with almost all background noise removed.

次に、第3図を用いて感度誤差補正部について
説明する。尚、第1図と同一部分には同一符号を
付す。この場合、先ず校正体12の発熱部123
が2次元赤外線検知器11の受光部111に対向
される。この発熱部123は常温より2〜30Kほ
ど高く設定されており、この温度に相当する黒体
放射による赤外線が2次元赤外線検知器11によ
つて検知される。この検知器11の出力信号は順
次A/D変換器13に供給され、画素毎にデイジ
タル化される。このデイジタル化された信号はス
イツチ31を介して記憶部32に記憶される。即
ち、スイツチ31は可動接片311が固定接点3
2に接続されている。A/D変換器13の出力
信号が総べて記憶されると、前記スイツチ31の
可動接片311が固定接点313に接続され、記憶
部32の出力端に設けられたスイツチ33の可動
接片331は固定接点333に接続される。そし
て、このスイツチ33を介して記憶部32より読
出された全画素に対応する信号が演算器34に供
給される。この演算器34では入力された全画素
に対応する信号の平均値が演算され、この後、求
められた平均値と前記記憶された各画素に対応す
る信号との比、即ち、感度補正信号K(i)が各画素
毎に求められる。つまり、記憶部32よりある画
素に対応する信号が読出され、この信号と前記平
均値との比が求められる。この比、即ち、感度補
正信号K(i)はスイツチ31を介して前記記憶部3
2の対応する画素位置に記憶される。このような
動作が記憶部32に記憶された総べての画素に対
応した信号について行われる。このようにして、
記憶部32の画素に対応した信号が総べて各画素
に対応した感度補正信号K(i)に書換えられる。次
に、実際の補正を行う場合は、スイツチ31の可
動接片311が第3図に示す中立位置とされ、ス
イツチ33の可動接片331が固定接片332に接
続されるとともに、校正体12が回転され、透明
部121が2次元赤外線検知器11の受光部111
に対向される。この状態において、2次元赤外線
検知器11では透明部121を介して図示せぬ目
標からの赤外線およびバツクグランド雑音が検知
される。この検知器11の出力信号はA/D変換
器13を介して掛算器35に供給される。この掛
算器35には前記記憶部32より対応する画素毎
に感度補正信号K(i)が供給されており、この感度
補正信号K(i)と対応するA/D変換出力信号との
乗算が行われる。したがつて、この掛算器35か
らは感度が平均化された信号が出力される。尚、
これらの一連の処理は2次元赤外線検出器11の
信号読出しクロツク信号に同期して各画素毎に行
われる。また、校正体12と2次元赤外線検出器
11との距離は黒体部122、発熱部123からの
黒体放射による赤外線の強度が各画素毎にほぼ均
一と見なせるような位置とされる。
Next, the sensitivity error correction section will be explained using FIG. Note that the same parts as in FIG. 1 are given the same reference numerals. In this case, first, the heat generating part 12 3 of the calibration body 12
is opposed to the light receiving section 11 1 of the two-dimensional infrared detector 11 . This heat generating portion 12 3 is set at a temperature approximately 2 to 30 K higher than normal temperature, and the two-dimensional infrared detector 11 detects infrared rays due to black body radiation corresponding to this temperature. The output signal of this detector 11 is sequentially supplied to an A/D converter 13 and digitized for each pixel. This digitized signal is stored in the storage section 32 via the switch 31. That is, in the switch 31, the movable contact piece 31 1 is the fixed contact 3
1 Connected to 2 . When all the output signals of the A/D converter 13 are stored, the movable contact piece 31 1 of the switch 31 is connected to the fixed contact 31 3 , and the movable switch 33 provided at the output end of the storage section 32 is connected. The contact piece 33 1 is connected to a fixed contact 33 3 . Then, signals corresponding to all pixels read out from the storage section 32 are supplied to the arithmetic unit 34 via the switch 33. This calculator 34 calculates the average value of the signals corresponding to all input pixels, and then calculates the ratio of the calculated average value to the stored signal corresponding to each pixel, that is, the sensitivity correction signal K. (i) is obtained for each pixel. That is, a signal corresponding to a certain pixel is read out from the storage section 32, and the ratio between this signal and the average value is determined. This ratio, that is, the sensitivity correction signal K(i) is sent to the storage unit 3 via a switch 31.
2 corresponding pixel locations. Such operations are performed on signals corresponding to all pixels stored in the storage section 32. In this way,
All the signals corresponding to the pixels in the storage section 32 are rewritten into sensitivity correction signals K(i) corresponding to each pixel. Next, when performing actual correction, the movable contact piece 31 1 of the switch 31 is set to the neutral position shown in FIG. 3, the movable contact piece 33 1 of the switch 33 is connected to the fixed contact piece 33 2 , The calibration body 12 is rotated so that the transparent part 12 1 becomes the light receiving part 11 1 of the two-dimensional infrared detector 11
is faced with. In this state, the two-dimensional infrared detector 11 detects infrared rays and background noise from a target (not shown) through the transparent portion 12 1 . The output signal of this detector 11 is supplied to a multiplier 35 via an A/D converter 13. This multiplier 35 is supplied with a sensitivity correction signal K(i) for each corresponding pixel from the storage section 32, and multiplies this sensitivity correction signal K(i) by the corresponding A/D conversion output signal. It will be done. Therefore, the multiplier 35 outputs a signal with averaged sensitivity. still,
These series of processes are performed for each pixel in synchronization with the signal readout clock signal of the two-dimensional infrared detector 11. Further, the distance between the calibration body 12 and the two-dimensional infrared detector 11 is set such that the intensity of infrared rays due to black body radiation from the black body part 12 2 and the heat generating part 12 3 can be considered to be almost uniform for each pixel. .

次に、上記原理に基づくこの発明の一実施例に
ついて説明する。尚、第1図乃至第3図と同一部
分には同一符号を付す。
Next, an embodiment of the present invention based on the above principle will be described. Note that the same parts as in FIGS. 1 to 3 are given the same reference numerals.

第4図は第1図に示したバツクグランド雑音補
正部と第3図に示した感度誤差補正部の共通部分
を一体化し、他の部分を縦続接続したものであ
る。この装置は例えば図示せぬ校正スイツチを操
作すると、数秒のうちにバツクグランド雑音と感
度誤差の補正が終了されるようになされている。
In FIG. 4, the common parts of the background noise correction section shown in FIG. 1 and the sensitivity error correction section shown in FIG. 3 are integrated, and the other parts are connected in cascade. In this device, for example, when a calibration switch (not shown) is operated, correction of background noise and sensitivity errors is completed within a few seconds.

即ち、校正スイツチが操作されると、先ずスイ
ツチ14が閉状態とされるとともに、校正体12
が回転され、黒体部122が2次元赤外線検知器
11の受光部111に対向される。そして、前述
した動作によつて記憶部15にバツクグランド雑
音に相当する信号が記憶される。次に、前記スイ
ツチ14が開状態とされ、スイツチ31の可動接
片311が固定接点312に接続され、校正体12
が回転されて発熱部123が受光部111に対向さ
れる。そして、発熱部123より放射される赤外
線に対応した信号が記憶部32に記憶される。
尚、最初に発熱部123に対応する信号を読込む
場合は減算器16の負(−)側の値は零とされ
る。次に、スイツチ31の可動接片311が固定
接片313に接続され、スイツチ33の可動接片
331が固定接片333に接続され、演算器34を
介して記憶部32に感度補正信号K(i)が記憶され
る。次に、スイツチ33の可動接片331が固定
接片332に接続されるとともに、スイツチ31
の可動接片311が中立位置とされ、且つ校正体
12が回転されて透明部121が受光部111に対
向される。したがつて、目標から放射された信号
は2次元赤外線検知器11によつて受光された
後、デイジタル化され、この信号より減算器16
において記憶部15に記憶されたバツクグランド
雑音に相当する信号が減算される。さらに、この
バツクグランド雑音が除去された信号は掛算器3
5において記憶部32に記憶された感度補正信号
K(i)と乗算される。したがつて、この掛算器35
からはバツクグランド雑音および感度誤差が補正
された信号が出力される。この動作は校正スイツ
チが操作される毎に繰返えされる。
That is, when the calibration switch is operated, the switch 14 is first closed, and the calibration body 12 is closed.
is rotated so that the black body portion 12 2 faces the light receiving portion 11 1 of the two-dimensional infrared detector 11 . Then, by the above-described operation, a signal corresponding to background noise is stored in the storage section 15. Next, the switch 14 is opened, the movable contact piece 31 1 of the switch 31 is connected to the fixed contact 31 2 , and the calibrator 12
is rotated so that the heat generating part 12 3 faces the light receiving part 11 1 . Then, a signal corresponding to the infrared rays emitted from the heat generating section 12 3 is stored in the storage section 32 .
Note that when reading the signal corresponding to the heat generating section 12 3 first, the value on the negative (-) side of the subtracter 16 is set to zero. Next, the movable contact piece 31 1 of the switch 31 is connected to the fixed contact piece 31 3 , the movable contact piece 33 1 of the switch 33 is connected to the fixed contact piece 33 3 , and the sensitivity is stored in the memory section 32 via the calculator 34 . A correction signal K(i) is stored. Next, the movable contact piece 33 1 of the switch 33 is connected to the fixed contact piece 33 2 , and the switch 31
The movable contact piece 31 1 is set to the neutral position, and the calibration body 12 is rotated so that the transparent part 12 1 faces the light receiving part 11 1 . Therefore, after the signal emitted from the target is received by the two-dimensional infrared detector 11, it is digitized, and from this signal, the subtractor 16
In the step, the signal corresponding to the background noise stored in the storage section 15 is subtracted. Furthermore, the signal from which this background noise has been removed is sent to a multiplier 3.
5, the signal is multiplied by the sensitivity correction signal K(i) stored in the storage section 32. Therefore, this multiplier 35
outputs a signal with background noise and sensitivity errors corrected. This operation is repeated every time the calibration switch is operated.

上記した実施例によれば、校正体12に透明部
121、黒体部122、発熱部123を設け、この
うち、黒体部122、発熱部123をそれぞれ2次
元赤外線検知器11の受光部111に対向した状
態において、記憶部15,32に所定の補正信号
を記憶し、校正体12の透明部121を検知器1
1の受光部111に対向した状態において、前記
記憶された校正信号によつてバツクグランド雑音
および感度誤差の補正を行つている。したがつ
て、校正体12を所定位置に回転することにより
容易にバツクグランド雑音および感度誤差の補正
を行うことが可能であり、従来のように、各補正
毎に試験装置を交換する必要がない利点を有して
いる。
According to the embodiment described above, the calibration body 12 is provided with the transparent part 12 1 , the black body part 12 2 , and the heat generating part 12 3 , and among these, the black body part 12 2 and the heat generating part 12 3 are each used as a two-dimensional infrared detector. 11, a predetermined correction signal is stored in the storage units 15 and 32, and the transparent part 121 of the calibration body 12 is connected to the detector 1.
1 , background noise and sensitivity errors are corrected using the stored calibration signal. Therefore, it is possible to easily correct background noise and sensitivity errors by rotating the calibrator 12 to a predetermined position, and there is no need to replace the test equipment for each correction as in the past. It has advantages.

尚、この発明は上記実施例に限定されるもので
はなく、この装置を他のシステムに組込む場合、
検知器11の時間的特性変動が予じめ予測できれ
ば、タイマを用いてこの特性変動に同期して校正
スイツチを動作させることにより、常に適正な補
正が行われ、非常に安定した2次元データを得る
ことができる。
Note that this invention is not limited to the above embodiments, and when this device is incorporated into another system,
If the temporal characteristic fluctuations of the detector 11 can be predicted in advance, by using a timer to operate the calibration switch in synchronization with this characteristic fluctuation, appropriate correction will always be performed and extremely stable two-dimensional data can be obtained. Obtainable.

また、検知器11に例えば集光レンズ等の光学
系を用いる場合は、検知器11と光学系との間に
校正体12を設けることにより、検知器11の出
力信号を安定化することができる。
Further, when an optical system such as a condensing lens is used for the detector 11, the output signal of the detector 11 can be stabilized by providing a calibration body 12 between the detector 11 and the optical system. .

その他、この発明の要旨を変えない範囲で種々
変形実施可能なことは勿論である。
It goes without saying that various other modifications can be made without departing from the gist of the invention.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上、詳述したようにこの発明によれば、バツ
クグランド雑音および感度誤差の補正を容易に行
うことが可能な2次元赤外線検知装置を提供でき
る。
As described in detail above, according to the present invention, it is possible to provide a two-dimensional infrared detection device that can easily correct background noise and sensitivity errors.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図乃至第3図はこの発明の原理を説明する
ために示すものであり、第1図はバツクグランド
雑音補正部を示す構成図、第2図は校正体の構成
を説明するために示す図、第3図は感度誤差補正
部を示す構成図、第4図はこの発明に係わる2次
元赤外線検知装置の一実施例を示す構成図であ
る。 11……2次元赤外線検知器、12……校正
体、121……透明部、122……黒体部、123
……発熱部、13……A/D変換器、15,32
……記憶部、16……減算器、34……演算器、
35……掛算器。
Figures 1 to 3 are shown to explain the principle of the invention, Figure 1 is a configuration diagram showing the background noise correction section, and Figure 2 is shown to explain the configuration of the calibration body. 3 are block diagrams showing a sensitivity error correction section, and FIG. 4 is a block diagram showing an embodiment of a two-dimensional infrared detection device according to the present invention. 11...Two-dimensional infrared detector, 12...Calibration body, 12 1 ...Transparent part, 12 2 ...Black body part, 12 3
... Heat generating part, 13 ... A/D converter, 15, 32
...Storage unit, 16...Subtractor, 34...Arithmetic unit,
35... Multiplier.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 2次元赤外線検知器と、この検知器の受光部
にそれぞれ対向される透明部、黒体部および所定
温度の熱を発生する発熱部を有する校正体と、前
記検知器の出力信号を画素毎にデイジタル化する
A/D変換器と、前記校正体の黒体部を検知器の
受光部に対向した状態におけるA/D変換器の出
力信号を画素毎に記憶する第1の記憶部と、前記
校正体の透明部を検知器の受光部に対向した状態
におけるA/D変換器の出力信号から前記第1の
記憶部に記憶された信号を各画素毎に減算しバツ
クグランド雑音を除去する減算器と、前記校正体
の発熱部を検知器の受光部に対向した状態におい
て前記減算器の出力信号を画素毎に記憶する第2
の記憶部と、この記憶部に記憶された信号の平均
値を求めるとともに、この平均値と各画素の信号
との比(補正信号)を求め前記第2の記憶部の対
応する部分に記憶させる減算器と、前記校正体の
透明部を検知器の受光部に対向した状態で得られ
る前記減算器の出力信号と前記第2の記憶部に記
憶された補正信号とを画素毎に乗算し感度補正を
行う掛算器とを具備したことを特徴とする2次元
赤外線検出装置。
1. A two-dimensional infrared detector, a calibration body having a transparent part, a black body part, and a heat generating part that generates heat at a predetermined temperature, respectively facing the light receiving part of this detector, and an output signal of the detector for each pixel. an A/D converter that digitizes the image, and a first storage unit that stores an output signal of the A/D converter for each pixel in a state where the black body portion of the calibration body is opposed to the light receiving portion of the detector; The signal stored in the first storage section is subtracted for each pixel from the output signal of the A/D converter with the transparent part of the calibration body facing the light receiving part of the detector to remove background noise. a subtracter; and a second calibrator for storing the output signal of the subtracter for each pixel in a state where the heat generating part of the calibrator faces the light receiving part of the detector.
a storage section, and find the average value of the signals stored in this storage section, and calculate the ratio (correction signal) between this average value and the signal of each pixel and store it in the corresponding part of the second storage section. A subtracter multiplies the output signal of the subtracter obtained with the transparent part of the calibration body facing the light-receiving part of the detector and the correction signal stored in the second storage part for each pixel to determine the sensitivity. A two-dimensional infrared detection device characterized by comprising a multiplier for performing correction.
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EP3336498A1 (en) 2016-12-13 2018-06-20 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Information processing method, information processing system, mobile terminal, infrared detector, and non-transitory computer readable recording medium storing program

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