JPH04177907A - Input circuit - Google Patents

Input circuit

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JPH04177907A
JPH04177907A JP30524190A JP30524190A JPH04177907A JP H04177907 A JPH04177907 A JP H04177907A JP 30524190 A JP30524190 A JP 30524190A JP 30524190 A JP30524190 A JP 30524190A JP H04177907 A JPH04177907 A JP H04177907A
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JP
Japan
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fet
capacitor
circuit
switching
fets
Prior art date
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Pending
Application number
JP30524190A
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Japanese (ja)
Inventor
Tomonori Morita
森田 智徳
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NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Original Assignee
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
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Publication date
Application filed by NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd filed Critical NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
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Publication of JPH04177907A publication Critical patent/JPH04177907A/en
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Abstract

PURPOSE:To attain the normal operation even when a DC bias at an input terminal is fluctuated by connecting an output of a 1st switching FET in a couple of switching FETs to a gate of a 2nd switching FET via a capacitor. CONSTITUTION:A capacitor C1 is arranged between a drain electrode of a switching FET 101, that is, an output 119 and a gate electrode of a FET 102. The capacitor C1 delivers a potential change in the drain electrode 119 to a gate electrode of the FET 102. Since a potential change at a node 119 is opposite phase to a potential change fed to a gate of the FET 101, the FETs 101, 102 are operated at an opposite phase, that is, the FETs act like biphase drive type FETs. Thus, even when a DC level at the input terminal is fluctuated due to any cause, the two output DC levels opposite to each other in the differential amplifier circuit are prevented from being parted, the overlapped waveform is kept large and the operation of the differential amplifier circuit is kept normal.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は入力回路に関し、特に単相駆動入力回路に関す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to input circuits, and more particularly to single-phase drive input circuits.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来の差動入力回路には、単相2両相の2型式があり、
両相型は回路利得を大きく取ることができ、その分入力
振幅を小さくすることができるため好ましいが、通常入
力信号は単相であり、入力信号から逆位相信号をつくり
両相とすることは、(1)回路的に複雑になり、(2)
入力周波数が高くなると完全な逆位相をつくりだすこと
が困難になることから、単相入力回路が使用されている
のが現状である。
There are two types of conventional differential input circuits: single-phase and dual-phase.
A double-phase type is preferable because it can increase the circuit gain and reduce the input amplitude accordingly, but the input signal is usually single-phase, and it is not possible to create an opposite-phase signal from the input signal to make it dual-phase. , (1) The circuit becomes complicated, (2)
As the input frequency increases, it becomes difficult to create completely opposite phases, so single-phase input circuits are currently used.

第3図に、従来用いられている単相駆動型入力回路を示
す。第3図において、FET (電界効果トランジスタ
)101,102はそれぞれ負荷抵抗103,104と
差動回路を構成し、FET105はその定電流源である
。FET106゜108と2個のレベルシフトダイオー
ド107は、第1のソースフォロアー型バイアス発生回
路ヲ形成し、ソースフォロアーFET 106のゲート
バイアスは分割抵抗110,111より供給され、かつ
本バイアス発生回路の出力端子109は、FETl0I
のゲート電極に接続され、入力端子118に加えられた
RF倍信号端子109を経由して差動回路に印加され、
単相動作を行う。
FIG. 3 shows a conventionally used single-phase drive type input circuit. In FIG. 3, FETs (field effect transistors) 101 and 102 constitute a differential circuit with load resistors 103 and 104, respectively, and FET 105 is a constant current source thereof. The FETs 106 and 108 and the two level shift diodes 107 form a first source follower type bias generation circuit, and the gate bias of the source follower FET 106 is supplied from dividing resistors 110 and 111, and the output of this bias generation circuit is Terminal 109 is FETl0I
is applied to the differential circuit via the RF multiplier signal terminal 109 connected to the gate electrode of and applied to the input terminal 118,
Performs single-phase operation.

また第2のバイアス発生回路は、FET112゜114
と2(1のレベルシフトダイオード113とからなって
おり、FET 112のゲートバイアスは分割抵抗11
6,117により供給され、本バイアス発生回路の出力
115はFET 102のゲート電極に接続され、参照
(比較基準)電圧となっている。ここで、V DD +
 V 5sはおのおの電源電圧である。
Further, the second bias generation circuit includes FET112°114
and 2 (1) level shift diode 113, and the gate bias of FET 112 is set by dividing resistor 11.
The output 115 of the bias generating circuit is connected to the gate electrode of FET 102 and serves as a reference (comparison standard) voltage. Here, V DD +
V5s is the respective power supply voltage.

第4図(a)乃至第4図(c)に、第3図の行った計算
機シミュレーションの結果を特性図として示す。
FIGS. 4(a) to 4(c) show the results of the computer simulation shown in FIG. 3 as characteristic diagrams.

第4図(a)、 (b)、 (c)において、入力端子
118の電圧、差動回路の入力109の電圧、出力11
5(参照電圧)、出力119,120の電圧の各波形が
算用数字だけで示しである。
In FIGS. 4(a), (b), and (c), the voltage at the input terminal 118, the voltage at the input 109 of the differential circuit, and the output 11
5 (reference voltage), and the waveforms of the voltages at outputs 119 and 120 are shown using only arithmetic numerals.

C発明が解決しようとする課題〕 ところが、前述した従来の差動回路において、入力端子
118のDCバイアス値で例えば±200mVのズレが
発生した場合、第4図(b)、 (c)に示した如く、
出力119,120の波形のDC成分がズしてしまい、
出力波形の対象性がくずれてしまうという欠点があった
。本発明者等の製作したデバイスでの実験結果によると
、出力波形の重なり部分(第4図(b)、第4図(c)
で斜線を施した部分)が400mV以下になると正常動
作を示さなくなることがわかった。
Problem to be Solved by Invention C] However, in the conventional differential circuit described above, if a deviation of, for example, ±200 mV occurs in the DC bias value of the input terminal 118, the difference as shown in FIGS. 4(b) and 4(c) occurs. Just like that,
The DC components of the waveforms of outputs 119 and 120 are distorted,
This has the disadvantage that the symmetry of the output waveform is lost. According to the experimental results using the device manufactured by the present inventors, the overlapped portions of the output waveforms (Fig. 4(b), Fig. 4(c))
It was found that when the voltage (shaded area) below 400 mV, normal operation was no longer exhibited.

本発明の目的は、前記欠点を解決し、入力端子のDCバ
イアス値が変動しても、正常動作するようにした入力回
路を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an input circuit which solves the above-mentioned drawbacks and which operates normally even if the DC bias value of the input terminal fluctuates.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明の入力回路の構成は、ソースフォロアーFETと
レベルシフトダイオードと、定電流源とで構成されるバ
イアス発生回路と、一対の負荷と、一対のスイッチング
FETのゲートに入力信号が与えられる単相駆動差動回
路とを備え、前記一対のスイッチングFETのうち第1
のスイッチングFETの出力がキャパシタを介して第2
のスイッチングFETのゲートに接続された事を特徴と
する。
The configuration of the input circuit of the present invention includes a bias generation circuit composed of a source follower FET, a level shift diode, and a constant current source, a pair of loads, and a single-phase circuit in which an input signal is applied to the gates of a pair of switching FETs. a drive differential circuit, the first of the pair of switching FETs
The output of the switching FET is connected to the second switching FET via the capacitor.
It is characterized in that it is connected to the gate of the switching FET.

〔実施例〕〔Example〕

次に本発明について図面を用いて説明する。 Next, the present invention will be explained using the drawings.

第1図は本発明の一実施例の入力回路を示す回路図であ
る。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an input circuit according to an embodiment of the present invention.

第1図において、本実施例は、第3図で示した従来例の
回路図に、キャパシタC1がスイッチングFET 10
1のドレイン電極即ち出力119とFET102のゲー
ト電極との間に配置され、第3図の第2バイアス発生回
路が取り除かれている他は、第3図に示す従来例と同じ
である。
In FIG. 1, this embodiment differs from the conventional circuit diagram shown in FIG. 3 in that the capacitor C1 is a switching FET 10.
This example is the same as the conventional example shown in FIG. 3, except that the second bias generating circuit shown in FIG.

いま、キャパシタC1はFET 101のドレイン電極
119の電位変化をFET 102のゲート電極に伝え
る。ここで、接点119の電位変化はFET 101の
ゲートに印加される電位変化とは逆相であるから、FE
T1olと102は逆位相で動作することになり、即ち
両相駆動型と同じ動作状態となる。
Now, the capacitor C1 transmits the potential change of the drain electrode 119 of the FET 101 to the gate electrode of the FET 102. Here, since the potential change at the contact 119 is in opposite phase to the potential change applied to the gate of the FET 101, the FE
T1ol and 102 operate in opposite phases, that is, the operating state is the same as that of the dual-phase drive type.

第1図の動作を説明するために、第5図を参照する。To explain the operation of FIG. 1, reference is made to FIG.

最初に第2バイアス発生回路が取り除かれていない場合
を考えてみる。第5図がその回路図である。まずキャパ
シタC1を経由して、FET 102の電極に現われる
電位変化の大きさは大きい方が完全な両相駆動型に近く
なる事から好ましい。そして、その電位変化の大きさは
、キャパシタC1の値が大きければ大きい程キャパシタ
C1での損失分が小さくなり、大きくなると言える。従
って、キャパシタC1の値は大きい方が好ましい。しか
し、高速動作の観点からみた場合、即ち節点115にお
ける時定数を考えてみると、キャパシタC1の値は小さ
い方が好ましい。以上の事からキャパシタ、キャパシタ
C1の値には上限値の存在する事がわかる。負荷抵抗1
03,104の値750Ω、FETl0I、102のゲ
ート幅20μm。
First, consider the case where the second bias generation circuit is not removed. FIG. 5 is its circuit diagram. First, it is preferable that the magnitude of the potential change appearing at the electrode of the FET 102 via the capacitor C1 is large, since this becomes close to a perfect dual-phase drive type. It can be said that the larger the value of the capacitor C1 is, the smaller the loss in the capacitor C1 becomes, and the magnitude of the potential change becomes larger. Therefore, it is preferable that the value of the capacitor C1 is large. However, from the viewpoint of high-speed operation, that is, when considering the time constant at node 115, it is preferable that the value of capacitor C1 be small. From the above, it can be seen that there is an upper limit value for the value of the capacitor C1. Load resistance 1
The value of 03,104 is 750Ω, and the gate width of FET10I, 102 is 20 μm.

相互コンタクタンス360m5/mm、閾値電圧−0,
1■の差動回路とキャパシタC1の値に0.1pFを採
用して行った計算機シミュレーションの結果を、第6図
(a)、 (b)、 (c)に示す。第6図(a) 、
 (b) 。
Mutual contactance 360m5/mm, threshold voltage -0,
6(a), (b), and (c) show the results of a computer simulation performed using a differential circuit of 1.0 mm and a value of 0.1 pF for the capacitor C1. Figure 6(a),
(b).

(C)において、差動回路の入力109,115の波形
から両相駆動型の動作をしていることはわかるが、入力
115の振幅が小さいことや出力119の振幅を第4図
(b)、 (c)の場合と比較すると小さくなっている
ことから、入力端子118のDCバイアス値±200m
Vズラした場合の出力波形119.120の重なり部分
(第6図(b)、 (c)で斜線を旌した部分)の大き
さは、第4図(b)、 (c)の場合から、犬ぎな改良
が見られない。これは、節点115の置かれているバイ
アス点におけるインピータンスが大きいことに起因する
ものである。
In (C), it can be seen from the waveforms of the inputs 109 and 115 of the differential circuit that it operates in a dual-phase drive type, but the amplitude of the input 115 is small and the amplitude of the output 119 is shown in Figure 4 (b). , is smaller than the case of (c), so the DC bias value of input terminal 118 ±200 m
The size of the overlapping part of the output waveforms 119 and 120 (shaded areas in Figures 6(b) and (c)) when V is shifted is as follows from the case of Figures 4(b) and (c). I can't see any significant improvements. This is due to the large impedance at the bias point where node 115 is located.

次に、この回路から本発明の実施例の第2バイアス発生
回路を取り除いた場合(第1図)を考えてみる。このと
き、節点119のDC成分は、キャパシタC1によって
カットされるため、節点115はフローティングの状態
である。節点119のAC成分はキャパシタC1を介し
て節点115に入力され、FET102をON、OFF
させながら、節点115のDCバイアスを節点109の
DCバイアスに近づけてゆく。更に、第2バイアス発生
回路による負荷が無くなったことにより、節点115の
電位言いかえれば差動回路のFET102のゲート電位
が変化しやすくなる。
Next, consider the case (FIG. 1) in which the second bias generating circuit of the embodiment of the present invention is removed from this circuit. At this time, the DC component of node 119 is cut by capacitor C1, so node 115 is in a floating state. The AC component of node 119 is input to node 115 via capacitor C1, which turns FET 102 ON and OFF.
At the same time, the DC bias of the node 115 is brought closer to the DC bias of the node 109. Furthermore, since the load from the second bias generation circuit is removed, the potential at the node 115, in other words, the gate potential of the FET 102 of the differential circuit becomes more likely to change.

実際、キャパシタC1を0.1pFに設定して、第1図
に示した回路について行った計算機シミュレーションの
結果を、第2図(a)、 (b)、 (c)に示す。第
2図(a)、 (b)、 (c)からも明らかな様に、
節点115の電位変化は、第6図(b)の場合と比較し
て大きく改良され、入力端子118のDCバイアス値を
±200mVズラした場合の出力波形119.120の
重なり部分(第2図(b)、 (c)において斜線で示
した部分)も改良されている。その−例として、入力端
子118のDCバイアス値+200mVズした場合を見
てみると、出力119゜120の重なりは、第4図(c
)の従来回路では480mV、第6図(c)のキャパシ
タC1が負荷され第2バイアス発生回路が取り除かれて
いない回路で440mVである。ところが、キャパシタ
C1が付加され第2バイアス発生回路が取り除かhた回
路では第2図(c)の結果から、重なり部分の値が11
00mVとなり、620mVも改良されていることがわ
かる。
Actually, the results of a computer simulation performed on the circuit shown in FIG. 1 with the capacitor C1 set to 0.1 pF are shown in FIGS. 2(a), (b), and (c). As is clear from Figure 2 (a), (b), and (c),
The potential change at the node 115 has been greatly improved compared to the case shown in FIG. The shaded areas in b) and (c) have also been improved. As an example, if we look at the case where the DC bias value of the input terminal 118 is shifted by +200 mV, the overlap of the outputs 119° and 120 is as shown in Fig. 4 (c
) is 480 mV, and is 440 mV in the circuit shown in FIG. 6(c) in which the capacitor C1 is loaded and the second bias generating circuit is not removed. However, in the circuit in which the capacitor C1 is added and the second bias generation circuit is removed, the value of the overlapped portion is 11 as shown in the result shown in Fig. 2(c).
00 mV, which shows that it has been improved by 620 mV.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したことから明らかな様に、本発明は、入力D
Cレベルの変動に強く、入力端子のDCレベルが内部、
外部を問わず何らかの要因で変動しても、差動回路の互
いに逆相である2比力のDCレベルのかい離を抑えて、
波形の重なりを出来得る限り大きく保ち、このため次段
に配置される差動回路の動作を正常に保つ事のできると
いう効果かある。
As is clear from the above explanation, the present invention provides input D
It is resistant to fluctuations in C level, and the DC level of the input terminal is internal.
Even if it fluctuates due to some external factor, it suppresses the deviation in the DC level of the two specific forces that are in opposite phases to each other in the differential circuit,
This has the effect of keeping the overlap of waveforms as large as possible, thereby maintaining normal operation of the differential circuit placed in the next stage.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例の入力回路を示す回路図、第
2図(a)乃至第2図(c)は第1図の実施例の計算機
シミュレーション結果を示す特性図、第3図及び第5図
はいずれも従来の入力回路例の回路図、第4図(a)乃
至第4図(c)及び第6図(a)乃至第6図(c)はい
ずれも従来例についての計算機シミュレーション結果を
示す特性図である。 101 、 102−・−・・・差動回路FET、10
3゜104・・・・・・差動回路負荷、105・・印・
差動回路定電流源FET、110,111,116,1
17−川−分割抵抗、107,113・・・・・・レベ
ルシフトタイf−ド、106,112・・・・・・ソー
スフォロアーFET、108,114・曲・定電流源F
ET、118・・・・・・入力端子、119,120・
・・・・・圧力端子、109゜115・・・・・・バイ
アス回路出力、VDD、 V、・・・・・・電源電圧、
CI・・・・・キャパシタ。 代理人 弁理士  内 原   晋 ffTF−(V)
FIG. 1 is a circuit diagram showing an input circuit of an embodiment of the present invention, FIGS. 2(a) to 2(c) are characteristic diagrams showing computer simulation results of the embodiment of FIG. 1, and FIG. 5 and 5 are circuit diagrams of conventional input circuit examples, and FIGS. 4(a) to 4(c) and 6(a) to 6(c) are circuit diagrams of conventional input circuits. FIG. 3 is a characteristic diagram showing computer simulation results. 101, 102-- Differential circuit FET, 10
3゜104...Differential circuit load, 105...mark...
Differential circuit constant current source FET, 110, 111, 116, 1
17-river-divided resistor, 107, 113... Level shift tie f-, 106, 112... source follower FET, 108, 114-song/constant current source F
ET, 118... Input terminal, 119, 120.
...Pressure terminal, 109°115...Bias circuit output, VDD, V, ...Power supply voltage,
CI...Capacitor. Agent Patent Attorney Susumu UchiharaffTF-(V)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] ソースフォロアーFETとレベルシフトダイオードと、
定電流源とで構成されるバイアス発生回路と、一対の負
荷と、一対のスイッチングFETのゲートに入力信号が
与えられる単相駆動差動回路とを備え、前記一対のスイ
ッチングFETのうち第1のスイッチングFETの出力
がキャパシタを介して第2のスイッチングFETのゲー
トに接続された事を特徴とする入力回路。
Source follower FET and level shift diode,
A bias generation circuit configured with a constant current source, a pair of loads, and a single-phase drive differential circuit in which an input signal is applied to the gates of the pair of switching FETs, and the first one of the pair of switching FETs. An input circuit characterized in that an output of a switching FET is connected to a gate of a second switching FET via a capacitor.
JP30524190A 1990-11-09 1990-11-09 Input circuit Pending JPH04177907A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5846004A (en) * 1994-11-02 1998-12-08 Newbury Data Recording Limited Impact print head

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US5846004A (en) * 1994-11-02 1998-12-08 Newbury Data Recording Limited Impact print head

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