JPH04172564A - Method for inspecting layout pattern - Google Patents
Method for inspecting layout patternInfo
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- JPH04172564A JPH04172564A JP2301554A JP30155490A JPH04172564A JP H04172564 A JPH04172564 A JP H04172564A JP 2301554 A JP2301554 A JP 2301554A JP 30155490 A JP30155490 A JP 30155490A JP H04172564 A JPH04172564 A JP H04172564A
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- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は半導体集積回路のレイアウトパターンデータ
の設計検証方法に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a design verification method for layout pattern data of a semiconductor integrated circuit.
@4図は従来のレイアウトパターン検証方法を示すブロ
ック説明図である。Figure @4 is a block explanatory diagram showing a conventional layout pattern verification method.
図において、+II#−1tレイアウトパターンデータ
、I!I#:1回路図データ、13)はレイアウトパタ
ーンデータ+11より生成もしくは抽出したセルの外部
接続情報、(4)はセルの外部接続情報(3)を階層的
処理を行うセルを階層セルの情報として扱い、さらにこ
の階層セル以外の部分のレイアウトバター/データ…と
回路図データ1!)のデバイス情報・回路接続情報等の
比較検証を行うための検証ルール、 1111はレイア
ウトパターンデータ…と回路図データ(21から検証ル
ール14)に従い、デバイス情報1圓路接続情報等を抽
出して比較検証を行−1階層セルについては、セルの外
部接続情報+31を用−て1階1層滲p飼と外部配線と
の接続検証を行い、さらに検証結果を生成するレイアウ
ト検証モジュール、16)はレイアウト検証モジニール
Jlによって生成された検証結果である。In the figure, +II#-1t layout pattern data, I! I#: 1 circuit diagram data, 13) is cell external connection information generated or extracted from layout pattern data + 11, (4) is hierarchical cell information for cells that perform hierarchical processing on cell external connection information (3) In addition, layout butter/data for parts other than this layer cell... and circuit diagram data 1! ) verification rules for performing comparative verification of device information, circuit connection information, etc., 1111 extracts device information 1 circuit connection information, etc. according to the layout pattern data... and circuit diagram data (21 to verification rule 14). 16) Comparative Verification Row - For cells in the 1st layer, the cell's external connection information +31 is used to verify the connection between the 1st floor 1st layer leakage and external wiring, and further generate verification results.16) is the verification result generated by layout verification module Jl.
次1C,IIh作について第6図のフローチャートを用
いて説明する。Next, the operations 1C and IIh will be explained using the flowchart shown in FIG.
初めに、ステップ五のレイアウトパターンデータI11
よりステップ2の生成もしくは抽出し次セルの外i接続
情報(31を1階層的処理を行うセル(階層セル)のt
iif報として扱い、さらに階層セル以外の部分のレイ
アウトパターンデータ(1;とステップ8の回路図デー
タ(!)の比較検証を行うための検証ルール(4)を用
いて、レイアウト検証モジュール61でレイアウトパタ
ーンデータII+と回路図データ+21よりデバイス情
報・回路接続情報等を抽出して比較検証を行い(ステッ
プ4)、階層セルについてにセルの外部接続情報til
+を用いて1階層セル内と外部配線の接続検証を行い、
さらVc検証結果161ヲ生成する(ステップ5および
6)。First, the layout pattern data I11 of step 5
The next cell's external i connection information (31) generated or extracted in step 2 is
The layout verification module 61 uses the verification rule (4) to compare and verify the layout pattern data (1) of the parts other than the hierarchical cells and the circuit diagram data (!) of step 8. Extract device information, circuit connection information, etc. from pattern data II+ and circuit diagram data +21, compare and verify them (step 4), and extract cell external connection information til for hierarchical cells.
Verify the connection between the 1st layer cell and external wiring using +.
Furthermore, a Vc verification result 161 is generated (steps 5 and 6).
従来のレイアウトパターン検証方法は以上のように構成
されていたので1階層的レイアウトパターン検証を実行
する時階層セル内と外部配線の接続検証に必要なセルの
外部接続情報音。Since the conventional layout pattern verification method is configured as described above, when performing one-layer layout pattern verification, the external connection information of the cell necessary for verifying the connection between the internal wiring of the hierarchical cell and the external wiring.
わざわざレイアウトパターンデータより生成もしくは抽
出しなければならず、この生成抽出を人手によって行う
ために手間がかかり、また、生成抽出時にミスを生じる
ことがあるなどレイアウトパターン検証実行までの準備
作業の能率が極めて悪いという問題点があった。The layout pattern must be generated or extracted from the layout pattern data, and this generation and extraction is done manually, which is time-consuming, and errors may occur during the generation and extraction, which reduces the efficiency of the preparation work until the layout pattern verification is executed. The problem was that it was extremely bad.
この発明は上記のような問題点を解消するた、めになさ
れたもので、セル内と外部配線の接続検証に必要なセル
の外部接続情報を生成もしくは抽出する準備作業を削減
することのできるレイアウトパターン検証方法を得るこ
とt目的上する。This invention was made to solve the above-mentioned problems, and it is possible to reduce the preparation work for generating or extracting the external connection information of the cell necessary for verifying the connection between the inside of the cell and the external wiring. The purpose is to obtain a layout pattern verification method.
この発明に係るレイアウトパターン検証方法は、セルレ
ベルの検証を完了したセルについて。The layout pattern verification method according to the present invention applies to cells for which cell level verification has been completed.
完了時のデータベースをセル毎にセル情報記憶モジュー
ルで記憶し、このセルf′lll!lを階層的処理を行
うセルC階層セル)の情報として扱い、さらに階層セル
以外の部分のレイアウトパターンデータと回路図データ
のデバイス情報1ロ路接続情報等について比較検証する
ための検証ルールを用いて、レイアウト検証モジュール
で比較検証を行い、階層セルについてはセル毎に記憶し
たセルの外S接続情報を用いて1階層セル内と外部配線
の接続検証を行い、さらに検証結果を生成するよう和し
たものである。The database at the time of completion is stored in the cell information storage module for each cell, and this cell f'llll! 1 is treated as the information of the cell C (layer cell) that performs hierarchical processing, and further uses verification rules to compare and verify the layout pattern data of parts other than the layer cells and the device information 1 route connection information of the circuit diagram data. Then, a layout verification module performs comparative verification, and for hierarchical cells, the connection verification between the inside of the first-level cell and the external wiring is performed using the external S connection information of the cell stored for each cell. This is what I did.
この発明におけるレイアウトパターン検証方法は、セル
レペにで検証を完了したセルについて、完了時のデータ
ベースをセル毎にセルfill記憶モジュールで記憶し
、この記憶されたセル情報を用いてセル内と外部配線の
接続検証を行い、さらにセル以外の部分のレイアウトパ
ターンデータと回路図データのデバイス情報5ロ路接続
情報等について比較検証を行う。これによりセル内の外
部接続情報をレイアウトパターンデータより、生成もし
くは抽出する必要がなくなる。The layout pattern verification method according to the present invention stores a database at the time of completion for each cell in a cell fill storage module for cells for which verification has been completed in a cell repeater, and uses this stored cell information to check the internal and external wiring of the cell. Connection verification is performed, and further comparison verification is performed regarding layout pattern data of parts other than cells and device information, 5-route connection information, etc. of circuit diagram data. This eliminates the need to generate or extract external connection information within a cell from layout pattern data.
以下、この発明の一実施例を図について説明する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
wJ1図はこの発明の一実施例であるレイアウトパター
ン検証方法を示すブロック説明図で1図において、(凰
)はレイアウトパターンデータ、121は回路図データ
、171はセルレベルで検証を完了シタセルのデータベ
ース、+81i−1セルレベルテ検証を完了したセルの
データベース(7)ヲセル毎に記憶して置くセル情報記
憶モジュール、(41はセル情報記憶モジュール(8)
で記憶されたセル情報を階層的処理を行うセル(階層セ
ル)の情報として扱い、さらに階層セル以外の部分のレ
イアウトパターンデータ111と回路図データ+21の
デバイス情報1回Mffi続情報等について比較検証す
るための検証ルール、+611jレイアウトパターンデ
ータ111と回路図データ(!Iから検証ルール14)
に従いデバイス情報1ロ路接続情報等を抽出し、比較検
証を行い、階層セルについてはセル毎に記憶したセル情
報を用いて9階層セル内と外部配線の接続検証を行い、
さらVc検証結果を生成するレイアウト検証モジュール
、+61iレイアウト検証モジユールll11によって
生成された検証結果である。Fig. wJ1 is a block explanatory diagram showing a layout pattern verification method that is an embodiment of the present invention. , +81i-1 A database of cells that have completed cell level verification (7) A cell information storage module that stores each cell (41 is a cell information storage module (8)
The cell information stored in is treated as the information of cells that perform hierarchical processing (hierarchical cells), and furthermore, the layout pattern data 111 of the parts other than the hierarchical cells and the device information of the circuit diagram data + 21 are compared and verified. Verification rules for +611j layout pattern data 111 and circuit diagram data (!I to verification rule 14)
Accordingly, the device information 1 route connection information etc. are extracted and compared and verified.For layer cells, the connection between the inside of the 9 layer cells and external wiring is verified using the cell information stored for each cell.
This is a verification result generated by a +61i layout verification module ll11, which is a layout verification module that generates a Vc verification result.
次に動作について第3図のフローチャートを用いて説明
する。Next, the operation will be explained using the flowchart shown in FIG.
初めにステップlセルレベルで検証全完了したセルにつ
いて、完了時のデータベース(7)ヲセル毎にセル情報
記憶モジュール(8)で記憶しくステップ3)この記憶
されたセル情報を階層的処理を行う(階層セル)の情報
として扱い、さらに階層セル以外のステップ8のレイア
ウトパターンデータillとステップ−の回路図データ
(21のデバイス情報1ロ路接続情報等について比較検
証するための検証ルール141を用いて、レイアウト検
証モジュール、6)で、レイアウトパターンデータ(!
1と回路図データ(2)のデバイス情報1ロ路接続情報
等倉抽出し比較検証を行い(ステップ5)、1jit層
セルについてはセル清報記憶モシュー ル(8)で記憶
し次セル情報を用いて1階層セル内と外部配線の接続検
証を行い、さらに検証結果1B)を生成する(ステップ
6および7)。First, in step 1, for cells that have been completely verified at the cell level, the database (7) at the time of completion is stored in the cell information storage module (8) for each cell.Step 3) This stored cell information is subjected to hierarchical processing ( Furthermore, using the verification rule 141 for comparing and verifying the layout pattern data ill of step 8 and the circuit diagram data of step 21 (device information 1 route connection information of step 21, etc.) , Layout verification module, 6), layout pattern data (!
1 and circuit diagram data (2), device information, 1-route connection information, etc. are extracted and compared and verified (step 5), and the 1-jit layer cell is stored in the cell refresh memory module (8) and the next cell information is stored. The connection verification between the inside of the first layer cell and the external wiring is performed using the method, and the verification result 1B) is generated (steps 6 and 7).
第8図に第1図のレイアウトパターンデータ内のセルの
外部接続情報についての説明図である。図において、田
はレイアウトパターンデータ、I9)は階層セル、 +
lQlはセルの外部接続情報、1JIIは外部配線であ
る。FIG. 8 is an explanatory diagram of external connection information of cells in the layout pattern data of FIG. 1. In the figure, field is layout pattern data, I9) is hierarchical cell, +
lQl is external connection information of the cell, and 1JII is external wiring.
即ち階層的レイアウトパターン検証では階層セル(9)
内と外部配線dシとの検証を行うため、階層セル(9)
内の配線情報・ピン情報等の外部接続情報1101が必
要であり、本纂施列ではこの情報をセルレベルの検証を
完了した時点のデータベースを丁べて持つことによって
実現させたものである。In other words, in hierarchical layout pattern verification, hierarchical cell (9)
In order to verify internal and external wiring, layer cell (9)
External connection information 1101 such as internal wiring information and pin information is required, and this information was realized in the main implementation by having a database at the time when cell level verification was completed.
以上のようにこの発明によれば、セルレベルで検証を完
了した時点のベースをセル毎に記憶して置くことによっ
て、セル内と外部配線との接続検証(pi層的レイアウ
ト検証)に必要なセル情報を生成もしくは抽出する必要
がなくなり。As described above, according to the present invention, by storing the base at the time when verification is completed at the cell level for each cell, the base at the time when verification is completed at the cell level is stored. There is no need to generate or extract cell information.
階層的レイアウトパターン検証実行までの準備作業時間
が削減でき、レイアウトパターンデータの設計検証の能
率アップが図れるなどの効果がある。This has the effect of reducing the preparatory time required to perform hierarchical layout pattern verification and improving the efficiency of design verification of layout pattern data.
第1図はこの発明の一実施例であるレイアウトパターン
検証方法のブロック説明図、第2図ri第1図の動作を
示すフローチャート、第8図nM1図のレイアウトパタ
ーンデータのセルの外部接続情報を示す説明図、第4図
は従来のレイアウトパターン検証方法のブロック説明図
。
第6図に第4図の動作t−示すフローチャートである。
図において、111はレイアウトパターンデータ。
12)は回路図データ、(4)は検証ルール、l11)
#−tレイアウト検証モジュール、161q検証結果、
17)はセルレベルで検証全完了したセルのデータベー
ス。
t81t1セル情報記憶モジュール、(91は階層セル
。
+101は外部接続情報、11υは外部配+IIを示す
。
なお1図中、同一符号は同一、または相当部分子t示す
。FIG. 1 is a block explanatory diagram of a layout pattern verification method according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a flowchart showing the operation of FIG. FIG. 4 is a block explanatory diagram of a conventional layout pattern verification method. FIG. 6 is a flowchart showing the operation of FIG. 4. In the figure, 111 is layout pattern data. 12) is the circuit diagram data, (4) is the verification rule, l11)
#-t layout verification module, 161q verification result,
17) is a database of cells that have been fully verified at the cell level. t81t1 cell information storage module, (91 is a hierarchical cell, +101 is external connection information, and 11υ is external wiring +II. In Figure 1, the same reference numeral indicates the same or corresponding part t.
Claims (1)
データベースをセル毎に記憶して置くセル情報記憶モジ
ュール、この記憶されたセル情報を階層的処理を行うセ
ルを階層セルとして取扱い、さらにこの階層セル以外の
部分のレイアウトパターンデータと回路図データのデバ
イス情報、回路接続情報等について比較検証するための
検証ルール、この検証ルールを用いて前記比較検証を行
い、前記階層セルについてはセル毎に記憶したセル情報
を用いて、階層セル内と外部配線との接続検証を行い、
さらに検証結果を生成し記憶するレイアウト検証モジュ
ールを備えたことを特徴とするレイアウトパターン検証
方法。For cells that have completed cell level verification, there is a cell information storage module that stores a database at the time of completion for each cell, and a cell that performs hierarchical processing on this stored cell information is treated as a hierarchical cell. A verification rule for comparing and verifying device information, circuit connection information, etc. of layout pattern data and circuit diagram data of other parts, the comparison verification is performed using this verification rule, and the hierarchical cells are stored for each cell. Using cell information, verify the connection between the hierarchical cells and external wiring,
A layout pattern verification method further comprising a layout verification module that generates and stores verification results.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2301554A JPH04172564A (en) | 1990-11-06 | 1990-11-06 | Method for inspecting layout pattern |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2301554A JPH04172564A (en) | 1990-11-06 | 1990-11-06 | Method for inspecting layout pattern |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04172564A true JPH04172564A (en) | 1992-06-19 |
Family
ID=17898341
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2301554A Pending JPH04172564A (en) | 1990-11-06 | 1990-11-06 | Method for inspecting layout pattern |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04172564A (en) |
-
1990
- 1990-11-06 JP JP2301554A patent/JPH04172564A/en active Pending
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