JPH0416215Y2 - - Google Patents
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- JPH0416215Y2 JPH0416215Y2 JP1986187744U JP18774486U JPH0416215Y2 JP H0416215 Y2 JPH0416215 Y2 JP H0416215Y2 JP 1986187744 U JP1986187744 U JP 1986187744U JP 18774486 U JP18774486 U JP 18774486U JP H0416215 Y2 JPH0416215 Y2 JP H0416215Y2
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Landscapes
- Separation Using Semi-Permeable Membranes (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、塩化物イオン電極、臭化物イオン電
極、沃化物イオン電極、ガラスイオン電極など、
固体応答膜を備えた各種のイオン電極に関するも
のである。
極、沃化物イオン電極、ガラスイオン電極など、
固体応答膜を備えた各種のイオン電極に関するも
のである。
近年、山砂や河川砂の不足から、生コンクリー
ト（以下、生コンと称す。）用の細骨材として海
砂が利用されるに至つている。
ト（以下、生コンと称す。）用の細骨材として海
砂が利用されるに至つている。
かかる海砂に付着の塩分は、コンクリート構造
物中の鉄筋の腐食を招来し、かつ、該鉄筋の腐食
に伴う膨張によつてコンクリート構造物の亀裂を
誘発することから、該海砂を細骨材として用いる
場合に塩分を洗浄除去し、あるいは、河川砂に海
砂を添加する場合は添加量を少なくし、生コン中
の塩分濃度を可及的に低く抑えるようにしてい
る。
物中の鉄筋の腐食を招来し、かつ、該鉄筋の腐食
に伴う膨張によつてコンクリート構造物の亀裂を
誘発することから、該海砂を細骨材として用いる
場合に塩分を洗浄除去し、あるいは、河川砂に海
砂を添加する場合は添加量を少なくし、生コン中
の塩分濃度を可及的に低く抑えるようにしてい
る。
而して、いずれにしても、生コン中の塩分濃度
（あるいは洗浄後の海砂を浸した水の塩分濃度）
が許容値以下であるか否かを正確に把握すること
が極めて肝要であつて、この塩分濃度の測定に塩
化物イオン電極が用いられる。
（あるいは洗浄後の海砂を浸した水の塩分濃度）
が許容値以下であるか否かを正確に把握すること
が極めて肝要であつて、この塩分濃度の測定に塩
化物イオン電極が用いられる。
かかる塩化物イオン電極による塩分濃度の測定
に際して、生コン中や水に浸した海砂中（以下、
生コンを対象にして説明する。）に該塩化物イオ
ン電極を突き刺すと、該イオン電極の固体応答膜
が粗骨材や細骨材などによつて傷付けられ、而し
て、その傷面を研磨することが煩わしく且つ固体
応答膜の短命化に撃がることから、従来では、サ
ンプリングした生コン中の粗骨材を篩分けてモル
タル状にし、これを吸引濾過器などで濾過して濾
液を抽出し、この濾液中の塩分濃度を塩化物イオ
ン電極で測定して、これを基にして生コン中の塩
分濃度を把握している状況にある。
に際して、生コン中や水に浸した海砂中（以下、
生コンを対象にして説明する。）に該塩化物イオ
ン電極を突き刺すと、該イオン電極の固体応答膜
が粗骨材や細骨材などによつて傷付けられ、而し
て、その傷面を研磨することが煩わしく且つ固体
応答膜の短命化に撃がることから、従来では、サ
ンプリングした生コン中の粗骨材を篩分けてモル
タル状にし、これを吸引濾過器などで濾過して濾
液を抽出し、この濾液中の塩分濃度を塩化物イオ
ン電極で測定して、これを基にして生コン中の塩
分濃度を把握している状況にある。
しかし、前記濾液を抽出するための処理設備を
要し、かつ、その処理に手間がかかる点で問題が
あつた。その為このイオン電極の固体応答膜の接
液面部に通液性を有する応答膜保護部材を被覆し
て固体応答膜の接液面部が損傷することを抑止し
ていたが、近年、コンクリート構造物の強度アツ
プを図る上で、高縮合トリアジン化合物を主成分
とする早期高強度減水剤などの混和剤を生コンに
混和させることが多々行われるが、かかる高強度
減水剤の混和によつて、前記塩化物イオン電極に
よる塩分濃度の測定値に著しく指示誤差がみられ
る。
要し、かつ、その処理に手間がかかる点で問題が
あつた。その為このイオン電極の固体応答膜の接
液面部に通液性を有する応答膜保護部材を被覆し
て固体応答膜の接液面部が損傷することを抑止し
ていたが、近年、コンクリート構造物の強度アツ
プを図る上で、高縮合トリアジン化合物を主成分
とする早期高強度減水剤などの混和剤を生コンに
混和させることが多々行われるが、かかる高強度
減水剤の混和によつて、前記塩化物イオン電極に
よる塩分濃度の測定値に著しく指示誤差がみられ
る。
即ち、高縮合トリアジン化合物を主成分とする
高強度減水剤として、日曹マスタービルダーズ株
式会社製の製品名；NL−4000と称される高強度
減水剤を0.05％Cl水溶液に2wt％加え、PHを変化
うに、２〜10PHの範囲では影響を受けないが、約
12PH以上で著しく影響をうけることが判明したの
である。
高強度減水剤として、日曹マスタービルダーズ株
式会社製の製品名；NL−4000と称される高強度
減水剤を0.05％Cl水溶液に2wt％加え、PHを変化
うに、２〜10PHの範囲では影響を受けないが、約
12PH以上で著しく影響をうけることが判明したの
である。
而して、塩分濃度測定面において、生コンのPH
値を10PH以下にすることが肝要であり、そこで、
サンプリングした生コン中の粗骨材を篩分けてモ
ルタル状にし、これを吸引濾過器などで濾過して
濾液を抽出し、この濾液に酸を添加してPH調節を
行つた上で、濾液中の塩分濃度を塩化物イオン電
極で測定し、これを基にして生コン中の塩分濃度
を測定してみたのである。
値を10PH以下にすることが肝要であり、そこで、
サンプリングした生コン中の粗骨材を篩分けてモ
ルタル状にし、これを吸引濾過器などで濾過して
濾液を抽出し、この濾液に酸を添加してPH調節を
行つた上で、濾液中の塩分濃度を塩化物イオン電
極で測定し、これを基にして生コン中の塩分濃度
を測定してみたのである。
かかる測定手段によれば、高強度減水剤による
干渉影響を受けなくて、安定した測定結果が得ら
れる点で有力であるが、前記濾液を抽出するため
の処理設備を要し、かつ、その処理に手間がかか
る点で問題があつた。
干渉影響を受けなくて、安定した測定結果が得ら
れる点で有力であるが、前記濾液を抽出するため
の処理設備を要し、かつ、その処理に手間がかか
る点で問題があつた。
本考案は上記の実情に鑑みて成されたものであ
つて、測定対象液中のイオン濃度を高精度で測定
するイオン電極を提供せんことを目的としてい
る。
つて、測定対象液中のイオン濃度を高精度で測定
するイオン電極を提供せんことを目的としてい
る。
固体応答膜と応答膜保護部材との間に多孔性フ
イルムを設けて、このフイルムに干渉影響を除去
する材料を保持させた点に特徴がある。
イルムを設けて、このフイルムに干渉影響を除去
する材料を保持させた点に特徴がある。
而して、前記固体応答膜の接液面部を測定対象
液に接液させると、測定対象液が前記応答保護部
材を通過し、更に干渉影響を除去する材料を保持
した多孔性フイルムを通過し、この多孔性フイル
ム通過時にPH低下調整や含有イオンの捕捉がされ
た後、固体応答膜と反応し、測定対象液のイオン
濃度の測定が行われる。そして、前記固体応答膜
の接液面部が保護部材と多孔性フイルムとによつ
て二重に保護されているので、測定対象液中に硬
質物が存在していても、前記固体応答膜の接液面
部が傷付くことがない。
液に接液させると、測定対象液が前記応答保護部
材を通過し、更に干渉影響を除去する材料を保持
した多孔性フイルムを通過し、この多孔性フイル
ム通過時にPH低下調整や含有イオンの捕捉がされ
た後、固体応答膜と反応し、測定対象液のイオン
濃度の測定が行われる。そして、前記固体応答膜
の接液面部が保護部材と多孔性フイルムとによつ
て二重に保護されているので、測定対象液中に硬
質物が存在していても、前記固体応答膜の接液面
部が傷付くことがない。
以下、本考案の実施例を図面に基づいて説明す
る。
る。
第１図はPH値の高い生コンの塩分濃度を測定す
る上で好適な塩化物イオン電極を、第２図はその
塩化物イオン電極の分解図を示し、一端側外面に
ローレツト加工が施されたホルダー１の一端側内
面に、段付き凹部２を形成すると共に塩化銀と銀
とから成る固体応答膜３を上記凹部２に嵌合保持
させ、かつ、前記ホルダー１の他端側にターミナ
ル端子４を設けると共に、該端子４と前記固体応
答膜３をリード線５で接続してある。
る上で好適な塩化物イオン電極を、第２図はその
塩化物イオン電極の分解図を示し、一端側外面に
ローレツト加工が施されたホルダー１の一端側内
面に、段付き凹部２を形成すると共に塩化銀と銀
とから成る固体応答膜３を上記凹部２に嵌合保持
させ、かつ、前記ホルダー１の他端側にターミナ
ル端子４を設けると共に、該端子４と前記固体応
答膜３をリード線５で接続してある。
この固体応答膜３の接液面部に多孔性フイルム
８を密着させている。この多孔性フイルムは干渉
影響を除去する材料である、たとえばアルカリ性
の生こんを中和させる酸性バツフア（液中への拡
散防止ならびに保存面で、常温で固形のリンゴ酸
などの有機酸が好適である。）が保持されている。
８を密着させている。この多孔性フイルムは干渉
影響を除去する材料である、たとえばアルカリ性
の生こんを中和させる酸性バツフア（液中への拡
散防止ならびに保存面で、常温で固形のリンゴ酸
などの有機酸が好適である。）が保持されている。
一方、合成樹脂製の網様体（測定対象が生コン
の場合は80メツシユ程度のもので良いが、メツシ
ユ数は不問である。）から成る応答膜保護部材６
を、合成樹脂製の筒状体７の一端側にモールド等
で一体化させて、当該筒状体７を前記ホルダー１
のローレツト加工部に前記多孔性フイルム８を介
在させて圧入させている。而して、上記塩化物イ
オン電極の接液面部を生コン中に突き刺すと、固
体応答膜３の接液面部付近の生コン中水溶液が多
孔性フイルムを通して接液面部に接触し、かつこ
の間に酸性バツフアによるPH低下の調整が行われ
ることで、高強度減水剤による干渉影響を受けな
い状況下で塩分濃度の測定が行われると共に固体
応答膜の接液面部を前記多孔性フイルムと応答膜
保護部材との二重壁にて保護し、粗骨材や細骨材
で傷付けられることを防止している。
の場合は80メツシユ程度のもので良いが、メツシ
ユ数は不問である。）から成る応答膜保護部材６
を、合成樹脂製の筒状体７の一端側にモールド等
で一体化させて、当該筒状体７を前記ホルダー１
のローレツト加工部に前記多孔性フイルム８を介
在させて圧入させている。而して、上記塩化物イ
オン電極の接液面部を生コン中に突き刺すと、固
体応答膜３の接液面部付近の生コン中水溶液が多
孔性フイルムを通して接液面部に接触し、かつこ
の間に酸性バツフアによるPH低下の調整が行われ
ることで、高強度減水剤による干渉影響を受けな
い状況下で塩分濃度の測定が行われると共に固体
応答膜の接液面部を前記多孔性フイルムと応答膜
保護部材との二重壁にて保護し、粗骨材や細骨材
で傷付けられることを防止している。
尚、前記多孔性フイルム８に保持させる酸性バ
ツフアに代えて、該フイルム８の少なくとも一側
面に塩化銀を保持させ、これを固体応答膜３の接
液面部に密着させる状態で該固体応答膜３と応答
膜保護部材６との間に介在させると、海砂を用い
たコンクリートに含まれる臭化物イオンに起因す
る塩分濃度測定精度の低下や、電極電位のドリフ
トを回避できる。
ツフアに代えて、該フイルム８の少なくとも一側
面に塩化銀を保持させ、これを固体応答膜３の接
液面部に密着させる状態で該固体応答膜３と応答
膜保護部材６との間に介在させると、海砂を用い
たコンクリートに含まれる臭化物イオンに起因す
る塩分濃度測定精度の低下や、電極電位のドリフ
トを回避できる。
即ち、上記の塩化物イオン電極を生コン中に突
き刺すと、固体応答膜３の付近に共存している臭
化物イオンが多孔性フイルム８に保持させた塩化
銀と反応することで該臭化物イオンが沈殿捕捉さ
れ、而して、電極電位のドリフトの要因がなくな
ると共に、臭化物イオンの存在しない生コン溶液
について、それに含有の塩分濃度が固体応答膜３
によつて精度の高い状態で測定されるのである。
き刺すと、固体応答膜３の付近に共存している臭
化物イオンが多孔性フイルム８に保持させた塩化
銀と反応することで該臭化物イオンが沈殿捕捉さ
れ、而して、電極電位のドリフトの要因がなくな
ると共に、臭化物イオンの存在しない生コン溶液
について、それに含有の塩分濃度が固体応答膜３
によつて精度の高い状態で測定されるのである。
かかる構成の塩化物イオン電極にあつては、前
記多孔性フイルム８に保持させた塩化銀が沃化イ
オンと反応して、該沃化イオンを沃化銀として捕
捉することから、沃化イオンによる妨害も回避で
きる。
記多孔性フイルム８に保持させた塩化銀が沃化イ
オンと反応して、該沃化イオンを沃化銀として捕
捉することから、沃化イオンによる妨害も回避で
きる。
本実施例の場合、応答膜保護部材６は多孔性フ
イルム８を塩化物イオン電極の接液面部に接触保
持させる働きと、前記多孔性フイルム８を保護す
る働きとする。
イルム８を塩化物イオン電極の接液面部に接触保
持させる働きと、前記多孔性フイルム８を保護す
る働きとする。
第３図に示すものは、前記酸性バツフアあるい
は塩化銀を保持させた多孔性フイルム８を、応答
膜保護部材６を備えた筒状体７の内面部に一体化
させた実施例を示すもので、上記フイルム８の付
設を容易化した点に特徴を有し、該フイルム８は
もとより固体応答膜３の接液面部が応答膜保護部
材６で保護されることは言うまでもない。
は塩化銀を保持させた多孔性フイルム８を、応答
膜保護部材６を備えた筒状体７の内面部に一体化
させた実施例を示すもので、上記フイルム８の付
設を容易化した点に特徴を有し、該フイルム８は
もとより固体応答膜３の接液面部が応答膜保護部
材６で保護されることは言うまでもない。
尚、実施例では、生コンの塩分濃度を測定する
塩化物イオン電極について説明したが、その他各
種の液体を測定対象にして、臭化物イオン電極や
沃化イオン電極やガラスイオン電極に本考案を実
施するも良い。
塩化物イオン電極について説明したが、その他各
種の液体を測定対象にして、臭化物イオン電極や
沃化イオン電極やガラスイオン電極に本考案を実
施するも良い。
以上の如く、本考案においてはイオン電極が固
体応答膜と応答膜保護部材との間に多孔性フイル
ムを設け、このフイルムに干渉影響を除去する材
料を保持させているので測定対象液中のイオン濃
度を高精度で測定することができる。
体応答膜と応答膜保護部材との間に多孔性フイル
ムを設け、このフイルムに干渉影響を除去する材
料を保持させているので測定対象液中のイオン濃
度を高精度で測定することができる。
即ち、混和剤を混和させた生コンにあつてはPH
値が高く、この高PH値によつて測定値に著しく指
示誤差がみられるが、干渉影響を除去する材料と
して酸性バツフアを用いて、多孔性フイルム通過
時PH低下の調整を行うために、PH値による指示誤
差を解消することができる。
値が高く、この高PH値によつて測定値に著しく指
示誤差がみられるが、干渉影響を除去する材料と
して酸性バツフアを用いて、多孔性フイルム通過
時PH低下の調整を行うために、PH値による指示誤
差を解消することができる。
又、臭化物イオン、沃化物イオンを含む海砂を
用いた生コンにあつては臭化物イオン、沃化物イ
オンによる測定精度の低下や電極電位のドリフト
がみられるが、干渉影響を除去する材料として塩
化銀を用いて、多孔性フイルム通過時臭化物イオ
ン、沃化物イオンが沈殿捕捉されるために、臭化
物イオン、沃化物イオンの妨害を回避して測定す
ることができる。
用いた生コンにあつては臭化物イオン、沃化物イ
オンによる測定精度の低下や電極電位のドリフト
がみられるが、干渉影響を除去する材料として塩
化銀を用いて、多孔性フイルム通過時臭化物イオ
ン、沃化物イオンが沈殿捕捉されるために、臭化
物イオン、沃化物イオンの妨害を回避して測定す
ることができる。
更に、固体応答膜の接液面部は多孔性フイルム
と応答膜保護部材の二重壁によつて保護されるた
めに、イオン電極を測定対象液中に突き刺しても
固体応答膜の接液面部が損傷することを抑止でイ
オン濃度を迅速かつ確実に測定できる。
と応答膜保護部材の二重壁によつて保護されるた
めに、イオン電極を測定対象液中に突き刺しても
固体応答膜の接液面部が損傷することを抑止でイ
オン濃度を迅速かつ確実に測定できる。
第１図は塩化物イオン電極の断面図、第２図は
塩化物イオン電極の分解断面図、第３図は別実施
例の塩化物イオン電極の断面図、第４図は電極特
性のグラフである。 １……塩化物イオン電極、３……固体応答膜、
６……応答膜保護部材、７……筒状体、８多孔性
フイルム。
塩化物イオン電極の分解断面図、第３図は別実施
例の塩化物イオン電極の断面図、第４図は電極特
性のグラフである。 １……塩化物イオン電極、３……固体応答膜、
６……応答膜保護部材、７……筒状体、８多孔性
フイルム。
Claims (1)
- 固体応答膜の接液面部に、通液性を有する応答
膜保護部材を被覆してなるイオン電極において、
上記固体応答膜と応答膜保護部材との間に多孔性
フイルムを設けて、このフイルムに干渉影響を除
去する材料を保持させてなることを特徴とするイ
オン電極。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986187744U JPH0416215Y2 (ja) | 1986-12-04 | 1986-12-04 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986187744U JPH0416215Y2 (ja) | 1986-12-04 | 1986-12-04 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6392249U JPS6392249U (ja) | 1988-06-15 |
| JPH0416215Y2 true JPH0416215Y2 (ja) | 1992-04-10 |
Family
ID=31138489
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986187744U Expired JPH0416215Y2 (ja) | 1986-12-04 | 1986-12-04 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0416215Y2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5852522U (ja) * | 1981-10-02 | 1983-04-09 | 山口 馨 | セルフタイマ−シヤツタ−が切れる数秒前にスピ−カ−から音が出るカメラ |
| JPS59142451A (ja) * | 1983-02-03 | 1984-08-15 | Terumo Corp | イオンセンサ− |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56117355U (ja) * | 1980-02-12 | 1981-09-08 |
-
1986
- 1986-12-04 JP JP1986187744U patent/JPH0416215Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5852522U (ja) * | 1981-10-02 | 1983-04-09 | 山口 馨 | セルフタイマ−シヤツタ−が切れる数秒前にスピ−カ−から音が出るカメラ |
| JPS59142451A (ja) * | 1983-02-03 | 1984-08-15 | Terumo Corp | イオンセンサ− |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6392249U (ja) | 1988-06-15 |
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