JPH0415920A - Method and holder for washing wafer - Google Patents

Method and holder for washing wafer

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Publication number
JPH0415920A
JPH0415920A JP12075290A JP12075290A JPH0415920A JP H0415920 A JPH0415920 A JP H0415920A JP 12075290 A JP12075290 A JP 12075290A JP 12075290 A JP12075290 A JP 12075290A JP H0415920 A JPH0415920 A JP H0415920A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
semiconductor wafer
arms
rollers
rail
Prior art date
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Pending
Application number
JP12075290A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshihiko Noguchi
利彦 野口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH0415920A publication Critical patent/JPH0415920A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To arrange washing nozzles under arms, improve the reliability of wafer washing, and stably hold a semiconductor wafer by rotating the rollers of both the arms synchronously using two electric movers moved on a rail back and forth individually and having the two wafer holding arms under the rail. CONSTITUTION:The present invention comprises a horizontal rail 22, sliders 23 and 24 moved on the rail back and forth individually, horizontal arms 27 and 28 having fingers 25 and 26 perpendicularly thereto under the sliders, six rollers 32-37 fixed rotatably to roller holders 30 and 31, which are fitted on the periphery of a semiconductor wafer 29, at the tips of the fingers, and washing nozzles under the arms 27 and 28. When the semiconductor wafer 29 at the specified position is held with the sliders 23 and 24 brought close thereto and washing liquid is sprayed on both faces of the semiconductor wafer 29 through the washing nozzles while the rollers 32-37 are rotated synchronously using drives 38 and 39, the wafer is not polluted because the washing liquid does not scatter to the arms 27 and 28 and the other parts.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体装置の製造プロセスで使用するウェハ
の洗浄用保持装置およびその洗浄方法に関するものであ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a wafer cleaning holding device used in a semiconductor device manufacturing process and a cleaning method thereof.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

通常、半導体装置は、半導体ウェハに対する成膜、写真
製版、エツチングあるいは洗浄等の基本プロセスを繰り
返すことにより製造される。
Generally, semiconductor devices are manufactured by repeating basic processes such as film formation, photolithography, etching, and cleaning on semiconductor wafers.

このうち、洗浄プロセスは半導体ウェハがら重金属ある
いは有機物等を除去するためのものであり、これには第
4図に示すような半導体ウェハの保持装置がある。これ
を同図に基づいて説明すると、同図において、符号Iお
よび2で示すものは半導体ウェハ3を保持する2つのフ
ィンガー4〜7を有しシリンダ8によって相対的に進退
する2つのアーム、9〜12はこれら両アーム1.2の
フィンガー4〜7に回転自在に設けられ半導体ウェハ3
の周縁に接触する上下4個のローラである。
Among these, the cleaning process is for removing heavy metals, organic substances, etc. from the semiconductor wafer, and there is a semiconductor wafer holding device as shown in FIG. 4 for this process. To explain this based on the same figure, in the same figure, those indicated by symbols I and 2 have two fingers 4 to 7 that hold the semiconductor wafer 3, and two arms 9 that move relatively forward and backward by a cylinder 8. -12 are rotatably provided on the fingers 4-7 of both arms 1.2, and are attached to the semiconductor wafer 3.
There are four upper and lower rollers that contact the periphery of the

また、13はこれらローラ9〜12のうち下方のローラ
11.12を回転させるウェハ駆動用のモータである。
Further, 13 is a wafer driving motor that rotates the lower rollers 11 and 12 among these rollers 9 to 12.

なお、14および15はこのモータ13のギア16に噛
合するギアである。
Note that 14 and 15 are gears that mesh with gear 16 of this motor 13.

このように構成されたウェハの洗浄用保持装置を用いて
半導体ウェハを洗浄するには、先ず搬送機(図示せず)
によって所定の位置に半導体ウェハ3を搬送し、次いで
2つのアーム1.2を互いに接近する方向にシリンダ8
によって移動させることにより半導体ウェハ3を保持し
、しかる後モータ13によってローラ11.12を同期
回転させながら、半導体ウェハ3の表裏面にノズル(図
示せず)から洗浄液を噴射させる。
In order to clean a semiconductor wafer using the wafer cleaning holding device configured as described above, first, a transfer machine (not shown) is used.
The semiconductor wafer 3 is transferred to a predetermined position by the cylinder 8, and then the two arms 1.2 are moved toward each other by the cylinder 8.
The semiconductor wafer 3 is held by moving the semiconductor wafer 3, and then, while the rollers 11 and 12 are synchronously rotated by the motor 13, a cleaning liquid is sprayed from a nozzle (not shown) onto the front and back surfaces of the semiconductor wafer 3.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

ところで、従来のウェハの洗浄用保持装置においては、
洗浄用のノズル(図示せず)がアーム1゜2より上方に
位置する構造であるため、洗浄時にアーム1. 2に飛
散した洗浄液が半導体ウェハ3にはね返って付着してい
た。この結果、ウェハ汚損が生じ、ウェハ洗浄上の信顧
性が低下するという問題があった。また、半導体ウェハ
3の保持力をシリンダ8の駆動力によって調整するもの
であるため、ウェハ保持時に半導体ウェハ3が損傷し易
くなり、安定したウェハ保持を実現することができない
という問題もあった。
By the way, in the conventional wafer cleaning holding device,
Since the cleaning nozzle (not shown) is located above the arm 1.2, the cleaning nozzle (not shown) is located above the arm 1.2 during cleaning. The cleaning liquid splashed on the semiconductor wafer 2 bounced off and adhered to the semiconductor wafer 3. As a result, there is a problem in that wafer contamination occurs and reliability in wafer cleaning deteriorates. Further, since the holding force of the semiconductor wafer 3 is adjusted by the driving force of the cylinder 8, there is a problem that the semiconductor wafer 3 is easily damaged when holding the wafer, and stable wafer holding cannot be achieved.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、ウェ
ハ洗浄上の倍額性を高めることができると共に、安定し
たウェハ保持を実現することができるウェハの洗浄用保
持装置およびその洗浄方法を提供するものである。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a wafer cleaning holding device and its cleaning method that can increase the efficiency of wafer cleaning and realize stable wafer holding. It is something to do.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明に係るウェハの洗浄用保持装置は、レール上を各
々が互いに独立して進退する2つの電動体と、これら両
電動体に設けられレールの下方で半導体ウェハを保持す
るローラを有する2つのアームとを備え、これら両アー
ムのローラを同期回転させる2つの駆動装置を各電動体
に設け、これら駆動装置とローラとは伝達機構によって
連結されているものである。
A wafer cleaning holding device according to the present invention has two motorized bodies that move independently of each other on a rail, and two rollers that are provided on both of these motorized bodies and hold a semiconductor wafer below the rail. Each motor-driven body is provided with two drive devices for synchronously rotating the rollers of both arms, and these drive devices and rollers are connected by a transmission mechanism.

また、本発明の別の発明に係るウェハの洗浄方法は、2
つの電動体を互いに接近する方向に移動させることによ
りレールの下方で半導体ウェハを保持し、駆動装置によ
ってローラを同期回転させながら半導体ウェハに洗浄液
を噴射させるものである。
Further, a wafer cleaning method according to another invention of the present invention includes 2
The semiconductor wafer is held below the rail by moving the two electric bodies toward each other, and the cleaning liquid is sprayed onto the semiconductor wafer while the rollers are rotated synchronously by a driving device.

〔作 用〕[For production]

本発明およびこの発明の別発明においては、洗浄用のノ
ズルをアームの下方に位置付けることができると共に、
電動体の進退動作を制御することができる。
In the present invention and other inventions thereof, the cleaning nozzle can be positioned below the arm, and
It is possible to control the forward and backward movement of the electric body.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の構成等を図に示す実施例によって詳細に
説明する。
EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the structure etc. of this invention will be explained in detail by the Example shown in the figure.

第1図は本発明に係るウェハの洗浄用保持装置を示す斜
視図である。同図において、符号21で示すものはウェ
ハ保持用の駆動源としてのりニアモータで、水平方向に
延在するレール22と、このレール22上を各々が互い
に独立して進退する電動体としての2つのスライダー2
3.24とからなり、このうち両スライダー23.24
には垂直下方に延在するフィンガー25.26を有する
水平アーム27.28が設けられている。これら両水平
アーム27.28のフィンガー先端部には半導体ウェハ
29の周縁に適合する形状を有するローラ保持部30.
31が設けられており、これらローラ保持部30.31
には前記レール22の下方で半導体ウェハ29を保持す
る6個のローラ32〜37が回転自在に設けられている
。38および39は前記ローラ32〜37を同期回転さ
せる2つの駆動装置で、前記スライダー23.24に設
けられている。この駆動装置38.39と前記ローラ3
2〜37とは、例えばベルト等の伝達機構(図示せず)
によって連結されている。
FIG. 1 is a perspective view showing a wafer cleaning holding device according to the present invention. In the same figure, the reference numeral 21 indicates a linear motor as a drive source for holding the wafer, and it has a rail 22 extending in the horizontal direction and two electric bodies as motors that move back and forth independently on the rail 22. slider 2
3.24, of which both sliders 23.24
is provided with a horizontal arm 27.28 having fingers 25.26 extending vertically downwards. At the finger end portions of both horizontal arms 27 and 28, roller holding portions 30.
31 are provided, and these roller holding parts 30.31
Six rollers 32 to 37 that hold the semiconductor wafer 29 below the rail 22 are rotatably provided. Reference numerals 38 and 39 are two driving devices that rotate the rollers 32 to 37 synchronously, and are provided on the slider 23, 24. This drive device 38, 39 and the roller 3
2 to 37 are transmission mechanisms (not shown) such as belts, etc.
connected by.

このように構成されたウェハの洗浄用保持装置において
は、半導体ウェハ29をレール22の下方で保持して洗
浄用のノズル(図示せず)をアーム27.28の下方に
位置付けることができる。
In the wafer cleaning holding device configured in this way, the semiconductor wafer 29 can be held below the rail 22 and the cleaning nozzle (not shown) can be positioned below the arm 27.28.

したがって、本実施例においては、洗浄時に洗浄液がア
ーム27.28等に飛散しないから、洗浄液によるウェ
ハ汚損の発生を防止することができる。
Therefore, in this embodiment, since the cleaning liquid does not scatter onto the arms 27, 28, etc. during cleaning, it is possible to prevent the wafer from being contaminated by the cleaning liquid.

また、本実施例においては、スライダー23゜24がり
ニアモータ21の構成部品であるから、リニアモータ2
1に対する供給電流を制御することにより、スライダー
23.24の進退動作を制御することができ、ウェハ保
持時の半導体ウェハ29の損傷を防止することができる
In addition, in this embodiment, since the sliders 23 and 24 are components of the linear motor 21, the linear motor 2
By controlling the supply current to the sliders 23 and 1, it is possible to control the forward and backward movement of the sliders 23 and 24, and it is possible to prevent damage to the semiconductor wafer 29 when holding the wafer.

さらに、本実施例においては、ローラが5個以上(6個
)であるから、ウェハ保持時に半導体ウェハ29の微動
が発生せず、半導体ウェハ29とローラ32〜37間の
発塵を防止することもできる。これを第2図および第3
図によって説明することができる。すなわち、ローラが
4個である従来技術の場合には、半導体ウェハ3のオリ
エンテーションフラットと称する切欠き(例えば、直径
100鶴の半導体ウェハ3でオリエンテーションフラッ
トの長さが約32.5m) 3 aにローラ12が位置
すると、第2図に破線で示すようにこのローラ12と半
導体ウェハ3が接触しない部位が発生し、一方ローラが
6個である本実施例の場合には、オリエンテーションフ
ラット29aにローラ37が位置しても、全ローラ32
〜37が半導体ウェハ29に接触するのである。
Furthermore, in this embodiment, since the number of rollers is five or more (six), slight movement of the semiconductor wafer 29 does not occur when holding the wafer, and dust generation between the semiconductor wafer 29 and the rollers 32 to 37 is prevented. You can also do it. This is shown in Figures 2 and 3.
This can be explained with a diagram. That is, in the case of the conventional technology with four rollers, a notch called an orientation flat in the semiconductor wafer 3 (for example, the length of the orientation flat in a semiconductor wafer 3 with a diameter of 100 mm is about 32.5 m) 3a. When the roller 12 is positioned, there will be a portion where the roller 12 and the semiconductor wafer 3 do not come into contact, as shown by the broken line in FIG. 37, all rollers 32
.about.37 come into contact with the semiconductor wafer 29.

次に、本実施例におけるウェハの洗浄用保持装置を用い
るウェハの洗浄方法について説明する。
Next, a wafer cleaning method using the wafer cleaning holding device of this embodiment will be described.

先ず、搬送機(図示せず)によって所定の位置に半導体
ウェハ29を搬送する。次いで、2つのスライダー23
.24を互いに接近する方向に移動させることにより半
導体ウェハ29を保持する。
First, the semiconductor wafer 29 is transported to a predetermined position by a transporter (not shown). Next, two sliders 23
.. The semiconductor wafer 29 is held by moving the wafers 24 toward each other.

このとき、リニアモータ21に対する供給電流を制御す
る。しかる後、駆動装置38.39によってローラ32
〜37を同期回転させながら半導体ウェハ29の表裏面
に洗浄用のノズル(図示せず)から洗浄液を噴射させる
At this time, the supply current to the linear motor 21 is controlled. Thereafter, the roller 32 is moved by the drive 38,39.
37 are rotated synchronously, a cleaning liquid is sprayed onto the front and back surfaces of the semiconductor wafer 29 from a cleaning nozzle (not shown).

このようにして、半導体ウェハ29を洗浄することがで
きる。
In this way, the semiconductor wafer 29 can be cleaned.

なお、本実施例においては、ウェハ保持用の駆動源とし
てリニアモータ21である場合を示したが、本発明はこ
れに限定されるものではな(、例えば水平方向に延在す
るボールねしおよびこのボールねじ上を進退する移動子
からなる起動源でも何等差し支えない。
In this embodiment, the linear motor 21 is used as the driving source for holding the wafer, but the present invention is not limited to this (for example, a ball screw extending in the horizontal direction and A starting source consisting of a moving element moving back and forth on this ball screw may also be used.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明によれば、レール上を各々が
互いに独立して進退する2つの電動体と、これら両電動
体に設けられレールの下方で半導体ウェハを保持するロ
ーラを有する2つのアームとを備え、これら両アームの
ローラを同期回転させる2つの駆動装置を各電動体に設
け、これら駆動装置とローラとは伝達機構によって連結
されているので、また2つの電動体を互いに接近する方
向に移動させることにより半導体ウェハを保持し、駆動
装置によってローラを同期回転させながら半導体ウェハ
に洗浄液を噴射させるので、洗浄用のノズルをアームの
下方に位置付けることができる。
As explained above, according to the present invention, there are two motorized bodies that move independently of each other on the rail, and two arms that are provided on both of these motorized bodies and have rollers that hold the semiconductor wafer below the rail. and two drive devices for synchronously rotating the rollers of both arms are provided on each electric body, and since these drive devices and rollers are connected by a transmission mechanism, it is also possible to move the two electric bodies toward each other in a direction. The cleaning nozzle can be positioned below the arm because the cleaning liquid is injected onto the semiconductor wafer while the semiconductor wafer is held and the rollers are synchronously rotated by the driving device.

したがって、洗浄時に洗浄液がアーム等に飛散しなから
、洗浄液によるウェハ汚損の発生を防止することができ
、ウェハ洗浄上の信顧性を高めることができる。また、
電動体に対する供給電流を制御することにより、スライ
ダーの進退動作を制御することができるから、ウェハ保
持時の半導体ウェハの損傷を防止することができ、安定
したウェハ保持を実現することもできる。
Therefore, since the cleaning liquid does not splash onto the arm or the like during cleaning, it is possible to prevent the cleaning liquid from staining the wafer, thereby increasing the credibility of the wafer cleaning. Also,
By controlling the current supplied to the electric body, the forward and backward movement of the slider can be controlled, so damage to the semiconductor wafer during wafer holding can be prevented, and stable wafer holding can be achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明に係るウェハの洗浄用保持装置を示す斜
視図、第2図および第3図は各々従来と本発明のウェハ
保持状態を説明するために示す正面図、第4図は従来の
ウェハの洗浄用保持装置を示す斜視図である。 21・・・リニアモータ、22・・・レール23.24
・・・スライダー 27.28・・・アーム、29・・
・半導体ウェハ、32〜37・・・ローラ、38.39
・・・駆動装置。 代  理 人 大岩増雄 21:  リニアモーフ 22:  レー17 23 24  :  スライター 27.28:  アーム 29:  半襟捧ウニl\ 32〜37:  ローラ 38.39 : 駈勤襞I 第2図
FIG. 1 is a perspective view showing a wafer cleaning holding device according to the present invention, FIGS. 2 and 3 are front views shown to explain the conventional and present wafer holding states, respectively, and FIG. 4 is a conventional wafer holding device. FIG. 2 is a perspective view showing a wafer cleaning holding device of FIG. 21...Linear motor, 22...Rail 23.24
...Slider 27.28...Arm, 29...
・Semiconductor wafer, 32-37...Roller, 38.39
...Drive device. Agent Masuo Oiwa 21: Linear morph 22: Ray 17 23 24: Slighter 27.28: Arm 29: Half-collared sea urchin l\ 32-37: Roller 38.39: Cantern fold I Fig. 2

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)レール上を各々が互いに独立して進退する2つの
電動体と、これら両電動体に設けられ前記レールの下方
で半導体ウェハを保持するローラを有する2つのアーム
とを備え、これら両アームのローラを同期回転させる2
つの駆動装置を前記各電動体に設け、これら駆動装置と
前記ローラとは伝達機構によって連結されていることを
特徴とするウェハの洗浄用保持装置。
(1) Two motorized bodies that each advance and retreat independently of each other on a rail, and two arms that are provided on both of these motorized bodies and have rollers that hold a semiconductor wafer below the rail, and these two arms Rotate the rollers synchronously 2
A holding device for cleaning a wafer, characterized in that two driving devices are provided on each of the electric bodies, and these driving devices and the roller are connected by a transmission mechanism.
(2)請求項1において、2つの電動体を互いに接近す
る方向に移動させることによりレールの下方で半導体ウ
ェハを保持し、駆動装置によってローラを同期回転させ
ながら半導体ウェハに洗浄液を噴射させることを特徴と
するウェハの洗浄方法。
(2) In claim 1, the semiconductor wafer is held below the rail by moving the two electric bodies toward each other, and the cleaning liquid is sprayed onto the semiconductor wafer while the rollers are synchronously rotated by the driving device. Characteristic wafer cleaning method.
JP12075290A 1990-05-09 1990-05-09 Method and holder for washing wafer Pending JPH0415920A (en)

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