JPH04138381A - キャパシタンス測定回路 - Google Patents

キャパシタンス測定回路

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JPH04138381A
JPH04138381A JP25990790A JP25990790A JPH04138381A JP H04138381 A JPH04138381 A JP H04138381A JP 25990790 A JP25990790 A JP 25990790A JP 25990790 A JP25990790 A JP 25990790A JP H04138381 A JPH04138381 A JP H04138381A
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JP
Japan
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capacitor
capacitance
voltage
comparator
switch
Prior art date
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Application number
JP25990790A
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English (en)
Inventor
Kenzo Watanabe
渡辺 健藏
Takashi Takebayashi
竹林 隆
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SMC Corp
Original Assignee
SMC Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、個別部品としてのキャパシタや集積MO3容
量、さらには容量型センサのキャパシタンスを精度よく
測定するキャパシタンス測定回路に関する。
[従来の技術] 未知容量を高精度で測定する一般的な方法として支流ブ
リッジ法と共振法がある。前者は個別キャパシタの容量
測定に用いられ、一方、後者は容量型センサの微小容量
変化を除去するのに広く用いられている。いずれの方法
においても、被測定容量を交流電圧で励振するので、測
定結果をデジタル値で取り出すには、増幅器、検波器、
アナログ・デジタル変換器が必要であり、測定装置が高
価である。
測定結果がデジタル値として得られる最も簡便な回路は
、増幅器の入出力端子間に被測定容量を接続した弛張発
振器であろう。この構成は容量型センサのインタフェー
スとしても多用されている。
[発明が解決しようとする課題] 上記弛張発振器の発振周波数は被測定容量に逆比例する
。被測定容量に比例したデジタル値を得るにはその発振
周期を検出すればよいが、集積MO3容量や容量型セン
サの定量値は一般に数pFから数10pFと小さく、従
って、発振周期が短く、これを高い分解能で検出するの
は困難である。また、集積MO3容量や容量型センサの
電極と接地間には寄生容量が存在し、これが発振周波数
に影響して電極間容量の正確な測定を困難にしている。
本発明の目的は、寄生容量には影響されずに、電極間容
量を高精度でデジタル測定することを可能とするキャパ
シタンス測定回路を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 前記の課題を解決するために、本発明は、非反転入力端
子がしきい電圧源に接続され、反転入力端子と出力端子
がスイッチで短絡される比較器と、 一端が該比較器の反転入力端子に接続され、他端がスイ
ッチを介して基準電、圧源に接続され、またはスイッチ
を介して接地される被測定未知容量と、 一端が該比較器の反転入力端子に接続され、他端がスイ
ッチを介して接地され、またはスイッチを介してデジタ
ル・アナログ変換器の出力端子に接続される基準容量と
、 直列データ入力端子が該比較器の出力端子に接続される
シフトレジスタと、 該シフトレジスタのビット値に応じて量子化基準電圧を
発生するデジタル・アナログ変換器と、 から構成されることを特徴とする。
[作用] 本発明に係るキャパシタンス測定回路では、被測定未知
容量および基準容量に基準電圧源によって充電を行った
後に、デジタル・アナログ変換器から出力される基準と
なる電圧によって充電を行う。
この時、比較器は被測定未知容量の端子間電圧としきい
電圧源の電圧とを比較し、その結果によって1または0
の出力を行う。
前記比較器の出力はシフトレジスタを介してデジタル・
アナログ変換器に導入され、この値によって、デジタル
・アナログ変換器は量子化基準電圧を発生し、被測定未
知容量および基準容量の充電を行う。
そして、再び被測定未知容量の端子電圧としきい電圧源
の電圧との比較を比較器で行い、この比較結果をシフト
レジスタによって加算し、デジタル・アナログ変換器に
導入する。該変換器はシフトレジスタの新たなビット値
に応じた量子化基準電圧を出力する。
以上のような過程を繰り返し行い、被測定未知容量の容
量値を、基準容量で規格化した2進数として得ることが
できる。
[実施例] 次に、本発明に係るキャパシタンス測定回路について実
施例を挙げ、添付の図面を参照しながら以下詳細に説明
する。
第1図において、未知容量21と基準容量22のキャパ
シタンスを夫々Cx5Csとし、しきい電圧源12と基
準電圧源4の電圧を夫々Vt、Vrとし、スイッチ13
.31,33を導通することによって測定を開始する。
この時、比較器11は単位利得増幅器となるので、未知
容量21は(Vr−Vt)に、基準容量は−Vtに、夫
々図示する極性で充電される。
次に、スイッチ13.31.33を開放にし、スイッチ
32と34を導通にするとともに、D/A変換器6に第
1回目の量子化基準電圧Vq(1)=Vr/2を出力さ
せる。この時の未知容量21の端子間電圧をV(1)と
すれば、電荷保存の法則より、V(1)は次式となる。
比較器11は第1式のv(1)をVtと比較するので、
その出力論理レベルは、CX>C3/2ならば”l”、
Cx≦Cs / 2ならば” o ”となる。シフトレ
ジスタはこの値を2進数b(1)として保存する。すな
わち、 D/A変換器6はこのb(1)の値を受は取り、第2回
目の量子化基準電圧としてV q (2)−b (1)
Vr/2+Vr/4を出力する。この時の未知容量2 1の端子間電圧をV(2)とすれば、 ■〔2〕は、 となる。
比較器1 1は第3式で与えられるV(2)を再びしきい電圧Vt
と比較し、 その大小に応じてb (2)を決定する。
すなわち、 ・・・(4) となる。
次に、 D/A変換器6は第3回目の量子化基 準電圧として、 V q (3) (b (1) 2 ’ 十b (2) 2 2+2 3)Vr ・・・(5) を出力し、比較器11はこの時の未知容量21の端子間
電圧V(3)をしきい電圧Vtと比較し、シフトレジス
タ5は比較結果の論理レベルをb(3)として保存する
以下、この過程を繰り返せば、n回目の未知容量21の
端子間電圧V (n)は、 V (n) CCs (b(1)2−’+b(2)2−2+・・・十
b(n−1>2111−1+2−11) Vr −Cx
Vrl / (1’:s+[x)十Vt       
           ・・・(6)となり、V (n
)をVtの大小関係よりb (n)が決定される。
次の(n+1)回目の過程では、未知容量21の端子間
電圧V(n+1)は、 V(n+1)  ≦2 ””’Vr十Vt ・・・(7) となるので、 2″“ ≦ Cx (b(1)2−’+ b(2)−2+・・・が成り立つ
3.第8式は、第1図に示す本発明のキャパシタンス測
定回路が未知容量をデジタル検出し、その結果を基準容
量で規格化した2進数として出力することを示している
上記解析より明らかな通り、比較器11のしきい電圧V
tが測定精度に影響しないことは明らかである。
集積MO3容量や容量型センサに付随する寄生容量の影
響を次に検討する。寄生容量を含めた本発明のキャパシ
タンス測定回路のブロック図を第2図に示す。図でキャ
パシタ23.24.25が寄生容量である。寄生容量2
4はスイッチ31が導通の時に基準電圧4の電圧に充電
される。次に、スイッチ32が導通の時、寄生容量24
は短絡され、充電され電荷は接地側に放電されるので、
寄生容量24は未知容量21や基準容量22との間で電
荷の配分を行うことなく、従って測定には影響しない。
基準容量22に付随する寄生容量25も、D/A変換器
6と接地間で充放電を行うのみであるから測定には影響
しない。従って、未知容量21と基準容量22との間の
電荷再配分に影響するのは寄生容量23のみである。
前述の測定手順の各サイクルにおける比較器11の反転
入力端子の電圧は以下のように求められる。先ず、スイ
ッチ13.31.33が導通の時に未知容量21はVr
−Vtに、基準容量22は−Vtに、寄生容量23はV
tに、夫々図示の極性で充電される。次に、スイッチ1
3.31.33が開放、スイッチ32と34が導通とな
り、D/A変換器6が第1回目の量子化基準電圧V q
 (1)≦V r / 2を出力することによって、比
較器11の反転入力端子の電圧がV(1)になったとす
る。この時、未知容量21は■(1)に、寄生容量23
はV (1)に、基準容量22はV q(1)−V(1
)に、夫々図示の極性で充電されるので、電荷保存の法
則より次式が成り立つ。
Cp+ (V(1)  Vt)   CX  (V(1
)Cs 1q(1,)−V(1)+Vt) −0Vr4
−νL) ・・・(9) 第9式を整理してv(1)を求めれば、となる。ここで
、Cp+ は寄生容量23のキャパシタンスである。比
較器11は第9式の電圧V(1)をしきい電圧Vtと比
較し、その大小に応じて、第2式のように、2進数の最
上位ビットb(1)を決定するので、b(1)の判別は
寄生容量23には影響されない。同様の解析によって、
1回目の比較動作における比較器11の反転入力1, 2、 ・・・n) 但し、 νq(i)−(b(1) 2−’十b(2) 2−2−
+−i−2−J Vr・・・Q21 となるので、各ビット値b(1)は寄生容量23の影響
を受けない。すなわち、本発明のキャパシタンス測定回
路によれば、各電極と接地間の寄生容量や比較器のしき
い電圧に関係なく、被測定未知容量の電極間キャパシタ
ンスを精度よくデジタル測定できる。
第3図は本発明の好適な実施例において、D/A変換器
6の回路図であって、各スイッチにはMOS)ランジス
タが用いられている。参照符号511および512は演
算増幅器、同521および522は任意の値のキャパシ
タ、同523および524は等容量のキャパシタを示す
各スイッチは第4図にタイミングを示す3相クロツタ信
号φ1、φ2、φ3とリセット信号Rによって駆動され
ている。各スイッチの横に記したクロック信号は、当該
スイッチが導通となるタイミングを示している。例えば
、スイッチ531とスイッチ537はリセット時(R″
1′”)の中、クロック時に導通となり、スイッチ53
Cはリセット時(R=”1’”)のφ2クロック時に導
通となる。また、スイッチ5:39はφ1クロック時と
φ3クロック時に導通となる。
第3図のD/A変換器は以下の手順で量子化基準電圧V
 q (i)を出力する。先ず、リセット時(R−“1
”)のφ1クロック時にキャパシタ522を基準電圧源
4に接続し、その電圧■「に充電する。一方、キャパシ
タ521はスイッチ531とストッパ533を介して放
電させる1、次のφ2クロック時にキャパシタ522を
演算増幅器511の反転入力端子と出力端子間に接続す
る。これによって演算増幅器511はホールド回路とし
て作用し、キャパシタ522の端子間電圧Vrを出力す
る。キャパシタ523をスイッチ538と53Δを介し
て図示の極性でVrに充電するとともに、キャパシタ5
24はスイッチ53Ca53Δを介して放電させる。
次のφ3クロック時に、キャパシタ523とキャパシタ
524はともに演算増幅器512の反転入力端子と出力
端子の間に接続される。先のφ2クロック時にキャパシ
タ523はVrに充電され、キャパシタ524は放電し
て端子間電圧はゼロになっており、両キャパシタの値に
等しいので、この並列接続によって端子間電圧はV r
 / 2となる。演算増幅器512はこの電圧を第1回
目の量子化基準電圧として出力する。
第1図のシフトレジスタ5はこの時の比較器11の出力
をφ1クロックの立ち上がりエツジで検出し、b (1
)の値として保存する。
b(1)が1の場合は、リセットパルスRの直後のφ1
クロック時にキャパシタ521をV q (+)V r
 / 2に充電する。キャパシタ522は基準電圧Vr
を充電したままとし、この電圧を次のφ2クロック時に
演算増幅器511によって出力させ、キャパシタ523
を再びVrに充電させる。次のφ3クロック時にキャパ
シタ523七キ、ヤパシタ524を並列接続すると、キ
ャパシタ524は先にV r / 2に充電されていた
ので、電荷再配分によって演算増幅器512は第2回目
の量子化基準電圧としてVq(2)−(3/4)Vrを
出力する。一方、b(1)が0の場合は、リセットパル
ス直後のφ1クロック時にキャパシタ522をV Q(
1)−V r / 2に充電する。
キャパシタ521は放電されたままの状態にあるので、
次のφ2クロック時の演算増幅器511の出力電圧は0
(v)となる。従って、キャパシタ523の端子間電圧
も0(v)となるので、φ3クロック時の演算増幅器5
12の出力電圧、すなわち、第2回目の量子化基準電圧
V q (2)は、V Q (2) = V r / 
4となる。従って、第2回目の量子化電圧V q (2
)は、 V q(2)−=  (b(1)2−、、’、、+ 2
−2)、  V  r       −−−αつと表す
ことができる。
以下、 同様の動作を繰り 返すので、 3相のクロックの1サイクル目の量 子化基準電圧V q (i)は次式で表される。
V q (i) ・・・θ4) 1, 2、 n) ここで、 V。
とV。2(1 ■)は 夫々1 1ザイクルにおけるキャパシタ52 ■ とキャパシタ522の端子間電圧であり、VC b(+ 1)Vq(+ 2)+b(i 1)VC,(i ・・・0ω V、2(i ■) b(i 1)Vq(+ 2)十b( 1)VC2(+ ・・・00 で与えられる。
但し、 V C+ (1,) VC2(1〕 ■ V「である。第15式および第16式を第14式に代入
し、V q(1)=V r/ 2の初期値を用いれば、
V q (i)は、 Vq(i)= (b(1)2−’+b(2)2−2+・
・・十b (i−1) 2−f′−目+2−’)Vr・
・・0″0 となる。第17式は、第3図の実施例が本発明のキャパ
シタンス測定回路のD/A変換器として正しく動作する
ことを示している。
第5図は容量型センサのインタフェースとしての実施例
であって、本発明のキャパシタンス測定回路に、キャパ
シタ23とスイッチ35.36が付加されている。参照
符号21は容量型センサを示す。容量型センサ21のキ
ャパシタンスCxは、センサのオフセット容量をCo。
容量変化をΔCとすれば、 Cx=Co十ΔC ・・・0印 と表される。キャパシタ23はセンサのオフセ■ ット容量を打ち消すために付加されており、その容量値
はCoに選ばれている。
キャパシタンス測定は前述の手順と全く同様に、先ず、
奇数番号のスイッチI3.31.33.35を導通にし
、次にこれらを開放にした後、偶数番号のスイッチ32
.34.36を導通にすることによって行われる。I)
 / A変換器6が1回目の量子化電圧V q (i)
を出力している時の比較器11の反転入力端子の電圧V
(1)は次式となる。
第19式のCxに第18式を代入すれば、センサのオフ
セット容量はキャパシタ23の容量と相殺されるので、
センサの容量変化分のみが検出されることが明らかであ
る。従って、比較過程をn回繰り返すことによってシフ
トレジスタ5に保存される2進数b(i)(i=1.2
、・・n)は、センサの容量変化分△Cを基準容量で規
格化した値を表している。
すなわち、 ΔC (b(1) 2−’+ b(2) 2−2+・+ b(
n) 2−″)・・・@D 菓積容量型センザの容量変化へCは一般にそのオフセッ
ト容量に比較して小さいが、本実施例によれば、オフセ
ット容量を相殺するので微小容量変化を高分解能で検出
可能である。
[発明の効果] 以上のように、本発明によれば、電極と接地間の寄生容
量に影響されることなく、電極間の容量を精度よく測定
でき、その結果を2進デジタル数として取り出すことが
できる。さらに、本測定回路はCMO3技術による集積
化に適しているので、容量型センサのインタフェースと
して極めて有効である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のキャパシタンス測定回路のブロック図
、 第2図は寄生容量を含めたキャパシタンス測定回路のブ
ロック図、 第3図は本発明の実施例を示すD/A変換器の回路図、 第4図は第3図のD/A変換器のスイッチを駆動する3
相りロック信号とリセット信号のタイミング図、 第5図は本発明の容量型センサのインタフェースとして
の実施例を示すブロック図である。 ■・・・比較器 21・・・被測定キャパシタ 22・・・基準容量 31〜36・・・スイッチ 4・・・基準電圧源 5・・・シフトレジスタ 6・・・D/A変換器 53A〜53C・・・スイッチ 511.512・・・演算増幅器 521〜524・・・キャパシタ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)非反転入力端子がしきい電圧源に接続され、反転
    入力端子と出力端子がスイッチで短絡される比較器と、 一端が該比較器の反転入力端子に接続され、他端がスイ
    ッチを介して基準電圧源に接続され、またはスイッチを
    介して接地される被測定未知容量と、 一端が該比較器の反転入力端子に接続され、他端がスイ
    ッチを介して接地され、またはスイッチを介してデジタ
    ル・アナログ変換器の出力端子に接続される基準容量と
    、 直列データ入力端子が該比較器の出力端子に接続される
    シフトレジスタと、 該シフトレジスタのビット値に応じて量子化
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006329778A (ja) * 2005-05-25 2006-12-07 Mitsubishi Electric Corp 容量検出回路
JP2009115710A (ja) * 2007-11-08 2009-05-28 Tokyo Institute Of Technology 可変容量計測装置及び可変容量計測方法
CN103308773A (zh) * 2012-03-07 2013-09-18 上海海栎创微电子有限公司 一种具有高精度低功耗的互电容变化测量电路

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