JPH04132931A - Optical fiber failure point position inspector - Google Patents

Optical fiber failure point position inspector

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JPH04132931A
JPH04132931A JP2255534A JP25553490A JPH04132931A JP H04132931 A JPH04132931 A JP H04132931A JP 2255534 A JP2255534 A JP 2255534A JP 25553490 A JP25553490 A JP 25553490A JP H04132931 A JPH04132931 A JP H04132931A
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JP
Japan
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signal
optical fiber
comparator
reference voltage
time
Prior art date
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Application number
JP2255534A
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Japanese (ja)
Inventor
Naomichi Senda
直道 千田
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To enable a device to be compact and inexpensive with a simple circuit configuration and at the same time distance resolution to be improved by feeding a signal to a time interval measuring equipment only when the signal exceeding a certain level is detected by a comparator. CONSTITUTION:A pulse signal from a pulse light source 1 is introduced to an optical fiber to be measured 2 through an optical coupler 3 and an optical connector 4. Then, reflection light from the optical fiber 2 is converted to electrical signal 5. Then the converted output is input to an analog signal processing circuit 20 and is corrected to a waveform signal on a straight line base without any change with time. Then, the output waveform is compared with a reference voltage from a controller 22 by a comparator 21. The comparator 21 feeds the signal to a time interval measuring equipment 23 only when a signal exceeding the reference voltage is detected. A trigger for generating pulse waveforms from the controller 22 is input to the measuring equipment 23 for generating a reference clock and a count value when signal from the comparator 21 is entered is stored 7. Then, the stored data 7 is displayed 9 through the controller 22.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は光ファイバに生じた障害点の位置を検知する光
ファイバ障害点位置検査機(OT D R)に関し、特
に距離分解能を改善した0TDRに関する。
Detailed Description of the Invention (Industrial Field of Application) The present invention relates to an optical fiber fault position inspection machine (OTDR) that detects the position of a fault point occurring in an optical fiber, and in particular, an OTDR with improved distance resolution. Regarding.

(従来の技術) OTDRは光ファイバの破断点、不連続点などを標定す
るために用いられる検査機である。従来、同軸ケーブル
においても、パルス法において障害点の探索が行われて
いた。同軸ケーブルの一端からパルス波を伝播させると
、不連続点がある場合、インピーダンス不整合により反
射が生し、入力端に反射パルス波が戻ってくる。完全に
破断した場合には、略100%の反射が生じ、入射パル
スと反射パルスの時間差から破断点の位置を測定するこ
とができる。光ファイバの場合も同様にパルス法を用い
て破断点を検出するが、破断点の反射率は、理想的な破
断状tv!(ファイバ軸に直角で鏡面状破断)の場合で
も約4%に過ぎない。破断の状態によっては殆ど反射波
が生じない場合があり、この場合は後方散乱光を観測す
ることにより光ファイバの障害点を標定することができ
る。
(Prior Art) OTDR is an inspection machine used for locating break points, discontinuity points, etc. of optical fibers. Conventionally, even in coaxial cables, failure points have been searched for using the pulse method. When a pulse wave is propagated from one end of a coaxial cable, if there is a discontinuity point, reflection occurs due to impedance mismatch, and the reflected pulse wave returns to the input end. In the case of complete rupture, approximately 100% reflection occurs, and the position of the rupture point can be measured from the time difference between the incident pulse and the reflected pulse. In the case of optical fibers, the pulse method is similarly used to detect the break point, but the reflectance at the break point is based on the ideal break shape tv! Even in the case of (mirror-like fracture perpendicular to the fiber axis), it is only about 4%. Depending on the state of the break, there are cases where almost no reflected waves are generated, and in this case, the point of failure in the optical fiber can be located by observing the backscattered light.

(発明が解決しようとする課題) ところで、光ファイバの障害に対する保守を効率良く行
うためには、距離分解能を向上させる必要がある。0T
DRの距離分解能は、測定系においては時間分解能に対
応している。従って距離分解能を上げるためには時間分
解能の高い測定器が必要であり、従来、DC〜30GH
2の帯域を持つディジタルサンプリング・オシロスコー
プを用いた例があるが、ディジタルサンプリング・オシ
ロスコープは非常に高価であり、又、大型であって、装
置の小型化、低価格化の障害となっている。
(Problems to be Solved by the Invention) Incidentally, in order to efficiently perform maintenance for optical fiber failures, it is necessary to improve the distance resolution. 0T
The distance resolution of DR corresponds to the time resolution in the measurement system. Therefore, in order to increase the distance resolution, a measuring instrument with high time resolution is required.
There is an example of using a digital sampling oscilloscope having two bands, but the digital sampling oscilloscope is very expensive and large, which is an obstacle to miniaturization and cost reduction of the device.

従来の0TDRの基本的な回路構成を第3図に示す。図
において、1は被測定光ファイバ2に送り込む光パルス
を発生するパルス光源で、発生した光パルスは光結合器
3により光コネクタ4を介して被測定光ファイバ2に導
入され、障害点からの反射光は光コネクタ4を経て光結
合器3に入り光電変換器5に導入される。光電変換器5
は反射光を電気信号に変換し、この電気信号はAD変換
器6においてディジタル信号に変換されてメモリ7に格
納される。コントローラ8はパルス光源1の光の発生時
期の制御、AD変換器6のサンプリングのためのクロッ
クの供給、メモリ7に格納されているデータの処理を行
い、表示器9にデータの表示を行わせている。光電変換
器5の出力波形は第4図に示す通りである。この波形は
時間に比例して、即ち、伝播距離に比例して減衰する後
方散乱光11と反射光12とで構成されている。AD変
換器6はサンプリング間隔Δtでサンプリングして測定
レンジに対応した数のn個(n−T/Δt)のデータを
得ている。メモリ7に格納されているデータはこの波形
のすべての振幅データと時間データで、膨大な容量のメ
モリを必要としている。この0TDRにおける距離分解
能はAD変換器のサンプリング周期によって定まるが、
AD変換器のサンプリング周波数は300MH2程度か
限度であって、光ファイバ中の光速を200.000k
m/sとすれば、その距離分解能は33cm程度となり
、良好な距離分解能を得ることはできない。
The basic circuit configuration of a conventional 0TDR is shown in FIG. In the figure, reference numeral 1 denotes a pulse light source that generates optical pulses to be sent to the optical fiber under test 2. The generated optical pulses are introduced into the optical fiber under test 2 by an optical coupler 3 via an optical connector 4, and are then transmitted from the failure point. The reflected light enters the optical coupler 3 via the optical connector 4 and is introduced into the photoelectric converter 5. Photoelectric converter 5
converts the reflected light into an electrical signal, and this electrical signal is converted into a digital signal by the AD converter 6 and stored in the memory 7. The controller 8 controls the timing of light generation from the pulsed light source 1, supplies a clock for sampling to the AD converter 6, processes data stored in the memory 7, and causes the display 9 to display the data. ing. The output waveform of the photoelectric converter 5 is as shown in FIG. This waveform is composed of backscattered light 11 and reflected light 12 that attenuate in proportion to time, that is, in proportion to propagation distance. The AD converter 6 samples at sampling intervals Δt and obtains n pieces of data (n-T/Δt) corresponding to the measurement range. The data stored in the memory 7 is all the amplitude data and time data of this waveform, and requires a huge amount of memory. The distance resolution in this 0TDR is determined by the sampling period of the AD converter,
The sampling frequency of the AD converter is about 300MH2 or a limit, and the speed of light in the optical fiber is 200.000k.
If it is m/s, the distance resolution will be about 33 cm, making it impossible to obtain a good distance resolution.

本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、その目的は
、高精度の距離分解能を有し、簡略化された回路構成で
、小型化、低価格化を可能にする0TDRを実現するこ
とにある。
The present invention has been made in view of the above points, and its purpose is to realize an 0TDR that has highly accurate distance resolution, has a simplified circuit configuration, and can be made smaller and lower in price. It is in.

(課題を解決するための手段) 前記の課題を解決する本発明は、被測定光ファイバにパ
ルス光を入射し、該被測定光ファイバの障害点で反射し
て入射端に戻ってくるパルス光を検出して前記被測定光
ファイバの障害点位置を測定する光ファイバ障害点位置
検査機において、障害点からの反射光を電気信号に変換
する光電変換器と、指数関数的に減少する被測定光ファ
イバからの信号光を直線ベース上の信号に変換するアナ
ログ信号処理回路と、任意に設定可能な基準電圧と前記
反射光信号とを比較して基準電圧を超える信号を出力す
る比較器と、障害点位置を検知するため光信号発生時点
から前記基準電圧を超える信号が入力される時点までの
時間間隔を測定する時間間隔測定器とを具備することを
特徴とするものである。
(Means for Solving the Problems) The present invention solves the above-mentioned problems by injecting pulsed light into an optical fiber to be measured, reflecting the pulsed light at a fault point of the optical fiber to be measured, and returning to the input end. An optical fiber fault position inspection machine that detects the position of a fault point in the optical fiber under test includes a photoelectric converter that converts reflected light from the fault point into an electrical signal, and an exponentially decreasing number of fault points on the optical fiber to be measured. an analog signal processing circuit that converts signal light from an optical fiber into a signal on a linear base; a comparator that compares the reflected light signal with an arbitrarily settable reference voltage and outputs a signal that exceeds the reference voltage; The present invention is characterized by comprising a time interval measuring device that measures the time interval from the time when an optical signal is generated to the time when a signal exceeding the reference voltage is inputted in order to detect the position of a fault point.

(作用) 被測定光ファイバからの反射光は光電変換器により電気
信号に変換され、アナログ信号処理回路において直線ベ
ースの信号に補正される。この信号は比較器において比
較されて基準電圧を超える信号が出力され、時間間隔測
定器において、パルス光発生からの時間が測定されて反
射点位置の距離が測定される。
(Function) The reflected light from the optical fiber to be measured is converted into an electrical signal by a photoelectric converter, and corrected into a linear-based signal in an analog signal processing circuit. These signals are compared in a comparator and a signal exceeding the reference voltage is output, and a time interval measuring device measures the time from generation of the pulsed light to measure the distance to the reflection point position.

(実施例) 以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of the present invention.

図において、第3図と同等の部分には同一の符号を付し
である。図中、20は入力信号の低い周波数成分を除去
し、又、第4図に示すように反射光の振幅は距離と共に
指数関数的に減少するので、それを補正して第4図のよ
うな波形を第2図に示す直線ベース上の波形にするアナ
ログ信号処理回路、21はアナログ信号処理回路20の
出力とコントローラ22から与えられる基準電圧とを比
較して、基準電圧を超える信号のみを出力する比較器で
ある。コントローラ22はパルス光源1のパルス光発生
時期の制御及び時間間隔測定器23の時間測定開始の時
期の制御を行い、メモリ7に格納されたデータを処理す
ると共に、比較器21に比較のための基準電圧を供給す
る。時間間隔測定器23は基準クロック発生器とカウン
タで構成されており、基準クロック発生器はコントロー
ラ22からの制御信号によりクロックを発生し、カウン
タはそのクロックの数をカウントして、比較器21から
信号が入力された時点までのカウント値を出力する。 
次に上記のように構成された実施例の動作を説明する。
In the figure, parts equivalent to those in FIG. 3 are given the same reference numerals. In the figure, 20 removes low frequency components of the input signal, and since the amplitude of reflected light decreases exponentially with distance as shown in Figure 4, it is corrected to remove the low frequency component of the input signal. An analog signal processing circuit 21 converts the waveform into a waveform on a linear base shown in FIG. 2, which compares the output of the analog signal processing circuit 20 with a reference voltage given from the controller 22, and outputs only signals exceeding the reference voltage. It is a comparator that The controller 22 controls the pulse light generation timing of the pulsed light source 1 and the timing of starting time measurement of the time interval measuring device 23, processes the data stored in the memory 7, and sends data to the comparator 21 for comparison. Supply reference voltage. The time interval measuring device 23 is composed of a reference clock generator and a counter.The reference clock generator generates a clock according to a control signal from the controller 22, and the counter counts the number of clocks and outputs a clock from the comparator 21. Outputs the count value up to the point when the signal is input.
Next, the operation of the embodiment configured as described above will be explained.

パルス光源1から出射されたパルス光は、光結合器3に
よって光コネクタ4を介して被測定光ファイバ2に導入
される。被測定光ファイバ2からの障害点に応した反射
光は、光コネクタ4を通り光結合器3て光電変換器5に
導かれ、電気信号に変換される。
Pulsed light emitted from the pulsed light source 1 is introduced into the optical fiber 2 to be measured via the optical connector 4 by the optical coupler 3 . The reflected light corresponding to the fault point from the optical fiber 2 to be measured passes through the optical connector 4, is guided through the optical coupler 3 to the photoelectric converter 5, and is converted into an electrical signal.

光電変換器5の出力はアナログ信号処理回路20に入力
され、低周波成分を除去され、又、距離に比例して指数
関数的に減少する信号波形を第2図に示すように時間的
に変化のない直線ベース上の波形の信号に補正される。
The output of the photoelectric converter 5 is input to an analog signal processing circuit 20, where low frequency components are removed, and a signal waveform that decreases exponentially in proportion to the distance changes over time as shown in FIG. Corrected to a waveform signal on a straight line base without any

この第2図に示す出力波形は比較器21に入力され、コ
ントローラ22からの基準電圧と比較される。比較器2
1は基準電圧を超える信号を検出した時のみその信号を
時間間隔測定器23に入力する。時間間隔測定器23に
はコントローラ22からのパルス波発生のためのトリガ
が入力されていて基準クロックを発生しており、カウン
タはトリガ入力時点からこのクロックのカウントを開始
しており、比較器21からの信号が入力された時点のカ
ウント値をメモリ7に格納する。メモリ7に格納された
データはコントローラ22により処理されて表示器9に
表示される。
The output waveform shown in FIG. 2 is input to a comparator 21 and compared with a reference voltage from a controller 22. Comparator 2
1 inputs the signal to the time interval measuring device 23 only when a signal exceeding the reference voltage is detected. The time interval measuring device 23 receives a trigger for pulse wave generation from the controller 22 and generates a reference clock, and the counter starts counting this clock from the moment the trigger is input. The count value at the time when the signal from is input is stored in the memory 7. The data stored in the memory 7 is processed by the controller 22 and displayed on the display 9.

以上のようにして、基準値を超える反射光の距離をサン
プリングすることかできる。又、基$電圧を変えること
により、障害の大きさの検出レベルを決定することがで
きる。
In the manner described above, it is possible to sample the distance of reflected light exceeding the reference value. Furthermore, by changing the base voltage, the detection level of the magnitude of the fault can be determined.

以上説明したように本実施例によれば、比較器21によ
り一定レベル以上の信号のみを抽出して、その信号のパ
ルス光入射時点からの時間をクロックをカウントするこ
とによって決定するためその時間測定精度はカウンタが
数えることのできるクロックの周期によって決定される
。このカウンタの処理し得るクロック周波数は数十GH
2〜数百GH2にも達することができ既述のAD変換器
の300 M Hz程度の周波数に対して100〜10
00倍程度の周波数倍径るため時間精度即ち距離精度も
100〜1000倍程度のものが倍径れる。
As explained above, according to this embodiment, the comparator 21 extracts only the signal of a certain level or higher, and the time of the signal from the time of pulsed light incidence is determined by counting the clock, so the time is measured. Accuracy is determined by the period of the clock that the counter can count. The clock frequency that this counter can process is several tens of GH
It can reach 2 to several hundred GHz2, and compared to the frequency of about 300 MHz of the previously mentioned AD converter, it is 100 to 10 GHz.
Since the frequency is multiplied by about 00 times, the time accuracy, that is, the distance accuracy is also multiplied by about 100 to 1000 times.

又、メモリに格納されるデータは第3図の回路では時間
データのみでなく、すべての信号の振幅データが格納さ
れるのに比べて、本実施例の場合は振幅データは必要な
く、入力の時間データのみでよいため、メモリは小型簡
易なものでよい。
In addition, the data stored in the memory is not only the time data but also the amplitude data of all signals in the circuit shown in FIG. Since only time data is required, the memory may be small and simple.

尚、本発明は上記実施例に限定されるものてはない。第
3図の従来回路と組み合わせて、従来の0TDRには第
4図の波形による後方散乱光11を検出させて、被測定
光ファイバ2の伝播損失の測定を行い、本実施例の0T
DRによって高分解能が必要な障害点位置検査を行わせ
るようにしても良い。
Note that the present invention is not limited to the above embodiments. In combination with the conventional circuit shown in FIG. 3, the conventional 0TDR detects the backscattered light 11 with the waveform shown in FIG. 4, and measures the propagation loss of the optical fiber 2 to be measured.
It is also possible to use DR to perform a fault point location inspection that requires high resolution.

以上、本実施例の説明は反射光か明確に現れる障害に関
して行ったが、光電変換器のダイナミックレンジの範囲
内であれば、反射光を伴わない障害点に対しても、後方
散乱光の不連続点を検出することにより障害点位置を測
定することは可能である。
In the above, this embodiment has been explained with respect to failures that clearly appear due to reflected light, but within the dynamic range of the photoelectric converter, backscattered light can also be used for failure points that do not involve reflected light. It is possible to determine the location of a fault point by detecting consecutive points.

(発明の効果) 以上、詳細に説明したように本発明によれば、簡略化さ
れた回路構成で、小型化、低価格化を可能にした高精度
の距離分解能を有する0TDRを実現することができて
、実用上の効果は大きい。
(Effects of the Invention) As described in detail above, according to the present invention, it is possible to realize an 0TDR with a highly accurate distance resolution that enables miniaturization and low cost with a simplified circuit configuration. It can be done, and the practical effects are great.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は第1
図の実施例の反射光の光電変換後の信号波形の図、 第3図は従来の0TDRのブロック図、第4図は第3図
の回路の光電変換後の信号波形の図である。 1・・・パルス光源  2・・・被測定光ファイバ3・
・・光結合器   5・・・光電変換器11・・・後方
散乱光 12・・・反射光20・・・アナログ信号処理
回路 21・・・比較器   22・・・コントローラ23・
・・時間間隔測定器
FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram of an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a block diagram of a conventional 0TDR, and FIG. 4 is a diagram of a signal waveform of the circuit shown in FIG. 3 after photoelectric conversion. 1... Pulse light source 2... Optical fiber to be measured 3.
...Optical coupler 5...Photoelectric converter 11...Backscattered light 12...Reflected light 20...Analog signal processing circuit 21...Comparator 22...Controller 23.
・・Time interval measuring device

Claims (1)

【特許請求の範囲】 被測定光ファイバ(2)にパルス光を入射し、該被測定
光ファイバ(2)の障害点で反射して入射端に戻ってく
るパルス光を検出して前記被測定光ファイバの障害点位
置を測定する光ファイバ障害点位置検査機において、 障害点からの反射光を電気信号に変換する光電変換器(
5)と、 指数関数的に減少する被測定光ファイバ(2)からの信
号光を直線ベース上の信号に変換するアナログ信号処理
回路(20)と、 任意に設定可能な基準電圧と前記反射光信号とを比較し
て基準電圧を超える信号を出力する比較器(21)と、 障害点位置を検知するため光信号発生時点から前記基準
電圧を超える信号が入力される時点までの時間間隔を測
定する時間間隔測定器(23)とを具備することを特徴
とする光ファイバ障害点位置検査機。
[Scope of Claims] Pulsed light is input into the optical fiber to be measured (2), and the pulsed light reflected at the fault point of the optical fiber to be measured (2) and returned to the input end is detected to detect the pulsed light to be measured. Optical fiber fault location inspection equipment that measures the location of fault points in optical fibers uses a photoelectric converter (which converts the reflected light from the fault point into an electrical signal).
5), an analog signal processing circuit (20) that converts the signal light from the optical fiber under test (2) that decreases exponentially into a signal on a linear basis, a reference voltage that can be set arbitrarily, and the reflected light. A comparator (21) that compares the signal with the reference voltage and outputs a signal that exceeds the reference voltage; and a comparator (21) that measures the time interval from the time when the optical signal is generated to the time when the signal exceeding the reference voltage is input in order to detect the location of the fault point. 1. An optical fiber fault position inspection device comprising: a time interval measuring device (23).
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Cited By (4)

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