JPH04130233A - Portable light chopper device and its driving device - Google Patents

Portable light chopper device and its driving device

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JPH04130233A
JPH04130233A JP25039090A JP25039090A JPH04130233A JP H04130233 A JPH04130233 A JP H04130233A JP 25039090 A JP25039090 A JP 25039090A JP 25039090 A JP25039090 A JP 25039090A JP H04130233 A JPH04130233 A JP H04130233A
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chopper
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Asao Watanabe
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Abstract

PURPOSE:To make it possible to set light paths for measuring light relatively freely by constituting the light paths in the two directions of a light transmitting parts and a reflecting parts on a portable chopper device whose setting is relatively free, and comparing the rotations of a plurality of the chopper devices in a phase comparator. CONSTITUTION:Light transmitting parts which are formed in cutout shapes for transmitting light and reflecting parts 1b on which a reflecting members are coated so as to reflect light are alternately provided along the circumference of a rotary plate 1. The rotary plate 1 is driven and rotted with a motor 3. When the rotary plate 1 is rotated, the beam-shaped light sent from a measuring light source to the rotary plate is transmitted through the light transmitting part for a certain time and reflected and quided to the other light path from the reflecting part 1b for the next time. When the rotary plate 1 is rotated, the part between a LED 6a and a phototransistor 6b of a phase detector 6 is crossed by the light transmitting part 1a or the reflecting part 1b of the rotary plate 1. Then, the intermittent light from the LED 6a is detected with the phototransistor 6b, and the rotating speed and the phase of the rotary plate 1 are detected. The output is sent into a driving device.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、複数の可搬型チョッパー装置を所望する任
意の位置に設定かつ駆動を可能とし、利用範囲の拡大を
図った可搬型光チョッパー装置に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention provides a portable optical chopper device that enables a plurality of portable optical chopper devices to be set at any desired position and driven, thereby expanding the range of use. It is related to.

[従来の技術] 光をチョップすることにより、微弱な光を迷光から分離
し増幅するための光チョッパー装置は従来より知られい
ており、また、このような光チヨツパ−itをオプチカ
ルベンチ等の所望の位置にセットして各種の測定を行う
ために便利な可搬型の光チョッパー装置も知られている
[Prior Art] Optical chopper devices for separating and amplifying weak light from stray light by chopping light have been known for a long time. A portable optical chopper device is also known, which is convenient for performing various measurements by setting it in the position of .

第6図(a)(b)は従来の可搬型光チョッパー装置を
示すもので、回転板61の円周に沿って光を透過させる
透光部61aが等間隔に設けられており、この回転板6
1はシャフト62を介してベース材B3に固定されたモ
ータ64により回転駆動される。また、透光部61aの
有無により回転板61の回転位相を知るためのLED8
5とホトトランジスタ66よりなる位相検出手段がベー
ス材63の上に設けられている。
FIGS. 6(a) and 6(b) show a conventional portable optical chopper device, in which transparent parts 61a that transmit light are provided at equal intervals along the circumference of a rotating plate 61. Board 6
1 is rotationally driven by a motor 64 fixed to the base material B3 via a shaft 62. In addition, an LED 8 is provided for determining the rotational phase of the rotating plate 61 based on the presence or absence of the transparent portion 61a.
5 and a phototransistor 66 are provided on the base material 63.

このような構成の可搬型光チョッパー装置は、第7図に
示すに配置されて各種の光学測定に使用される。同図に
おいて、光源71を発した出た光はモノクロメータ72
により単色化された光束73となって、回転板61の回
転により断続されて交流光束74となって被測定資料7
5に照射される。被測定資料75を通過した光は光セン
サ76により電気変換され、その出力は交流光束74の
断続周波数にチューニングされたロックインアンプ77
により増幅された後図示しない指示計に測定値が表示さ
れる。
A portable optical chopper device having such a configuration is arranged as shown in FIG. 7 and used for various optical measurements. In the figure, the light emitted from the light source 71 is transmitted to the monochromator 72.
It becomes a monochromatic light beam 73, which is interrupted by the rotation of the rotary plate 61 and becomes an alternating current light beam 74, which is transmitted to the material to be measured 7.
5. The light passing through the material to be measured 75 is electrically converted by an optical sensor 76, and its output is sent to a lock-in amplifier 77 tuned to the intermittent frequency of the AC light beam 74.
After being amplified by , the measured value is displayed on an indicator (not shown).

上記した可搬型光チョッパー装置は、光路が一つに限定
されるので、標準資料と被測定資料との比較測定のダブ
ルビーム測光用としては不向きであった。
The portable optical chopper device described above is limited to one optical path, and is therefore unsuitable for double-beam photometry for comparative measurement between a standard material and a material to be measured.

この比較測定をも可能にしたものとして、分光光度計等
が知られている。この装置は、第8図に示すように光源
81より発し、モノクロメータ82を経て光路83を通
った光は、チョッパー装置84のモータ84aによって
回転駆動される第一の回転板84bの円周方向に沿って
交互に設けられる光の透光部84baまたは反射部84
bbにより光路が切替えられ、透光部84baを通った
光路83aの光は標準資料85(この説明では透過率1
00%のものとする)に、反射部84bbにより反射さ
れた光路83bの光はミラー86aを介して被測定資料
87に送らる。(同図は光が反射部84bbで反射して
実線に示す光路83bを通る時点のものを表している。
A spectrophotometer and the like are known as devices that enable this comparative measurement. In this device, as shown in FIG. 8, light is emitted from a light source 81, passed through a monochromator 82, and passed through an optical path 83. The light is directed in the circumferential direction of a first rotating plate 84b that is rotationally driven by a motor 84a of a chopper device 84. Light transmitting parts 84ba or reflecting parts 84 provided alternately along
The optical path is switched by bb, and the light on the optical path 83a that passes through the transparent part 84ba is
00%), the light on the optical path 83b reflected by the reflection section 84bb is sent to the material to be measured 87 via the mirror 86a. (The figure shows the state at the time when the light is reflected by the reflecting portion 84bb and passes through the optical path 83b shown by the solid line.

) 実線で示す光路83bを通り被測定資料87を通過した
光は第二の回転板84cに送られる。他方の破線で示す
光路83aを経て標準資料85を通る光はウェッジフィ
ルタ88により所定の減衰を与えられた後、ミラー86
bを介して第二の回転板84cに送られるようになって
いる。
) The light that has passed through the object to be measured 87 through the optical path 83b indicated by the solid line is sent to the second rotary plate 84c. The light passing through the standard material 85 via the other optical path 83a indicated by the broken line is given a predetermined attenuation by the wedge filter 88, and then passes through the mirror 86.
b to the second rotary plate 84c.

第二の回転板84cはプーリ 84d、  84e、 
84f’およびベルト 84g、 84hを介して、第
一の回転板84bと180度の位相差で同期回転するの
で、第一の回転板84bを反射して被測定資料87を通
った光は、第二の回転板84cの透光部84caを通っ
て光センサ89に入射する。さらにこれらの回転板84
b。
The second rotating plate 84c is a pulley 84d, 84e,
84f' and belts 84g and 84h, it rotates synchronously with the first rotary plate 84b with a phase difference of 180 degrees, so that the light reflected from the first rotary plate 84b and passing through the material to be measured 87 is The light passes through the light transmitting portion 84ca of the second rotary plate 84c and enters the optical sensor 89. Furthermore, these rotating plates 84
b.

84e回転が進み、第一の回転板84bの透光部84b
aより光路83a経て光が通るようになると、その光は
標準資料85、ウェッジフィルタ88、ミラー86bを
介して第二の回転板84cの反射部84cbで反射して
、光センサ89に入射する。
84e rotation progresses, and the transparent portion 84b of the first rotating plate 84b
When the light starts to pass through the optical path 83a from a, the light passes through the standard material 85, the wedge filter 88, and the mirror 86b, is reflected by the reflection part 84cb of the second rotary plate 84c, and enters the optical sensor 89.

このように、チョッパー装置84の回転に同期した周波
数で標準資料85、被測定資料87を通った光の強さの
差に比例した交流出力が光センサ89を介して図示しな
い増幅器の出力側に得られる。
In this way, an AC output proportional to the difference in intensity of light passing through the standard material 85 and the material to be measured 87 at a frequency synchronized with the rotation of the chopper device 84 is sent to the output side of an amplifier (not shown) via the optical sensor 89. can get.

この出力と図示しない位相検出機構の情報によりサーボ
モータ88aを駆動し、このサーボモータ88aに連動
するウェッジフィルタ88の挿入量を、出力が最少にな
るようにフィードバック制御し、ウェッジフィルタ88
の挿入量で被測定資料87の透過度を求めることができ
る。
The servo motor 88a is driven by this output and information from a phase detection mechanism (not shown), and the amount of insertion of the wedge filter 88 linked to the servo motor 88a is feedback-controlled so that the output is minimized.
The transmittance of the material to be measured 87 can be determined by the amount of insertion.

[発明が解決しようとする課題] 上記したように、光を断続するタイプの可搬型チョッパ
ー装置は、ダブルビーム測光に不向きてあり、また、従
来の分光光度計のようにダブルビーム測光に使用される
チョッパー装置は、一対の回転板が機械的に固定されて
おり、被測定物に応じて適切な光路を変更することがで
きないと言う問題があった。
[Problems to be Solved by the Invention] As described above, the portable chopper device of the type that intermittents light is not suitable for double-beam photometry, and cannot be used for double-beam photometry like a conventional spectrophotometer. The chopper device has a pair of rotary plates that are mechanically fixed, and there is a problem in that the optical path cannot be changed appropriately depending on the object to be measured.

この発明は、これらの問題を解決して、測光用の光路を
比較的自由に設定可能にした、可搬型チョッパーおよび
その駆動装置を提供することを目的としている。
An object of the present invention is to solve these problems and provide a portable chopper and its driving device that allow relatively free setting of the optical path for photometry.

[課題を解決するための手段] この発明は、円周方向に沿って光をチョップする手段を
設けた回転板と、この回転板を回転させる手段と、前記
回転板の回転位相の検出手段とを備え、所望する位置に
設定可能な可搬型光チョッパー装置において、前記回転
板は円周方向に沿って光を通過する透光部と光を反射す
る反射部を交互に設けたことを特徴としている。
[Means for Solving the Problems] The present invention provides a rotating plate provided with a means for chopping light along the circumferential direction, a means for rotating the rotating plate, and a means for detecting the rotational phase of the rotating plate. A portable optical chopper device that can be set at a desired position, characterized in that the rotary plate is provided alternately with transparent parts that pass light and reflective parts that reflect light along the circumferential direction. There is.

また、この発明の駆動装置は、円周方向に沿って光を通
過させる透光部と光を反射させる反射部とを交互に設け
た回転板と、この回転板を回転させる手段と、回転板の
回転位相の位相検出手段とを備えた可搬型光チョッパー
装置の複数台の中の一つを基準電圧に対応した回転速度
で回転させる駆動手段と、この駆動手段により駆動され
る可搬型光チョッパー装置を含む二つの前記可搬型光チ
ョッパー装置の前記位相検出手段からそれぞれ送られる
回転位相を比較し位相差に対応した出力電圧を出力する
位相比較器と、この比較器の出力電圧から所望する位相
差に対応した電圧を減じる位相誤差検出器と、この位相
誤差検出器の出力電圧を積分する積分器と、この積分器
の出力電圧に対応した回転速度で他方の可搬型光チョッ
パー装置を回転させ双方の可搬型光チョッパー装置を所
望の位相差で回転させる回転駆動手段とを備えたことを
特徴としている。
Further, the drive device of the present invention includes a rotary plate in which transparent parts for passing light and reflective parts for reflecting light are alternately provided along the circumferential direction, a means for rotating the rotary plate, and a rotary plate for rotating the rotary plate. a drive means for rotating one of the plurality of portable optical chopper devices at a rotation speed corresponding to a reference voltage; and a portable optical chopper driven by the drive means. a phase comparator that compares the rotational phases sent from the phase detection means of the two portable optical chopper devices including the device and outputs an output voltage corresponding to the phase difference; and a phase comparator that outputs an output voltage corresponding to the phase difference; A phase error detector that reduces a voltage corresponding to the phase difference, an integrator that integrates the output voltage of this phase error detector, and the other portable optical chopper device that rotates at a rotation speed that corresponds to the output voltage of this integrator. The present invention is characterized in that it includes a rotation drive means for rotating both portable optical chopper devices with a desired phase difference.

[作用コ 設定が自由である可搬型チョッパー装置に透光部と反射
部による二方向の光路を構成し、しがも複数のこれら可
搬型チョッパー装置の回転を位相比較器で比較し、所望
する位相差で回転させることが可能な駆動装置で駆動す
ることにより、実験者の意図する光路を自由に設定でき
る利用範囲の広い、ダブルビーム測光システムを組むこ
とが可能になる。
[A two-way optical path is formed by a transparent part and a reflective part in a portable chopper device whose effects can be set freely, and the rotations of multiple portable chopper devices are compared with a phase comparator to find the desired result. By driving with a drive device that can rotate with a phase difference, it becomes possible to construct a double-beam photometry system that has a wide range of use and can freely set the optical path intended by the experimenter.

[実施例] 以下図面を参照しながらこの発明の一実施例を説明する
。第1図(a) (b)はこの実施例の回設型チョッパ
ー装置の正面図と側面図である。同図において1は回転
板で、この回転板1の円周に沿って光を透過させるため
切欠き状に形成した透光部1aと、この図の紙面側に光
を反射させるため反射部材をコーティングした反射部1
bとが交互に設けられている。
[Embodiment] An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIGS. 1(a) and 1(b) are a front view and a side view of the rotating chopper device of this embodiment. In the figure, reference numeral 1 denotes a rotating plate, which includes a translucent part 1a formed in a cutout shape to transmit light along the circumference of the rotating plate 1, and a reflective member to reflect the light toward the paper side of this figure. Coated reflective part 1
b are provided alternately.

反射部1bは反射部材として、可視光用としては一般に
銀またはアルミニュームが用いられるが、チョッパー装
置の使用波長領域に最適な反射部材を使用すればよく、
反射率を増加させるため、また反射面を保護するためS
iOその他の誘電体をコーティングしてもよい。
For the reflective part 1b, silver or aluminum is generally used as a reflective member for visible light, but it is sufficient to use a reflective member that is optimal for the wavelength range used by the chopper device.
S to increase the reflectance and protect the reflective surface.
It may also be coated with iO or other dielectric material.

このような回転板1は中心部がシャフト2を介してモー
タ3に接続されており、このモータ3によって駆動され
回転するようになっている。さらにモータ3は保持部材
4aを介してベース部材5に固定されている。
The center of the rotary plate 1 is connected to a motor 3 via a shaft 2, and is driven and rotated by the motor 3. Further, the motor 3 is fixed to the base member 5 via a holding member 4a.

またベース部材5には保持部材4bを介して回転板1の
回転速度や位相を検知するため、回転板1を挾んで一方
にLED6aが、他方にはホトトランジスタ6bを備え
た位相検出器6が設けられている。
Furthermore, in order to detect the rotational speed and phase of the rotary plate 1 via the holding member 4b, the base member 5 is equipped with a phase detector 6 that sandwiches the rotary plate 1 and includes an LED 6a on one side and a phototransistor 6b on the other side. It is provided.

このように構成されたチョッパー装置は、図示しない駆
動装置によりモータ3が駆動されて回転板1を回転させ
る。回転板1が回転すると、図示しない測定光源からこ
の回転板1に送られるビーム状の光は、ある時間の間は
透光部1aを通過して一方の光路に、また、次の時間の
間は反射部1bによって反射され他方の光路に導がれる
In the chopper device configured in this manner, the motor 3 is driven by a drive device (not shown) to rotate the rotary plate 1. When the rotary plate 1 rotates, a beam of light sent from a measurement light source (not shown) to the rotary plate 1 passes through the light-transmitting part 1a to one optical path for a certain period of time, and for the next period of time. is reflected by the reflecting portion 1b and guided to the other optical path.

通常、このチョッパー装置は、回転板1の反射部1bの
反射光が所望の方向に光路をとるように、光源に対して
斜めに設定される。
Usually, this chopper device is set obliquely with respect to the light source so that the reflected light from the reflecting portion 1b of the rotary plate 1 takes an optical path in a desired direction.

また、回転板1が回転すると、位相検出器6のLED8
aとホトトランジスタ6bとの間を回転板1の透光部1
aまたは反射部1bが横切ることによるLED6aの光
の断続をホトトランジスタ6bが検出し、回転板1の回
転速度や位相を検知して、この出力を駆動装置に送るよ
うになっている。
Also, when the rotating plate 1 rotates, the LED 8 of the phase detector 6
The light-transmitting part 1 of the rotary plate 1 is connected between the phototransistor a and the phototransistor 6b.
The phototransistor 6b detects the intermittent light of the LED 6a caused by the crossing of the LED 6a or the reflecting portion 1b, detects the rotational speed and phase of the rotary plate 1, and sends this output to the drive device.

この実施例の回設型チョッパー装置は従来の回設型チョ
ッパー装置と同様に単体でも使用できるが、この実施例
の回設型チョッパー装置を複数台用い、ダブルビーム測
光用とて使用するとき、よりその特性が有効に発揮でき
る。
The rotary chopper device of this embodiment can be used alone like the conventional rotary chopper device, but when multiple rotary chopper devices of this embodiment are used for double beam photometry, Its characteristics can be exhibited more effectively.

第2図は、この実施例の回設型チョッパー装置を複数台
用い、ダブルビーム測光システムを組む場合それぞれの
チョッパー装置を同一回転速度で同期させ、かつ所望の
位相差で回転駆動させるための駆動装置のブロック回路
図である。
Figure 2 shows the drive for synchronizing each chopper device at the same rotational speed and rotating it with a desired phase difference when a double beam photometry system is assembled using multiple rotary chopper devices of this embodiment. FIG. 2 is a block circuit diagram of the device.

同図において、21aはチョッパー装置22.23を所
望の回転速度に規定するための回転基準電圧で、この基
準電圧21aは減算回路からなる誤差検出器24aと電
力増幅器25a経て第一のチョツノく一装置22のモー
タ22aに供給されている。
In the same figure, 21a is a rotation reference voltage for regulating the chopper device 22, 23 to a desired rotation speed, and this reference voltage 21a is passed through an error detector 24a consisting of a subtraction circuit and a power amplifier 25a to the first chopper unit. It is supplied to the motor 22a of the device 22.

第一のチョッパー装置22の回転板22bの回転と位相
とを検出するLEDとホトトランジスタとでなる位相検
出器22cの回転に比例した出力は、図示しない外部の
ロックインアンプに参照信号として送られるとともに、
V/F変換器26aに送られて電圧値に変換され、この
電圧は誤差検出器24aに基準電圧21aから減じるよ
うにネガティブフィードバックされて、回転板22bの
回転数を基準電圧21aにより規定される回転数になる
ようにフィーバツク制御する。
An output proportional to the rotation of a phase detector 22c composed of an LED and a phototransistor that detects the rotation and phase of the rotating plate 22b of the first chopper device 22 is sent as a reference signal to an external lock-in amplifier (not shown). With,
It is sent to the V/F converter 26a and converted into a voltage value, and this voltage is negatively fed back to the error detector 24a so as to be subtracted from the reference voltage 21a, so that the rotation speed of the rotary plate 22b is defined by the reference voltage 21a. Feedback control is performed to maintain the rotation speed.

一方、第二のチョッパー装置28には減算回路からなる
誤差検出器24bと電力増幅器25bとを介して積分器
27の出力電圧が与えられていて、誤差検出器24b、
電力増幅器25b、モータ23a1回転板23b1位相
検出器23c、V/F変換器26bで構成されるフィー
ドバックループが構成されていて、第一のチョッパー装
置22の場合と同様な動作で、積分器27の出力電圧に
より規定される回転速度で、この第二のチョッパー装置
23は回転駆動される。
On the other hand, the second chopper device 28 is supplied with the output voltage of the integrator 27 via an error detector 24b consisting of a subtraction circuit and a power amplifier 25b.
A feedback loop consisting of a power amplifier 25b, a motor 23a, a rotary plate 23b, a phase detector 23c, and a V/F converter 26b is configured, and operates in the same way as the first chopper device 22, so that the integrator 27 This second chopper device 23 is driven to rotate at a rotation speed defined by the output voltage.

双方のチョッパー装置22.23の位相検出器22C1
23cのそれぞれの出力は位相比較器28に接続されて
おり、この位相比較器28によって、双方のチョッパー
装置22.23の回転板22b 、 23bの回転位相
が比較され、この位相比較器28の出力側に位相差に対
応した出力が得られる。この出力電圧は減算回路からな
る位相誤差検出器29の一方の入力に接続され、他方の
入力側には、第一のチョッパー装置22と第二のチョッ
パー装置23との回転位相差を所望の位相差にするため
の位相基準電圧21bが与えられる。この位相誤差検出
器29において、位相比較器28の出力電圧から位相基
準電圧21bが減ぜられ、減ぜられた電圧が位相誤差検
出器29の出力となり積分回路27の入力として送られ
るようになっている。
Phase detector 22C1 of both chopper devices 22.23
23c is connected to a phase comparator 28, which compares the rotational phases of the rotary plates 22b and 23b of both chopper devices 22, 23, and outputs the outputs of the phase comparator 28. An output corresponding to the phase difference can be obtained on the side. This output voltage is connected to one input of a phase error detector 29 consisting of a subtracting circuit, and the other input side is connected to the rotational phase difference between the first chopper device 22 and the second chopper device 23 to a desired level. A phase reference voltage 21b for making a phase difference is provided. In this phase error detector 29, the phase reference voltage 21b is subtracted from the output voltage of the phase comparator 28, and the subtracted voltage becomes the output of the phase error detector 29 and is sent as an input to the integrating circuit 27. ing.

この測光システムを起動したとき、第一、第二のチョッ
パー装置22.23は同期がとれていないが、次第に位
相比較器28のPLL機能で同期運転状態になる。同期
状態になり、位相比較器28の出力電圧と位相基準電圧
21bが等しくなった場合、つまり、双方のチョッパー
装置22.28の回転板22b。
When this photometry system is started, the first and second chopper devices 22 and 23 are not synchronized, but gradually become synchronously operating due to the PLL function of the phase comparator 28. When the synchronization state is reached and the output voltage of the phase comparator 28 and the phase reference voltage 21b are equal, that is, the rotating plates 22b of both chopper devices 22.28.

2H)の位相が所望の位相差になり、位相比較器28の
出力電圧が、位相基準電圧21bと等しくなった場合に
は、位相誤差検出器29の出力はゼロになり、積分器2
7の出力は回転基準電圧21aに極めて近い電圧の一定
値になって、第二のチョッパー装置23を第一のチョッ
パー装置22との回転位相差を所望する位相差に保った
定常状態で回転駆動する。
2H) becomes the desired phase difference and the output voltage of the phase comparator 28 becomes equal to the phase reference voltage 21b, the output of the phase error detector 29 becomes zero and the integrator 2
The output of 7 becomes a constant voltage extremely close to the rotational reference voltage 21a, and the second chopper device 23 is rotationally driven in a steady state in which the rotational phase difference with the first chopper device 22 is maintained at a desired phase difference. do.

もしも、第二のチョッパー装置23の位相が遅れた場合
または進んだ場合には、位相誤差検出器29の出力はゼ
ロでなくなり、その出力の極性に応じて積分器27の出
力を増減させて、両チョッパー装置22と23が所望の
位相差で同期回転するようにフィードバック制御する。
If the phase of the second chopper device 23 is delayed or advanced, the output of the phase error detector 29 is no longer zero, and the output of the integrator 27 is increased or decreased depending on the polarity of the output. Feedback control is performed so that both chopper devices 22 and 23 rotate synchronously with a desired phase difference.

ダブルビーム測光においては、第一のチョッパー装置2
2と第二のチョッパー装置28とを180度の位相差で
回転させる場合が多いが、180度の位相差に設定する
には、位相比較器28に位相差180度の位相信号が与
えられたときこの位相比較器28の出力に発生する電圧
を、位相基準電圧21bとして与えればよい。
In double beam photometry, the first chopper device 2
2 and the second chopper device 28 are often rotated with a phase difference of 180 degrees, but in order to set the phase difference to 180 degrees, a phase signal with a phase difference of 180 degrees is given to the phase comparator 28. The voltage generated at the output of the phase comparator 28 at this time may be given as the phase reference voltage 21b.

この実施例の駆動装置において、V/F変換器26a 
、 26b 、位相比較器28、積分器27などは公知
のもので構成できる。
In the drive device of this embodiment, the V/F converter 26a
, 26b, the phase comparator 28, the integrator 27, etc., can be constructed from known ones.

この実施例のチョッパー装置および駆動装置の具体的使
用例として、分光光度計を組み立てた場合を第3図によ
り説明する。同図において、測定光源80を発した光は
モノクロメータ31を通して光路32を経て、第一のチ
ョッパー装置22の回転板22bにビーム状で送られる
。さらに回転板22bの透光部22baを通過した光路
3gaの光は参照セル33゜ウェッジフィルタ34.ミ
ラー35aを通して、第二のチョッパー装置23の回転
板23bに送られる。
As a specific usage example of the chopper device and drive device of this embodiment, a case where a spectrophotometer is assembled will be explained with reference to FIG. In the figure, light emitted from a measurement light source 80 passes through a monochromator 31, passes through an optical path 32, and is sent in the form of a beam to the rotary plate 22b of the first chopper device 22. Furthermore, the light on the optical path 3ga that has passed through the transparent portion 22ba of the rotary plate 22b passes through the reference cell 33° wedge filter 34. It passes through the mirror 35a and is sent to the rotating plate 23b of the second chopper device 23.

一方、第一のチョッパー装置22の回転板23bの反射
部23bbで反射して光路32bを通る光は、ミラー3
5b、資料セル36を通して第二のチョッパー装置23
の回転板23bに送られる。
On the other hand, the light reflected by the reflection part 23bb of the rotating plate 23b of the first chopper device 22 and passing through the optical path 32b is reflected by the mirror 3
5b, the second chopper device 23 through the material cell 36
is sent to the rotary plate 23b.

第一のチョッパー装置22と第二のチョッパー装置23
は、第2図において説明した駆動装置37により、両チ
ョッパー装置の回転板22b 、 23bが同一回転速
度で相互に180度の位相差をもって回転駆動される。
First chopper device 22 and second chopper device 23
The rotary plates 22b and 23b of both chopper devices are rotated by the drive device 37 described in FIG. 2 at the same rotational speed with a phase difference of 180 degrees.

例えば、第一のチョッパー装置22の回転板22bの反
射部22bbが測定光を反射する位置にあるときは、第
二のチョッパー装置23の回転板23bの通過部23b
aは光路32bの光を通過させるような位相で回転して
いる。
For example, when the reflecting portion 22bb of the rotating plate 22b of the first chopper device 22 is in a position to reflect the measurement light, the passing portion 23b of the rotating plate 23b of the second chopper device 23
a is rotated with a phase that allows the light on the optical path 32b to pass through.

同図は、光が実線に示す光路32bを通る状態を示して
いるが、この光路32bを通る光は資料セル36を経て
第二のチョッパー装置23の回転板23bの透光部23
baを通過して光センサ38に入射する。
The figure shows a state in which light passes through an optical path 32b indicated by a solid line.
ba and enters the optical sensor 38.

これらチョッパー装置22.23の回転が進み、測定光
が第一のチョッパー装置22の回転板22bの透光部2
2baを通る、破線に示す光路32aの光は参照セル3
3からミラー35aを経て第二のチョッパー装置23の
回転板23bの反射部23bbで反射して光センサ38
に入射する。
As the rotation of these chopper devices 22 and 23 progresses, the measurement light is transmitted to the transparent portion 2 of the rotary plate 22b of the first chopper device 22.
The light on the optical path 32a indicated by the broken line that passes through the reference cell 3
3, passes through the mirror 35a, is reflected by the reflection part 23bb of the rotary plate 23b of the second chopper device 23, and is reflected by the optical sensor 38.
incident on .

このように、チョッパー装置の回転に伴って光路32a
 、 Hbが交互に形成され、参照セル33、資料セル
36を通った光は光センサ38で充電変換されて、回転
に同期した周波数の交流成分となり、この周波数にチュ
ーニイングしたロックインアンプ39に入り、双方の光
の強さの差に比例した出力がロックインアンプ39の出
力側に得られる。ロックインアンプ39には駆動装置3
7からチョッパー装置22の回転位相を知らせる参照信
号が与えられている。この参照信号により光センサ38
より送られた交流を検波して、出力の極性を決定する。
In this way, as the chopper device rotates, the optical path 32a
, Hb are formed alternately, and the light that passes through the reference cell 33 and data cell 36 is charged and converted by the optical sensor 38 to become an alternating current component with a frequency synchronized with the rotation, and is sent to the lock-in amplifier 39 tuned to this frequency. An output proportional to the difference in intensity between the two lights is obtained at the output side of the lock-in amplifier 39. The lock-in amplifier 39 has a drive device 3.
A reference signal indicating the rotational phase of the chopper device 22 is provided from 7. This reference signal causes the optical sensor 38 to
The polarity of the output is determined by detecting the alternating current sent from the

ロックインアンプ39の出力とその極性に応じてサーボ
モータ84aを介してウェッジフィルタ34の挿入量を
、ロックインアンプ39の出力が最少になるようにフィ
ードバック制御する。
Depending on the output of the lock-in amplifier 39 and its polarity, the insertion amount of the wedge filter 34 is feedback-controlled via the servo motor 84a so that the output of the lock-in amplifier 39 is minimized.

最少に制御されたときのウェッジフィルタ34の挿入量
で、資料セル3Bの透過率を測定することができる。
The transmittance of the data cell 3B can be measured with the insertion amount of the wedge filter 34 when controlled to the minimum.

この応用例によれば、測定場所や光路32a。According to this application example, the measurement location and optical path 32a.

32bを実験者の意志で自由に設定できるので、従来の
分光光度計では困難であった被測定物の測定が可能にな
る。
32b can be freely set according to the experimenter's will, making it possible to measure the object to be measured, which has been difficult with conventional spectrophotometers.

第4図に別の応用例を示す、この応用例は真空装置内で
蒸着中の資料の分光特性変化を連続的に測定する例であ
る。
Another application example is shown in FIG. 4, and this application example is an example in which changes in the spectral characteristics of a material being evaporated in a vacuum apparatus are continuously measured.

同図において、第一のチョッパー装置22と第二のチョ
ッパー装置23とは、第2図で説明した駆動装置により
、同一回転速度でかつ180度の位相差をもって回転駆
動されている。
In the figure, the first chopper device 22 and the second chopper device 23 are rotationally driven by the drive device explained in FIG. 2 at the same rotational speed and with a phase difference of 180 degrees.

光源40を発し、第一のチョッパー装置22の回転板2
2bにより反射または通過した光は実線または破線に示
す光路を通り、反射して実線光路を通る光は真空槽41
の窓41aより資料42に照射され、この資料42から
反射した光はミラー48を経て第二のチョッパー装置2
3の回転板23bの透光部を通過してモノクロメータ4
4で真空槽41で発生する迷光を減じた後、光センサ4
5を介してロックインアンプ46に入り増幅される。
A light source 40 is emitted and the rotary plate 2 of the first chopper device 22
The light reflected or passed by 2b passes through the optical path indicated by the solid line or broken line, and the light reflected and passing through the solid line optical path passes through the vacuum chamber 41.
The material 42 is irradiated through the window 41a, and the light reflected from the material 42 passes through the mirror 48 and is sent to the second chopper device 2.
The monochromator 4 passes through the transparent part of the rotating plate 23b of No.
After reducing the stray light generated in the vacuum chamber 41 in step 4, the optical sensor 4
5 and enters the lock-in amplifier 46 where it is amplified.

また、第一のチョッパー装置22の回転板22bを通過
した光は破線の光路を通り、ミラー47を経て真空槽4
1内の参照片48に照射され、参照片48から反射し光
は第二のチョッパー装置23の回転板21bで反射して
、モノクロメータ44から光センサ45を経てロックイ
ンアンプ46に入り増幅されて、資料42から反射した
光と比較測定される。
Further, the light that has passed through the rotary plate 22b of the first chopper device 22 passes through the optical path indicated by the broken line, passes through the mirror 47, and then passes through the vacuum chamber 4.
The light is irradiated onto the reference piece 48 in 1 and reflected from the reference piece 48. The light is reflected by the rotary plate 21b of the second chopper device 23, passes from the monochromator 44 to the optical sensor 45, enters the lock-in amplifier 46, and is amplified. The measured light is compared with the light reflected from the material 42.

真空槽41ではボート41bより蒸着物質が蒸発して、
資料42に蒸着するが、参照片48には図示しない覆い
が設けられているので、蒸着中特性に変化はなく資料4
2との比較測定ができる。
In the vacuum chamber 41, the vapor deposition substance is evaporated from the boat 41b,
The reference piece 48 is evaporated onto the material 42, but since the reference piece 48 is provided with a cover (not shown), there is no change in the characteristics during the vapor deposition.
Comparison measurements can be made with 2.

この応用例によれば、従来の装置では困難であった真空
蒸着槽内の資料測定も、この発明の可搬型チョッパー装
置で可能になる。
According to this application example, the portable chopper device of the present invention can also measure materials inside a vacuum deposition tank, which was difficult to do with conventional devices.

さらに別の応用例を第5図に示す、この応用例は真空槽
内で蒸着中の資料に形成する蒸着膜の厚さを、資料の反
射率が最低になる波長が所望の値の波長になったか、否
かでその厚さを知る応用例である。
Another application example is shown in Fig. 5. This application example adjusts the thickness of the deposited film formed on the material being deposited in the vacuum chamber so that the wavelength at which the reflectance of the material is the lowest is the desired value. This is an example of an application where the thickness can be determined by whether the thickness has increased or not.

つまり、蒸着中の資料は光の反射率が最低になる波長が
蒸着が進むに従って長くなる性質を利用して測定するも
のである。
In other words, the data during vapor deposition is measured by taking advantage of the property that the wavelength at which the reflectance of light is lowest increases as the vapor deposition progresses.

同図において、50及び51はそれぞれ一定波長近辺の
光のみを通過させる干渉フィルタで、干渉フィルタ50
は通過波長が所望の波長λ0より短波長λ1であり、干
渉フィルタ51は波長λ0より長波長のλ2に設定され
ていて、両干渉フィルタ50゜51を通過する光の強さ
が同じになるとき、波長λ0で反射率が最低になるよう
な波長λ1およびλ2が選ばれている。
In the figure, reference numerals 50 and 51 are interference filters that allow only light around a certain wavelength to pass through.
When the passing wavelength is λ1, which is shorter than the desired wavelength λ0, and the interference filter 51 is set to λ2, which is longer than the wavelength λ0, and the intensity of the light passing through both interference filters 50 and 51 is the same. , wavelengths λ1 and λ2 are selected such that the reflectance is the lowest at wavelength λ0.

この応用例においても、第一のチョッパー装置22と第
二のチョッパー装置23とは第2図で説明した駆動装置
により、同一回転速度でかつ180度の位相差をもって
回転駆動されている。
Also in this application example, the first chopper device 22 and the second chopper device 23 are rotationally driven by the drive device explained in FIG. 2 at the same rotational speed and with a phase difference of 180 degrees.

白色光源52を発し、第一のチョッパー装置22の回転
板22bにより反射または通過した光は実線または破線
に示す光路を通る。反射して実線光路を通る光はミラー
53a経てフィルタ50を、また、通過して破線の光路
を通る光は干渉フィルタ51からミラー53 bを通る
ように光路が形成されている。
Light emitted from the white light source 52 and reflected or passed by the rotary plate 22b of the first chopper device 22 passes through an optical path shown by a solid line or a broken line. The optical path is formed such that the light that is reflected and passes through the solid line optical path passes through the filter 50 via the mirror 53a, and the light that passes through the broken line optical path passes from the interference filter 51 to the mirror 53b.

これら干渉フィルタ50.51を通過する、波長λ1と
λ2近辺の光のみが第二のチョッパー装置23の回転板
23bからミラー54aを経て、真空槽55の中の資料
5Bに照射される。資料5Bから反射した光はミラー5
4bを経て、波長λ1とλ2まての波長の光のみを通過
させ、それ以外の迷光を遮断するフィルタ57を通して
光センサ58からロックインアンプ59に入力される。
Only the light having wavelengths around λ1 and λ2 that passes through these interference filters 50 and 51 is irradiated from the rotary plate 23b of the second chopper device 23 to the material 5B in the vacuum chamber 55 via the mirror 54a. The light reflected from document 5B is mirror 5
4b, the light is inputted from the optical sensor 58 to the lock-in amplifier 59 through a filter 57 that allows only light with wavelengths between λ1 and λ2 to pass through and blocks other stray light.

蒸着初期においては、資料の反射率の最低になる波長が
λ0より短い波長にあるので、干渉フィルタ50が設け
られている実線の光路の光の強度の方が、干渉フィルタ
51が設けられている破線の光路の光の強度より弱い。
In the early stage of vapor deposition, the wavelength at which the reflectance of the material is the lowest is at a wavelength shorter than λ0, so the intensity of the light in the solid line optical path where the interference filter 50 is provided is higher than that where the interference filter 51 is provided. The intensity of light is weaker than that of the optical path indicated by the dashed line.

蒸着が進むと最低反射波長は次第に長い波長の方に移動
するので、干渉フィルタ50を通る光の強度は上がり、
反対に干渉フィルタ51を通る光の強度は下がるように
なる。
As the deposition progresses, the lowest reflection wavelength gradually moves toward longer wavelengths, so the intensity of light passing through the interference filter 50 increases.
On the contrary, the intensity of light passing through the interference filter 51 decreases.

両者の光の強度差をロックインアンプ59で監視して、
両者の光の強度が等しくなり、出力が零になったことで
、蒸着膜が所定の厚さに形成されたことを知ることがで
きる。
The difference in intensity between the two lights is monitored by a lock-in amplifier 59,
When the intensity of both lights becomes equal and the output becomes zero, it can be determined that the deposited film has been formed to a predetermined thickness.

従来の装置では、上記したこの応用例の測定システムを
組むことが困難である。
With conventional equipment, it is difficult to assemble the measurement system for this application example described above.

なお、この発明は上記実施例に限定されるものではなく
、要旨を変更しない範囲で種々変形して実施できる。
Note that the present invention is not limited to the above-mentioned embodiments, and can be implemented with various modifications without changing the gist.

例えば、可搬型光チョッパー装置の回転板の反射部分を
回転軸に対して所定の角度に傾斜させて形成することも
できる。
For example, the reflective portion of the rotary plate of the portable optical chopper device may be formed to be inclined at a predetermined angle with respect to the rotation axis.

また、実施例の駆動装置は、二台の可搬型光チョッパー
装置を駆動するものを説明したが、位相比較器、積分器
等を必要に応じて用意すれば、任意の複数個の可搬型光
チョッパー装置を駆動することができる。
In addition, although the driving device in the embodiment has been described as driving two portable optical chopper devices, if a phase comparator, integrator, etc. are prepared as necessary, it can drive any plurality of portable optical chopper devices. Can drive chopper equipment.

さらに、この発明の駆動装置は従来の断続タイプの可搬
型光チョッパー装置の駆動装置としても使用できる。
Further, the drive device of the present invention can also be used as a drive device for a conventional intermittent type portable optical chopper device.

[発明の効果コ この発明によれば、オプチカルベンチ、真空槽。[Effects of invention According to this invention, an optical bench and a vacuum chamber.

その他任意の環境で、従来のダブルビーム測光用装置で
は測定システムを組むことが困難な場所においてダブル
ビーム測光の光学系を構成することができる。
In other arbitrary environments, an optical system for double-beam photometry can be constructed in places where it is difficult to assemble a measurement system using conventional double-beam photometry devices.

また、この発明の駆動装置を使用すれば、複数の可搬型
光チョッパー装置を用いて、効率的かつ弾力性に富んだ
ダブルビーム測光の測定系を構成できる。
Furthermore, by using the drive device of the present invention, an efficient and flexible double beam photometry measurement system can be constructed using a plurality of portable optical chopper devices.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図(a) (b)はこの発明の一実施例の可搬型光
チョッパー装置の正面図と側面図、第2図は第1図に示
した可搬型光チョッパー装置の二台を同期駆動する、こ
の発明の駆動装置の一実施例のブロック回路図、第3図
はこれら実施例をダブルビーム測光の分光光度計に応用
した構成図、第4図は真空蒸着槽内の資料の分光特性の
変化を連続的に測定するシステムに応用した場合の構成
図、第5図は同じく真空蒸着槽内で資料への蒸着膜形成
を監視するシステムに応用した構成図、第6図(a) 
(b)は従来の光断続型の可搬型チョッパー装置の正面
図と側面図、第7図は、第6図に示した従来の可搬型光
チョッパー装置の使用方法を説明する構成図、第8図は
従来の分光光度計の構成を説明するための構成図である
。 1・・・回転板 1a・・・透光部      1b・・・反射部3・・
・モータ      5・・・ベース部材6・・・位相
検出器 6a・・・L E D       8b・・・ホトト
ランジスタ22、23・・・第一、第二のチョッパー装
置22a 、 23a −・・モータ  22b 、 
23b −・・回転板22c 、 23c・・・位相検
出器 24a 、 24b・・・誤差検出器 25a 、 25b・・・電力増幅器 26a 、 26b−V / F変換器27・・・積分
器      28・・・位相比較器29・・・位相誤
差検出器 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第2 図 ilb区 WIl&5図 第6区 第7区
1(a) and 1(b) are front and side views of a portable optical chopper device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows two portable optical chopper devices shown in FIG. 1 synchronously driven. FIG. 3 is a block diagram of an embodiment of the drive device of the present invention; FIG. 3 is a block diagram of an application of these embodiments to a spectrophotometer for double beam photometry; FIG. 4 is a diagram showing the spectral characteristics of a material in a vacuum deposition tank. Fig. 5 is a block diagram when applied to a system that continuously measures changes in , and Fig. 5 is a block diagram when applied to a system that monitors the formation of a deposited film on a material in a vacuum evaporation tank. Fig. 6 (a)
(b) is a front view and a side view of a conventional optical intermittent type portable chopper device, FIG. 7 is a block diagram illustrating how to use the conventional portable optical chopper device shown in FIG. 6, and FIG. The figure is a configuration diagram for explaining the configuration of a conventional spectrophotometer. 1...Rotating plate 1a...Transparent part 1b...Reflecting part 3...
- Motor 5... Base member 6... Phase detector 6a... LED 8b... Phototransistor 22, 23... First and second chopper devices 22a, 23a -... Motor 22b ,
23b - Rotating plates 22c, 23c... Phase detectors 24a, 24b... Error detectors 25a, 25b... Power amplifiers 26a, 26b - V/F converter 27... Integrator 28...・Phase comparator 29...Phase error detector Applicant's agent Patent attorney Takehiko Suzue 2nd figure ilb ward WIl & 5 figure 6th ward 7th ward

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)円周方向に沿って光をチョップする手段を設けた
回転板と、この回転板を回転させる手段と、前記回転板
の回転位相の検出手段とを備え、所望する位置に設定可
能な可搬型光チョッパー装置において、 前記回転板は円周方向に沿って光を通過する透光部と光
を反射する反射部を交互に設けたことを特徴とする可搬
型光チョッパー装置。
(1) A rotary plate provided with a means for chopping light along the circumferential direction, a means for rotating this rotary plate, and a means for detecting the rotational phase of the rotary plate, and can be set at a desired position. A portable optical chopper device, characterized in that the rotary plate is provided alternately with transparent parts that pass light and reflective parts that reflect light along the circumferential direction.
(2)円周方向に沿って光を通過させる透光部と光を反
射させる反射部とを交互に設けた回転板と、この回転板
を回転させる手段と、回転板の回転位相の位相検出手段
とを備えた可搬型光チョッパー装置の複数台の中の一つ
を基準電圧に対応した回転速度で回転させる駆動手段と
、この駆動手段により駆動される可搬型光チョッパー装
置を含む二つの前記可搬型光チョッパー装置の前記位相
検出手段からそれぞれ送られる回転位相を比較し位相差
に対応した出力電圧を出力する位相比較器と、この位相
比較器の出力電圧から所望する位相差に対応した電圧を
減じる位相誤差検出器と、この位相誤差検出器の出力電
圧を積分する積分器と、この積分器の出力電圧に対応し
た回転速度で他方の可搬型光チョッパー装置を回転させ
双方の可搬型光チョッパー装置を所望の位相差で回転さ
せる回転駆動手段とを備えたことを特徴とする可搬型光
チョッパー装置の駆動装置。
(2) A rotary plate in which transparent parts that pass light along the circumference and reflective parts that reflect light are provided alternately, means for rotating this rotary plate, and phase detection of the rotational phase of the rotary plate. a driving means for rotating one of the plurality of portable optical chopper apparatuses at a rotational speed corresponding to a reference voltage; a phase comparator that compares the rotational phases sent from the phase detection means of the portable optical chopper device and outputs an output voltage corresponding to the phase difference; and a voltage corresponding to the desired phase difference from the output voltage of this phase comparator. A phase error detector that reduces the output voltage of the phase error detector, an integrator that integrates the output voltage of this phase error detector, and a portable optical chopper device that rotates the other portable optical chopper device at a rotation speed corresponding to the output voltage of this integrator. 1. A drive device for a portable optical chopper device, comprising: rotational drive means for rotating the chopper device with a desired phase difference.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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