JPH04119189A - リップ開度測定装置 - Google Patents
リップ開度測定装置Info
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- JPH04119189A JPH04119189A JP23938190A JP23938190A JPH04119189A JP H04119189 A JPH04119189 A JP H04119189A JP 23938190 A JP23938190 A JP 23938190A JP 23938190 A JP23938190 A JP 23938190A JP H04119189 A JPH04119189 A JP H04119189A
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- 239000002994 raw material Substances 0.000 abstract description 19
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 4
- 238000002592 echocardiography Methods 0.000 abstract 1
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- YAFQFNOUYXZVPZ-UHFFFAOYSA-N liproxstatin-1 Chemical compound ClC1=CC=CC(CNC=2C3(CCNCC3)NC3=CC=CC=C3N=2)=C1 YAFQFNOUYXZVPZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
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- Paper (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は抄紙機のスライスリップの開度測定装置に関す
るものである。
るものである。
（従来の技術）
従来抄紙機ヘッドボックスの上リップ全体のの開度測定
は、ロークリエンコーダやポテンショによって角度とし
て測定され、リップ先端部の変位は、リップ先端部を操
作するマイクロジヤツキ等の変位量を、ダイヤルゲージ
や差動トランスなどによって測定して求められていた。
は、ロークリエンコーダやポテンショによって角度とし
て測定され、リップ先端部の変位は、リップ先端部を操
作するマイクロジヤツキ等の変位量を、ダイヤルゲージ
や差動トランスなどによって測定して求められていた。
しかし原料流路の開度を直接測定する手段はなかった。
（発明が解決しようとする解題）
第７図に示すように、従来抄紙機のヘッドボックスの開
度すは、ジヤツキ２０を伸縮させてスライスルーフ２を
支点２２のまわりに回転させることで変更していた。こ
のときジヤツキ２０の伸縮の量はポテンショ２１にて検
知し、幾何学演算により求めていた。さらに開度すの微
調整は、機械の幅方向に等間隔で複数設けられたロッド
４をマイクロジヤツキ等を操作することによって上下さ
せ、リップ１を上下させることによって行われていた。
度すは、ジヤツキ２０を伸縮させてスライスルーフ２を
支点２２のまわりに回転させることで変更していた。こ
のときジヤツキ２０の伸縮の量はポテンショ２１にて検
知し、幾何学演算により求めていた。さらに開度すの微
調整は、機械の幅方向に等間隔で複数設けられたロッド
４をマイクロジヤツキ等を操作することによって上下さ
せ、リップ１を上下させることによって行われていた。
このときリップ１部の変位は、同リップ１部を操作する
マイクロジヤツキ等の変位量をダイヤルゲージ７や差動
トランスなどによって測定して求めていた。スライスル
ーフ２が回転することにより開度ａが変化するが、リッ
プ１はスライスルーフ２の回転とは独立心ごスライド出
来るので、開度すは開度ａとは無限係に調整できる。
マイクロジヤツキ等の変位量をダイヤルゲージ７や差動
トランスなどによって測定して求めていた。スライスル
ーフ２が回転することにより開度ａが変化するが、リッ
プ１はスライスルーフ２の回転とは独立心ごスライド出
来るので、開度すは開度ａとは無限係に調整できる。
一方へッドボソクスは、原料が流れている七きと、いな
いときで、開度すが僅かに変化することが知られている
。これは原料の圧力がへノドボックスのスライスルーフ
２全体を押し広けようとし、機械的なガタ分だけ変化す
るためである。この変化量は、前記説明の通り構造的に
マイクロジヤツキ等の変位にも、ポテンシヨの変位にも
現れないので、測定することが出来ない。またヘッドボ
ックスは、幅方向の温度分布等により熱変形することも
知られているが、この変形量の幅方向の分布、即ち変形
プロファイルも従来は測定する手段がなかった。
いときで、開度すが僅かに変化することが知られている
。これは原料の圧力がへノドボックスのスライスルーフ
２全体を押し広けようとし、機械的なガタ分だけ変化す
るためである。この変化量は、前記説明の通り構造的に
マイクロジヤツキ等の変位にも、ポテンシヨの変位にも
現れないので、測定することが出来ない。またヘッドボ
ックスは、幅方向の温度分布等により熱変形することも
知られているが、この変形量の幅方向の分布、即ち変形
プロファイルも従来は測定する手段がなかった。
本発明は前記従来の課題を解決するために提案されたも
のである。
のである。
（課題を解決するための手段）
このため本発明は、抄紙機のヘッドボックスムこおいて
、スライスルーフの上面及び／又はエプロン下面に配設
された１個以上の超音波送信器と同受信器、又は超音波
送受信器と、同送信器と同送受信器の各々に高周波イン
パルスを与える送信器と、前記受信器又は送受信器が受
けた超音波反射エコーの信号と、前記送信器からの信号
から伝播距離を演算する手段からなるもので、これを課
題解決のための手段とするものである。
、スライスルーフの上面及び／又はエプロン下面に配設
された１個以上の超音波送信器と同受信器、又は超音波
送受信器と、同送信器と同送受信器の各々に高周波イン
パルスを与える送信器と、前記受信器又は送受信器が受
けた超音波反射エコーの信号と、前記送信器からの信号
から伝播距離を演算する手段からなるもので、これを課
題解決のための手段とするものである。
（作用）
超音波送受信器から出た超音波は、スライスルーフに対
して斜めに入射し、スライスルーフの下面に到達すると
、そこで一部は反射されるが、一部は原料中に入ってい
く。このとき超音波の進む方向は、ｃｉ／ｓｉｎθｉ
＝ｃｏ／ｓｉｎθ０を満足する方向へ屈折する。ここで
ｃｉはスライスルーフ中の音速、ｃｏは原料中の音速で
ある。原料中を伝播した波は、エプロンの上面に到達す
ると再び反射と透過が起こるが、反射して送受信器の方
へ戻る波の一部は、これまでの経路と逆の経路を通って
超音波送受信器に戻る。よってこの伝播時間を測定する
ことによって、スライスルーフとエプロン間の距離を測
定することができる。ここでエプロンへの入射角が９０
°になるよう、スライスルーフへの入射角を決めること
により、反射エコーの強さを最大とし、Ｓ／Ｎの良い測
定を可能にしている。また集束型超音波送受信器の焦点
面が、スライスルーフの下面になるように配置すること
により、スライスルーフの角度に関わりなく、超音波の
スライスルーフからの放出点を一定にすることが可能と
なり、常に放出点を通りエプロンに対し垂直な距離を測
定することができ、これがためにリップ部での開度変化
量が容易に換算できる。なお、スライスルーフの角度は
、数度の範囲で変化させて使われるが、集束型超音波送
受信器から放出される超音波は広がるので、エプロンへ
の入射角度が９０°から少しずれても対応できる。
して斜めに入射し、スライスルーフの下面に到達すると
、そこで一部は反射されるが、一部は原料中に入ってい
く。このとき超音波の進む方向は、ｃｉ／ｓｉｎθｉ
＝ｃｏ／ｓｉｎθ０を満足する方向へ屈折する。ここで
ｃｉはスライスルーフ中の音速、ｃｏは原料中の音速で
ある。原料中を伝播した波は、エプロンの上面に到達す
ると再び反射と透過が起こるが、反射して送受信器の方
へ戻る波の一部は、これまでの経路と逆の経路を通って
超音波送受信器に戻る。よってこの伝播時間を測定する
ことによって、スライスルーフとエプロン間の距離を測
定することができる。ここでエプロンへの入射角が９０
°になるよう、スライスルーフへの入射角を決めること
により、反射エコーの強さを最大とし、Ｓ／Ｎの良い測
定を可能にしている。また集束型超音波送受信器の焦点
面が、スライスルーフの下面になるように配置すること
により、スライスルーフの角度に関わりなく、超音波の
スライスルーフからの放出点を一定にすることが可能と
なり、常に放出点を通りエプロンに対し垂直な距離を測
定することができ、これがためにリップ部での開度変化
量が容易に換算できる。なお、スライスルーフの角度は
、数度の範囲で変化させて使われるが、集束型超音波送
受信器から放出される超音波は広がるので、エプロンへ
の入射角度が９０°から少しずれても対応できる。
（実施例）
以下本発明を図面の実施例について説明すると、第１図
は本発明の第１実施例を示す。この実施例は基準リップ
角度＝６°の場合についての実施例である。このとき超
音波送受信器ＩＯの取付は面１７の切込み角度は２４″
になる。第６図にこのときの測定結果を示す。試験条件
は、原料流度：０．９％、タルク：０．９％、流速１０
ｍ／Ｓである。
は本発明の第１実施例を示す。この実施例は基準リップ
角度＝６°の場合についての実施例である。このとき超
音波送受信器ＩＯの取付は面１７の切込み角度は２４″
になる。第６図にこのときの測定結果を示す。試験条件
は、原料流度：０．９％、タルク：０．９％、流速１０
ｍ／Ｓである。
さて第１図に示すように、リップ１先端近くのスライス
ルーフ２の上面に配設された超音波送受信器１０は、周
期的に高周波インパルスを発生する送信器１３において
発生された電気的インパルスを超音波インパルスに変換
せしめ、スライスルーフ２に対して斜めに入射する。入
射された超音波は、スライスルーフ２の下面に達すると
一部は反射するが、一部は原料中に透過する。原料中に
入った超音波はエプロン３上面に達すると、再びその一
部が反射され、一部がエプロン３を透過する。このエプ
ロン３の上面で反射された超音波の一部は、同じ経路を
たどってスライスルーフ２の上面に戻る。この反射波は
、超音波送受信器１０で電圧に変換され、受信器１４で
増幅され、トラベリングタイムを測定演算する装置１５
で送信波が送られてから、反射エコーが戻ってくるまで
の時間が測定される。原料中の温度を測定する装置１１
によって求められた原料温度によって補正された伝播速
度と、トラへリングタイムを使って演算された伝播距離
から、スライスルーフ２中の伝播距離を差し引く演算装
置１６によって、原料流路の開度が演算され表示される
。
ルーフ２の上面に配設された超音波送受信器１０は、周
期的に高周波インパルスを発生する送信器１３において
発生された電気的インパルスを超音波インパルスに変換
せしめ、スライスルーフ２に対して斜めに入射する。入
射された超音波は、スライスルーフ２の下面に達すると
一部は反射するが、一部は原料中に透過する。原料中に
入った超音波はエプロン３上面に達すると、再びその一
部が反射され、一部がエプロン３を透過する。このエプ
ロン３の上面で反射された超音波の一部は、同じ経路を
たどってスライスルーフ２の上面に戻る。この反射波は
、超音波送受信器１０で電圧に変換され、受信器１４で
増幅され、トラベリングタイムを測定演算する装置１５
で送信波が送られてから、反射エコーが戻ってくるまで
の時間が測定される。原料中の温度を測定する装置１１
によって求められた原料温度によって補正された伝播速
度と、トラへリングタイムを使って演算された伝播距離
から、スライスルーフ２中の伝播距離を差し引く演算装
置１６によって、原料流路の開度が演算され表示される
。
第２図は第２実施例を示す。これは幅方向に複数の超音
波送受信器１０を複数個設置し、幅方向の開度プロファ
イルを測定出来るようにした例である。第２図において
それぞれの超音波送受信器１０が基準開度のとき、エプ
ロン３に垂直に入射するようスライスルーフ２の上面に
取付けられているのは、第１実施例と同様である。
波送受信器１０を複数個設置し、幅方向の開度プロファ
イルを測定出来るようにした例である。第２図において
それぞれの超音波送受信器１０が基準開度のとき、エプ
ロン３に垂直に入射するようスライスルーフ２の上面に
取付けられているのは、第１実施例と同様である。
また各送受信器に送信信号を送る装置と、エプロンから
の反射エコーの伝播時間を演算する装置１２と、この伝
播時間よりリップ開度を演算する装置とは共通であり、
切り替えＳＷによって各超音波送受信器を切り換えて測
定するようになっている。
の反射エコーの伝播時間を演算する装置１２と、この伝
播時間よりリップ開度を演算する装置とは共通であり、
切り替えＳＷによって各超音波送受信器を切り換えて測
定するようになっている。
第３図に第３実施例を示す。これは超音波送信器３０と
受信器３１をスライスルーフ２の上面とエプロン３の下
面にそれぞれ設置した例である。
受信器３１をスライスルーフ２の上面とエプロン３の下
面にそれぞれ設置した例である。
なお、送信器３０と受信機３１を逆に設置しても同じこ
とである。
とである。
第４図は第４実施例を示す。これは超音波送受信器１０
をエプロン３の下面に設置した例である。
をエプロン３の下面に設置した例である。
第５図に示す用に超音波送受信器１０からでた超音波は
、スライスルーフ２に対して斜めに入射し、スライスル
ーフ２の下面に到達すると、そこで一部は反射されるが
、一部は原料中に入っていく。このとき超音波の進む方
向は、ｃｉ／ｓｉｎθｉ ＝ｃｏ／ｓｉｎθ０を満足す
る方向へ屈折する。
、スライスルーフ２に対して斜めに入射し、スライスル
ーフ２の下面に到達すると、そこで一部は反射されるが
、一部は原料中に入っていく。このとき超音波の進む方
向は、ｃｉ／ｓｉｎθｉ ＝ｃｏ／ｓｉｎθ０を満足す
る方向へ屈折する。
ここでｃｉはスライスルーフ中の音速、ＣＯは原料中の
音速である。原料中を伝播した波は、エプロン３の上面
に到達すると再び反射と透過が起こるが、反射して送受
信器１０の方へ戻る波の一部は、これまでの経路と逆の
経路を通って超音波送受信器に戻る。よってこの伝播時
間を測定することによって、スライスルーフ２とエプロ
ン３間の距離を測定することができる。ここでエプロン
３への入射角が９０″になるよう、スライスルーフ２へ
の入射角を決めることにより、反射エコーの強さを最大
とし、Ｓ／Ｈの良い測定を可能にしている。また集束型
超音波送受信器の焦点面が、スライスルーフ２の下粘性
流体継手装置になるように配置することにより、スライ
スルーフ２の角度に関わりなく、超音波のスライスルー
フ２からの放出点を一定にすることが可能となり、常に
放出点を通りエプロン３に対し垂直な距離を測定するこ
とができ、これがためにリップ部での開度変化量が容易
に換算できる。なお、スライスルーフ２の角度は、数度
の範囲で変化させて使われるが、集束型超音波送受信器
から放出される超音波は広がるので、エプロン３への入
射角度が９０°から少しずれても対応できる。
音速である。原料中を伝播した波は、エプロン３の上面
に到達すると再び反射と透過が起こるが、反射して送受
信器１０の方へ戻る波の一部は、これまでの経路と逆の
経路を通って超音波送受信器に戻る。よってこの伝播時
間を測定することによって、スライスルーフ２とエプロ
ン３間の距離を測定することができる。ここでエプロン
３への入射角が９０″になるよう、スライスルーフ２へ
の入射角を決めることにより、反射エコーの強さを最大
とし、Ｓ／Ｈの良い測定を可能にしている。また集束型
超音波送受信器の焦点面が、スライスルーフ２の下粘性
流体継手装置になるように配置することにより、スライ
スルーフ２の角度に関わりなく、超音波のスライスルー
フ２からの放出点を一定にすることが可能となり、常に
放出点を通りエプロン３に対し垂直な距離を測定するこ
とができ、これがためにリップ部での開度変化量が容易
に換算できる。なお、スライスルーフ２の角度は、数度
の範囲で変化させて使われるが、集束型超音波送受信器
から放出される超音波は広がるので、エプロン３への入
射角度が９０°から少しずれても対応できる。
（発明の効果）
以上詳細に説明した如く本発明は構成されているので、
抄紙機ヘッドボックスの流路の開度及び幅方向の開度プ
ロファイルを精度良く測定することができる。
抄紙機ヘッドボックスの流路の開度及び幅方向の開度プ
ロファイルを精度良く測定することができる。
第１図、第２図、第３図及び第４図は本発明の第１〜第
４実施例に係るリップ開度測定装置のブロック図、第５
図は超音波送受信器の取付は条件を示す説明図、第６図
はテーパゲージによる測定値と超音波センサ測定値との
関係を示す線図、第７図は従来の抄紙機ヘッドボックス
のリップ開度測定装置の側面図である。 図の主要部分の説明 ・−・−スライスルーフ ３ ・ 一超音波送受信器 １１ ・−送信器 １４ 測定演算装置 １６ エプロン 温度測定装置 受信器 演算装置 超音波送信器 受信器 実用新案登録出願人
４実施例に係るリップ開度測定装置のブロック図、第５
図は超音波送受信器の取付は条件を示す説明図、第６図
はテーパゲージによる測定値と超音波センサ測定値との
関係を示す線図、第７図は従来の抄紙機ヘッドボックス
のリップ開度測定装置の側面図である。 図の主要部分の説明 ・−・−スライスルーフ ３ ・ 一超音波送受信器 １１ ・−送信器 １４ 測定演算装置 １６ エプロン 温度測定装置 受信器 演算装置 超音波送信器 受信器 実用新案登録出願人
Claims (1)
- 抄紙機のヘッドボックスにおいて、スライスルーフの
上面及び／又はエプロン下面に配設された１個以上の超
音波送信器と同受信器、又は超音波送受信器と、同送信
器と同送受信器の各々に高周波インパルスを与える送信
器と、前記受信器又は送受信器が受けた超音波反射エコ
ーの信号と、前記送信器からの信号から伝播距離を演算
する手段からなることを特徴とするリップ開度測定装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23938190A JPH04119189A (ja) | 1990-09-10 | 1990-09-10 | リップ開度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23938190A JPH04119189A (ja) | 1990-09-10 | 1990-09-10 | リップ開度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04119189A true JPH04119189A (ja) | 1992-04-20 |
Family
ID=17043938
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23938190A Pending JPH04119189A (ja) | 1990-09-10 | 1990-09-10 | リップ開度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04119189A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5760416A (en) * | 1995-10-11 | 1998-06-02 | Konica Corporation | Radiographic image information reading apparatus |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01156589A (ja) * | 1987-12-09 | 1989-06-20 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | スライスリップ自動矯正装置 |
-
1990
- 1990-09-10 JP JP23938190A patent/JPH04119189A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01156589A (ja) * | 1987-12-09 | 1989-06-20 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | スライスリップ自動矯正装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5760416A (en) * | 1995-10-11 | 1998-06-02 | Konica Corporation | Radiographic image information reading apparatus |
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