JPH04112583A - Manufacture of sic blue light-emitting diode - Google Patents

Manufacture of sic blue light-emitting diode

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JPH04112583A
JPH04112583A JP2230589A JP23058990A JPH04112583A JP H04112583 A JPH04112583 A JP H04112583A JP 2230589 A JP2230589 A JP 2230589A JP 23058990 A JP23058990 A JP 23058990A JP H04112583 A JPH04112583 A JP H04112583A
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JP
Japan
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type
blue light
substrate
layer
thickness
Prior art date
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Application number
JP2230589A
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Japanese (ja)
Inventor
Yuichiro Fujiwara
雄一郎 藤原
Masatoshi Kanetani
正敏 金谷
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
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Publication date
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Publication of JPH04112583A publication Critical patent/JPH04112583A/en
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Abstract

PURPOSE:To improve the efficiency of extraction of blue light by reducing absorption in an N-type substrate of blue light emission. CONSTITUTION:The thickness (a) of an N-type layer 2 extends from 0.5mum to 20mum in either case. An N-type substrate 1 is removed until thickness (c) reaches 30mum. The substrate 1 may be taken off completely. 50mum or more are required for handling a sample because 50mum or more are needed as the total thickness a+b+c of the N-type substrate 1 and the N-type layer 2 and a P-type layer 3. However, 1mum or more are required as (b) for efficiently injecting currents. These diodes are manufactured through processes in which the N-type layer 2 is homoepitaxial-grown on the N-type substrate 1, the P-type layer 3 is homoepitaxial-grown on the layer 2, one part or the whole of the N-type substrate 1 is removed and electrodes 4, 5 are formed. Accordingly, an SiC blue light-emitting diode having the high efficiency of extraction of blue light can be manufactured.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、SiC青色発光ダイオードの製造方法に関す
るものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a method of manufacturing a SiC blue light emitting diode.

(従来の技術) 6H型5iC(以下、5iC)はバンドギャップが約3
.0エレクトロンボルトで、p−n両!気伝導型の制御
が容易であることから、青色発光ダイオード用材料とし
て期待されている。
(Prior art) 6H type 5iC (hereinafter referred to as 5iC) has a band gap of approximately 3
.. 0 electron volts, p-n both! It is expected to be used as a material for blue light emitting diodes because it is easy to control gas conductivity.

SiC青色発光ダイオードは、Journal Of’
ApP1ied Physics 53巻6962頁(
1982年)の報告例の通り、pn接合のn型エピタキ
シャル成長層で発光していることが知られている。さら
にIEBE TRANSACTIONS ON ELB
CTRON DBVICBS BD−30巻277頁(
1983年)で、アルミニウムドープp型SiCとアン
ドープn型SiCとでは、アルミニウムドープp型Si
Cの方が青色光の透過率が低いことが報告されている。
SiC blue light emitting diode, Journal Of'
ApP1ied Physics Volume 53, Page 6962 (
As reported in 1982), it is known that light is emitted from an n-type epitaxial growth layer of a pn junction. Further IEBE TRANSACTIONS ON ELB
CTRON DBVICBS BD-30 volume 277 (
(1983), aluminum-doped p-type SiC and undoped n-type SiC are different from aluminum-doped p-type SiC.
It has been reported that C has lower blue light transmittance.

これらの点から、アルミニウムドープn型SiC単結晶
基板(以下、n型SiC単結晶基板をp型基板という)
を用いたSiC青色発光ダイオードの構造の一例として
、第2図(a ’)に示すように、アルミニウムドープ
p型基板6上にア・ルミニウムドープp型ホモエピタキ
シャル成長層(以下、p型ホモエピタキシャル成長層を
p型層という)3、窒素1ヘ一ブn型ホモエピタギシヤ
ル成長層(以下、n型ホモエピタキシャル成長層を1型
層という)2を順次ポモエビタキシャル成長させて、か
つpサイドダウン・nサイトアップ方式で紹み立てるも
のが知られている。なお、4はT】型電極、5はp型電
極である。この構造では、青色発光層であるn型層2が
最表面であるため、表面から青色光を取り出す場合、青
色光がn型層3やn型基板6に吸収されず、高い光取り
出し効率が期待される。前記のように、アルミニウムト
ープp型SiCの青色光の透過率が低いことにより、第
2図(b)のようなnサイドダウン・nサイトアップ方
式で組み立てることは好ましくない。
From these points, aluminum-doped n-type SiC single crystal substrate (hereinafter, n-type SiC single crystal substrate is referred to as p-type substrate)
As an example of the structure of a SiC blue light emitting diode using an aluminum doped p-type homoepitaxial growth layer (hereinafter referred to as a p-type homoepitaxial growth layer), as shown in FIG. (hereinafter referred to as a p-type layer) 3, an n-type homoepitaxially grown layer (hereinafter, an n-type homoepitaxially grown layer is referred to as a 1-type layer) 2 in nitrogen 1, and a p-side down layer. It is known that the site is introduced using the n-site up method. Note that 4 is a T] type electrode and 5 is a p type electrode. In this structure, since the n-type layer 2, which is a blue light emitting layer, is the outermost surface, when blue light is extracted from the surface, the blue light is not absorbed by the n-type layer 3 or the n-type substrate 6, resulting in high light extraction efficiency. Be expected. As mentioned above, since the blue light transmittance of aluminum-topped p-type SiC is low, it is not preferable to assemble it in the n-side-down/n-site-up method as shown in FIG. 2(b).

しかしながら、電気学会電子材料研究会資料EFill
−88−2423頁(1988年9月)など、n型基板
作成を目的としたp型SiCバルク単結晶成長の報告例
はあるものの、実際にはn型基板は供給されておらず、
入手困難である。したがって、第2図(a)のような構
造のSiC青色発光ダイオードを安定して製造すること
は難しい。
However, the Institute of Electrical Engineers of Japan Electronic Materials Study Group material EFill
Although there are reports on p-type SiC bulk single crystal growth for the purpose of creating n-type substrates, such as p.-88-2423 (September 1988), no n-type substrates have actually been supplied.
It is difficult to obtain. Therefore, it is difficult to stably manufacture a SiC blue light emitting diode having the structure shown in FIG. 2(a).

入手し得るSiC単結晶基板としては、アチソン法によ
るアンドープn型SiC単結晶があげられる。第3図に
示すように、n型SiC単結晶基板(以下、n型基板と
いう)1を用いて、窒素ドープn型層2、アルミニウI
3ドープp型層3を順次ホモエピタキシャル成長させて
青色発光ダイオドを製造した場合、同図(a)のように
pサイドダウン・nサイトアップ方式で、または同図(
b)のようにnサイドダウン・nサイトアップ方式で組
み立てる。エレクトロニクス1989年5月号25頁に
は、n型基板を用いたn型層厚3〜5μm、p型層厚6
〜13μmの青色発光ダイオードが報告されており、p
サイトダウン方式にするとnサイトアップ方式よりも青
色光の取り出し効率が70〜8096向上すると報告さ
れている。その理由は同文献では説明されていないが、
前記18EE TRANSACTIONS ON BL
ECTRON DBVICES BD−30巻277頁
(1983年)の報告を考慮すると、nサイトアップ方
式の場合、表面のn型層3に青色光の一部が吸収されて
しまうことも理由の一つである。しかしながら、アンド
ープn型SiC単結晶ても青色光の透過率が100%と
いうことは無く、青色光の一部は吸収されてしまう。し
たがって、光取り出し効率が向上したと報告されている
第3図(a)のpサイドダウン方式のダイオードであっ
ても、n型基板1部分が厚ければ厚いほどそこで青色光
が吸収される度合いが高くなり、それが青色光取り出し
効率低下の一因となる。
An example of an available SiC single crystal substrate is an undoped n-type SiC single crystal produced by the Acheson method. As shown in FIG.
When a blue light emitting diode is manufactured by sequentially homoepitaxially growing the 3-doped p-type layer 3, it can be grown by the p-side-down/n-site-up method as shown in Figure (a), or by the p-side down/n-site up method as shown in Figure (a).
Assemble using the n side down/n site up method as shown in b). On page 25 of the May 1989 issue of Electronics, an n-type layer thickness of 3 to 5 μm and a p-type layer thickness of 6 μm using an n-type substrate are described.
~13 μm blue light emitting diodes have been reported, with p
It is reported that the site-down method improves blue light extraction efficiency by 70 to 8096 points compared to the n-site up method. The reason for this is not explained in the same document, but
Said 18EE TRANSACTIONS ON BL
Considering the report in ECTRON DBVICES BD-30, page 277 (1983), one of the reasons is that in the case of the n-site up method, part of the blue light is absorbed by the n-type layer 3 on the surface. . However, even in an undoped n-type SiC single crystal, the transmittance of blue light is not 100%, and a portion of the blue light is absorbed. Therefore, even with the p-side down type diode shown in Figure 3(a), which is reported to have improved light extraction efficiency, the thicker the n-type substrate 1, the more blue light is absorbed there. becomes high, which is one of the causes of a decrease in blue light extraction efficiency.

したがって、アンドープn型基板を用いてpサイドダウ
ン方式にする場合、n型エピタキシャル成長層からの青
色発光のn型基板での吸収を低減することが望まれる。
Therefore, when using the p-side down method using an undoped n-type substrate, it is desirable to reduce absorption of blue light emitted from the n-type epitaxial growth layer by the n-type substrate.

(発明が解決しようとする課題) 本発明は、n型基板を用いたSiC青色発光ダイオード
において、n型エピタキシャル成長層からの青色発光の
n型基板での吸収を低減することによって青色光の取り
出し効率を向上させることのできるSiC青色発光ダイ
オードの製造方法を提供する。
(Problems to be Solved by the Invention) The present invention provides a SiC blue light emitting diode using an n-type substrate, which improves the efficiency of blue light extraction by reducing the absorption of blue light emitted from the n-type epitaxial growth layer by the n-type substrate. Provided is a method for manufacturing a SiC blue light emitting diode that can improve the performance of the SiC blue light emitting diode.

(課題を解決するための手段) 本発明は、n型SjC単結晶基板上に厚さaのn型Si
C単結晶層、厚さbのn型SiC単結晶層を下式を満足
するように順次ホモエピタキシャル成長させた後、前記
n型SiC単結晶基板を厚さCまで除去し、pサイドダ
ウン方式で組み立てることを特徴とするSiC青色発光
ダイオードの製造方法である。
(Means for Solving the Problems) The present invention provides an n-type Si substrate having a thickness a on an n-type SjC single crystal substrate.
After homoepitaxially growing a C single crystal layer and an n-type SiC single crystal layer with a thickness b in sequence so as to satisfy the following formula, the n-type SiC single crystal substrate was removed to a thickness C, and a p-side down method was applied. This is a method of manufacturing a SiC blue light emitting diode, which is characterized by assembling the SiC blue light emitting diode.

但し、0.5μm≦a≦20μm 1μm≦b Oμm≦c≦30μm 5(Iμm≦a十b+c (り用) 以下、本発明を図面を用いて詳細に説明する。However, 0.5μm≦a≦20μm 1μm≦b Oμm≦c≦30μm 5 (Iμm≦a+b+c (for Ri) Hereinafter, the present invention will be explained in detail using the drawings.

第1図(a)、(b)は本発明の実施態様を示す青色発
光ダイオードの断面図で、1はn型基板、2は窒素ドー
プn型層、3はアルミニウムドープト型層である。図中
の矢印は、n型層2から外部に取り出される青色光であ
る。n型層2の厚さaはいずれも0.5μm以上20μ
m以下である。
FIGS. 1(a) and 1(b) are cross-sectional views of a blue light emitting diode showing an embodiment of the present invention, in which 1 is an n-type substrate, 2 is a nitrogen-doped n-type layer, and 3 is an aluminum-doped layer. The arrows in the figure indicate blue light extracted from the n-type layer 2 to the outside. The thickness a of the n-type layer 2 is 0.5 μm or more and 20 μm in both cases.
m or less.

0.5μm未満の場合、薄すぎて注入された電流の一部
が正孔・電子の再結合に寄与できず、効率よく発光が行
われない。20μmを超えると、超えた部分は正孔・電
子の再結合に寄与できず、逆に青色光を吸収して光取り
出し効率を低下させてしまう。n型基板1の厚さCは同
図(a)のように30μmまで除去する。さらには同図
(b)のように0μm、すなわち完全に取り除いてもよ
い。
If it is less than 0.5 μm, it is too thin and a part of the injected current cannot contribute to the recombination of holes and electrons, resulting in inefficient light emission. If the thickness exceeds 20 μm, the excess portion cannot contribute to the recombination of holes and electrons, and conversely absorbs blue light, reducing light extraction efficiency. The thickness C of the n-type substrate 1 is removed to 30 μm as shown in FIG. Furthermore, as shown in FIG. 4(b), the thickness may be 0 μm, that is, it may be completely removed.

30μm以下とすることにより青色光の透過率が向上し
、光取り出し効率が高くなる。n型基板l・n型層2・
n型層3の合計の厚さa+b+cを50μm以上必要と
するのは、液相エピタキシャル成長以降の工程での試料
の取扱に50μm以上必要なためである。したがって、
同図(b)では、たとえばaが0.5μmならbは49
.5μm以上、aが20μmならbは30μm以上あれ
ばよい。但し、効率よく電流を注入するため、bは1μ
m以上必要である。これらの青色発光ダイオードは、同
図(a)の場合、表面のn型基板lの厚さCが30μm
以下であるため青色光の透過率が高く、同図(b)の場
合、n型層2が最表面にあるためn型基板1による吸収
が無く、いずれも青色光の取り出し効率が高い。
When the thickness is 30 μm or less, the transmittance of blue light is improved and the light extraction efficiency is increased. n-type substrate l・n-type layer 2・
The reason why the total thickness a+b+c of the n-type layer 3 is required to be 50 μm or more is because 50 μm or more is required for handling the sample in the steps after liquid phase epitaxial growth. therefore,
In the same figure (b), for example, if a is 0.5 μm, b is 49
.. If a is 20 μm, then b is 30 μm or more. However, in order to inject the current efficiently, b is 1μ.
m or more is required. In the case of these blue light emitting diodes in the same figure (a), the thickness C of the n-type substrate l on the front surface is 30 μm.
The transmittance of blue light is high because it is below, and in the case of FIG. 3B, since the n-type layer 2 is on the outermost surface, there is no absorption by the n-type substrate 1, and the blue light extraction efficiency is high in both cases.

これらのダイオードは、n型基板I上へのn型層2のホ
モエピタキシャル成長、さらにその上へのn型層3のホ
モエピタキシャル成長、n型基板lの一部あるいは全部
除去、電極4.5の形成の工程を経て製造される。
These diodes are manufactured by homoepitaxial growth of an n-type layer 2 on an n-type substrate I, further homoepitaxial growth of an n-type layer 3 thereon, removal of part or all of the n-type substrate I, and formation of an electrode 4.5. It is manufactured through the process of

n型層2、n型層3のホモエピタキシャル成長には、た
とえばJournal of Applied Phy
sics 47巻4546頁(1976年)に報告され
ているような液相エピタキシャル成長法を用いるのが最
も一般的である。これは、黒鉛製るつぼ内で珪素を融解
させて炭素飽和させ、その融液の低温部にSiC基板を
浸漬する方法である。n型層2成長時には、窒化珪素を
珪素中に添加することによって窒素をドナーとするn型
層が得られる。p型層3成長時には、アルミニウムを珪
素中に添加することによってアルミニウムをアクセプタ
ーとするp型層が得られる。但し、SiC青色発光ダイ
オードの青色発光は、ドナー・アクセプタ一対による発
光が支配的であるため、n型層2成長時には、窒化珪素
だけでなくアルミニウムも電気伝導型を逆転させない範
囲内で珪素中に添加する。
For homoepitaxial growth of the n-type layer 2 and n-type layer 3, for example, Journal of Applied Phys.
It is most common to use a liquid phase epitaxial growth method as reported in Vol. 47, p. 4546 (1976). This is a method in which silicon is melted in a graphite crucible to saturate it with carbon, and a SiC substrate is immersed in the low temperature part of the melt. When growing the n-type layer 2, an n-type layer using nitrogen as a donor can be obtained by adding silicon nitride into silicon. When growing the p-type layer 3, a p-type layer with aluminum as an acceptor can be obtained by doping aluminum into silicon. However, since the blue light emission of a SiC blue light emitting diode is dominated by light emission by a donor-acceptor pair, when growing the n-type layer 2, not only silicon nitride but also aluminum is added to the silicon within a range that does not reverse the electrical conductivity type. Added.

液相エピタキシャル成長法においては、SiC基板を安
定して保持する必要があるため、−殻内には液相エピタ
キシャル成長する時点ではSiC基板は数百μm以上の
厚さで用いられる。したがって、n型基板1上にn型層
2を0.5μm以上20μm以下、n型層3をIum以
上、順次ホモエピタキシャル成長させてpn結合を形成
した後、n型基板lが30μm以下になるまでその一部
あるいは全部を取り除く必要がある。その方法としては
研磨を用いるが、エツチングを用いてもよく、両者を併
用してもよい。
In the liquid phase epitaxial growth method, it is necessary to stably hold the SiC substrate, so the SiC substrate used has a thickness of several hundred μm or more at the time of liquid phase epitaxial growth inside the shell. Therefore, after sequentially homoepitaxially growing the n-type layer 2 on the n-type substrate 1 with a thickness of 0.5 μm or more and 20 μm or less, and the n-type layer 3 with a thickness of Ium or more to form a pn bond, until the n-type substrate l becomes 30 μm or less. Some or all of it needs to be removed. Polishing is used as the method, but etching may also be used, or both may be used in combination.

研磨はダイヤモンド研磨材、炭化ホウ素研磨材などを用
いた研磨装置によって行うことができる。
Polishing can be performed using a polishing device using a diamond abrasive, a boron carbide abrasive, or the like.

SiCは硬度が大きいため、使用し得る研磨材・研磨装
置が限定されるが、適当な研磨材・研磨装置を選択する
ことにより30μm以下に精度よく研磨することができ
る。
Since SiC has a high hardness, the polishing materials and polishing devices that can be used are limited, but by selecting an appropriate polishing material and polishing device, it can be polished to a thickness of 30 μm or less with high precision.

エツチングは、たとえば Journal of Ap
pliedPhysics 48巻4831頁(197
7年)に報告されているようなエツチングガスを用いる
方法が適用可能である。
Etching, for example, Journal of Ap
pliedPhysics Volume 48, Page 4831 (197
A method using an etching gas such as that reported in 1997 is applicable.

なお、第1図(b)のようにn型基板lを完全に除去す
る場合には、基板の電気伝導型はn型である必要はない
Note that when the n-type substrate l is completely removed as shown in FIG. 1(b), the electrical conductivity type of the substrate does not need to be n-type.

n型層2の厚さaは、0.5μm以上20μm以下の範
囲内で得られるn型層2の性質(不純物濃度、青色光の
透過率、拡散長など)などから決定される最適厚さにす
ればよい。但し、第1図(b)のようにn型基板1を完
全に除去する場合には、研磨の精度、エツチングの精度
次第ではn型層2を厚めに成長させておくことが望まし
い。
The thickness a of the n-type layer 2 is an optimal thickness determined from the properties of the n-type layer 2 (impurity concentration, blue light transmittance, diffusion length, etc.), which is within the range of 0.5 μm or more and 20 μm or less. Just do it. However, when the n-type substrate 1 is completely removed as shown in FIG. 1(b), it is desirable to grow the n-type layer 2 thicker depending on the accuracy of polishing and etching.

n型層3の厚さbは、1μm以上という条件、および全
体の厚さ50μm以上という条件から決定される必要最
低限の厚さ以上であればよい。但し、厚すぎるとn型層
3の抵抗率次第ではダイオードが高抵抗化して駆動電圧
が高くなってしまう、n型層3の成長に長時間を要する
などの問題が生じろ。以上を考慮すると、全厚は100
μW程度が適当である。
The thickness b of the n-type layer 3 may be at least the minimum necessary thickness determined from the conditions of 1 μm or more and the overall thickness of 50 μm or more. However, if it is too thick, depending on the resistivity of the n-type layer 3, problems may occur, such as the diode becoming highly resistive and the drive voltage becoming high, and the growth of the n-type layer 3 taking a long time. Considering the above, the total thickness is 100
Approximately μW is appropriate.

n型電極4どしては公知のニッケル、n型電極5として
は公知のアルミニウムーシリコン合金を用いることがで
きる。
For the n-type electrodes 4 and the like, well-known nickel can be used, and for the n-type electrode 5, a well-known aluminum-silicon alloy can be used.

上記のような青色発光ダイオ−1ζに、n型電極5側を
プラス、n型電極4側をマイナスとして電流を流すとn
型層2から青色光が発せられる。青色光は第1図(a)
、(b)中の矢印のようにn型層2から外部に取り出さ
れるので、同図(a)の場合は表面のn型基板1が薄い
ほど、さらには同図(b)のようにn型基板1が完全に
除去されていればそれ以上に光取り出し効率を高(する
ことができる。
When a current is passed through the above blue light emitting diode 1ζ with the n-type electrode 5 side set as positive and the n-type electrode 4 side set as negative, n
Blue light is emitted from the mold layer 2. Blue light is shown in Figure 1 (a)
, (b), the thinner the n-type substrate 1 on the front surface is, the more n If the mold substrate 1 is completely removed, the light extraction efficiency can be further increased.

(実施例) 実施例を第1図を用いて説明する。(Example) An example will be explained using FIG. 1.

以下に述べるように、青色発光ダイオードを製造した。A blue light emitting diode was manufactured as described below.

n型基板1としてアチソン法によるSiC単結晶を厚さ
1mmに平行平板化したものを用いた。n型層2、n型
層3のホモエピタキシャル成長には前記の液相エピタキ
シャル法を用いた。
As the n-type substrate 1, a SiC single crystal made by the Acheson method and made into a parallel flat plate with a thickness of 1 mm was used. The above liquid phase epitaxial method was used for the homoepitaxial growth of the n-type layer 2 and the n-type layer 3.

n型層2、n型層3のキャリア濃度は、いずれも約10
”cmぺとした。pn接合は・ ■a=5μm、   b=IOμm。
The carrier concentrations of both n-type layer 2 and n-type layer 3 are approximately 10
"cm flat.The pn junction is... ■a=5μm, b=IOμm.

■a=5.czm、   b=65μm。■a=5. czm, b=65μm.

■a=5μm、   b=85μm の三通りのものを作製し、全体の厚さは90μm一定と
なるように研磨を行った。したがって、研磨後に残って
いるn型基板Iは、 ■c−75μm1 ■c=20μm1 ■c=  0μm(完全に除去されている)となる。
(3) Three types were prepared, a=5 μm and b=85 μm, and polished so that the overall thickness was constant at 90 μm. Therefore, the n-type substrate I remaining after polishing is: (1) c - 75 μm 1 (2) c = 20 μm 1 (3) c = 0 μm (completely removed).

■は第1図(a)に、■は第1図(b)に相当し、■は
比較例である。n型電極(AI−3i)5はp型層3側
全面に形成し、n型電極(Ni)4はn型基板l側(■
の場合n型層2側)に直径100μmの円形に形成した
。電極形成後、n型電極4が中心に位置するように試料
を300μm×300μmのサイズの正方形にダイシン
グし、青色発光ダイオードチップとした。
■ corresponds to FIG. 1(a), ■ corresponds to FIG. 1(b), and ■ corresponds to a comparative example. The n-type electrode (AI-3i) 5 is formed on the entire surface of the p-type layer 3 side, and the n-type electrode (Ni) 4 is formed on the n-type substrate l side (■
(in the case of n-type layer 2 side), a circular shape with a diameter of 100 μm was formed. After forming the electrodes, the sample was diced into squares with a size of 300 μm×300 μm so that the n-type electrode 4 was located at the center to obtain a blue light emitting diode chip.

得られたダイオードチップをpサイトダウン方式、すな
わちn型電極5側を下にしてステムに固定し、円形のn
型電極4に電流注入用にボンディングワイヤーを接続し
て、n型電極5側をプラス、n型電極4側をマイナスと
して20mAの電流を流して青色発光させ、チップ上面
で発光光度を測定した。その結果、 ■の場合、取り出された青色光の強度が比較例■の1.
6〜2,0倍、 ■の場合、取り出された青色光の強度が比較例■の2.
0〜2.4倍 であった。これは、n型基板1を薄く、あるいは除去す
ることによって、n型基板lによる青色光の吸収を低減
させ、青色光取り出し効率を高くすることができたため
である。
The obtained diode chip was fixed to the stem using the p-site down method, that is, with the n-type electrode 5 side facing down, and a circular n
A bonding wire for current injection was connected to the mold electrode 4, and a current of 20 mA was passed with the n-type electrode 5 side as positive and the n-type electrode 4 side as negative, causing blue light to be emitted, and the luminous intensity was measured on the top surface of the chip. As a result, in case (2), the intensity of the extracted blue light is 1.
In the case of 6 to 2.0 times, the intensity of the extracted blue light is 2.
It was 0 to 2.4 times. This is because by making the n-type substrate 1 thinner or removing it, absorption of blue light by the n-type substrate 1 can be reduced and blue light extraction efficiency can be increased.

(発明の効果) 以上述べたように、本発明によって、青色光の取り出し
効率の高いSiC青色発光ダイオードを製造することが
できる。
(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, a SiC blue light emitting diode with high blue light extraction efficiency can be manufactured.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図(a)、(b)は本発明のSiC青色発光ダイオ
ード製造の実施態様を示す断面図、第2図(a)、(b
)はアルミニウムドープト型基板を用いたSiC青色発
光ダイオードの構造の例を示す断面図、 第3図(a)、(b)はアンドープn型基板を用いたS
iC青色発光ダイオードの構造の例を示す断面図である
。 l・・・n型基板、2・・窒素ドープn型層、3・・・
アルミニウムドープp型層、4・・・n型電極、5・・
・n型電極、6・・・アルミニウムドープト型基板。
FIGS. 1(a) and (b) are cross-sectional views showing an embodiment of manufacturing the SiC blue light emitting diode of the present invention, and FIGS. 2(a) and (b)
) is a cross-sectional view showing an example of the structure of a SiC blue light emitting diode using an aluminum-doped substrate;
FIG. 2 is a cross-sectional view showing an example of the structure of an iC blue light emitting diode. l...n-type substrate, 2...nitrogen-doped n-type layer, 3...
Aluminum-doped p-type layer, 4...n-type electrode, 5...
- N-type electrode, 6...aluminum doped type substrate.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)n型SiC単結晶基板上に厚さaのn型SiC単
結晶層、厚さbのP型SiC単結晶層を下式を満足する
ように順次ホモエピタキシャル成長させた後、前記n型
SiC単結晶基板を厚さcまで除去し、pサイドダウン
方式で組み立てることを特徴とするSiC青色発光ダイ
オードの製造方法。 但し、0.5μm≦a≦20μm 1μm≦b 0μm≦c≦30μm 50μm≦a+b+c
(1) After sequentially homoepitaxially growing an n-type SiC single-crystal layer with a thickness a and a P-type SiC single-crystal layer with a thickness b on an n-type SiC single-crystal substrate so as to satisfy the following formula, the n-type A method for manufacturing a SiC blue light emitting diode, characterized in that a SiC single crystal substrate is removed to a thickness of c and assembled using a p-side down method. However, 0.5μm≦a≦20μm 1μm≦b 0μm≦c≦30μm 50μm≦a+b+c
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5416342A (en) * 1993-06-23 1995-05-16 Cree Research, Inc. Blue light-emitting diode with high external quantum efficiency

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