JPH04110145A - シリコーン離型紙表面の検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、粘着テープ・シートなどの粘着面に適用して
一定の離型性を保ち、軽展開性のシリコーン離型紙表面
の検査方法に関する。

（従来の技術） シリコーン離型紙は、粘着テープ・シートなどの粘着面
の一時的保護に広く使用されている。

このようなシリコーン離型紙は、粘着テープ・シートな
どの製造工程において、そのままの状態か或いはその片
面に例えば両面粘着テープ・シートを積層した状態で、
繰り出しや巻き取りが行われる。

この場合、シリコーン離型紙表面（シリコーン層の露出
面）には静電気が発生し、この帯電圧が大きくなると、
繰り出しや巻き取りの工程中にスパークが起こる。

そして、このスパークにより、離型紙表面に露出してい
るシリコーン層が破壊され、この破壊された部分（亀裂
）に粘着テープ・シートが強く貼り付き、粘着テープ・
シートの展開剥離不良、或いは基材や離型紙の破れが発
生ずることがある。

離型紙表面のシリコーン層が破壊されているか否かは、
単にシリコーン層を目視するだけでは判定することが困
難である。そこで、シリコーン層の簡便な検査方法とし
て、一般に離型紙表面のシリコーン層面にフェルトペン
等によるカラーインキを塗布して、その破壊部分の有無
を判定する方法が採用されている。

すなわら、シリコーン層に破壊部分があると、その破壊
部分はカラーインキを弾かなくなるので（平滑な無破壊
部分はカラーインキを弾く）、それによりシリコーン層
の破壊部分の有無が判定される。

（発明が解決しようとする課題） ところが、上記従来のカラーインキによる検査方法にあ
っては、シリコーン層の大きな破壊部分や塗工不良部分
等の欠陥は検知できるが、微弱なスパークによる微小な
破壊部分や塗工不良部分等の欠陥は検知できないという
欠点がある。

本発明は、上記従来の欠点を解決するものであり、その
目的とするところは、放電によって生ずる離型紙表面の
シリコーン層の微小な破壊部分や塗工不良部分等の欠陥
をも検知することのできるシリコーン離型紙表面の検査
方法を提供することにある。

（課題を解決するための手段） 本発明のシリコーン離型紙表面の検査方法は、シリコー
ン離型紙表面のシリコーン層面に微粉末を散布してシリ
コーン層の欠陥部分に微粉末を侵入させ、余剰の微粉末
を除去することによりシリコーン層の欠陥部分の有無を
判定することを特徴とする。

（作用） 離型紙表面のシリコーン層面に微粉末を散布して余剰の
微粉末を除去すると、シリコーン層に破壊（亀裂）や塗
工不良等の欠陥が生じている場合は、この欠陥部分の微
小な部分にも微粉末が侵入する。

この欠陥部分に侵入した微粉末は弾きもなく、また欠陥
のない平滑部分に付着した微粉末のように簡単には除去
されない。そして、欠陥部分の微粉末は、例えば亀裂に
沿って分岐した筋状の破壊模様を呈し容易に視認ができ
るので、それによりシリコーン層の大から微小に至る全
ての欠陥部分の有無が簡単に判定される。

（実施例） 以下、本発明方法を、実施態様によって説明する。

シリコーン離型紙は、一般にシリコーン層／紙／シリコ
ーン層、或いはシリコーン層／ポリエチレン層／紙／ポ
リエチレン層／シリコーン層で構成されている。

このような離型紙表面のシリコーン層に散布される微粉
末としては、無機質及び有機質のいずれでもよ（、その
平均粒径は、一般に１〜１５μｍ好ましくは約５μｍ程
度のものが用いられる。また、この微粉末は視認し易い
ように着色されているものが好ましい。このような微粉
末としては、電子複写機に用いられているカーボンブラ
ック含有のトナーが好適である。

離型紙のシリコーン層面に上記のような微粉末を散布す
るには、ガーゼや柔らかい刷毛に微粉末を付着させ、こ
れを離型紙のシリコーン層面に軽く叩くようにして微粉
末を落とす方法、或いは離型紙のシリコーン層面に微粉
末を噴霧する方法が好適に採用される。

このようにして散布された微粉末のうち余剰の微粉末、
即ち破壊部分に侵入した微粉末以外の平滑な無破壊部分
に存在する微粉末を除去するには、ガーゼや柔らかい刷
毛で伸ばすように微粉末の散布面を軽く拭く方法、或い
はノズルから空気を吹き付ける方法が好適に採用される
。

破壊部分の微粉末は、上記の方法では除去されず亀裂に
侵入した状態で残っており、これを視認することにより
シリコーン層の全ての破壊部分の有無が簡単に判定され
る。

（発明の効果） 上述の通り、本発明の検査方法は、シリコーン離型紙表
面のシリコーン層面に微粉末を散布してシリコーン層の
欠陥部分に微粉末を侵入させ、余剰の微粉末を除去する
ことによりシリコーン層の欠陥部分の有無を判定するも
のであるから、微小な欠陥部分にも微粉末がよく侵入す
る。それゆえ、従来のカラーインキを塗布する検査方法
に較べ、放電により破壊されたシリコーン層の微小な傷
や塗工不良部分も検出することができ、その欠陥状況を
正確に知ることができる。

したがって、本発明は、シリコーン離型紙の製造やシリ
コーン離型紙を用いる粘着テープ・シートの製造などに
おいて、その工程管理や品質管理に有用である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、シリコーン離型紙表面のシリコーン層面に微粉末を
   散布してシリコーン層の欠陥部分に微粉末を侵入させ、
   余剰の微粉末を除去することによりシリコーン層の欠陥
   部分の有無を判定することを特徴とするシリコーン離型
   紙表面の検査方法。