JPH04107948A - Semiconductor chip jig - Google Patents

Semiconductor chip jig

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Publication number
JPH04107948A
JPH04107948A JP2225060A JP22506090A JPH04107948A JP H04107948 A JPH04107948 A JP H04107948A JP 2225060 A JP2225060 A JP 2225060A JP 22506090 A JP22506090 A JP 22506090A JP H04107948 A JPH04107948 A JP H04107948A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
jig
semiconductor chip
thin plate
chips
fitted
Prior art date
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Pending
Application number
JP2225060A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takao Kikuchi
菊池 隆雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2225060A priority Critical patent/JPH04107948A/en
Publication of JPH04107948A publication Critical patent/JPH04107948A/en
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE:To make inspection easy by constituting an apparatus in such manner that the apparatus is composed of a jig body having a part-mounting hole, a thin plate formed from a transparent material and a holding member for holding the thin plate and the lower part of the jig body comes into contact with the thin plate and the holding member is fitted to hold the thin plate in the jig body. CONSTITUTION:A semiconductor chip jig is composed of a body 1, thin plate 2 and stopper 3. The principal plane of the body 1 is provided with holes 4 for mounting semiconductor chips being a plurality of parts and respective holes 4 are divided by partitions 5. A part constituting a frame is formed on the surface on the side opposite to that of the surface where the holes 4 are formed, and the thin plate 2 being a transparent material composed of quartz, glass or plastic is fitted in that part. A stopper 3 forming the holding member of this thin plate 2 is further mounted under the thin plate 2. The stopper 3 is formed in the manner of corresponding to the part being to form the frame and holds the thin plate 2 by elastic force when it is fitted. Thus, even after the semiconductor chips have been mounted on the jig, the occurrence of a crack, breaking, etc., can be inspected from the rear surface of the semiconductor chip jig.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置の製造および出荷に使用する治具に
係り、特に半導体チップを載せる治具に適用して有効な
技術に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a jig used for manufacturing and shipping semiconductor devices, and particularly to a technique that is effective when applied to a jig for mounting a semiconductor chip.

〔従来の技術1 一般に半導体装置の製造において、半導体チップをベレ
ントボンデイングのために一時的に治具に搭載すること
がある。また製造の出荷形態としても半導体チップのま
ま治具に搭載し出荷することがある。
[Prior Art 1] Generally, in the manufacture of semiconductor devices, semiconductor chips are sometimes temporarily mounted on a jig for verent bonding. Further, as a manufacturing and shipping form, semiconductor chips may be mounted on a jig and shipped as they are.

このようなものには通常ヘークライト等で形成された有
色の治具が使用されることが一般的である。
Colored jigs made of hakelite or the like are generally used for such items.

半導体装置用の治具を示したものとして特開昭58−1
11339号がある。
Unexamined Japanese Patent Publication No. 58-1 showing a jig for semiconductor devices
There is No. 11339.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかし、上記したような半導体チップ用の治具において
は有色であるため、半導体チップが搭載されその半導体
チップに割れや欠けがあった場合においては発見するこ
とは難しい。また上記したような割れ、欠けがあった場
合には治具内に搭載された半導体チップがずれている場
合が多いため、目視によって搭載された状態を観察し、
回りのものと異なった状態に有るものを選びだし裏面を
チエツクする方法も有るが、確実に割れ、欠けを発見す
ることはてきない。また仮りに割れ、欠は発生している
半導体チップの多い治具は発見てきない割れ、欠けが多
数あると見込み全数取りだし検査する二とも一つの良い
方法であるが作業量が増えるとともに結局再度治具に搭
載し直す必要があり、その時点で再度割れ、欠けが発生
する可能性がある。従って、現状の治具では完全に割れ
、欠けの半導体チップを探しだし確実に排除することは
不可能である。
However, since the jig for semiconductor chips as described above is colored, it is difficult to detect cracks or chips when a semiconductor chip is mounted on the semiconductor chip. In addition, if there are cracks or chips as mentioned above, the semiconductor chip mounted in the jig is often misaligned, so visually observe the mounted state.
There is also a method of selecting items that are in a different state from the surrounding items and checking the back side, but this does not guarantee that cracks or chips will be found. In addition, if a jig has many semiconductor chips with cracks or chips, it is likely that there are many undetected cracks or chips, so taking out all the chips and inspecting them is a good method. It will need to be reloaded onto the tool, at which point it may crack and chip again. Therefore, with the current jigs, it is impossible to find and reliably eliminate completely cracked or chipped semiconductor chips.

本発明の目的はこのような半導体チップの割れ、欠けを
治具から取りだすことなしに検査可能とする半導体チッ
プ装置用治具を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a jig for a semiconductor chip device that allows inspection of cracks and chips in a semiconductor chip without removing the chip from the jig.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本願において開示される発明のうち代表的なものの手段
を説明すれば下記の通りである。
Representative means of the invention disclosed in this application will be described below.

すなわち、半導体チップ等の部品搭載用穴部を有する治
具本体と透明材料で形成された低級と前記低板を保持す
る保持部材からなり、前記治具本体の下部に前記低級を
当接し、その低板を前記治具本体に保持するように嵌め
込まれた保持部材とからなる半導体チップ用治具である
。また半導体チップ等の部品搭載用穴部を有する半導体
チップ用治具において、前記治具は透明材料にて形成さ
れてなる半導体チップ用治具である。
That is, it consists of a jig main body having a hole for mounting components such as semiconductor chips, a lower plate made of a transparent material, and a holding member for holding the lower plate. This jig for semiconductor chips includes a holding member fitted to hold a lower plate in the jig main body. Further, in a jig for a semiconductor chip having a hole for mounting a component such as a semiconductor chip, the jig is a jig for a semiconductor chip formed of a transparent material.

〔イ乍用〕[For use]

上記した手段によれば透明材料を用いて半導体チップ用
治具が形成されているため、半導体チップの割れ、欠け
を半導体チップを治具より取り出さず検査することがで
きる。
According to the above-mentioned means, since the semiconductor chip jig is formed using a transparent material, it is possible to inspect the semiconductor chip for cracks or chips without removing the semiconductor chip from the jig.

〔実施例1〕 第1図は本発明の第1の実施例である半導体チップ用治
具の下面を示した正面図、第2図は第1図に示した半導
体チップ用治具の分解した場合の部品構成を示す側面図
である。
[Example 1] Fig. 1 is a front view showing the bottom surface of a semiconductor chip jig according to the first embodiment of the present invention, and Fig. 2 is an exploded view of the semiconductor chip jig shown in Fig. 1. FIG.

第1図および第2図に示したように本実施例においては
半導体チップ用治具は本体1と低板2およびストッパー
3からなっている。
As shown in FIGS. 1 and 2, in this embodiment, the semiconductor chip jig consists of a main body 1, a lower plate 2, and a stopper 3.

本体1はその主面に複数の部品である半導体チップを搭
載するための穴部4が設けられ、仕切り5により各穴部
4は仕切られている。この本体10穴部4の形成面と反
対の方向には枠となる部分が形成され、石英、ガラスあ
るいはプラスチックからなる透明材料である低板2が嵌
め込まれるようになっている。この低板2を嵌め込み保
持するだめの保持部材となるストッパー3がさらにこの
低板2下に取付けられる。このストッパー3は枠となる
べき部分に対応して形成され、嵌め込まれている時には
弾性力により低板2を保持している。
The main surface of the main body 1 is provided with holes 4 for mounting semiconductor chips as a plurality of components, and each hole 4 is separated by a partition 5. A frame portion is formed in the direction opposite to the surface of the main body 10 in which the hole portion 4 is formed, into which a lower plate 2 made of a transparent material made of quartz, glass, or plastic is fitted. A stopper 3 serving as a holding member for fitting and holding the low plate 2 is further attached below the low plate 2. This stopper 3 is formed to correspond to the part that is to become the frame, and when fitted, holds the lower plate 2 by elastic force.

本実施例によれば、半導体チップを治具に搭載した後で
も割れ、欠は等の発生を半導体チップ用治具の裏面から
検査することができる。また本実施例によれば、治具の
分解が可能どなるので半導体チップの搭載部の汚れを簡
単に排除することが可能となる。
According to this embodiment, even after the semiconductor chip is mounted on the jig, it is possible to inspect the occurrence of cracks, chips, etc. from the back side of the jig for semiconductor chips. Further, according to this embodiment, since the jig can be disassembled, it is possible to easily remove dirt from the mounting portion of the semiconductor chip.

〔実施例2〕 第3図は本発明の第2の実施例である半導体チップ用治
具を示した分解側面図である。
[Embodiment 2] FIG. 3 is an exploded side view showing a semiconductor chip jig according to a second embodiment of the present invention.

第3図に示したように本発明においては半導体チップ用
治具は第1の実施例に示したような仕切り8により仕切
られた半導体チップ搭載用穴部9を複数有する本体6と
石英、ガラスあるいはプラスチック等からなる透明部材
から形成された低板部材7からなる。
As shown in FIG. 3, in the present invention, the semiconductor chip jig includes a main body 6 having a plurality of semiconductor chip mounting holes 9 separated by partitions 8 as shown in the first embodiment, and a quartz or glass substrate. Alternatively, the lower plate member 7 may be formed from a transparent member made of plastic or the like.

・本体6の下部には低板部材7が嵌め込まれ治具低級を
形成するとともに弾性変形することにより本体6に保持
されている。
- A lower plate member 7 is fitted into the lower part of the main body 6 to form a lower jig and is held by the main body 6 by being elastically deformed.

本実施例においても、第1の実施例と同様に治具の分解
が可能となるので半導体チップ搭載部の汚れを簡単に排
除することが可能となる。
In this embodiment as well, as in the first embodiment, the jig can be disassembled, making it possible to easily remove dirt from the semiconductor chip mounting area.

〔実施例3〕 第4図は本発明の第3の実施例である半導体チップ用治
具を示した側面図である。
[Embodiment 3] FIG. 4 is a side view showing a semiconductor chip jig according to a third embodiment of the present invention.

本実施例においては半導体チップ用治具10は主面に半
導体チップ搭載用穴部12が複数に形成されるとともに
底抜部11もプラスチックにより一体成形されたもので
ある。
In this embodiment, the semiconductor chip jig 10 has a plurality of semiconductor chip mounting holes 12 formed on its main surface, and the bottomed out part 11 is also integrally molded of plastic.

本実施例によれば一体成形により製造することができる
ため安価に治具を供給することができる。
According to this embodiment, since it can be manufactured by integral molding, the jig can be supplied at low cost.

〔実施例4〕 第5図は本発明の第4の実施例である半導体チップ用治
具を示した図である。第5図に示したように本実施例に
おいては、透明部材で形成され主面に複数形成された半
導体チップ搭載用穴部を有する治具本体11とその上面
を覆うだめの蓋14からなる。治具本体11については
第3の実施例に示したものと同等なものを用いることが
できる。
[Embodiment 4] FIG. 5 is a diagram showing a semiconductor chip jig according to a fourth embodiment of the present invention. As shown in FIG. 5, in this embodiment, the jig body 11 is made of a transparent member and has a plurality of semiconductor chip mounting holes formed on its main surface, and a lid 14 that covers the top surface of the jig body 11. As for the jig main body 11, the same one as shown in the third embodiment can be used.

本実施例では治具本体の半導体チップ搭載部の深さLに
対し、蓋部の深さ1を1=1/2Lとして形成しておき
、各部を仕切り15により仕切っておく。
In this embodiment, the depth 1 of the lid part is set to 1=1/2 L relative to the depth L of the semiconductor chip mounting part of the jig main body, and each part is partitioned off by a partition 15.

本実施例によれば、治具に半導体チップを搭載した後も
検査できるだけでなく、半導体チップを治具本体に搭載
した後に蓋で半導体チップを覆うことができるため半導
体チップ状態で出荷する際にもそのまま出荷できるとい
う効果が得られる。
According to this embodiment, not only can inspection be performed even after the semiconductor chip is mounted on the jig, but also the semiconductor chip can be covered with a lid after the semiconductor chip is mounted on the jig body, so that it is possible to inspect the semiconductor chip even when it is shipped in the semiconductor chip state. This has the advantage that it can be shipped as is.

また、半導体チップの裏面を検査するにおいて、蓋部の
方に一旦、半導体チップを載せ、半導体チップの裏面を
直接検査した後、そのまま治具本体に蓋を重ね合わせ搭
載することができるという効果が得られる。
In addition, when inspecting the back side of a semiconductor chip, it is possible to place the semiconductor chip on the lid, directly inspect the back side of the semiconductor chip, and then stack the lid on the jig body and mount it. can get.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を記載すれば下記のとおりである。
The effects obtained by typical inventions disclosed in this application are as follows.

すなわち、半導体チップ用治具に半導体チップを搭載し
た後でも治具より半導体チップを取り出すことなく、割
れ欠けの検査をすることができる。
That is, even after a semiconductor chip is mounted on a jig for semiconductor chips, it is possible to inspect for cracks and chips without taking out the semiconductor chip from the jig.

さらに半導体チップ用治具から不必要に半導体チップを
取り出すことがないので大幅に作業性が向上する。
Furthermore, since semiconductor chips are not unnecessarily taken out from the semiconductor chip jig, work efficiency is greatly improved.

以上、本発明者によってなされてた発明を上記実施例に
基すいて説明したが本願発明はその要旨を逸脱しない範
囲で種々変更可能であることは言うまでもない。例えば
治具の底部となる部分が透明の材料が使用されていれば
その他部分は有色のものを使用してもかまわないし、透
明材料は石英、ガラスおよびプラスチック以外のものを
使用してもかまわない。
Although the invention made by the present inventor has been described above based on the above-mentioned embodiments, it goes without saying that the present invention can be modified in various ways without departing from the gist thereof. For example, if the bottom part of the jig is made of a transparent material, the other parts may be colored, and the transparent material may be made of something other than quartz, glass, or plastic. .

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の第1の実施例である半導体チップ用治
具の下面を示した正面図、 第2図は第1図に示した半導体チップ用治其の分解した
場合の側面図、 第3図は本発明の第2の実施例である半導体チップ用治
具を示した分解側面図、 第4図は本発明の第3の実施例である半導体チップ用治
具を示した側面図、 第5図は本発明の第4の実施例である半導体チップ用治
具用を示した図である。 1.6・・本体、2・・底板、3・・・ストッパ、4゜
9.12・穴部、7・・底板部材、5,8.13・・仕
切、10・・半導体チップ用治具、11・底板部、14
・・蓋 第  1  図 第  2 図 口二二1、
FIG. 1 is a front view showing the bottom surface of the semiconductor chip jig according to the first embodiment of the present invention, FIG. 2 is an exploded side view of the semiconductor chip jig shown in FIG. FIG. 3 is an exploded side view showing a semiconductor chip jig according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a side view showing a semiconductor chip jig according to a third embodiment of the present invention. , FIG. 5 is a diagram showing a semiconductor chip jig according to a fourth embodiment of the present invention. 1.6 Main body, 2 Bottom plate, 3 Stopper, 4°9.12 Hole, 7 Bottom plate member, 5, 8.13 Partition, 10 Semiconductor chip jig , 11・Bottom plate part, 14
... Lid No. 1, No. 2, Exit 221,

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、部品搭載用穴部を有する治具本体と透明材料で形成
された低板と前記低板を保持する保持部材からなり、前
記治具本体の下部に前記低板に当接し、その低板を前記
治具本体に保持するように嵌め込まれた保持部材とから
なることを特徴とする半導体チップ用治具。 2、部品搭載用穴部を有する半導体チップ用治具におい
て、前記治具は透明部材にて形成されてなることを特徴
とする半導体チップ用治具。 3、前記透明部材はガラス、石英、プラスチックの何れ
かで形成されてなることを特徴とする特許請求の範囲第
1項乃至第2項の半導体装置用治具。
[Claims] 1. Consisting of a jig main body having a hole for mounting parts, a lower plate made of a transparent material, and a holding member for holding the lower plate, the jig main body has a lower part attached to the lower plate. A jig for a semiconductor chip, comprising a holding member that is fitted into the jig main body so as to abut and hold the lower plate in the jig main body. 2. A semiconductor chip jig having a component mounting hole, characterized in that the jig is made of a transparent member. 3. The semiconductor device jig according to claims 1 and 2, wherein the transparent member is made of glass, quartz, or plastic.
JP2225060A 1990-08-29 1990-08-29 Semiconductor chip jig Pending JPH04107948A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015050324A (en) * 2013-09-02 2015-03-16 シナプティクス・ディスプレイ・デバイス株式会社 Chip tray
JP2015070109A (en) * 2013-09-30 2015-04-13 信越ポリマー株式会社 Transparent tray, and manufacturing method of the same
US9117656B2 (en) 2011-12-19 2015-08-25 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor cleaning device and semiconductor cleaning method

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9117656B2 (en) 2011-12-19 2015-08-25 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor cleaning device and semiconductor cleaning method
JP2015050324A (en) * 2013-09-02 2015-03-16 シナプティクス・ディスプレイ・デバイス株式会社 Chip tray
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