JPH0392135A - Apparatus and method for vep examination - Google Patents

Apparatus and method for vep examination

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JPH0392135A
JPH0392135A JP1228705A JP22870589A JPH0392135A JP H0392135 A JPH0392135 A JP H0392135A JP 1228705 A JP1228705 A JP 1228705A JP 22870589 A JP22870589 A JP 22870589A JP H0392135 A JPH0392135 A JP H0392135A
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vep
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fixation mark
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Masao Yoshikawa
吉川 真男
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Abstract

PURPOSE:To improve an efficiency of visually evoked potential(VEP) examination by constituting a display device for fixation position with a photo-display device and also by varying its displayed shape regularly and irregularly. CONSTITUTION:Electrodes (different electrode, indifferent electrode, earth electrode) 20 are fitted to respective set position of a subject, and a change-over cycle of pattern stimuli, a position of fixation mark 16, necessary examination conditions, etc., are set up by respective setting units. Under a condition that the subject is made to face a VEP stimulus display equipment 10 and watch the fixation mark 16, stimulation patterns and the fixation mark 16 are changed in respectively set cycles. The subject is made to operate a response instrument 34 for recognition of fixation mark change at every instant that the fixation mark 16 is changed into a specified displayed shape, and the VEP examination is continued while a cycle number of the recognized shape of fixation mark 16 is counted up by a counter circuit 32. It is possible, therefore, to improve an examination efficiency and accuracy.

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は、視機能検査の一種としてのVEP検査を行う
ためのVEP検査装置並びにそれを用いたVEP検査方
法に係り、特にVEP検査装置の検査効率の向上並びに
検査精度の向上を図るための技術、並びにVEP検査結
果の信頼性を客観的に把握し得るようにするための技術
に関するものである。
Detailed Description of the Invention (Technical Field) The present invention relates to a VEP testing device for performing a VEP test as a type of visual function test, and a VEP testing method using the same, and particularly relates to a method for improving the testing efficiency of a VEP testing device. The present invention relates to techniques for improving test accuracy and test accuracy, and techniques for objectively understanding the reliability of VEP test results.

(背景技術) VEP (視覚誘発電位;νisual Evoked
 Potential)検査は、網膜に与えられた刺激
が脳の視覚領で認識されたときに、該視覚領から出る脳
波を検出して、網膜から視覚碩に至るまでの視信号経路
の障害の有無等をその脳波の検出波形から検査するため
のものであり、視機能の評価が困難である幼児や、その
他前駅部・中間透光体の混濁で眼底透視不能な患者、視
神経疾患・心因性視力障害者などの視機能の評価の際に
一般に採用されている。
(Background technology) VEP (visual evoked potential)
Potential) test detects brain waves emitted from the visual area of the brain when a stimulus applied to the retina is recognized by the visual area of the brain, and determines whether or not there is a disorder in the visual signal pathway from the retina to the visual area. This test is used to examine the brain waves from the detected waveforms of the brain waves, and is used to examine infants whose visual function is difficult to evaluate, other patients whose fundus cannot be seen through due to opacity of the anterior station or intermediate transmissive body, optic nerve diseases, and psychogenic diseases. It is generally used when evaluating the visual function of visually impaired people.

ところで、かかるVEP検査は、被検者の被検眼に対す
る刺激の与え方により、パターンVEP検査とフラッシ
ュVEP検査とに大別される。前者は、CRT等の画面
上に表示したパターンを変化させることにより、一般的
には、CRT等の画面上に表示した白黒の市松模様や格
子模様を所定の周波数で白黒反転させることにより、被
検眼に刺激を与えるものであり、後者に比して網膜の中
心機能をより反映していると言われており、一方、後者
は、光を点滅させて被検眼に刺激を与えるものであって
、前者に比して、網膜のより広い範囲に対応していると
言われている。そして、一般には、白内障等によって水
晶体が濁っているような場合にも採用できることから、
フラッシュVEP検査の方がパターンVEP検査よりも
より一般的に採用されている。
By the way, such VEP tests are roughly divided into pattern VEP tests and flash VEP tests, depending on how stimulation is applied to the eye of the subject. The former is achieved by changing the pattern displayed on a screen such as a CRT, generally by inverting the black and white checkerboard or grid pattern displayed on a screen such as a CRT at a predetermined frequency. It is said to provide stimulation for optometry and is said to reflect the central function of the retina more than the latter, while the latter uses flashing light to stimulate the eye being examined. , is said to cover a wider range of the retina than the former. In general, it can also be used in cases where the crystalline lens is clouded due to cataracts, etc.
Flash VEP testing is more commonly employed than pattern VEP testing.

而して、このようなVEP検査にあっては、それがパタ
ーンVEP検査およびフラッシュVEP検査の何れであ
るにせよ、検査精度の向上を図る上で、その検査目的に
応じた位置(注視位置)に被検限の視線を固定しておく
ことが要求される。
In this type of VEP inspection, whether it is a pattern VEP inspection or a flash VEP inspection, in order to improve the inspection accuracy, it is necessary to set the position (gazing position) according to the purpose of the inspection. It is required to keep the subject's line of sight fixed.

そこで、パターンVEP検査においては、その注視位置
にシール等の固視マークを貼り、またフラッシュVEP
検査においては、その注視位置に赤色発光ダイオード等
の固視灯を配置して、被検者にそれら固視マークや固視
灯を注視させ、もって被検者の視線を所望の注視位置に
固定させるようにすることが行なわれている。
Therefore, in pattern VEP inspection, a fixation mark such as a sticker is pasted at the gaze position, and a flash VEP
During the examination, a fixation light such as a red light emitting diode is placed at the fixation position, and the subject is made to gaze at the fixation mark or fixation light, thereby fixing the subject's line of sight at the desired gaze position. Efforts are being made to make this happen.

ところが、それらパターンVEP検査やフラッシュVE
P検査等のVEP検査にあっては、それらの検査結果と
して得られる視覚領からの扇波の検出電位が極めて微弱
で、パターンVEP検査の場合には、CRT等の画面に
表示したパターン刺激を、またフラッシュVEP検査の
場合には、光の点滅によるフラッシュ刺激を、それぞれ
何十回も繰り返し与えて、各刺激について得られる検出
信号を加算することが必要とされ、その検査に少なくと
もl分程度以上もの長い時間を要するため、その間、被
検者の視線、特に子供や老人の視線を、同視マークや固
視灯に固定しておくことが、極めて困難であり、そのた
めに、検査結果の信頼性が低く、甚だしい場合には、V
EP検査を何度も繰り返して行わなければならないとい
った問題があった。
However, these pattern VEP inspections and flash VE
In VEP tests such as P tests, the detection potential of the fan wave from the visual area obtained as a result of these tests is extremely weak, and in the case of pattern VEP tests, pattern stimulation displayed on a screen such as a CRT is used. In addition, in the case of a flash VEP test, it is necessary to repeatedly apply a flash stimulus by flashing light dozens of times and add up the detection signals obtained for each stimulus, and the test requires at least 1 minute. Because it takes such a long time, it is extremely difficult to keep the examinee's line of sight, especially children and elderly people's lines, fixed on the same vision mark or fixation light during that time, which makes the test results reliable. V
There was a problem in that the EP test had to be repeated many times.

(解決課題) ここにおいて、本発明は、このような事情を背景として
為されたものであり、その課題とするところは、被検者
の視線を固定すべき注視位置に単に固視マークや固視灯
等の同視位置表示手段を配しただけの場合に比べて、被
検者の視線を注視位置により良好に固定し、もってVE
P検査の信頼性並びに検査効率の向上を図り得るように
した■EP検査装置を提供することにあり、また本発明
の別の課題とするところは、そのようなVEP検査装置
を用いたVEP検査に際して、同視位置表示手段に対す
る被検者の注視率を求めて、VEP検査結果の信頼性を
数値として客観的に把握できるようにすることにある。
(Problem to be Solved) The present invention has been made against the background of the above, and its problem is to simply place a fixation mark or fixation mark at the gaze position where the examinee's line of sight is to be fixed. Compared to the case where only a visual position display means such as a sight lamp is provided, the subject's line of sight is better fixed at the gaze position, thereby improving VE.
It is an object of the present invention to provide an EP testing device that can improve the reliability and testing efficiency of P testing, and another object of the present invention is to provide a VEP testing device using such a VEP testing device. In this case, the object is to obtain the rate of gaze of the subject with respect to the visual position display means, so that the reliability of the VEP test result can be objectively grasped as a numerical value.

(解決手段) そして、かかる課題解決のために、本発明装置にあって
は、注視すべき位置に配されて、該注視位置に被検者の
視線を固定するために用いられる固視位置表示手段を備
えたVEP検査装置において、咳固視位置表示手段を光
表示手段にて構戒する一方、該光表示手段の表示形態を
規則的に若しくは不規則的に変化せしめる光表示形態変
化手段を設けることとしたのである。
(Solution Means) In order to solve this problem, in the device of the present invention, a fixation position display is arranged at a position where the subject should gaze and is used to fix the line of sight of the subject at the gaze position. In the VEP testing device, the cough fixation position display means is controlled by an optical display means, and an optical display form changing means is provided for regularly or irregularly changing the display form of the optical display means. The decision was made to establish one.

また、本発明手法にあっては、そのようなVEP検査装
置を用いたVEP検査に際して、固視位置表示手段を規
則的若しくは不規則的に光学的に変化させて、被検者が
自覚したその変化回数と、その固視位置表示手段の実際
の変化回数との比を求め、その比からVEP検査結果の
信頼性を判定することとしたのである。
In addition, in the method of the present invention, during a VEP test using such a VEP test device, the fixation position display means is optically changed regularly or irregularly to detect the position that the subject is aware of. The ratio between the number of changes and the actual number of changes of the fixation position display means is determined, and the reliability of the VEP test results is determined from that ratio.

なお、本発明装置において、光表示形態変化手段による
光表示手段の表示形態の変化の態様としては、様々な態
様が採用し得るが、一般には、光表示手段の点滅、変色
および形状変化、並びにそれらの組み合わせが好適に採
用されることとなる。
In addition, in the device of the present invention, various modes can be adopted as modes of changing the display mode of the optical display means by the optical display mode changing means, but in general, blinking, discoloration and shape change of the optical display means, and A combination thereof will be suitably employed.

また、本発明装置においては、光表示手段の変化を被検
者が認識する毎に、そのことを逐次入力させるための入
力手段と、該人力手段にて入力された光表示手段の変化
回数を計数する計数手段とを設けることが、検査効率お
よび検査精度の一層の向上を図る上で、また検査結果の
信頼性をある程度客観的に把握できるようにする上で、
好ましい。
The device of the present invention also includes an input means for sequentially inputting a change in the light display means each time the subject recognizes the change, and an input means for inputting the change in the light display means sequentially, and the number of changes in the light display means inputted by the human power means. Providing a counting means for counting is effective in further improving test efficiency and test accuracy, and in making it possible to objectively understand the reliability of test results to some extent.
preferable.

更に、本発明装置においては、光表示形態変化手段によ
る光表示手段の実際の変化回数と、該光表示手段の変化
の被検者の認識回数との比を求める注視度算出手段を設
けることが、検査結果の信頼性を客観的な数値として把
握する上で望ましい。
Furthermore, the apparatus of the present invention may be provided with gaze degree calculation means for calculating the ratio between the number of times the light display means is actually changed by the light display form changing means and the number of times the subject recognizes the change in the light display means. , is desirable for understanding the reliability of test results as an objective numerical value.

(作用) 本発明に従うVEP検査装置においては、表示形態が規
則的若しくは不規則的に変化する光表示手段を固視位置
表示手段として被検者が見つめることとなるため、従来
装置の固視マークや固視灯の如き、何等の変化もしない
固視位置表示手段を見つめる場合に比べて、固視位置表
示手段に対する被検者の注意力が増大して、被検者の視
線が固視位置表示手段により良好に固定され易くなり、
従ってその分、VEP検査の検査精度並びに検査効率が
向上され得ることとなる。
(Function) In the VEP testing device according to the present invention, since the subject looks at the optical display means whose display form changes regularly or irregularly as the fixation position display means, the fixation mark of the conventional device is Compared to gazing at a fixation position indicator that does not change in any way, such as a fixation lamp, the subject's attentiveness to the fixation position indicator increases, and the subject's line of sight changes to the fixation position. The display means facilitates good fixation,
Therefore, the inspection accuracy and inspection efficiency of the VEP inspection can be improved accordingly.

そして、本発明装置を用いたVEP検査に際して、固視
表示装置に対する被検者の注視度(固視率)を本発明手
法に従って求めて、その注視度からVEP検査結果の信
頼性を判定するようにすれば、VEP検査結果の信頼性
を数値的に客観的に判断することができ、結果として、
VEP検査の検査効率をより一層向上することが可能と
なる。
Then, during the VEP test using the device of the present invention, the degree of gaze (fixation rate) of the subject toward the fixation display device is determined according to the method of the present invention, and the reliability of the VEP test results is determined from the degree of gaze. By doing so, it is possible to numerically and objectively judge the reliability of VEP test results, and as a result,
It becomes possible to further improve the inspection efficiency of VEP inspection.

なお、本発明に従うVEP検査装置において、前述の如
き入力手段を設けて、光表示手段の変化を認識する毎に
被検者にそのことを入力させるようにすれば、固視位置
表示手段としての光表示手段を単に見つめるだけの場合
に比べて、光表示手段を見つめることについて被検者に
より大きな目的意識が生じることとなるため、被検者の
視線が同視位置表示手段としての光表示手段に一層良好
に固定されることとなって、VEP検査の検査精度並び
に検査効率が更に向上されることとなり、また前述の如
き計数手段を設けて、人力手段で入力された光表示手段
の変化の被検者の認識回数を計数するようにすれば、固
視位置表示手段(光表示手段)に対する被検者の注視度
をその計数値からある程度客観的に把握することが可能
となって、検査結果の信頼性をある程度客観的に判断す
ることが可能となる。
In addition, in the VEP testing device according to the present invention, if the above-mentioned input means is provided and the subject is made to input the information every time a change in the optical display means is recognized, it can be used as a fixation position display means. Compared to simply gazing at the light display means, the examinee will have a greater sense of purpose in gazing at the light display means, so the examinee's line of sight will be directed toward the light display means as a visual position display means. As a result, the inspection accuracy and efficiency of VEP inspection are further improved, and by providing a counting means as described above, it is possible to prevent changes in the optical display means inputted by manual means. By counting the number of recognitions by the examiner, it becomes possible to objectively understand the degree of gaze of the examinee toward the fixation position display means (light display means) from the counted value, and the test results It becomes possible to judge the reliability of the information objectively to some extent.

また、本発明装置において、前述の如き注視度算出手段
を設ければ、その算出結果から、固視位置表示手段とし
ての光表示手段に対する被検者の注視度を数値的により
正確に知ることができ、結果として、VEP検査の検査
結果の信頼性を客観的に極めて正確に把握することが可
能となる。
Furthermore, if the apparatus of the present invention is provided with a gaze degree calculation means as described above, it is possible to numerically and more accurately know the degree of gaze of the subject with respect to the optical display means as the fixation position display means from the calculation result. As a result, it becomes possible to objectively and extremely accurately grasp the reliability of the test results of the VEP test.

(実施例) 以下、本発明をより一層具体的に明らかにするために、
その実施例を因面に基づいて詳細に説明する。
(Example) Hereinafter, in order to clarify the present invention more specifically,
The embodiment will be explained in detail based on the facts.

先ず、第l■には、本発明に従うパターンVEP検査装
置の一例がブロック図にて概略的に示されている。そこ
において、10は、CRT等の画像表示装置からなるV
EP刺激表示装置であり、その画面上には、パターン刺
激発生回路12により、予め定められた所定の刺激パタ
ーンが表示されるようになっていると共に、その刺激パ
ターンがVEP検査に適した所定の周波数(通常は、数
Hz程度の周波数)で周期的に切り換えられるようにな
っている。なお、ここでは、第2図に示されている如き
、発光部(白)と非発光部(黒)からなる白黒の市松模
様が刺激パターンとして採用されており、図示しない刺
激パターン切換周期設定器で設定された周期でかかる市
松模様が白黒反転させられて、被検者の被検限にパター
ン刺激が繰り返し加えられるようになっている。
First, in No. 1-2, an example of a pattern VEP inspection apparatus according to the present invention is schematically shown in a block diagram. There, 10 is a V made of an image display device such as a CRT.
This is an EP stimulation display device, on whose screen a predetermined stimulation pattern is displayed by a pattern stimulation generation circuit 12, and the stimulation pattern is a predetermined stimulation pattern suitable for VEP testing. It is designed to be periodically switched at a frequency (usually a frequency of about several Hz). Here, a black and white checkered pattern consisting of light emitting parts (white) and non-light emitting parts (black) as shown in FIG. 2 is adopted as the stimulation pattern, and the stimulation pattern switching period setting device (not shown) The checkered pattern is reversed in black and white at the period set by , and pattern stimulation is repeatedly applied to the test subject's area.

また、VEP刺激表示装置10の画面上には、固視マー
ク発生回路14により、第2図に示されているように、
刺激パターンと容易に判別し得る状態で、表示形態が所
定の周期若しくは平均周期で規則的若しくは不規則的に
変化せしめられる固視マーク16が表示されるようにな
っている。この固視マーク16は、VEP検査に際して
、被検者が注視すべき注視位置を明示するためのもので
あって、同視マーク表示位置設定器■8によってVEP
刺激表示装置10の画面上の任意の位置に表示され得る
ようになっており、ここでは、5〜10++a程度の直
径の円形領域がかかる固視マーク16の表示領域とされ
て、図示しない固視マーク切換周期設定器で設定された
平均周波数、通常は1分間に10〜20回程度の平均周
波数で、その円形領域の全域が規則的若しくは不規則的
にON/○FF点滅(白黒反転)せしめられることによ
り(第3図参照)、固視マークl6の表示形態が変化せ
しめられるようになっている。なお、このことから明ら
かなように、ここでは、固視マーク16が固視位置表示
手段としての光表示手段を威していると共に、該固視マ
ーク16をVEP刺激表示装置IOの画面上において点
滅させる固視マーク発生回路14が、光表示形態変化手
段を威している。
Furthermore, as shown in FIG. 2, the fixation mark generation circuit 14 displays on the screen of the VEP stimulation display device 10,
A fixation mark 16 whose display form changes regularly or irregularly at a predetermined cycle or an average cycle is displayed in a state that can be easily distinguished from the stimulation pattern. This fixation mark 16 is used to clearly indicate the gaze position that the examinee should gaze upon during the VEP examination, and is used by the fixation mark display position setting device 8 to
The fixation mark 16 can be displayed at any position on the screen of the stimulus display device 10, and here, a circular area with a diameter of about 5 to 10++a is used as the display area of the fixation mark 16, and a fixation mark (not shown) is displayed. The average frequency set with the mark switching cycle setting device, which is usually about 10 to 20 times per minute, causes the entire circular area to regularly or irregularly flash ON/○FF (black and white inverted). (see FIG. 3), the display form of the fixation mark l6 is changed. As is clear from this, here, the fixation mark 16 functions as an optical display means as a fixation position display means, and the fixation mark 16 is not displayed on the screen of the VEP stimulus display device IO. The blinking fixation mark generation circuit 14 acts as an optical display form changing means.

一方、第1図において、20は、被検者に装着されて、
被検者の脳の視覚領から発生される脳波を検出するため
の電極であり、増幅器22を介して平均加算回路24に
接続されている。この平均加算回路24は、電極20に
よって取り出されたVEP検出信号としての脳波の電位
信号を、パターン刺激発生回路12による刺激パターン
の切換えに同期して従来と同様にして平均加算するため
のものであり、この平均加算回路24の最終的な加算結
果がVEP検出信号としてVEP波形記録装置26に供
給されるようになっている。そして、VEP波形記録装
置26においては、その平均加算回路24からのVEP
検出信号が所定の形態で波形表示されるようになってい
る。なお、このVEP波形記録装置26には、モニター
装置やXYレコーダ等のプリンタ装置などが用いられる
こととなる。
On the other hand, in FIG. 1, 20 is attached to the subject,
These are electrodes for detecting brain waves generated from the visual area of the subject's brain, and are connected to an averaging circuit 24 via an amplifier 22. This average addition circuit 24 is for averaging the electroencephalogram potential signals as VEP detection signals extracted by the electrodes 20 in synchronization with the switching of stimulation patterns by the pattern stimulation generation circuit 12 in the same manner as in the past. The final addition result of the average addition circuit 24 is supplied to the VEP waveform recording device 26 as a VEP detection signal. Then, in the VEP waveform recording device 26, the VEP from the average addition circuit 24 is
The detection signal is displayed as a waveform in a predetermined format. Note that this VEP waveform recording device 26 may be a monitor device, a printer device such as an XY recorder, or the like.

ところで、前記固視マーク発生回路14は、前記固視マ
ーク16の表示形態が一巡する毎に、より具体的には、
固視マーク16が特定の表示形態(例えば、点灯表示形
態;白色表示形態)になる毎に、固視マーク変化信号を
出力するようになっており、この固視マーク変化信号を
固視マーク変化回数計数回路28に継続的に供給するよ
うになっている。そして、固視マーク変化回数計数回路
28は、検査開始から検査終了までの検査期間中に供給
される固視マーク変化信号を計数して、その計数結果を
固視率演算回路30に供給するようになっている。なお
、ここで、検査の開始指令は、被検者が後述の固視マー
ク変化認識応答装置34を最初に操作した時に発するよ
うにしてもよく、或いは専用の検査開始指令スイッチの
操作によって発するようにしてもよい。また、検査の終
了指令は、同視マーク16の変化回数やパターン刺激の
切換回数が予め設定した回数に達したときに発するよう
にしてもよく、或いは専用の検査終了指令スイッチを操
作して発するようにしてもよい。
By the way, each time the display form of the fixation mark 16 goes around, the fixation mark generation circuit 14 more specifically:
A fixation mark change signal is output each time the fixation mark 16 becomes a specific display format (for example, a lit display format; a white display format), and this fixation mark change signal is used as a fixation mark change signal. The signal is continuously supplied to the number counting circuit 28. The fixation mark change count circuit 28 counts the fixation mark change signals supplied during the test period from the start of the test to the end of the test, and supplies the counting result to the fixation rate calculation circuit 30. It has become. Note that the test start command may be issued when the subject first operates the fixation mark change recognition response device 34, which will be described later, or may be issued by operating a dedicated test start command switch. You can also do this. Further, the test end command may be issued when the number of changes in the visual mark 16 or the number of times the pattern stimulation is switched reaches a preset number, or may be issued by operating a dedicated test end command switch. You can also do this.

また、上記固視マーク変化回数計数回路28からの計数
値が入力される固視率演算回路30には、検査期間中に
おいて、被検者が認識した固視マーク16の表示形態の
サイクル回数を計数するための固視マーク変化認識回数
計数回路32が接続されており、検査終了後において、
この固視マーク変化認識回数計数回路32から、検査期
間中において被検者が認識した固視マーク16の表示形
態のサイクル回数が入力されるようになっている。
In addition, the fixation rate calculation circuit 30 to which the count value from the fixation mark change count circuit 28 is inputted, calculates the number of cycles of the display form of the fixation mark 16 recognized by the subject during the examination period. A fixation mark change recognition frequency counting circuit 32 is connected to count the number of times the fixation mark change is recognized.
From this fixation mark change recognition frequency counting circuit 32, the number of cycles of the display form of the fixation mark 16 recognized by the subject during the examination period is inputted.

すなわち、固視マーク変化認識回数計数回路32には、
被検者によって操作される、第4図に示されている如き
押し釦等からなる固視マーク変化認識応答装置34が接
続されており、固視マーク16の表示形態が一巡したこ
と、より具体的には予め定められた特定の表示形態、例
えば点灯状態形態が新たに現れたことが被検者に認識さ
れて、その固視マーク変化認識応答装置34が被検者に
よって操作される毎に、その固視マーク変化認識応答装
置34から固視マーク変化認識信号が入力されるように
なっている。そして、固視マーク変化認識回数計数回路
32は、VEP検査期間中、その固視マーク変化認識応
答装置34から供給される固視マーク変化認識信号を計
数し、検査終了後、その計数値、即ち検査期間中におい
て被検者が認識した固視マーク16の表示形態のサイク
ル回数を、固視率演算回路30に供給するようになって
いる。
That is, the fixation mark change recognition frequency counting circuit 32 has the following:
The fixation mark change recognition and response device 34, which is operated by the subject and consists of a push button as shown in FIG. Specifically, each time the subject recognizes that a predetermined specific display form, for example, a lighting state form, has newly appeared, and the fixation mark change recognition response device 34 is operated by the subject. , a fixation mark change recognition signal is input from the fixation mark change recognition response device 34. The fixation mark change recognition number counting circuit 32 counts the fixation mark change recognition signal supplied from the fixation mark change recognition response device 34 during the VEP test period, and after the test is finished, the counted value, i.e. The number of cycles of the display form of the fixation mark 16 recognized by the subject during the examination period is supplied to the fixation rate calculation circuit 30.

そして、固視率演算回路30は、VEP検査の終了後、
固視マーク変化回数計数回路28からの計数値二Tと固
視マーク変化認識回数計数回路32からの計数{1!!
:Pとの百分率:  (P/T)XI00を求め、これ
をVEP波形記録装置26と共通の、若しくはVEP波
形記録装置26とは別の、所定の固視率表示装置36に
表示せしめるようになっている。
Then, after the VEP test is completed, the fixation rate calculation circuit 30
The count from the fixation mark change count circuit 28 and the count from the fixation mark change recognition count circuit 32 {1! !
: Percentage of P: (P/T) It has become.

以上の説明から明らかなように、ここでは、固視マーク
変化認識応答装置34が、光表示手段の変化を被検者が
認識したことを人力させるための入力手段を構威してい
ると共に、この固視マーク変化認識応答装置34からの
固視マーク変化認識信号を計数する固視マーク変化認識
回数計数回路32が、入力手段にて人力される光表示手
段の変化回数を計数する計数手段を構威しているのであ
り、また固視率演算回路30が、固視位置表示手段とし
ての光表示手段に対する被検者の検査期間中の注視度(
固視率)を算出する注視度算出手段を構成しているので
ある。
As is clear from the above description, here, the fixation mark change recognition response device 34 serves as an input means for manually indicating that the subject has recognized a change in the optical display means, and The fixation mark change recognition number counting circuit 32 that counts the fixation mark change recognition signal from the fixation mark change recognition response device 34 has a counting means that counts the number of changes in the optical display means manually inputted by the input means. In addition, the fixation rate calculation circuit 30 calculates the degree of gaze (
This constitutes a gaze degree calculation means for calculating the fixation rate).

なお、かかる本実施例装置における各回路および装置の
演算乃至制御機能部は、通常、マイクロコンピュータで
構威されることとなる。
Note that each circuit in the device of this embodiment and the calculation or control function section of the device are usually configured by a microcomputer.

次に、このような構戒の装置を用いてパターンVEP検
査を行う場合の作動を説明する。
Next, the operation when performing a pattern VEP inspection using such a system will be described.

すなわち、本実施例装置を用いてパターンVEP検査を
行う場合には、先ず、第4図に示されているように、電
極(関電極,不関電極,接地電極)20を被検者のそれ
ぞれの装着部位に装着すると共に、各対応する設定器に
より、パターン刺激の切換周期設定、固視マークl6の
表示位置設定、切換周期設定等の、必要な検査条件の設
定を行う.そして、その後、VEP刺激表示装置10に
正対せしめた被検者に固視マーク16を注視させた状態
で、検査開始指令を発し、刺激パターンおよび固視マー
ク16をそれぞれの設定周期で変化させて、固視マーク
l6が予め定めた特定の表示形態になる毎に被検者に固
視マーク変化認識応答装置34を操作させ、被検者が認
識した固視マーク16の表示形態のサイクル回数を固視
マーク変化認識回数計数回路32にて計数させつつ、検
査終了指令が発せられるまで、VEP検査を継続して行
う。
That is, when performing a pattern VEP test using the apparatus of this embodiment, first, as shown in FIG. At the same time, necessary test conditions such as pattern stimulation switching cycle setting, fixation mark l6 display position setting, switching cycle setting, etc. are set using the corresponding setting devices. Then, with the subject directly facing the VEP stimulation display device 10 and gazing at the fixation mark 16, a test start command is issued, and the stimulation pattern and fixation mark 16 are changed at respective set cycles. The subject operates the fixation mark change recognition response device 34 each time the fixation mark l6 changes to a predetermined specific display form, and the number of cycles of the display form of the fixation mark 16 recognized by the subject is determined. The VEP test is continued while being counted by the fixation mark change recognition frequency counting circuit 32 until a test end command is issued.

なお、固視マーク変化認識信号の計数機能を検査期間中
だけに限定するような機能を固視マーク変化認識回数計
数回路32に付与したような場合には、被検者による固
視マーク変化認識応答装置34の操作を検査期間の前後
に跨がって行わせるようにしてもよい。
In addition, if the fixation mark change recognition number counting circuit 32 is provided with a function that limits the counting function of the fixation mark change recognition signal only during the examination period, the fixation mark change recognition by the subject The response device 34 may be operated before and after the test period.

また、かかるVEP検査は、通常、固視マークl6を画
面中央部に表示した状態で行なわれることとなるが、検
査目的によっては、中央よりも所定寸法上方の位置や下
方の位置等に固視マークを表示させて行うようにしても
よい。要するに、固視マーク16は、検査目的に応じた
位置に表示させるようにすればよいのである。
In addition, such a VEP test is normally performed with the fixation mark l6 displayed at the center of the screen, but depending on the purpose of the test, the fixation mark may be fixed at a position a predetermined distance above or below the center. This may be done by displaying a mark. In short, the fixation mark 16 may be displayed at a position depending on the purpose of the examination.

検査終了指令によって検査が終了すると、電極20で検
出され、平均加算回路24で平均加算されて求められた
従来と同様のVEP検出信号が、VEP波形記録装置2
6に供給され、VEP検出信号の電位波形がVEP波形
記録装置26で波形記録される。
When the test is finished by the test end command, a VEP detection signal similar to the conventional one detected by the electrode 20 and averaged by the averaging circuit 24 is sent to the VEP waveform recording device 2.
6, and the potential waveform of the VEP detection signal is recorded as a waveform by a VEP waveform recording device 26.

また、これとは別に、同視マーク変化回数計数回路28
で計数されたVEP検査期間中の固視マーク16の表示
形態のサイクル回数値二Tが固視率演算回路30に供給
される一方、VEP検査中において被検者にて認識され
た固視マーク16の表示形態のサイクル回数である固視
マーク変化認識回数計数回路32の計数値:Pが、固視
率演算回路30に供給され、それらの比、すなわちVE
P検査期間中における固視マーク16に対する被検者の
固視率(注視度)が、百分率: (P/T)XIOO 
(%〕として求められる。そして、その演算結果が固視
率表示装置36に供給され、そこで数値表示される。
Separately, a circuit for counting the number of times the visual mark changes 28
The number of cycles of the display form of the fixation mark 16 counted during the VEP test period is supplied to the fixation rate calculation circuit 30, while the fixation mark recognized by the subject during the VEP test is supplied to the fixation rate calculation circuit 30. The count value P of the fixation mark change recognition count circuit 32, which is the number of cycles of the 16 display formats, is supplied to the fixation rate calculation circuit 30, and the ratio thereof, that is, VE
The fixation rate (gazing degree) of the subject for the fixation mark 16 during the P test period is percentage: (P/T)XIOO
(%).The calculation result is then supplied to the fixation rate display device 36, where it is displayed numerically.

従って、かかる本実施例装置によれば、固視率表示装置
36に表示される数値から、VEP検査期間中において
被検者が固視マーク16を注視していた度合(注視度;
固視率)を知ることができ、ひいては、VEP波形記録
装置26で表示されたVEP検出波形の信頼性を客観的
に極めて正確に判定することが可能となる。つまり、固
視率表示装置36に表示された固視率(注視度)の数値
からVEP検査結果の信頼性を判定するようにすれば、
VEP検査結果の信頼性を客観的に極めて正確に判断で
きるのであり、その結果として、VEP検査の検査効率
の大幅な向上が期待できるのである。
Therefore, according to the device of this embodiment, the degree to which the subject was gazing at the fixation mark 16 during the VEP test period (fixation degree;
This makes it possible to determine the reliability of the VEP detection waveform displayed by the VEP waveform recording device 26 objectively and extremely accurately. In other words, if the reliability of the VEP test result is determined from the value of the fixation rate (gazing degree) displayed on the fixation rate display device 36,
The reliability of VEP test results can be objectively and extremely accurately judged, and as a result, a significant improvement in the test efficiency of VEP tests can be expected.

なお、ここで、VEP検査結果が信頼に足るものか否か
の判定の基準となる標準固視率を予め設定しておき、固
視率演算回路30で求められた実測固視率をその標準固
視率と比較して、実測固視率が標準固視率を上回ったと
きに、そのことを所定の表示形態で固視率表示装置36
等に同時に表示させるようにして、VEP検査結果が信
頼に足るものか否かをその表示から直ちに認識できるよ
うにしてもよい。このようにすれば、VEP検査結果が
信頼に足るものか否かの判定が直ちにできるため、VE
P検査作業が更に容易となり、VEP検査の検査効率が
更に向上することとなる。
Note that here, a standard fixation rate is set in advance as a standard for determining whether or not the VEP test result is reliable, and the actual fixation rate calculated by the fixation rate calculation circuit 30 is set as the standard. When the measured fixation rate exceeds the standard fixation rate compared to the fixation rate, the fixation rate display device 36 displays this in a predetermined display format.
etc., so that it can be immediately recognized from the display whether the VEP test result is reliable or not. In this way, it is possible to immediately determine whether or not the VEP test results are reliable.
The P inspection work becomes easier, and the inspection efficiency of the VEP inspection is further improved.

ところで、本実施例装置においては、前述のように、V
EP検査期間中において、被検者が注視する固視マーク
16が所定の周期で点滅させられて、表示形態が全く変
化しない固視マークを注視する場合に比べて、固視マー
ク16に対する被検者の注意力がより良好に惹起される
ようになっているため、被検者の視線が固視マーク16
により良好に固定され易くなって、被検者の視線が注視
すべき注視位置により維持され易くなる。従って、被検
者の視線が注視位置に維持され易くなる分だけ、VEP
検査の検査精度および検査効率が従来装置よりも向上さ
れることとなる。
By the way, in the device of this embodiment, as mentioned above, V
During the EP test period, the fixation mark 16 that the subject is gazing at is blinked at a predetermined cycle, and the subject's focus on the fixation mark 16 is higher than when the subject is gazing at a fixation mark whose display form does not change at all. Since the subject's attention is better aroused, the subject's line of sight is fixed on the fixation mark 16.
This facilitates better fixation, making it easier for the subject's line of sight to be maintained at the gaze position. Therefore, to the extent that the subject's line of sight is easily maintained at the gaze position, the VEP
The inspection accuracy and efficiency of inspection will be improved compared to conventional devices.

また、本実施例装置においては、前述のように、固視マ
ーク変化認識応答装置34が設けられて、VEP検査期
間中、予め定められた特定表示形態の固視マークl6を
認識したときに、その固視マーク変化認識応答装置34
を被検者に操作させるようになっているため、固視マー
ク16を単に注視する場合に比べて、固視マーク16を
見つめることについて被検者により大きな目的意識が惹
起されることとなり、被検者の視線が同視マークl6に
更に良好に固定されるようになる。つまり、応答装W3
4の操作により、VEP検査の検査精度並びに検査効率
が更に向上されるようになっているのである。
In addition, in the present embodiment device, as described above, the fixation mark change recognition response device 34 is provided, and during the VEP test period, when the fixation mark l6 of a predetermined specific display form is recognized, The fixation mark change recognition response device 34
Since the examinee is made to operate the fixation mark 16, the examinee will have a greater sense of purpose in gazing at the fixation mark 16 than when simply gazing at the fixation mark 16. The examiner's line of sight can be better fixed on the same vision mark l6. In other words, the response device W3
By the operation in step 4, the inspection accuracy and inspection efficiency of the VEP inspection are further improved.

以上、本発明の実施例を詳細に説明したが、本発明が、
かかる例示以外の態様で実施できることも勿論である。
The embodiments of the present invention have been described in detail above, but the present invention
Of course, it is possible to implement the present invention in a manner other than that illustrated.

例えば、前記実施例では、固視位置表示手段である光表
示手段としての固視マーク16の表示形態が、一定領域
の点滅によって変化させられるようになっていたが、固
視マー216の表示形態を例示以外の態様で変化させる
ようにすることもできる。第5図乃至第7図には、その
ような固視マーク16の他の好ましい表示形態の一例が
それぞれ示されている。
For example, in the embodiment described above, the display form of the fixation mark 16 as a light display means serving as a fixation position display means is changed by blinking in a certain area, but the display form of the fixation mark 216 is changed by blinking a certain area. may also be changed in a manner other than that illustrated. FIGS. 5 to 7 show examples of other preferable display forms of the fixation mark 16.

すなわち、第5同は、一定領域を白→赤→黒→白→・・
・と、複数色間で規則的若しくは不規則的に変色させて
、固視マーク16の表示形態を変化させる態様を示して
おり、また第6図は、一定領域内において、異なる模様
(ここでは、星印と黒点)を繰り返し表示させて、固視
マーク16の表示形態を変化させる態様を示しており、
更に第7図は、同視マーク16の表示領域自体の形状を
互いに異なる形状(ここでは、丸と四角)に変化させて
、固視マーク16の表示形態を変化させる態様を示して
いる。勿論、それらの態様を適宜組み合わせた固視マー
ク16の表示形態の変化態様を採用することも可能であ
る。
In other words, in the fifth example, a certain area is changed from white → red → black → white →...
6 shows a mode in which the display form of the fixation mark 16 is changed by regularly or irregularly changing the color between a plurality of colors, and FIG. , stars and black dots) are repeatedly displayed to change the display form of the fixation mark 16.
Furthermore, FIG. 7 shows a mode in which the display form of the fixation mark 16 is changed by changing the shape of the display area itself of the fixation mark 16 into mutually different shapes (here, a circle and a square). Of course, it is also possible to adopt changes in the display form of the fixation mark 16 by appropriately combining these forms.

なお、同視マークl6の変化の認識回数を計数して、検
査期間中の固視マークl6の固視率(注視度)を算出す
る場合には、固視マーク16の表示形態の変化態様とし
て何れの態様を採用するにせよ、予め定めた特定の表示
形態を被検者に数えさせるようにすればよい。
In addition, when calculating the fixation rate (gazing degree) of the fixation mark l6 during the examination period by counting the number of times the change in the fixation mark l6 is recognized, which of the changes in the display form of the fixation mark l6 is calculated? Regardless of whether this mode is adopted, the subject may be asked to count specific display formats determined in advance.

また、固視マーク16は、刺激パターンと混同すること
なく、固視マーク16の表示形態の変化を良好に判別で
きる大きさであることが要求されるが、固視マークl6
があまり大きいと刺激パターンの変化を良好に認識し得
なくなるため、固視マークl6は、通常、30順四方程
度以下の大きさ、好ましくは、前記実施例のように、5
〜10m四方程度の大きさに設定されることとなる。
Furthermore, the fixation mark 16 is required to have a size that allows good discrimination of changes in the display form of the fixation mark 16 without being confused with the stimulus pattern.
If the size is too large, changes in the stimulation pattern cannot be recognized well, so the fixation mark l6 is usually about 30 squares or less in size, preferably 5 in size as in the above embodiment.
The size will be approximately 10 meters square.

また、前記実施例では、注視度算出手段としての同視率
演算回路30が設けられて、検査期間中における固視マ
ーク16の固視率(注視度)が算出・表示されるように
なっていたが、計数手段としての固視マーク変化認識回
数計数回路32の計数値をそのまま表示して、その計数
値からVEP検査結果の信頼性を判定するようにするこ
とも可能であり、また固視マーク変化認識応答装置34
および固視マーク変化認識回数計数回路32の代わりに
、固視率演算回路30に固視マーク変化認識回数値を入
力可能な入力装置を接続し、カウンター等の専用の計数
器具を用いて、若しくは用いないで、被検者に計数して
もらったVEP検査期間中の固視マーク16の変化認識
回数値を、VEP検査終了後において、その人力装置か
ら固視率演算回路30に入力させて、その入力値に基づ
いて、VEP検査期間中の固視率を演算・表示させるよ
うにすることも可能である。なお、固視マーク変化認識
応答装置34,固視マーク変化認識回数計数回路32お
よび固視率演算回路30を共に省略しても、本発明の効
果は達或できる。
Further, in the embodiment, the same viewing rate calculation circuit 30 is provided as a gaze degree calculation means, and the fixation rate (gazing degree) of the fixation mark 16 during the examination period is calculated and displayed. However, it is also possible to display the count value of the fixation mark change recognition count circuit 32 as a counting means as it is, and to judge the reliability of the VEP test result from the count value. Change recognition response device 34
In place of the fixation mark change recognition frequency counting circuit 32, an input device capable of inputting the fixation mark change recognition frequency value is connected to the fixation rate calculation circuit 30, and a dedicated counting device such as a counter is used, or After the end of the VEP test, input the number of times of recognition of changes in the fixation mark 16 during the VEP test period, which was counted by the subject without using it, into the fixation rate calculation circuit 30 from the human-powered device, It is also possible to calculate and display the fixation rate during the VEP test period based on the input value. Note that even if the fixation mark change recognition response device 34, the fixation mark change recognition frequency counting circuit 32, and the fixation rate calculation circuit 30 are all omitted, the effects of the present invention can still be achieved.

更に、以上の説明では、本発明をパターンVEP検査に
適用した例だけについて述べたが、フラッシュVEP検
査についても本発明を適用することが可能である。すな
わち、前記実施例装置において、パターン刺激発生回路
12の代わりにフラッシュ刺激発生回路を設けて、VB
P刺激表示装210の所定の画面領域上においてフラッ
シュ刺激を所定の周期で発生させるようにすれば、前記
実施例と同様の効果を確保しつつ、フラッシュVEP検
査を行い得るのである。
Furthermore, in the above description, only an example in which the present invention is applied to pattern VEP inspection has been described, but it is also possible to apply the present invention to flash VEP inspection. That is, in the device of the embodiment, a flash stimulus generation circuit is provided in place of the pattern stimulus generation circuit 12, and the VB
By generating a flash stimulus at a predetermined period on a predetermined screen area of the P stimulus display device 210, a flash VEP test can be performed while ensuring the same effect as in the embodiment described above.

なお、パターン刺激発生回路l2とフラッシュVEP刺
激発生回路の両方を設けて、それらを選択して作動させ
得るようにして、共通の装置でパターンVEP検査とフ
ラッシュVEP検査の両方を行い得るようにすることも
可能である。
Note that both the pattern stimulus generation circuit 12 and the flash VEP stimulus generation circuit are provided so that they can be selectively activated, so that both the pattern VEP test and the flash VEP test can be performed with a common device. It is also possible.

また、U字状のキセノンランプの中央部に赤色発光ダイ
オード等の固視灯を配置してなる従来と同様の構造のフ
ラッシュVEP検査装置について、本発明を適用するこ
ともできる。この場合には、固視位置表示手段である光
表示手段としての固視灯を点滅させて、光表示手段の表
示形態を変化させるようにすることが望ましい。
Further, the present invention can also be applied to a flash VEP inspection device having a structure similar to the conventional one, in which a fixation light such as a red light emitting diode is arranged in the center of a U-shaped xenon lamp. In this case, it is desirable to blink the fixation lamp as the optical display means, which is the fixation position display means, to change the display form of the optical display means.

その他、具体例を一々列挙することは割愛するが、本発
明が、その趣旨を逸脱しない範囲内において、当業者の
有する知識に基づいて、種々なる変更,修正,改良等を
施した態様で実施できることは、言うまでもないところ
である。
In addition, although it is omitted to list specific examples one by one, the present invention can be carried out in various forms with various changes, modifications, improvements, etc. based on the knowledge of those skilled in the art without departing from the spirit thereof. It goes without saying that it can be done.

(発明の効果) 以上の説明から明らかなように、本発明に従うVEP検
査装置によれば、被検者の視線が固視位置表示手段に従
来装置よりもより良好に固定され易くなるため、VEP
検査の検査効率並びに検査精度が従来装置よりもその分
向上されることとなるのであり、また本発明に従ってV
EP検査結果の信頼性を判定するようにすれば、VEP
検査結果の信頼性を極めて客観的に判定することが可能
となって、結果として、VEP検査の検査効率の大幅な
向上を図ることが可能となるのである。
(Effects of the Invention) As is clear from the above description, according to the VEP testing device according to the present invention, the subject's line of sight is more likely to be fixed on the fixation position display means than in the conventional device.
The inspection efficiency and inspection accuracy of the inspection will be improved accordingly compared to the conventional device, and according to the present invention, the V
If the reliability of EP test results is determined, VEP
It becomes possible to determine the reliability of test results extremely objectively, and as a result, it becomes possible to significantly improve the test efficiency of VEP tests.

そして、本発明装置において、光表示手段の変化を認識
する毎に被検者にそのことを入力させる入力手段を設け
ると共に、その入力手段で入力された光表示手段の変化
の被検者の認識回数を計数する計数手段を設ければ、光
表示手段に対する注意力を効果的に向上し得て、VEP
検査の検査効率および検査精度を更に向上することが可
能になると共に、計数手段の計数結果から検査結果の信
頼性をある程度客観的に把握することが可能となるので
あり、また注視度算出手段を設けて、検査期間中の固視
位置表示手段に対する被検者の注視度を求めるようにす
れば、検査結果の信頼性を数値に基づいて客観的に極め
て正確に判定することが可能となるのである。
In the apparatus of the present invention, an input means is provided that allows the subject to input the information every time a change in the light display means is recognized, and the test subject recognizes the change in the light display means inputted by the input means. By providing a counting means for counting the number of times, attention to the optical display means can be effectively improved, and VEP
It becomes possible to further improve the inspection efficiency and accuracy of the inspection, and it also becomes possible to objectively understand the reliability of the test results to some extent from the counting results of the counting means, and also to improve the gaze level calculation means. If the degree of gaze of the subject to the fixation position display means is determined during the test period, the reliability of the test results can be determined objectively and extremely accurately based on numerical values. be.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明に従うパターンVEP検査装置の一例
を概略的に示すブロック図であり、第2図は、第1図の
装置におけるVEP刺激表示装置の画面上における刺激
パターンおよび固視マークの表示例を示す図であり、第
3図は、第1図の装置における固視マークの表示形態の
変化状態を説明するための図であり、第4図は、第1図
の装置の使用状態を説明するための説明図である。第5
図,第6図および第7図は、それぞれ、本発明の別の実
施例の第3図に相当する図である。 1 0 : VEP刺激表示装置 12:パターン刺激発生回路 工4:同視マーク発生回路 16:固視マーク 26・VEP波形記録装置 30:固視率演算回路 32:固視マーク変化認識回数計数回路34:固視マー
ク変化認識応答装置 36:固視率表示装置
FIG. 1 is a block diagram schematically showing an example of a pattern VEP testing device according to the present invention, and FIG. 2 shows a stimulus pattern and a fixation mark on the screen of the VEP stimulation display device in the device of FIG. FIG. 3 is a diagram showing a display example; FIG. 3 is a diagram for explaining how the display form of the fixation mark changes in the device shown in FIG. 1; and FIG. 4 is a diagram showing how the device in FIG. 1 is used. It is an explanatory diagram for explaining. Fifth
6 and 7 respectively correspond to FIG. 3 of another embodiment of the present invention. 1 0: VEP stimulus display device 12: Pattern stimulus generation circuit 4: Same vision mark generation circuit 16: Fixation mark 26/VEP waveform recording device 30: Fixation rate calculation circuit 32: Fixation mark change recognition count circuit 34: Fixation mark change recognition response device 36: fixation rate display device

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)注視すべき位置に配されて、該注視位置に被検者
の視線を固定するために用いられる固視位置表示手段を
備えたVEP検査装置において、該固視位置表示手段を
光表示手段にて構成する一方、該光表示手段の表示形態
を規則的に若しくは不規則的に変化せしめる光表示形態
変化手段を設けたことを特徴とするVEP検査装置。
(1) In a VEP inspection device equipped with a fixation position display means arranged at a position to be gazed and used to fix the subject's line of sight at the gaze position, the fixation position display means is displayed optically. What is claimed is: 1. A VEP inspection device comprising: an optical display mode changing device for regularly or irregularly changing the display mode of the optical display device.
(2)前記光表示形態変化手段が、前記光表示手段を点
滅させるものである請求項(1)記載のVEP検査装置
(2) The VEP inspection apparatus according to claim 1, wherein the optical display form changing means causes the optical display means to blink.
(3)前記光表示形態変化手段が、前記光表示手段を変
色させるものである請求項(1)若しくは(2)記載の
VEP検査装置。
(3) The VEP inspection apparatus according to claim 1 or 2, wherein the optical display form changing means changes the color of the optical display means.
(4)前記光表示形態変化手段が、前記光表示手段の形
状を変化させるものである請求項(1)乃至(3)の何
れかに記載のVEP検査装置。
(4) The VEP inspection apparatus according to any one of claims (1) to (3), wherein the optical display form changing means changes the shape of the optical display means.
(5)前記光表示手段の変化を前記被検者が認識する毎
に、そのことを逐次入力させるための入力手段と、該入
力手段にて入力された前記光表示手段の変化回数を計数
する計数手段とを含むことを特徴とする請求項(1)乃
至(4)の何れかに記載のVEP検査装置。
(5) An input means for sequentially inputting the change each time the subject recognizes a change in the light display means, and counting the number of changes in the light display means inputted by the input means. 4. The VEP testing device according to claim 1, further comprising a counting means.
(6)前記光表示形態変化手段による前記光表示手段の
実際の変化回数と、該光表示手段の変化の被検者の認識
回数との比を求める注視度算出手段を含むことを特徴と
する請求項(1)乃至(5)の何れかに記載のVEP検
査装置。
(6) It is characterized by including a gaze degree calculation means for calculating the ratio between the number of times the light display means is actually changed by the light display form changing means and the number of times the subject recognizes the change in the light display means. The VEP inspection device according to any one of claims (1) to (5).
(7)VEP検査に際して、固視位置表示手段を規則的
若しくは不規則的に光学的に変化させて、被検者が自覚
したその変化回数と、その固視位置表示手段の実際の変
化回数との比を求め、その比からVEP検査結果の信頼
性を判定することを特徴とする請求項(1)記載のVE
P検査装置を用いたVEP検査方法。
(7) During the VEP test, the fixation position display means is optically changed regularly or irregularly, and the number of changes perceived by the subject and the actual number of changes of the fixation position display means are calculated. VE according to claim (1), characterized in that the reliability of the VEP test result is determined from the ratio.
A VEP inspection method using a P inspection device.
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DE102008053015B3 (en) * 2008-10-21 2010-03-04 Technische Universität Ilmenau Color-channel-selective stimulation process for visual system involves targeted selected tapping stimulation with glance follow-up
JP2016165390A (en) * 2015-03-10 2016-09-15 トヨタ自動車株式会社 Brain-machine-interface device

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