JPH0382970A - 交流波形の位相差測定装置 - Google Patents

交流波形の位相差測定装置

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Publication number
JPH0382970A
JPH0382970A JP21982889A JP21982889A JPH0382970A JP H0382970 A JPH0382970 A JP H0382970A JP 21982889 A JP21982889 A JP 21982889A JP 21982889 A JP21982889 A JP 21982889A JP H0382970 A JPH0382970 A JP H0382970A
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JP
Japan
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waveform
phase difference
waveforms
reference waveform
pair
Prior art date
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Pending
Application number
JP21982889A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Miyazaki
健二 宮崎
Kiminobu Shiraishi
公伸 白石
Eiji Kagawa
英二 香川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shikoku Instrumentation Co Ltd
Original Assignee
Shikoku Instrumentation Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0382970A publication Critical patent/JPH0382970A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、位相差を測定しようとする一対の交流波形の
少なくとも一方に歪が含まれていてもその位相差を正確
に測定できる交流波形の位相差測定装置に関する。
(従来の技術) 従来から、第2図に示すような一対の交流波形X(t)
、Y (t)の位相差を測定する交流波形の位相差測定
装置としては、交流波形X (t)、Y (t)の負か
ら正に変化するゼロクロス点Z1、z2の時間差を測定
するものが知られており、交流波形X(t)と交流波形
Y (t)との位相差θは、ゼロクロス点z1からゼロ
クロス点z2までの時間差をtl  交流波形の周期を
Tとすると、として求められる。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、従来の交流波形の位相差測定装置では、
第3図に示すように、交流波形X (t)、Y (t)
の一方、たとえば、交流波形Y (t)に歪Hがあって
交流波形Y (t)の−周期T内に、交流波形Y (t
)が複数回ゼロクロス軸Zを横切るようなことがあると
、複数個の時間差、たとえば、tlX j2が得られて
、複数個の位相差が求められることになり、位相差の測
定精度が低下する不具合がある。
本発明は、上記従来技術の有する問題点に鑑みて為され
たもので、その目的とするところは、位相差を測定しよ
うとする一対の交流波形が歪を有する場合でも、正確に
かつ高精度にその一対の交流波形の位相差を測定できる
交流波形の位相差測定装置を提供することにある。
(課題を解決するための手段) 本発明に係わる交流波形の位相差測定装置は、上記の課
題を達成するため、 位相差を測定しようとする一対の交流波形と略同一周波
数の第1基準波形を発生する第1基準波形発生回路と、 該第1基準波形よりも位相が略π/2だけ遅れた第2基
準波形を発生する第2基準波形発生回路と、 前記第1基準波形と前記第2基準波形とに前記一対の交
流波形の一方をそれぞれ乗算して各乗算結果をそれぞれ
一周期分について積分することに基づき前記第1基準波
形に対する第1位相差を算出する一方、前記第1基準波
形と前記第2基準波形とに前記一対の交流波形の他方を
それぞれ乗算して各乗算結果をそれぞれ一周期分につい
て積分することに基づき前記第1基準波形に対する第2
位相差を算出し、前記第1位相差と前記第2位相差との
差に基づき前記一対の交流波形の位相差を算出する算出
手段と、 を備えているところにある。
(作用) 本発明に係わる交流波形の位相差測定装置によれば、第
1基準波形発生回路が位相差を測定しようとする一対の
交流波形と略同一周波数の第1基準波形を発生し、かつ
、第2基準波形発生回路が該第1基準波形よりも位相が
略π/2だけ遅れた第2基準波形を発生する。算出手段
は前記第1基準波形と前記第2基準波形とに前記一対の
交流波形の一方をそれぞれ乗算して各乗算結果をそれぞ
れ一周期分について積分することに基づき前記第1基準
波形に対する第1位相差を算出する一方、前記第1基準
波形と前記第2基準波形とに前記−対の交流波形の他方
をそれぞれ乗算して各乗算結果をそれぞれ一周期分につ
いて積分することに基づき前記第1基準波形に対する第
2位相差を算出し、前記第1位相差と前記第2位相差と
の差に基づき前記一対の交流波形の位相差を算出する。
(実施例) 以下に、本発明に係わる交流波形の位相差測定装置の実
施例を説明する。
第1図において、1は第1基準波形発生回路としての正
弦波発生回路、2は第2基準波形発生回路としての余弦
波発生回路である。正弦波発生回路1は、ここでは、第
2図、第3図に示す交流波形X (t)と略同−の周波
数の正弦波形Vp(t)を発生する。ここでは、この正
弦波形■ρ(1)が歪のないfi1基準波形である。余
弦波発生回路2は正弦波形Vp(t)と同一の周波数を
有しかつその正弦波形Vp(t)よりも位相がπ/2だ
け遅れた余弦波形Vo(t)を発生する。ここでは、こ
の余弦波形Vo(t)が歪のない第2基準波形である。
正弦波形Vp(t)はアナログ乗算回路3とアナログ乗
算回路5とに入力され、余弦波形Vo(t)はアナログ
乗算回路4とアナログ乗算回路6とに入力されている。
アナログ乗算回路3は正弦波形Vp(t)と交流波形X
 (t)とを乗算する機能を有し、アナログ乗算回#F
4は余弦波形Va(t)と交流波形X (t)とを乗算
する機能を有し、アナログ乗算回路5は正弦波形Vp(
t)と交流波形Y(1)とを乗算する機能を有し、アナ
ログ乗算回路6は余弦波形Vo(t)と交流波形Y (
t)とを乗算する機能を有する。
アナログ乗算回路3の乗算結果は積分回路7に入力され
、アナログ乗算回路4の乗算結果は積分回路8に入力さ
れ、アナログ乗算回路5の乗算結果は積分回路9に入力
され、アナログ乗算回路6の乗算結果は積分回路10に
入力されている。積分回路7は交流波形X (t)と正
弦波形Vp(t)との乗算結果の一周期分を積分し、積
分回路8は交流波形X (t)と余弦波形Vo(t)と
の乗算結果の一周期分を積分し、積分回路9は交流波形
Y(t)と正弦波形■ρ(1)との乗算結果の一周期分
を積分し、積分回路lOは交流波形Y (t)と余弦波
形Vo(t)との乗算結果の一周期分を積分する。
ここで、交流波形X (t)、Y(t)をフーリエ級数
を用いて表現することにしたとき、交流波形X (t)
、Y(t)に歪Hがあると、以下の式で表現される。
X  (t) =ΣExn−sin (nωt+φn)
Y  (t) =ΣEvn−sin (nωt+Φn)
なお、E 、o、  EY、はフーリエ展開された第n
番目の正弦波形の振幅値、φ。、Φ。はフーリエ展開さ
れた第n番目の正弦波形の第n番目の位相角である。
また、正弦波形vp(t)、余弦波形Vo(t)を以下
の式で表現する。
Vp (t ) −E−sinωt Vo (t) =E 8cosωt なお、Eは正弦波形Vp(t)、余弦波形Vo(t)の
振幅値である。
積分回路7から出力される積分出力Xpは、上記式をn
 == 1の場合と、n=1でない場合とに項分けして
、 積分表現すると、 上記式において、 右辺第2項の積分は数学の積 骨分式に基づき 「O」 となる。
従って、 積分出力Xpは、 上記式の第1項の積分 結果として、 となる。
同様に、 積分回路8から出力される積分出力 Xoは、 X。
(1) ・vo(t)at E −E×1 sinφ1 ・・・■ 同様にして、 積分回路9. 10からそれぞれ出力 される積分出力Y p s YQは、 ■、 ■式から、 振幅値の積E−Ex+を消去する と、 9− Xpsinφ+  =XocoSφ1 式を得る。
この■式の両辺を二乗して、 cos2φ++5in2φ+=1の式を用いて、上記■
式を変形すると、 Xp2(1−cos2φ+ ) =Xo2cos2φ1
この■式を変形すると、 ・・・■ ・・・■ この■式において、φ1は正弦波形■ρ(1)からの第
1位相差を意味する。
同様に、■、■式を用いて、位相差Φ1は、として求め
られる。
ここで、Φ1は正弦波形Vp(t)からの第2位相差を
意味する。
よって、一対の交流波形の位相差θは、θ=φ1−Φ1
               ・・・[相]0− として求められることになり、積分出力Xρ、XQ%Y
ρ、Yoをアナログデジタル変換回路11を介して、演
算回路12に入力し、上記一連の式に基づいて演算回路
12により演算を行うと、一対の交流波形の位相差θが
得られることになる。
従って、乗算回路3〜6、積分回路7〜10、アナログ
デジタル変換回路11、演算回路12は第1基準波形と
第2基準波形とに一対の交流波形の一方をそれぞれ乗算
して各乗算結果をそれぞれ一周期分について積分するこ
とに基づき第1基準波形に対する第1位相差を算出する
一方、第1基準波形と第2基準波形とに一対の交流波形
の他方をそれぞれ乗算して各乗算結果をそれぞれ一周期
分について積分することに基づき第1基準波形に対する
第2位相差を算出し、第1位相差と第2位相差との差に
基づき一対の交流波形の位相差を算出する算出手段13
として機能する。
(発明の効果) 本発明に係わる交流波形の位相差測定回路は、以上説明
したように構成されているので、位相差1 を測定しようとする一対の交流波形が歪を有する場合で
あっても、正確にかつ高精度に位相差を測定できるとい
う効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わる交流波形の位相差測定装置の要
部構成を示すブロック回路図、第2図、第3図は従来の
装置を用いての交流波形の位相差を測定するための交流
波形図、である。 1・・・正弦波形発生回路(第1基準波形発生回路)2
・・・余弦波形発生回路(第2基準波形発生回路)3〜
6・・・乗算回路、7〜10・・・積分回路11・・・
アナログデジタル変換回路 12・・・演算回路、13・・・算出手段2−

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 位相差を測定しようとする一対の交流波形と略同一周波
    数の第1基準波形を発生する第1基準波形発生回路と、 該第1基準波形よりも位相が略π/2だけ遅れた第2基
    準波形を発生する第2基準波形発生回路と、 前記第1基準波形と前記第2基準波形とに前記一対の交
    流波形の一方をそれぞれ乗算して各乗算結果をそれぞれ
    一周期分について積分することに基づき前記第1基準波
    形に対する第1位相差を算出する一方、前記第1基準波
    形と前記第2基準波形とに前記一対の交流波形の他方を
    それぞれ乗算して各乗算結果をそれぞれ一周期分につい
    て積分することに基づき前記第1基準波形に対する第2
    位相差を算出し、前記第1位相差と前記第2位相差との
    差に基づき前記一対の交流波形の位相差を算出する算出
    手段と、 を備えていることを特徴とする交流波形の位相差測定装
    置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007047181A (ja) * 2003-11-04 2007-02-22 Toyoji Ahei 漏洩電流検出装置及び方法
JP2008249472A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Hokkaido Railway Co 位相差計測システムおよび位相差計測方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4942076A (ja) * 1972-07-31 1974-04-20

Patent Citations (1)

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