JPH0378781B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、電子部品の電気的特性を測定し、
その測定結果に基づいて自動的に分類する電子部
品検査装置に関するものである。

［従来の技術］ アキシヤルリード型電子部品、たとえばダイオ
ード素子の電気的特性を測定し、良品、不良品を
選別する装置として従来では、第４図に示すよう
なものがあつた。

図において、１は、その外周に等ピツチで切欠
き２を設けた回転ドラムであり、この回転ドラム
１は、前記切欠き２でダイオード素子のリード部
を受け、間欠的に回転するように構成されてい
る。

３は、アキシヤルリード型のダイオード素子、
４は、このダイオード素子を回転ドラム１上に供
給するためのシユータ、５はガイド板、６ａ，６
ｂは、ダイオード素子のリード部に接触し、その
電気的特性を測定するための測定端子である。７
は仕切壁７ａによつて２つに区分された収納部を
有する収納箱、８は、収納箱７の開口部に設けら
れたシヤツタであつて、前記測定端子６ａ，６ｂ
による測定結果によつて開閉方向が定まるように
なつている。

上記の構成において、シユータ４によりダイオ
ード素子３が回転ドラム１の切欠き２に供給され
ると、回転ドラム１は、間欠的に回転する。この
回転ドラム１の回転に伴つてダイオード素子３が
移送され、測定端子６ａ，６ｂの位置までくる
と、これらの測定端子６ａ，６ｂによりたとえ
ば、測定電源９による所定の電圧を印加すること
でダイオード素子３の逆方向耐電圧特性等の電気
的特性が測定される。この測定結果は、図示を省
略した記憶部に記憶される一方、この記憶部に記
憶された測定結果に基づき、シヤツタ８の開閉指
令信号を出力する。

そこで、ダイオード素子３が収納箱７の直上の
位置にくると、下方に自然落下し、シヤツタ８の
開閉方向によつて良品、不良品等に分類されて収
納箱７に収納される。

［発明が解決しようとする問題点］ 従来の電子部品検査装置は、上記のように構成
されているので、ダイオード素子等の電子部品
を、測定結果によつて分類するのに良品、不良品
別等２通りしか区分できず、耐電圧別等、電気的
特性を３通り以上に区分する場合に、不便である
等の問題点があつた。

［発明の目的］ この発明は、上記のような問題点を解決するた
めになされたもので、電子部品の測定結果に基づ
いて、少くとも３区分以上に分類することができ
る電子部品検査装置を得ることを目的とするもの
である。

［問題点を解決するための手段］ この発明にかかる電子部品検査装置は、電子部
品の電気的特性の測定結果に基づき、その作動命
令信号により作動する複数のスクレーパを回転ド
ラムの外周に近接して設けたものである。

［作用］ 作動命令のあつたスクレーパのみが作動し、回
転ドラムによつて間欠的に移送された電子部品
が、そのスクレーパに案内され、収納箱の所定の
収納部へ自然落下する。

［実施例］ 第１図は、この発明の一実施例による電子部品
検査装置の概略を示す側面図、第２図は、上記装
置におけるスクレーパの部分の拡大側面図、第３
図Ａ，Ｂ，Ｃは、それぞれ第２図のＡ−Ａ線、Ｂ
−Ｂ線、Ｃ−Ｃ線に沿う断面図である。

これらの図において、従来装置を示す第４図と
同一又は相当部分には、同一符号が付してある。

回転ドラム１には、アキシヤルリード型電子部
品、例えばダイオード素子３のリード部３ａを受
ける複数の円周方向に等ピツチで設けた切欠き
２、この切欠き２と同一軸線上に設けた該電子部
品３の本体部３ｂを収める円周方向の溝１ｃ、お
よび該溝１ｃを挟んだ両側に、可動スクレーパ１
０、１１のスクレーパ先端部１０ｃ，１１ｃを受
け入れる円周方向の溝部１ｃとを有している。１
０，１１は一定角度回転するスクレーパ、１２
は、回動しない固定式のスクレーパ、１３は、測
定端子６ａ，６ｂの測定結果を記憶する記憶手
段、１４は、この記憶手段によつて記憶された測
定結果に基づき、所定のスクレーパ１０または１
１を回動させるための作動命令信号を出力する作
動命令信号出力手段である。

また、上記可動スクレーパ１０，１１は、次の
条件を備えている。

測定端子６ａ，６ｂ等からなる測定手段の後
に、前記回転ドラム１の外周に近接して配置され
ていること、前記回転ドラム１の回転軸１ｂと
平行に、かつ、回転ドラム１の外周に近接して配
置された他の回転軸１０ａ，１１ａに固定され、
該回転軸１０ａ，１１ａの一端に設けたアクチユ
エータ１０ｂ，１１ｂにより回動すること、前
記作動命令信号出力手段１４からの作動命令信号
を受けて作動し、前記回転ドラム１に設けた円周
方向の溝部１ａ内に、スクレーパ先端部１０ｃ，
１１ｃが嵌入し、前記回転ドラム１によつて移送
されてくる前記ダイオード素子３のリード部３ａ
がスクレーパ先端部１０ｃ，１１ｃに当接して該
ダイオード素子３を下方に落下させること、 収納箱７は、この実施例の場合、仕切壁７ａに
よつて３つの区分される。

上記の構成において、今、図示を省略した電子
部品の供給装置によつてシユータ４内にダイオー
ド素子３が供給されると、シユータ４の下部から
ダイオード素子３が、回転ドラム１の切欠き２に
落下し、その切欠き２のダイオード素子３のリー
ド部が支持される。

回転ドラム１は、間欠的に回転し、その動作タ
イミングは、測定端子６ａ，６ｂ、スクレーパ１
０，１１の動作タイミングと同期がとられてい
る。

ダイオード素子３は、回転ドラム１の回転に従
つて円周方向に間欠的に移送され、ガイド板５に
案内されつつ測定端子６ａの位置に到来すると、
この測定端子６ａがダイオード素子３のリード部
に接触する。

今、この測定端子６ａを逆耐電圧測定用とする
と、測定電源９から所定の電圧を印加することに
よつてダイオード素子３の耐電圧を測定する。す
なわち、この実施例の場合、逆耐電圧が500V以
下か、または500V以上か、あるいはいわゆるシ
ヨートかオープンかを測定し、この測定結果を記
憶手段１３により記憶する。次いで、回転ドラム
１が、その外周上の切欠き２，２間のピツチ分だ
け回転し、測定端子６ｂの位置に到来する。この
測定端子６ｂを順電圧測定用とすると、第３図Ｃ
に示すように外側の一対の測定端子６ｂ，６ｂの
他にその内側に一対の測定端子６ｃ，６ｃを有
し、外側の一対の測定端子６ｂ，６ｂを電流端
子、内側の一対の測定端子６ｃ，６ｃを電圧端子
として、順電圧降下値を測定し、順電圧が所定値
以内か、以外かを判別する。これらの測定結果
は、記憶手段１３によつて記憶される。この記憶
手段１３によつて記憶された測定値に基づき、図
示を省略した手段により、所定の演算、処理がな
され、作動命令信号出力手段１４により、スクレ
ーパ１０，１１のいずれかが開くように作動命令
信号を出力する。

スクレーパ１０，１１は、第３図Ａ，Ｂに示す
ように、回転軸１０ａ，１１ａにそれぞれ取付け
られ、これらの回転軸１０ａ，１１ａ端は、アク
チユエータ１０ｂ，１１ｂにそれぞれ接続され、
前記の作動命令信号によつてアクチユエータ１０
ｂ、または１１ｂを作動させることで、スクレー
パ１０、または１１が開くことになる。

ここで、たとえば収納箱７の収納部ａを逆耐電
圧100V以上500V以下で順電圧が所定値範囲内の
もの、収納部ｂを逆耐電圧500V以上1500V以下
で順電圧が所定値範囲内のもの、収納部Ｃを逆耐
電圧および順電圧不良品のものが選別、収納され
るようにそれぞれ区分する。そこで、ダイオード
素子３の逆耐電圧特性が500V以上1500V以下で
順電圧が所定値範囲内であるとすると、作動命令
信号出力手段１４からは、スクレーパ１０に対し
ては、何ら出力信号を発せず、スクレーパ１１に
対して作動命令信号が出力され、アクチユエータ
１１ｂを介して回転軸１１ａを回動させ、スクレ
ーパ１１を開く。すなわち、回転ドラム１の外周
に設けた溝部１ａ内にスクレーパ１１が起立し、
このスクレーパ１１に回転ドラム１と共に回転す
るダイオード素子３のリード部が当り、下方へ自
然落下し、収納箱７の収納部ｂに区分される。

また、ダイオード素子３の逆耐電圧を測定した
結果、不良品に判定された場合には、スクレーパ
１０，１１のいずれにも作動命令信号出力手段１
４より作動命令信号を出力せず、スクレーパ１
０，１１は開かない。

したがつて、回転ドラム１の上のダイオード素
子３は、スクレーパ１０，１１を通過し、スクレ
ーパ１２の位置に到来する。スクレーパ１２は、
固定式のもので、常に開いている状態にあるた
め、このスクレーパ１２にダイオード素子３が突
き当り、下方に自然落下し、収納箱７の収納部ｃ
に区分される。

さらに、ダイオード素子３の逆耐電圧特性が
100V以上500V以下で順電圧が所定値範囲内の場
合には、作動命令信号出力手段１４よりスクレー
パ１０に対して作動命令信号を出力し、アクチユ
エータ１０ｂを介して回転軸１０ａを回動させ、
スクレーパ１０を開き、収納箱７の収納部ａにダ
イオード素子３を落下させる。

なお、上記の実施例では、区分する収納部ａ，
ｂ，ｃの数に対応させてスクレーパを３つ設けた
が、勿論、この数に制限されるものではなく、回
転ドラム１の大きさを考慮し、円周方向にスクレ
ーパを多数設置してさらに多くの区分を可能とす
るものである。

［発明の効果］ この発明は、以上のように構成したので、従来
のように、電子部品の電気的特性を２区分のみに
区分するのではなく、少くとも３区分以上に自動
的に分類することができ、後の作業工程を簡略化
することが可能となる。また、回転ドラムにより
移送されてくるアキシヤルリード型電子部品のリ
ード部が、スクレーパの先端部に当接し、強制的
に排出されるので、回転ドラムに付着して残存す
るものがなく特性別の分類が確実に行なわれる。
等の優れた効果を奏するものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の一実施例による電子部品
検査装置の概略を示す側面図、第２図は、上記装
置におけるスクレーパの部分の拡大側面図、第３
図Ａ，Ｂ，Ｃは、それぞれ第２図のＡ−Ａ線、Ｂ
−Ｂ線、Ｃ−Ｃ線に沿う断面図、第４図Ａ，Ｂ
は、従来の電子部品検査装置の概略を示す側面図
および部分正面図である。 図において、１……回転ドラム、２……切欠
き、３……ダイオード素子、４……シユータ、６
ａ，６ｂ……測定端子、７……収納箱、１３……
記憶手段、１４……作動命令信号出力手段、１
０，１１，１２……スクレーパ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 円周方向に等ピツチで設けたアキシヤルリー
   ド型電子部品のリード部を受ける複数の切欠き、
   該電子部品の本体部を収める円周方向の溝、およ
   び該溝を挟んだ両側に、可動スクレーパのスクレ
   ーパ先端部を受け入れる円周方向の溝部とを有
   し、かつ、間欠的に回転する回転ドラムと、 この回転ドラムの外周に近接して設けられ、該
   回転ドラムによつて前記アキシヤルリード型電子
   部品を円周方向に移送中に、電気的特性を測定す
   る測定手段と、 この測定手段によつて測定された測定結果を記
   憶する記憶手段と、 この記憶手段によつて記憶された測定結果に基
   づき、作動命令信号を出力する作動命令信号出力
   手段と、 次の条件を備えた可動スクレーパと、 前記測定手段の後に、前記回転ドラムの外周
   に近接して配置されていること、 前記回転ドラムの回転軸と平行に、かつ、回
   転ドラムの外周に近接して配置された他の回転
   軸に固定され、該回転軸の一端に設けたアクチ
   ユエータにより回動すること、 前記作動命令信号出力手段からの作動命令信
   号を受けて作動し、前記回転ドラムに設けた円
   周方向の溝部内に、スクレーパ先端部が嵌入
   し、前記回転ドラムによつて移送されてくる前
   記アキシヤルリード型電子部品のリード部がス
   クレーパ先端部に当接して該電子部品を下方に
   落下させること、 前記可動スクレーパの最後部に配置され、前記
   回転ドラムによつて移送されてくる残りのアキシ
   ヤルリード型電子部品を強制的に該回転ドラムか
   ら掻き落とす固定スクレーパと、 を有することを特徴とする電子部品検査装置。