JPH0375069A - 外部プログラミング装置の自己試験装置と試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、植え込み可能なペースメーカのような植え
込み可能な装置をモニタしかつ制御するために用いられ
る外部プログラミング装置の動作を検証するための試験
装置と試験方法とに関する。特にこの発明は、植え込み
可能な装置と遠隔測定リンクを確立するために用いられ
る外部プログラミング装置内の交信回路の動作を検証す
る内蔵形試験装置と試験方法とに関する。

［従来の技術］ 植え込み可能な装置は所望の機能を遂行するという目的
のために人間又は動物の体内に植え込まれる。この機能
は身体機能の一つをモニタするような単に観察又は実験
を目的としたものでもよく、あるいはこの機能は所望の
応答を誘起する目的のために身体組織又は神経又は器官
へ電気的刺激パルスを供給するような、治療又は調節を
目的としたものとすることができる。最近の植え込み可
能なデマンド形ペースメーカは、観察的及び調節的機能
を共に遂行する植え込み可能な装置の一例である。すな
わちこの種のペースメーカは心臓が適当なレートで鼓動
することを確かめるために心臓をモニタし、もしレート
が不適当ならばこのペースメーカは、心臓に適当なレー
トで鼓動することを強制する目的で心臓へ電気的刺激パ
ルスを供給する。

植え込み可能な装置がこの装置を植え込まれた人間又は
動物に対し不便と危険を与えることなくその機能を遂行
するために、データ及び指令を植え込み可能な装置と外
部装置との間で容易に交信することができるように、成
る種の非侵襲性遠隔測定装置を用いなければならない、
コントローラ、プログラマ又はモニタのような種々の名
前により知られているこの種の外部装置は、一般にここ
では外部プログラミング装置と呼ばれ、ここで外部とは
植え込まれていないことを意味する。外部プログラミン
グ装置は、植え込み可能な装置の動作を制御及びモニタ
することができ、また植え込まれた装置により探知又は
検出されたデータを読み取り解明し又は別の形で利用す
ることができる外部プログラミング装置へこれらのデー
タを転送することができるような、便利な機構を提供す
る。

一般に知られた植え込み可能な装置は植え込み可能なペ
ースメーカである。すべての公知の植え込み可能なペー
スメーカは、その動作を制御（プログラム）しモニタす
るために相応の外部プログラミング装置を利用する。こ
の発明は植え込み可能なペースメーカと共に用いられる
外部プログラミング装置に制限されないが、この種の外
部装置はこの発明のための現在最もよく知られた用途で
ある。従ってこの種の装置すなわち植え込み可能なペー
スメーカ及び相応の外部プログラマを基本的に理解すれ
ば、この発明を一層よく理解しかつ評価することができ
る０例えばペースメーカに関する幾つかの特徴の説明は
、例えばアメリカ合衆国特許第４１３８１１１９８８号
、同第４７１２５５５号及び同第４７８８９８０号明細
書に記載されている。同様に最近の外部プログラミング
装置の説明はアメリカ合衆国特許第４８０９８９７号明
細書に記載されている。

植え込み可能なペースメーカと外部プログラミング装置
との間の交信リンクを確立するために用いることができ
る種々の形式の遠隔測定装置のうちの幾つかのものの説
明は、例えばアメリカ合衆国特許第４８８１１１１号明
細書及び本出願と同時出願のアメリカ合衆国特許出願明
細書「植え込み可能な装置のための高速ディジタル遠隔
測定装置」　（出ｗ４＃号第０７／３９１０８０号）に
記載されティる。

植え込み可能な装置をモニタしかつ制御するために外部
プログラミング装置を用いることに関連する困難な点の
一つは、潜在する機能不全が検出されたときにこの潜在
性の機能不全の出所を迅速に判断できるようにするとい
うことである０例えばもし植え込み可能な装置から受信
された状態データが、植え込み可能な装置の回路の一つ
が適当に機能していないことを示すならば、植え込み可
能な装置内の回路が実際にうまく作動していないのか、
又は外部プログラミング装置内の遠隔測定回路及びデー
タ処理回路が適当にデータを表示できないでいるのかを
、速やかに判断しなければならない、同様にもしプログ
ラミング指令が外部プログラミング装置から植え込み可
能な装置へ送られはするが、植え込み可能な装置がこの
指令に適当に応答できないならば、正しい指令が実際に
外部プログラマにより植え込み可能な装置へ送られたか
、又は植え込み可能な装置のどこが故障しいるかに関し
て、速やかに判断をしなければならない。

従来は前段で述べたような判断のためには、問題点の出
所を明らかにするための特殊な診断試験を行うことが必
要であった。これは実施のためにかなりの時間を費やす
ほかに、そのような診断試験のためにペースメーカ及び
外部プログラマがどのように作動するかという詳細な知
識、並びにマルチメータ、信号発生器、オッシロスコー
プなどの試験器具の追加使用が必要となることは稀でな
い、更にこのような試験器具の使用に熟練した人間もま
た必要である。残念ながらそのような試験器具の追加及
び／又は熟練者は、問題点の出所に関する判断を行わな
ければならないときに必ずしも容易に都合がつかない、
更に特殊な診断試験が実施され潜在する問題点の出所が
同定されるときでさえ、試験結果が適当な調整作業を行
うためには十分なデータを与えないおそれがある。この
ような調整作業を行うことができるようにするためには
非常に広範囲かつ総合的な試験を行うことが積でなく、
試験を行うために更に多くの時間と更に多くの試験器具
と技術的に熟練した人員とを必要とする。従って、特殊
な試験器具又は技術的に熟練した人間を必要とせずに、
潜在性の機能不全の出所の正確な判断並びに適当なＸｉ
整作業のために容易にかつ迅速に行うことができる総合
的な試験が必要となる。このような総合的試験は、実際
に使用中の植え込み可能な装置すなわち患者に植え込ま
れた装置の診断評価を非常に容易にするばかりでなく、
製造設備でのこれら装置の製造及び初期試験中に非常に
有効となる。

技術的に熟練した人員が不在の場合には、植え込み可能
な装置を使用するときに特定の試験をいつ行うべきかと
いう問題がある０例えば植え込み可能な装置及び相応の
外部プログラミング装置の固有の動作が生命をおびやか
す状態を与えるおそれのあるような場合には、周期的に
外部プログラミング装置の性能を検査することが望まし
い、医学的に高度に訓練され、かつ外部プログラミング
装置の使用法に関して訓練され、それにもかかわらず外
部プログラミング装置を完全に理解するのに必要な専門
知識に欠ける医師又は医療技師は、そのような周期的試
験をいつ実施すべきかを知らないか又は認識していない
おそれがある。更にほかの一層緊急な用件に従事してい
る医師又は医療技師は周期的な試験を行うのを忘れるお
それがある。それゆえに必要なことは、外部プログラミ
ング装置に組み込まれかつ装置の動作中の所定の時点で
自動的に主要試験を行うような自己試験装置である。

植え込み可能な装置の使用において通常遭遇する別の問
題は、外部プログラミング装置との適合性である０例え
ば植え込み可能な医療装置（例えばペースメーカ）の分
野においては、特定のペースメーカ製造業者が患者に植
え込まれた幾つかの形式のペースメーカを有することが
積でない、各形式のペースメーカは異なる形式の遠隔測
定装置を内蔵し、ペースメーカと共に用いるために異な
る形式の外部プログラミング装置を必要とすることがあ
る。従って医師（又は他の医療従事者）は、体内に植え
込まれた種々の形式のペースメーカを有するそれぞれの
損出の全患者を適切に監視するために、幾つかの異なる
形式の外部プログラミング装置を必要とすることがある
。どの外部プログラミング装置をどの患者に対して使用
すべきか、並びに異なる形式のすべての外部プログラミ
ング装置についてどの試験を行うべきかを、記憶するこ
とは極めて煩雑である。従って必要なことは、特定の製
造業者の植え込み可能な装置のすべての形式に対して使
用でき、かつ適切な時点で適切な試験を自動的にかつ選
択的に実施し内部に組み込まれた自己試験装置を備える
ようにした、汎用の外部プログラミング装置である。

［発明が解決しようとする課題］ この発明は前記の及びその他の要求に有利に対処するこ
とを課題とする。

［課題を解決するための手段］ この発明は、植え込み可能な装置の性能を制御しかつモ
ニタするために用いられる外部プログラミング装置の性
能を試験するための自己試験装置及び試験方法を目指す
、この種の自己試験装置及び試験方法は広範囲の種々の
用途に用いることができるけれど、これらは特に植え込
み可能な医療装置と共に用いるのに好適である。これは
、ペースメーカのような植え込み可能な医療装置の動作
を所望の性能に対して規則的にモニタしかつ検査しなけ
ればならないからである。この種のモニタ作業は通常外
部プログラミング装置を用いて行われる。しかしながら
外部プログラミング手段を用いて植え込み可能な医療装
置をモニタする際に、もし成る種の機能不全が指摘され
たならば、機能不全の出所が植え込み可能な装置である
か又は外部プログラミング装置であるかを迅速かつ確実
に判断することが肝要である。この発明は外部プログラ
ミング装置の回路特に遠隔測定回路の自己試験を迅速に
行い、それにより機能不全の出所に関して指摘を行う。

この発明に基づく自己試験装置で用いられるハードウェ
アは外部プログラミング装置に全体を内蔵され、従って
信号発生器又は信号測定装置（マルチメータ、オッシロ
スコープなど）のような試験装置の追加の必要性を無く
する。同様にこの発明により提案される自己試験方法は
、記憶された一連の指令又は外部プログラミング装置内
に記憶された等価のプログラミング手段により制御され
るような、内蔵のハードウェアを用いて自動的に実行す
ることができる。従って自己試験の実施は特殊な器具又
は操作員の熟練を必要とせず、必要なとき又は所望のと
きに容易に実施することができる。

ここに記載の自己試験装置は実施しようとする幾つかの
種々の試験を実施し、それにより外部プログラミング装
置のすべての主要機能を検証するのが有利である。この
ような総合的な検証により潜在性の機能不全の出所の迅
速な同定が可能となるばかりでなく、機能不全に応じて
行うべき適当な調整作業の決定も容易となる。

更に有利な実施態様では、自己試験装置は交信装置の動
作中に所定の時点で自動的に呼び出され、自己試験装置
に含まれる試験の一つが試験不合格（機能不全）を指摘
するときだけこの自己試験結果を表示する。従って試験
結果の表示がないときには、外部プログラミング装置内
の相応の回路が適当に機能していることを示す、従って
動作時にこのような試験結果が表示されなければ、外部
プロログラミング装置の使用者はどんな形式の診断試験
又は同様な試験を行うことに全く無関心で差し支えない
。

外部プログラミング装置内の交＠（遠隔測定）装置は一
般に、出力信号をアンテナを経て植え込み可能な装置へ
送信するための一つ以上の送信器を備える。（外部プロ
グラミング装置が一つ以上の形式の植え込み可能な装置
と共に用いるために設計されている場合には、多重送信
器回路を用いることができることに注意すべきである。

）外部プログラミング装置は更にアンテナを経て植え込
み可能な装置から入力信号を受信するための少なくとも
一つの受信器回路を備える。ドライバ回路は送信器回路
の動作を制御する。ドライバ回路に接続されたマイクロ
プロセッサ又は等価の制御回路は、送信される出力信号
の情報内容及びタイミングを制御する。帯域フィルタ及
びＡＭ復調器は受信器回路を経て受信された入力信号を
処理する。マルチプレクサ回路は、ＡＭ復調器から得ら
れた復調信号を含む外部プログラミング装置の回路全体
からの複数の状態信号のうちの一つを、マイクロプロセ
ッサへ選択的に接続する。

この発明の自己試験装置は、選択的に送信器回路及び／
又は帯域フィルタへ注入される試験信号を、マイクロプ
ロセッサ又は等価な回路に発生させるようにする手段を
備える。自己試験装置は更に、マイクロプロセッサによ
り制御されて帯域フィルタからの出力信号又は送信器回
路からの出力信号をＡＭ復調器の入力端に接続するのを
選択的に許すスイッチを備える。こうして注入された試
験信号又は注入された試験信号の効果が状態信号のうち
の一つを経てマイクロプロセッサへ戻される。そしてマ
イクロプロセッサは所望の性能基準が遠戚されているこ
とを保証するために状態信号を検査する。

例えば送信器回路を試験するために、マイクロプロセッ
サは適当な試験データ語、例えば所定のビットパターン
の幾つかのビットを発生させ、このデータ語が送信器回
路へ注入される。この試験データ語は単に所定の周波数
の方形波とすることができる。そして送信器回路からの
出力信号が（一般の交信チャネルに生じる損失を模擬す
るために）適当な量だけ減衰させられた後に復調器回路
へ結合され、ここで試験データ語が復調される。そして
復調された出力信号がマルチプレクサ回路を経てマイク
ロプロセッサへ送り返され、ここで適当なデータ語に対
して検査される。もし適当なデータ語がマイクロプロセ
ッサに戻されているならば、このことは送信器回路が適
当に機能しているという指摘として役立つ。

同様な試験が外部プログラマのその他の回路を試験する
ために実施される。これらの試験はすべて、適当な試験
信号を発生させることと、試験信号をプログラマの回路
内の適当な位置へ注入することと、試験中の特定の回路
の出力端から得られた又は導かれた結果信号をマイクロ
プロセッサのような外部プログラマ内の中央位置へ送り
返すこととを含み、マイクロプロセッサでは結果信号が
試験中の特定の回路が適当に機能している場合に受信さ
れるべき信号と比較される。

この発明に基づく自己試験装置により、試験を選択的に
実施できるか又は所定の順序の幾つかの試験を自動的に
実施できるのが右利である。

一実施態様によればこの発明に基づく自己試験装置は、
外部プログラミング装置内に試験信号を発生させる試験
信号発生手段と、試験信号を外部プログラミング装置内
の所定の回路位置へ注入する注入手段と、試験信号の注
入により外部プログラミング装置内の所定の回路位置に
生じる所定の信号をモニタする監視手段と、モニタされ
た信号に関連する種々のパラメータ値を期待されるパラ
メータ値と比較する比較手段とを備える外部プログラミ
ング装置の試験装置として＃徴づけちれる。

別の実施態様によれば、この発明は交信装置と共に用い
るための自己試験装置として特徴づけられ、ここで交信
装置は、送信しようとする第１の信号を発生させるドラ
イバと、第１の信号をアンテナへ出力信号として与える
送信器と、ドライバを制御する制御器と、入力信号をア
ンテナから受信しこれを第２の信号へ変換する受信器と
、第２の信号をろ過してそれからろ過された第２の信号
を作るフィルタと、ろ過された第２の信号を復調しそれ
から復調信号を作る復調器と、復調信号を含む複数の状
態信号の一つを制御器へ選択的に接続する第１のスイッ
チとを備える。この発明のこの実施態様に基づく自己試
験装置は、試験信号を発生させるための制御器内部の信
号発生手段と。

試験信号を第１の信号へ選択的に加える第１の加算器と
を備え、それにより出力信号が試験信号を選択的に含み
、また試験信号を第２の信号へ選択的に加算する第２の
加算器を備え、それによりろ過された第２の信号が試験
信号を選択的に含み、また出力信号又はろ過された第２
の信号の一つを復調器へ選択的に接続する第２のスイッ
チを備え、それにより試験信号が送信器及び復調器を通
過した後に、又は試験信号がフィルタ及び復調器を通過
した後に、制御器へ接続された状態信号のうちの一つが
試験信号を選択的に含むようにされる。試験信号が交信
装置の性能について予期される応答をもたらしたことを
検証するために、制御器はこれへ戻される状態信号のう
ちの選ばれた一つを検査する手段を備える。もしそうで
あるならば自己試験は合格と考えられ、もしそうでない
ならば自己試験は不合格と考えられる。

この発明は更に、外部プログラミング装置内で試験信号
を発生させることと、外部プログラミング装置内の所定
の回路位置へ試験信号を注入することと、試験信号の注
入から生じる所定の信号を外部プログラミング装置内の
所定の回路位置でモニタすることと、モニタされた信号
に関連する種々のパラメータ値を期待されるパラメータ
値と比較することとから威る外部プログラミング装置の
試験方法として特徴づけられる。

同様にこの発明は、 ａ）外部プログラミング装置が初めて給電される時点で
所定の試験を自動的に行い、 ｂ）段階ａ）で行われた試験の結果が容認される結果の
範囲内にあるかどうかを判断し、Ｃ）段階ｂ）で判断さ
れたときにもし試験の結果が容認できる結果の範囲内に
ないときには、段階ａ）で行われた試験の結果を自動的
にセーブし、ｄ）もし行おうとするならばそれぞれの追
加試験を先行する試験の完了時に開始して、追加の所定
の試験のために段階ａ）〜Ｃ）を自動的に繰り返し、 ｅ）行われた所定のすべての試験に対して段階Ｃ）でセ
ーブされた試験結果を自動的に表示する という段階から成る、外部プログラミング装置を自動的
に試験する方法として特徴づけられる。この方法はプロ
グラミング装置が初めて給電されたときに一連の所定の
試験が自動的に行われ、結果の容認できる範囲内に入ら
ないすべての試験結果が自動的に表示されるので有利で
ある。

［発明の効果］ 植え込み可能な装置と共に使用される外部プログラミン
グ装置を迅速に試験するための装置と方法とを提供し、
それにより外部プログラミング装置により植え込み可能
な装置をモニタする際に指摘される潜在性の機能不全が
、植え込み可能な装置により引き起こされているか又は
外部プログラミング装置により引き起こされているかに
関して、判断を迅速に行うことができることがこの発明
の一つの特徴である。

植え込み可能な装置と共に利用するのに適した外部プロ
グラミング装置に内蔵され融通性のある試験回路を提供
し、植え込み可能な装置及び外部プログラミング装置の
製造及び初期試験中に、及び植え込まれた後の植え込み
可能な装置のその後の使用中に、この試験回路を有利に
利用できることがこの発明の別の特徴である。

容易に使用でき試験器具の追加又は操作員の特殊な熟練
を必要としないような、外部プログラミング装置の内蔵
形試験回路を提供することがこの発明の更に別の特徴で
ある。

プログラミング装置のすべての主回路を対象とする広範
囲な総合的試験を行うような、使用容易な内蔵形試験回
路を提供することがこの発明の更に別の特徴である。

外部プログラミング装置が初めて給電されるときのよう
な外部プログラミング装置の動作中の所定の時点で、所
望の一連の試験を自動的に実施するようにプログラムす
ることができるような、内蔵形試験回路を提供すること
がこの発明のなお別の特徴である。この発明のこの特徴
によれば、不合格となった試験の結果のような選ばれた
試験結果を将来の参照及び表示のために自動的にセーブ
することができる。

植え込み可能なペースメーカの幾つかの異なる形式及び
バージョンのような多様な種々の形式の植え込み可能な
装置と共に用いることができ、目己試駿能力を有する単
一の融通性のある多モード外部プログラミング装置を提
供することがこの発明の−２の特徴である。

回路が適当に働いているかどうかを判断するために外部
プログラマの回路を容易かつ迅速に試験する方法を提供
することがこの発明の別の特徴である。

［実施例］ 次にこの発明に基づく外部プログラミング装置の自己試
験装置の複数の実施例を示す図面により、この発明の詳
細な説明する。

下記の説明はこの発明を実施するために現在考えられる
最良の方式に関するものである。しかしこの説明は制限
の意味に取られるべきでなく、この発明の一般原理の説
明を目的としているにすぎない、この発明の範囲は特許
請求の範囲に関連して確定されるべきである。

以下のこの発明の説明においては、同じ符号が全図面を
通して同じ部品又は要素に付けられている。

第４図は、患者１４に植え込まれた典型的な植え込み可
能な装置すなわちペースメーカ１２を略示する。ペース
メーカ１２は外部プログラミング装置１６と交信状態で
示されている。（この発明はペースメーカ又はペースメ
ーカと共に用いられるプログラマに制限されるのではな
く、すべての植え込み可能な装置及びそれに相応する外
部プログラミング装置に適用されることに注意すべきで
ある。）外部プログラミング装置１６は表示スクリーン
１８、制御ボタン又はスイッチ２０、及び紙テープ２２
上にデータ又は波形を印刷する手段を備える。

使用中に、適当なケーブル２６を経てプログラマ１６に
接続されたプログラミングへラド２４は、植え込まれた
ペースメーカ１２のそば（数センチ以内）に置かれてい
る。プログラミングヘッドは、ペースメーカ１２内部の
相応のアンテナコイルに誘導結合又は他の方法で電磁結
合されたアンテナコイルを備える。この結合は外部プロ
グラミング装置１６から植え込み可能なペースメーカ１
２へ指令を送り、またペースメーカ１２から外部プログ
ラミング装置１６へ情報を送ることを可能にするので有
利である０例えば外部プログラミング装置１６は適当な
一つ又は複数のボタンを押すことにより選択される指令
をペースメーカ１２に送ることができ、この指令は例え
ばＶＶＩモードのような特定のモードでペースメーカを
働かせる。ペースメーカ１２はデータをプログラマ１６
ヘ送り、このデータはペースメーカの現在プログラムさ
れた動作モード、内部電池の状態、及び検出回路により
検出された心臓の活動を表示する。

データ及び心臓の活動は表示スクリーン１８上に表示さ
れるか及び／又は紙テープ２２上に印刷されるのが有利
である。前記アメリカ合衆国特許第４８０８８９７号明
細書に記載のように表示スクリーン１８は１種々のプロ
グラムの選択肢を選択するためにプログラマの使用者が
押すことができる追加のボタン又はキーとしてスクリー
ン自体を使用することができる接触感応性被膜を備える
ことができる。

第５図には、汎用の外部プログラミング装置３０及び植
え込み可能な装置３２の交信（遠隔測定）回路のブロッ
ク線図が示されている。植え込み可能な装置３２の遠隔
測定回路は受信器３４及び送信器３６を備える。これら
の回路は植え込み可能な装置の別の回路３８に結合され
ている。

動作時に受信器回路３４は外部プログラミング装置３０
から送信される指令信号を受信し、この指令信号は象徴
的に波形線４０として第５図に示されている。送信器３
６は外部プログラミング装置３０ヘデータ信号を送信し
、このデータ信号は象徴的に波形線４２として第５図に
示されている。

植え込み可能な装置３２の送信器３６及び受信器３４は
、信号４０を受信し又は信号４２を送信するためにアン
テナコイル又は等価な装置を備える（第５図には示され
ていない）、成る形式の植え込み可能な装置では、同じ
アンテナコイルが送信と受信とのために使用されている
。この発明は外部装置３０内部の動作及び回路に関係す
るので、植え込み可能な装置内の回路に関しては本明細
書ではこれ以上説明しない。

第５図に示すように、外部プログラミング装置３０（以
降でしばしば単に外部装置又はプログラミング装置又は
プログラマと呼ぶ）は適当な記憶装置回路４６に結合さ
れたマイクロプロセッサ回路４４を備える。記憶装置回
路４６はその内部に、マイクロプロセッサを所定の方式
で作動させる種々の一連の指令を記憶している。これら
の記憶された指令は所望のときに、信号線５０を経て記
憶装置４６へ送られる適当な書き換え指令を用いて記憶
装置４６の内容を書き直すことにより変更することがで
きる。同様にマイクロプロセッサ４４の動作を信号線５
２を経てマイクロプロセッサへ適当な割り込み指令を送
ることにより、人手により変更する（すなわち記憶され
た一連の指令をオーバライドする）ことができる、書き
換え指令及び割り込み指令は共に一般に外部装置３０の
操作員により作り出されることに注意すべきである。記
憶装置回路を用いてマイクロプロセッサ回路をプログラ
ムする方法を含むマイクロプロセッサ回路の操作は従来
技術においてよく知られている。

植え込み可能な装置３２へ指令を送るために、外部装置
３０は送信回路５６に結合されたドライバ回路５４を備
える。マイクロプロセッサ４４により制御されたときに
植え込み可能な装置へ送信するために、適当な指令語を
発生させることがドライバ回路５４の機能である。ドラ
イバ回路５４により発生させられた指令語を植え込み可
能な装置３２への送信に適した形へ変換すること、すな
わち指令語により変調された搬送波信号を発生させ変調
された搬送波信号をアンテナコイル５７へ与えることが
送信回路５６の役目である。

第５図に示すように、送信回路５６は複数の個々の送信
回路５８ａ、５８ｂ、・・◆５８ｎを備える。マイクロ
プロセッサ４４により制御されるスイッチ６０は、個々
の送信回路５８ａ、５８ｂ、・・・５８ｎのうちのどれ
がドライバ回路５４からの指令語を受けるかを決定する
。そして選ばれた送信回路が指令語により変調された搬
送波信号をアンテナコイル５８へ与える。第５図は単一
のアンテナコイル５７が個々の送信回路５８ａ、５８ｂ
、・・・５８ｎのすべてにより共用されているが、一つ
又は複数の個々の送信回路が固有のアンテナを有するこ
ともまた可能である。

送信モジュール５６内の＃１ａの個々の送信回路５６ａ
、５８ｂ、・・・５８ｎを持つことの目的は、多様な種
々の形式の植え込み可能な装置３２と共に外部装置３０
を用いることができるようにするためである。この種の
植え込み可能な装置は遠隔測定リンクを確立するために
全く異なる構成を用いることがある０例えば一つの形式
の植え込み可能な装置はそれと外部プログラマとの間の
交信リンクを確立するための機構として反射インピーダ
ンスを用いる。他の形式の植え込み可能な装置は無線周
波数リンクを用いる。また別の形式の装置は磁気結合を
用いる。更に用いられている変調の形式は植え込み可能
な装置ごとに広範囲に変化する０例えば成る植え込み可
能な装置はＦＳＫ　（周波数偏移キーイング）変調を用
い、一方他の装置はＡＳＫ　（振幅偏移キーイング）変
調又はＰＳＫ　（位相偏移キーイング）変調を用いる０
例えばアメリカ合衆国特許第４６８１１１１号明細書を
参照されたい、従ってそれぞれの個々の送信器回路５８
ａ、５８ｂ、・◆・５８ｎは特定の形式の植え込み可能
な装置と結合するように、すなわち交信リンクを確立し
ようとする特定の植え込み可能な装置のための正しいモ
ードの送信に調和した正しい搬送波周波数での正しい形
式の変調を提供するように設計されている。

更に第５図に示すように、外部装置３０は更に受信器回
路６２を備える。植え込み可能な装置３２から送られた
信号４２を受信アンテナコイル６４を介して受信するこ
とが受信回路６２の役目である。受信回路６２は送信回
路５６と同様に複数の個々の受信回路６６ａ、６６ｂ、
・・・６６ｎを備え、これらの回路のうちの一つが信号
４２を受信するためにマイクロプロセッサ４４により制
御されるスイッチ６８により選ばれる。それぞれの受信
回路６６ａ、６６ｂ、・争・６６ｎは特定の形式の植え
込み可能な装置から送られる信号４２の形式に適合する
ように設計されている。こうして植え込み可能な装置が
ＰＳＫ又はＦＳＫ又はＡＳＫ　（又は他の形式の変りを
用いて変調された信号４２を送信するかどうかには関係
なく、かつ送信モードが反射インピーダンス又は無線周
波数遠隔測定又は他の形式の送信であるかどうかには関
係なく、信号を適当に受信するために受信器回路６６ａ
、６６ｂ、・・・６６ｎの一つをマイクロプロセッサ４
４により選ぶことができる。こうして外部装置３０は極
めて多種類の形式の植え込み可能な装置に結合できる真
に汎用の外部装置とすることができる。

当業者にとって明らかなように、第５図はそれぞれの送
信器回路５８ａ、５８ｂ、・・・５８ｎ及びそれぞれの
受信回路６６ａ、６６ｂ、・・・６６ｎに対して個々の
ブロックを示しているが、アンテナコイル５７．６４を
備えるこれらの回路の多くの部品は種々の回路の間で共
用することができる。更にスイッチ６ｏ、６８は機能上
のスイッチであり、実際には現実のスイッチは必要でな
い、むしろ用いられる特定の植え込み可能な装置との望
ましい適合性を得るために、送信回路５６又は受信回路
６２の異なる部分をマイクロプロセッサ４４により単に
許容又は抑止できればよい、送信回路５６及び受信回路
６２内で使用するための適当な送信回路及び受信回路の
詳細図は、当業者により容易に作られるか又は前記特許
明細書から得られる。

更に第５図では、受信回路６２からの出力信号一般には
成る形式の変調されたＩＦ（中間周波数）信号が、信号
線６９を経てフィルタ回路７０へ送られることが示され
ている。フィルタ回路７０の目的は受信信号からノイズ
を除去することである。換言すればフィルタ回路７０の
目的は受信信号の所定の周波数を中心とする狭い周波数
帯域だけを受は入れることであり、それにより信号線７
２上に現れるろ過された信号（フィルタ７゜の出力）の
ＳＮ比が著しく改善される。一般にフィルタ７０は所定
の周波数を中心とする帯域フィルタ（Ｂ　Ｐ　Ｆ）から
成る。

フィルタ７０の出力すなわち信号線７２上に現れる信号
は次に復調器７４へ送られる。ろ過された信号を復調し
、それにより植え込み可能な装置３２により送られた原
信号４２の中に含まれるデータを復元することが復調器
回路７４の役目である。一般に受信器回路６２は用いら
れる変調形式が何であろうと振幅変調（ＡＭ）されたＩ
Ｆ倍信号変換するように設計されているので、復調器７
４はＡＭ復調器から成る。復調器７４により復元された
データは信号線７６（復調器７４の出力ｔ＆）上にデー
タ信号として現れる。そしてこのデータ信号は表示、記
憶又は他の用途のために外部装置内部の他の回路に利用
できるようにされる。

復調器７４により復元されたデータ信号の用いられる用
途の一つは、植え込み可能な装置３２内に故障が生じた
又は生じていないことをマイクロプロセッサ４４に信号
で知らせること、すなわちマイクロプロセッサ４４に植
え込み可能な装置３２の現在の状態を指示することであ
る。植え込み可能な装置の現在の状態並びに外部装置の
現在の状態は、一つ以上の状態信号８０により示される
ように、マイクロプロセッサにより追従されるべき次の
一連の指令を制御する。この目的のために状態信号８０
に示すように、データ信号はマルチプレクサ回路７８へ
送られる。マルチプレクサ回路７８はこれに与えられる
信号すなわち信号７６上のデータ信号又は状態信号８０
のうちの一つを選択し、選ばれた信号をＡ−Ｄ変換器８
２へ与える。Ａ−Ｄ変換器８２はアナログ信号である選
ばれた信号を相応のディジタル信号へ変換し、このディ
ジタル信号をマイクロプロセッサ４４へ与える。そして
マイクロプロセッサ４４は受信された信号を吟味し、信
号の値に依存して適当な動作を行う。

次に第１図には、外部プログラミング装置３０′　のブ
ロック線図がこの発明に基づく自己試験装置を備えるこ
とを示す、第１図に示されたブロックの大部分は第５図
のブロックに相応し、同じ符号が付けられている。しか
し第１図はドライバ回路５４と送信回路５６との間に挿
入された第１の加算回路８４を備える。この加算回路８
４により、信号１４１８８を経て与えられるマイクロプ
ロセッサ４４からの信号を送信回路５６に与えられる指
令信号に注入（加算）することができる。

第２の加算回路８６は受信回路６２とフィルタ７０との
間に挿入されている。この加算回路８６により、信号線
９０を経て受信されたマイクロプロセッサ４４からの信
号を選択的に受信回路６２により受信されたデータ信号
に注入（加算）することができる、更にスイッチＳ１が
フィルタ７゜と復調器７４との間に挿入されている。マ
イクロプロセッサ４４により制御されるこのスイッチに
より、フィルタ回路７０からのろ過信号又は送信器回路
５６によりアンテンテコイル５フへ与えられた変調搬送
波信号を、復調器回路７４へ入力信号として与えること
ができる。減衰器回路９２は送信器回路５６からの変調
搬送波信号を減衰させ後に、この信号をスイッチＳ１へ
接続する。

加算回路８４．８６は第２図に示すように単純な抵抗形
加算回路又は等価な回路を用いて実現することができる
。このような回路はここで加算された各信号に対し制御
された利得定数を提供する。この利得定数はここで用い
られる抵抗器の値により制御することができる０例えば
第２図に示すように第１の抵抗器９４は値Ｒを有し、第
２の抵抗器９６は値ｋＲを有する。抵抗器Ｒの自由端に
加えられる信号の相対的大きさが１の値であり、抵抗器
ｋＲの自由端に加えられる信号の相対的大きさが１７に
の値を有するときに、両信号は同等に加算される。すな
わち出力信号は抵抗器ＲとｋＲとの共通端で一方の信号
と他方の信号とを５０％ずつ含む。

第１図に示す構成により多くの自己試験を外部装置３０
１内で実施することができるので有利である０例えば装
置３０Ｔ　の送信部分を試験しようとするならば、マイ
クロプロセッサ４４は単に既知の周波数の方形波とする
ことができる適当な試験指令語を発生させる。そしてこ
の試験指令語が加算回路８４へ注入される。ドライバ回
路５４はこの期間中マイクロプロセッサにより抑止する
ことができるので、試験指令信号は送信器回路５６へ与
えられる唯一の信号である。送信器回路５６は試験指令
語により搬送波信号を変調し、結果として得られた出力
信号をアンテナコイル５７へ与える。この出力信号の減
衰させられたものがスインチＳ１へ与えられ、ここでこ
の信号が選択されて復調器回路７４の入力端に与えられ
る。復調器回路７４は信号を復調してそれから搬送波を
除き、結果として得られた復調試験指令語をマルチプレ
クサ７８及びＡ−Ｄ変換器８２を経てマイクロプロセッ
サ４４へ戻す、マイクロプロセッサ４４はこうして受け
た試験指令語を発生させた試験指令語と比較する。もし
受けた試験指令語が発生させた試験指令語と同一である
ならば、外部装置３０１　の送信部分の試験を目指すこ
の特定の試験が首尾よく合格となったと考えられる。

多数のその他の自己試験を第１図に示す装置を用いて実
施することができる０例えば適当な試験信号をマイクロ
プロセッサ４４内に発生させ加算回路８６へ注入するこ
とができる。そしてこの信号はフィルタ７０を通過し、
復調器回路７４へ与えるためにスイッチＳ１により選択
される。そして復調器回路７４の出力はマルチプレクサ
７８及びＡ−Ｄ変換器８２を経てマイクロプロセッサへ
戻され、期待される結果に対比して比較され、それによ
りフィルタ７０及び復調器７４の性能を試験することが
できる０例えば加算回路８６へ注入される試験信号の周
波数を変えることにより。

フィルタ７０の周波数応答を正確に測定することができ
る。試験信号９０は方形波（ＳＱＷ）であるが、しかし
ながら帯域フィルタは通常基本波を選択し調波を除去す
るので、正弦波を発生させる必要はない、変形室として
復調器回路７４の出力を外部装置３０１の他の部分へ通
し、一つ以上の状態信号８０を変化させることができる
。そして適当な状態信号をマルチプレクサ７８により選
択することができ、適当な状態が得られていることを検
証するために、Ａ−Ｄ変換器８２を経てマイクロプロセ
ッサ４４へ戻される。こうして外部プログラミング装置
内の多数の機能を試験することができる。

更に、植え込み可能な装置を送信アンテナ５７及び受信
アンテナ６４の隣りに置きながら、外部プログラミング
装置の回路の追加の試験が自己試験を行うことにより可
能となる０例えばこのような配置を用いて（植え込み可
能な装置をアンテナ５７の隣りに置いて）、試験指令を
前記のように発生させることができる。しかしながらス
イッチＳ１により復調器７４に与えるためにこの試験指
令の搬送波変調された形式を選択する代わりに、スイッ
チＳ１はフィルタ７０の出力を選択する。

従って試験指令は植え込み可能なデバイスへ送られ、植
え込み可能なデバイスに特定な動作モードを取るように
させる。この動作モードはアンテナ６４へ戻されるデー
タ信号に表示され、このデータ信号は受信回路６２、フ
ィルタ７０及び復調器７４を経て処理される。そして復
調器７４の出力は、マルチプレクサ７８及びＡ−Ｄ変換
器８２を経て直接に、又は選ばれた状態信号８ｏにより
示されるように復調器７４の出力に対する外部装置３０
Ｔ　の応答を試験することを経て間接的に、マイクロプ
ロセッサ４４へ戻される。

例えば植え込み可能な装置が製造される組立ライン上で
植え込み可能な装置を試験するために。

第１図に示す装置を用いて試験を行うこともできる。こ
のような場合には外部装置が例えば前記技術を用いてま
ず試験され、そして外部装置が一連の試験指令に対する
植え込み可能な装置の応答を試験するために用いられる
。

有利な実施例では、外部装置３０１　はこの装置が初め
て給電されるときに自動的に一連の自動試験を選択的に
呼び出すようにすることができる。

これは第３図の流れ図に示すように、一連の指令に追従
するようにマイクロプロセッサをプログラムすることに
より達成される０例えば第３図には、電力が初めて装置
に加えられる（第３図のブロック１００）ときに、自己
試験を自動的に呼び出すべきかどうかに関して判断が行
われる（ブロック１０２）、もしそうであれば適当な指
示器が第１の値にセットされ（ブロック１０４）、行お
うとする第１の試験を同定する。この第１の試験が行わ
れ（ブロック１０６）、そしてこの試験に合格したか又
は不合格となったかを判断するために、試験結果が得ら
れるべき試験結果に対し比較される（ブロック１０８）
、もし試験が合格となると、自動的に行おうとするすべ
ての試験が実施されたかどうかに関して判断がなされる
（ブロック１１０）　、もし特定の試験が不合格となる
と、追加の試験を行うべきかどうかに関して判断がなさ
れる（ブロック１１Ｏ）前に、このような試験の試験結
果が記録される（ブロック１１２）、もし追加の試験を
実施しようとするならば、指示器が次の値に増加され（
ブロック１１４）　、実施しようとする次の試験が同定
される。そして次の試験が実施されて過程が前記のよう
に繰り返され、試験シーケンスによるすべての試験が順
次実施され、試験結果が仕様範囲内にないときだけ試験
結果が記録又はセーブされる。

すべての試験が実施されたときに、不合格となった試験
の試験結果が印刷又は表示される（ブロック１１６）、
すべての試験が合格となると試験結果は表示されない、
従って表示される試験結果が存在しないことは、すべて
の試験が合格となったという表示と、もし操作員が選択
するならば（ブロック１１８）、外部装置の正規の動作
を継続することができる（ブロック１２０）という表示
とを操作員へ提供する。もし一つ以上の試験が不合格と
なると、表示された試験結果を吟味し外部装置を使い続
けるべきか又は調整作業を行うべきかに関して判断を行
う（ブロック１１８）機会が操作員に与えられる。

前記の自動試験に加えて、操作員は実施したい特定の手
動試験を選択することができる。給電開始時（ブロック
１２４）に又は正規の装置動作中（ブロック１２２）に
もし手動試験が選択されると、操作員は実施しようとす
る特定の試験を手動により選択する（ブロック１２６）
、そして選択された試験が実施され（ブロック１２８）
、試験結果が仕様範囲内にあるかどうかに関してマイク
ロプロセッサにより判断が行われる（ブロック１３０）
、もしそうであれば適当なメツセージが表示され（ブロ
ック１３２）て選択された試験が首尾よく合格したこと
を示し、操作員は追加の試験を行おうとするかどうかを
質問される（ブロック１３６）、もし追加の試験を行お
うとするならばその試験が選択され（ブロック１２６）
、過程が前記のように繰り返される。もし追加の試験を
実施しないならば外部装置の正規の運転が継続する（ブ
ロック１２０）。

もし選択された試験が不合格となると、すなわちもし選
択された試験の試験結果が仕様範囲内にないと（ブロッ
ク１３０）、試験が不合格となったという適当なメツセ
ージが表示され、操作員が吟味するために試験結果が印
刷及び／又は表示される（ブロック１３４）、不合格と
なった試験結果が表示されると、操作員は外部装置の使
用を継続するかどうかを判断する機会が与えられる（ブ
ロック１３８）、もしそうであるならば外部装置を正規
の（非試験モードの）動作へ戻す（ブロック１２０）に
先立って、追加の試験を実施することができる（ブロッ
ク１３６）。

次の表は、第１図に示されるように構成された外部プロ
グラミング装置ｉ３０’　により実施できる約３０項目
の異なる試験の詳細を示す、これらの試験は制限を意味
せず、この発明に基づく自己試験装置を用いて実施する
ことができる多くの種々の試験の例示にすぎない、当業
者ならばこの発明を用いて容易に遂行できる追加の試験
を容易に案出することができる。実際にこの発明の長所
の一つはその融通性と順応性とである。

宍（続き） 試験番号 ３Ａ、Ｂ ４Ａ、Ｂ、Ｃ ５Ａ、Ｂ、Ｃ Ｄ ８Ａ、Ｂ、Ｃ ６０、Ｅ、Ｆ ７Ａ、Ｂ ９Ａ、Ｂ、Ｇ ！ＯＡ、Ｂ、Ｃ １１Ａ、Ｂ、Ｃ ｌ２Ａ　、Ｂ、Ｃ ＋３Ａ、Ｂ、Ｃ ４ ５Ａ−Ｇ 名　　　　称 注　　記 給電線 Ｓｗモードｐｓ周波数 ＦＶＣ試験 ＸＭＴＲ：ｔ７Ｖｃ ＰＬＴ　ｘｍｔｒ ＰＬＴ　ｘｍｔｒ ＡＦＰ−Ｌ　ｘｉ＋ｔｒ ＡＦＰ−Ｈｘｍｔｒ ＲＩフィルタと絶対値検出器 ゼロ点通過／低周波検出ＰＬ Ｔ受信器整定時間 ＡＦＰ−Ｌ　ＦＳＫ受信器整定時間 ＡＦＰ−１４ＦＳＸ受信器整定時間 ＡＦＰ−Ｌ　ＰＳ’に受信器整定時間 ＡＦＰ−ＨＰＳＫ受信器整定時間 ＦＶＣ及びＦＩＬＴＥＲ ＦＳＸ受信器周波数応答 ＤＣ応答 ｗ、ｗ１０磁石 ｘｍｔｒ立ち上がり時間 ＶＣ，！麿ｔｒ周波数 Ｖｃ４社「周波数 ＲＡＳＬＮ、Ａ）ＩＰＬ　、ＦＶＣ２ ＢＡＳＬＮ、ＡＭＰＬ、ＦＶＣ２ ＢＡＳＬＮ、ＡＭＰＬ、ＦＶＣ２ ＢＡＳＬＮ　、ＡＭＰＬ　、ＦＶＣ２ ＢＡＳＬＮ　、ＡＭＰＬ　、ＦＶＣ２ 遅延及び立上り時間 試験番号　　　　名　　　　称 ＰＳＫ受信器周波数応答 アナログ出力及びＬＥＤ ８４に記憶装置試験 ６Ａ−Ｇ ８ ９−２０ ２１Ａ、Ｂ ２２Ａ、Ｂ ３Ａ−Ｆ ２４Ａ、Ｂ ５Ａ−Ｆ ６ ７ ８ ９ ０ １７Ａ、Ｂ 作動中２に／８ｋ　ＸＭＴＲ ２に受信器過渡現象、ノイズ ２に受信器周波数応答 ８に受信器過渡現象、ノイズ ８に受信器周波数応答 ２に非同期復調器 ８に同期復調器 ＰＬＬ取得時間 ８に受信器、Ｅｘｔ、Ｘｍｔｒ、 ＭＴＭ電流消費 注　　記 予備 ペーサシュミレータ この発明を実施するために、当業者は本明細書に記載の
自己試験回路及び他の回路を有する外部プログラミング
装置を容易に作ることができるであろう、マイクロプロ
セッサ４４に対して望ましいデバイスは、例えば市販さ
れているインテル社製８７４５１マイクロプロセツサチ
ツプである。マルチプレクサ７８はＣＭＯ９ＣＤ４０５
１又は等価なデバイスを用いて実現することができる。

Ａ−Ｄ変換器８２はＴＬＣ５４９Ａ　−Ｄ変換器を用い
て実現することができる。減衰Ｎ＠路９２は従来の分Ｉ
Ｅ回路で二つの抵抗器を用いて実現することができる。

スイッチＳ１はＣＤ４０５１又はＤＣ２１２のような多
数の市販されている半導体スイッチのどれを用いても実
現できる。これらの市販されているすべてのデバイスは
文献に詳細に記載されている。

この発明を特定の実施例及び用途に関連して説明したが
、特許請求の範囲に記載のこの発明の趣旨と範囲とから
逸脱することなく、当業者は多くの変形又は修正を行う
ことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に基づく自己試験装置の一実施例を備
える外部プログラミング装置のブロックｌＩ図、第２図
は第１図に示す加算器の回路図。 第３図は第１図に示す自己試験装置の動作の流れ図、第
４図は患者に植え込まれたペースメーカと交信中の外部
プログラミング装置の斜視図、第５図は汎用の外部プロ
グラミング装置と植え込み可能な装置とのブロック＆！
図である。 １２．３２・・・植え込み可能な装置ペースメーカ１６
．３０・・・外部プログラミング装置４４・・・制御器
（マイクロプロセッサ）５４・・・ドライバ ５６．５８ａ〜５８ｎ・・・送信器 ５７．６４・・・アンテナ ６２、ｆ５６ａ〜６６ｎ・・・受信器 ７０・・・フィルタ ７４・・・復調器 ７８・・・ｆｆ１ｌのスイッチ（マルチプレクサ）８０
・・・状態信号 ８２・・・Ａ−Ｄ変換器 ８４．８６・・・加算器 ９２・・・減衰器 Ｓｌ・・・第２のスイッチ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）送信しようとする第１の信号を発生させるドライバ
   と、前記第１の信号をアンテナへ出力信号として与える
   送信器と、前記ドライバを制御する制御器と、入力信号
   を受信しこれを第２の信号へ変換する受信器と、前記第
   ２の信号をろ過してそれからろ過された第２の信号を作
   るフィルタと、前記ろ過された第２の信号を復調しそれ
   から復調信号を作る復調器と、前記復調信号を含む複数
   の状態信号の一つを前記制御器へ選択的に接続する第１
   のスイッチとを備える交信装置の自己試験装置において
   、前記交信装置の動作を試験するための前記自己試験装
   置が、試験信号を発生させるための前記制御器内部の信
   号発生手段と、前記試験信号を前記第１の信号へ選択的
   に加える第１の加算器とを備え、それにより前記出力信
   号が前記試験信号を選択的に含 み、また前記試験信号を前記第２の信号へ選択的に加算
   する第２の加算器を備え、それにより前記ろ過された第
   ２の信号が前記試験信号を選択的に含み、また前記出力
   信号又はろ過された、第２の信号のうちの一つを前記復
   調器へ選択的に接続する第２のスイッチを備え、それに
   より前記試験信号が送信器及び復調器を通過した後に、
   又は前記試験信号が前記フィルタ及び復調器を通過した
   後に、前記制御器へ接続された前記状態信号のうちの 一つが前記試験信号を選択的に含み、前記試験信号が前
   記交信装置の性能について予期される応答をもたらした
   ことを検証するために、前記制御器がこれへ戻される前
   記状態信号のうちの選ばれた一つを検査する手段を備え
   ることを特徴とする外部プログラミング装置の自己試験
   装置。 ２）前記信号発生手段が前記交信装置の作動中の所定の
   時点で前記試験信号を自動的に発生させる手段を備え、
   前記自己試験装置が前記所定の時点で前記状態信号のう
   ちの選ばれた一つを検査する機能を自動的に遂行するこ
   とを特徴とする請求項１記載の自己試験装置。 ３）前記交信装置へ電力を供給した直後に前記信号発生
   手段が前記試験信号を自動的に発生させ、それにより電
   力が初めて交信装置へ供給されたとき自己試験装置がそ
   の試験機能を遂行することを特徴とする請求項２記載の
   自己試験装置。 ４）前記信号発生手段が一連の試験信号を発生させ、各
   信号が前記第１及び第２の加算器のうちの選ばれた一つ
   へ順に加えられ、前記制御器が前記第１及び第２のスイ
   ッチを相応の順序で制御するための手段を備え、前記第
   １のスイッチが発生させられた特定の試験信号の関数と
   して前記制御器へ戻すための適当な状態信号を選択する
   ように制御され、発生させられた特定の試験信号が前記
   第１の加算器へ加えられるか又は第２の加算器は加えら
   れるかに関係して、前記第２のスイッチが適当な信号を
   選び前記変調器へ接続するように制御され、それぞれの
   試験信号が交信装置の予期される応答をもたらしたかど
   うかを判断するために、前記制御器の検査手段が発生さ
   せられたそれぞれの試験信号に対応する戻された状態信
   号を検査する手段を備え、それにより前記自己試験装置
   が前記交信装置の複数の機能を自動的にかつ順を追って
   試験することを特徴とする請求項２記載の自己試験装置
   。 ５）前記応答が予期される応答でないときに、前記制御
   器の前記検査手段がそれぞれの試験信号から得られた応
   答を記録する手段を備えることを特徴とする請求項４記
   載の自己試験装置。 ６）更に所定の量だけ前記送信器から前記第２のスイッ
   チへ加えられる出力信号を減衰させる手段を備えること
   を特徴とする請求項１記載の自己試験装置。 ７）前記制御器がマイクロプロセッサから成り、前記制
   御器内部の前記信号発生手段が前記マイクロプロセッサ
   に前記試験信号を発生させる一連の指令を記憶し、前記
   交信装置の動作中の適当な時点で試験信号を前記第１ 又は第２の加算器のうちの少なくとも一つへ加えること
   を特徴とする請求項１記載の自己試験装置。 ８）前記交信装置の操作員により人手で始動されたとき
   に、前記記憶された一連の指令が前記マイクロプロセッ
   サに前記試験信号を発生させることを特徴とする請求項
   ７記載の自己試験装置。 ９）前記交信装置の作動中の所定の時点で前記記憶され
   た一連の指令が前記マイクロプロセッサに前記試験信号
   を自動的に発生させるようにすることを特徴とする請求
   項７記載の自己試験装置。 １０）前記送信器及び前記受信器がそれぞれ複数の種々
   の形式の植え込み可能な装置に選択的に結合するための
   手段を備えることを特徴とする請求項７記載の自己試験
   装置。 １１）前記種々の形式の植え込み可能な装置が種々の形
   式のペースメーカであることを特徴とする請求項１０記
   載の自己試験装置。 １２）前記第１のスイッチにより選択された前記状態信
   号がアナログ信号から成り、前記マイクロプロセッサへ
   前記状態信号を戻すに先 立って前記状態信号のうちの選ばれた一つをディジタル
   信号へ変換するために、前記交信装置が前記第１のスイ
   ッチと前記マイクロプロセッサとの間に挿入されたＡ−
   Ｄ変換器を備えることを特徴とする請求項７記載の自己
   試験装置。 １３）送信しようとする第１の信号を発生させるドライ
   バと、前記第１の信号をアンテナへ出力信号として与え
   る送信器と、前記ドライバを制御する制御器と、入力信
   号を受信しこれを第２の信号へ変換する受信器と、前記
   第２の信号をろ過してそれからろ過された第２の信号を
   作るフィルタと、前記ろ過された第２の信号を復調しそ
   れから復調信号を作る復調器と、前記復調信号を含む複
   数の状態信号の一つを前記制御器へ選択的に接続する第
   １のスイッチと、前記交信装置の動作を試験する自己試
   験装置とを備える交信装置の自己試験装置において、前
   記自己試験装置が試験信号を発生させるための前記制御
   器内部の信号発生手段と、前記試験信号を前記第１の信
   号へ選択的に加える第１の加算器とを備え、それにより
   前記出力信号が前記試験信号を選択的に含み、また前記
   試験信号を前記第２の信号へ選択的に加算する第２の加
   算器を備え、それにより前記ろ過された第２の信号が前
   記試験信号を選択的に含み、また前記出力信号 又はろ過された第２の信号のうちの一つを前記復調器へ
   選択的に接続する第２のスイッチを備え、それにより前
   記試験信号が送信器 及び復調器を通過した後に、又は前記試験信号が前記フ
   ィルタ及び復調器を通過した後 に、前記制御器へ接続された前記状態信号のうちの一つ
   が前記試験信号を選択的に含み、前記試験信号が前記交
   信装置の性能について予期される効果をもたらしたこと
   を検証するために、前記制御器がこれへ戻される前記状
   態信号のうちの選ばれた一つを検査する手段を備えるこ
   とを特徴とする外部プログラミング装置の自己試験装置
   。 １４）植え込み可能な装置との交信に適した外部プログ
   ラミング装置の試験装置において、前記試験装置が前記
   外部プログラミング装置内に試験信号を発生させる試験
   信号発生手段 と、前記試験信号を前記外部プログラミング装置内の所
   定の回路位置へ注入する注入手段と、前記試験信号の注
   入により前記外部プログランミング装置内の所定の回路
   位置に生じる所定の信号をモニタする監視手段と、モニ
   タされた信号に関連する種々のパラメータ値を期待され
   るパラメータ値と比較する比較手段とを備えることを特
   徴とする外部プログラミング装置の試験装置。 １５）前記外部プログラミング装置がその動作を制御す
   るマイクロプロセッサを備え、前記試験信号発生手段が
   前記マイクロプロセッサにその動作中の所定の時点で前
   記試験信号を自動的に発生させるようにするために前記
   マイクロプロセッサに結合された手段を備えることを特
   徴とする請求項１４記載の装置。 １８）前記外部プログラミング装置は、このプログラミ
   ング装置が初めて給電される時点で前記試験信号を自動
   的に発生させる手段を備えることを特徴とする請求項１
   ４記載の装置。 １７）前記試験信号発生手段が複数の試験信号を発生さ
   せる手段を備え、前記注入手段が前記試験信号のそれぞ
   れを所定の回路位置へ注入する手段を備え、前記監視手
   段が前記外部プログランミング装置内の所定の回路位置
   で前記試験信号の注入からもたらされる所定の信号をモ
   ニタする手段を備え、前記比較手段がモニタされた信号
   のそれぞれに関係する種々のパラメータ値を期待される
   パラメータ値と比較する手段を備え、こうして前記外部
   プログラミング装置の複数の機能が前記複数の試験信号
   により試験されることを特徴とする請求項１４記載の装
   置。 １８）前記試験信号発生手段が所定の順序で前記複数の
   試験信号を発生させる手段を備え、前記注入手段が前記
   試験信号のそれぞれを前記所定の順序で所定の回路位置
   へ注入する手段を備え、前記監視手段が前記外部プログ
   ラミング装置内の所定の回路位置での前記試験信号の注
   入からもたらされる所定の信号を順次モニタする手段を
   備え、前記比較手段がモニタされたそれぞれの信号に関
   連する種々のパラメータ値を期待されるパラメータ値と
   順次比較する手段を備え、それにより複数の試験が前記
   所定の順で実施され、前記試験のそれぞれが前記外部プ
   ログラミング装置の別々の機能を試験することを特徴と
   する請求項１７記載の装置。 １９）更に前記所定の順で前記複数の試験を自動的に実
   施する手段を備えることを特徴とする請求項１８記載の
   装置。 ２０）植え込み可能な装置と共に使用するのに適した外
   部プログラミング装置を自動的に試験する方法において
   、前記方法が下記の段階すなわち、 ａ）前記外部プログラミング装置が初めて給電される時
   点で所定の試験を自動的に行い、ｂ）段階ａ）で行われ
   た試験の結果が容認される結果の範囲内にあるかどうか
   を判断し、ｃ）段階ｂ）で判断されたときにもし試験の
   結果が容認できる結果の範囲内にないときには、段階ａ
   ）で行われた試験の結果を自動的にセーブし、 ｄ）もし行おうとするならばそれぞれの追加試験を先行
   する試験の完了時に開始して、追加の所定の試験のため
   に段階ａ）〜ｃ）を自動的に繰り返し、 ｅ）行われた所定のすべての試験に対して段階ｃ）でセ
   ーブされた試験結果を自動的に表示する ことから成り、それによりプログラミング装置が初めて
   給電されたときに一連の所定の試験が自動的に行われ、
   結果の容認できる範囲内に入らないすべての試験結果が
   自動的に表示されることを特徴とする外部プログラミン
   グ装置を自動的に試験する方法。 ２１）前記一連の所定の試験の部分として行われる所定
   の試験のうちの少なくとも一つが、前記外部プログラミ
   ング装置内で試験信号を発生させることと、前記外部プ
   ログラミング装置内の所定の回路位置へ前記試験信号を
   注入することと、前記試験信号の注入から生じる所定の
   信号を前記外部プログラミング装置内の所定の回路位置
   でモニタすることと、モニタされた信号に関連する種々
   のパラメータ値を期待されるパラメータ値と比較するこ
   ととから成ることを特徴とする請求項２０記載の方法。 ２２）前記一連の所定の試験の部分として行われる所定
   の試験のそれぞれが、前記外部プログラミング装置内で
   試験信号を発生させることと、前記外部プログラミング
   装置内の所定の回路位置へ前記試験信号を注入すること
   と、前記試験信号の注入から生じる所定の信号を前記外
   部プログラミング装置内の所定の回路位置でモニタする
   ことと、モニタされた信号に関連する種々のパラメータ
   値を期待されるパラメータ値と比較することとから成る
   ことを特徴とする請求項２０記載の方法。 ２３）植え込み可能な装置と交信するのに適した外部プ
   ログラミング装置の試験方法において、前記試験方法が
   次の段階すなわち、 ａ）前記外部プログラミング装置内で試験信号を発生さ
   せ、 ｂ）前記外部プログラミング装置内の所定の回路位置へ
   前記試験信号を注入し、 ｃ）前記試験信号の注入から生じる所定の信号を前記外
   部プログラミング装置内の所定の回路位置でモニタし、 ｄ）モニタされた信号に関連する種々のパラメータ値を
   期待されるパラメータ値と比較する ことから成ることを特徴とする外部プログラミング装置
   の試験方法。 ２４）前記外部プログラミング装置がその動作を制御す
   るマイクロプロセッサを備え、段階 ａ）が外部プログラミング装置の動作中の所定の時点で
   前記試験信号を自動的に発生させるように前記マイクロ
   プロセッサをプログラムすることを含むことを特徴とす
   る請求項 ２３記載の方法。 ２５）前記外部プログラミング装置は、前記プログラミ
   ング装置が初めて給電される時点で前記、試験信号を自
   動的に発生させる手段を備えることを特徴とする請求項
   ２３記載の方法。 ２６）段階ａ）が複数の試験信号を発生させることを含
   み、段階ｂ）が前記試験信号のそれぞれを所定の回路位
   置へ注入することを含み、段階ｃ）が前記複数の試験信
   号の注入から生じる所定の信号を前記外部プログラミン
   グ装置内の所定の回路位置でモニタすることを含み、段
   階ｄ）がモニタされたそれぞれの信号に関連する種々の
   パラメータ値を期待されるパラメータ値と比較すること
   を含み、それにより前記外部プログラミング装置の複数
   の機能が前記複数の試験信号により試験されることを特
   徴とする請求項２３記載の方法。２７）段階ａ）が所定
   の順序で前記複数の試験信号を発生させることを含み、
   段階ｂ）が前記試験信号のそれぞれを前記所定の順で前
   記回路位置へ注入することを含み、段階ｃ）が前記試験
   信号の注入から生じる所定の信号を前記外部プログラミ
   ング装置内の所定の回路位置で順次モニタすることを含
   み、段階ｄ）がモニタされたそれぞれの信号に関連する
   種々のパラメータ値を期待されるパラメータ値と順次比
   較することを含み、それにより複数の試験が前記所定の
   順序で行われ、前記試験のそれぞれが前記外部プログラ
   ミング装置の別々の機能を試験することを特徴とする請
   求項２６記載の方法。 ２８）前記複数の試験を前記所定の順序で自動的に行う
   ことを含むことを特徴とする請求項２７記載の方法。 ２９）外部プログラミング装置が適当に機能するとき植
   え込み可能な装置と共に遠隔測定リンクを確立する種々
   の回路を備え、この遠隔測定リンクを介して指令を植え
   込み可能な装置に送ることができ、またデータを植え込
   み可能な装置から受信できるようになっている、植え込
   み可能な装置と共に用いるのに適した外部プログラミン
   グ装置の試験方法において、前記試験方法が次の段階す
   なわち ａ）適当な試験信号を発生させ、 ｂ）試験信号をプログラミング装置の回路内の適当な位
   置へ注入し、それにより試験信号が試験しようとする特
   定の回路の入力端に結合され、 ｃ）試験しようとする特定の回路の出力端から得られた
   又は導かれた結果信号を中央位置へ送り返し、 ｄ）試験しようとする特定の回路が適当に機能している
   かどうか、中央位置へ送り返された結果信号を中央位置
   で受信される標準信号と比較する ことから成ることを特徴とする外部プログラミング装置
   の試験方法。